CN114459310A - 重复定位精度检测方法、装置、终端设备及存储介质 - Google Patents

Abstract

本申请适用于检测技术领域，提供一种重复定位精度检测方法、装置、终端设备及存储介质，所述方法包括：从起点沿第一方向移动待测部件至测量点后再移动所述待测部件返回所述起点，以带动固定于所述待测部件的长度测量仪表沿所述第一方向移动，获取所述测量点的位置偏差值，所述位置偏差值为所述长度测量仪表在所述起点的测量数据变化量，对不同测量点执行前述过程，所述长度测量仪表具有测量头，在所述起点所述测量头能与基准面接触；根据所有的所述位置偏差值，确定重复定位精度。本申请的实施例提供的方法能提高生产效率。

Description

重复定位精度检测方法、装置、终端设备及存储介质

技术领域

本申请属于检测技术领域，尤其涉及一种重复定位精度检测方法、装置、终端设备及存储介质。

背景技术

激光切割设备的一个重要性能参数是重复定位精度。激光切割设备的重复定位精度是指反复运行同一程序，激光头的实际位置与标准位置(即程序给定的坐标值)之间的差值。激光切割设备使用的年限越久，或者出现“飞车”之类的故障时，重复定位精度就越差。为保证激光切割设备的加工性能，维修人员检修设备时常常需要检测激光切割设备的重复定位精度，以判断传动件的磨损情况。

传统的重复定位精度检测方法是使用激光干涉仪和数据处理软件同步进行使用，激光干涉仪需要专业的技术人员操作。普通的加工厂不会配备相应的仪器和对应的技术人员，在需要检测重复定位定精度时需请求外部协助，从请技术人员到出检测结果通常需要数天时间，降低生产效率。

发明内容

本申请的实施例提供一种重复定位精度检测方法、装置、终端设备及存储介质，能提高生产效率。

第一方面，本申请的实施例提供一种重复定位精度检测方法，所述方法包括：

从起点沿第一方向移动待测部件至测量点后再移动所述待测部件返回所述起点，以带动固定于所述待测部件的长度测量仪表沿所述第一方向移动，获取所述测量点的位置偏差值，所述位置偏差值为所述长度测量仪表在所述起点的测量数据变化量，对不同测量点执行前述过程，所述长度测量仪表具有测量头，在所述起点所述测量头能与基准面接触；

根据所有的所述位置偏差值，确定重复定位精度。

在第一方面的一种可能的实现方式中，所述根据所有的所述位置偏差值确定重复定位精度，包括：

从所有的所述位置偏差值中确定最大位置偏差值和最小位置偏差值；

根据所述最大位置偏差值和最小位置偏差值确定重复定位精度。

在第一方面的一种可能的实现方式中，所述最大位置偏差值为△Amax，所述最小位置偏差值为△Amin，所述重复定位精度为S＝|△Amax-△Amin|。

在第一方面的一种可能的实现方式中，在所述从起点沿第一方向移动待测部件至测量点后返回所述起点之前，所述方法还包括：

从所述起点沿第二方向移动所述待测部件，以带动固定于所述待测部件的所述长度测量仪表沿所述第二方向移动，调整所述基准面的位置，使得所述长度测量仪表沿所述第二方向移动时测量数据保持不变，所述第二方向垂直于所述第一方向。

在第一方面的一种可能的实现方式中，所述获取所述测量点的位置偏差值，包括：

在所述待测部件从所述起点沿第一方向移动至所述测量点之前，获取所述长度测量仪表在所述起点的测量数据，得到第一测量数据；

在所述待测部件从所述起点沿第一方向移动至所述测量点并返回所述起点之后，获取所述长度测量仪表在所述起点的测量数据，得到第二测量数据；

根据所述第一测量数据和所述第二测量数据确定所述测量点的位置偏差值。

在第一方面的一种可能的实现方式中，在所述从起点沿第一方向移动待测部件至测量点后返回所述起点之前，所述方法还包括：

将量具放置于所述待测部件的周围，所述基准面为所述量具的表面。

在第一方面的一种可能的实现方式中，所述方法还包括：

将所有的所述测量点与所有的所述位置偏差值绘制成具有X轴和Y轴的图形。

第二方面，本申请的实施例提供一种重复定位精度检测装置，所述装置包括：

测量模块，用于：从起点沿第一方向移动待测部件至测量点后返回所述起点，以带动固定于所述待测部件的长度测量仪表沿所述第一方向移动，获取所述测量点的位置偏差值，所述位置偏差值为所述长度测量仪表在所述起点的测量数据变化量，对不同测量点执行前述过程，所述长度测量仪表具有测量头，在所述起点所述测量头能与基准面接触；

