CN114414207A - 一种ois测试设备 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了OIS技术领域的一种OIS测试设备；包括测试转盘、固定测试架、上料架和上料盘，固定测试架和上料架呈水平对称设置于测试转盘两侧，测试转盘、固定测试架和上料架的底部共同设置底板，测试转盘包括转盘，转盘上对称设置有四个固定装置，转盘的上方设置固定板，固定板靠近上料架一侧的顶部设有推动气缸。本发明的有益效果是：实现OIS零部件的自动上料，减少OIS零部件性能检测时的人工成本浪费。同时通过多个固定装置上的多个放置槽进行OIS零部件的放置，使一次动作即可对两个OIS零部件进行同一项性能测试，进而实现OIS零部件的性能比对测试，使OIS零部件的测试结果更加趋向于单批次零部件的平均水平。
Description
技术领域
本发明涉及OIS技术领域，具体是一种OIS测试设备。
背景技术
OIS，它的全称是Optical Image Stabilization，从字面理解就是稳定的光学图像；通过镜头的浮动透镜来纠正“光轴偏移”，其原理是通过镜头内的陀螺仪侦测到微小的移动，然后将信号传至微处理器，处理器立即计算需要补偿的位移量，然后通过补偿镜片组，根据镜头的抖动方向及位移量加以补偿；从而有效地克服因相机的振动产生的影像模糊。
在OIS零部件生产时，需要对OIS零部件的性能进行测试。在现有技术中，多数OIS零部件均采用单一设备进行测试，测试速度受测试装置的测试速度限制，同时单程测试装置单次仅能对OIS零部件的一项数据进行测试，严重耽误了OIS零部件的测试速度，同时现有的OIS零部件测试设备或人工进行上下料进行抽样测试，或安装在流水线上对OIS零部件进行测试，人工抽样测试时，测试所得数据不全面，同时耗费人工成本，而将测试设备加载于流水线上进行检测时，单个OIS零部件检测时间较短，无法对OIS零部件的性能进行全面检测。
发明内容
本发明的目的在于提供一种OIS测试设备，以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种OIS测试设备，包括测试转盘、固定测试架、上料架和上料盘，所述固定测试架和上料架呈水平对称设置于测试转盘两侧，所述测试转盘、固定测试架和上料架的底部共同设置底板，所述测试转盘包括转盘，所述转盘上对称设置有四个固定装置，所述转盘的上方设置固定板，所述固定板靠近上料架一侧的顶部设有推动气缸，所述固定板远离推动气缸的一端及垂直两个方向均设置转盘顶部测试器，三个所述转盘顶部测试器的底端均设置转盘顶部测试探针，所述固定板垂直推动气缸两端的底端均设置转盘底部测试器，两个所述转盘底部测试器的顶部均设置底部控制器，两个所述底部控制器与转盘顶部测试探针位置相匹配的顶部均设置转盘底部测试探针，所述固定测试架底端设置有第一测试架，所述第一测试架靠近测试转盘的一端设置两个定位检测器，所述第一测试架位于定位检测器的下端设置第一检测探针，所述第一测试架靠近测试转盘的一侧设置第二测试架，所述第二测试架两侧的上方均设置探针控制器，两个所述探针控制器靠近第一测试架的一侧均设置第二检测探针。
作为本发明进一步的方案：所述固定装置靠近上料盘一侧的底部设置支撑柱，四个所述固定装置顶端的两侧均设置放置槽，多个所述放置槽靠近转盘的一侧均设置夹板，多个所述夹板靠近转盘打的一侧均设置复位弹簧，所述推动气缸位置与夹板位置相匹配，通过推动气缸推动夹板动作，进而对放置槽内部的OIS零部件进行限位或解除限位，当固定装置随转盘转动时，推动气缸解除与夹板的触接，复位弹簧带动夹板自动复位，进而对放置槽内部的OIS零部件进行夹紧限位。
作为本发明再进一步的方案：所述第一测试架和第二测试架均与底板连接，所述第一测试架远离第二测试架一侧的顶端设置两个固定架，两个所述第二检测探针与第一检测探针位置相匹配，通过第一测试架和第二测试架配合测试转盘上的测试装置对OIS零部件进行全面的检测。
作为本发明再进一步的方案：所述转盘的底端设置转动电机，所述转动电机的转动端与转盘底部连接，所述转动电机的外壁设置电机控制器，所述转动电机的底部设置固定座，所述固定座与底板连接，通过电机控制器控制转动电机启动，转动电机带动转盘转动，当转盘转动时，带动转盘上的多个固定装置转动，带动待检测的OIS零部件进入转盘顶部测试器和转盘底部测试器的位置进行测试，同时可带动固定装置上的OIS零部件移动至固定测试架处进行测试，实现OIS设备的多项测试。
作为本发明再进一步的方案：所述上料架包括两个支撑架，两个所述支撑架的底端均与底板连接，两个所述支撑架的顶部共同设置横杆，所述横杆的顶端设置运动轨，所述运动轨靠近测试转盘的一侧设置夹取臂，通过上料架进行上料及上料准备工作。
作为本发明再进一步的方案：所述夹取臂的底部平行设置两个竖杆，两个所述竖杆的底端均设置夹取爪，两个所述竖杆的侧壁均设置夹取气缸，两个所述夹取气缸分别与两个夹取爪连接，通过夹取臂上的夹取爪及夹取气缸对OIS零部件进行夹取，并带动其移动至固定装置处进行限位。
作为本发明再进一步的方案：所述运动轨靠近夹取臂的一侧均设置伺服电机，连个所述伺服电机的侧壁均设置信号接口，所述伺服电机的输出端与夹取臂连接，通过伺服电机控制夹取臂的移动。
作为本发明再进一步的方案：所述底板靠近上料架一侧的顶部设置多个备料架，多个所述备料架顶端均设置多个备料盘，通过备料架和备料盘进行待检测OIS零部件的放置和检测结束的OIS零部件的承载。
与现有技术相比，本发明的有益效果是：本发明通过测试转盘、固定测试架、上料架和上料盘等配合使用，实现OIS零部件的自动化上料和测试，同时通过测试转盘上的多个顶部测试器和底部测试器配合定位测试器、测试探针等测试设备对转盘上的OIS零部件进行多项性能测试，因测试转盘可顺时针或逆时针转动，可实现OIS零部件检测的多样性，可对待料盘上的待检测OIS零部件进行一项或多项性能测试，同时通过上料架和上料盘配合使用，可在OIS零部件检测时，实现OIS零部件的自动上料，减少OIS零部件性能检测时的人工成本浪费。同时通过多个固定装置上的多个放置槽进行OIS零部件的放置，使一次动作即可对两个OIS零部件进行同一项性能测试，进而实现OIS零部件的性能比对测试，使OIS零部件的测试结果更加趋向于单批次零部件的平均水平。
附图说明
图1为本发明的主视结构示意图；
图2为本发明中测试转盘的结构放大示意图；
图3为本发明中测试转盘的底部结构放大示意图；
图4为本发明中固定测试架的结构放大示意图；
图5为本发明中上料架的结构放大示意图；
图6为本发明中上料架的侧视结构放大示意图；
图7为本发明中上料盘的结构放大示意图。
图中：100、测试转盘；110、固定装置；111、支撑柱；112、复位弹簧；113、放置槽；114、夹板；120、转盘；130、转盘底部测试器；131、转盘底部测试探针；132、底部控制器；140、固定板；141、推动气缸；142、转盘顶部测试器；143、转盘顶部测试探针；150、固定座；160、转动电机；161、电机控制器；200、固定测试架；210、第一测试架；211、固定架；212、定位检测器；213、第一检测探针；220、第二测试架；221、第二检测探针；222、探针控制器；300、上料架；310、支撑架；320、横杆；330、运动轨；340、伺服电机；341、信号接口；350、夹取臂；351、竖杆；352、夹取爪；353、夹取气缸；400、上料盘；410、备料架；420、备料盘；500、底板。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
请参阅图1～7，本发明实施例中，一种OIS测试设备，包括测试转盘100、固定测试架200、上料架300和上料盘400，固定测试架200和上料架300呈水平对称设置于测试转盘100两侧，测试转盘100、固定测试架200和上料架300的底部共同设置底板500，测试转盘100包括转盘120，转盘120上对称设置有四个固定装置110，转盘120的上方设置固定板140，固定板140靠近上料架300一侧的顶部设有推动气缸141，固定板140远离推动气缸141的一端及垂直两个方向均设置转盘顶部测试器142，三个转盘顶部测试器142的底端均设置转盘顶部测试探针143，固定板140垂直推动气缸141两端的底端均设置转盘底部测试器130，两个转盘底部测试器130的顶部均设置底部控制器132，两个底部控制器132与转盘顶部测试探针143位置相匹配的顶部均设置转盘底部测试探针131，固定测试架200底端设置有第一测试架210，第一测试架210靠近测试转盘100的一端设置两个定位检测器212，第一测试架210位于定位检测器212的下端设置第一检测探针213，第一测试架210靠近测试转盘100的一侧设置第二测试架220，第二测试架220两侧的上方均设置探针控制器222，两个探针控制器222靠近第一测试架210的一侧均设置第二检测探针221。
其中，固定装置110靠近上料盘400一侧的底部设置支撑柱111，四个固定装置110顶端的两侧均设置放置槽113，多个放置槽113靠近转盘120的一侧均设置夹板114，多个夹板114靠近转盘120打的一侧均设置复位弹簧112，推动气缸141位置与夹板114位置相匹配，通过推动气缸141推动夹板114动作，进而对放置槽113内部的OIS零部件进行限位或解除限位，当固定装置110随转盘120转动时，推动气缸141解除与夹板114的触接，复位弹簧112带动夹板114自动复位，进而对放置槽113内部的OIS零部件进行夹紧限位；第一测试架210和第二测试架220均与底板500连接，第一测试架210远离第二测试架220一侧的顶端设置两个固定架211，两个第二检测探针221与第一检测探针213位置相匹配，通过第一测试架210和第二测试架220配合测试转盘100上的测试装置对OIS零部件进行全面的检测；转盘120的底端设置转动电机160，转动电机160的转动端与转盘120底部连接，转动电机160的外壁设置电机控制器161，转动电机160的底部设置固定座150，固定座150与底板500连接，通过电机控制器161控制转动电机160启动，转动电机160带动转盘120转动，当转盘120转动时，带动转盘120上的多个固定装置110转动，带动待检测的OIS零部件进入转盘顶部测试器142和转盘底部测试器130的位置进行测试，同时可带动固定装置110上的OIS零部件移动至固定测试架200处进行测试，实现OIS设备的多项测试。
上料架300包括两个支撑架310，两个支撑架310的底端均与底板500连接，两个支撑架310的顶部共同设置横杆320，横杆320的顶端设置运动轨330，运动轨330靠近测试转盘100的一侧设置夹取臂350，通过上料架300进行上料及上料准备工作；夹取臂350的底部平行设置两个竖杆351，两个竖杆351的底端均设置夹取爪352，两个竖杆351的侧壁均设置夹取气缸353，两个夹取气缸353分别与两个夹取爪352连接，通过夹取臂350上的夹取爪352及夹取气缸353对OIS零部件进行夹取，并带动其移动至固定装置110处进行限位；运动轨330靠近夹取臂350的一侧均设置伺服电机340，连个伺服电机340的侧壁均设置信号接口341，伺服电机340的输出端与夹取臂350连接，通过伺服电机340控制夹取臂350的移动；底板500靠近上料架300一侧的顶部设置多个备料架410，多个备料架410顶端均设置多个备料盘420，通过备料架410和备料盘420进行待检测OIS零部件的放置和检测结束的OIS零部件的承载。
本发明的工作原理是：使用本装置进行OIS零部件进行性能测试时，只需将待检测的OIS零部件放置在备料盘420内，然后将承载OIS零部件的备料盘420置于备料架410上。当进行测试时，伺服电机340启动，带动夹取臂350在运动轨330上运动，通过夹取气缸353启动，带动夹取爪352运动至备料盘420上方进行OIS零部件的夹取，然后两个夹取爪352分别将夹取的OIS零部件放置于放置槽113内，此时复位弹簧112带动夹板114自动复位，对放置槽113内的OIS零部件进行夹紧限位。
电机控制器161控制转动电机160启动，随着转动电机160的启动，带动转盘120转动90°，带动多个固定装置110转动90°，当固定装置110转动90°后，到达垂直于推动气缸141设置的两个转盘顶部测试器142处，此时通过转盘顶部测试器142和转盘顶部测试探针143对OIS零部件进行性能检测，同时与其位置相匹配的转盘底部测试器130和转盘底部测试探针131同时对OIS零部件的底端进行另一性能测试。
测试结束后，电机控制器161再次控制转动电机160启动，带动转盘120再次转动90°，使经过上一测试的OIS零部件进入到固定测试架200处，通过定位检测器212、第一检测探针213和第二检测探针221配合探针控制器222对OIS零部件再次进行性能测试和检测。
检测结束后，转动电机160再次转动90°，进行复检，复检结束后再次转动90°，带动检测结束后的OIS零部件回归上料原位，此时推动气缸141启动，推动夹板114，使夹板114解除对放置槽113内OIS零部件的限位，上料架300上的夹取爪352将测试结束后的OIS零部件取下，放置进备料盘420内，并重新上料。
以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本发明的保护范围之内。
Claims (8)
1.一种OIS测试设备，包括测试转盘(100)、固定测试架(200)、上料架(300)和上料盘(400)，其特征在于：所述固定测试架(200)和上料架(300)呈水平对称设置于测试转盘(100)两侧，所述测试转盘(100)、固定测试架(200)和上料架(300)的底部共同设置底板(500)，所述测试转盘(100)包括转盘(120)，所述转盘(120)上对称设置有四个固定装置(110)，所述转盘(120)的上方设置固定板(140)，所述固定板(140)靠近上料架(300)一侧的顶部设有推动气缸(141)，所述固定板(140)远离推动气缸(141)的一端及垂直两个方向均设置转盘顶部测试器(142)，三个所述转盘顶部测试器(142)的底端均设置转盘顶部测试探针(143)，所述固定板(140)垂直推动气缸(141)两端的底端均设置转盘底部测试器(130)，两个所述转盘底部测试器(130)的顶部均设置底部控制器(132)，两个所述底部控制器(132)与转盘顶部测试探针(143)位置相匹配的顶部均设置转盘底部测试探针(131)，所述固定测试架(200)底端设置有第一测试架(210)，所述第一测试架(210)靠近测试转盘(100)的一端设置两个定位检测器(212)，所述第一测试架(210)位于定位检测器(212)的下端设置第一检测探针(213)，所述第一测试架(210)靠近测试转盘(100)的一侧设置第二测试架(220)，所述第二测试架(220)两侧的上方均设置探针控制器(222)，两个所述探针控制器(222)靠近第一测试架(210)的一侧均设置第二检测探针(221)。
2.根据权利要求1所述的一种OIS测试设备，其特征在于：所述固定装置(110)靠近上料盘(400)一侧的底部设置支撑柱(111)，四个所述固定装置(110)顶端的两侧均设置放置槽(113)，多个所述放置槽(113)靠近转盘(120)的一侧均设置夹板(114)，多个所述夹板(114)靠近转盘(120)打的一侧均设置复位弹簧(112)，所述推动气缸(141)位置与夹板(114)位置相匹配。
3.根据权利要求1所述的一种OIS测试设备，其特征在于：所述第一测试架(210)和第二测试架(220)均与底板(500)连接，所述第一测试架(210)远离第二测试架(220)一侧的顶端设置两个固定架(211)，两个所述第二检测探针(221)与第一检测探针(213)位置相匹配。
4.根据权利要求1所述的一种OIS测试设备，其特征在于：所述转盘(120)的底端设置转动电机(160)，所述转动电机(160)的转动端与转盘(120)底部连接，所述转动电机(160)的外壁设置电机控制器(161)，所述转动电机(160)的底部设置固定座(150)，所述固定座(150)与底板(500)连接。
5.根据权利要求1所述的一种OIS测试设备，其特征在于：所述上料架(300)包括两个支撑架(310)，两个所述支撑架(310)的底端均与底板(500)连接，两个所述支撑架(310)的顶部共同设置横杆(320)，所述横杆(320)的顶端设置运动轨(330)，所述运动轨(330)靠近测试转盘(100)的一侧设置夹取臂(350)。
6.根据权利要求5所述的一种OIS测试设备，其特征在于：所述夹取臂(350)的底部平行设置两个竖杆(351)，两个所述竖杆(351)的底端均设置夹取爪(352)，两个所述竖杆(351)的侧壁均设置夹取气缸(353)，两个所述夹取气缸(353)分别与两个夹取爪(352)连接。
7.根据权利要求5所述的一种OIS测试设备，其特征在于：所述运动轨(330)靠近夹取臂(350)的一侧均设置伺服电机(340)，连个所述伺服电机(340)的侧壁均设置信号接口(341)，所述伺服电机(340)的输出端与夹取臂(350)连接。
8.根据权利要求1所述的一种OIS测试设备，其特征在于：所述底板(500)靠近上料架(300)一侧的顶部设置多个备料架(410)，多个所述备料架(410)顶端均设置多个备料盘(420)。
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
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| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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| GR01 | Patent grant | ||
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