CN114397151B - 一种板材表面质量控制方法、装置、设备及存储介质 - Google Patents
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Abstract
本发明实施例提供了一种板材表面质量控制方法、装置、设备及存储介质，通过制备多个板材样片，然后检测每个板材样片的高点高度数据，再对每个板材样片进行涂装处理，并检测每个板材样片在涂装处理后的表面参数。接着，通过确定每个板材样片的高点高度数据与表面参数之间的线性关系，并基于预设的板材表面参数控制要求以及线性关系，确定出高点高度控制阈值。由于只要板材的高点高度小于高点高度控制阈值，那么在对板材进行涂装处理后，其涂装质量也就满足板材表面参数控制要求，因而，利用高点高度控制阈值对板材的生产过程进行控制，提高了板材的涂装质量良率。
Description
技术领域
本发明涉及板材成型技术领域，尤其涉及一种板材表面质量控制方法、装置、设备及存储介质。
背景技术
随着经济以及汽车工业的飞速发展，消费者对汽车的综合性能要求越来越高。除了考虑汽车安全性能、动力性能、可靠性能外，对外观性能也提出了更高的要求。
由于汽车冲压外覆盖件直接暴露于汽车外部，表面上微小的缺陷在涂装后仍会导致光的漫反射，影响涂装外观性能参数，损害汽车美观。通常来说，冲压外覆盖件常见面品质量问题有高点、开裂、鼓包、硌伤、凹坑等。
目前，主机厂通常是通过对落料、冲压清洗、成形等各生产环节所涉及到的异物进行管控，来达到改善高点的目的。然而目前的相关技术通常无法确定高点高度以及颗粒物直径控制阈值，因此冲压车间对异物的管控缺乏针对性以及指导性，无法有效的减小高点不良率，提升涂装外观质量。
发明内容
本发明实施例通过提供一种板材表面质量控制方法、装置、设备及存储介质，解决了现有技术中板材的涂装质量良率较低的技术问题。
第一方面，本发明通过本发明的一实施例，提供了一种板材表面质量控制方法，所述方法包括：制备多个板材样片；检测每个所述板材样片的高点高度数据；对每个所述板材样片进行涂装处理，并检测每个所述板材样片在涂装处理后的表面参数；确定每个所述板材样片的高点高度数据与所述表面参数之间的线性关系，基于预设的板材表面参数控制要求以及所述线性关系，确定出高点高度控制阈值；利用所述高点高度控制阈值对目标板材的生产过程进行控制。
优选地，所述制备多个板材样片，包括每个所述板材样片的制备过程：在板材模具内放置板材原材料；在所述板材模具的预设位置放置异物样本，并通过预设成型工艺处理所述板材原材料以及所述异物样本，以制备得到一个所述板材样片。
优选地，所述检测每个所述板材样片的高点高度数据，包括：根据预设取样标准，确定所述板材样片的测量区域；对所述测量区域进行检测，以获取所述高点高度数据。
优选地，所述表面参数，包括：面漆长波值和/或面漆鲜映性值；所述板材表面参数控制要求，包括：面漆长波值控制要求和/或面漆鲜映性值控制要求。
优选地，所述确定每个所述板材样片的高点高度数据与所述表面参数之间的线性关系，基于预设的板材表面参数控制要求以及所述线性关系确定高点高度控制阈值，包括：获取每个所述板材样片在涂装处理后的面漆长波值；基于所述板材表面参数控制要求中的面漆长波值控制要求以及所述线性关系，确定出所述高点高度控制阈值；或者获取每个所述板材样片在涂装处理后的面漆鲜映性值；基于所述板材表面参数控制要求中的面漆鲜映性值控制要求以及所述线性关系，确定出所述高点高度控制阈值；或者获取每个所述板材样片在涂装处理后的面漆鲜映性值和面漆长波值，确定所述高点高度数据与所述面漆长波值以及所述面漆鲜映性值之间的线性关系；基于所述板材表面参数控制要求中的面漆长波值控制要求以及所述线性关系，得到第一高点高度控制阈值；基于所述板材表面参数控制要求中的面漆鲜映性值控制要求以及所述线性关系，得到第二高点高度控制阈值；基于所述第一高点高度控制阈值以及所述第二高点高度控制阈值，确定出所述高点高度控制阈值。
