CN114466704A - 抗微生物颗粒检测器 - Google Patents

抗微生物颗粒检测器 Download PDF

Info

Publication number
CN114466704A
CN114466704A CN202080069982.3A CN202080069982A CN114466704A CN 114466704 A CN114466704 A CN 114466704A CN 202080069982 A CN202080069982 A CN 202080069982A CN 114466704 A CN114466704 A CN 114466704A
Authority
CN
China
Prior art keywords
antimicrobial
housing
fluid
particle
outer layer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN202080069982.3A
Other languages
English (en)
Inventor
S·麦克罗林
J·斯库巴
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Particle Measuring Systems Inc
Original Assignee
Particle Measuring Systems Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Particle Measuring Systems Inc filed Critical Particle Measuring Systems Inc
Publication of CN114466704A publication Critical patent/CN114466704A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
    • G01N15/06—Investigating concentration of particle suspensions
    • G01N15/0606—Investigating concentration of particle suspensions by collecting particles on a support
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
    • G01N15/06—Investigating concentration of particle suspensions
    • G01N15/0606—Investigating concentration of particle suspensions by collecting particles on a support
    • G01N15/0618—Investigating concentration of particle suspensions by collecting particles on a support of the filter type
    • G01N15/0631—Separation of liquids, e.g. by absorption, wicking
    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61L—METHODS OR APPARATUS FOR STERILISING MATERIALS OR OBJECTS IN GENERAL; DISINFECTION, STERILISATION OR DEODORISATION OF AIR; CHEMICAL ASPECTS OF BANDAGES, DRESSINGS, ABSORBENT PADS OR SURGICAL ARTICLES; MATERIALS FOR BANDAGES, DRESSINGS, ABSORBENT PADS OR SURGICAL ARTICLES
    • A61L2/00—Methods or apparatus for disinfecting or sterilising materials or objects other than foodstuffs or contact lenses; Accessories therefor
    • A61L2/16—Methods or apparatus for disinfecting or sterilising materials or objects other than foodstuffs or contact lenses; Accessories therefor using chemical substances
    • A61L2/23—Solid substances, e.g. granules, powders, blocks, tablets
    • A61L2/232—Solid substances, e.g. granules, powders, blocks, tablets layered or coated
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
    • G01N1/02—Devices for withdrawing samples
    • G01N1/22—Devices for withdrawing samples in the gaseous state
    • G01N1/2202—Devices for withdrawing samples in the gaseous state involving separation of sample components during sampling
    • G01N1/2208—Devices for withdrawing samples in the gaseous state involving separation of sample components during sampling with impactors
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
    • G01N15/02—Investigating particle size or size distribution
    • G01N15/0205—Investigating particle size or size distribution by optical means
    • G01N15/0227—Investigating particle size or size distribution by optical means using imaging; using holography
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
    • G01N15/02—Investigating particle size or size distribution
    • G01N15/0255—Investigating particle size or size distribution with mechanical, e.g. inertial, classification, and investigation of sorted collections
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
    • G01N15/10—Investigating individual particles
    • G01N15/14—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry
    • G01N15/1456—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry without spatial resolution of the texture or inner structure of the particle, e.g. processing of pulse signals
    • G01N15/1459—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry without spatial resolution of the texture or inner structure of the particle, e.g. processing of pulse signals the analysis being performed on a sample stream
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
    • G01N21/15—Preventing contamination of the components of the optical system or obstruction of the light path
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/85—Investigating moving fluids or granular solids
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
    • G01N15/01—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials specially adapted for biological cells, e.g. blood cells
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
    • G01N15/06—Investigating concentration of particle suspensions
    • G01N15/075—Investigating concentration of particle suspensions by optical means
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
    • G01N1/02—Devices for withdrawing samples
    • G01N1/22—Devices for withdrawing samples in the gaseous state
    • G01N1/2202—Devices for withdrawing samples in the gaseous state involving separation of sample components during sampling
    • G01N2001/222—Other features
    • G01N2001/2223—Other features aerosol sampling devices
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
    • G01N2015/0023—Investigating dispersion of liquids
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
    • G01N2015/0038—Investigating nanoparticles
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
    • G01N2015/0042—Investigating dispersion of solids
    • G01N2015/0046—Investigating dispersion of solids in gas, e.g. smoke
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
    • G01N15/02—Investigating particle size or size distribution
    • G01N15/0255—Investigating particle size or size distribution with mechanical, e.g. inertial, classification, and investigation of sorted collections
    • G01N2015/0261—Investigating particle size or size distribution with mechanical, e.g. inertial, classification, and investigation of sorted collections using impactors
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
    • G01N15/02—Investigating particle size or size distribution
    • G01N2015/0294—Particle shape
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
    • G01N2015/03—Electro-optical investigation of a plurality of particles, the analyser being characterised by the optical arrangement
    • G01N2015/035—Electro-optical investigation of a plurality of particles, the analyser being characterised by the optical arrangement the optical arrangement forming an integrated apparatus with the sample container
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
    • G01N15/10—Investigating individual particles
    • G01N15/14—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry
    • G01N2015/1486—Counting the particles
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
    • G01N15/10—Investigating individual particles
    • G01N15/14—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry
    • G01N2015/1493—Particle size
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
    • G01N15/10—Investigating individual particles
    • G01N15/14—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry
    • G01N2015/1497—Particle shape
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/02—Mechanical
    • G01N2201/022—Casings

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Dispersion Chemistry (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Medicinal Chemistry (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Epidemiology (AREA)
  • Animal Behavior & Ethology (AREA)
  • Public Health (AREA)
  • Veterinary Medicine (AREA)
  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)
  • Measuring Or Testing Involving Enzymes Or Micro-Organisms (AREA)

Abstract

本发明总体上提供了用于颗粒检测的系统和方法，用于在需要低水平的微生物的制造环境(例如用于电子产品制造的洁净室环境和用于制造药物和生物制品(例如无菌医药产品)的无菌环境)中最小化微生物生长和交叉污染。在一些实施方案中，本发明的系统包括外壳，所述外壳具有作为第一抗微生物表面的外表面和作为第二抗微生物表面的触摸屏。在一些实施方案中，所述系统的基本上所有外表面都是抗微生物表面。在一些实施方案中，所述第一抗微生物表面可以包括活性屏等离子体合金层。在一些实施方案中，所述外壳可以包括模塑聚合物基底和结合到模塑聚合物基底的金属涂层，以使得所述外壳的至少一些外表面是金属涂覆的表面。