精度确定模块，用于：根据所有的所述位置偏差值确定重复定位精度。

第三方面，本申请的实施例提供一种终端设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述第一方面中任一项所述的方法。

第四方面，本申请的实施例提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述第一方面中任一项所述的方法。

第五方面，本申请的实施例提供一种计算机程序产品，当计算机程序产品在终端设备上运行时，使得终端设备执行上述第一方面中任一项所述的方法。

本申请的实施例与现有技术相比存在的有益效果是：

从起点沿第一方向移动待测部件至测量点后再移动待测部件返回前述起点，以带动固定于待测部件的长度测量仪表沿第一方向移动，其中，长度测量仪表具有测量头，在前述起点测量头能与基准面接触，获取测量点的位置偏差值，前述位置偏差值为长度测量仪表在前述起点的测量数据变化量，对不同测量点执行前述过程，得到各测量点的位置偏差值；根据所有测量点的位置偏差值，确定重复定位精度，得到的重复定位精度是待测部件的全行程的重复定位精度；使用长度测量仪表就可以得到前述重复定位精度，操作简单，能实现快速检测以及能降低停机时间，从而提高生产效率。

附图说明

为了更清楚地说明本申请的实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本申请一实施例提供的重复定位精度检测方法的流程示意图；

图2是本申请一实施例提供的激光切割设备的结构示意图；

图3是本申请一实施例提供的长度测量仪表的结构示意图；

图4是本申请一实施例提供的重复定位精度检测方法的步骤A1的流程示意图；

图5是本申请一实施例提供的重复定位精度检测方法的步骤A2的流程示意图；

图6是本申请另一实施例提供的重复定位精度检测方法的流程示意图；

图7是本申请又一实施例提供的重复定位精度检测方法的流程示意图；

图8是本申请又一实施例提供的重复定位精度检测方法的流程示意图；

图9是本申请一实施例提供的重复定位精度检测装置的结构示意图；

图10是本申请一实施例提供的重复定位精度检测装置的测量模块的结构示意图；

图11是本申请一实施例提供的重复定位精度检测装置的精度确定模块的结构示意图；

图12是本申请另一实施例提供的重复定位精度检测装置的结构示意图；

图13是本申请又一实施例提供的重复定位精度检测装置的结构示意图；

图14是本申请又一实施例提供的重复定位精度检测装置的结构示意图；

图15是本申请一实施例提供的终端设备的结构示意图。

具体实施方式

为了使本申请所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图1至15及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。

以下描述中，为了说明而不是为了限定，提出了诸如特定系统结构、技术之类的具体细节，以便透彻理解本申请的实施例。然而，本领域的技术人员应当清楚，在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本申请。在其它情况中，省略对众所周知的系统、装置、电路以及方法的详细说明，以免不必要的细节妨碍本申请的描述。

应当理解，当在本申请说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。

还应当理解，在本申请说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。

如在本申请说明书和所附权利要求书中所使用的那样，术语“如果”可以依据上下文被解释为“当...时”或“一旦”或“响应于确定”或“响应于检测到”。类似地，短语“如果确定”或“如果检测到[所描述条件或事件]”可以依据上下文被解释为意指“一旦确定”或“响应于确定”或“一旦检测到[所描述条件或事件]”或“响应于检测到[所描述条件或事件]”。

另外，在本申请说明书和所附权利要求书的描述中，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本申请说明书中描述的参考“一个实施例”或“一些实施例”等意味着在本申请的一个或多个实施例中包括结合该实施例描述的特定特征、结构或特点。由此，在本说明书中的不同之处出现的语句“在一个实施例中”、“在一些实施例中”、“在其他一些实施例中”、“在另外一些实施例中”等不是必然都参考相同的实施例，而是意味着“一个或多个但不是所有的实施例”，除非是以其他方式另外特别强调。术语“包括”、“包含”、“具有”及它们的变形都意味着“包括但不限于”，除非是以其他方式另外特别强调。