优选地，在所述基于预设的板材表面参数控制要求以及所述线性关系，确定出高点高度控制阈值之后，还包括：确定出影响高点高度数据的关键因子，并确定出所述高点高度数据与所述关键因子之间的方程关系；基于所述高点高度控制阈值以及所述方程关系，确定出异物样本控制数据；利用所述异物样本控制数据对所述目标板材的生产过程进行控制。
第二方面，本发明通过本发明一实施例，提供了一种板材表面质量控制装置，所述装置，包括：
高点数据检测单元，用于检测制备得到的多个板材样片的高点高度数据；
表面参数检测单元，用于对每个所述板材样片进行涂装处理，并检测每个所述板材样片在涂装处理后的表面参数；
控制阈值确定单元，用于确定每个所述板材样片的高点高度数据与所述表面参数之间的线性关系，基于预设的板材表面参数控制要求以及所述线性关系，确定出高点高度控制阈值；
生产控制单元，用于利用所述高点高度控制阈值对目标板材的生产过程进行控制。
优选地，所述控制阈值确定单元，还用于：确定出影响高点高度数据的关键因子，并确定出所述高点高度数据与所述关键因子之间的方程关系；基于所述高点高度控制阈值以及所述方程关系，确定出异物样本控制数据；所述生产控制单元，还用于：利用所述异物样本控制数据对所述目标板材的生产过程进行控制。
第三方面，本发明通过本发明的一实施例，提供了一种电子设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的代码，所述处理器在执行所述代码时实现第一方面中任一实施方式。
第四方面，本发明通过本发明的一实施例，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现第一方面中任一实施方式。
本发明实施例中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：
本发明首先制备多个板材样片；然后检测每个板材样片的高点高度数据；再对每个板材样片进行涂装处理，并检测每个板材样片在涂装处理后的表面参数；在检测到高点高度数据和表面参数之后，通过确定每个板材样片的高点高度数据与表面参数之间的线性关系，并基于预设的板材表面参数控制要求以及线性关系，确定出高点高度控制阈值。最后，利用高点高度控制阈值对目标板材的生产过程进行控制，使得更多的目标板材在进行涂装处理后，对应的表面参数能够满足表面参数控制要求，进而，提高了目标板材的涂装质量良率。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例中板材表面质量控制方法的流程图；
图2为本发明实施例中板材表面质量控制装置结构的示意图；
图3为本发明实施例中板材表面质量控制设备结构的示意图；
图4为本发明实施例中计算机可读存储介质结构的示意图。
具体实施方式
本发明实施例通过提供一种板材表面质量控制方法、装置、设备及存储介质，解决了现有技术中板材的涂装质量良率较低的技术问题。
本发明实施例提供的技术方案为解决上述技术问题，总体思路如下：
首先制备多个板材样片；然后检测每个板材样片的高点高度数据；再对每个板材样片进行涂装处理，并检测每个板材样片在涂装处理后的表面参数；在检测到高点高度数据和表面参数之后，通过确定每个板材样片的高点高度数据与表面参数之间的线性关系，并基于预设的板材表面参数控制要求以及线性关系，确定出高点高度控制阈值。最后，利用高点高度控制阈值对目标板材的生产过程进行控制。
由于只要目标板材的高点高度小于高点高度控制阈值，那么在对该目标板材进行涂装处理后，其涂装质量也就满足板材表面参数控制要求，因而，利用高点高度控制阈值对目标板材的生产过程进行控制，能够提高目标板材的涂装质量良率。
为了更好的理解上述技术方案，下面将结合说明书附图以及具体的实施方式对上述技术方案进行详细的说明。
首先说明，本文中出现的术语“和/或”，仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。另外，本文中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
需要说明的是，本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本发明的实施例，能够按照除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。