Description

抗微生物颗粒检测器
相关申请的交叉引用
本申请要求于2019年10月7日提交的序列号为62/911,801的美国临时申请、于2020年5月12日提交的序列号为63/023,535的美国临时申请和于2020年8月14日提交的序列号为63/065,916的美国临时申请的优先权权益，以上每件临时申请的全部内容通过引用纳入本文。
背景技术
本发明属于颗粒采样、收集和分析领域。总体而言，本发明涉及具有抗微生物表面的颗粒检测器，用于在受控环境中减少污染和控制微生物生长。
洁净室和洁净区通常用于半导体和药物的制造设施中。对于半导体行业，气载颗粒浓度的增加会导致制造效率的下降，因为沉积在半导体晶片上的颗粒会影响或干扰小长度规模制造工艺。对于缺乏这种实时效率反馈的制药行业，由气载颗粒和生物污染物造成的污染使药品面临不符合美国食品药品监督管理局(FDA)和其他国外和国际卫生监管机构制定的清洁度标准的风险。
ISO 14664-1和ISO 14664-2提供了洁净室颗粒水平的分类标准以及用于测试和监测的标准以确保合规性。气溶胶光学颗粒计数器通常用于确定洁净室和洁净区中的气载颗粒污染水平，液体颗粒计数器用于光学测量在工艺流体中的颗粒污染水平。在特别关注微生物颗粒的情况下，例如在制药行业，不仅空气中颗粒数量的量化很重要，微生物颗粒的活力和特性的表征也是一个问题。ISO 14698-1和ISO 14698-2提供了用于评估洁净室和洁净区环境中的生物污染物的标准。
目前，气载生物颗粒的收集和分析通常可使用多种技术实现，包括沉降板、接触板、表面擦拭、指尖采样和基于冲击器的主动空气采样器。级联撞击采样器在习惯上用于颗粒的收集和分级。在这些设备中，一系列的加速度和惯性冲击从流体流中依次剥离出越来越小的颗粒。惯性撞击器的每级工作原理是，可以通过迫使含颗粒气流的方向发生剧烈改变来收集悬浮在空气中的颗粒，其中颗粒的惯性会将颗粒从气流流线中分离出来，并允许颗粒撞击在表面上。Biswas等人描述了在高速惯性撞击采样器中收集颗粒的效率(Environ.Sci.Technol.,1984,18(8),611-616)
由于质量标准和政府监管要求的提高，对较低活颗粒和非活颗粒浓度的要求也随之增加，因此需要改进采样技术，以降低受控环境中人类互动造成的外部污染风险。人类是洁净室污染物的最大来源，占室内产生的颗粒和微生物的80％。颗粒采样仪器的外表面由于运输(即手柄)和操作(即触摸屏)的原因而与人类有经常且持续的接触，因此当仪器被运送到另一个洁净室时，抑制仪器本身的微生物生长将减少整体室内污染物和交叉污染。
在诸如制药、生物制药、肠胃外药物和医疗设备以及精密加工等许多行业中，需要在无菌制造和洁净室环境中保持无菌处理操作。在颗粒物质和生物负载的严格规范下保持操作对于这些行业中的每一个的成功制造都是至关重要的。
在这些高度管制的环境中，至关重要的是不需要的细菌和/或其他微生物不会污染产品。因此，可以检测活颗粒和非活颗粒的污染监测仪器通常安装在316L不锈钢外壳中。316L不锈钢(316L SST)是制药厂商的“行业标准”，因为它能够承受反复消毒和用强刺激性杀菌化学品和清洁剂的冲洗，易于清洁，耐腐蚀，对碱和酸呈惰性，化学细菌中性等。将316LSST制造成外壳也相对容易，因为它具有良好的一般成型性和焊接特性。
然而，尽管不锈钢可能看起来很干净，但它仍然可能藏有肉眼不可见的细菌病原体。同样，无法确定“干净的”表面将保持无细菌多长时间。而且，316L不锈钢可能很昂贵和/或难以制造并形成复杂的形状。另外，316L不锈钢可能很重，因此对于手持或移动设备来说不是最佳选择。
从上文可以看出，本领域仍然需要颗粒收集、分析和表征系统，用于从受控环境中对颗粒和/或生物体进行采样和收集，同时通过颗粒收集仪器降低从一个位置到另一个位置的微生物污染和交叉污染的风险。
发明内容
本文提供了用于最小化微生物生长和交叉污染的颗粒检测系统和方法。在一个实施方案中，一种颗粒检测装置包括用于接收含颗粒的流体的进口、用于检测颗粒的采样区域、用于排放所述流体的出口、至少部分地包围所述采样区域的外壳以及设置在所述外壳上的触摸屏。所述采样区域可以与所述进口流体连通。所述出口可以与所述采样区域流体连通。所述外壳可以具有外部。所述外壳的外部可以包括第一抗微生物表面。所述触摸屏可以为所述装置提供用户界面。所述触摸屏可以包括第二抗微生物表面。
在一个实施方案中，所述外部包括基层。所述基层可以包括不锈钢。第一抗微生物表面可以包括沉积在所述基层上的外层。所述外层可以包含抗微生物组分。在一个实施方案中，所述外层是已经经活性屏等离子体工艺沉积的层。在一个实施方案中，所述外壳包括模塑聚合物基底和金属涂层，所述金属涂层结合到所述模塑聚合物基底，使得所述外壳的至少一些外表面是金属涂覆的表面。
在一些实施方案中，所述颗粒检测装置可以包括便携式颗粒检测装置。在一些实施方案中，所述颗粒检测装置可以包括颗粒采样器或颗粒计数器。在一些实施方案中，所述颗粒检测装置可以包括微生物撞击采样器或光学颗粒计数器。
在一些实施方案中，所述第一抗微生物表面可以包含与所述第二抗微生物表面相同的材料。在一些实施方案中，所述第一抗微生物表面包含与所述第二抗微生物表面不同的材料。在一些实施方案中，所述第一抗微生物表面、所述第二抗微生物表面或两者都是抗菌表面。
在一些实施方案中，所述第一抗微生物表面、所述第二抗微生物表面或两者的至少一部分作为所述装置的整体组件提供。在一些实施方案中，所述第一抗微生物表面、所述第二抗微生物表面或两者的至少一部分作为一个或多个膜或涂层提供。在一些实施方案中，所述第一抗微生物表面、所述第二抗微生物表面或两者是纳米图案化或微米图案化的细菌生长抑制剂表面。
在一些实施方案中，所述抗微生物表面可以是光活性抗微生物表面。例如，所述抗微生物表面可包括配置为在表面产生活性氧的二氧化钛。在一些实施方案中，所述抗微生物表面可包括连续的抗微生物涂层。在一些实施方案中，所述抗微生物表面可包括抗微生物组分的分散纳米颗粒。
在一些实施方案中，所述抗微生物表面可包括抗附着组分。抗附着组分可以防止或阻止细菌和其他微生物附着到表面。在一个实施方案中，所述抗附着组分包括刷状聚合物(brush polymer)。在一个实施方案中，所述抗附着组分包括纳米图案化或微米图案化表面，其配置为阻止或防止微生物附着到表面。
在一些实施方案中，所述第一抗微生物表面、所述第二抗微生物表面或两者均包含抗微生物聚合物。在一些实施方案中，所述抗微生物聚合物包含银离子。在一些实施方案中，所述抗微生物聚合物包含锌。
在一些实施方案中，所述装置的基本上所有外表面都是抗微生物表面。在一些实施方案中，所述触摸屏的基本上所有外表面都是抗微生物表面。在一些实施方案中，所述外壳包括手柄，其中所述手柄的基本上所有外表面都是抗微生物表面。
在一个实施方案中，减少洁净室中微生物污染的方法包括以下步骤：操作颗粒检测装置，将第一微生物引到所述装置的外壳的抗微生物表面上，通过所述外壳的抗微生物表面抑制所述第一微生物的生长或杀死所述第一微生物，将第二微生物引到所述装置的触摸屏的抗微生物表面，通过所述触摸屏的抗微生物表面抑制第二微生物的生长或杀死第二微生物。所述外壳可以至少部分地包围采样区域。所述操作步骤可以包括将含颗粒的流体引到所述装置的进口；在所述装置的采样区域中对所述流体中的颗粒进行采样；并通过所述装置的出口排出所述流体。
在一些实施方案中，所述装置是光学颗粒检测器并且所述采样步骤包括通过所述装置的采样区域中的散射光对颗粒进行检测。
在一些实施方案中，所述装置是微生物撞击采样器，所述含颗粒的流体包含生物颗粒，并且所述采样步骤包括在所述装置的撞击表面上接收所述生物颗粒的至少一部分；并且使由所述撞击表面接收的所述生物颗粒中的至少一些生长。
在一些实施方案中，所述第一微生物是细菌、病毒、霉菌或真菌。
在一方面，颗粒检测系统的外壳可以包括不锈钢。抗微生物组分可以通过活性屏等离子体(ASP)施加到外壳的不锈钢上，从而使不锈钢外壳的外表面合金化。这种活性屏等离子合金化可以赋予持久的抗微生物性质，以阻止细菌和/或其他微生物的生长。
在一个实施方案中，颗粒检测系统包括用于接收含颗粒的流体的进口、用于检测颗粒的采样区域、用于排出所述流体的出口以及至少部分地包围所述采样区域的外壳。所述采样区域与所述进口流体连通。所述出口与所述采样区域流体连通。所述外壳包括外部，所述外部包括包含不锈钢的基层和沉积在所述基层上的外层。所述外层可包括抗微生物组分。在一个实施方案中，所述外层包括含有抗微生物组分的活性屏等离子体沉积外层。
在一个实施方案中，所述外层形成第一抗微生物表面，并且系统还可以包括设置在所述外壳中的触摸屏，所述触摸屏为所述装置提供用户界面，其中所述触摸屏包括第二抗微生物表面。在一个实施方案中，所述外壳包括支撑所述基层和所述外层的模塑聚合物基底，并且其中所述基层结合到模塑聚合物基底。
在一个实施方案中，所述抗微生物组分包括铜。在一个实施方案中，所述抗微生物组分包括银。在一个实施方案中，所述抗微生物组分包括钴、镍、锌或锆中的至少一种。
在一个实施方案中，所述外层的厚度为1μm至30μm。在一个实施方案中，所述外层的厚度为3μm至24μm。在一个实施方案中，所述外层的厚度为5μm至20μm。
在一个实施方案中，所述外层的HV 0.05硬度至少为1300。在一个实施方案中，所述外层的HV 0.05硬度至少为1350。在一个实施方案中，所述外层的HV 0.05硬度至少为1400。
在一个实施方案中，所述系统包括便携式颗粒检测装置。在另一个实施方案中，所述系统包括固定式颗粒检测装置。在一个实施方案中，所述系统包括颗粒采样器或颗粒计数器。在一个实施方案中，所述系统包括微生物撞击采样器或光学颗粒计数器。
在一个实施方案中，所述系统包括配置为检测活的生物颗粒的颗粒计数器。
在一个实施方案中，含颗粒的流体是气体。在一个实施方案中，含颗粒的流体是液体。在一个实施方案中，所述基层包括316不锈钢。在一个实施方案中，所述基层包括316L不锈钢。
在一个实施方案中，所述外层包括纳米图案化或微米图案化的细菌生长抑制剂表面。
