CN114495739A - 电子装置 - Google Patents

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Abstract

一种电子装置包括面板。面板包括工作区，且工作区包括单元电路、至少二第一备援线与至少一第一备援线。至少二第一备援线位于单元电路的周边，且沿着第一方向延伸。至少一第二备援线位于单元电路的周边，且沿着第二方向延伸。第一方向与第二方向不同。

Description

电子装置
技术领域
本公开实施例关于一种电子装置，特别是关于一种具有备援线的电子装置。
背景技术
已知的电子装置的信号线(例如扫描线、数据线、电源线或信号驱动线等)可能会因为微粒(particle)或静电放电(electrostatic discharge,ESD)而导致缺陷(defect)问题的发生，因此需要透过修补信号线来排除缺陷问题。然而，由于目前的修补方式较为费时且修补设计较为复杂。因此，需要一种新的修补设计改善前述的问题。
发明内容
本公开实施例提供一种电子装置，包括面板。面板包括工作区，且工作区包括单元电路、至少二第一备援线与至少一第一备援线。至少二第一备援线位于单元电路的周边，且沿着第一方向延伸。至少一第二备援线位于单元电路的周边，且沿着第二方向延伸。第一方向与第二方向不同。
附图说明
为让本发明的上述目的、特征和优点能更明显易懂，以下结合附图对本发明的具体实施方式作详细说明，其中：
图1为依据本公开的一实施例的电子装置的示意图。
图2为图1的电子装置的虚线框190的放大示意图。
图3为依据本公开的一实施例的电子装置的修补操作的示意图。
图4为依据本公开的一实施例的电子装置的修补操作的示意图。
图5为依据本公开的一实施例的电子装置的修补操作的示意图。
图1-图5的附图编号如下：
100：电子装置
110：面板
120：工作区
122：单元
130：单元电路
140，150：第一备援线
160，170：第二备援线
172：接触孔
180：周边区
190：虚线框
310，320，330，340，350，360，362，364，366，368，370，410，420，430，440，450，460，462，464，466，468，470，510，520，530，540，550，560，562，564，566，568，570：位置
380，480，580：信号传输路径
M1，M2，M3：开关
C1：电容
LD：电子组件
DL：数据线
PL：电源线
GL：扫描线
EML：点亮控制线
DS：数据信号
GS：扫描信号
EM：点亮控制信号
VDD：电源
VSS：参考电压
X，Y，Z：方向
具体实施方式
为让本公开的目的、特征或优点能更明显易懂，下文特举出实施例，并配合所附附图，做详细的说明。为了使读者能容易了解及附图的简洁，本公开中的多张附图可能只绘出整个装置的一部分，且附图中的特定组件并非依照实际比例绘图。
本公开说明书提供不同的实施例来说明本公开不同实施方式的技术特征。其中，实施例中的各组件的配置、数量及尺寸是为说明之用，并非用以限制本公开。另外，若实施例与附图中组件标号出现重复，是为了简化说明，并非意指不同实施例之间的关联性。
再者，说明书与权利要求书中所使用的序数例如“第一”、“第二”等的用词，以修饰权利要求书的组件，其本身并不意含及代表该请求组件有任何之前的序数，也不代表某一请求组件与另一请求组件的顺序、或是制造方法上的顺序，这些序数的使用仅用来使具有某命名的一请求组件得以和另一具有相同命名的请求组件能作出清楚区分。
在本公开中，各实施例间特征只要不违背发明精神或相冲突，均可任意混合搭配使用。
图1为依据本公开的一实施例的电子装置的示意图。在一实施例中，电子装置可包括显示设备、背光装置、天线装置、感测装置或拼接装置，但不以此为限。电子装置可为可弯折或可挠式电子装置。显示设备可为非自发光型显示设备或自发光型显示设备。天线装置可为液晶型态的天线装置或非液晶型态的天线装置，感测装置可为感测电容、光线、热能或超声波的感测装置，但不以此为限。电子组件可包括无源组件与有源组件，例如电容、电阻、电感、二极管、晶体管等。二极管可包括发光二极管或光电二极管。发光二极管可例如包括有机发光二极管(organic light emitting diode，OLED)、次毫米发光二极管(mini LED)、微发光二极管(micro LED)或量子点发光二极管(quantum dot LED)，但不以此为限。拼接装置可例如是显示器拼接装置或天线拼接装置，但不以此为限。需注意的是，电子装置可为前述的任意排列组合，但不以此为限。下文将以显示设备做为电子装置或拼接装置以说明本公开内容，但本公开不以此为限。