第一方面，本发明通过本发明一实施例，提供了一种板材表面质量控制方法，可以应用于汽车冲压外覆盖件，例如汽车车门板、汽车引擎盖板等。也可以应用于其他需要先进行冲压再进行表面喷涂的板材，例如金属门板、金属管材等。
请参见图1所示，该板材表面质量控制方法包括如下步骤S101-步骤S105：
步骤S101：制备多个板材样片。
具体的，制备多个板材样片包括了每个板材样片的制备过程，每个板材样片的制备过程如下：在板材模具内放置板材原材料，然后在板材模具的预设位置放置异物样本，并通过预设成型工艺处理板材原材料以及异物样本，以制备得到一个板材样片。
在具体实施过程中，可以在板材模具内放置有板材原材料的情况下，将异物样本放置到该板材模具的预设位置，然后通过预设成型工艺处理板材原材料以及异物样本，来制备得到一个板材样片。接着，在板材模具内放置下一块板材原材料，并将下一块异物样本同样地放置到该板材模具的预设位置，通过同样的预设成型工艺处理该板材原材料以及该异物样本，来制备得到下一个板材样片，直至制备得到的板材样片数量达到预设数量。
需要说明的是，板材样片的数量可以根据实际生产情况设置，所制备板材样片的数量越多，则得到的高点高度控制阈值越准确。上述异物样本的数量与板材样片的数量对应，异物样本可以包括多种材料，且每种材料所对应的尺寸不同。
为了更准确反映板材在实际制造过程中受异物样本的影响，上述异物样本可以是生产车间较为常见的物体。举例来讲，异物样本的材料可以包括：铁、铜、铝、锌、尼龙、涤纶等。举例来讲，异物样本的形状可以包括：丝状、片状以及颗粒状等。举例来讲，异物样本的尺寸可以包括：直径0.1mm、直径0.2mm以及直径0.3mm，这样能够保证后续检测这些板材样片所得到的高点高度梯度较大。
为了更好地理解上述板材样片的制备过程，接下来进行举例性说明，可以在板材模具内放置钢板材，然后将直径为0.1mm的铁质颗粒放置到该板材模具的中间位置，然后利用拉伸成型工艺处理钢板材以及铁质颗粒，来制备得到第一个板材样片。
接着，在板材模具内放置下一块钢板材，然后将直径为0.2mm的铁质颗粒放置到该板材模具的中间位置，然后利用拉伸成型工艺处理该钢板材以及该铁质颗粒，来制备得到第二个板材样片。以此重复地制备板材样片，直到制备得到18个板材样片。
步骤S102：检测每个板材样片的高点高度数据。
具体的，可以根据预设取样标准，确定板材样片的测量区域，然后对测量区域进行检测，以获取高点高度数据。
在具体实施过程中，根据预设取样标准确定板材样片的测量区域，可以包括：从板材样片上选取预设尺寸大小的区域，并且使该区域的中心集中有该板材样片上的高点，所确定出的区域即为测量区域。
举例来讲，可以在板材样片上找到高点较为集中的位置，以该位置为中心，选取尺寸大小为200mm*200mm的矩形区域作为测量区域。
在具体实施过程中，可以利用测量仪器来获取测量区域内板材样片的高点高度数据，例如，可以利用表面轮廓仪对测量区域内的板材样片进行扫描，得到表面轮廓曲线，并通过使用轮廓仪自带软件测量，便可得到高点高度数据。
需要说明的是，表面轮廓仪的分辨率越高，获取到的高点高度数据也就越准确，在具体实施时，可以选用分辨率大于或等于50nm的表面轮廓仪。并且，由于表面轮廓仪的取样行程和测量速度会影响高点高度数据的准确性，为了使获取到的高点高度数据更加准确可靠，可以将表面轮廓仪的取样行程设置为20mm～50mm中的任意一个值。可以将表面轮廓仪的取样截止长度设置为0.08mm～10mm中的任意一个值。可以将表面轮廓仪的取样截止长度与评定长度之比设置为30～1000中的任意一个值。可以将表面轮廓仪的测量速度设置为0.05mm/s～2mm/s中的任意一个值。
步骤S103：对每个板材样片进行涂装处理，并检测每个板材样片在涂装处理后的表面参数。
具体的，表面参数可以包括：面漆长波值和/或面漆鲜映性值。
在具体实施过程中，涂装处理可以包括：前处理、电泳以及喷漆。可以利用测量仪器，例如桔皮仪，来检测每个板材样片在涂装处理后的面漆长波值和/或面漆鲜映性值。
