CN114441978A - 电池簇的故障诊断方法、装置、终端设备以及存储介质 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种电池簇的故障诊断方法，包括：获取目标电池簇的目标温度；在预设曲线库中确定出与所述目标温度对应的目标阻抗谱曲线，所述预设曲线库包括不同温度对应的阻抗谱曲线，每个所述阻抗谱曲线根据不同频率的交流激励电流获得，不同频率的交流激励电流从外界电网获得；根据所述目标阻抗谱曲线，获得所述目标电池簇的故障诊断结果。本发明还公开一种电池簇的故障诊断装置、终端设备以及存储介质。利用本发明的方法，目标阻抗谱曲线是利用AC/AC交流电流激励的，能减少对直流系统扰动，增加测试可靠性，使得目标阻抗谱曲线的准确率较高，进而使得获得的故障诊断结果准确率较高。

Description

电池簇的故障诊断方法、装置、终端设备以及存储介质

技术领域

本发明涉及电池检测技术领域，特别涉及一种电池簇的故障诊断方法、装置、终端设备以及存储介质。

背景技术

电池簇由多个电池模组串并联组成，电池簇中各电芯的批次会有所不同，各电芯的初始容量与阻抗也会有细微差别，这些因素对每个电池簇的阻抗影响是较明显的，如果不加以识别和诊断，将会导致严重后果。

相关技术中，以储能变流器通过电池管理系统，将电池簇本身的直流电整合为交流电，对电池簇进行充放电，并在对电池簇充放电过程中，对电池簇进行阻抗检测，以进一步确定电池簇的故障诊断结果。

但是，采用现有的方法，电池簇的阻抗检测的准确率较低，导致电池簇的故障诊断结果准确率较低。

发明内容

本发明的主要目的是提供一种电池簇的故障诊断方法、装置、终端设备以及存储介质，旨在解决现有技术中采用现有的方法，电池簇的阻抗检测的准确率较低，导致电池簇的故障诊断结果准确率较低的技术问题。

为实现上述目的，本发明提出一种电池簇的故障诊断方法，所述方法包括以下步骤：

获取目标电池簇的目标温度；

在预设曲线库中确定出与所述目标温度对应的目标阻抗谱曲线，所述预设曲线库包括不同温度对应的阻抗谱曲线，每个所述阻抗谱曲线根据不同频率的交流激励电流获得，不同频率的交流激励电流从外界电网获得；

根据所述目标阻抗谱曲线，获得所述目标电池簇的故障诊断结果。

可选的，所述目标阻抗谱曲线包括多个目标阻抗谱曲线；根据所述目标阻抗谱曲线，获得所述目标电池簇的故障诊断结果的步骤，包括：

将每个所述目标阻抗谱曲线划分为高频阻抗区域对应的第一阻抗谱曲线和低频阻抗区域对应的第二阻抗谱曲线，以获得多个第一阻抗谱曲线和多个第二阻抗谱曲线；

根据多个所述第一阻抗谱曲线，对所述高频阻抗区域进行分析，获得第一阻抗分析结果；

根据多个所述第二阻抗谱曲线，对所述低频阻抗区域进行分析，获得第二阻抗分析结果；

根据所述第一阻抗分析结果和所述第二阻抗分析结果，获得所述故障诊断结果。

可选的，所述根据多个所述第一阻抗谱曲线，对所述高频阻抗区域进行分析，获得第一阻抗分析结果的步骤，包括：

根据多个所述第一阻抗谱曲线，获得所述高频阻抗区域对应的阻抗变化趋势信息；

若所述阻抗变化趋势信息呈增长状态，则根据所述阻抗变化趋势信息，确定在第一预设时长内的第一阻抗变化率以及在第二预设时长内的第二阻抗变化率，所述第一预设时长大于所述第二预设时长；

根据所述第一阻抗变化率和所述第二阻抗变化率，获得所述第一阻抗分析结果。

可选的，所述根据多个所述第二阻抗谱曲线，对所述低频阻抗区域进行分析，获得第二阻抗分析结果的步骤，包括：

确定多个所述第二阻抗谱曲线的拟合半圆；

在所述拟合半圆的直径为递增状态时，判断所述拟合半圆中是否存在在第三预设时长内直径的增长倍率大于第一预设直径增长率的直径快速增长区域；

若存在所述直径快速增长区域，则在所述拟合半圆中确定出半圆直径在第四预设时长内的目标直径增长率，所述第三预设时长大于所述第四预设时长；

根据所述目标直径增长率，获得所述第二阻抗分析结果。

可选的，

在所述第一阻抗变化率大于或等于第一预设阻抗变化率，且所述目标电池簇出现电芯老化时，所述第一阻抗分析结果包括所述目标电池簇的老化程度信息；或，

在所述第一阻抗变化率大于或等于第一预设阻抗变化率，且所述目标电池簇未出现电芯老化时，所述第一阻抗分析结果包括所述目标电池簇的连接件故障和/或焊点出现疲劳初期；或，

在所述第二阻抗变化率小于第二预设阻抗变化率时，所述第一阻抗分析结果包括所述目标电池簇中电解液阻抗增加；或，

在所述第二阻抗变化率大于或等于第三预设阻抗变化率时，所述第一阻抗分析结果包括所述目标电池簇中电芯内短路，所述第三预设阻抗变化率大于所述第二预设阻抗变化率；或，

在所述第二阻抗变化率小于所述第三预设阻抗变化率，且大于或等于所述第二预设阻抗变化率时，所述第一阻抗分析结果包括所述目标电池簇中电芯老化速度加快或出现微短路。

可选的，所述判断所述拟合半圆中是否存在在第三预设时长内直径的增长倍率大于第一预设直径增长率的直径快速增长区域的步骤之后，所述方法还包括：

若不存在所述直径快速增长区域，则判断所述目标电池簇的高频内阻是否增长；

若所述目标电池簇的高频内阻增长，则根据所述目标电池簇的高频内阻增长信息，获得所述目标电池簇的故障诊断结果，或，

若所述目标电池簇的高频内阻未增长，获得所述目标电池簇的电芯老化的的故障诊断结果。

可选的，所述根据所述目标直径增长率，获得所述第二阻抗分析结果的步骤，包括：

在所述目标直径增长率小于第三预设直径增长率时，获得所述目标电池簇中反应阻抗正常的第二阻抗分析结果；或，

在所述目标直径增长率大于或等于第四预设直径增长率时，获得所述目标电池簇中电芯慢速老化的第二阻抗分析结果，所述第四预设直径增长率大于所述第三预设直径增长率；或，

在所述目标直径增长率小于所述第四预设直径增长率，且大于或等于所述第三预设半圆直径增长率时，获得所述目标电池簇中电芯老化速度加快的第二阻抗分析结果。

可选的，所述在预设曲线库中确定出与所述目标温度对应的目标阻抗谱曲线的步骤之前，所述方法包括：

在所述目标电池簇运行过程中，获取所述目标电池簇的运行状态信息；

若所述运行状态信息满足预设条件，则获取所述目标电池簇的工作温度；

若所述工作温度与预设温度区间匹配，则确定出与所述工作温度对应的交流激励电流的预设频率区间；

在所述工作温度下，根据所述目标电池簇在所述预设频率区间的运行工况，在所述预设频率区间中确定出多个预设频率；

根据多个所述预设频率对应的多个预设交流激励电流和所述工作温度，绘制所述工作温度对应的预设阻抗谱曲线；

将所述预设阻抗谱曲线添加到所述预设曲线库。

可选的，所述根据多个所述预设频率对应的多个预设交流激励电流和所述工作温度，绘制所述工作温度对应的预设阻抗谱曲线的步骤，包括：

在所述工作温度下，利用每个所述预设交流激励电流对所述目标电池簇进行激励，以获得每个所述预设交流激励电流对应的激励阻抗；

根据多个所述预设交流激励电流对应的多个激励阻抗，绘制所述工作温度对应的预设阻抗谱曲线。

可选的，所述将所述预设阻抗谱曲线添加到所述预设曲线库的步骤之前，所述方法还包括：

获取所述目标电池簇对应的标准温度；

根据所述标准温度，对所述预设阻抗谱曲线进行调整，以获得所述标准温度对应的调整后的预设阻抗谱曲线；

所述将所述预设阻抗谱曲线添加到所述预设曲线库的步骤，包括：

将所述调整后的预设阻抗谱曲线添加到所述预设曲线库

此外，为实现上述目的，本发明还提出了一种电池簇的故障诊断装置，所述装置包括：

获取模块，用于获取目标电池簇的目标温度；

确定模块，用于在预设曲线库中确定出与所述目标温度对应的目标阻抗谱曲线，所述预设曲线库包括不同温度对应的阻抗谱曲线，每个所述阻抗谱曲线根据不同频率的交流激励电流获得，不同频率的交流激励电流从外界电网获得；

获得模块，用于根据所述目标阻抗谱曲线，获得所述目标电池簇的故障诊断结果。

此外，为实现上述目的，本发明还提出了一种终端设备，所述终端设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并在所述处理器上运行电池簇的故障诊断程序，所述电池簇的故障诊断程序被所述处理器执行时实现如上述任一项所述的电池簇的故障诊断方法的步骤。

此外，为实现上述目的，本发明还提出了一种存储介质，所述存储介质上存储有电池簇的故障诊断程序，所述电池簇的故障诊断程序被处理器执行时实现如上述任一项所述的电池簇的故障诊断方法的步骤。

本发明技术方案提出了一种电池簇的故障诊断方法，通过获取目标电池簇的目标温度；在预设曲线库中确定出与所述目标温度对应的目标阻抗谱曲线，所述预设曲线库包括不同温度对应的阻抗谱曲线，每个所述阻抗谱曲线根据不同频率的交流激励电流获得，不同频率的交流激励电流从外界电网获得；根据所述目标阻抗谱曲线，获得所述目标电池簇的故障诊断结果。

现有技术中，在目标电池簇本身获取直流电源，然后将其转换为交流激励电流，对目标电池簇进行激励，但是，从本身取电再进行激励的耦合过程存在极大的扰动，使得进行激励时，获得的阻抗检测结果准确率较低，导致故障诊断结果的准确率较低。在本发明中，从外界电网获得交流激励电流，能减少对直流系统扰动，增加测试可靠性，使得目标阻抗谱曲线的准确率较高，从而提高了阻抗检测结果的准确率，进而提高了故障诊断结果的准确率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1为本发明实施例方案涉及的硬件运行环境的终端设备结构示意图；

图2为本发明电池簇的故障诊断方法第一实施例的流程示意图；

图3为本发明储能系统的结构示意图；

图4为本发明电池簇的故障诊断方法第二实施例步骤S13细化的流程示意图；

图5为本发明拟合半圆的曲线示意图；

图6为本发明高频阻抗区域的诊断流程示意图；

图7为本发明低频频阻抗区域的诊断流程示意图；

图8为本发明电池簇的故障诊断装置第一实施例的结构框图。

本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

参照图1，图1为本发明实施例方案涉及的硬件运行环境的终端设备结构示意图。

通常，终端设备包括：至少一个处理器301、存储器302以及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的电池簇的故障诊断程序，所述电池簇的故障诊断程序配置为实现如前所述的电池簇的故障诊断方法的步骤。

处理器301可以包括一个或多个处理核心，比如4核心处理器、8核心处理器等。处理器301可以采用DSP(Digital Signal Processing，数字信号处理)、FPGA(Field－Programmable Gate Array，现场可编程门阵列)、PLA(Programmable Logic Array，可编程逻辑阵列)中的至少一种硬件形式来实现。处理器301也可以包括主处理器和协处理器，主处理器是用于对在唤醒状态下的数据进行处理的处理器，也称CPU(CentralProcessingUnit，中央处理器)；协处理器是用于对在待机状态下的数据进行处理的低功耗处理器。在一些实施例中，处理器301可以在集成有GPU(Graphics Processing Unit，图像处理器)，GPU用于负责显示屏所需要显示的内容的渲染和绘制。处理器301还可以包括AI(Artificial Intelligence，人工智能)处理器，该AI处理器用于处理有关电池簇的故障诊断方法操作，使得电池簇的故障诊断方法模型可以自主训练学习，提高效率和准确度。