本申请的实施例提供一种重复定位精度检测方法，能应用于加工设备。前述加工设备可以是激光加工设备，比如激光切割设备或者激光打标设备。

图1是本申请一实施例提供的重复定位精度检测方法的流程示意图。参考图1，本申请的实施例提供的重复定位精度检测方法包括步骤A1和步骤A2。

步骤A1、从起点沿第一方向移动待测部件至测量点后再移动待测部件返回前述起点，以带动固定于待测部件的长度测量仪表沿第一方向移动，获取测量点的位置偏差值，前述位置偏差值为长度测量仪表在起点的测量数据变化量，对不同测量点执行前述过程。

以激光切割设备为例对本申请的实施例进行说明。图2是本申请一实施例提供的激光切割设备的结构示意图。参考图2，激光切割设备包括机身11、横梁12和激光头13。

参考图2，横梁12设置于机身11。横梁12能沿第一方向相对机身11移动。第一方向可以是X轴方向。

参考图2，激光头13设置于横梁12。激光头13能跟随横梁12沿X轴方向相对机身11移动。激光头13还能沿第二方向相对横梁12移动。第二方向可以是Y轴方向，第二方向垂直于第一方向。如此，激光头13能沿X轴方向和Y轴方向相对机身11移动。

激光头13为待测部件。

为检测激光切割设备在X轴方向的重复定位精度，将长度测量仪表20固定连接于激光头13，使得长度测量仪表20能跟随激光头13沿X轴方向相对机身11移动。

长度测量仪表20可以是千分表或者百分表。其中，千分表可以是杠杆千分表。

图3是本申请一实施例提供的长度测量仪表的结构示意图。参考图3，在一些实施例中，长度测量仪表20包括测量头21、表盘22、连杆23和安装底座24。

测量头21用于与物体的表面接触。

表盘22用于显示测量数据。示例的，当测量头21与物体的表面接触受压时，表盘22会显示测量数据。

连杆23用于表盘22与安装底座24连接。

安装底座24固定连接于激光头13。安装底座24可以是磁性底座。

在其他一些实施例中，连杆23是可选的，表盘22通过安装底座24固定连接于激光头13。

激光头13(也即待测部件)在X轴方向的行程是固定的，具有起点和终点。

为检测激光切割设备在X轴方向全行程的重复定位精度，需要确定多个测量点。前述测量点是X轴方向除起点之外的点。前述测量点中的一者可以是终点。

在起点，长度测量仪表20的测量头21与基准面30接触，此时长度测量仪表20的表盘22显示初始测量数据。

示例的，长度测量仪表20吸附于激光头13，调整长度测量仪表20位置，使测量头21接触基准面30，使得长度测量仪表20的行程压缩，比如压缩一半行程，固定连杆23的位置，此时长度测量仪表20的表盘22显示的测量数据(比如一半行程)为初始测量数据。

基准面30可以是机身11的表面。基准面30还可以是放置于机身11的量具的表面。前述量具可以是大理石方尺。

在检测重复定位精度时，从起点沿X轴方向(即第一方向)移动激光头13(即待测部件)至第一个测量点后，再移动激光头13返回前述起点；期间，固定于激光头13的长度测量仪表20由激光头13带动沿X轴方向移动。

获取第一测量点的位置偏差值，前述位置偏差值为长度测量仪表20在起点的测量数据变化量。

图4是本申请一实施例提供的重复定位精度检测方法的步骤A1的流程示意图。参考图4，在一些实施例中，获取第一测量点的位置偏差值包括步骤A11至步骤A13。

步骤A11、在待测部件从起点沿第一方向移动至第一测量点之前，获取长度测量仪表在起点的测量数据，得到第一测量数据。

第一测量数据为前述初始测量数据。

步骤A12、在待测部件从起点沿第一方向移动至第一测量点并返回起点之后，获取长度测量仪表在起点的测量数据，得到第二测量数据。

激光头13返回前述起点之后，记录此时长度测量仪表20的测量数据，得到第二测量数据。

步骤A13、根据第一测量数据和第二测量数据确定第一测量点的位置偏差值。

第一测量点的位置偏差值是第一测量数据与第二测量数据之差的绝对值。

对不同测量点执行前述过程，得到多个位置偏差值。具体而言，在得到第一测量点的位置偏差值之后，从起点沿X轴方向(即第一方向)移动激光头13(即待测部件)至第二个测量点后返回前述起点，然后按照步骤A11至步骤A13获取第二测量点的位置偏差值；对于第N个测量点也是如此，得到多个位置偏差值，具体是得到与N个测量点对应的N个位置偏差值，前述N个位置偏差值为△Ap、△A2p、△A3p、……、△ANp。其中N为大于1的整数。