请参考图1，电子装置100可以包括面板110。面板110可以包括工作区120与周边区180。工作区120可以包括单元122、第一备援线140、第一备援线150与第二备援线160。单元122包含单元电路130以及与单元电路130电性连接的电子组件LD，如图2所示。电子装置100还可以包括数据线DL与扫描线GL，根据一些实施例，数据线DL与扫描线GL可设置于工作区120中，并延伸至周边区180中。根据一些实施例，单元122可以是数据线DL与扫描线GL所围起来的区域。
第一备援线140与第一备援线150可以位于单元电路130的周边，且沿着第一方向延伸。举例来说，第一备援线140与第一备援线150可以大致平行设置，且第一备援线140与第一备援线150分别位于单元电路130的相对两侧，但本公开不限于此。
第二备援线160位于单元电路130的周边，且沿着第二方向延伸。在本实施例中，第一方向可以与第二方向不同。在一些实施例中，第一方向可以是Y方向，而第二方向可以是X方向，但本公开不限于此。在一些实施例中，第一方向可以是X方向，而第二方向可以是Y方向。在本实施例中，Y方向可以是数据线DL大致延伸的方向；X方向可以是扫描线GL大致延伸的方向。
在一些实施例中，工作区120还可以包括第二备援线170。也就是说，工作区120也可以具备至少二条第二备援线，例如第二备援线160与第二备援线170。另外，第二备援线170也位于单元电路130的周边，且沿着第二方向延伸。举例来说，第二备援线160与第二备援线170也可以大致平行设置，且第二备援线160与第二备援线170分别位于单元电路130的相对两侧，但本公开不限于此。
在一些实施例中，周边区180可以是面板110的非工作区，且周边区180可以包括电子装置100所使用的驱动电路，例如扫描驱动电路(scan driving circuit)、数据驱动电路(data driving circuit)、时序控制电路(timing control circuit)等，但本公开不限于此。
另外，在图1中，第一备援线140、第一备援线150、第二备援线160、第二备援线170是位于工作区120，且于工作区120内分别以第一方向或第二方向延伸，但本公开不限于此。在一些实施例中，第一备援线140、第一备援线150、第二备援线160、第二备援线170也可以延伸至周边区180内，也具有相同的效果。
在一些实施例中，第一备援线140和第一备援线150与第二备援线160和第二备援线170可以为不同层，例如第一备援线140和第一备援线150与第二备援线160和第二备援线170可以是使用不同层的金属层制作。举例来说，第二备援线160和第二备援线170例如设置于第一层且使用第一金属层制作，第一备援线140和第一备援线150例如设置于第二层且使用第二金属层制作，其中上述第一层与第二层为不同层，本公开不限于此。在一些实施例中，第二备援线160和第二备援线170可以与扫描线GL为同一层，亦即，第二备援线160、第二备援线170与扫描线GL可以在同一制程中产生。同理，第一备援线140和第一备援线150可以与数据线DL为同一层，亦即，第一备援线140、第一备援线150与数据线DL可以在同一制程中产生。另外，第一备援线140和第一备援线150与第二备援线160和第二备援线170可以电性连接。举例来说，第一备援线140和第一备援线150与第二备援线160和第二备援线170可以于交会处透过接触孔(contact via)172进行电性连接，但本公开不限于此。
此外，在电子装置100未进行修补操作前，第一备援线140、第一备援线150、第二备援线160、第二备援线170也可以设置成具备静电放电防护功能，但本公开不限于此。
图2为图1的电子装置的虚线框190的放大示意图。请参考图2，电子装置100还可以包括电源线PL与点亮控制线EML。另外，单元电路130可以包括开关M1、开关M2、开关M3、电容C1。根据一些实施例，电源线PL可以延第一方向延伸，且电性连接单元电路130。点亮控制线EML可以延第二方向延伸，且电性连接单元电路130。
开关M1与电源线PL电性连接。在一实施例中，开关M1可以是薄膜晶体管(thinfilm transistor,TFT)，但本公开不限于此。进一步来说，开关M1的一电极可以与电源线PL电性连接，以透过电源线PL接收一电源VDD。开关M2与开关M1电性连接。在一实施例中，开关M2可以是薄膜晶体管，但本公开不限于此。另外，开关M2的栅极可以与点亮控制线EML电性连接，以透过点亮控制线EML接收点亮控制信号EM。
电容C1与开关M1电性连接。进一步来说，电容C1的第一端可以电性连接开关M1的栅极，电容C1的第二端可以电性连接开关M1的一电极，例如源极(source)。
开关M3与开关M1电性连接。在一实施例中，开关M3可以是薄膜晶体管，但本公开不限于此。根据一些实施例，扫描线GL与数据线DL可分别与单元电路130电性连接。进一步来说，单元电路130中的开关M3的栅极可以与扫描线GL电性连接，以透过扫描线GL接收扫描信号GS，且单元电路130中的开关M3的一电极(例如源极)可以与数据线DL电性连接，以透过数据线DL接收数据信号DS。
电子组件LD与开关M2电性连接。进一步来说，电子组件LD的第一端(例如阳极端)电性连接开关M2的一电极，电子组件LD的第二端(例如阴极端)电性连接一参考电压VSS(例如接地电压)。在本实施例中，电子组件LD可以是有机发光二极管(OLED)、无机发光二极管(LED)、次毫米发光二极管(mini LED)、微发光二极管(micro LED)、量子点发光二极管(QLED/QD-LED)或上述的组合，但本公开不限于此。
在一些实施例中，第一备援线140和第一备援线150与数据线DL在第三方向上不重叠。在本实施例中，第三方向可以与第一方向和第二方向不同。在一些实施例中，第三方向可以是Z方向(例如面板110的俯视(top view)方向)，但本公开不限于此。换句话说，第三方向可以与第一方向及第二方向大致垂直。另外，第二备援线160及第二备援线170与扫描线GL也在第三方向(例如面板110的俯视方向)上不重叠。此外，第二备援线160及第二备援线170与点亮控制线EML也在第三方向(例如面板110的俯视方向)上不重叠。
在一些实施例中，第一备援线140和第一备援线150、第二备援线160、第二备援线170可以与电源线PL电性连接，以作为降低阻值的用途，但本公开不限于此。
上述实施例已说明了电子装置100内的各组件的配置关系。以下将列举一些实施例，来说明电子装置100发生缺陷时如何进行修补操作。
图3为依据本公开的另一实施例的电子装置的修补操作的示意图。请参考图3，假设当电子装置100的数据线DL的位置310上被微粒或静电放电击伤而发生缺陷时，可以例如使用激光光源的激光束于电子装置100的位置320与位置330上对数据线DL进行切割操作，例如进行激光切割(laser cutting)操作，以将对应位置320与位置330的数据线DL切断，进而将数据信号DS与位置310上的缺陷进行隔离。如此，可以使此单元122成为一暗点。
另外，例如使用激光光源的激光束于电子装置100的位置340和位置350上对数据线DL与第二备援线160和第二备援线170进行焊接操作，例如进行激光焊接(laserwelding)操作，使数据线DL于位置340和位置350上与第一备援线140、第二备援线160和第二备援线170电性连接，以及例如使用激光光源的激光束于电子装置100的位置360、位置362、位置364、位置366、位置368和位置370上对第二备援线160和第二备援线170进行激光切割操作，以将对应位置360、位置362、位置364、位置366、位置368和位置370的第二备援线160与第二备援线170切断。如此一来，数据线DL所传送的数据信号DS可以经由信号传输路径380进行传送，以便达到修补的效果，并使数据信号DS的传输可以维持正常运作且可以传送至下一个单元122中的单元电路130。
在图3中，电子装置100的数据线DL上发生缺陷的位置310为本公开的一种实施范例，不用于限制本公开的实施态样。发生缺陷的位置可以是数据线DL的其他位置，而缺陷发生于其他位置的修补方式可以参考图3的实施例的说明，故在此不再赘述。如此，也可以达到相同的修补效果。
图4为依据本公开的另一实施例的电子装置的修补操作的示意图。请参考图4，假设当电子装置100的扫描线GL的位置410上被微粒或静电放电击伤而发生缺陷时，可以例如使用激光光源的激光束于电子装置100的位置420和位置430上对扫描线GL进行激光切割操作，以将对应位置420和位置430的扫描线GL切断，进而将扫描信号GS与位置410上的缺陷进行隔离。如此，可以将此单元122成为一暗点。
另外，例如使用激光光源的激光束于电子装置100的位置440和位置450上对扫描线GL与第一备援线140和第一备援线150进行激光焊接操作，使扫描线GL可以于位置440和位置450上与第一备援线140和第一备援线150以及第二备援线160电性连接，以及例如使用激光光源的激光束于电子装置100的位置460、位置462、位置464、位置466、位置468和位置470上对第一备援线140和第一备援线150进行激光切割操作，以将对应位置460、位置462、位置464、位置466、位置468和位置470的第一备援线140与第一备援线150切断。如此一来，扫描线GL所传送的扫描信号GS可以经由信号传输路径480进行传送，以便达到修补的效果，并使扫描信号GS的传输可以维持正常运作且可以传送至下一个单元122中的单元电路130。
在图4中，电子装置100的扫描线GL上发生缺陷的位置410为本公开的一种实施范例，不用于限制本公开的实施态样。发生缺陷的位置可以是扫描线GL的其他位置，而缺陷发生于其他位置的修补方式可以参考图4的实施例的说明，故在此不再赘述。如此，也可以达到相同的修补效果。
图5为依据本公开的另一实施例的电子装置的修补操作的示意图。请参考图5，假设当电子装置100的点亮控制线EML的位置510上被微粒或静电放电击伤而发生缺陷时，可以例如使用激光光源的激光束于电子装置100的位置520和位置530上对点亮控制线EML进行激光切割操作，以将对应位置520和位置530的点亮控制线EML切断，进而将点亮控制信号EM与位置510上的缺陷进行隔离。如此，可以将此单元122成为一暗点。
另外，例如使用激光光源的激光束于电子装置100的位置540和位置550上对点亮控制线EML与第一备援线140和第一备援线150进行激光焊接操作，使点亮控制线EML可以于位置540和位置550上与第一备援线140和第一备援线150以及第二备援线160电性连接，以及例如使用激光光源的激光束于电子装置100的位置560、位置562、位置564、位置566、位置568和位置570上对第一备援线140和第一备援线150进行激光切割操作，以将对应位置560、位置562、位置564、位置566、位置568和位置570的第一备援线140与第一备援线150切断。如此一来，点亮控制线EML所传送的点亮控制信号EM可以经由信号传输路径580进行传送，以便达到修补的效果，并使点亮控制信号EM的传输可以维持正常运作且可以传送至下一个单元122中的单元电路130。
在图5中，电子装置100的点亮控制线EML上发生缺陷的位置510为本公开的一种实施范例，不用于限制本公开的实施态样。发生缺陷的位置可以是点亮控制线EML的其他位置，而缺陷发生于其他位置的修补方式可以参考图5的实施例的说明，故在此不再赘述。如此，也可以达到相同的修补效果。
由上述内容可知，当电子装置100的数据线DL、扫描线GL或点亮控制线EML被微粒或静电放电击伤而发生缺陷时，可以于电子装置100的面板110的工作区120透过第一备援线140、第一备援线150、第二备援线160、第二备援线170进行修补，可以减少修补时间、减少修补设计的复杂度、或增加使用上的便利性。
综上所述，本公开实施例的电子装置，透过在电子装置的面板的工作区设置至少二第一备援线与至少一第一备援线，其中至少二第一备援线位于单元电路的周边，且沿着第一方向延伸，而至少一第二备援线位于单元电路的周边，且沿着第二方向延伸。如此一来，当电子装置被微粒或静电放电击伤而发生缺陷时，可以于工作区透过第一备援线及/或第二备援线进行修补，以减少修补时间、减少修补设计的复杂度、或增加使用上的便利性。
本公开虽以实施例公开如上，然其并非用以限定本公开的范围，任何所属技术领域中具有通常知识者，在不脱离本公开的精神和范围内，当可做些许的组合、更动与润饰，因此本公开的保护范围当视所附的权利要求书所界定者为准。

Claims (11)

1.一种电子装置，其特征在于，包括：
一面板，包括一工作区，该工作区包括：
一单元电路；
至少二第一备援线，位于该单元电路的周边，且沿着一第一方向延伸；以及
至少一第二备援线，位于该单元电路的周边，且沿着一第二方向延伸；
其中，该第一方向与该第二方向不同。
2.如权利要求1所述的电子装置，其特征在于，该至少二第一备援线与该至少一第二备援线为不同层。
3.如权利要求2所述的电子装置，其特征在于，该面板更包括一电源线，其中该至少二第一备援线和该至少一第二备援线与该电源线电性连接。
4.如权利要求2所述的电子装置，其特征在于，该至少一第二备援线的数量为二条。
5.如权利要求4所述的电子装置，其特征在于，该面板更包括一数据线，其中该至少二第一备援线的其中之一和该至少二第二备援线与该数据线电性连接。
6.如权利要求5所述的电子装置，其特征在于，该至少二第一备援线与该数据线在该面板的俯视方向上不重叠。
7.如权利要求1所述的电子装置，其特征在于，更包括：
一扫描线，沿着该第二方向延伸，且电性连接该单元电路；以及
一点亮控制线，沿着该第二方向延伸，且电性连接该单元电路。
8.如权利要求7所述的电子装置，其特征在于，该至少二第一备援线和该至少一第二备援线与该扫描线电性连接。
9.如权利要求7所述的电子装置，其特征在于，该至少二第一备援线和该至少一第二备援线与该点亮控制线电性连接。
10.如权利要求7所述的电子装置，其特征在于，该至少一第二备援线与该扫描线在该面板的俯视方向上不重叠。
11.如权利要求7所述的电子装置，其特征在于，该至少一第二备援线与该点亮控制线在该面板的俯视方向上不重叠。
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