CN114441879B - 辐射发射测试系统 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种辐射发射测试系统，尤其涉及电磁兼容测试技术领域，包括，采集模块，用以采集辐射发射测试时接收天线接收的电磁波，并获取电磁波的参数信息，所述电磁波的参数信息包括电磁波的振幅、波长和频率；分析模块，用以对所述电磁波的参数信息进行分析，并根据分析结果进行电磁波信号强度判定，其与所述采集模块连接，所述分析模块还用以计算电磁波的强度判断系数A，并根据强度判断系数A对电磁波的强度进行判定；控制模块，用以根据电磁波信号强度控制滤波单元对电磁波信号进行过滤，其与所述分析模块连接；判断模块，用以对EUT进行辐射强度判定，其与所述控制模块连接，本发明有效提高了辐射发射测试的测试效率。

Description

辐射发射测试系统

技术领域

本发明涉及电磁兼容测试技术领域，尤其涉及一种辐射发射测试系统。

背景技术

辐射发射测试，是测量EUT通过空间传播的辐射骚扰场强。可以分为磁场辐射、电场辐射，前者针对灯具和电磁炉，后者则应用普遍。另外，家电和电动工具、音视频产品的辅助设备有功率辐射的要求。

目前在进行辐射发射测试时，由接收天线接收辐射的电磁波信号，可能会有匹配衰减器进行阻抗匹配，再通过必要的前置放大器把接收信号放大之后，引出暗室外面馈给接收机进行信号分析。实际测试时，根据发射信号的情况，需要匹配一定的带阻或者高通的滤波器，滤除不需要的信号，满足具体测试需求，而发射信号的幅度、强度、需要滤除的有用信号强度也会随情况变化，此时就需要更换衰减器和滤波器重新连接，影响辐射发射测试效率及精确度。

发明内容

为此，本发明提供一种辐射发射测试系统，用以克服现有技术中无法根据电磁波信号强度精确控制电磁波过滤过程导致的测试效率低的问题。

为实现上述目的，本发明提供一种辐射发射测试系统，包括，

采集模块，用以采集辐射发射测试时接收天线接收的电磁波，并获取电磁波的参数信息，所述电磁波的参数信息包括电磁波的振幅、波长和频率；

分析模块，用以对所述电磁波的参数信息进行分析，并根据分析结果进行电磁波信号强度判定，其与所述采集模块连接，所述分析模块还用以计算电磁波的强度判断系数A，并根据强度判断系数A对电磁波的强度进行判定；

控制模块，用以根据电磁波信号强度控制滤波单元对电磁波信号进行过滤，其与所述分析模块连接，其中，当所述分析模块判定低强度电磁波时，所述控制模块还用以控制滤波单元接通放大器和高通滤波器，以对接收的电磁波进行放大并过滤，当所述分析模块判定中强度电磁波时，所述控制模块还用以根据测试环境中已知干扰波的数量K控制滤波单元的滤波过程，当所述分析模块判定高强度电磁波时，所述控制模块还用以控制滤波单元接通衰减器和高通滤波器，以对接收的电磁波进行衰减并过滤；

判断模块，用以对EUT进行辐射强度判定，其与所述控制模块连接，所述判断模块根据过滤后电磁波的电场强度E进行辐射强度判定。

进一步地，所述分析模块在对电磁波的参数信息进行分析时，计算电磁波的强度判断系数A，设定A＝0.5×B/B0+0.5×C/C0，B为采集到的电磁波振幅，B0为预设标准振幅，C为采集到的电磁波的频率，C0为预设标准频率，所述分析模块将计算得到的强度判断系数A与各预设强度判断系数进行比对，并根据比对结果对电磁波的强度进行判定，其中，

当A＜A1时，所述分析模块判定该电磁波为低强度电磁波；

当A1≤A＜A2时，所述分析模块判定该电磁波为中强度电磁波；

当A2≤A时，所述分析模块判定该电磁波为高强度电磁波；

其中，A1为第一预设强度判断系数，A2为第二预设强度判断系数，A1＜A2。

进一步地，所述分析模块在判定所述接收天线接收的电磁波为低强度电磁波时，所述控制模块控制滤波单元接通放大器和高通滤波器，以对接收的电磁波进行放大并过滤，所述控制模块在控制电磁波放大时，所述控制模块将获取的电磁波频率C与预设最小频率Cm进行比对，并根据比对结果设置电磁波的频率放大系数，其中，

当Cm≤C时，所述控制模块将电磁波的频率放大系数设为a1，a1为预设值，a1＞1，放大后电磁波的频率为C1，设定C1＝C×a1；

当Cm＞C时，所述控制模块将电磁波的频率放大系数设为a2，设定a2＝a1+a1×(Cm-C)/Cm，放大后电磁波的频率为C2，设定C2＝C×a2。

进一步地，所述控制模块在设置高通滤波器的限值对放大后的电磁波进行过滤时，将放大后的电磁波频率Ci与所述预设标准频率C0进行比对，设定i＝1,2，并根据比对结果设置高通滤波器的限值，其中，

当Ci≥C0时，所述控制器将高通滤波器的限值设为Cn1，Cn1为预设标准限值，Cn1＜C0；

当Ci＜C0时，所述控制器将高通滤波器的限值设为Cn2，设定Cn2＝Cn1-C0+Ci。

进一步地，所述分析模块在判定所述接收天线接收的电磁波为中强度电磁波时，所述控制模块根据测试环境中已知干扰波的数量K控制滤波单元的滤波过程，其中，

当K＝1时，若已知干扰波的频率Co≤C，所述控制模块接通高通滤波器进行滤波，并将高通滤波器的限值设为Co，若已知干扰波的频率Co＞C，所述控制模块接通带阻滤波器进行滤波，并将带阻滤波器的最小限值设为Co；

当K＞1时，所述控制模块根据已知干扰波的频率范围控制滤波单元的滤波过程。

进一步地，所述控制模块将电磁波的频率C与已知干扰波的频率极值进行比对，并根据比对结果控制滤波单元的滤波过程，其中，

当C＜C01时，所述控制模块接通带阻滤波器进行滤波；

当C01≤C≤C02时，所述控制模块接通高通滤波器和带阻滤波器同时进行滤波；

当C02＜C时，所述控制模块接通高通滤波器进行滤波；

其中，C01为已知干扰波的最小频率，C02为已知干扰波的最大频率，C01＜C02。

进一步地，所述分析模块在判定所述接收天线接收的电磁波为高强度电磁波时，所述控制模块控制滤波单元接通衰减器和高通滤波器，以对接收的电磁波进行衰减并过滤，所述控制模块在控制电磁波衰减时，所述控制模块将获取的电磁波频率C与预设最大频率Ck进行比对，并根据比对结果设置电磁波的频率衰减系数，其中，

当C≤Ck时，所述控制模块将电磁波的频率衰减系数设为b1，b1为预设值，0＜b1＜1，衰减后电磁波的频率为C11，设定C11＝C×b1；

当C＞Ck时，所述控制模块将电磁波的频率衰减系数设为b2，设定b2＝b1-b1×(C-Ck)/C，衰减后电磁波的频率为C12，设定C12＝C×b2。

进一步地，所述控制模块在设置高通滤波器的限值对衰减后的电磁波进行过滤时，将衰减后的电磁波频率C1i与所述预设标准频率C0进行比对，设定i＝1,2，并根据比对结果设置高通滤波器的限值，其中，

当C1i≥C0时，所述控制器将高通滤波器的限值设为Cn1；

当C1i＜C0时，所述控制器将高通滤波器的限值设为Cn3，设定Cn3＝Cn1-C0+C1i。

进一步地，所述控制模块在控制所述滤波单元对电磁波过滤后，所述判断模块根据过滤后电磁波产生的电场强度E进行辐射强度判定，其中，

当C＜P时，P为预设转折频率，所述判断模块将电场强度E与第一预设场强E1进行比对，若E＜E1，所述判断模块判定EUT的辐射强度满足要求，若E≥E1，所述判断模块判定EUT的辐射强度不满足要求；

当C≥P时，所述判断模块将电场强度E与第二预设场强E2进行比对，若E＜E2，所述判断模块判定EUT的辐射强度满足要求，若E≥E2，所述判断模块判定EUT的辐射强度不满足要求。

进一步地，所述滤波单元包括并联设置的衰减器、放大器、高通滤波器和带阻滤波器，且各元器件均串联有开关，以单独或组合对电磁波信号进行过滤。

与现有技术相比，本发明的有益效果在于，所述分析模块在进行参数分析时，设有电磁波的强度判断系数计算公式，通过精确计算强度判断系数以对电磁波的强度进行精确判断，本发明在设置强度判断系数计算公式时将电磁波的振幅和频率作为计算因子，有效将电磁波强度的影响因子涵盖在内，从而保证强度判定的准确度，通过将计算得到的强度判断系数与各预设值进行比对，以最终判定电磁波强度，通过进行精确的强度判断，以保证对不同强度电磁波采取不同过滤方式，从而提高辐射发射测试结果的精确度。

尤其，在对低强度电磁波进行过滤时，所述控制模块控制滤波单元接通放大器和高通滤波器以对电磁波进行过滤，通过放大器对低强度电磁波进行放大，可提高对低强度电磁波的测试精度，所述控制模块控制电磁波放大时，通过将电磁波频率与预设值进行比对设置频率放大系数，若电磁波频率大于等于预设最小电磁波频率，则选取固定值控制放大后的频率，以保证放大后的频率在预设范围内，若电磁波频率小于预设最小电磁波频率，则证明该电磁波频率过小，通过固定值进行放大无法满足需求，此时通过设置公式计算频率放大系数，以使电磁波频率越小频率放大系数越大，以保证放大后的电磁波频率在预设范围内，以便于对电磁波进一步过滤，在对电磁波放大后，所述控制模块根据放大后的电磁波频率Ci设置高通滤波器的限值，以保证频率小于Ci的杂波被滤除，通过滤除杂波以进一步提高对电磁波测试的精确度。

尤其，在对中强度电磁波进行过滤时，根据已知干扰波的数量K控制滤波单元的滤波过程，若环境中仅有一个干扰波，则根据该干扰波的频率Co控制滤波元器件的选取，若干扰波频率在电磁波频率以内则通过高通滤波器进行过滤，若干扰波频率大于电磁波频率则通过带阻滤波器进行过滤，通过精确选取不同滤波器进行过滤，可有效除去电磁波中的杂波，从而提高测试的精确度；若环境中存在多个干扰波，所述控制模块通过将电磁波的频率C与已知干扰波的频率极值比对，以选取不同元器件单独或组合进行滤波，以提高滤波的精确度，若电磁波的频率C小于干扰波频率的最小值，则通过带阻滤波器进行过滤，并根据干扰波频率最小值设置带阻滤波器的限值范围，以将干扰波完全滤除，若电磁波的频率C在干扰波的两极值中间，则需高通滤波器和带阻滤波器同时进行滤波，并根据各干扰波的频率设置两滤波元器件的限制范围，以提高滤波效率，若电磁波的频率C大于干扰波的频率最大值，则通过设置高通滤波器进行滤波即可满足需求，所述控制模块通过根据干扰波的频率控制电磁波的滤波过程，可有效过滤掉电磁波中的干扰波，从而进一步提高辐射发射测试效率。

尤其，在对高强度电磁波进行过滤时，所述控制模块控制滤波单元接通衰减器和高通滤波器以对电磁波进行过滤，通过衰减器对高强度电磁波进行衰减，以使衰减后的电磁波便于收集过滤，从而提高对高强度电磁波的测试精度，所述控制模块控制电磁波衰减时，通过将电磁波频率与预设值进行比对设置频率衰减系数，若电磁波频率小于等于预设最大电磁波频率，则选取固定值控制衰减后的频率，以保证衰减后的频率在预设范围内，若电磁波频率大于预设最大电磁波频率，则证明该电磁波频率过大，通过固定值进行衰减无法满足需求，此时通过设置公式计算频率衰减系数，以使电磁波频率越大频率衰减系数越小，以保证衰减后的电磁波频率在预设范围内，以便于对电磁波进一步过滤，在对电磁波衰减后，所述控制模块根据衰减后的电磁波频率C1i设置高通滤波器的限值，以保证频率小于C1i的杂波被滤除，通过滤除杂波以进一步提高对电磁波测试的精确度。

尤其，在对电磁波过滤后，所述判断模块根据电磁波产生的电场强度E进行辐射强度判定，所述判断模块将电磁波的频率C与预设转折频率P进行比对，根据比对结果选取不同的预设值进行辐射强度判定，通过设置不同预设场强进行比对，可有效提高对EUT辐射强度判定准确度，从而进一步提高辐射发射测试效率。

附图说明

图1为本实施例辐射发射测试系统的结构示意图。

具体实施方式

为了使本发明的目的和优点更加清楚明白，下面结合实施例对本发明作进一步描述；应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，并不用于限定本发明。

下面参照附图来描述本发明的优选实施方式。本领域技术人员应当理解的是，这些实施方式仅仅用于解释本发明的技术原理，并非在限制本发明的保护范围。

此外，还需要说明的是，在本发明的描述中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域技术人员而言，可根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

请参阅图1所示，其为本实施例辐射发射测试系统的结构示意图，所述系统包括，

采集模块，用以采集辐射发射测试时接收天线接收的电磁波，并获取电磁波的参数信息，所述电磁波的参数信息包括电磁波的振幅、波长和频率；

分析模块，用以对所述电磁波的参数信息进行分析，并根据分析结果进行电磁波信号强度判定，其与所述采集模块连接；

控制模块，用以根据电磁波信号强度控制滤波单元对电磁波信号进行过滤，其与所述分析模块连接，所述滤波单元包括并联设置的衰减器、放大器、高通滤波器和带阻滤波器，且各元器件均串联有开关，以单独或组合对电磁波信号进行过滤；

判断模块，用以对EUT进行辐射强度判定，其与所述控制模块连接。

具体而言，本实施例中在对EUT进行测试时，设有接收天线以接收EUT辐射的电磁波信号，并通过对电磁波信号进行分析以最终判断EUT的辐射强度是否满足需求，本实施例中还设有滤波单元对电磁波进行过滤，以去除影响杂波，从而提高测试结果的精确度，以提高辐射发射测试效率，且本实施例中通过设置多个元器件进行组合，可满足不同强度电磁波的滤波需求，且通过设置并联的连接方式，可有效将不同元器件分割开，以便于自由组合过滤，从而进一步提高测试结果的精确度。可以理解的是，在对EUT进行测试时，需要以不同角度不同高度进行测试，以保证测试结果的精确度，同时需对各个角度接收的电磁波均进行分析并过滤，以保证各个角度辐射的电磁波均得到有效过滤，从而进一步提高最终测试结果的精确度。

具体而言，本实施例中所述分析模块在对电磁波的参数信息进行分析时，计算电磁波的强度判断系数A，设定A＝0.5×B/B0+0.5×C/C0，B为采集到的电磁波振幅，B0为预设标准振幅，C为采集到的电磁波的频率，C0为预设标准频率，所述分析模块将计算得到的强度判断系数A与各预设强度判断系数进行比对，并根据比对结果对电磁波的强度进行判定，其中，

当A＜A1时，所述分析模块判定该电磁波为低强度电磁波；

当A1≤A＜A2时，所述分析模块判定该电磁波为中强度电磁波；

当A2≤A时，所述分析模块判定该电磁波为高强度电磁波；

其中，A1为第一预设强度判断系数，A2为第二预设强度判断系数，A1＜A2。

具体而言，本实施例中所述分析模块在进行参数分析时，设有电磁波的强度判断系数计算公式，通过精确计算强度判断系数以对电磁波的强度进行精确判断，本实施例在设置强度判断系数计算公式时将电磁波的振幅和频率作为计算因子，有效将电磁波强度的影响因子涵盖在内，从而保证强度判定的准确度，通过将计算得到的强度判断系数与各预设值进行比对，以最终判定电磁波强度，通过进行精确的强度判断，以保证对不同强度电磁波采取不同过滤方式，从而提高辐射发射测试结果的精确度。

具体而言，所述分析模块在判定所述接收天线接收的电磁波为低强度电磁波时，所述控制模块控制滤波单元接通放大器和高通滤波器，以对接收的电磁波进行放大并过滤，所述控制模块在控制电磁波放大时，所述控制模块将获取的电磁波频率C与预设最小频率Cm进行比对，并根据比对结果设置电磁波的频率放大系数，其中，

当Cm≤C时，所述控制模块将电磁波的频率放大系数设为a1，a1为预设值，a1＞1，放大后电磁波的频率为C1，设定C1＝C×a1；

当Cm＞C时，所述控制模块将电磁波的频率放大系数设为a2，设定a2＝a1+a1×(Cm-C)/Cm，放大后电磁波的频率为C2，设定C2＝C×a2。

具体而言，所述控制模块在设置高通滤波器的限值对放大后的电磁波进行过滤时，将放大后的电磁波频率Ci与所述预设标准频率C0进行比对，设定i＝1,2，并根据比对结果设置高通滤波器的限值，其中，

当Ci≥C0时，所述控制器将高通滤波器的限值设为Cn1，Cn1为预设标准限值，Cn1＜C0；

当Ci＜C0时，所述控制器将高通滤波器的限值设为Cn2，设定Cn2＝Cn1-C0+Ci。

具体而言，本实施例中在对低强度电磁波进行过滤时，所述控制模块控制滤波单元接通放大器和高通滤波器以对电磁波进行过滤，通过放大器对低强度电磁波进行放大，可提高对低强度电磁波的测试精度，所述控制模块控制电磁波放大时，通过将电磁波频率与预设值进行比对设置频率放大系数，若电磁波频率大于等于预设最小电磁波频率，则选取固定值控制放大后的频率，以保证放大后的频率在预设范围内，若电磁波频率小于预设最小电磁波频率，则证明该电磁波频率过小，通过固定值进行放大无法满足需求，此时通过设置公式计算频率放大系数，以使电磁波频率越小频率放大系数越大，以保证放大后的电磁波频率在预设范围内，以便于对电磁波进一步过滤，在对电磁波放大后，所述控制模块根据放大后的电磁波频率Ci设置高通滤波器的限值，以保证频率小于Ci的杂波被滤除，通过滤除杂波以进一步提高对电磁波测试的精确度。

具体而言，所述分析模块在判定所述接收天线接收的电磁波为中强度电磁波时，所述控制模块根据测试环境中已知干扰波的数量K控制滤波单元的滤波过程，其中，

当K＝1时，若已知干扰波的频率Co≤C，所述控制模块接通高通滤波器进行滤波，并将高通滤波器的限值设为Co，若已知干扰波的频率Co＞C，所述控制模块接通带阻滤波器进行滤波，并将带阻滤波器的最小限值设为Co；

当K＞1时，所述控制模块根据已知干扰波的频率范围控制滤波单元的滤波过程。

具体而言，所述控制模块将电磁波的频率C与已知干扰波的频率极值进行比对，并根据比对结果控制滤波单元的滤波过程，其中，

当C＜C01时，所述控制模块接通带阻滤波器进行滤波；

当C01≤C≤C02时，所述控制模块接通高通滤波器和带阻滤波器同时进行滤波；

当C02＜C时，所述控制模块接通高通滤波器进行滤波；

其中，C01为已知干扰波的最小频率，C02为已知干扰波的最大频率，C01＜C02。

具体而言，本实施例中在对中强度电磁波进行过滤时，根据已知干扰波的数量K控制滤波单元的滤波过程，若环境中仅有一个干扰波，则根据该干扰波的频率Co控制滤波元器件的选取，若干扰波频率在电磁波频率以内则通过高通滤波器进行过滤，若干扰波频率大于电磁波频率则通过带阻滤波器进行过滤，通过精确选取不同滤波器进行过滤，可有效除去电磁波中的杂波，从而提高测试的精确度；若环境中存在多个干扰波，所述控制模块通过将电磁波的频率C与已知干扰波的频率极值比对，以选取不同元器件单独或组合进行滤波，以提高滤波的精确度，若电磁波的频率C小于干扰波频率的最小值，则通过带阻滤波器进行过滤，并根据干扰波频率最小值设置带阻滤波器的限值范围，以将干扰波完全滤除，若电磁波的频率C在干扰波的两极值中间，则需高通滤波器和带阻滤波器同时进行滤波，并根据各干扰波的频率设置两滤波元器件的限制范围，以提高滤波效率，若电磁波的频率C大于干扰波的频率最大值，则通过设置高通滤波器进行滤波即可满足需求，所述控制模块通过根据干扰波的频率控制电磁波的滤波过程，可有效过滤掉电磁波中的干扰波，从而进一步提高辐射发射测试效率。

具体而言，所述分析模块在判定所述接收天线接收的电磁波为高强度电磁波时，所述控制模块控制滤波单元接通衰减器和高通滤波器，以对接收的电磁波进行衰减并过滤，所述控制模块在控制电磁波衰减时，所述控制模块将获取的电磁波频率C与预设最大频率Ck进行比对，并根据比对结果设置电磁波的频率衰减系数，其中，

当C≤Ck时，所述控制模块将电磁波的频率衰减系数设为b1，b1为预设值，0＜b1＜1，衰减后电磁波的频率为C11，设定C11＝C×b1；

当C＞Ck时，所述控制模块将电磁波的频率衰减系数设为b2，设定b2＝b1-b1×(C-Ck)/C，衰减后电磁波的频率为C12，设定C12＝C×b2。

具体而言，所述控制模块在设置高通滤波器的限值对衰减后的电磁波进行过滤时，将衰减后的电磁波频率C1i与所述预设标准频率C0进行比对，设定i＝1,2，并根据比对结果设置高通滤波器的限值，其中，

当C1i≥C0时，所述控制器将高通滤波器的限值设为Cn1；

当C1i＜C0时，所述控制器将高通滤波器的限值设为Cn3，设定Cn3＝Cn1-C0+C1i。

具体而言，本实施例中在对高强度电磁波进行过滤时，所述控制模块控制滤波单元接通衰减器和高通滤波器以对电磁波进行过滤，通过衰减器对高强度电磁波进行衰减，以使衰减后的电磁波便于收集过滤，从而提高对高强度电磁波的测试精度，所述控制模块控制电磁波衰减时，通过将电磁波频率与预设值进行比对设置频率衰减系数，若电磁波频率小于等于预设最大电磁波频率，则选取固定值控制衰减后的频率，以保证衰减后的频率在预设范围内，若电磁波频率大于预设最大电磁波频率，则证明该电磁波频率过大，通过固定值进行衰减无法满足需求，此时通过设置公式计算频率衰减系数，以使电磁波频率越大频率衰减系数越小，以保证衰减后的电磁波频率在预设范围内，以便于对电磁波进一步过滤，在对电磁波衰减后，所述控制模块根据衰减后的电磁波频率C1i设置高通滤波器的限值，以保证频率小于C1i的杂波被滤除，通过滤除杂波以进一步提高对电磁波测试的精确度。

具体而言，所述控制模块在控制所述滤波单元对电磁波过滤后，所述判断模块根据过滤后电磁波产生的电场强度E进行辐射强度判定，其中，

当C＜P时，P为预设转折频率，所述判断模块将电场强度E与第一预设场强E1进行比对，若E＜E1，所述判断模块判定EUT的辐射强度满足要求，若E≥E1，所述判断模块判定EUT的辐射强度不满足要求；

当C≥P时，所述判断模块将电场强度E与第二预设场强E2进行比对，若E＜E2，所述判断模块判定EUT的辐射强度满足要求，若E≥E2，所述判断模块判定EUT的辐射强度不满足要求。

具体而言，本实施例中在对电磁波过滤后，所述判断模块根据电磁波产生的电场强度E进行辐射强度判定，所述判断模块将电磁波的频率C与预设转折频率P进行比对，根据比对结果选取不同的预设值进行辐射强度判定，通过设置不同预设场强进行比对，可有效提高对EUT辐射强度判定准确度，从而进一步提高辐射发射测试效率。

可以理解的是，本实施例未对滤波单元的各元器件组合方式做具体限定，本领域技术人员可根据需求自由控制各元器件的组合方式，以对电磁波进行过滤，从而提高测试的精确度。

至此，已经结合附图所示的优选实施方式描述了本发明的技术方案，但是，本领域技术人员容易理解的是，本发明的保护范围显然不局限于这些具体实施方式。在不偏离本发明的原理的前提下，本领域技术人员可以对相关技术特征做出等同的更改或替换，这些更改或替换之后的技术方案都将落入本发明的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种辐射发射测试系统，其特征在于，包括，

采集模块，用以采集辐射发射测试时接收天线接收的电磁波，并获取电磁波的参数信息，所述电磁波的参数信息包括电磁波的振幅、波长和频率；

分析模块，用以对所述电磁波的参数信息进行分析，并根据分析结果进行电磁波信号强度判定，其与所述采集模块连接，所述分析模块计算电磁波的强度判断系数A，并根据强度判断系数A对电磁波的强度进行判定；

控制模块，用以根据电磁波信号强度控制滤波单元对电磁波信号进行过滤，其与所述分析模块连接，其中，当所述分析模块判定为低强度电磁波时，所述控制模块用以控制滤波单元接通放大器和高通滤波器，以对接收的电磁波进行放大并过滤，当所述分析模块判定为中强度电磁波时，所述控制模块用以根据测试环境中已知干扰波的数量K控制滤波单元的滤波过程，当所述分析模块判定为高强度电磁波时，所述控制模块用以控制滤波单元接通衰减器和高通滤波器，以对接收的电磁波进行衰减并过滤；

判断模块，用以对EUT进行辐射强度判定，其与所述控制模块连接，所述判断模块根据过滤后电磁波的电场强度E进行辐射强度判定；

所述分析模块在对电磁波的参数信息进行分析时，计算电磁波的强度判断系数A，设定A＝0.5×B/B0+0.5×C/C0，B为采集到的电磁波振幅，B0为预设标准振幅，C为采集到的电磁波的频率，C0为预设标准频率，所述分析模块将计算得到的强度判断系数A与各预设强度判断系数进行比对，并根据比对结果对电磁波的强度进行判定，其中，

当A＜A1时，所述分析模块判定该电磁波为低强度电磁波；

当A1≤A＜A2时，所述分析模块判定该电磁波为中强度电磁波；

当A2≤A时，所述分析模块判定该电磁波为高强度电磁波；

其中，A1为第一预设强度判断系数，A2为第二预设强度判断系数，A1＜A2；

所述控制模块在控制电磁波放大时，将获取的电磁波频率C与预设最小频率Cm进行比对，并根据比对结果设置电磁波的频率放大系数，其中，

当Cm≤C时，所述控制模块将电磁波的频率放大系数设为a1，a1为预设值，a1＞1，放大后电磁波的频率为C1，设定C1＝C×a1；

当Cm＞C时，所述控制模块将电磁波的频率放大系数设为a2，设定a2＝a1+a1×(Cm-C)/Cm，放大后电磁波的频率为C2，设定C2＝C×a2。

2.根据权利要求1所述的辐射发射测试系统，其特征在于，所述控制模块在设置高通滤波器的限值对放大后的电磁波进行过滤时，将放大后的电磁波频率Ci与所述预设标准频率C0进行比对，设定i＝1,2，并根据比对结果设置高通滤波器的限值，其中，

当Ci≥C0时，所述控制器将高通滤波器的限值设为Cn1，Cn1为预设标准限值，Cn1＜C0；

当Ci＜C0时，所述控制器将高通滤波器的限值设为Cn2，设定Cn2＝Cn1-C0+Ci。

3.根据权利要求1所述的辐射发射测试系统，其特征在于，所述分析模块在判定所述接收天线接收的电磁波为中强度电磁波时，所述控制模块根据测试环境中已知干扰波的数量K控制滤波单元的滤波过程，其中，

当K＝1时，若已知干扰波的频率Co≤C，所述控制模块接通高通滤波器进行滤波，并将高通滤波器的限值设为Co，若已知干扰波的频率Co＞C，所述控制模块接通带阻滤波器进行滤波，并将带阻滤波器的最小限值设为Co；

当K＞1时，所述控制模块根据已知干扰波的频率范围控制滤波单元的滤波过程。

4.根据权利要求3所述的辐射发射测试系统，其特征在于，所述控制模块将电磁波的频率C与已知干扰波的频率极值进行比对，并根据比对结果控制滤波单元的滤波过程，其中，

当C＜C01时，所述控制模块接通带阻滤波器进行滤波；

当C01≤C≤C02时，所述控制模块接通高通滤波器和带阻滤波器同时进行滤波；

当C02＜C时，所述控制模块接通高通滤波器进行滤波；

其中，C01为已知干扰波的最小频率，C02为已知干扰波的最大频率，C01＜C02。

5.根据权利要求1所述的辐射发射测试系统，其特征在于，所述控制模块在控制电磁波衰减时，将获取的电磁波频率C与预设最大频率Ck进行比对，并根据比对结果设置电磁波的频率衰减系数，其中，

当C≤Ck时，所述控制模块将电磁波的频率衰减系数设为b1，b1为预设值，0＜b1＜1，衰减后电磁波的频率为C11，设定C11＝C×b1；

当C＞Ck时，所述控制模块将电磁波的频率衰减系数设为b2，设定b2＝b1-b1×(C-Ck)/C，衰减后电磁波的频率为C12，设定C12＝C×b2。

6.根据权利要求5所述的辐射发射测试系统，其特征在于，所述控制模块在设置高通滤波器的限值对衰减后的电磁波进行过滤时，将衰减后的电磁波频率C1i与所述预设标准频率C0进行比对，设定i＝1,2，并根据比对结果设置高通滤波器的限值，其中，

当C1i≥C0时，所述控制器将高通滤波器的限值设为Cn1；

当C1i＜C0时，所述控制器将高通滤波器的限值设为Cn3，设定Cn3＝Cn1-C0+C1i。

7.根据权利要求1所述的辐射发射测试系统，其特征在于，所述控制模块在控制所述滤波单元对电磁波过滤后，所述判断模块根据过滤后电磁波产生的电场强度E进行辐射强度判定，其中，

当C＜P时，P为预设转折频率，所述判断模块将电场强度E与第一预设场强E1进行比对，若E＜E1，所述判断模块判定EUT的辐射强度满足要求，若E≥E1，所述判断模块判定EUT的辐射强度不满足要求；

当C≥P时，所述判断模块将电场强度E与第二预设场强E2进行比对，若E＜E2，所述判断模块判定EUT的辐射强度满足要求，若E≥E2，所述判断模块判定EUT的辐射强度不满足要求。

8.根据权利要求1所述的辐射发射测试系统，其特征在于，所述滤波单元包括并联设置的衰减器、放大器、高通滤波器和带阻滤波器，且各元器件均串联有开关，以单独或组合对电磁波信号进行过滤。

Images