需要说明的是，上述涂装处理是由目标板材的使用场景决定的。举例来讲，若目标板材是用于汽车门板上的，则涂装处理可以根据汽车门板的涂装要求设置，举例来讲，汽车门板的涂装要求可以包括：脱脂、磷化、电泳以及喷漆处理。
另外，在具体实施过程中，为了便于对板材样片进行涂装处理，可以将一块或多块板材样片贴于汽车门板上，然后再对板材样片进行涂装处理。
步骤S104：确定每个板材样片的高点高度数据与表面参数之间的线性关系，基于预设的板材表面参数控制要求以及线性关系，确定出高点高度控制阈值。
具体的，板材表面参数控制要求可以包括：面漆长波值控制要求和/或面漆鲜映性值控制要求。
在具体实施过程中，面漆长波值控制要求可以包括：面漆长波值小于或等于预设面漆长波值；面漆鲜映性值控制要求可以包括：面漆鲜映性值小于或等于预设面漆鲜映性值。
具体的，确定出高点高度控制阈值可以通过如下任意一种方式：
方式一、获取每个板材样片在涂装处理后的面漆长波值；基于面漆长波值控制要求以及线性关系，确定出高点高度控制阈值。
方式二、获取每个板材样片在涂装处理后的面漆鲜映性值；基于面漆鲜映性值控制要求以及线性关系，确定出高点高度控制阈值。
方式三、获取每个板材样片在涂装处理后的面漆鲜映性值和面漆长波值，确定高点高度数据与面漆长波值以及面漆鲜映性值之间的线性关系；基于面漆长波值控制要求以及线性关系，得到第一高点高度控制阈值；基于面漆鲜映性值控制要求以及线性关系，得到第二高点高度控制阈值；基于第一高点高度控制阈值以及第二高点高度控制阈值，确定出高点高度控制阈值。
针对方式一，具体的，可以对每个板材样片对应的高点高度数据和面漆长波值进行相关性分析，建立高点高度数据关于面漆长波值的一元线性回归方程。那么基于面漆长波值控制要求以及该一元线性回归方程，就能够确定出高点高度控制阈值。
在具体实施过程中，面漆长波值必然小于或等于某个面漆长波值，根据高点高度数据关于面漆长波值的一元线性回归方程，则高点高度数据也就小于或等于某个高点高度阈值，进而就能够将该高点高度阈值确定为高点高度控制阈值。
针对方式二，具体的，可以对每个板材样片对应的高点高度数据和面漆鲜映性值进行相关性分析，建立高点高度数据关于面漆鲜映性值的一元线性回归方程。那么基于面漆鲜映性值控制要求以及该一元线性回归方程，就能够确定出高点高度控制阈值。
在具体实施过程中，面漆鲜映性值必然小于或等于某个面漆鲜映性值，根据高点高度数据关于面漆鲜映性值的一元线性回归方程，则高点高度数据也就小于或等于某个高点高度阈值，进而就能够将该高点高度阈值确定为高点高度控制阈值。
针对方式三，具体的，可以对每个板材样片对应的高点高度数据、面漆长波和面漆鲜映性值进行相关性分析，建立高点高度数据关于面漆鲜映性值以及面漆长波值的一元线性回归方程。
那么基于面漆鲜映性值控制要求以及该一元线性回归方程，就能够确定出第一高点高度控制阈值；基于面漆长波值控制要求以及该一元线性回归方程，就能够确定出第二高点高度控制阈值。然后通过比较第一高点高度控制阈值与第二高点高度控制阈值的大小，将两者中的较小值确定为高点高度控制阈值。
在具体实施过程中，面漆长波值必然小于或等于某个面漆长波值，面漆鲜映性值也必然小于或等于某个面漆鲜映性值；根据高点高度数据关于面漆长波值以及面漆鲜映性值的一元线性回归方程，高点高度数据会小于或等于第一高点高度阈值，且小于或等于第二高点高度阈值。可以将第一高点高度阈值和第二高点高度阈值中较小的一个确定为高点高度控制阈值。
步骤S105：利用高点高度控制阈值对目标板材的生产过程进行控制。
具体的，可以在目标板材未进行涂装处理之前，利用高点高度控制阈值，对目标板材上的高点进行再处理，以尽量使目标板材上的高点小于或等于高点高度控制阈值。因而，在对经过再处理后的目标板材进行涂装处理后，该目标板材涂装质量合格的几率也就越大，进而实现提高目标板材的涂装质量良率的效果。
虽然，利用高点高度控制阈值对目标板材进行再处理，能够提高目标板材的涂装质量良率，但是在目标板材成型之后，依然存在高点高度超出高点高度控制阈值的情况，无法使得目标板材的涂装质量良率进一步提高。
因此，为了进一步提高目标板材的涂装质量良率，可以对目标板材的生产过程进行控制。具体的，可以确定出影响高点高度数据的关键因子，并确定出高点高度数据与关键因子之间的方程关系；再基于高点高度控制阈值以及方程关系，确定出异物样本控制数据；最后，利用异物样本控制数据对目标板材的生产过程进行控制。
在具体实施过程中，可以根据实际生产经验确定出影响高点高度数据的关键因子。举例来讲，车间常见的关键因子可以包括：异物的尺寸、异物的硬度、目标板材的厚度、板材模具的间隙、目标板材的拉延减薄率以及R角尺寸。
在具体实施过程中，可以通过对关键因子进行量化，搭建DOE(Design OfExperimen，试验设计)实验，来建立高点高度数据关于关键因子的方程式。
需要说明的是，由于高点高度数据是望小值，高点高度数据与异物的尺寸满足正相关关系；高点高度数据与异物的硬度满足正相关关系；高点高度数据与与目标板材的厚度满足正相关关系；高点高度数据与板材模具的间隙满足负相关关系；高点高度数据与目标板材的拉延减薄率满足正相关关系；R角尺寸则根据异物在模具所处的位置确定。
举例来讲，由于异物样本包括多种材料，导致关键因子中异物的硬度涉及到各种金属和非金属，造成异物的硬度没有统一的测量方式，因此，可以采用杨氏模量来量化异物的硬度。举例来讲，关键因子中的拉延减薄率可以由拉延深度来量化。举例来讲，可以通过开展6因子3水平全因子实验，结合回归分析，来建立高点高度数据关于关键因子的方程式。
在具体实施过程中，可以将除异物的尺寸之外的其它关键因子调整至最低水平，再根据高点高度控制阈值，便能够逆向计算得到异物样本控制数据。此时，异物样本控制数据包括异物尺寸控制阈值。
若将除异物的硬度之外的其它关键因子调整至最低水平，再根据高点高度控制阈值，便能够逆向计算得到异物样本控制数据。此时，异物样本控制数据包括异物硬度控制阈值。
基于类似方式的计算，异物样本控制数据还可以包括：目标板材的厚度控制阈值、板材模具的间隙控制阈值、目标板材的拉延减薄率控制阈值以及R角尺寸。
在目标板材的实际生产过程中，可以利用异物样本控制数据，对目标板材的生产过程进行控制。例如，可以通过清除目标板材周围的异物，尤其是尺寸大于或等于异物样本控制数据中的异物尺寸控制阈值的异物，这样就能够防止异物影响目标板材的高点高度，进而提高目标板材的涂装质量良率。当然，也可以通过调整板材模具的间隙，来使得目标板材的涂装质量良率提高。
第二方面，本发明通过本发明一实施例，提供了一种板材表面质量控制装置。
请参见图2所示，该装置，包括：
高点数据检测单元201，用于检测制备得到的多个板材样片的高点高度数据。
表面参数检测单元202，用于对每个板材样片进行涂装处理，并检测每个板材样片在涂装处理后的表面参数。
控制阈值确定单元203，用于确定每个板材样片的高点高度数据与表面参数之间的线性关系，基于预设的板材表面参数控制要求以及线性关系，确定出高点高度控制阈值。
生产控制单元204，用于利用高点高度控制阈值对目标板材的生产过程进行控制。
作为一种可选的实施方式，高点数据检测单元201，具体用于：根据预设取样标准，确定板材样片的测量区域；对测量区域进行检测，以获取高点高度数据。
作为一种可选的实施方式，控制阈值确定单元203，具体用于：
获取每个板材样片在涂装处理后的面漆长波值；基于板材表面参数控制要求中的面漆长波值控制要求以及线性关系，确定出高点高度控制阈值。
或者，获取每个板材样片在涂装处理后的面漆鲜映性值；基于板材表面参数控制要求中的面漆鲜映性值控制要求以及线性关系，确定出高点高度控制阈值。
或者，获取每个板材样片在涂装处理后的面漆鲜映性值和面漆长波值，确定高点高度数据与面漆长波值以及面漆鲜映性值之间的线性关系；基于板材表面参数控制要求中的面漆长波值控制要求以及线性关系，得到第一高点高度控制阈值；基于板材表面参数控制要求中的面漆鲜映性值控制要求以及线性关系，得到第二高点高度控制阈值；基于第一高点高度控制阈值以及第二高点高度控制阈值，确定出高点高度控制阈值。
作为一种可选的实施方式，控制阈值确定单元203，还用于：确定出影响高点高度数据的关键因子，并确定出高点高度数据与关键因子之间的方程关系；基于高点高度控制阈值以及方程关系，确定出异物样本控制数据。
生产控制单元204，还用于：利用异物样本控制数据对目标板材的生产过程进行控制。
由于本实施例所介绍的板材表面质量控制方法，为实施本发明实施例中板材表面质量控制装置所采用的方法，故而基于本发明实施例中所介绍的板材表面质量控制方法，本领域所属技术人员能够了解本实施例的方法的具体实施方式以及其各种变化形式，所以在此对于该方法如何实现本发明实施例中的方法不再详细介绍。只要本领域所属技术人员实施本发明实施例中板材表面质量控制装置所采用的方法，都属于本发明所欲保护的范围。
第三方面，基于同一发明构思，本发明实施例提供了一种板材表面质量控制设备。
参考图3所示，本发明实施例提供的板材表面质量控制设备，包括：存储器301、处理器302及存储在存储器上并可在处理器302上运行的代码，处理器302在执行代码时，实现前文板材表面质量控制方法中任一实施方式。
其中，在图3中，总线架构(用总线300来代表)，总线300可以包括任意数量的互联的总线和桥，总线300将包括由处理器302代表的一个或多个处理器和存储器301代表的存储器的各种电路链接在一起。总线300还可以将诸如外围设备、稳压器和功率管理电路等之类的各种其他电路链接在一起，这些都是本领域所公知的，因此，本文不再对其进行进一步描述。总线接口305在总线300和接收器303和发送器304之间提供接口。接收器303和发送器304可以是同一个元件，即收发机，提供用于在传输介质上与各种其他装置通信的单元。处理器302负责管理总线300和通常的处理，而存储器301可以被用于存储处理器302在执行操作时所使用的数据。
第四方面，基于同一发明构思，如图4所示，本实施例提供了一种计算机可读存储介质400，其上存储有计算机程序401，该程序401被处理器执行时实现前文板材表面质量控制方法中任一实施方式。
上述本发明实施例中的技术方案，至少具有如下的技术效果或优点：
1、本发明通过制备多个板材样片；然后检测每个板材样片的高点高度数据；再对每个板材样片进行涂装处理，并检测每个板材样片在涂装处理后的表面参数；在检测到高点高度数据和表面参数之后，通过确定每个板材样片的高点高度数据与表面参数之间的线性关系，并基于预设的板材表面参数控制要求以及线性关系，确定出高点高度控制阈值。最后，利用高点高度控制阈值对目标板材的生产过程进行控制，使得更多的目标板材在进行涂装处理后，对应的表面参数能够满足表面参数控制要求，进而，提高了目标板材的涂装质量良率。
2、本发明还可以通过确定出影响高点高度数据的关键因子，并确定出高点高度数据与关键因子之间的方程关系；再基于高点高度控制阈值以及方程关系，确定出异物样本控制数据；最后，利用异物样本控制数据对目标板材的生产过程进行控制，进一步提高了目标板材的涂装质量良率。
本领域内的技术人员应明白，本发明的实施例可提供为方法、系统、或计算机产品。因此，本发明可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明可采用在一个或多个其中包含有计算机可用代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机产品的形式。
本发明是参照根据本发明实施例的方法、设备(系统)、和计算机产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
尽管已描述了本发明的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本发明范围的所有变更和修改。
显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。
Claims (9)
1.一种板材表面质量控制方法，其特征在于，所述方法包括：
制备多个板材样片；
检测每个所述板材样片的高点高度数据；
对每个所述板材样片进行涂装处理，并检测每个所述板材样片在涂装处理后的表面参数；所述表面参数，包括：面漆长波值和/或面漆鲜映性值；确定每个所述板材样片的高点高度数据与所述表面参数之间的线性关系，基于预设的板材表面参数控制要求以及所述线性关系，确定出高点高度控制阈值；所述板材表面参数控制要求，包括：面漆长波值控制要求和/或面漆鲜映性值控制要求；
利用所述高点高度控制阈值对目标板材的生产过程进行控制。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述制备多个板材样片，包括每个所述板材样片的制备过程：
在板材模具内放置板材原材料；
在所述板材模具的预设位置放置异物样本，并通过预设成型工艺处理所述板材原材料以及所述异物样本，以制备得到一个所述板材样片。
3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述检测每个所述板材样片的高点高度数据，包括：
根据预设取样标准，确定所述板材样片的测量区域；
对所述测量区域进行检测，以获取所述高点高度数据。
4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定每个所述板材样片的高点高度数据与所述表面参数之间的线性关系，基于预设的板材表面参数控制要求以及所述线性关系确定高点高度控制阈值，包括：
获取每个所述板材样片在涂装处理后的面漆长波值，确定所述面漆长波值与所述高点高度数据之间的线性关系；基于所述板材表面参数控制要求中的面漆长波值控制要求以及所述线性关系，确定出所述高点高度控制阈值；
或者
获取每个所述板材样片在涂装处理后的面漆鲜映性值，确定所述面漆鲜映性值与所述高点高度数据之间的线性关系；基于所述板材表面参数控制要求中的面漆鲜映性值控制要求以及所述线性关系，确定出所述高点高度控制阈值；
或者
获取每个所述板材样片在涂装处理后的面漆鲜映性值和面漆长波值，确定所述高点高度数据与所述面漆长波值以及所述面漆鲜映性值之间的线性关系；基于所述板材表面参数控制要求中的面漆长波值控制要求以及所述线性关系，得到第一高点高度控制阈值；基于所述板材表面参数控制要求中的面漆鲜映性值控制要求以及所述线性关系，得到第二高点高度控制阈值；基于所述第一高点高度控制阈值以及所述第二高点高度控制阈值，确定出所述高点高度控制阈值。
5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述基于预设的板材表面参数控制要求以及所述线性关系，确定出高点高度控制阈值之后，还包括：
确定出影响高点高度数据的关键因子，并确定出所述高点高度数据与所述关键因子之间的方程关系；
基于所述高点高度控制阈值以及所述方程关系，确定出异物样本控制数据；
利用所述异物样本控制数据对所述目标板材的生产过程进行控制。
6.一种板材表面质量控制装置，其特征在于，所述装置，包括：
高点数据检测单元，用于检测制备得到的多个板材样片的高点高度数据；
表面参数检测单元，用于对每个所述板材样片进行涂装处理，并检测每个所述板材样片在涂装处理后的表面参数；所述表面参数，包括：面漆长波值和/或面漆鲜映性值；
控制阈值确定单元，用于确定每个所述板材样片的高点高度数据与所述表面参数之间的线性关系，基于预设的板材表面参数控制要求以及所述线性关系，确定出高点高度控制阈值；所述板材表面参数控制要求，包括：面漆长波值控制要求和/或面漆鲜映性值控制要求；
生产控制单元，用于利用所述高点高度控制阈值对目标板材的生产过程进行控制。
7.如权利要求6所述的装置，其特征在于，
所述控制阈值确定单元，还用于：
确定出影响高点高度数据的关键因子，并确定出所述高点高度数据与所述关键因子之间的方程关系；
基于所述高点高度控制阈值以及所述方程关系，确定出异物样本控制数据；
所述生产控制单元，还用于：
利用所述异物样本控制数据对所述目标板材的生产过程进行控制。
8.一种电子设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的代码，其特征在于，所述处理器在执行所述代码时实现权利要求1-5中任一所述方法。
9.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-5中任一所述方法。
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