CN114397613A - 一种re102辐射发射测试校验方法及系统 - Google Patents

一种re102辐射发射测试校验方法及系统 Download PDF

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CN114397613A CN202111659868.9A CN202111659868A CN114397613A CN 114397613 A CN114397613 A CN 114397613A CN 202111659868 A CN202111659868 A CN 202111659868A CN 114397613 A CN114397613 A CN 114397613A
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穆晨晨
袁岩兴
韩玉峰
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    • G01—MEASURING; TESTING
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Abstract

本发明实施例提供一种RE102辐射发射测试校验方法及系统。所述方法包括：向第一测试设备发送测试辐射信号；所述测试辐射信号为性能参数稳定的辐射信号；将第一测试设备接收到的第一辐射信号与所述测试辐射信号进行对比，获得第一辐射信号校验值；所述第一辐射信号为所述第一测试设备在接收到所述测试辐射信号后获得的辐射信号；根据所述第一辐射信号校验值，对所述第一测试设备对应的RE102辐射发射测试结果进行校验。所述系统用于执行上述方法。本发明提供的方法及系统提高了GJB151B中RE102辐射发射测试结果的一致性和可靠性。

Description

一种RE102辐射发射测试校验方法及系统
技术领域
本发明实施例涉及RE102辐射发射测试技术领域，尤其涉及一种RE102辐射发射测试校验方法及系统。
背景技术
GJB151B中的RE102辐射发射电磁兼容测试，影响其测试结果的因素很多，往往不同实验室的测试设备对同一被测件给出的测试结果差别很大，主要的影响来自接收机的测试精度、天线系数以及测试场地的完善程度。为此，通常采取的解决措施之一是对电磁兼容(EMC)检测实验室的测试设备进行周期性计量(包括检定和校准，一般每年一次)，但是由于辐射发射测量项目对环境因素的依赖性很强，目前对于环境因素的影响又缺乏有效的评估手段，仅仅依靠仪器计量来保证辐射发射测量结果的准确性和一致性是很不够的。
因此，提出一种方法提高GJB151B中的RE102辐射发射测试结果一致性和可靠性是目前业界亟待解决的重要课题。
发明内容
针对现有技术中的缺陷，本发明实施例提供一种RE102辐射发射测试校验方法及系统。
一方面，本发明实施例提供一种RE102辐射发射测试校验方法，包括：
向第一测试设备发送测试辐射信号；所述测试辐射信号为性能参数稳定的辐射信号；
将第一测试设备接收到的第一辐射信号与所述测试辐射信号进行对比，获得第一辐射信号校验值；所述第一辐射信号为所述第一测试设备在接收到所述测试辐射信号后获得的辐射信号；
根据所述第一辐射信号校验值，对所述第一测试设备对应的RE102辐射发射测试结果进行校验。
另一方面，本发明实施例提供一种RE102辐射发射测试校验系统，包括：
信号发射装置，用于向第一测试设备发送测试辐射信号；所述测试辐射信号为性能参数稳定的辐射信号；
信号对比装置，用于将第一测试设备接收到的第一辐射信号与所述测试辐射信号进行对比，获得第一辐射信号校验值；所述第一辐射信号为所述第一测试设备在接收到所述测试辐射信号后获得的辐射信号；
结果校验装置，根据所述第一辐射信号校验值，对所述第一测试设备对应的RE102辐射发射测试结果进行校验。
本发明实施例提供的RE102辐射发射测试校验方法及系统，通过向第一测试设备发送测试辐射信号；所述测试辐射信号为性能参数稳定的辐射信号；将第一测试设备接收到的第一辐射信号与所述测试辐射信号进行对比，获得第一辐射信号校验值；所述第一辐射信号为所述第一测试设备在接收到所述测试辐射信号后获得的辐射信号；根据所述第一辐射信号校验值，对所述第一测试设备对应的RE102辐射发射测试结果进行校验，提高了GJB151B中RE102辐射发射测试结果的一致性和可靠性。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的RE102辐射发射测试校验方法的流程示意图；
图2为本发明一实施例提供的RE102辐射发射测试校验系统的结构示意图；
图3为本发明另一实施例提供的RE102辐射发射测试校验系统的结构示意图；
图4为本发明一实施例提供的RE102辐射发射测试校验系统的信号产生装置和信号发射装置的实体结构示意图；
图5为本发明又一实施例提供的RE102辐射发射测试校验系统的信号发射装置的实体结构示意图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
图1为本发明实施例提供的RE102辐射发射测试校验方法，如图1所示，本实施例提供一种RE102辐射发射测试校验方法，包括：
S101、向第一测试设备发送测试辐射信号；所述测试辐射信号为性能参数稳定的辐射信号；
具体地，信号发射装置向第一测试设备发送测试辐射信号；所述测试辐射信号为性能参数稳定的辐射信号。可以理解的是，所述第一测试设备为任意一处测试环境(如实验室)中的测试设备；所述测试辐射信号为性能参数可以包括信号的幅度、频率及辐射方向图，还可以包括其他性能参数，具体可以根据实际情况进行设置和调整，此处不做具体限定。
S102、将第一测试设备接收到的第一辐射信号与所述测试辐射信号进行对比，获得第一辐射信号校验值；所述第一辐射信号为所述第一测试设备在接收到所述测试辐射信号后获得的辐射信号；
具体地，信号对比装置将第一测试设备接收到的第一辐射信号与所述测试辐射信号进行对比，获得第一辐射信号校验值；所述第一辐射信号为所述第一测试设备在接收到所述测试辐射信号后获得的辐射信号。
S103、根据所述第一辐射信号校验值，对所述第一测试设备对应的RE102辐射发射测试结果进行校验。
具体地，结果校验装置根据所述第一辐射信号校验值，对所述第一测试设备对应的RE102辐射发射测试结果进行校验，可以理解的是，结果校验装置还可以根据所述第一辐射信号校验值对所述第一测试设备对应的RE102辐射发射测试结果进行修正。
本发明实施例提供的RE102辐射发射测试校验方法，通过向第一测试设备发送测试辐射信号；所述测试辐射信号为性能参数稳定的辐射信号；将第一测试设备接收到的第一辐射信号与所述测试辐射信号进行对比，获得第一辐射信号校验值；所述第一辐射信号为所述第一测试设备在接收到所述测试辐射信号后获得的辐射信号；根据所述第一辐射信号校验值，对所述第一测试设备对应的RE102辐射发射测试结果进行校验，提高了GJB151B中RE102辐射发射测试结果的一致性和可靠性。
在上述实施例的基础上，进一步地，在向第一测试设备发送测试辐射信号之前，所述方法还包括：生成所述测试辐射信号。
具体地，在信号发射装置向第一测试设备发送测试辐射信号之前，信号产生装置生成所述测试辐射信号。
在上述实施例的基础上，进一步地，所述测试辐射信号为信号频率范围为10kHz～1GHz的梳状谱信号。
在上述实施例的基础上，进一步地，所述生成所述测试辐射信号，包括：
将10kHz、100kHz、1MHz、10MHz、30MHz五个点频信号同时输出产生频率范围为10kHz～30MHz梳状谱波；
通过30MHz的点频信号激励梳状波产生器产生频率范围为30MHz～1GHz的梳状谱波。
应当说明的是，10kHz～30MHz的梳状谱信号由30MHz的高稳晶振经过频分后，产生10kHz、100MHz、1MHz、10MHz、30MHz的单频点信号，这些单频点信号经过合路后产生10kHz～30MHz的梳状谱信号，用此方法产生的梳状谱信号，频率准确度较高，单频点的信号幅度稳定。
在上述实施例的基础上，进一步地，所述方法还包括：
向第二测试设备发送所述测试辐射信号；所述第二测试设备与所述第一测试设备所处测试环境不同；
将第二测试设备接收到的第二辐射信号与所述测试辐射信号进行对比，获得第二辐射信号校验值；
根据所述第一辐射信号校验值与所述第二辐射信号校验值，对所述第一测试设备和所述第二测试设备的进行测试能力评估。
具体地，信号发射装置向第二测试设备发送所述测试辐射信号；所述第二测试设备与所述第一测试设备所处测试环境不同(例如，所述所述第二测试设备与所述第一测试设备处于不同的实验室中)；信号对比装置将第二测试设备接收到的第二辐射信号与所述测试辐射信号进行对比，获得第二辐射信号校验值；结果校验装置，根据所述第一辐射信号校验值与所述第二辐射信号校验值，对所述第一测试设备和所述第二测试设备的进行测试能力评估。将不同的测试环境(如实验室)作横向对比，实现对不同测试环境的测试能力的评估。是EMC实验室改善测试结果一致性和可靠性的有效手段，也是符合实验室认可的溯源性要求的有效方法。
本发明实施例提供的RE102辐射发射测试校验方法，通过向第一测试设备发送测试辐射信号；所述测试辐射信号为性能参数稳定的辐射信号；将第一测试设备接收到的第一辐射信号与所述测试辐射信号进行对比，获得第一辐射信号校验值；所述第一辐射信号为所述第一测试设备在接收到所述测试辐射信号后获得的辐射信号；根据所述第一辐射信号校验值，对所述第一测试设备对应的RE102辐射发射测试结果进行校验，提高了GJB151B中RE102辐射发射测试结果的一致性和可靠性。
图2为本发明一实施例提供的RE102辐射发射测试校验系统的结构示意图，如图2所示，本发明实施例提供一种RE102辐射发射测试校验系统，包括：信号发射装置201、信号对比装置202和结果校验装置203，其中：
信号发射装置201用于向第一测试设备发送测试辐射信号；所述测试辐射信号为性能参数稳定的辐射信号；信号对比装置202用于将第一测试设备接收到的第一辐射信号与所述测试辐射信号进行对比，获得第一辐射信号校验值；所述第一辐射信号为所述第一测试设备在接收到所述测试辐射信号后获得的辐射信号；结果校验装置203用于根据所述第一辐射信号校验值，对所述第一测试设备对应的RE102辐射发射测试结果进行校验。
可以理解的是，所述测试辐射信号为性能参数可以包括信号的幅度、频率及辐射方向图，还可以包括其他性能参数，具体可以根据实际情况进行设置和调整，此处不做具体限定，例如：工作频率：10kHz～1GHz、阻抗：50Ω；驻波：≤3；方向图：水平全向；全向性：≤2dB；极化方式：垂直极化；信号形式：梳状谱；信号输出：输出端口为信号输出，SMA接口；输入端口接发射天线，SMA接口；供电方式：内置充电锂电池；外形尺寸：安装空间不大于圆柱形空间Φ100mm×140mm；重量：≤500g。
本发明实施例提供的RE102辐射发射测试校验系统，通过向第一测试设备发送测试辐射信号；所述测试辐射信号为性能参数稳定的辐射信号；将第一测试设备接收到的第一辐射信号与所述测试辐射信号进行对比，获得第一辐射信号校验值；所述第一辐射信号为所述第一测试设备在接收到所述测试辐射信号后获得的辐射信号；根据所述第一辐射信号校验值，对所述第一测试设备对应的RE102辐射发射测试结果进行校验，提高了GJB151B中RE102辐射发射测试结果的一致性和可靠性。
图3为本发明另一实施例提供的RE102辐射发射测试校验系统的结构示意图，如图3所示，所述系统还包括：信号产生装置204，用于生成所述测试辐射信号。
具体地，在信号发射装置201向第一测试设备发送测试辐射信号之前，信号产生装置204生成所述测试辐射信号。作为举例，信号产生装置204的性能参数可以如下设置：工作频率：10kHz～1GHz，阻抗：50Ω，驻波：≤3；方向性：水平全向，全向性：≤2dB；天线极化：垂直极化；当然也可以根据实际情况进行设置和调整，此处不做具体限定。
在上述实施例的基础上，进一步地，所述信号产生装置具体用于将10kHz、100kHz、1MHz、10MHz、30MHz五个点频信号同时输出产生频率范围为10kHz～30MHz梳状谱波；
通过30MHz的点频信号激励梳状波产生器产生频率范围为30MHz～1GHz的梳状谱波。
具体地，所述信号产生装置204具体用于将10kHz、100kHz、1MHz、10MHz、30MHz五个点频信号同时输出产生频率范围为10kHz～30MHz梳状谱波；通过30MHz的点频信号激励梳状波产生器产生频率范围为30MHz～1GHz的梳状谱波。其中，10kHz～30MHz的梳状谱信号由30MHz的高稳晶振经过频分后，产生10kHz、100MHz、1MHz、10MHz、30MHz的单频点信号，这些单频点信号经过合路后产生10kHz～30MHz的梳状谱信号，用此方法产生的梳状谱信号，频率准确度较高，单频点的信号幅度稳定。
在上述实施例的基础上，进一步地，所述信号发射装置201包括可伸缩拉杆天线和固定长度的杆天线；其中，所述可伸缩拉杆天线所述与所述信号产生装置连接，用于发射频率范围为10kHz～30MHz梳状谱波；所述固定长度的杆天线与所述信号产生装置连接，用于发射频率范围为30MHz～1GHz梳状谱波。
具体地，考虑到工作频段为低频10kHz～1GHz，频带较宽，还有全向性的要求，采用杆天线形式作为信号发射装置。所述杆天线根据频段选用两种，对于10kHz～30MHz频段，选择可伸缩拉杆天线；对于30MHz～1GHz频段，选择固定长度的杆天线。作为举例，如图4所示，可将信号产生装置204置于圆筒型金属筒内，将天线放置在圆形金属筒上方，用于将产生的测试辐射信号发送出去。
图5为本发明又一实施例提供的RE102辐射发射测试校验系统的信号发射装置的实体结构示意图，所述系统还包括内置供电装置205。
具体地，为最低限度减少交流供电引入的电磁干扰，RE102辐射发射测试校验系统供电采用供电装置，例如内置充电电池，可选择适当容量的充电锂电池供电，连接稳压电路后稳压输出。
本发明实施例提供的RE102辐射发射测试校验系统，通过向第一测试设备发送测试辐射信号；所述测试辐射信号为性能参数稳定的辐射信号；将第一测试设备接收到的第一辐射信号与所述测试辐射信号进行对比，获得第一辐射信号校验值；所述第一辐射信号为所述第一测试设备在接收到所述测试辐射信号后获得的辐射信号；根据所述第一辐射信号校验值，对所述第一测试设备对应的RE102辐射发射测试结果进行校验，提高了GJB151B中RE102辐射发射测试结果的一致性和可靠性。
本发明提供的系统的实施例具体可以用于执行上述各方法实施例的处理流程，其功能在此不再赘述，可以参照上述方法实施例的详细描述。
以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性的劳动的情况下，即可以理解并实施。
通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到各实施方式可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件。基于这样的理解，上述技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品可以存储在计算机可读存储介质中，如ROM/RAM、磁碟、光盘等，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行各个实施例或者实施例的某些部分所述的方法。
最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (10)

1.一种RE102辐射发射测试校验方法，其特征在于，包括：
向第一测试设备发送测试辐射信号；所述测试辐射信号为性能参数稳定的辐射信号；
将第一测试设备接收到的第一辐射信号与所述测试辐射信号进行对比，获得第一辐射信号校验值；所述第一辐射信号为所述第一测试设备在接收到所述测试辐射信号后获得的辐射信号；
根据所述第一辐射信号校验值，对所述第一测试设备对应的RE102辐射发射测试结果进行校验。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在向第一测试设备发送测试辐射信号之前，所述方法还包括：生成所述测试辐射信号。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述测试辐射信号为信号频率范围为10kHz～1GHz的梳状谱信号。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述生成所述测试辐射信号，包括：
将10kHz、100kHz、1MHz、10MHz、30MHz五个点频信号同时输出产生频率范围为10kHz～30MHz梳状谱波；
通过30MHz的点频信号激励梳状波产生器产生频率范围为30MHz～1GHz的梳状谱波。
5.根据权利要求1-4任意一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
向第二测试设备发送所述测试辐射信号；所述第二测试设备与所述第一测试设备所处测试环境不同；
将第二测试设备接收到的第二辐射信号与所述测试辐射信号进行对比，获得第二辐射信号校验值；
根据所述第一辐射信号校验值与所述第二辐射信号校验值，对所述第一测试设备和所述第二测试设备的进行测试能力评估。
6.一种RE102辐射发射测试校验系统，其特征在于，包括：
信号发射装置，用于向第一测试设备发送测试辐射信号；所述测试辐射信号为性能参数稳定的辐射信号；
信号对比装置，用于将第一测试设备接收到的第一辐射信号与所述测试辐射信号进行对比，获得第一辐射信号校验值；所述第一辐射信号为所述第一测试设备在接收到所述测试辐射信号后获得的辐射信号；
结果校验装置，根据所述第一辐射信号校验值，对所述第一测试设备对应的RE102辐射发射测试结果进行校验。
7.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，所述系统还包括：信号产生装置，用于生成所述测试辐射信号。
8.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，所述信号产生装置具体用于将10kHz、100kHz、1MHz、10MHz、30MHz五个点频信号同时输出产生频率范围为10kHz～30MHz梳状谱波；
通过30MHz的点频信号激励梳状波产生器产生频率范围为30MHz～1GHz的梳状谱波。
9.根据权利要求8所述的系统，其特征在于，所述信号发射装置包括可伸缩拉杆天线和固定长度的杆天线；其中，所述可伸缩拉杆天线所述与所述信号产生装置连接，用于发射频率范围为10kHz～30MHz梳状谱波；所述固定长度的杆天线与所述信号产生装置连接，用于发射频率范围为30MHz～1GHz梳状谱波。
10.根据权利要求6-9任意一项所述的系统，其特征在于，还包括内置供电装置。
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