其中，不同测量点的位置可以设置为激光切割设备的P个步距，P为大于0的整数，比如第一个测量点的位置为1个步距，第二个测量点的位置为2各步距，第N个测量点的位置则为P个步距。具体实施时，激光切割设备发出指令给横梁12，带动激光头13沿X轴方向移动，直到接近X轴方向最大行程为止，得到各测量点的偏差值△Ap、△A2p、△A3p、……、△ANp。

在其他一些实施例中，获取测量点的位置偏差值包括：从起点沿X轴方向(即第一方向)移动激光头13(即待测部件)至第一个测量点后返回前述起点，重复M次，得到第一个测量点的M个位置偏差值，M为大于1的整数，对M个位置偏差值求平均值，得到第一平均位置偏差值，将第一平均位置偏差值作为第一个测量点的位置偏差值，对N个测量点执行前述过程，得到N个位置偏差值。

具体而言，从起点沿X轴方向(即第一方向)移动激光头13(即待测部件)至第一个测量点后返回前述起点，得到第一个测量点的第一个位置偏差值；然后，再次从起点沿X轴方向(即第一方向)移动激光头13(即待测部件)至第一个测量点后返回前述起点，得到第一个测量点的第二个位置偏差值；依次类推，重复M次，M为大于1的整数，得到第一个测量点的M个位置偏差值，对M个位置偏差值求平均值，得到第一平均位置偏差值，将第一平均位置偏差值作为第一个测量点的位置偏差值。

在得到第一测量点的位置偏差值之后，从起点沿X轴方向(即第一方向)移动激光头13(即待测部件)至第二个测量点后返回前述起点，重复M次，得到第二个测量点的M个位置偏差值，对M个位置偏差值求平均值，得到第二平均位置偏差值，将第二平均位置偏差值作为第二个测量点的位置偏差值；对于第N个测量点也是如此，得到多个位置偏差值，具体是得到与N个测量点对应的N个位置偏差值。

由于每一测量点的位置偏差值是多次测量得到的平均位置偏差值，能更好地反映每一测量点的位置偏差状况。

步骤A2、根据所有的位置偏差值，确定重复定位精度。

在得到与N个测量点对应的N个位置偏差值之后，根据N个位置偏差值确定激光切割设备的重复定位精度。

图5是本申请一实施例提供的重复定位精度检测方法的步骤A2的流程示意图。参考图5，在一些实施例中，步骤A2(即：根据所有的位置偏差值，确定重复定位精度)包括步骤A21至步骤A22。

步骤A21、从所有的位置偏差值中确定最大位置偏差值和最小位置偏差值。

将N个位置偏差值进行比较，可以得到最大位置偏差值△Amax，以及得到最小位置偏差值△Amin。

步骤A22、根据最大位置偏差值和最小位置偏差值确定重复定位精度。

重复定位精度S为最大位置偏差值△Amax和最小位置偏差值△Amin之差，也即S＝|△Amax-△Amin|。

在其他一些实施例中，步骤A2(即：根据所有的位置偏差值，确定重复定位精度)具体为：对所有的位置偏差值求平均，得到重复定位精度。

根据上述内容可知，从起点沿第一方向移动待测部件至测量点后再移动待测部件返回前述起点，以带动固定于待测部件的长度测量仪表沿第一方向移动，其中，长度测量仪表具有测量头，在前述起点测量头能与基准面接触，获取测量点的位置偏差值，前述位置偏差值为长度测量仪表在前述起点的测量数据变化量，对不同测量点执行前述过程，得到各测量点的位置偏差值；根据所有测量点的位置偏差值，确定重复定位精度，得到的重复定位精度是待测部件的全行程的重复定位精度；使用长度测量仪表就可以得到前述重复定位精度，操作简单，能实现快速检测以及能降低停机时间，从而提高生产效率。

图6是本申请另一实施例提供的重复定位精度检测方法的流程示意图。参考图6，在一些实施例中，在从起点沿第一方向移动待测部件至测量点后再移动待测部件返回起点之前，重复定位精度检测方法还包括步骤B1。