在一个实施方案中，减少洁净室中微生物污染的方法包括：对颗粒检测系统进行操作，将第一微生物引到所述系统的外壳的表面，以及通过抗微生物组分抑制第一微生物的生长或杀死第一微生物。所述操作可以包括将含颗粒的流体引到所述系统的进口，在所述系统的采样区域中对所述流体中的颗粒进行采样，以及通过所述系统的出口排出所述流体。所述外壳可以至少部分地包围所述采样区域。所述外壳包括外部。所述外部包括具有外表面的不锈钢基层；以及包含抗微生物组分的活性屏等离子体沉积外层。
在一个实施方案中，用于减少洁净室中微生物污染的系统包括光学颗粒检测器，并且所述采样步骤包括通过所述系统的所述采样区域中的散射光对颗粒进行检测。
在一个实施方案中，所述系统包括微生物撞击采样器并且含颗粒的流体包含生物颗粒。在该实施方案中，所述采样步骤可以包括在所述系统的撞击表面上接收所述生物颗粒的至少一部分，并且使所述撞击表面接收的所述生物颗粒中的至少一些生长。
在一个实施方案中，所述系统包括便携式颗粒检测系统，并且在第一位置进行引入第一微生物的步骤。在该实施方案中，减少洁净室中微生物污染的方法包括将所述装置运送到远离所述第一位置的第二位置。该运送步骤可以在抑制生长的步骤之后进行。
在一个实施方案中，颗粒检测系统包括用于接收含颗粒的流体的进口；用于检测颗粒的采样区域，所述采样区域与所述进口流体连通；用于排放流体的出口，所述出口与所述采样区域流体连通；以及至少部分地包围所述采样区域的外壳。所述外壳可以包括模塑聚合物基底；以及结合到模塑聚合物基底的金属涂层，使得所述外壳的至少一些外表面是金属涂覆的表面。所述系统可以包括设置在所述外壳上的触摸屏，所述触摸屏为所述装置提供用户界面，其中所述触摸屏包括抗微生物表面。
在一个实施方案中，所述金属涂层包括含不锈钢的基层和沉积在所述基层上的外层，其中所述外层包含抗微生物组分。在一个实施方案中，所述外层是活性屏等离子体沉积外层。
在一个实施方案中，所述金属涂层包括不锈钢。在一个实施方案中，所述金属涂层包括316L不锈钢。在一个实施方案中，所述金属涂层包括铜。在一个实施方案中，所述金属涂层包括钛。在一个实施方案中，所述金属涂层包括银。在一个实施方案中，所述金属涂层包括钴、镍、锌或锆中的至少一种。
在一个实施方案中，所述金属涂层的厚度为0.01mm至1mm。在一个实施方案中，所述金属涂层的厚度为0.3mm至0.1mm。在一个实施方案中，所述模塑聚合物基底和所述金属涂层都具有拉丝纹理(brushed texture)。在一个实施方案中，所述模塑聚合物基底和所述金属涂层都具有纳米图案化或微米图案化的细菌生长抑制剂纹理。
在一个实施方案中，减少洁净室中微生物污染的方法包括对颗粒检测系统进行操作，所述操作包括：(a)将含颗粒的流体引入所述系统的进口；(b)在所述系统的采样区域中对所述流体中的颗粒进行采样；(c)通过所述系统的出口排出所述流体；(d)将第一微生物引到所述系统的外壳的表面上，所述外壳至少部分地包围所述采样区域，其中所述外壳包括：模塑聚合物基底；以及金属涂层，所述金属涂层结合到所述模塑聚合物基底上以使得所述外壳的至少一些外表面是金属涂覆的表面；(e)通过所述金属涂覆的表面抑制所述第一微生物的生长或杀死所述第一微生物。
在一个实施方案中，所述系统是光学颗粒检测器并且(b)采样步骤包括通过所述系统的采样区域中的散射光对颗粒进行检测。在一个实施方案中，所述系统是一种微生物撞击采样器，所述含颗粒的流体包含生物颗粒，并且所述(b)采样步骤包括在所述系统的撞击表面上接收所述生物颗粒的至少一部分；并且使由所述撞击表面接收的所述生物颗粒中的至少一些生长。
在一个实施方案中，所述系统是便携式颗粒检测系统，在第一位置进行(d)引入第一微生物的步骤，并且所述方法包括以下步骤：(f)在所述(e)抑制生长步骤之后，将所述装置运送到远离所述第一位置的第二位置。
在一个实施方案中，颗粒检测系统包括用于接收含颗粒的流体的进口、用于检测颗粒的采样区域、用于排出所述流体的出口(所述出口与所述采样区域是流体连通的)、外壳和设置在所述外壳中的触摸屏。所述外壳可以至少部分地包围所述采样区域。所述外壳可以包括模塑聚合物基底和外部，所述外部包括基层和外层。所述基层可以包括不锈钢。所述外层可以例如通过ASP沉积在所述基层上。所述外层可包含抗微生物组分。所述模塑聚合物基底可以支撑所述基层和所述外层。所述基层可以结合到所述模塑聚合物基底。所述触摸屏可以为装置提供用户界面。所述触摸屏还可以包括第二抗微生物表面。
本发明的装置和方法是通用的并且支持一系列颗粒采样、监测和分析应用。例如，本发明的装置和方法可用于涉及无菌药物制剂或生物制剂，药物容器或生物容器，药物递送装置或生物递送装置，包括可植入装置的医疗装置、血液、细胞和组织材料的制备、处理、制造、储存、转移、填充和/或表面处理的应用。此外，本发明的装置和方法可用于监测和表征医疗环境(例如医院、操作室、手术室和合成药房(compounding pharmacies))中的生物颗粒。本发明的装置和方法的其他应用包括化妆品、个人护理产品、食品和饮料的制备、制造、储存、转移或加工。
不希望受任何特定理论的约束，本文可讨论与本文公开的装置和方法相关的基本原理的信念或理解。应当认识到，无论任何机理的解释或假设的最终正确性如何，本发明的实施方案仍然可以是可操作的和有用的。
附图说明
图1是包括触摸屏的本发明的颗粒检测装置的一个实施方案的前视图。
图2是图1的颗粒检测装置的示意图。
图3是包括不锈钢外壳的本发明的颗粒检测装置的第二实施方案的前视图。
具体实施方式
一般而言，本文使用的术语和短语具有它们在本领域公认的含义，其可通过参考本领域技术人员已知的标准文本、期刊参考文献和上下文找到。提供以下定义以阐明它们在本发明的上下文中的具体用途。
“颗粒”是指通常被视为污染物的小物体。颗粒可以是由摩擦作用(例如当两个表面发生机械接触并发生机械运动时)产生的任何材料。颗粒可以由材料(例如灰尘、污垢、烟、灰烬、水、烟灰、金属、矿物质或这些材料或其他材料或污染物的任何组合)的聚集体组成。“颗粒”还可以指生物颗粒，例如病毒、孢子和微生物，所述微生物包括细菌、真菌、古生菌、原生生物、其他单细胞微生物。生物颗粒包括但不限于尺寸近似为0.1μm至20μm的微生物。生物颗粒包括能够繁殖(例如，在生长培养基中孵育时)的活的生物颗粒。颗粒可以指吸收光或散射光并因此通过光学颗粒计数器可检测到的任何小物体。如本文所用，“颗粒”是指不包括载流流体(例如，存在于空气中的此类气体(例如，氧分子、氮分子、氩分子等)或工艺气体)的单个的原子或分子。本发明的一些实施方案能够对包括尺寸大于50nm、100nm、1μm或更大，或10μm或更大的材料聚集体的颗粒进行采样、收集、检测、分级(sizing)和/或计数。具体的颗粒包括具有选自从50nm至50μm的尺寸、选自从100nm至10μm的尺寸或选自从500nm至5μm的尺寸的颗粒。
“对颗粒进行采样”的表述广义上是指收集流体流中的颗粒，例如，从监测中的环境收集颗粒。本文中的采样包括将流体流中的颗粒转移到撞击表面，例如生长培养基的接收表面。或者，采样可以指使流体中的颗粒通过颗粒分析区域，例如，用于光学检测和/或表征。采样可以指对具有一种或多种预选特性(例如尺寸(例如横截面尺寸，例如直径、有效直径等)、颗粒类型(生物或非生物、活的或非活的等)或颗粒组成)的颗粒的收集。采样可以任选地包括对收集的颗粒进行分析，例如，通过随后的光学分析、成像分析或可视化分析。采样可以任选地包括活的生物颗粒的生长，例如通过涉及生长培养基的培养过程。采样器是指对颗粒进行采样的装置。
“撞击采样器”是指一种用于对颗粒进行采样的装置。在一些实施方案中，撞击采样器包括采样头，所述采样头包括一个或多个用于对包含颗粒的流体流进行采样的输入口，由此将至少一部分颗粒引导至撞击表面上以进行收集，例如生长培养基(例如培养基如琼脂、肉汤等)或基底(如过滤器)的接收表面。一些实施方案的撞击采样器在流体通过所述输入口之后改变流动方向，其中具有预选特征(例如，尺寸大于阈值)的颗粒不会改变方向，因此被所述撞击表面接收。
“对颗粒进行检测”的表述广义上是指感测、鉴定颗粒的存在和/或对颗粒进行表征。在一些实施方案中，对颗粒进行检测是指对颗粒进行计数。在一些实施方案中，对颗粒进行检测是指表征和/或测量颗粒的物理特性，例如直径、横截面尺寸、形状、尺寸、空气动力学尺寸或这些的任何组合。颗粒计数器是一种用于计算流体或流体体积中的颗粒数量的装置，并且任选地还可以提供颗粒的表征，例如，基于尺寸(例如横截面尺寸，例如直径或有效直径)、颗粒类型(例如生物或非生物)或颗粒组成。光学颗粒计数器是一种通过测量颗粒对光的散射、发射或吸收来对颗粒进行检测的装置。
“流动方向”指的是当流体流动时，与流体主体运动方向平行的轴线。对于流过直流单元的流体，所述流动方向平行于流体主体所经过的路径。对于流过弯曲流动单元的流体，所述流动方向可以被认为与流体主体所经过的路径相切。
“流体连通”是指两个或更多个物体的布置，使得流体可以被输送到、经过、通过或从一个物体到另一个物体。例如，在一些实施方案中，如果在两个物体之间直接提供流体流动路径，则两个物体彼此流体连通。在一些实施方案中，如果在两个物体之间间接提供流体流动路径，例如通过在两个物体之间包括一个或多个其他物体或流动路径，则两个物体彼此流体连通。例如，在一个实施方案中，颗粒撞击采样器的以下部件彼此流体连通：一个或多个输入口、撞击表面、流体出口、限流限器、压力传感器、流产生装置。在一个实施方案中，存在于流体主体中的两个物体不必彼此流体连通，除非来自第一物体的流体被吸引到、经过和/或通过第二物体，例如沿着流动路径。
“流量”是指流过指定点或流经指定区域(例如通过颗粒撞击采样器的输入口或流体出口)的流体量。在一个实施方案中，流量是指质量流量，即流过指定点或流经指定区域的流体的质量。在一个实施方案中，流量是体积流量，即流过指定点或流经指定区域的流体的体积。
“压力”是指每单位面积上所显示出的力的度量。在一个实施方案中，压力是指气体或流体在每单位面积上所显示出的力。“绝对压力”是指气体或流体在每单位面积上所施加的压力的度量，以绝对真空或每单位面积施加零力的体积为参照。绝对压力与“压差”或“表压”不同，所述“压差”或“表压”是指每单位面积上所显示出的力超过或相对于第二压力(例如环境压力或大气压力)的相对变化或差异。
“聚合物”是指由通过共价化学键连接的重复结构单元构成的大分子或一种或多种单体的聚合产物，通常以高分子量为特征。术语聚合物包括均聚物或基本上由单个重复单体亚单元组成的聚合物。术语聚合物还包括共聚物或基本上由两个或更多个单体亚单元组成的聚合物，例如随机共聚物、嵌段(block)共聚物、交替共聚物、多嵌段(segmented)共聚物、接枝共聚物、锥形(tapered)共聚物和其他共聚物。有用的聚合物包括可以处于无定形、半无定形、结晶或部分结晶状态的有机聚合物或无机聚合物。具有连接单体链的交联聚合物对于某些应用特别有用。可用于所述方法、装置和组件的聚合物包括但不限于塑料、弹性体、热塑性弹性体、弹性塑料、热塑性塑料和丙烯酸酯。示例性聚合物包括但不限于缩醛聚合物、生物可降解聚合物、纤维素聚合物、含氟聚合物、尼龙、聚丙烯腈聚合物、聚酰胺-酰亚胺聚合物、聚酰亚胺、聚芳酯、聚苯并咪唑、聚丁烯、聚碳酸酯、聚酯、聚醚酰亚胺、聚乙烯、聚乙烯共聚物和改性聚乙烯、聚酮、聚(甲基丙烯酸甲酯)、聚甲基戊烯、聚苯醚和聚苯硫醚、聚邻苯二甲酰胺、聚丙烯、聚氨酯、苯乙烯树脂、砜基树脂、乙烯基树脂、橡胶(包括天然橡胶、苯乙烯-丁二烯橡胶、聚丁二烯橡胶、氯丁橡胶、乙烯-丙烯橡胶、丁基橡胶、丁腈橡胶、硅树脂)、丙烯酸、尼龙、聚碳酸酯、聚酯、聚乙烯、聚丙烯、聚苯乙烯、聚氯乙烯、聚烯烃或这些的任何组合。
图1-图2示出了一个示例性颗粒检测装置、光学颗粒分析仪100的实施方案。光学颗粒分析仪100包括用于接收含颗粒的流体的进口109、用于检测颗粒的采样区域106和用于排出所述流体的出口111。所述采样区域106与所述进口109流体连通。所述出口111与所述采样区域106流体连通。
光学颗粒分析仪100包括至少部分地包围所述采样区域106的外壳101，以及设置在所述外壳101上的触摸屏150。所述外壳101具有外表面，所述外表面是抑制或阻止微生物生长的第一抗微生物表面。所述触摸屏150通过所述触摸屏的外表面向所述装置提供用户界面，所述触摸屏的外表面是抑制或阻止微生物生长的第二抗微生物表面。
在一个实施方案中，所述第一抗微生物表面包含与所述第二抗微生物表面相同的材料。在另一个实施方案中，所述第一抗微生物表面包含与所述第二抗微生物表面不同的材料。在一个实施方案中，所述第一抗微生物表面、第二抗微生物表面或两者都是抗菌表面。
在一些实施方案中，所述第一抗微生物表面、第二抗微生物表面或两者都作为所述装置的整体组件提供。例如，在一些实施方案中，所述第一抗微生物表面、第二抗微生物表面或两者可以是纳米图案化或微米图案化的细菌生长抑制剂表面。在一个实施例中，所述第一抗微生物表面、第二抗微生物表面或两者可以是微米图案化表面，例如由科罗拉多州奥罗拉的SHARKET TECHNOLOGIES，Inc.生产的那些。此外或替代地，所述第一抗微生物表面、第二抗微生物表面或两者包含抗微生物聚合物。在一个实施例中，所述第一抗微生物表面、第二抗微生物表面或两者可以是抗微生物聚合物，例如由英国Whales的STERITOUCH生产的那些。在一个实施例中，所述抗微生物聚合物包括银离子。在一个实施例中，所述抗微生物聚合物包括锌。
通过由具有抗微生物性质的聚合物制造至少一部分所述外壳101，可以克服与316L不锈钢相关的成本、可成形性和重量方面的困难。此外，现有技术的仪器消毒方法可以包括用消毒剂擦拭外壳。抗微生物塑料的使用提供了一层额外的保护，以防这种手动操作遗漏了难以触及的区域(角落、缺口、缝隙等)。在这方面，所述抗微生物聚合物外壳可能是第二道防线。
在一些实施方案中，所述第一抗微生物表面、第二抗微生物表面或两者的至少一部分作为一个或多个膜或涂层提供。在一些实施方案中，所述外壳101和/或触摸屏150的至少一部分可以涂覆抗微生物环氧树脂，例如含有抗细菌添加剂和/或抗真菌添加剂的环氧树脂。在一个实施例中，所述外壳101和/或触摸屏150的一部分可以涂覆有由佛罗里达州棕榈海岸的BIO SHIELD TECH，LLC生产的AGION抗微生物保护环氧树脂。
在一个实施方案中，所述触摸屏的基本上所有外表面都是抗微生物表面。在一个实施方案中，所述装置的基本上所有外表面都是抗微生物表面。在一些实施方案中，例如如图1所示，所述外壳可以包括手柄。在一些实施方案中，所述手柄的基本上所有外表面都是抗微生物表面。
本发明的装置可用于减少洁净室中的微生物污染。例如，在一个实施方案中，减少洁净室中微生物污染的方法包括以下步骤：对抗微生物颗粒检测装置进行操作，将第一微生物引到所述装置的外壳的抗微生物表面上，将第二微生物引到所述装置的触摸屏的抗微生物表面上，抑制所述第一微生物和第二微生物生长或杀死所述第一微生物和第二微生物。
对颗粒检测装置进行操作的方法可以包括以下步骤：将含颗粒的流体引到所述装置的进口，在所述装置的采样区域中对流体中的颗粒进行采样，以及通过所述装置的出口排出所述流体。所述外壳可以至少部分地包围所述采样区域。
所述颗粒检测装置可以包括光学颗粒检测器、颗粒采样器、颗粒计数器或微生物撞击采样器。
在所述装置是光学颗粒检测器的实施方案中，所述采样步骤可以包括通过所述装置的采样区域中的散射光对颗粒进行检测。在所述装置是微生物撞击采样器并且其中含颗粒的流体包含生物颗粒的实施方案中，所述采样步骤可以包括在所述装置的撞击表面上接收生物颗粒的至少一部分，并且使由所述撞击表面接收的所述生物颗粒中的至少一些生长。
在一些实施方案中，所述第一微生物是细菌、病毒、霉菌或真菌。在一些实施方案中，所述第二微生物是细菌、病毒、霉菌或真菌。在一些实施方案中，所述第一微生物是与所述第二微生物相同类型的微生物。在一些实施方案中，所述第一微生物是与所述第二微生物不同类型的微生物。
转向图2，光学颗粒分析仪100包括电磁辐射源(“EMR”)102，用于产生EMR光束104。在一个实施方案中，所述EMR源102包括激光器、激光二极管、条形二极管激光器、发光二极管和白炽灯中的至少一个。在包括激光器的EMR源102的实施方案中，所述EMR光束104包括激光束。在一个实施方案中，所述激光器包括激光二极管和条形二极管激光器中的至少一个。
如图1至图2所示的光学颗粒分析仪100包括用于容纳样本介质并用于接收所述EMR光束104的采样区域106。所述采样区域由所述外壳101包围。在一些实施方案中，所述采样区域106接收激光束。所述样本介质包括颗粒和流体(例如，液体和/或气体)。在一个实施方案中，所述采样区域106包括比色皿。在一个实施方案中，所述采样区域106是流动室，用于容纳所述样本介质并用于接收所述EMR光束104。光学颗粒分析仪100包括流动进口109和流动出口111，用于使所述流体流过所述流动室。在一个实施方案中，所述光学颗粒分析仪100可以包括过滤器110，用于过滤所述流动室上游(例如，在所述流体通过进口109进入所述流动室内部之前)的流体。应当注意，在气载颗粒的情况下，构成样本介质的流体的空气流不需要被限制在所述采样区域106内。
图2所示的光学颗粒分析仪100包括与EMR源102光通信的光学组件112，用于将来自EMR源102的EMR光束104引导至所述采样区域106。在EMR源102包括激光器的实施方案中，所述光学组件112可以与所述激光器光通信，用于将来自所述激光器的激光束引导至所述采样区域106。在一个实施方案中，所述光学组件112可以包括一个或多个透镜、掩模和/或滤光器。在所示实施方案中，所述光学组件112包括第一透镜113、掩模114和第二透镜116，用于将所述EMR光束104聚焦在所述采样区域106内。在EMR源102包括激光器的实施方案中，所述第二透镜116可以将激光束聚焦在所述采样区域106内。
图2中所示的光学颗粒分析仪100包括检测器118，用于检测来自EMR光束104的散射辐射119。在EMR源102包括激光器的实施方案中，所述检测器118检测来自激光器的散射辐射119。所述光学颗粒分析仪100包括光学收集系统120，用于将来自EMR光束104的散射辐射119从所述采样区域106引导至所述检测器118。在EMR源102包括激光器的实施方案中，所述光学收集系统120将来自所述采样区域106的激光束的散射辐射119引导至所述检测器118。在一个实施方案中，所述光学颗粒分析仪100可以包括用于标准化的附加检测器(例如，标准化检测器121)，用于检测离开所述采样区域106的光。
图2中所示的光学颗粒分析仪100可包括计算系统122，所述计算系统122具有一个或多个处理器124和一个或多个存储装置126，所述存储装置126可操作地连接到所述一个或多个处理器124。所述存储装置126包括至少一个非瞬态处理器可读介质，其能够存储编码为一个或多个处理器124可执行的软件的程序指令。所述计算系统122可以包括用户界面128，用于促进操作交互和信息可视化和/或控制(manipulation)，例如，由所述光学颗粒分析仪100的用户与所述光学颗粒分析仪100的计算设备122和/或其他组件和子系统通过触摸屏显示器150、键盘和/或其他I/O装置进行。
图2所示的光学颗粒分析仪100可以包括放大电路132，所述放大电路132可操作地连接到所述一个或多个处理器124并且可操作地连接到所述检测器118，用于放大检测器信号134。所述光学颗粒分析仪100可以包括驱动电路136，所述驱动电路136可操作地连接到所述一个或多个处理器124并且可操作地连接到所述EMR源102。在EMR源102包括激光器的实施方案中，所述驱动电路136用于激光器中。
在一个实施方案中，一个或多个处理器124可以执行存储在一个或多个存储装置126中的软件，用于在操作期间控制所述光学颗粒分析仪100的各个组件。在一个实施方案中，所述一个或多个处理器124可以通过所述驱动电路136控制EMR源102(例如，通过控制用户指定的由所述驱动电路136实现的频率、电压、电流、波形、占空比和其他控制参数)。在一个实施方案中，所述一个或多个处理器124可以提供指令以控制用户指定的由流动系统(未示出)实现的流量和其他控制参数。在一个实施方案中，所述一个或多个处理器124可以接收所述检测器信号134，并且在对由所述检测器信号134编码的信息进行解码之后，将解码的信息存储在所述一个或多个存储装置126中。所述光学颗粒分析仪100可以包括电源供应器142，用于向需要电力来运行的所述光学颗粒分析仪100的各个组件和系统提供电力。
颗粒检测器的不锈钢表面的活性屏等离子体合金化
一方面，本发明的颗粒检测系统可以包括一个或多个不锈钢表面。这些不锈钢表面可以通过活性屏等离子体(ASP)进行处理，以将一种或多种抗微生物和/或抗菌组分添加到颗粒检测装置的不锈钢表面的外层。在“Active screen plasma surface co-alloyingof 316austenitic stainless steel with both nitrogen and niobium for theapplication of bipolar plates in proton exchange membrane fuel cells”(International Journal of Hydrogen Energy,Volume 40,Issue 32,24August 2015,Pages 10281-10292)中描述了应用这种外层的有用方法的一个实例。
在一个实例中，颗粒检测系统可以包括用于接收含颗粒的流体的进口、用于检测颗粒的采样区域、用于排出所述流体的出口以及至少部分地包围所述采样区域的外壳，所述采样区域与所述进口流体连通，所述出口与所述采样区域流体连通。所述外壳包括外部。所述外壳的外部包括具有外表面的不锈钢基层。
包括一种或多种抗微生物组分的外层可以通过活性屏等离子体方法沉积到所述外表面上。这样的抗微生物组分可以包括铜、银、钴、镍、锌和/或锆。
图3显示了具有不锈钢外壳201的颗粒检测系统200的一个实施方案。
在一个实施方案中，所述外层的厚度为1μm至30μm。在一个实施方案中，所述外层的厚度为3μm至24μm。在一个实施方案中，所述外层的厚度为5μm至20μm。
在一个实施方案中，所述外层的HV 0.05硬度至少为1300。在一个实施方案中，所述外层的HV 0.05硬度至少为1350。在一个实施方案中，所述外层的HV 0.05硬度至少为1400。
所述活性屏等离子体合金化可用于多种颗粒检测系统，包括便携式颗粒检测装置、颗粒采样器、颗粒计数器、微生物撞击采样器和光学颗粒计数器。这样的颗粒检测系统可以设计成对表面上、气体(包括但不限于空气)和液体中的颗粒进行检测。
在一个实施方案中，所述外层包括纳米图案化或微米图案化的细菌生长抑制剂表面。因此，纳米图案化可以与活性屏等离子合金化协同使用，以进一步减少洁净室环境中的微生物生长和/或交叉污染。
模塑塑料外壳的薄金属涂层
用于颗粒计数器的现有技术外壳根据其的目标市场由塑料或金属制成。虽然塑料具有重量轻、成本低、形状和尺寸变化大、体积电阻率和隔热性，但金属(通常是不锈钢)提供了耐用性和强度、导热性和导电性、EMI屏蔽、静电耗散、耐多种化学物质(尤其是有机溶剂)和抑制微生物生长。因此，在一些实施方案中，本文公开的外壳可以由一种或多种聚合物和一种或多种金属材料的组合构成。在一些实施方案中，所述外壳可以包括一个或多个模塑聚合物部件，其中至少一部分涂覆有金属薄层。
施加金属薄层的方法包括真空沉积工艺、蒸发、PVD和溅射法。因此，可以将金属涂层施加到塑料部件的表面上，从而赋予该部件以金属的表面性质和塑料的整体性质。由此产生的外壳可以提供ESD保护、金属(甚至是拉丝金属)外观和耐化学性，同时重量轻且成本低。因此，在一些实施方案中，颗粒计数器的外壳可以由塑料制成并涂覆有不锈钢，以利用两种材料的最佳性质。
在一个实施方案中，颗粒检测系统包括用于接收含颗粒的流体的进口；用于检测颗粒的采样区域，所述采样区域与入口流体连通；用于排出所述流体的出口，所述出口与所述采样区域流体连通；以及至少部分地包围所述采样区域的外壳。所述外壳可以包括模塑聚合物基底；和金属涂层，所述金属涂层结合到模塑聚合物基底，使得所述外壳的至少一些外表面是金属涂覆的表面。
在一个实施方案中，所述金属涂层包括不锈钢。在一个实施方案中，所述金属涂层包括316L不锈钢。在一个实施方案中，所述金属涂层包括铜。在一个实施方案中，所述金属涂层包括钛。在一个实施方案中，所述金属涂层包括银。在一个实施方案中，所述金属涂层包括钴、镍、锌或锆中的至少一种。
在一个实施方案中，所述金属涂层的厚度为0.01mm至1mm。在一个实施方案中，所述金属涂层的厚度为0.3mm至0.1mm。在一个实施方案中，所述模塑聚合物基底和所述金属涂层都具有拉丝纹理。在一个实施方案中，所述模塑聚合物基底和所述金属涂层都具有纳米图案化或微米图案化的细菌生长抑制剂纹理。
在一个实施方案中，一种减少洁净室中微生物污染的方法包括对颗粒检测系统进行操作，所述操作包括：(a)将含颗粒的流体引到所述系统的进口；(b)在所述系统的采样区域中对所述流体中的颗粒进行采样；(c)通过所述系统的出口排出所述流体；(d)将第一微生物引到所述系统的外壳的表面上，所述外壳至少部分地包围所述采样区域，其中所述外壳包括：模塑聚合物基底；金属涂层，所述金属涂层结合到所述模塑聚合物基底上，使得所述外壳的至少一些外表面是金属涂覆的表面；(e)通过所述金属涂覆的表面抑制所述第一微生物的生长或杀死所述第一微生物。
在一个实施方案中，所述系统是光学颗粒检测器并且所述(b)采样步骤包括通过所述系统的采样区域中的散射光对颗粒进行检测。在一个实施方案中，所述系统是一种微生物撞击采样器，所述含颗粒的流体包含生物颗粒，并且所述(b)采样步骤包括在所述系统的撞击表面上接收所述生物颗粒的至少一部分；并且使由所述撞击表面接收的所述生物颗粒中的至少一些生长。
关于通过引用并入和变化的声明
本申请中的所有参考文献，例如专利文件，包括已公布或授权的专利或等同物、专利申请公布，和非专利文献文件或其他来源的材料，通过引用的方式整体纳入本文，如同通过单独引用并入本文一样，在每个参考文献的至少部分与本申请中的公开内容不矛盾的范围内(例如，部分矛盾的参考文献通过引用并入除了该参考文献的部分矛盾的部分)。
本文使用的术语和表述被用作描述性术语而不是限制性术语，并且在使用这些术语和表述时无意排除所示出和描述的特征或其部分的任何等同物，但是应该认识到，在本发明要求保护的范围内可以进行多种修改。因此，应当理解，虽然本发明已经通过优选实施方案、示例性实施方案和任选的特征进行了具体公开，但是本领域技术人员可以对本文公开的构思进行修改和变化，并且这些修改和变化被认为是在由所附权利要求书限定的本发明的范围内。本文提供的具体实施方案是本发明的有用实施方案的示例，并且对于本领域技术人员显而易见的是，本发明可以通过使用本说明书中描述的装置、装置组件、方法步骤的大量变体来实施。对本领域技术人员显而易见的是，可用于本方法的方法和装置可以包括大量任选的组成和处理元件和步骤。
必须注意的是，如本文和所附权利要求书中使用的，单数形式“a”、“an”和“所述”包括复数引用，除非上下文另有明确说明。因此，例如，提及“一个细胞”包括本领域技术人员已知的多个这样的细胞及其等同物，等等。同样，术语“一个(a)”(或“一个(an)”)、“一个或多个”和“至少一个”在本文中可以互换使用。还应注意，术语“包括”、“包含”和“具有”可以互换使用。表述“权利要求XX-YY中的任一项”(其中XX和YY指权利要求编号)旨在以替代形式提供多项从属权利要求，并且在一些实施方案中可与表述“如权利要求XX-YY中的任一项”互换。
除非另有定义，否则本文所使用的所有技术和科学术语具有与本发明所属领域的普通技术人员通常理解的相同含义。尽管与本文所述的那些相似或等效的任何方法和材料都可以用于本发明的实践或测试，但是现在描述的是优选的方法和材料。本文中的任何内容均不应被解释为承认本发明无权因在先的发明而早于此类公开。
除非另有说明，本文描述或示范的组件的每一种组合都可用于实践本发明。
每当说明书中给出某个范围，例如整数范围、温度范围、时间范围、组成范围或浓度范围时，所有中间范围和子范围，以及包括在给定范围中的所有单个值都包括在本公开中。如本文所用，范围具体包括作为范围的端点值所提供的值。如本文所用，范围具体包括所述范围中的所有整数值。例如，1到100的范围具体包括1和100的端点值。应当理解，包括在本文描述中的范围或子范围中的任何子范围或单个值可以被排除在本文的权利要求之外。
本说明书中提及的所有专利和出版物均表明了本发明所属领域的技术人员的技术水平。本文引用的参考文献通过引用整体并入本文，以表明截至其公布或提交日期的现有技术，并且如果需要，该信息可以在本文中使用，以排除现有技术中的具体实施方案。例如，当要求保护物质的组合物时，应当理解，在申请人的发明之前的本领域已知的且可用的化合物，包括在本文引用的参考文献中提供了的充分公开的化合物，不旨在包括在本文要求保护的物质的组合物中。
如本文所用，“包括”与“包含”、“含有”或“其特征在于”同义，并且是包容性的或开放式的，并且不排除附加的、未列举的要素或方法步骤。如本文所用，“由……组成”不包括权利要求要素中未指定的任何要素、步骤或组分。如本文所用，“基本由……组成”不排除不会实质影响权利要求的基本的和新颖性特征的材料或步骤。在本文的每个实例中，术语“包括”、“基本由……组成”和“由……组成”中的任何一个都可以用其他两个术语中的任意一个来代替。本文示例性描述的本发明可以在没有本文未具体公开的任何要素或多个要素、限制或多个限制的情况下实施。
本领域的普通技术人员将理解，除了具体例示的那些之外的起始材料、生物材料、试剂、合成方法、纯化方法、分析方法、测定方法和生物方法均可以在本发明的实践中使用而无需过度实验。任何此类材料和方法的所有本领域已知的功能等效物都旨在包括在本发明中。所使用的术语和表述被用作描述性而非限制性，并且在使用这些术语和表述时无意排除所示出和描述的特征或其部分的任何等同物，但应当认识到，可以在要求保护的本发明的范围内进行各种修改。因此，应当理解，虽然通过优选实施方案和任选的特征已经具体公开了本发明，但是本领域技术人员可以对本文公开的构思进行修改和变化，并且这些修改和变化均被认为是在所附权利要求限定的本发明范围内。

Claims (74)

1.一种颗粒检测系统，其包括：
进口，用于接收含颗粒的流体；
采样区域，用于检测颗粒，所述采样区域与所述进口流体连通；
出口，用于排出所述流体，所述出口与所述采样区域流体连通；
外壳，所述外壳至少部分地包围所述采样区域，其中所述外壳包括外部，所述外部包括第一抗微生物表面；以及
触摸屏，所述触摸屏设置于所述外壳，所述触摸屏为装置提供用户界面，其中所述触摸屏包括第二抗微生物表面。
2.如权利要求1所述的系统，其中所述外部包括：
基层，所述基层包括不锈钢；以及
所述第一抗微生物表面，其中所述第一抗微生物表面包括沉积在所述基层上的外层，所述外层包含抗微生物组分。
3.如权利要求1-2中任一项所述的系统，其中所述外层是活性屏等离子体沉积外层。
4.如权利要求1-3中任一项所述的系统，其中所述外壳包括：
模塑聚合物基底；以及
金属涂层，所述金属涂层结合到所述模塑聚合物基底，使得所述外壳的至少一些外表面是金属涂覆的表面。
5.如权利要求1-4中任一项所述的系统，所述系统包括便携式颗粒检测装置。
6.如权利要求1-5中任一项所述的系统，所述系统包括颗粒采样器或颗粒计数器。
7.如权利要求1-6中任一项所述的系统，所述系统包括微生物撞击采样器或光学颗粒计数器。
8.如权利要求1-7中任一项所述的系统，其中所述第一抗微生物表面包含与所述第二抗微生物表面相同的材料。
9.如权利要求1-8中任一项所述的系统，其中所述第一抗微生物表面包含与所述第二抗微生物表面不同的材料。
10.如权利要求1-9中任一项所述的系统，其中所述第一抗微生物表面、第二抗微生物表面或两者都是抗菌表面。
11.如权利要求1-10中任一项所述的系统，其中所述第一抗微生物表面、第二抗微生物表面或两者的至少一部分作为所述系统的整体组件提供。
12.如权利要求1-11中任一项所述的系统，其中所述第一抗微生物表面、第二抗微生物表面或两者的至少一部分作为一个或多个膜或涂层提供。
13.如权利要求1-12中任一项所述的系统，其中所述第一抗微生物表面、第二抗微生物表面或两者是纳米图案化或微米图案化的细菌生长抑制剂表面。
14.如权利要求1-13中任一项所述的系统，其中所述第一抗微生物表面、第二抗微生物表面或两者包含抗微生物聚合物。
15.如权利要求14中任一项所述的系统，其中所述抗微生物聚合物包含银离子。
16.如权利要求14所述的系统，其中所述抗微生物聚合物包含锌。
17.如权利要求1-16中任一项所述的系统，其中所述系统的基本上所有外表面都是抗微生物表面。
18.如权利要求1-17中任一项所述的系统，其中所述触摸屏的基本上所有外表面都是抗微生物表面。
19.如权利要求1-19中任一项所述的系统，其中所述外壳包括手柄，其中所述手柄的基本上所有外表面都是抗微生物表面。
20.一种减少洁净室中微生物污染的方法，所述方法包括：
对颗粒检测系统进行操作，所述操作包括：
将含颗粒的流体引到所述系统的进口；
在所述系统的采样区域中对所述流体中的颗粒进行采样；
通过所述系统的出口排出所述流体；
将第一微生物引到所述系统的外壳的抗微生物表面上，所述外壳至少部分地包围所述采样区域；
通过所述外壳的抗微生物表面抑制所述第一微生物的生长或杀死所述第一微生物；
将第二微生物引到所述系统的触摸屏的抗微生物表面；以及
通过所述触摸屏的抗微生物表面抑制所述第二微生物的生长或杀死所述第二微生物。
21.如权利要求20所述的方法，其中所述系统是光学颗粒检测器，所述采样步骤包括：
通过所述系统的采样区域中的散射光对颗粒进行检测。
22.如权利要求20-21中任一项所述的方法，其中所述系统是微生物撞击采样器并且其中所述含颗粒的流体包含生物颗粒，所述采样步骤包括：
在所述系统的撞击表面上接收所述生物颗粒的至少一部分；并且
使由所述撞击表面接收的所述生物颗粒中的至少一些生长。
23.如权利要求20-21中任一项所述的方法，其中所述第一微生物是细菌、病毒、霉菌或真菌。
24.一种颗粒检测系统，其包括：
进口，用于接收含颗粒的流体；
采样区域，用于检测颗粒，所述采样区域与所述进口流体连通；
出口，用于排出所述流体，所述出口与所述采样区域流体连通；以及
外壳，所述外壳至少部分地包围所述采样区域，其中所述外壳包括外部，所述外部包括：
基层，所述基层包括不锈钢；以及
外层，所述外层沉积在所述基层上，所述外层包含抗微生物组分。
25.如权利要求24所述的系统，其中所述外层是活性屏等离子体沉积外层。
26.如权利要求24-25中任一项所述的系统，其中所述外层形成第一抗微生物表面，所述系统包括：
触摸屏，所述触摸屏设置于所述外壳，所述触摸屏为装置提供用户界面，其中所述触摸屏包括第二抗微生物表面。
27.如权利要求24-26中任一项所述的系统，其中所述外壳包括支撑所述基层和所述外层的模塑聚合物基底，并且其中所述基层结合至所述模塑聚合物基底。
28.如权利要求24-27中任一项所述的系统，其中所述抗微生物组分包括铜。
29.如权利要求24-28中任一项所述的系统，其中所述抗微生物组分包括银。
30.如权利要求24-29中任一项所述的系统，其中所述抗微生物组分包括钴、镍、锌或锆中的至少一种。
31.如权利要求24-30中任一项所述的系统，其中所述外层的厚度为1μm至30μm。
32.如权利要求24-31中任一项所述的系统，其中所述外层的厚度为3μm至24μm。
33.如权利要求24-31中任一项所述的系统，其中所述外层的厚度为5μm至20μm。
34.如权利要求24-33中任一项所述的系统，其中所述外层的HV 0.05硬度至少为1300。
35.如权利要求24-33中任一项所述的系统，其中所述外层的HV 0.05硬度至少为1350。
36.如权利要求24-33中任一项所述的系统，其中所述外层的HV 0.05硬度至少为1400。
37.如权利要求24-36中任一项所述的系统，所述系统包括便携式颗粒检测系统。
38.如权利要求24-37中任一项所述的系统，所述系统包括颗粒采样器或颗粒计数器。
39.如权利要求24-38中任一项所述的系统，所述系统包括微生物撞击采样器或光学颗粒计数器。
40.如权利要求24-39中任一项所述的系统，所述系统包括配置为检测活的生物颗粒的颗粒计数器。
41.如权利要求24-40中任一项所述的系统，其中所述含颗粒的流体是气体。
42.如权利要求24-41中任一项所述的系统，其中所述含颗粒的流体是液体。
43.如权利要求24-42中任一项所述的系统，其中所述基层包括316不锈钢。
44.如权利要求24-43中任一项所述的系统，其中所述基层包括316L不锈钢。
45.如权利要求24-44中任一项所述的系统，其中所述外层包括纳米图案化或微米图案化的细菌生长抑制剂表面。
46.一种减少洁净室微生物污染的方法，所述方法包括：
(a)对颗粒检测系统进行操作，所述操作包括：
(i)将含颗粒的流体引到所述系统的进口；
(ii)在所述系统的采样区域中对所述流体中的颗粒进行采样；
(iii)通过所述系统的出口排出所述流体；
(b)将第一微生物引到所述系统的外壳的表面，所述外壳至少部分地包围所述采样区域，其中所述外壳包括外部，所述外部包括：
(i)具有外表面的不锈钢基层；以及
(ii)包含抗微生物组分的活性屏等离子体沉积外层；
(c)通过所述外层的抗微生物组分抑制所述第一微生物的生长或杀死所述第一微生物。
47.如权利要求46所述的方法，其中所述系统是光学颗粒检测器，所述(a)(ii)采样步骤包括：
通过所述系统的采样区域中的散射光对颗粒进行检测。
48.如权利要求46-47中任一项所述的方法，其中所述系统是微生物撞击采样器并且其中所述含颗粒的流体包含生物颗粒，所述(a)(ii)采样步骤包括：
在所述系统的撞击表面上接收所述生物颗粒的至少一部分；并且
使由所述撞击表面接收的所述生物颗粒中的至少一些生长。
49.如权利要求46-48中任一项所述的方法，其中所述系统是便携式颗粒检测系统，并且其中在第一位置进行所述(b)引入第一微生物的步骤，所述方法包括：
(d)在所述(c)抑制生长步骤之后，将所述系统运送到远离所述第一位置的第二位置。
50.一种颗粒检测系统，其包括：
进口，用于接收含颗粒的流体；
采样区域，用于检测颗粒，所述采样区域与所述进口流体连通；
出口，用于排出所述流体，所述出口与所述采样区域流体连通；
外壳，所述外壳至少部分地包围所述采样区域，其中所述外壳包括：
模塑聚合物基底；以及
金属涂层，所述金属涂层结合到所述模塑聚合物基底，使得所述外壳的至少一些外表面是金属涂覆的表面。
51.如权利要求50所述的系统，所述系统包括设置于所述外壳的触摸屏，所述触摸屏为装置提供用户界面，其中所述触摸屏包括抗微生物表面。
52.如权利要求50-51中任一项所述的系统，其中所述金属涂层包括：
基层，所述基层包括不锈钢；以及
外层，所述外层沉积在所述基层上，所述外层包含抗微生物组分。
53.如权利要求50-52中任一项所述的系统，其中所述外层是活性屏等离子体沉积外层。
54.如权利要求50-53中任一项所述的系统，其中所述金属涂层包括不锈钢。
55.如权利要求50-54中任一项所述的系统，其中所述金属涂层包括铜。
56.如权利要求50-55中任一项所述的系统，其中所述金属涂层包括钛。
57.如权利要求50-56中任一项所述的系统，其中所述金属涂层包括银。
58.如权利要求50-57中任一项所述的系统，其中所述金属涂层包括钴、镍、锌或锆中的至少一种。
59.如权利要求50-58中任一项所述的系统，其中所述金属涂层的厚度为0.01mm至1mm。
60.如权利要求50-58中任一项所述的系统，其中所述金属涂层的厚度为0.3mm至0.1mm。
61.如权利要求50-60中任一项所述的系统，其中所述模塑聚合物基底和所述金属涂层都具有拉丝纹理。
62.如权利要求50-61中任一项所述的系统，其中所述模塑聚合物基底和所述金属涂层都具有纳米图案化或微米图案化的细菌生长抑制剂纹理。
63.如权利要求50-62中任一项所述的系统，所述系统包括便携式颗粒检测系统。
64.如权利要求50-63中任一项所述的系统，所述系统包括颗粒采样器或颗粒计数器。
65.如权利要求50-64中任一项所述的系统，所述系统包括微生物撞击采样器或光学颗粒计数器。
66.如权利要求50-65中任一项所述的系统，所述系统包括配置为对活的生物颗粒进行检测的颗粒计数器。
67.如权利要求50-66中任一项所述的系统，其中所述含颗粒的流体是气体。
68.如权利要求50-66中任一项所述的系统，其中所述含颗粒的流体是液体。
69.如权利要求50-68中任一项所述的系统，其中所述金属涂层包括316L不锈钢。
70.一种减少洁净室中微生物污染的方法，所述方法包括：
对颗粒检测系统进行操作，所述操作包括：
(a)将含颗粒的流体引到所述系统的进口；
(b)在所述系统的采样区域对所述流体中的颗粒进行采样；
(c)通过所述系统的出口排出所述流体；
(d)将第一微生物引到所述系统的外壳的表面上，所述外壳至少部分地包围所述采样区域，其中所述外壳包括：
模塑聚合物基底；以及
金属涂层，所述金属涂层结合到所述模塑聚合物基底，使得所述外壳的至少一些外表面是金属涂覆的表面；
(e)通过所述金属涂覆的表面抑制所述第一微生物的生长或杀死所述第一微生物。
71.如权利要求70所述的方法，其中所述系统是光学颗粒检测器，所述(b)采样步骤包括：
通过所述系统的采样区域中的散射光对颗粒进行检测。
72.如权利要求70-71中任一项所述的方法，其中所述系统是微生物撞击采样器并且其中所述含颗粒的流体包含生物颗粒，所述(b)采样步骤包括：
在所述系统的撞击表面上接收所述生物颗粒的至少一部分；并且
使由所述撞击表面接收的所述生物颗粒中的至少一些生长。
73.如权利要求70-72中任一项所述的方法，其中所述系统是便携式颗粒检测系统，并且其中在第一位置进行所述(d)引入第一微生物的步骤，所述方法包括：
(f)在所述(e)抑制生长步骤之后，将所述装置运送到远离所述第一位置的第二位置。
74.一种颗粒检测系统，包括：
进口，用于接收含颗粒的流体；
采样区域，用于检测颗粒，所述采样区域与所述进口流体连通；
出口，用于排出所述流体，所述出口与所述采样区域流体连通；以及
外壳，所述外壳至少部分地包围所述采样区域，其中所述外壳包括：
外部，所述外部包括：
基层，所述基层包括不锈钢；
外层，所述外层沉积在所述基层上，所述外层包含抗微生物组分，其中所述外层是活性屏等离子体沉积外层；以及
模塑聚合物基底，其支撑所述基层和所述外层，其中所述基层结合到所述模塑聚合物基底；以及
触摸屏，所述触摸屏设置于所述外壳，所述触摸屏为装置提供用户界面，其中所述触摸屏包括第二抗微生物表面。
CN202080069982.3A 2019-10-07 2020-10-06 抗微生物颗粒检测器 Pending CN114466704A (zh)

Applications Claiming Priority (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US201962911801P 2019-10-07 2019-10-07
US62/911,801 2019-10-07
US202063023535P 2020-05-12 2020-05-12
US63/023,535 2020-05-12
US202063065916P 2020-08-14 2020-08-14
US63/065,916 2020-08-14
PCT/US2020/054331 WO2021071793A1 (en) 2019-10-07 2020-10-06 Antimicrobial particle detectors

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN114466704A true CN114466704A (zh) 2022-05-10

Family

ID=75274151

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202080069982.3A Pending CN114466704A (zh) 2019-10-07 2020-10-06 抗微生物颗粒检测器

Country Status (5)

Country Link
US (1) US11215546B2 (zh)
EP (1) EP4041462A4 (zh)
JP (1) JP2022550418A (zh)
CN (1) CN114466704A (zh)
WO (1) WO2021071793A1 (zh)

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20230156814A (ko) 2017-10-26 2023-11-14 파티클 머슈어링 시스템즈, 인크. 입자 측정을 위한 시스템 및 방법
US11385161B2 (en) 2018-11-12 2022-07-12 Particle Measuring Systems, Inc. Calibration verification for optical particle analyzers
JP7436473B2 (ja) 2018-11-16 2024-02-21 パーティクル・メージャーリング・システムズ・インコーポレーテッド ロボット制御製造バリアシステムのための粒子サンプリングシステム及び方法
WO2020219841A1 (en) 2019-04-25 2020-10-29 Particle Measuring Systems, Inc. Particle detection systems and methods for on-axis particle detection and/or differential detection
CN114270165A (zh) 2019-08-26 2022-04-01 粒子监测系统有限公司 触发式采样系统和方法
US10997845B2 (en) 2019-10-07 2021-05-04 Particle Measuring Systems, Inc. Particle detectors with remote alarm monitoring and control
EP4041462A4 (en) 2019-10-07 2022-12-14 Particle Measuring Systems, Inc. ANTIMICROBIAL PARTICLE DETECTORS
IT201900020248A1 (it) 2019-11-04 2021-05-04 Particle Measuring Systems S R L Dispositivo di monitoraggio mobile per aree a contaminazione controllata
WO2021102256A1 (en) 2019-11-22 2021-05-27 Particle Measuring Systems, Inc. Advanced systems and methods for interferometric particle detection and detection of particles having small size dimensions
EP4094061A1 (en) 2020-01-21 2022-11-30 Particle Measuring Systems, Inc. Robotic control for aseptic processing
CN114295534A (zh) * 2022-01-27 2022-04-08 江苏君成工业智能科技有限公司 一种操作简便的尘埃粒子计数器

Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1531646A (zh) * 2000-09-13 2004-09-22 �ܻ��Ǽ��� 表面粒子检测器
CN102574362A (zh) * 2009-06-02 2012-07-11 英特格兰科技公司 金属包覆的聚合物制品
CN102789329A (zh) * 2011-05-16 2012-11-21 高丰有限公司 抗菌式触控面板及其制造方法
US20130209718A1 (en) * 2012-02-13 2013-08-15 Ko-Kang Wen Antimicrobial and Antibacterial Device Protection System
US20130315972A1 (en) * 2012-05-24 2013-11-28 Agienic, Inc. Compositions and methods for antimicrobial metal nanoparticles
CN104583446A (zh) * 2012-07-05 2015-04-29 伯明翰大学 长效抗菌金属表面及其制备方法
CN105289765A (zh) * 2007-08-14 2016-02-03 通用电气公司 制品、装置和方法
US20160041074A1 (en) * 2014-08-10 2016-02-11 Trans-Vac Systems LLC Contaminant monitoring and air filtration system
CN105829860A (zh) * 2013-07-23 2016-08-03 粒子监测系统有限公司 具有板的微生物空气采样器
CN106413557A (zh) * 2014-05-22 2017-02-15 富士胶片株式会社 设备、保护片及抗菌膜
US20170248509A1 (en) * 2015-07-14 2017-08-31 Teilch, LLC Airborne Particle Measuring Device
CN209167066U (zh) * 2018-11-13 2019-07-26 天津盛源科技有限公司 一种新型空气粒子计数器

Family Cites Families (80)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4594715A (en) 1983-11-17 1986-06-10 Particle Measuring Systems, Inc. Laser with stabilized external passive cavity
US4798465B2 (en) 1986-04-14 1994-08-30 Particle Measuring Syst Particle size detection device having high sensitivity in high molecular scattering environment
US5283199A (en) 1990-06-01 1994-02-01 Environmental Technologies Group, Inc. Chlorine dioxide monitor based on ion mobility spectrometry with selective dopant chemistry
US5037522B1 (en) 1990-07-24 1996-07-02 Vergason Technology Inc Electric arc vapor deposition device
US5282151A (en) 1991-02-28 1994-01-25 Particle Measuring Systems, Inc. Submicron diameter particle detection utilizing high density array
US5157678A (en) * 1991-07-03 1992-10-20 High Yield Technology Laser safe housing for a particle monitor in vacuum pump lines
US5751422A (en) 1996-02-26 1998-05-12 Particle Measuring Systems, Inc. In-situ particle detection utilizing optical coupling
US5726753A (en) 1996-02-26 1998-03-10 Research Electro-Optics, Inc. Intracavity particle detection using optically pumped laser media
US5671046A (en) 1996-07-01 1997-09-23 Particle Measuring Systems, Inc. Device and method for optically detecting particles in a free liquid stream
US5805281A (en) 1997-04-21 1998-09-08 Particle Measuring Systems Noise reduction utilizing signal multiplication
US5861950A (en) 1997-07-10 1999-01-19 Particle Measuring Systems, Inc. Particle detection system utilizing an inviscid flow-producing nozzle
US5903338A (en) 1998-02-11 1999-05-11 Particle Measuring Systems, Inc. Condensation nucleus counter using mixing and cooling
US6246474B1 (en) 1998-04-29 2001-06-12 Particle Measuring Systems, Inc. Method and apparatus for measurement of particle size distribution in substantially opaque slurries
US6167107A (en) 1999-07-16 2000-12-26 Particle Measuring Systems, Inc. Air pump for particle sensing using regenerative fan, and associated methods
US6615679B1 (en) 2000-08-15 2003-09-09 Particle Measuring Systems, Inc. Ensemble manifold, system and method for monitoring particles in clean environments
US6929705B2 (en) * 2001-04-30 2005-08-16 Ak Steel Corporation Antimicrobial coated metal sheet
US6709311B2 (en) 2001-08-13 2004-03-23 Particle Measuring Systems, Inc. Spectroscopic measurement of the chemical constituents of a CMP slurry
US7208123B2 (en) 2002-06-24 2007-04-24 Particle Measuring Systems, Inc. Molecular contamination monitoring system and method
US6945090B2 (en) 2002-06-24 2005-09-20 Particle Measuring Systems, Inc. Method and apparatus for monitoring molecular contamination of critical surfaces using coated SAWS
US6859277B2 (en) 2002-08-27 2005-02-22 Particle Measuring Systems, Inc. Particle counter with strip laser diode
US7576857B2 (en) 2002-08-27 2009-08-18 Particle Measuring Systems, Inc. Particle counter with laser diode
EP1536848B1 (de) 2002-09-10 2007-11-14 Prof. Dr. Josef-Peter Guggenbichler,Dr. Christoph Cichos GBR Antimicrobial Argentum Technologies Verfahren zur herstellung eines antimikrobiellen kunststoffproduktes
US6903818B2 (en) 2002-10-28 2005-06-07 Particle Measuring Systems, Inc. Low noise intracavity laser particle counter
US7235214B2 (en) 2003-04-23 2007-06-26 Particle Measuring Systems, Inc. System and method for measuring molecular analytes in a measurement fluid
IL156856A (en) 2003-07-09 2011-11-30 Joseph Shamir Method for particle size and concentration measurement
US20050028593A1 (en) 2003-08-04 2005-02-10 Particle Measuring Systems, Inc. Method and apparatus for high sensitivity monitoring of molecular contamination
US20060259020A1 (en) 2003-09-17 2006-11-16 Minnesota Scientific, Inc. Bacteria resistant coating for surgical instrument
US7088446B2 (en) 2003-12-31 2006-08-08 Particle Measuring Systems, Inc. Optical measurement of the chemical constituents of an opaque slurry
US7030980B1 (en) 2004-12-29 2006-04-18 Particle Measuring Systems, Inc. Diode pumped intracavity laser particle counter with improved reliability and reduced noise
US7088447B1 (en) 2005-03-01 2006-08-08 Particle Measuring Systems, Inc. Particle counter with self-concealing aperture assembly
US7456960B2 (en) 2005-06-06 2008-11-25 Particle Measuring Systems, Inc. Particle counter with improved image sensor array
GB0513358D0 (en) 2005-06-29 2005-08-03 Gorbounon Boris Portable nanoparticle size classifier
WO2007070650A2 (en) * 2005-12-14 2007-06-21 3M Innovative Properties Company Antimicrobial adhesive films
JP2009524479A (ja) 2006-01-27 2009-07-02 カメレオン サイエンティフィック コーポレイション 抗菌被覆方法
US7667839B2 (en) 2006-03-30 2010-02-23 Particle Measuring Systems, Inc. Aerosol particle sensor with axial fan
US8564544B2 (en) 2006-09-06 2013-10-22 Apple Inc. Touch screen device, method, and graphical user interface for customizing display of content category icons
JP2010522333A (ja) 2007-03-23 2010-07-01 パーティクル・メージャーリング・システムズ・インコーポレーテッド 排出冷却式光源を備えた光学式パーティクルセンサ
CN102318035B (zh) 2007-07-30 2015-03-11 粒子监测系统有限公司 使用离子迁移光谱仪检测分析物
WO2009065062A1 (en) 2007-11-16 2009-05-22 Particle Measuring Systems, Inc. System and method for calibration verification of an optical particle counter
EP2232229B1 (en) 2007-12-04 2021-02-17 Particle Measuring Systems, Inc. Two-dimensional optical imaging methods for particle detection
GB0808385D0 (en) 2008-05-08 2008-06-18 Naneum Ltd A condensation apparatus
US8414577B2 (en) 2009-02-05 2013-04-09 Ethicon Endo-Surgery, Inc. Surgical instruments and components for use in sterile environments
JP5574250B2 (ja) 2009-08-24 2014-08-20 パーティクル・メージャーリング・システムズ・インコーポレーテッド 流量がモニタリングされる粒子センサ
US20110252897A1 (en) * 2010-04-20 2011-10-20 Erik Axel Swenson Versatile remote slit impact air sampler controller system
CA2856664A1 (en) 2011-12-01 2013-06-06 P.M.L. - Particles Monitoring Technologies Ltd. Detection scheme for particle size and concentration measurement
KR102183853B1 (ko) 2012-08-09 2020-11-27 이오에스 서페이시즈 엘엘시 항균 고체 표면, 및 이를 제조하기 위한 처리법 및 방법
US9580817B2 (en) 2012-12-04 2017-02-28 Vergason Technology, Inc. Bilayer chromium nitride coated articles and related methods
US9677990B2 (en) * 2014-04-30 2017-06-13 Particles Plus, Inc. Particle counter with advanced features
GB201310355D0 (en) 2013-06-11 2013-07-24 Particle Measuring System Inc Apparatus for charging or adjusting the charge of aerosol apparatus
GB2515285A (en) 2013-06-17 2014-12-24 Particle Measuring System Inc A method for obtaining aerosol particle size distributions
GB201311097D0 (en) 2013-06-21 2013-08-07 Particle Measuring Syst A method and apparatus for dilution of aerosols
WO2015138695A2 (en) 2014-03-14 2015-09-17 Particle Measuring Systems, Inc. Filter and blower geometry for particle sampler
US9885640B2 (en) 2014-03-14 2018-02-06 Particle Measuring Systems, Inc. Particle impactor with selective height adjustment
US11416123B2 (en) * 2014-03-14 2022-08-16 Particle Measuring Systems, Inc. Firmware design for facility navigation, and area and location data management of particle sampling and analysis instruments
WO2015148148A1 (en) 2014-03-14 2015-10-01 Particle Measuring Systems, Inc. Pressure-based airflow sensing in particle impactor systems
WO2015138681A1 (en) 2014-03-14 2015-09-17 Particle Measuring Systems, Inc. Firmware design for biological air sampling method
US9682345B2 (en) 2014-07-08 2017-06-20 Particle Measuring Systems, Inc. Method of treating a cleanroom enclosure
KR102436123B1 (ko) 2015-04-02 2022-08-24 파티클 머슈어링 시스템즈, 인크. 입자 계산 기기에서 레이저 노이즈 검출 및 완화
US9500591B1 (en) 2015-04-03 2016-11-22 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army Plastic particle detector for detection of biological aerosol and other fluorescent materials
US20170011575A1 (en) * 2015-07-07 2017-01-12 Nicholas G. Sotereanos Information kiosk style voting machine
EP4191226A1 (en) 2016-04-01 2023-06-07 TSI Incorporated Reducing false counts in condensation particle counters
US10405818B2 (en) * 2016-04-21 2019-09-10 Carestream Health, Inc. Antimicrobial housing for digital detector
WO2017201451A1 (en) 2016-05-20 2017-11-23 Particle Measuring Systems, Inc. Automatic power control liquid particle counter with flow and bubble detection systems
EP3463623B1 (en) 2016-06-03 2021-10-13 Particle Measuring Systems, Inc. Systems and methods for isolating condensate in a condensation particle counter
CA2970030C (en) * 2016-06-09 2023-02-21 Michael Christopher Nitti Antimicrobial transparent plastic in the form of film or extruded shape
US10874404B2 (en) 2016-12-30 2020-12-29 DePuy Synthes Products, Inc. Customized patient-specific surgical instruments and method
US20180236118A1 (en) * 2017-02-22 2018-08-23 Infection Sciences, LLC Silver nanoparticles impregnated covers for electronic devices to combat nosocomial infections
KR20230156814A (ko) 2017-10-26 2023-11-14 파티클 머슈어링 시스템즈, 인크. 입자 측정을 위한 시스템 및 방법
US20190338410A1 (en) 2018-05-03 2019-11-07 Vergason Technology, Inc. Alternating tangent mounted evaporative deposition source mechanism for rapid cycle coating
WO2020047457A1 (en) 2018-08-31 2020-03-05 Particle Measuring Systems, Inc. Fluid refractive index optimizing particle counter
US10928293B2 (en) 2018-09-04 2021-02-23 Particle Measuring Systems, Inc. Detecting nanoparticles on production equipment and surfaces
US11181455B2 (en) 2018-11-12 2021-11-23 Particle Measuring Systems, Inc. Calibration verification for optical particle analyzers
US10908059B2 (en) 2018-11-16 2021-02-02 Particle Measuring Systems, Inc. Slurry monitor coupling bulk size distribution and single particle detection
JP7436473B2 (ja) 2018-11-16 2024-02-21 パーティクル・メージャーリング・システムズ・インコーポレーテッド ロボット制御製造バリアシステムのための粒子サンプリングシステム及び方法
WO2020219841A1 (en) 2019-04-25 2020-10-29 Particle Measuring Systems, Inc. Particle detection systems and methods for on-axis particle detection and/or differential detection
US11576045B2 (en) 2019-08-09 2023-02-07 Particle Measuring Systems, Inc. User access-restrictive systems and methods for operating particle sampling devices
CN114270165A (zh) 2019-08-26 2022-04-01 粒子监测系统有限公司 触发式采样系统和方法
US10997845B2 (en) 2019-10-07 2021-05-04 Particle Measuring Systems, Inc. Particle detectors with remote alarm monitoring and control
EP4041462A4 (en) 2019-10-07 2022-12-14 Particle Measuring Systems, Inc. ANTIMICROBIAL PARTICLE DETECTORS
IT201900020248A1 (it) 2019-11-04 2021-05-04 Particle Measuring Systems S R L Dispositivo di monitoraggio mobile per aree a contaminazione controllata

Patent Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1531646A (zh) * 2000-09-13 2004-09-22 �ܻ��Ǽ��� 表面粒子检测器
CN105289765A (zh) * 2007-08-14 2016-02-03 通用电气公司 制品、装置和方法
CN102574362A (zh) * 2009-06-02 2012-07-11 英特格兰科技公司 金属包覆的聚合物制品
CN102789329A (zh) * 2011-05-16 2012-11-21 高丰有限公司 抗菌式触控面板及其制造方法
US20130209718A1 (en) * 2012-02-13 2013-08-15 Ko-Kang Wen Antimicrobial and Antibacterial Device Protection System
US20130315972A1 (en) * 2012-05-24 2013-11-28 Agienic, Inc. Compositions and methods for antimicrobial metal nanoparticles
CN104583446A (zh) * 2012-07-05 2015-04-29 伯明翰大学 长效抗菌金属表面及其制备方法
CN105829860A (zh) * 2013-07-23 2016-08-03 粒子监测系统有限公司 具有板的微生物空气采样器
CN106413557A (zh) * 2014-05-22 2017-02-15 富士胶片株式会社 设备、保护片及抗菌膜
US20160041074A1 (en) * 2014-08-10 2016-02-11 Trans-Vac Systems LLC Contaminant monitoring and air filtration system
US20170248509A1 (en) * 2015-07-14 2017-08-31 Teilch, LLC Airborne Particle Measuring Device
CN209167066U (zh) * 2018-11-13 2019-07-26 天津盛源科技有限公司 一种新型空气粒子计数器

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
DONG，YC: ""The Grneration of Wear-Resistant Antimicrobial Stainless Steel Surfaces by Actives Screen Plasma Alloying with N and Nanocrystalline Ag"", 《JOURNAL OF BIOMEDICAL MATERIALS RESEARCH PART B-APPLIED BIOMATERIALS》 *

Also Published As

Publication number Publication date
EP4041462A1 (en) 2022-08-17
US11215546B2 (en) 2022-01-04
WO2021071793A1 (en) 2021-04-15
US20210102884A1 (en) 2021-04-08
JP2022550418A (ja) 2022-12-01
EP4041462A4 (en) 2022-12-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US11215546B2 (en) Antimicrobial particle detectors
JP6969060B2 (ja) プレートを伴う微生物空気サンプラ
US11927509B2 (en) Particle sampling systems and methods for robotic controlled manufacturing barrier systems
US11892462B2 (en) Robotic control for aseptic processing
US10997845B2 (en) Particle detectors with remote alarm monitoring and control

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination