CN114414909A - 直流自愈式金属化薄膜电容器的寿命预测方法 - Google Patents

直流自愈式金属化薄膜电容器的寿命预测方法 Download PDF

Info

Publication number
CN114414909A
CN114414909A CN202111471894.9A CN202111471894A CN114414909A CN 114414909 A CN114414909 A CN 114414909A CN 202111471894 A CN202111471894 A CN 202111471894A CN 114414909 A CN114414909 A CN 114414909A
Authority
CN
China
Prior art keywords
healing
film capacitor
self
service life
capacitance
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN202111471894.9A
Other languages
English (en)
Inventor
程璐
刘文凤
李志元
徐哲
王镜然
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Xian Jiaotong University
Original Assignee
Xian Jiaotong University
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Xian Jiaotong University filed Critical Xian Jiaotong University
Publication of CN114414909A publication Critical patent/CN114414909A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/003—Environmental or reliability tests
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D21/00—Measuring or testing not otherwise provided for
    • G01D21/02—Measuring two or more variables by means not covered by a single other subclass
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G01R27/26—Measuring inductance or capacitance; Measuring quality factor, e.g. by using the resonance method; Measuring loss factor; Measuring dielectric constants ; Measuring impedance or related variables
    • G01R27/2605—Measuring capacitance
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/12—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing
    • G01R31/1227—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing of components, parts or materials
    • G01R31/1263—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing of components, parts or materials of solid or fluid materials, e.g. insulation films, bulk material; of semiconductors or LV electronic components or parts; of cable, line or wire insulation
    • G01R31/129—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing of components, parts or materials of solid or fluid materials, e.g. insulation films, bulk material; of semiconductors or LV electronic components or parts; of cable, line or wire insulation of components or parts made of semiconducting materials; of LV components or parts
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F30/00—Computer-aided design [CAD]
    • G06F30/20—Design optimisation, verification or simulation
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F2119/00—Details relating to the type or aim of the analysis or the optimisation
    • G06F2119/02—Reliability analysis or reliability optimisation; Failure analysis, e.g. worst case scenario performance, failure mode and effects analysis [FMEA]

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Evolutionary Computation (AREA)
  • Geometry (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)

Abstract

公开了直流自愈式金属化薄膜电容器的寿命预测方法，方法中，测定直流自愈式金属化薄膜电容器试验前电容C0和试验电压Ui，进行老化试验，每间隔预定时刻测量直流自愈式金属化薄膜电容器的电容以记录不同时刻的电容值Cx及相邻测量之间的电容差ΔC；拆解直流自愈式金属化薄膜电容器获得薄膜电容器芯子；逐层拆解薄膜电容器芯子获得老化后的内部薄膜试样；统计多段试样中金属电极损失掉的面积获得不同位置处面积损失数据，对数正态分布分析面积损失数据获得拟合结果以计算平均每击穿点损失的金属电极面积Sn，失效概率Φ和寿命t在威布尔坐标纸上绘制图像获得电容器的寿命受到局部金属化薄膜自愈特性影响的模型。

Description

直流自愈式金属化薄膜电容器的寿命预测方法
技术领域
本发明属于直流自愈式金属化薄膜电容器老化技术领域，尤其涉及一种直流自愈式金属化薄膜电容器的寿命预测方法。
背景技术
金属化薄膜电容器因其纳米厚度的金属电极在介质中电弱点击穿的过程中形成的大电流的热的作用下蒸发损失后可以恢复绝缘性能而具有自愈特性。这一特性赋予金属化膜电容器高可靠性和大容量的特点，被广泛用于特高压交直流输电和柔性直流输电系统等工程领域中。在实际运行中，金属化膜的自愈过程不断发生，使得金属电极的损失导致电容器的容量下降，进而电容器的寿命终止，最终影响到电容器所处工程系统的安全可靠运行。而现有的对自愈式金属化膜电容器的寿命评估方法有限，因此探究金属化膜电容器的寿命终止的预测方法具有现实意义。
在背景技术部分中公开的上述信息仅仅用于增强对本发明背景的理解，因此可能包含不构成本领域普通技术人员公知的现有技术的信息。
发明内容
本发明的目的是提供一种直流自愈式金属化薄膜电容器的寿命预测方法。为了实现上述目的，本发明提供如下技术方案：
本发明的一种直流自愈式金属化薄膜电容器的寿命预测方法包括：
第一步骤，测定直流自愈式金属化薄膜电容器试验前电容C0和试验电压Ui，进行老化试验，每间隔预定时刻测量直流自愈式金属化薄膜电容器的电容以记录不同时刻的电容值Cx及相邻测量之间的电容差ΔC，当直流自愈式金属化薄膜电容器的电容值Cx下降到试验前电容C0的预定比例，停止老化试验；
第二步骤，拆解直流自愈式金属化薄膜电容器获得薄膜电容器芯子；逐层拆解薄膜电容器芯子获得老化后的内部薄膜试样，并测量其介质厚度d和介质的相对介电常数εr，从远离内部薄膜试样的轴心位置依次间隔选取多段相同长度和宽度的试样；统计多段试样中金属电极损失掉的面积获得不同位置处面积损失数据，对数正态分布分析所述面积损失数据获得拟合结果以计算平均每击穿点损失的金属电极面积Sa；
第三步骤，根据公式
Figure BDA0003391403920000011
计算得到每预定时刻等效损失的金属电极的面积，根据公式
Figure BDA0003391403920000012
计算得到每预定时刻等效发生自愈的次数，即为寿命t的试样数目，根据ROSS函数
Figure BDA0003391403920000021
计算得到寿命t对应的失效概率Φ，其中ROSS函数中i取寿命t相应的ni，n取∑ni，所述失效概率Φ和寿命t在威布尔坐标纸上绘制图像获得电容器的寿命受到局部金属化薄膜自愈特性影响的模型。
所述的一种直流自愈式金属化薄膜电容器的寿命预测方法中，所述模型为近似线性相关的曲线。
所述的一种直流自愈式金属化薄膜电容器的寿命预测方法中，模型的公式为ln(-ln(1-Φ(t，E)))＝ln cEb+a ln t，其中E为外施电场的有效值，a、b、c为与温度和环境相关的材料常数。
所述的一种直流自愈式金属化薄膜电容器的寿命预测方法中，失效概率为r，获得外施电场为Ei下的可靠寿命tr_i，根据反幂定律拟合分析外施电场的有效值Ei和可靠寿命tr_i之间的关系，其中可靠寿命tr_i根据所述模型公式中对于在外施电场Ei作用下失效概率Φ(t，E)取r时的预测寿命，进而可以得出不同外施电场下电容的失效概率为r的寿命公式，最终预测出实际工作电压下，电容的失效概率为r的寿命。其中，失效概率r视实际情况选取不同值。
所述的一种直流自愈式金属化薄膜电容器的寿命预测方法中，所述预定时刻为24小时，寿命t为24×i小时的试样的数目为ni，
Figure BDA0003391403920000022
所述的一种直流自愈式金属化薄膜电容器的寿命预测方法中，第一步骤中，预定比例为95％。
所述的一种直流自愈式金属化薄膜电容器的寿命预测方法中，第二步骤中，从远离内部薄膜试样的轴心位置依次在内层、次内层、中层、次外层和外层选取五段相同长度和宽度的试样。
所述的一种直流自愈式金属化薄膜电容器的寿命预测方法中，第二步骤中，面积损失数据包括击穿点数N、各击穿点损失面积S、击穿点的位置信息。
在上述技术方案中，本发明提供的一种直流自愈式金属化薄膜电容器的寿命预测方法，具有以下有益效果：金属化薄膜电容器的自愈特性造成的局部金属薄膜损失是造成整体电容器容量下降的主要原因，预测整体电容器的寿命终止时间具有困难。本发明所述的一种直流自愈式金属化薄膜电容器的寿命预测方法，结合电力电子电容器的寿命终止要求和介质击穿的累计概率分布，基于加速老化试验的直流工况下进行自愈式金属化薄膜电容器的寿命预测，操作简便，预测精度高。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明中直流自愈式金属化薄膜电容器的寿命预测方法的拆解电容器内部薄膜试样的位置示意图；
图2为本发明中直流自愈式金属化薄膜电容器的寿命预测方法的加速老化试验的电容变化示意图；
图3为本发明中直流自愈式金属化薄膜电容器的寿命预测方法的不同电压下电容器失效概率Φ和寿命t的关系示意图；
图4为本发明中直流自愈式金属化薄膜电容器的寿命预测方法的模型获得的可靠寿命与外施电压的关系示意图。
具体实施方式
为使本发明实施方式的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施方式对本发明实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施方式是本发明一部分实施方式，而不是全部的实施方式。基于本发明中的实施方式，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式，都属于本发明保护的范围。
因此，以下对在附图1至图4中提供的本发明的实施方式的详细描述并非旨在限制要求保护的本发明的范围，而是仅仅表示本发明的选定实施方式。基于本发明中的实施方式，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式，都属于本发明保护的范围。
应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。
在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的设备或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
在本发明中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
为了使本领域的技术人员更好地理解本发明的技术方案，下面将结合附图对本发明作进一步的详细介绍。一种直流自愈式金属化薄膜电容器的寿命预测方法包括，
第一步骤，测定直流自愈式金属化薄膜电容器试验前电容C0和试验电压Ui，进行老化试验，每间隔预定时刻测量直流自愈式金属化薄膜电容器的电容以记录不同时刻的电容值Cx及相邻测量之间的电容差ΔC，当直流自愈式金属化薄膜电容器的电容值Cx下降到试验前电容C0的预定比例，停止老化试验；
第二步骤，拆解直流自愈式金属化薄膜电容器获得薄膜电容器芯子；逐层拆解薄膜电容器芯子获得老化后的内部薄膜试样，并测量其介质厚度d和介质的相对介电常数εr，从远离内部薄膜试样的轴心位置依次间隔选取多段相同长度和宽度的试样；统计多段试样中金属电极损失掉的面积获得不同位置处面积损失数据，对数正态分布分析所述面积损失数据获得拟合结果以计算平均每击穿点损失的金属电极面积Sa；
第三步骤，根据公式
Figure BDA0003391403920000041
计算得到每预定时刻等效损失的金属电极的面积，根据公式
Figure BDA0003391403920000042
计算得到每预定时刻等效发生自愈的次数，即为寿命t的试样数目，根据ROSS函数
Figure BDA0003391403920000043
计算得到寿命t对应的失效概率Φ，其中ROSS函数中i取寿命t相应的ni，n取∑ni，所述失效概率Φ和寿命t在威布尔坐标纸上绘制图像获得电容器的寿命受到局部金属化薄膜自愈特性影响的模型。
所述的一种直流自愈式金属化薄膜电容器的寿命预测方法的优选实施方式中，所述模型为近似线性相关的曲线。
所述的一种直流自愈式金属化薄膜电容器的寿命预测方法的优选实施方式中，模型的公式为ln(-ln(1-Φ(t，E)))＝ln cEb+a ln t，其中E为外施电场的有效值，a、b、c为与温度和环境相关的材料常数。
所述的一种直流自愈式金属化薄膜电容器的寿命预测方法的优选实施方式中，失效概率为r，获得外施电场为Ei下的可靠寿命tr_i，根据反幂定律拟合分析外施电场的有效值Ei和可靠寿命tr_i之间的关系。
所述的一种直流自愈式金属化薄膜电容器的寿命预测方法的优选实施方式中，所述预定时刻为24小时，寿命t为24×i小时的试样的数目为ni，
Figure BDA0003391403920000051
所述的一种直流自愈式金属化薄膜电容器的寿命预测方法的优选实施方式中，第一步骤中，预定比例为95％。
所述的一种直流自愈式金属化薄膜电容器的寿命预测方法的优选实施方式中，第二步骤中，从远离内部薄膜试样的轴心位置依次在内层、次内层、中层、次外层和外层选取五段相同长度和宽度的试样。
所述的一种直流自愈式金属化薄膜电容器的寿命预测方法的优选实施方式中，第二步骤中，面积损失数据包括击穿点数N、各击穿点损失面积S、击穿点的位置信息。
在一个实施例中，寿命预测方法包括加速老化试验、损失面积统计和寿命模型分析，其中，
所述加速老化试验包括以下步骤：
1.取数支实验电容器，测定试验前电容C0；
2.确定的试验电压Ui；
3.对电容器试样进行预处理，而后维持不同实验组的实验温度相同，开始老化试验，在实验过程中确保电压稳定；
4.对老化中的电容器每间隔24小时进行一次电容测量，记录不同时刻的电容值和Cx两次测量之间的ΔC；
5.当电容器容量下降到试验前电容C0的95％，停止试验。
所述损失面积统计包括以下步骤：
1.对上述加速老化试验后的电容器进行外壳拆解，获得薄膜电容器芯子；
2.对获得的薄膜电容器芯子进行逐层拆解，获得全部的老化后的内部薄膜试样，并测量其介质厚度d和介质的相对介电常数εr，真空恒温保存；
3.对上述全部的内部薄膜试样进行取样，从远离轴心位置开始，如图1依次在内层、次内层、中层、次外层和外层选取五段相同长度和宽度的试样；
4.对上述五段试样中，金属电极损失掉的面积进行统计，获得不同位置处面积损失数据，数据包括击穿点数N、各击穿点损失面积S、击穿点的位置信息；
5.利用对数正态分布对上述面积损失数据进行分析，获得拟合结果，计算平均每击穿点损失的金属电极面积Sa。
所述的寿命模型分析包括以下步骤：
1.根据公式
Figure BDA0003391403920000061
计算得到每24小时等效损失的金属电极的面积；
2.根据公式
Figure BDA0003391403920000062
计算得到每24小时等效发生自愈的次数，也就是寿命t为24×i小时的试样的数目为ni；
3.根据ROSS函数
Figure BDA0003391403920000063
可以计算得到寿命T对应的失效概率Φ，其中ROSS函数中i取寿命t相应的ni，n取∑ni；
4.将上述获得的失效概率Φ和寿命t在威布尔坐标纸上绘制图像，可以获得近似线性相关的曲线，也即建立起整体电容器的寿命受到局部金属化薄膜自愈特性影响的模型，公式可以表述为ln(-ln(1-Φ(t，E)))＝ln cEb+a ln t，其中E为外施电场的有效值，a、b、c为与温度和环境相关的材料常数；
5.基于上述模型，取失效概率为r，可以获得外施电场为Ei下的可靠寿命tr_i；
6.根据加速老化试验的反幂定律，可以拟合分析Ei和可靠寿命tr_i之间的关系，进而预测得知实际工作电压下的金属化薄膜电容器的失效概率为r的可靠寿命tr。
下面以某一具体实例对本发明进行说明。
加速老化试验：
1.取电容器额定电压的1.4倍、1.5倍、1.6倍、1.7倍和1.8倍五组电压值，每组均取三支电容器，进行老化试验。
2.每隔24小时测量电容，绘制得图2。
损失面积统计：
1.测得介质厚度为5.8μm，相对介电常数取2.2；
2.计算得不同电压下平均每击穿点损失的金属电极面积Sa，如表1所示。
表1不同电压下平均每击穿点损失的金属电极面积
Figure BDA0003391403920000064
寿命模型分析：
1.获得威布尔坐标纸上失效概率Φ和寿命t，如图3所示，不同电压下两者之间的线性相关系数R2如表2所示，据此可以认为此模型较好的反映了电容器局部自愈特性对整体寿命的影响；
表2不同电压下失效概率和寿命的线性相关系数
Figure BDA0003391403920000071
2.取失效概率为95％获得其不同外施电压下的可靠寿命，并绘制图像如图4所示，预测得电压U下电容器的寿命为20627小时。
最后应该说明的是：所描述的实施例仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例，基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其它实施例，都属于本申请保护的范围。
以上只通过说明的方式描述了本发明的某些示范性实施例，毋庸置疑，对于本领域的普通技术人员，在不偏离本发明的精神和范围的情况下，可以用各种不同的方式对所描述的实施例进行修正。因此，上述附图和描述在本质上是说明性的，不应理解为对本发明权利要求保护范围的限制。

Claims (8)

1.一种直流自愈式金属化薄膜电容器的寿命预测方法，其特征在于，其包括以下步骤：
第一步骤，测定直流自愈式金属化薄膜电容器试验前电容C0和试验电压Ui，进行老化试验，每间隔预定时刻测量直流自愈式金属化薄膜电容器的电容以记录不同时刻的电容值Cx及相邻测量之间的电容差ΔC，当直流自愈式金属化薄膜电容器的电容值Cx下降到试验前电容C0的预定比例，停止老化试验；
第二步骤，拆解直流自愈式金属化薄膜电容器获得薄膜电容器芯子；逐层拆解薄膜电容器芯子获得老化后的内部薄膜试样，并测量其介质厚度d和介质的相对介电常数εr，从远离内部薄膜试样的轴心位置依次间隔选取多段相同长度和宽度的试样；统计多段试样中金属电极损失掉的面积获得不同位置处面积损失数据，对数正态分布分析所述面积损失数据获得拟合结果以计算平均每击穿点损失的金属电极面积Sa；
第三步骤，根据公式
Figure FDA0003391403910000011
计算得到每预定时刻等效损失的金属电极的面积，根据公式
Figure FDA0003391403910000012
计算得到每预定时刻等效发生自愈的次数，即为寿命t的试样数目，根据ROSS函数
Figure FDA0003391403910000013
计算得到寿命t对应的失效概率Φ，其中ROSS函数中i取寿命t相应的ni，n取∑ni，所述失效概率Φ和寿命T在威布尔坐标纸上绘制图像获得电容器的寿命受到局部金属化薄膜自愈特性影响的模型。
2.根据权利要求1所述的一种直流自愈式金属化薄膜电容器的寿命预测方法，其特征在于，优选的，所述模型为近似线性相关的曲线。
3.根据权利要求1所述的一种直流自愈式金属化薄膜电容器的寿命预测方法，其特征在于，模型的公式为ln(-ln(1-Φ(t，E)))＝ln cEb+a ln t，其中E为外施电场的有效值，a、b、c为与温度和环境相关的材料常数。
4.根据权利要求3所述的一种直流自愈式金属化薄膜电容器的寿命预测方法，其特征在于，基于失效概率Φ为r，获得外施电场为Ei下的可靠寿命tr_i，根据反幂定律
Figure FDA0003391403910000014
拟合分析外施电场的有效值Ei和可靠寿命tr_i之间的关系，得出不同外施电场下电容的失效概率Φ为r的寿命公式，最终预测出实际工作电压下，电容的失效概率为r的寿命。
5.根据权利要求1所述的一种直流自愈式金属化薄膜电容器的寿命预测方法，其特征在于，所述预定时刻为24小时，寿命t为24×i小时的试样的数目为ni，
Figure FDA0003391403910000021
6.根据权利要求1所述的一种直流自愈式金属化薄膜电容器的寿命预测方法，其特征在于，第一步骤中，预定比例为95％。
7.根据权利要求1所述的一种直流自愈式金属化薄膜电容器的寿命预测方法，其特征在于，第二步骤中，从远离内部薄膜试样的轴心位置依次在内层、次内层、中层、次外层和外层选取五段相同长度和宽度的试样。
8.根据权利要求1所述的一种直流自愈式金属化薄膜电容器的寿命预测方法，其特征在于，第二步骤中，面积损失数据包括击穿点数N、各击穿点损失面积S、击穿点的位置信息。
CN202111471894.9A 2021-11-26 2021-12-03 直流自愈式金属化薄膜电容器的寿命预测方法 Pending CN114414909A (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202111428310X 2021-11-26
CN202111428310 2021-11-26

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN114414909A true CN114414909A (zh) 2022-04-29

Family

ID=81265510

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202111471894.9A Pending CN114414909A (zh) 2021-11-26 2021-12-03 直流自愈式金属化薄膜电容器的寿命预测方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN114414909A (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116380766A (zh) * 2023-04-10 2023-07-04 铜陵诚峰电子科技有限公司 一种检验电容器金属化薄膜抗氧化性的方法
CN117390348A (zh) * 2023-12-08 2024-01-12 国网安徽省电力有限公司电力科学研究院 金属化薄膜电容器容量衰减处理方法及系统

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116380766A (zh) * 2023-04-10 2023-07-04 铜陵诚峰电子科技有限公司 一种检验电容器金属化薄膜抗氧化性的方法
CN116380766B (zh) * 2023-04-10 2024-02-23 铜陵诚峰电子科技有限公司 一种检验电容器金属化薄膜抗氧化性的方法
CN117390348A (zh) * 2023-12-08 2024-01-12 国网安徽省电力有限公司电力科学研究院 金属化薄膜电容器容量衰减处理方法及系统
CN117390348B (zh) * 2023-12-08 2024-04-02 国网安徽省电力有限公司电力科学研究院 金属化薄膜电容器容量衰减处理方法及系统

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Gupta et al. A review of degradation behavior and modeling of capacitors
CN114414909A (zh) 直流自愈式金属化薄膜电容器的寿命预测方法
JP4121430B2 (ja) 電気機器の絶縁診断方法
CN102033182A (zh) 一种固体钽电解电容器寿命预测方法
Torki et al. Electrolytic capacitor: Properties and operation
CN113655315B (zh) 超级电容剩余寿命综合评估方法、系统、装置及介质
CN113655314B (zh) 一种超级电容循环寿命预测方法、系统、装置及介质
US6469516B2 (en) Method for inspecting capacitors
CN112462288B (zh) 一种基于电池表面温度变化值的锂离子电池健康状态估算方法
Hewitt et al. Observation of electrolytic capacitor ageing behaviour for the purpose of prognostics
Kobayashi et al. Reliability evaluation and failure analysis for multilayer ceramic chip capacitors
US9829453B2 (en) Apparatus for assessing the quality of membrane electrode assemblies
Dignam et al. DETERMINATION OF THE FIELD DEPENDENCE OF THE TAFEL SLOPE FOR THE STEADY-STATE ANODIC OXIDATION OF ALUMINIUM
Pan et al. Poole–Frenkel emission saturation and its effects on time-to-failure in ta-ta2O5-mno2 capacitors
CN109269866A (zh) 快速判定电容器用聚丙烯薄膜电热老化的方法及其应用和验证方法
Chmura et al. Life curves for new and thermally aged oil-impregnated paper insulation
Zanobini et al. Automatic-test equipment for the characterization of aluminum electrolytic capacitors
CN114543896A (zh) 基于温漂电参数的容性设备介质含水量与老化评估方法
CN113721111A (zh) 电缆绝缘层老化程度的测试方法和装置
Hickmott Temperature dependence of the dielectric response of anodized Al–Al 2 O 3–metal capacitors
JPS61223544A (ja) 多層構造の分析方法
Gupta A Study of Degradation Modeling and Lifetime Estimation of Capacitors
CN112698124B (zh) 极性介质干式高压电容器是否符合预期寿命的判断方法
CN112946412B (zh) 一种电容器的筛选应力的选择方法
CN115561592A (zh) 一种基于时域介电谱的油纸绝缘老化程度精确评估方法

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination