CN113721111A - 电缆绝缘层老化程度的测试方法和装置 - Google Patents
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Abstract
本申请提供了一种电缆绝缘层老化程度的测试方法和装置，该方法包括：测试至少三个直流偏压下待测试电缆绝缘层的介电常数，得到至少三个目标介电常数；根据直流偏压和目标介电常数确定待测试电缆绝缘层的介电常数的变化率，介电常数的变化率用于表征待测试电缆绝缘层的老化程度。由于根据测试研究发现介电常数的变化率与电缆绝缘层的热老化处理时间正相关，该测试方法根据介电常数的变化率可以准确评估待测试电缆绝缘层的老化程度，以解决现有技术中电缆绝缘层的历史数据未知导致老化程度的评估不准确的问题。
Description
技术领域
本申请涉及电力设备电气绝缘检测领域，具体而言，涉及一种电缆绝缘层老化程度的测试方法、装置、计算机可读存储介质和处理器。
背景技术
交联聚乙烯绝缘电缆凭借着优良的电气和理化性能，被广泛应用于电力输电系统。在长期的运行过程中，电缆绝缘材料会受到多种因素的作用发生老化，其性能也会下降，影响电力系统的安全性与可靠性。交联聚乙烯电缆的设计使用时间一般为30～40年，目前我国已经有许多线路处于设计使用时间的中后期，因此有必要对交联聚乙烯电缆绝缘老化状态进行评估。
目前对电缆绝缘老化状态的评估通常是利用多种测试技术获得能够表征材料结构和性能劣化的特征量，例如通过拉伸试验获得断裂伸长率，通过扫描电子显微镜观测晶体形态，又或是通过电学性能测试获得击穿场强、介质损耗因数等电学参数。然而，由于各条线路的电缆在生产厂家、原料组成、生产工艺等方面存在差异，因此投入运行前电缆绝缘的性能数值各不相同，运行维护部门也无法准确得知相应线路电缆在未投入运行时的历史数据。因此，只知道目标试样在测试时刻的性能参数很难准确判断电缆绝缘的老化程度，即难以解决试样历史数据未知导致的状态评估不准确的问题。
在背景技术部分中公开的以上信息只是用来加强对本文所描述技术的背景技术的理解，因此，背景技术中可能包含某些信息，这些信息对于本领域技术人员来说并未形成在本国已知的现有技术。
发明内容
本申请的主要目的在于提供一种电缆绝缘层老化程度的测试方法、装置、计算机可读存储介质和处理器，以解决现有技术中电缆绝缘层的历史数据未知导致老化程度的评估不准确的问题。
根据本发明实施例的一个方面，提供了一种电缆绝缘层老化程度的测试方法包括：测试至少三个直流偏压下待测试电缆绝缘层的介电常数，得到至少三个目标介电常数；根据所述直流偏压和所述目标介电常数确定所述待测试电缆绝缘层的介电常数的变化率，所述介电常数的变化率用于表征所述待测试电缆绝缘层的老化程度。
可选地，测试至少三个直流偏压下待测试电缆绝缘层的介电常数，包括：获取测试样品，所述测试样品为待测试电缆绝缘层和分别贴附在第一表面和第二表面的两个金属电极形成的，所述第一表面和所述第二表面为所述待测试电缆绝缘层的厚度方向相对的两个表面；依次将至少三个所述直流偏压施加在所述测试样品的两个所述金属电极上，测试得到至少三个所述目标介电常数。
可选地，根据所述直流偏压和所述目标介电常数确定所述待测试电缆绝缘层的介电常数的变化率，包括：根据至少三个所述直流偏压和所述待测试电缆绝缘层的厚度计算得到至少三个电场强度，所述电场强度为所述直流偏压和所述厚度的比值；根据至少三个所述电场强度和对应的所述目标介电常数确定散点图，所述散点图为所述电场强度和所述目标介电常数的散点图；对所述散点图进行线性拟合，得到拟合直线；计算所述拟合直线的斜率，得到所述待测试电缆绝缘层的介电常数的变化率。
根据本发明实施例的另一方面，还提供了一种电缆绝缘层老化程度的测试装置，包括：测试单元，用于测试至少三个直流偏压下待测试电缆绝缘层的介电常数，得到至少三个目标介电常数；确定单元，用于根据所述直流偏压和所述目标介电常数确定所述待测试电缆绝缘层的介电常数的变化率，所述介电常数的变化率用于表征所述待测试电缆绝缘层的老化程度。
可选地，测试至少三个直流偏压下待测试电缆绝缘层的介电常数，包括：获取模块，用于获取测试样品，所述测试样品为待测试电缆绝缘层和分别贴附在第一表面和第二表面的两个金属电极形成的，所述第一表面和所述第二表面为所述待测试电缆绝缘层的厚度方向相对的两个表面；测试模块，用于依次将至少三个所述直流偏压施加在所述测试样品的两个所述金属电极上，测试得到至少三个所述目标介电常数。
可选地，根据所述直流偏压和所述目标介电常数确定所述待测试电缆绝缘层的介电常数的变化率，包括：第一计算模块，用于根据至少三个所述直流偏压和所述待测试电缆绝缘层的厚度计算得到至少三个电场强度，所述电场强度为所述直流偏压和所述厚度的比值；确定模块，用于根据至少三个所述电场强度和对应的所述目标介电常数确定散点图，所述散点图为所述电场强度和所述目标介电常数的散点图；处理模块，用于对所述散点图进行线性拟合，得到拟合直线；第二计算模块，用于计算所述拟合直线的斜率，得到所述待测试电缆绝缘层的介电常数的变化率。
根据本发明实施例的再一方面，还提供了一种计算机可读存介质，所述计算机可读存储介质包括存储的程序，其中，所述程序执行任意一种所述的测试方法。
根据本发明实施例的又一方面，还提供了一种处理器，所述处理器用于运行程序，其中，所述程序运行时执行任意一种所述的测试方法。
在本发明实施例中，上述电缆绝缘层老化程度的测试方法中，首先，测试至少三个直流偏压下待测试电缆绝缘层的介电常数，得到至少三个目标介电常数；然后，根据上述直流偏压和上述目标介电常数确定上述待测试电缆绝缘层的介电常数的变化率，上述介电常数的变化率用于表征上述待测试电缆绝缘层的老化程度。该测试方法通过测试待测试电缆绝缘层不同流偏压下的介电常数，并至少三个介电常数确定介电常数的变化率，以通过介电常数的变化率用于表征上述待测试电缆绝缘层的老化程度，由于根据测试研究发现介电常数的变化率与电缆绝缘层的热老化处理时间正相关，从而根据介电常数的变化率可以准确评估待测试电缆绝缘层的老化程度，解决了现有技术中试样历史数据未知导致电缆绝缘层老化程度的评估不准确的问题。
附图说明
构成本申请的一部分的说明书附图用来提供对本申请的进一步理解，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：
图1示出了根据本申请实施例的电场强度和目标介电常数的散点图；
图2示出了根据本申请实施例的在直流偏压下介电常数变化率随老化时间的变化曲线图；
图3示出了根据本申请实施例的电缆绝缘层老化程度的测试方法流程图；
图4示出了根据本申请实施例的电缆绝缘层老化程度的测试装置的示意图。
具体实施方式
需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本申请。
为了使本技术领域的人员更好地理解本申请方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本申请保护的范围。
需要说明的是，本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施例。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
应该理解的是，当元件(诸如层、膜、区域、或衬底)描述为在另一元件“上”时，该元件可直接在该另一元件上，或者也可存在中间元件。而且，在说明书以及权利要求书中，当描述有元件“连接”至另一元件时，该元件可“直接连接”至该另一元件，或者通过第三元件“连接”至该另一元件。
正如背景技术中所说的，现有技术中的由于各条线路的电缆在生产厂家、原料组成、生产工艺等方面存在差异，因此投入运行前电缆绝缘的性能数值各不相同，运行维护部门也无法准确得知相应线路电缆在未投入运行时的历史数据，为了解决上述问题，本申请的一种典型的实施方式中，提供了一种电缆绝缘层老化程度的测试方法、装置、计算机可读存储介质和处理器。
根据测试研究发现介电常数的变化率与电缆绝缘层的热老化处理时间正相关，上述测试研究涉及到的待测试电缆绝缘层取自一种110kV交联聚乙烯电缆绝缘。具体的测试方法如下：
准备待测试样品：将对交联聚乙烯电缆绝缘进行切片，获得圆形试样，其厚度为0.5mm直径为50mm，用无水乙醇清除表面杂质，干燥后作为老化状态表征的试样，切片后在155℃下进行加速热老化实验，老化时间为72h、216h与288h，加上未老化试样一共四种试样；
制作电极：对试样的第一表面和第二表面进行离子溅射，形成两个金属电极，试样的有效电极的直径为30mm；
测量直流偏压下的介电常数：将测试样品放置在介电谱测试系统中，设置测试温度、频率和电压，启动介电谱测试仪，测量交联聚乙烯电缆绝缘的介电常数，获得不同电场强度下测试样品的介电常数，如图1所示。其中，介电谱测试仪采用Novocontrol concept80介电谱测试仪；本实施例的测试温度为20℃，频率设置为10Hz，交流电压为1V，设置直流电压U为0.1、0.3、0.5、0.7和0.9kV；
计算直流偏压下介电常数的变化率：根据图1中不同直流偏压下测试得到的目标介电常数，计算直流偏压下试样的介电常数的变化率，其中为直流电压下的电场强度。以电场强度为横坐标，对应的目标介电常数为纵坐标，绘制电场强度和目标介电常数的散点图关系图，线性拟合后获得的斜率即为直流偏压下介电常数的变化率。
老化状态评估：如图2所示，在直流偏压下介电常数的变化率，判断交联聚乙烯电缆绝缘的老化状态。直流偏压下介电常数的变化率越大，交联聚乙烯电缆绝缘的老化程度越严重。如图1和2所示，未老化电缆绝缘层的介电常数随直流电场的增大基本保持不变，介电常数随直流电场的增大基本保持不变，介电常数的变化率约为0.003；随着老化时间的增长，外加直流偏压对交联聚乙烯电缆绝缘试样介电常数的影响逐渐增大，即介电常数的变化率增大，经过288h热老化的交联聚乙烯试样，其介电常数的变化率增大为0.026，是未老化电缆绝缘层的9倍，可见，介电常数的变化率与电缆绝缘层的热老化处理时间正相关。
根据本申请的实施例，提供了一种电缆绝缘层老化程度的测试方法。
图3是根据本申请实施例的电缆绝缘层老化程度的测试方法的流程图。如图3所示，该方法包括以下步骤：
步骤S101，测试至少三个直流偏压下待测试电缆绝缘层的介电常数，得到至少三个目标介电常数；
步骤S102，根据上述直流偏压和上述目标介电常数确定上述待测试电缆绝缘层的介电常数的变化率，上述介电常数的变化率用于表征上述待测试电缆绝缘层的老化程度。
上述电缆绝缘层老化程度的测试方法中，首先，测试至少三个直流偏压下待测试电缆绝缘层的介电常数，得到至少三个目标介电常数；然后，根据上述直流偏压和上述目标介电常数确定上述待测试电缆绝缘层的介电常数的变化率，上述介电常数的变化率用于表征上述待测试电缆绝缘层的老化程度。该测试方法通过测试待测试电缆绝缘层不同流偏压下的介电常数，并至少三个介电常数确定介电常数的变化率，以通过介电常数的变化率用于表征上述待测试电缆绝缘层的老化程度，由于根据测试研究发现介电常数的变化率与电缆绝缘层的热老化处理时间正相关，从而根据介电常数的变化率可以准确评估待测试电缆绝缘层的老化程度，解决了现有技术中试样历史数据未知导致电缆绝缘层老化程度的评估不准确的问题。
需要说明的是，在附图的流程图示出的步骤的可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行，并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。
本申请的一种实施例中，测试至少三个直流偏压下待测试电缆绝缘层的介电常数，包括：获取测试样品，上述测试样品为待测试电缆绝缘层和分别贴附在第一表面和第二表面的两个金属电极形成的，上述第一表面和上述第二表面为上述待测试电缆绝缘层的厚度方向相对的两个表面；依次将至少三个上述直流偏压施加在上述测试样品的两个上述金属电极上，测试得到至少三个上述目标介电常数。该实施例中，对上述待测试电缆绝缘层的第一表面和第二表面进行离子溅射，形成两个金属电极，将测试样品放置在介电谱测试系统中，并输入测试样品信息和厚度，设置测试温度、频率和直流偏压，并启动介电谱测试仪，得到所需目标介电常数，其中需对测试样品施加不同的直流偏压以得到不同的目标介电常数。
本申请的一种实施例中，根据上述直流偏压和上述目标介电常数确定上述待测试电缆绝缘层的介电常数的变化率，包括：根据至少三个上述直流偏压和上述待测试电缆绝缘层的厚度计算得到至少三个电场强度，上述电场强度为上述直流偏压和上述厚度的比值；根据至少三个上述电场强度和对应的上述目标介电常数确定散点图，上述散点图为上述电场强度和上述目标介电常数的散点图；对上述散点图进行线性拟合，得到拟合直线；计算上述拟合直线的斜率，得到上述待测试电缆绝缘层的介电常数的变化率。该实施例中，上述电场强度为直流电压下的电场强度，以电场强度为横坐标，对应的目标介电常数为纵坐标，绘制电场强度和上述目标介电常数的散点图，对上述散点图进行线性拟合，并计算上述拟合直线的斜率，得到上述待测试电缆绝缘层的介电常数的变化率。
本申请实施例还提供了一种电缆绝缘层老化程度的测试装置，需要说明的是，本申请实施例的电缆绝缘层老化程度的测试装置可以用于执行本申请实施例所提供的用于电缆绝缘层老化程度的测试方法。以下对本申请实施例提供的电缆绝缘层老化程度的测试装置进行介绍。
图4是根据本申请实施例的电缆绝缘层老化程度的测试装置的示意图。如图4所示，该装置包括：
测试单元10，用于测试至少三个直流偏压下待测试电缆绝缘层的介电常数，得到至少三个目标介电常数；
确定单元20，用于根据上述直流偏压和上述目标介电常数确定上述待测试电缆绝缘层的介电常数的变化率，上述介电常数的变化率用于表征上述待测试电缆绝缘层的老化程度。
上述电缆绝缘层老化程度的测试装置中，测试单元，用于测试至少三个直流偏压下待测试电缆绝缘层的介电常数，得到至少三个目标介电常数；确定单元，用于根据上述直流偏压和上述目标介电常数确定上述待测试电缆绝缘层的介电常数的变化率，上述介电常数的变化率用于表征上述待测试电缆绝缘层的老化程度。该测试装置通过测试单元测试待测试电缆绝缘层不同流偏压下的介电常数，并至少三个介电常数确定介电常数的变化率，以通过介电常数的变化率用于表征上述待测试电缆绝缘层的老化程度，由于根据测试研究发现介电常数的变化率与电缆绝缘层的热老化处理时间正相关，从而根据介电常数的变化率可以准确评估待测试电缆绝缘层的老化程度，解决了现有技术中试样历史数据未知导致电缆绝缘层老化程度的评估不准确的问题。
本申请的一种实施例中，测试至少三个直流偏压下待测试电缆绝缘层的介电常数，包括：获取模块，用于获取测试样品，上述测试样品为待测试电缆绝缘层和分别贴附在第一表面和第二表面的两个金属电极形成的，上述第一表面和上述第二表面为上述待测试电缆绝缘层的厚度方向相对的两个表面；测试模块，用于依次将至少三个上述直流偏压施加在上述测试样品的两个上述金属电极上，测试得到至少三个上述目标介电常数。该实施例中，对上述待测试电缆绝缘层的第一表面和第二表面进行离子溅射，形成两个金属电极，将测试样品放置在介电谱测试系统中，并输入测试样品信息和厚度，设置测试温度、频率和直流偏压，并启动介电谱测试仪，得到所需目标介电常数，其中需对测试样品施加不同的直流偏压以得到不同的目标介电常数。
本申请的一种实施例中，根据所述直流偏压和所述目标介电常数确定所述待测试电缆绝缘层的介电常数的变化率，包括：第一计算模块，用于根据至少三个所述直流偏压和所述待测试电缆绝缘层的厚度计算得到至少三个电场强度，所述电场强度为所述直流偏压和所述厚度的比值；确定模块，用于根据至少三个所述电场强度和对应的所述目标介电常数确定散点图，所述散点图为所述电场强度和所述目标介电常数的散点图；处理模块，用于对所述散点图进行线性拟合，得到拟合直线；第二计算模块，用于计算所述拟合直线的斜率，得到所述待测试电缆绝缘层的介电常数的变化率。该实施例中，上述电场强度为直流电压下的电场强度，如图3所示，以电场强度为横坐标，对应的目标介电常数为纵坐标，绘制电场强度和上述目标介电常数的散点图，对上述散点图进行线性拟合，并计算上述拟合直线的斜率，得到上述待测试电缆绝缘层的介电常数的变化率。
所述电缆绝缘层老化程度的测试装置包括处理器和存储器，上述测试单元和确定单元等均作为程序单元存储在存储器中，由处理器执行存储在存储器中的上述程序单元来实现相应的功能。
处理器中包含内核，由内核去存储器中调取相应的程序单元。内核可以设置一个或以上，通过调整内核参数来解决现有技术中电缆绝缘层的历史数据未知导致老化程度的评估不准确的问题。
存储器可能包括计算机可读介质中的非永久性存储器，随机存取存储器(RAM)和/或非易失性内存等形式，如只读存储器(ROM)或闪存(flash RAM)，存储器包括至少一个存储芯片。
本发明实施例提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有程序，该程序被处理器执行时实现所述电缆绝缘层老化程度的测试方法。
本发明实施例提供了一种处理器，所述处理器用于运行程序，其中，所述程序运行时执行所述电缆绝缘层老化程度的测试方法。
本发明实施例提供了一种设备，设备包括处理器、存储器及存储在存储器上并可在处理器上运行的程序，处理器执行程序时实现至少以下步骤：
步骤S101，测试至少三个直流偏压下待测试电缆绝缘层的介电常数，得到至少三个目标介电常数；
步骤S102，根据所述直流偏压和所述目标介电常数确定所述待测试电缆绝缘层的介电常数的变化率，所述介电常数的变化率用于表征所述待测试电缆绝缘层的老化程度。
本文中的设备可以是服务器、PC、PAD、手机等。
本申请还提供了一种计算机程序产品，当在数据处理设备上执行时，适于执行初始化有至少如下方法步骤的程序：
步骤S101，测试至少三个直流偏压下待测试电缆绝缘层的介电常数，得到至少三个目标介电常数；
步骤S102，根据所述直流偏压和所述目标介电常数确定所述待测试电缆绝缘层的介电常数的变化率，所述介电常数的变化率用于表征所述待测试电缆绝缘层的老化程度。
在本发明的上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。
在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的技术内容，可通过其它的方式实现。其中，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如所述单元的划分，可以为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，单元或模块的间接耦合或通信连接，可以是电性或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。
所述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取计算机可读存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个计算机可读存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可为个人计算机、服务器或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的计算机可读存储介质包括：U盘、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、移动硬盘、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
从以上的描述中，可以看出，本申请上述的实施例实现了如下技术效果：
1)、本申请的电缆绝缘层老化程度的测试方法中，首先，测试至少三个直流偏压下待测试电缆绝缘层的介电常数，得到至少三个目标介电常数；然后，根据上述直流偏压和上述目标介电常数确定上述待测试电缆绝缘层的介电常数的变化率，上述介电常数的变化率用于表征上述待测试电缆绝缘层的老化程度。该测试方法通过测试待测试电缆绝缘层不同流偏压下的介电常数，并至少三个介电常数确定介电常数的变化率，以通过介电常数的变化率用于表征上述待测试电缆绝缘层的老化程度，由于根据测试研究发现介电常数的变化率与电缆绝缘层的热老化处理时间正相关，从而根据介电常数的变化率可以准确评估待测试电缆绝缘层的老化程度，解决了现有技术中试样历史数据未知导致电缆绝缘层老化程度的评估不准确的问题。
2)、本申请的电缆绝缘层老化程度的测试装置中，测试单元，用于测试至少三个直流偏压下待测试电缆绝缘层的介电常数，得到至少三个目标介电常数；确定单元，用于根据上述直流偏压和上述目标介电常数确定上述待测试电缆绝缘层的介电常数的变化率，上述介电常数的变化率用于表征上述待测试电缆绝缘层的老化程度。该测试装置通过测试单元测试待测试电缆绝缘层不同流偏压下的介电常数，并至少三个介电常数确定介电常数的变化率，以通过介电常数的变化率用于表征上述待测试电缆绝缘层的老化程度，由于根据测试研究发现介电常数的变化率与电缆绝缘层的热老化处理时间正相关，从而根据介电常数的变化率可以准确评估待测试电缆绝缘层的老化程度，解决了现有技术中试样历史数据未知导致电缆绝缘层老化程度的评估不准确的问题。
以上所述仅为本申请的优选实施例而已，并不用于限制本申请，对于本领域的技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。
Claims (8)
1.一种电缆绝缘层老化程度的测试方法，其特征在于，包括：
测试至少三个直流偏压下待测试电缆绝缘层的介电常数，得到至少三个目标介电常数；
根据所述直流偏压和所述目标介电常数确定所述待测试电缆绝缘层的介电常数的变化率，所述介电常数的变化率用于表征所述待测试电缆绝缘层的老化程度。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，测试至少三个直流偏压下待测试电缆绝缘层的介电常数，包括：
获取测试样品，所述测试样品为待测试电缆绝缘层和分别贴附在第一表面和第二表面的两个金属电极形成的，所述第一表面和所述第二表面为所述待测试电缆绝缘层的厚度方向相对的两个表面；
依次将至少三个所述直流偏压施加在所述测试样品的两个所述金属电极上，测试得到至少三个所述目标介电常数。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述直流偏压和所述目标介电常数确定所述待测试电缆绝缘层的介电常数的变化率，包括：
根据至少三个所述直流偏压和所述待测试电缆绝缘层的厚度计算得到至少三个电场强度，所述电场强度为所述直流偏压和所述厚度的比值；
根据至少三个所述电场强度和对应的所述目标介电常数确定散点图，所述散点图为所述电场强度和所述目标介电常数的散点图；
对所述散点图进行线性拟合，得到拟合直线；
计算所述拟合直线的斜率，得到所述待测试电缆绝缘层的介电常数的变化率。
4.一种电缆绝缘层老化程度的测试装置，其特征在于，包括：
测试单元，用于测试至少三个直流偏压下待测试电缆绝缘层的介电常数，得到至少三个目标介电常数；
确定单元，用于根据所述直流偏压和所述目标介电常数确定所述待测试电缆绝缘层的介电常数的变化率，所述介电常数的变化率用于表征所述待测试电缆绝缘层的老化程度。
5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，测试至少三个直流偏压下待测试电缆绝缘层的介电常数，包括：
获取模块，用于获取测试样品，所述测试样品为待测试电缆绝缘层和分别贴附在第一表面和第二表面的两个金属电极形成的，所述第一表面和所述第二表面为所述待测试电缆绝缘层的厚度方向相对的两个表面；
测试模块，用于依次将至少三个所述直流偏压施加在所述测试样品的两个所述金属电极上，测试得到至少三个所述目标介电常数。
6.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，根据所述直流偏压和所述目标介电常数确定所述待测试电缆绝缘层的介电常数的变化率，包括：
第一计算模块，用于根据至少三个所述直流偏压和所述待测试电缆绝缘层的厚度计算得到至少三个电场强度，所述电场强度为所述直流偏压和所述厚度的比值；
确定模块，用于根据至少三个所述电场强度和对应的所述目标介电常数确定散点图，所述散点图为所述电场强度和所述目标介电常数的散点图；
处理模块，用于对所述散点图进行线性拟合，得到拟合直线；
第二计算模块，用于计算所述拟合直线的斜率，得到所述待测试电缆绝缘层的介电常数的变化率。
7.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质包括存储的程序，其中，所述程序执行权利要求1至3任意一项所述的测试方法。
8.一种处理器，其特征在于，所述处理器用于运行程序，其中，所述程序运行时执行权利要求1至3中任意一项所述的测试方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202110957166.2A CN113721111A (zh) | 2021-08-19 | 2021-08-19 | 电缆绝缘层老化程度的测试方法和装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202110957166.2A CN113721111A (zh) | 2021-08-19 | 2021-08-19 | 电缆绝缘层老化程度的测试方法和装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN113721111A true CN113721111A (zh) | 2021-11-30 |
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ID=78677050
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202110957166.2A Pending CN113721111A (zh) | 2021-08-19 | 2021-08-19 | 电缆绝缘层老化程度的测试方法和装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN113721111A (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114325182A (zh) * | 2021-12-17 | 2022-04-12 | 西南交通大学 | 一种基于温电变化率的10kVXLPE电缆热氧老化程度的评估方法 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105676081A (zh) * | 2016-01-08 | 2016-06-15 | 西安交通大学 | 基于超低频介损的直流电缆挤出绝缘老化状态评估方法 |
| CN112485617A (zh) * | 2020-11-27 | 2021-03-12 | 广东电网有限责任公司电力科学研究院 | 一种电缆的绝缘老化状态评估方法和装置 |
| CN113064002A (zh) * | 2021-03-16 | 2021-07-02 | 重庆大学 | 一种10kV XLPE电缆绝缘老化状态的评估方法 |
-
2021
- 2021-08-19 CN CN202110957166.2A patent/CN113721111A/zh active Pending
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