存储器302可以包括一个或多个存储介质，该存储介质可以是非暂态的。存储器302还可包括高速随机存取存储器，以及非易失性存储器，比如一个或多个磁盘存储设备、闪存存储设备。在一些实施例中，存储器302中的非暂态的存储介质用于存储至少一个指令，该至少一个指令用于被处理器301所执行以实现本申请中方法实施例提供的电池簇的故障诊断方法。

在一些实施例中，终端还可选包括有：通信接口303和至少一个外围设备。处理器301、存储器302和通信接口303之间可以通过总线或信号线相连。各个外围设备可以通过总线、信号线或电路板与通信接口303相连。具体地，外围设备包括：射频电路304、显示屏305和电源306中的至少一种。

通信接口303可被用于将I/O(Input/Output，输入/输出)相关的至少一个外围设备连接到处理器301和存储器302。在一些实施例中，处理器301、存储器302和通信接口303被集成在同一芯片或电路板上；在一些其他实施例中，处理器301、存储器302和通信接口303中的任意一个或两个可以在单独的芯片或电路板上实现，本实施例对此不加以限定。

射频电路304用于接收和发射RF(Radio Frequency，射频)信号，也称电磁信号。射频电路304通过电磁信号与通信网络以及其他通信设备进行通信。射频电路304将电信号转换为电磁信号进行发送，或者，将接收到的电磁信号转换为电信号。可选地，射频电路304包括：天线系统、RF收发器、一个或多个放大器、调谐器、振荡器、数字信号处理器、编解码芯片组、用户身份模块卡等等。射频电路304可以通过至少一种无线通信协议来与其它终端进行通信。该无线通信协议包括但不限于：城域网、各代移动通信网络(2G、3G、4G及5G)、无线局域网和/或WiFi(Wireless Fidelity，无线保真)网络。在一些实施例中，射频电路304还可以包括NFC(Near Field Communication，近距离无线通信)有关的电路，本申请对此不加以限定。

显示屏305用于显示UI(User Interface，用户界面)。该UI可以包括图形、文本、图标、视频及其它们的任意组合。当显示屏305是触摸显示屏时，显示屏305还具有采集在显示屏305的表面或表面上方的触摸信号的能力。该触摸信号可以作为控制信号输入至处理器301进行处理。此时，显示屏305还可以用于提供虚拟按钮和/或虚拟键盘，也称软按钮和/或软键盘。在一些实施例中，显示屏305可以为一个，电子设备的前面板；在另一些实施例中，显示屏305可以为至少两个，分别设置在电子设备的不同表面或呈折叠设计；在再一些实施例中，显示屏305可以是柔性显示屏，设置在电子设备的弯曲表面上或折叠面上。甚至，显示屏305还可以设置成非矩形的不规则图形，也即异形屏。显示屏305可以采用LCD(LiquidCrystal Display，液晶显示屏)、OLED(Organic Light-Emitting Diode,有机发光二极管)等材质制备。

电源306用于为电子设备中的各个组件进行供电。电源306可以是交流电、直流电、一次性电池或可充电电池。当电源306包括可充电电池时，该可充电电池可以支持有线充电或无线充电。该可充电电池还可以用于支持快充技术。

本领域技术人员可以理解，图1中示出的结构并不构成对终端设备的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。

此外，本发明实施例还提出一种存储介质，所述存储介质上存储有电池簇的故障诊断程序，所述电池簇的故障诊断程序被处理器执行时实现如上文所述的电池簇的故障诊断方法的步骤。因此，这里将不再进行赘述。另外，对采用相同方法的有益效果描述，也不再进行赘述。对于本申请所涉及的存储介质实施例中未披露的技术细节，请参照本申请方法实施例的描述。确定为示例，程序指令可被部署为在一个终端设备上执行，或者在位于一个地点的多个终端设备上执行，又或者，在分布在多个地点且通过通信网络互连的多个终端设备备上执行。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，上述的程序可存储于一取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，上述的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(Read-Only Memory，ROM)或随机存储记忆体(Random AccessMemory，RAM)等。

基于上述硬件结构，提出本发明电池簇的故障诊断方法的实施例。

参照图2，图2为本发明电池簇的故障诊断方法第一实施例的流程示意图，所述方法包括以下步骤：

步骤S11：获取目标电池簇的目标温度。

需要说明的是，本发明的执行主体是终端设备，终端设备安装有电池簇的故障诊断程序，终端设备执行电池簇的故障诊断程序时，实现本发明的电池簇的故障诊断方法的步骤。目标电池簇则是进行阻抗检测的一个电池簇，通常是锂电池作为目标电池的电芯，目标电池簇进行阻抗检测时的温度即为目标温度。

参照图3，图3为本发明储能系统的结构示意图，储能系统包括多个电池单元，图3中的一个方框中的多个PACK、一个AC/AC(交流转交流)转换器和一个BMS(电池管理系统)组成一个电池单元。每个电池单元均与储能系统的储能变流器连接，以实现储能变流器对多个电池单元的控制。

在图3中，虚线是控制线，带箭头的实线是指动力线。可以通过控制线对多个电池单元进行控制，可以通过动力线为多个电池电源分别提供激励电流。

电池簇由多个电池模组串并联组成，电池簇的总正总负与母线连接，AC/AC转换器与总正总负的组成内环路，通过注入激励电流进行阻抗谱检测。

步骤S12：在预设曲线库中确定出与所述目标温度对应的目标阻抗谱曲线，所述预设曲线库包括不同温度对应的阻抗谱曲线，每个所述阻抗谱曲线根据不同频率的交流激励电流获得，不同频率的交流激励电流从外界电网通过AC/AC转换获得。

在本发明中，预设曲线库包括多种不同温度的阻抗谱曲线，与目标温度对应的阻抗谱曲线即是目标阻抗谱曲线，每个阻抗谱曲线根据不同频率的交流激励电流获得，即，目标阻抗谱曲线也是根据不同频率的交流激励电流获得。

根据目标温度，确定出的对应的阻抗谱曲线即为目标阻抗谱曲线，然后再根据目标阻抗谱曲线，直接确定目标电池簇的故障诊断结果。在目标阻抗谱曲线获得时，激励电流是从外界电网获得的，不从电池簇本身取电，且有单独激励回路，从而使得获得的目标阻抗谱曲线的准确率较高，进而使得利用标阻抗谱曲线获得的故障诊断结果准确率较高。

进一步的，所述在预设曲线库中确定出与所述目标温度对应的目标阻抗谱曲线的步骤之前，所述方法包括：在所述目标电池簇运行过程中，获取所述目标电池簇的运行状态信息；若所述运行状态信息满足预设条件，则获取所述目标电池簇的工作温度；若所述工作温度与预设温度区间匹配，则确定出与所述工作温度对应的交流激励电流的预设频率区间；在所述工作温度下，根据所述目标电池簇在所述预设频率区间的运行工况，在所述预设频率区间中确定出多个预设频率；根据多个所述预设频率对应的多个预设交流激励电流和所述工作温度，绘制所述工作温度对应的预设阻抗谱曲线；将所述预设阻抗谱曲线添加到所述预设曲线库。

运行状态信息即是指目标电池簇的具体运行状态信息，包括功率和电流等信息，运行状态信息满足预设条件是指目标电池簇的充放电过程的功率较小，电流较低，或，目标电池簇未处于配置或者校准情况。

目标电池簇的工作温度即是指目标电池簇在进行预设阻抗谱曲线绘制时的温度(在本发明中，通常确定多个工作温度，一个的工作温度对应一个预设阻抗谱曲线)；进行预设阻抗谱曲线的绘制过程，可以理解为实验过程，因此，工作温度也可以称作实验温度，绘制预设阻抗谱曲线时，需要将目标电池簇的温度调整到对应的工作温度。预设温度区间可以是用户基于需求设定，本发明不做具体限制，当工作温度与预设温度区间匹配(工作温度在预设温度区间内)时，目标电池簇可以进行预设阻抗谱曲线绘制；当工作温度与预设温度区间不匹配时，目标电池簇不可以进行预设阻抗谱曲线绘制过程。

预设频率区间可以是用户基于需求设定的，本发明不做限定，对于不同的工作温度，设定的预设频率区间可能不同，一个工作温度对应预设频率区间。

对于每个工作温度下，需要根据目标电池簇在对应的预设频率区间的实际运行工况，并在对应的预设频率区间中确定出受其他因素影响最小的几个频率值，该受其他因素影响最小的几个频率值即为该工作温度下的多个预设频率；每一个工作温度均会对应多个预设频率，每一个工作温度对应的多个预设频率可能不同。

然后继续根据多个预设频率对应的多个预设交流激励电流和所述工作温度，绘制所述工作温度对应的预设阻抗谱曲线，然后，将绘制的预设阻抗谱曲线添加到预设曲线库，以便于后续进行目标电池的阻抗检测时，直接利用预设曲线库中的阻抗谱曲线。

具体的，所述根据多个所述预设频率对应的多个预设交流激励电流和所述工作温度，绘制所述工作温度对应的预设阻抗谱曲线的步骤，包括：在所述工作温度下，利用每个所述预设交流激励电流与频率点对所述目标电池簇进行激励，以获得每个所述预设交流激励电流与频率下对应的激励阻抗；根据多个所述预设交流激励对应的多个激励阻抗，绘制所述工作温度对应的预设阻抗谱曲线。

对于目标电池簇，在目标电池簇安装之后，且目标电池簇对应的储能系统联调完成时，利用上述方式，对于每个工作温度，绘制多个初始阻抗谱曲线，然后对每个工作温度对应的多个初始阻抗谱曲线求平均值，获得对应的最终初始阻抗谱曲线，该最终初始阻抗谱曲线也需要添加到预设曲线库，该最终初始阻抗谱曲线即为目标电池簇对应的最初始状态的预设阻抗谱曲线。

然后在目标电池簇运行的不同时期(在本发明中，不同时期是指目标电池簇在当前时刻之前的不同历史运行时刻，例如每隔一段时间，每天或每周)或在电池簇不同的运行特定模式下(不同的运行特定模式下是指目标电池簇可正常运行的不同的运行工况)，继续按照本发明上述方式绘制多个不同工作温度对应的预设阻抗谱曲线，并将获得的预设阻抗谱曲线添加到预设曲线库中。

在预设曲线库中，对于同一个温度，会对应不同时期的阻抗谱曲线，例如不同时期包括3个，预设曲线库包括3种不同温度的阻抗谱曲线，则此时预设曲线库包括9个阻抗谱曲线。

进一步的，所述将所述预设阻抗谱曲线添加到所述预设曲线库的步骤之前，所述方法还包括：获取所述目标电池簇对应的标准温度；根据所述标准温度，对所述预设阻抗谱曲线进行调整，以获得所述标准温度对应的调整后的预设阻抗谱曲线；所述将所述预设阻抗谱曲线添加到所述预设曲线库的步骤，包括：将所述调整后的预设阻抗谱曲线添加到所述预设曲线库。

基于上文的描述，工作温度是确定出的实验过程的温度，工作温度下对应的预设阻抗谱曲线可能并不适用于目标电池簇的运行状态，需要确定出目标电池簇的运行状态对应的标准温度，将工作温度对应的预设阻抗谱曲线，调整为标准温度的预设阻抗谱曲线，以获得调整后的预设阻抗谱曲线，然后将调整后的预设阻抗谱曲线添加到预设曲线库中。通常，在预设曲线库中获取到的目标阻抗谱曲线是经过上述调整过程获得的调整后的预设阻抗谱曲线。

通常，进行工作温度的预设阻抗谱曲线的调整过程时，可以利用线性插值法，也可以利用其他方法，本发明不做限定。例如，根据工作温度35度和工作温度40度分别对应的预设阻抗谱曲线，进行线型插值，获得标准温度37度对应的阻抗谱曲线。

步骤S13：根据所述目标阻抗谱曲线，获得所述目标电池簇的故障诊断结果。

利用确定出的目标阻抗谱曲线，对目标电池簇进行阻抗检测，以获得故障诊断结果。由于目标阻抗谱曲线的准确率较高，使得目标电池簇的故障诊断结果准确率也较高。

通常，在获得故障诊断结果之后，需要输出故障诊断结果，由现场维护人员根据故障诊断结果，进行现场确认，得出目标电池簇的最终检测结果(例如阻抗变化的最终原因)。

在一些实施例中，还可以将故障诊断结果与现场检测确认的最终检测结果进备份到云端，以给后续阻抗检测进行优化升级，并通过后台工作人员进行更全方面的分析诊断。

本发明技术方案提出了一种电池簇的故障诊断方法，通过获取目标电池簇的目标温度；在预设曲线库中确定出与所述目标温度对应的目标阻抗谱曲线，所述预设曲线库包括不同温度对应的阻抗谱曲线，每个所述阻抗谱曲线根据不同频率的交流激励电流获得，不同频率的交流激励电流从外界电网获得；根据所述目标阻抗谱曲线，获得所述目标电池簇的故障诊断结果。

现有技术中，在目标电池簇本身获取直流电源，然后将其转换为交流激励电流，对目标电池簇进行激励，但是，从本身取电再进行激励的耦合过程存在极大的扰动，使得进行激励时，获得的阻抗检测结果准确率较低，导致故障诊断结果的准确率较低。在本发明中，从外界电网获得交流激励电流，能减少对直流系统扰动，增加测试可靠性，使得目标阻抗谱曲线的准确率较高，从而提高了阻抗检测结果的准确率，进而提高了故障诊断结果的准确率。

参照图4，图4为本发明电池簇的故障诊断方法第二实施例步骤S13细化的流程示意图，步骤S13包括：

步骤S21：将每个所述目标阻抗谱曲线划分为高频阻抗区域对应的第一阻抗谱曲线和低频阻抗区域对应的第二阻抗谱曲线，以获得多个第一阻抗谱曲线和多个第二阻抗谱曲线。

可以理解的是，按照本发明上述方法，获得目标电池簇在不同时期对应的预设阻抗谱曲线，对于一个目标温度，会对应不同运行时期的多个预设阻抗谱曲线，即确定的目标阻抗谱曲线也包括多个，不同运行时期均是当前时间之前的历史运行时期，因此，目标阻抗谱曲线也叫历史阻抗谱曲线。

对于每个目标阻抗谱曲线，根据曲线中虚部为常数a(a可以是0或其他常数)点，将每个目标阻抗谱曲线划分为高频阻抗区域对应的第一阻抗谱曲线和低频阻抗区域对应的第二阻抗谱曲线。一个目标阻抗谱曲线对应一个第一阻抗谱曲线和一个第二阻抗谱曲线。

高频阻抗区域主要对应高频阻抗，高频阻抗主要包括固定阻抗和电解液阻抗，其中固定阻抗包括电池模组的连接件的阻抗和电芯与铝钯焊接过程中的阻抗等，主要以欧姆阻抗为主；电解液阻抗即是锂离子在电解液中的阻抗，由于电池簇由多个电池模组构成，欧姆阻抗占比较大，所以高频阻抗区域在本发明中主要说明为欧姆阻抗，如果欧姆阻抗反复跳动且总的为上升趋势时，主要应该是连接件的松动导致的，或者是焊点的疲劳失效前的一些情形，由于系统运行过程中的振动问题，会呈现高频阻抗的反复跳动，此时主要检测连接件的紧固是否良好，若连接没有问题，则考虑电池模组的内的焊点疲劳失效的可能，可以通各电池模组的电压进行排查。

低频阻抗区域对应低频阻抗，低频阻抗主要指反应阻抗，包括电池簇的电池模组在充放电过程中的变化值；如果这个变化值变大了，可以理解为反应过程阻抗增大。

步骤S22：根据多个所述第一阻抗谱曲线，对所述高频阻抗区域进行分析，获得第一阻抗分析结果。

多个所述第一阻抗谱曲线对应有不同的运行时期，按照运行时期将多个第一阻抗谱曲线排列(即按照第一阻抗谱曲线对应的预设阻抗谱曲线的获得顺序排列)，并统计多个所述第一阻抗谱曲线的变化趋势，以根据变化趋势，获得第一阻抗分析结果。

具体的，所述根据多个所述第一阻抗谱曲线，对所述高频阻抗区域进行分析，获得第一阻抗分析结果的步骤，包括：根据多个所述第一阻抗谱曲线，获得所述高频阻抗区域对应的阻抗变化趋势信息；若所述阻抗变化趋势信息呈增长状态，则根据所述阻抗变化趋势信息，确定在第一预设时长内的第一阻抗变化率以及在第二预设时长内的第二阻抗变化率，所述第一预设时长大于所述第二预设时长；根据所述第一阻抗变化率和所述第二阻抗变化率，获得所述第一阻抗分析结果。

根据多个第一阻抗谱曲线对应的不同的运行时期，确定出高频阻抗区域的阻抗随时间变化的情况——阻抗变化趋势信息。

第一预设时长和第二预设时长，可以是用户基于需求设定的值，本发发明不做限定，通常，所述第一预设时长大于所述第二预设时长，第一预设时长设置较长，理解为一个较长的时长，而第二预设时长设置较短，理解为一个短时长。

当阻抗变化趋势信息不呈增长趋势时，确定所述高频阻抗区域阻抗正常。当阻抗变化信息呈增长趋势时，则执行根据所述阻抗变化趋势信息，确定在第一预设时长内的第一阻抗变化率以及在第二预设时长内的第二阻抗变化率的步骤。

具体的，在所述第一阻抗变化率大于或等于第一预设阻抗变化率，且所述目标电池簇出现电芯老化时，所述第一阻抗分析结果包括所述目标电池簇的老化程度信息；或，在所述第一阻抗变化率大于或等于第一预设阻抗变化率，且所述目标电池簇未出现电芯老化时，所述第一阻抗分析结果包括所述目标电池簇的连接件故障和/或焊点出现疲劳初期；或，在所述第二阻抗变化率小于第二预设阻抗变化率时，所述第一阻抗分析结果包括所述目标电池簇中电解液阻抗增加；或，在所述第二阻抗变化率大于或等于第三预设阻抗变化率时，所述第一阻抗分析结果包括所述目标电池簇中电芯内短路，所述第三预设阻抗变化率大于所述第二预设阻抗变化率；或，在所述第二阻抗变化率小于所述第三预设阻抗变化率，且大于或等于所述第二预设阻抗变化率时，所述第一阻抗分析结果包括所述目标电池簇中电芯老化速度加快或出现微短路。其中，目标电池簇的电芯是否老化可以通过低频阻抗区域的第二阻抗分析结果判断。

对于第一预设时长(较长的时长)对应的第一阻抗变化率，可以进行对应的分析过程，对于第二预设时长(较短的时长)对应的第二阻抗变化率，可以进行对应的分析过程。第一阻抗变化率和第二阻抗变化率对应的分析过程可以同时进行，也可以先进行第一阻抗变化率的分析过程，再进行第二阻抗变化率的分析过程，还可以先进行第二阻抗变化率的分析过程，再进行第一阻抗变化率的分析过程，然后综合第一阻抗变化率对应的结果和第二阻抗变化率对应的分析结果，获得最终的第一阻抗分析结果。

示例地，所述第一阻抗变化率大于或等于第一预设阻抗变化率，且所述目标电池簇出现电芯老化，同时，所述第二阻抗变化率大于或等于第三预设阻抗变化率，第一阻抗分析结果包括两个信息：目标电池簇的老化程度信息，和目标电池簇中电芯内短路。

在本发明中，第一预设阻抗变化率、第二预设阻抗变化率和第三预设阻抗变化率可以是用户基于需求设定的，本发明不做限定。

步骤S23：根据多个所述第二阻抗谱曲线，对所述低频阻抗区域进行分析，获得第二阻抗分析结果。

需要说明的是，高频阻抗区域和低频阻抗区域的分析步骤可以是同时进行的，不具有先后顺序，即步骤S22和步骤S23可以是同时执行的，以便于同时获得对应的第一阻抗分析结果和第二阻抗分析结果。

多个所述第二阻抗谱曲线对应有不同的运行时期，按照运行时期将多个第二阻抗谱曲线排列(即按照第二阻抗谱曲线对应的预设阻抗谱曲线的获得顺序排列)，并统计多个所述第二阻抗谱曲线的变化趋势，以根据变化趋势，获得第二阻抗分析结果。

具体的，所述根据多个所述第二阻抗谱曲线，对所述低频阻抗区域进行分析，获得第二阻抗分析结果的步骤，包括：确定多个所述第二阻抗谱曲线的拟合半圆；在所述拟合半圆的直径为递增状态时，判断所述拟合半圆中是否存在在第三预设时长内直径的增长倍率大于第一预设直径增长率的直径快速增长区域；若存在所述直径快速增长区域，则在所述拟合半圆中确定出半圆直径在第四预设时长内的目标直径增长率，所述第三预设时长大于所述第四预设时长；根据所述目标直径增长率，获得所述第二阻抗分析结果。

按照运行时期将多个第二阻抗谱曲线排列，并统计多个所述第二阻抗谱曲线的变化趋势，以获得拟合半圆，拟合半圆即为多个所述第二阻抗谱曲线的变化趋势的表现形式。

第三预设时长、第四预设时长和第一预设直径增长率可以是用户基于需求设定的值，本发明不做限定。所述第三预设时长大于所述第四预设时长，第三预设时长设置较长，理解为一个较长的时长，而第四预设时长设置较短，理解为一个较短的时长，与上述第一预设时长和第二预设时长同理。

当拟合半圆的直径不呈递增状态时，确定所述低频阻抗区域阻抗正常。当拟合半圆的直径呈递增趋势，则判断所述拟合半圆中是否存在在第三预设时长内直径的增长倍率大于第一预设直径增长率的直径快速增长区域，也即，直径快速增长区域指拟合半圆中直径的增长倍率在长时间内大于或等于第一预设直径增长率的区域。

若不存在所述直径快速增长区域，则判断所述目标电池簇的高频内阻是否增长；若所述目标电池簇的高频内阻增长，则根据所述目标电池簇的高频内阻增长信息，获得所述目标电池簇的故障诊断结果，或，若所述目标电池簇的高频内阻未增长，获得所述目标电池簇的电芯老化的的故障诊断结果。

若存在直径快速增长区域，则继续进行后续步骤：在所述拟合半圆中确定出半圆直径在第四预设时长内的目标直径增长率，目标直径增长率即是指短时间的直径增长率。

具体的，所述根据所述目标直径增长率，获得所述第二阻抗分析结果的步骤，包括：在所述目标直径增长率小于第三预设直径增长率时，获得所述目标电池簇中反应阻抗正常的第二阻抗分析结果；或，在所述目标直径增长率大于或等于第四预设直径增长率时，获得所述目标电池簇中电芯慢速老化的第二阻抗分析结果，所述第四预设直径增长率大于所述第三预设直径增长率；或，在所述目标直径增长率小于所述第四预设直径增长率，且大于或等于所述第三预设半圆直径增长率时，获得所述目标电池簇中电芯老化速度加快的第二阻抗分析结果。

第三预设直径增长率和第四预设直径增长率可以是用户基于需求设定的，本发明不做限定。

参照图5，图5为本发明拟合半圆的曲线示意图，在图5中，包括异常电芯对应的异常曲线和正常电芯对应的正常曲线。正常曲线和异常曲线均有对应的近似半圆区域，即为拟合半圆。

步骤S24：根据所述第一阻抗分析结果和所述第二阻抗分析结果，获得所述故障诊断结果。

需要基于上述方法，获得对应的第一阻抗分析结果和第二阻抗分析结果，获得所述故障诊断结果，故障诊断结果综合了高频阻抗区域的第一阻抗分析结果和低频阻抗区域的第二阻抗分析结果。

参照图6，图6为本发明高频阻抗区域的诊断流程示意图。

首先，确定高频阻抗区域的阻抗变化趋势是否在短期内上下跳动且总的趋势为上升，若是，则可以确定高频阻抗区域存在连接件故障和/或焊接点疲劳失效的故障诊断结果；其中，阻抗变化趋势需要满足两个条件：短期内上下跳动和总的趋势为上升。

若否，则确定高频阻抗区域的阻抗变化趋势是否呈增长状态，若否，则确定低频阻抗区域的阻抗正常，若是，则确定第一阻抗变化率和第二阻抗变化率(按照上文方式确定，此处不在赘述)；

然后，进行第一阻抗变化率是否大于或等于第一预设阻抗变化率的判断步骤；其中，第一阻抗变化率可以是指较长的时长内的阻抗变化率；当第一阻抗变化率小于第一预设阻抗变化率时，确定低频阻抗区域的阻抗正常，当第一阻抗变化率大于或等于第一预设阻抗变化率时，继续判断目标电池簇的是否出现电芯老化；若是，则获得的故障诊断结果包括目标电池簇的电芯老化程度信息，若否，则获得的故障诊断结果包括目标电池簇的连接件故障和/或焊接点出现疲劳初期。

同时，确定第二阻抗变化率与第二预设阻抗变化率和第三预设阻抗变化率的关系，以获得对应的故障诊断结果：在所述第二阻抗变化率小于第二预设阻抗变化率时，所述第一阻抗分析结果包括所述目标电池簇中电解液阻抗增加；或，在所述第二阻抗变化率大于或等于第三预设阻抗变化率时，所述第一阻抗分析结果包括所述目标电池簇中电芯内短路，所述第三预设阻抗变化率大于所述第二预设阻抗变化率；或，在所述第二阻抗变化率小于所述第三预设阻抗变化率，且大于或等于所述第二预设阻抗变化率时，所述第一阻抗分析结果包括所述目标电池簇中电芯老化速度加快或出现微短路。

参照图7，图7为本发明低频频阻抗区域的诊断流程示意图。

首先，确定拟合半圆是指确定多个所述第二阻抗谱曲线的拟合半圆，然后判断直径是否为递增状态；若否，则数据无效，删除，可以重新获取数据，以继续确定拟合半圆；若是，则判断第三预设时长内直径的增长倍率是否大于第一预设直径增长率。

若是，则表示拟合半圆中存在在第三预设时长内直径的增长倍率大于第一预设直径增长率的直径快速增长区域；然后，继续在所述拟合半圆中确定出半圆直径在第四预设时长内的目标直径增长率，其中，所述第三预设时长大于所述第四预设时长。值得说明的是，第三预设时长可以代表较长的时长，第四预设时长可以代表较短的时长，也即直径快速增长区域可以是指较长的时长内的直径增长区域，目标直径增长倍率可以是指较短的时长内的直径增长倍率；

根据所述目标直径增长率，获得所述第二阻抗分析结果，具体包括：在所述目标直径增长率小于第三预设直径增长率时，获得所述目标电池簇中反应阻抗正常的第二阻抗分析结果；或，在所述目标直径增长率大于或等于第四预设直径增长率时，获得所述目标电池簇中电芯慢速老化的第二阻抗分析结果，所述第四预设直径增长率大于所述第三预设直径增长率；或，在所述目标直径增长率小于所述第四预设直径增长率，且大于或等于所述第三预设半圆直径增长率时，获得所述目标电池簇中电芯老化速度加快的第二阻抗分析结果。

若是，则表示拟合半圆中不存在在第三预设时长内直径的增长倍率大于第一预设直径增长率的直径快速增长区域，继续判断目标电池的高频内阻是否出现增长；若所述目标电池簇的高频内阻增长，则根据所述目标电池簇的高频内阻增长信息，获得所述目标电池簇的故障诊断结果，或，若所述目标电池簇的高频内阻未增长，获得所述目标电池簇的电芯老化的的故障诊断结果。

本发明无论对于新的储能系统，或者是对于已经投运的系统，都能进行扩展检测，通过添加AC/AC转换器可以在检测过程中通过引入小电流来对电池簇系统的运行影响较小，且系统不工作时，对系统没有任何影响；

通过对电池簇的阻抗谱曲线绘制，不仅能反应出储能变流器控制的多个并联电池簇系统的好坏，也对后续的一致性判断提供了有效的依据，并通过整个电池簇的阻抗筛选出了是由于连接或者焊接部分的问题还是电芯本身的老化所致，如果是电芯的老化所致，对于后续的健康度也有较好的指导意义；

提出了结合历史数据(不同运行时期的阻抗谱曲线)进行长时间与短时间的分析，不仅对电池簇系统的缓变过程进行了识别，也对可能突变的一些老化情形进行了预警，能全方位的对电池簇的运行与健康状态进行评估；

给出了相应的原因识别后，结合维护人员的现场排查，将两者的结果进行对比验证，并全部上传至云端，不仅可以对算法进行修正，也能将现场排查的真实原因迭代至下代产品中。

参照图6，图6为本发明电池簇的故障诊断装置第一实施例的结构框图，所述装置用于终端设备，基于与前述实施例相同的发明构思，所述装置包括：

获取模块10，用于获取目标电池簇的目标温度；

确定模块20，用于在预设曲线库中确定出与所述目标温度对应的目标阻抗谱曲线，所述预设曲线库包括不同温度对应的阻抗谱曲线，每个所述阻抗谱曲线根据不同频率的交流激励电流获得，不同频率的交流激励电流从外界电网获得；

获得模块30，用于根据所述目标阻抗谱曲线，获得所述目标电池簇的故障诊断结果。

需要说明的是，由于本实施例的装置所执行的步骤与前述方法实施例的步骤相同，其具体的实施方式以及可以达到的技术效果都可参照前述实施例，这里不再赘述。

以上所述仅为本发明的可选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是在本发明的发明构思下，利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (13)

1.一种电池簇的故障诊断方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：

获取目标电池簇的目标温度；

在预设曲线库中确定出与所述目标温度对应的目标阻抗谱曲线，所述预设曲线库包括不同温度对应的阻抗谱曲线，每个所述阻抗谱曲线根据不同频率的交流激励电流获得，不同频率的交流激励电流从外界电网获得；

根据所述目标阻抗谱曲线，获得所述目标电池簇的故障诊断结果。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述目标阻抗谱曲线包括多个目标阻抗谱曲线；根据所述目标阻抗谱曲线，获得所述目标电池簇的故障诊断结果的步骤，包括：

将每个所述目标阻抗谱曲线划分为高频阻抗区域对应的第一阻抗谱曲线和低频阻抗区域对应的第二阻抗谱曲线，以获得多个第一阻抗谱曲线和多个第二阻抗谱曲线；

根据多个所述第一阻抗谱曲线，对所述高频阻抗区域进行分析，获得第一阻抗分析结果；

根据多个所述第二阻抗谱曲线，对所述低频阻抗区域进行分析，获得第二阻抗分析结果；

根据所述第一阻抗分析结果和所述第二阻抗分析结果，获得所述故障诊断结果。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据多个所述第一阻抗谱曲线，对所述高频阻抗区域进行分析，获得第一阻抗分析结果的步骤，包括：

根据多个所述第一阻抗谱曲线，获得所述高频阻抗区域对应的阻抗变化趋势信息；

若所述阻抗变化趋势信息呈增长状态，则根据所述阻抗变化趋势信息，确定在第一预设时长内的第一阻抗变化率以及在第二预设时长内的第二阻抗变化率，所述第一预设时长大于所述第二预设时长；

根据所述第一阻抗变化率和所述第二阻抗变化率，获得所述第一阻抗分析结果。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据多个所述第二阻抗谱曲线，对所述低频阻抗区域进行分析，获得第二阻抗分析结果的步骤，包括：

确定多个所述第二阻抗谱曲线的拟合半圆；

在所述拟合半圆的直径为递增状态时，判断所述拟合半圆中是否存在在第三预设时长内直径的增长倍率大于第一预设直径增长率的直径快速增长区域；

若存在所述直径快速增长区域，则在所述拟合半圆中确定出半圆直径在第四预设时长内的目标直径增长率，所述第三预设时长大于所述第四预设时长；

根据所述目标直径增长率，获得所述第二阻抗分析结果。

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，

在所述第一阻抗变化率大于或等于第一预设阻抗变化率，且所述目标电池簇出现电芯老化时，所述第一阻抗分析结果包括所述目标电池簇的老化程度信息；或，

在所述第一阻抗变化率大于或等于第一预设阻抗变化率，且所述目标电池簇未出现电芯老化时，所述第一阻抗分析结果包括所述目标电池簇的连接件故障和/或焊点出现疲劳初期；或，

在所述第二阻抗变化率小于第二预设阻抗变化率时，所述第一阻抗分析结果包括所述目标电池簇中电解液阻抗增加；或，

在所述第二阻抗变化率大于或等于第三预设阻抗变化率时，所述第一阻抗分析结果包括所述目标电池簇中电芯内短路，所述第三预设阻抗变化率大于所述第二预设阻抗变化率；或，

在所述第二阻抗变化率小于所述第三预设阻抗变化率，且大于或等于所述第二预设阻抗变化率时，所述第一阻抗分析结果包括所述目标电池簇中电芯老化速度加快或出现微短路。

6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，所述判断所述拟合半圆中是否存在在第三预设时长内直径的增长倍率大于第一预设直径增长率的直径快速增长区域的步骤之后，所述方法还包括：

若不存在所述直径快速增长区域，则判断所述目标电池簇的高频内阻是否增长；

若所述目标电池簇的高频内阻增长，则根据所述目标电池簇的高频内阻增长信息，获得所述目标电池簇的故障诊断结果，或，

若所述目标电池簇的高频内阻未增长，获得所述目标电池簇的电芯老化的的故障诊断结果。

7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，所述根据所述目标直径增长率，获得所述第二阻抗分析结果的步骤，包括：

在所述目标直径增长率小于第三预设直径增长率时，获得所述目标电池簇中反应阻抗正常的第二阻抗分析结果；或，

在所述目标直径增长率大于或等于第四预设直径增长率时，获得所述目标电池簇中电芯慢速老化的第二阻抗分析结果，所述第四预设直径增长率大于所述第三预设直径增长率；或，

在所述目标直径增长率小于所述第四预设直径增长率，且大于或等于所述第三预设半圆直径增长率时，获得所述目标电池簇中电芯老化速度加快的第二阻抗分析结果。

8.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在预设曲线库中确定出与所述目标温度对应的目标阻抗谱曲线的步骤之前，所述方法包括：

在所述目标电池簇运行过程中，获取所述目标电池簇的运行状态信息；

若所述运行状态信息满足预设条件，则获取所述目标电池簇的工作温度；

若所述工作温度与预设温度区间匹配，则确定出与所述工作温度对应的交流激励电流的预设频率区间；

在所述工作温度下，根据所述目标电池簇在所述预设频率区间的运行工况，在所述预设频率区间中确定出多个预设频率；

根据多个所述预设频率对应的多个预设交流激励电流和所述工作温度，绘制所述工作温度对应的预设阻抗谱曲线；

将所述预设阻抗谱曲线添加到所述预设曲线库。

9.如权利要求8所述的方法，其特征在于，所述根据多个所述预设频率对应的多个预设交流激励电流和所述工作温度，绘制所述工作温度对应的预设阻抗谱曲线的步骤，包括：

在所述工作温度下，利用每个所述预设交流激励电流对所述目标电池簇进行激励，以获得每个所述预设交流激励电流对应的激励阻抗；

根据多个所述预设交流激励电流对应的多个激励阻抗，绘制所述工作温度对应的预设阻抗谱曲线。

10.如权利要求8所述的方法，其特征在于，所述将所述预设阻抗谱曲线添加到所述预设曲线库的步骤之前，所述方法还包括：

获取所述目标电池簇对应的标准温度；

根据所述标准温度，对所述预设阻抗谱曲线进行调整，以获得所述标准温度对应的调整后的预设阻抗谱曲线；

所述将所述预设阻抗谱曲线添加到所述预设曲线库的步骤，包括：

将所述调整后的预设阻抗谱曲线添加到所述预设曲线库。

11.一种电池簇的故障诊断装置，其特征在于，所述装置包括：

获取模块，用于获取目标电池簇的目标温度；

确定模块，用于在预设曲线库中确定出与所述目标温度对应的目标阻抗谱曲线，所述预设曲线库包括不同温度对应的阻抗谱曲线，每个所述阻抗谱曲线根据不同频率的交流激励电流获得，不同频率的交流激励电流从外界电网获得；

获得模块，用于根据所述目标阻抗谱曲线，获得所述目标电池簇的故障诊断结果。

12.一种终端设备，其特征在于，所述终端设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并在所述处理器上运行电池簇的故障诊断程序，所述电池簇的故障诊断程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至10中任一项所述的电池簇的故障诊断方法的步骤。

13.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质上存储有电池簇的故障诊断程序，所述电池簇的故障诊断程序被处理器执行时实现如权利要求1至10中任一项所述的电池簇的故障诊断方法的步骤。

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