步骤B1、将量具放置于待测部件的周围。

如前所述，长度测量仪表20的测量头21需要与基准面30接触。参考图2，当基准面30为量具40(比如大理石方尺)的表面时，在移动激光头13(即待测部件)之前，需要将大理石方尺放置于激光头13的周围，调整大理石方尺的位置，使得基准面30与X轴方向(即激光切割设备的机身导轨方向)垂直。

示例的，将大理石方尺放置于激光切割设备的机身内部，大理石方尺的底部用方木条垫高并摆放方正。

量具40(比如大理石方尺)的尺寸一般较为稳定，将量具的表面作为基准面，有助于提高检测精度。

图7是本申请又一实施例提供的重复定位精度检测方法的流程示意图。参考图7，在一些实施例中，在从起点沿第一方向移动待测部件至测量点后再移动待测部件返回起点之前，重复定位精度检测方法还包括步骤C1。

步骤C1、从起点沿第二方向移动待测部件，以带动固定于待测部件的长度测量仪表沿第二方向移动，调整基准面的位置，使得长度测量仪表沿第二方向移动时测量数据保持不变。

在选定基准面30之后，从起点沿Y轴方向(即第二方向)移动激光头13(即待测部件)，具体可以沿Y轴方向左右移动激光头13，若长度测量仪表20的测量数据有变化，则调整基准面30的位置，直至使得长度测量仪表20沿Y轴方向移动时，长度测量仪表20的测量数据保持不变，使得基准面30相对激光头13为绝对的平面。

当沿X轴方向移动激光头13时，激光头13可能会在与X轴方向垂直的Y轴方向左右摆动。由于长度测量仪表20沿Y轴方向移动时，长度测量仪表20的测量数据保持不变，能避免激光头13在Y轴方向的左右摆动对长度测量仪表20的测量数据造成影响，能进一步提高检测的精度。

图8是本申请又一实施例提供的重复定位精度检测方法的流程示意图。参考图8，在一些实施例中，重复定位精度检测方法还包括步骤D1。

步骤D1、将所有的测量点与所有的位置偏差值绘制成具有X轴和Y轴的图形。

在得到所有的测量点的位置偏差值之后，以测量点的位置作为X坐标，以与各测量点对应的位置偏差值作为Y坐标，绘制成图形并显示。

从绘制的图形可以看出激光切割设备的位置精度变化趋势，还可以看出最大位置偏差与最小位置偏差所在的位置，能方便维修人员重点检查该位置的传动部件以及快速找出问题点进行修复，能帮助维修人员总结数据，提供故障判断的理论参考依据。

本申请的实施例提供的重复定位精度检测方法，使用长度测量仪表就可以得到反映激光切割设备全行程的重复定位精度，操作简单，能降低维修人员的技术门槛，能降低停机时间，从而提高激光切割设备的检修效率以及提升工厂的生产效率；能应用于设备的出厂检测，实现快速验收设备，能降低维护成本以及降低售后成本。

对应于上文实施例所述方法，图9示出本申请的实施例提供的重复定位精度检测装置的结构框图，为了便于说明，仅示出与本申请实施例相关的部分。

参考图9，本申请的实施例提供的重复定位精度检测装置包括测量模块1A和精度确定模块2A。

测量模块1A，用于：从起点沿第一方向移动待测部件至测量点后再移动待测部件返回前述起点，以带动固定于待测部件的长度测量仪表沿第一方向移动，获取测量点的位置偏差值，位置偏差值为长度测量仪表在前述起点的测量数据变化量，对不同测量点执行前述过程，长度测量仪表具有测量头，在前述起点测量头能与基准面接触。

精度确定模块2A，用于：根据所有的位置偏差值确定重复定位精度。

图10是本申请一实施例提供的重复定位精度检测装置的测量模块的结构示意图。参考图10，在一些实施例中，测量模块1A包括第一获取子模块11A、第二获取子模块12A和位置偏差确定子模块13A。

第一获取子模块11A，用于：在待测部件从起点沿第一方向移动至第一测量点之前，获取长度测量仪表在起点的测量数据，得到第一测量数据。

第二获取子模块12A，用于：在待测部件从起点沿第一方向移动至第一测量点并返回起点之后，获取长度测量仪表在起点的测量数据，得到第二测量数据。

位置偏差确定子模块13A，用于：根据第一测量数据和第二测量数据确定第一测量点的位置偏差值。

图11是本申请一实施例提供的重复定位精度检测装置的精度确定模块的结构示意图。参考图11，在一些实施例中，精度确定模块2A包括偏差值确定子模块21A和精度确定子模块22A。

偏差值确定子模块21A，用于：从所有的位置偏差值中确定最大位置偏差值和最小位置偏差值。

精度确定子模块22A，用于：根据最大位置偏差值和最小位置偏差值确定重复定位精度。

图12是本申请另一实施例提供的重复定位精度检测装置的结构示意图。参考图12，在一些实施例中，重复定位精度检测装置还包括量具放置模块1B。

量具放置模块1B，用于：将量具放置于待测部件的周围。

图13是本申请又一实施例提供的重复定位精度检测装置的结构示意图。参考图13，在一些实施例中，重复定位精度检测装置还包括调整模块1C。

调整模块1C，用于：从起点沿第二方向移动待测部件，以带动固定于待测部件的长度测量仪表沿第二方向移动，调整基准面的位置，使得长度测量仪表沿第二方向移动时测量数据保持不变，第二方向垂直于第一方向。

图14是本申请又一实施例提供的重复定位精度检测装置的结构示意图。参考图14，在一些实施例中，重复定位精度检测装置还包括图形绘制模块1D。

图形绘制模块1D，用于：将所有的测量点与所有的位置偏差值绘制成具有X轴和Y轴的图形。

需要说明的是，上述装置/单元之间的信息交互、执行过程等内容，由于与本申请方法实施例基于同一构思，其具体功能及带来的技术效果，具体可参见方法实施例部分，此处不再赘述。

图15为本申请一实施例提供的终端设备的结构示意图。如图15所示，该实施例的终端设备15包括：至少一个处理器150(图15中仅示出一个)、存储器151以及存储在存储器151中并可在至少一个处理器150上运行的计算机程序152；处理器150执行计算机程序152时实现上述任意各个方法实施例中的步骤。

终端设备15可以是桌上型计算机、笔记本、掌上电脑及云端服务器等计算设备。该终端设备可包括，但不仅限于，处理器150和存储器151。本领域技术人员可以理解，图15仅仅是终端设备的举例，并不构成对终端设备的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件，例如还可以包括输入输出设备、网络接入设备、总线等。

处理器150可以是中央处理单元(Central Processing Unit，CPU)，该处理器150还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor，DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、现成可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。

存储器151在一些实施例中可以是终端设备15的内部存储单元，例如终端设备的硬盘或内存。存储器151在另一些实施例中也可以是终端设备的外部存储设备，例如终端设备上配备的插接式硬盘，智能存储卡(Smart Media Card,SMC)，安全数字(SecureDigital,SD)卡，闪存卡(Flash Card)等。进一步地，存储器151还可以既包括终端设备的内部存储单元也包括外部存储设备。存储器151用于存储操作系统、应用程序、引导装载程序(Boot Loader)、数据以及其他程序等，例如计算机程序的程序代码等。存储器151还可以用于暂时地存储已经输出或者将要输出的数据。

示例性的，计算机程序152可以被分割成一个或多个模块/单元，一个或者多个模块/单元被存储在存储器151中，并由处理器150执行，以完成本申请。一个或多个模块/单元可以是能够完成特定功能的一系列计算机程序指令段，该指令段用于描述计算机程序152在终端设备15中的执行过程。

应理解，上述实施例中各步骤的序号的大小并不意味着执行顺序的先后，各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定，而不应对本申请实施例的实施过程构成任何限定。

所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为了描述的方便和简洁，仅以上述各功能单元、模块的划分进行举例说明，实际应用中，可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能单元、模块完成，即将装置的内部结构划分成不同的功能单元或模块，以完成以上描述的全部或者部分功能。实施例中的各功能单元、模块可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中，上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。另外，各功能单元、模块的具体名称也只是为了便于相互区分，并不用于限制本申请的保护范围。上述系统中单元、模块的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。

前述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请实现上述实施例方法中的全部或部分流程，可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，该计算机程序可存储于计算机可读存储介质中；该计算机程序在被处理器执行时，可实现上述各个方法实施例的步骤。其中，计算机程序包括计算机程序代码，计算机程序代码可以为源代码形式、对象代码形式、可执行文件或某些中间形式等。计算机可读介质包括：能够将计算机程序代码携带到装置/终端设备的任何实体或装置、记录介质、计算机存储器、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、电载波信号、电信信号以及软件分发介质。例如U盘、移动硬盘、磁碟或者光盘等。在某些司法管辖区，根据立法和专利实践，计算机可读介质不可以是电载波信号和电信信号。

本申请的实施例还提供一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现可实现上述各个方法实施例中的步骤。

本申请的实施例提供一种计算机程序产品，当计算机程序产品在终端设备上运行时，使得终端设备可实现上述各个方法实施例中的步骤。

在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述或记载的部分，可以参见其它实施例的相关描述。

本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本申请的范围。

在本申请所提供的实施例中，应该理解到，所揭露的装置/设备和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置/设备实施例仅仅是示意性的，例如，所述模块或单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通讯连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通讯连接，可以是电性，机械或其它的形式。

前述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

以上所述实施例仅用以说明本申请的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本申请进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的精神和范围，均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种重复定位精度检测方法，其特征在于，所述方法包括：

从起点沿第一方向移动待测部件至测量点后再移动所述待测部件返回所述起点，以带动固定于所述待测部件的长度测量仪表沿所述第一方向移动，获取所述测量点的位置偏差值，所述位置偏差值为所述长度测量仪表在所述起点的测量数据变化量，对不同测量点执行前述过程，所述长度测量仪表具有测量头，在所述起点所述测量头能与基准面接触；

根据所有的所述位置偏差值，确定重复定位精度。

2.如权利要求1所述的重复定位精度检测方法，其特征在于，所述根据所有的所述位置偏差值确定重复定位精度，包括：

从所有的所述位置偏差值中确定最大位置偏差值和最小位置偏差值；

根据所述最大位置偏差值和最小位置偏差值确定重复定位精度。

3.如权利要求2所述的重复定位精度检测方法，其特征在于，所述最大位置偏差值为△Amax，所述最小位置偏差值为△Amin，所述重复定位精度为S＝|△Amax-△Amin|。

4.如权利要求1所述的重复定位精度检测方法，其特征在于，在所述从起点沿第一方向移动待测部件至测量点后再移动所述待测部件返回所述起点之前，所述方法还包括：

从所述起点沿第二方向移动所述待测部件，以带动固定于所述待测部件的所述长度测量仪表沿所述第二方向移动，调整所述基准面的位置，使得所述长度测量仪表沿所述第二方向移动时测量数据保持不变，所述第二方向垂直于所述第一方向。

5.如权利要求1所述的重复定位精度检测方法，其特征在于，所述获取所述测量点的位置偏差值，包括：

在所述待测部件从所述起点沿第一方向移动至所述测量点之前，获取所述长度测量仪表在所述起点的测量数据，得到第一测量数据；

在所述待测部件从所述起点沿第一方向移动至所述测量点并返回所述起点之后，获取所述长度测量仪表在所述起点的测量数据，得到第二测量数据；

根据所述第一测量数据和所述第二测量数据确定所述测量点的位置偏差值。

6.如权利要求1所述的重复定位精度检测方法，其特征在于，在所述从起点沿第一方向移动待测部件至测量点后再移动所述待测部件返回所述起点之前，所述方法还包括：

将量具放置于所述待测部件的周围，所述基准面为所述量具的表面。

7.如权利要求1至6任一项所述的重复定位精度检测方法，其特征在于，所述方法还包括：

将所有的所述测量点与所有的所述位置偏差值绘制成具有X轴和Y轴的图形。

8.一种重复定位精度检测装置，其特征在于，所述装置包括：

测量模块，用于：从起点沿第一方向移动待测部件至测量点后再移动所述待测部件返回所述起点，以带动固定于所述待测部件的长度测量仪表沿所述第一方向移动，获取所述测量点的位置偏差值，所述位置偏差值为所述长度测量仪表在所述起点的测量数据变化量，对不同测量点执行前述过程，所述长度测量仪表具有测量头，在所述起点所述测量头能与基准面接触；

精度确定模块，用于：根据所有的所述位置偏差值确定重复定位精度。

9.一种终端设备，其特征在于，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7任一项所述的重复定位精度检测方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述的重复定位精度检测方法。

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