CN114388660A - 一种降低CZTSSe薄膜中小晶粒层的方法 - Google Patents

一种降低CZTSSe薄膜中小晶粒层的方法 Download PDF

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Abstract

一种降低CZTSSe薄膜中小晶粒层的方法,本发明涉及太阳能电池领域。本发明要解决现有溶液法制备CZTSSe薄膜碳残留会限制CZTSSe晶粒的生长,导致小晶粒层的生成,限制CZTSSe太阳能电池的效率提升的问题。方法:一、CZTS纳米晶前驱体薄膜的制备;二、硒化。本发明用于降低CZTSSe薄膜中小晶粒层。

Description

一种降低CZTSSe薄膜中小晶粒层的方法
技术领域
本发明涉及太阳能电池领域,具体涉及一种降低CZTSSe薄膜中小晶粒层的方法。
背景技术
铜锌锡硫硒薄膜太阳能电池是从铜铟镓硒太阳能电池演变而来的,用Zn和Sn取代了CIGS中的稀有金属In和Ga,铜锌锡硫硒太阳能电池吸光层材料的化学式为Cu2ZnSn(S,Se)4(CZTSSe),由于CZTSSe材料的元素储量十分丰富,Zn和Sn的地壳含量分别是In的20000倍和500倍且没有毒性,是一种和铜铟镓硒(CIGSe)类似的但是更为廉价的替代材料。CZTSSe薄膜太阳能电池的制备方法主要分为真空法和非真空法两大类。真空法主要包括共蒸发法、磁控溅射法、脉冲激光法等。非真空法主要包括分子前驱体溶液法、纳米晶溶液法、电化学沉积法等。为了进一步提高薄膜质量,将薄膜进行硒化处理,可提高晶粒尺寸,进而降低吸收层的缺陷和晶粒晶界。
但溶液法制备CZTSSe薄膜,由于前驱体溶液中含有的碳,会导致碳残留。这些碳残留会限制CZTSSe晶粒的生长,导致小晶粒层的生成,进而会增加串联电阻,降低太阳能电池的填充系数,从而限制了CZTSSe太阳能电池的效率提升。
发明内容
本发明要解决现有溶液法制备CZTSSe薄膜碳残留会限制CZTSSe晶粒的生长,导致小晶粒层的生成,限制CZTSSe太阳能电池的效率提升的问题,而提供一种降低CZTSSe薄膜中小晶粒层的方法。
本发明的一种降低CZTSSe薄膜中小晶粒层的方法,它是按照以下步骤进行的:
一、CZTS纳米晶前驱体薄膜的制备:
按摩尔比为1~2mmol:0.6~0.8mmol:0.8~1.0mmol:1~1.1mmol的比例称取硒源、氧化铜、无水四氯化锡和氧化锌;然后与乙醇胺、巯基乙酸和乙二醇甲醚的混合液混合均匀后,得CZTS溶胶前驱体旋涂液;将CZTS溶胶前驱体液旋涂到清洗干净的镀钼玻璃基底上,然后加热,旋涂后得到CZTS纳米晶前驱体薄膜;
所述的乙醇胺、巯基乙酸和乙二醇甲醚的混合液中乙醇胺、巯基乙酸和乙二醇甲醚的体积比为1:0.5~0.7:1~3;
二、硒化:
将二硫化硒与质量百分数为97%~98%的水合肼混合搅拌12h~24h,得到混合物,在氮气气氛下,将CZTS纳米晶前驱体薄膜浸渍于混合物中,并在温度为530℃~550℃的条件下,对CZTS纳米晶前驱体薄膜进行硒化10min~15min,得到CZTSSe薄膜。
本发明的有益效果是:
本发明制备的CZTSSe薄膜由单层大晶粒构成,晶粒尺寸大、致密连续且均匀,无晶界缺陷,几乎不含有小晶粒层。且制备出具有锌黄锡矿结构的薄膜。本发明通过向前驱体溶液中加入硒源,选择合适的溶液组分,能够抑制CZTSSe薄膜的小晶粒层生长。
本发明采用水合肼与二硫化硒制备混合物,硒化过程中可同时生成容易挥发的CS2,利于硒化反应持续进行,得到大晶粒尺寸的薄膜。
附图说明
图1为实施例一制备的CZTSSe薄膜的表面形貌图;
图2为实施例一制备的CZTSSe薄膜的截面形貌图;
图3为实施例一制备的CZTSSe薄膜的XRD图;
图4为实施例一制备的CZTSSe薄膜的禁带宽度图;
图5为对比例一制备的CZTSSe薄膜的截面形貌图;
图6为对比例二制备的CZTSSe薄膜的截面形貌图。
具体实施方式
本发明技术方案不局限于以下所列举的具体实施方式,还包括各具体实施方式之间的任意组合。
具体实施方式一:本实施方式的一种降低CZTSSe薄膜中小晶粒层的方法,它是按照以下步骤进行的:
一、CZTS纳米晶前驱体薄膜的制备:
按摩尔比为1~2mmol:0.6~0.8mmol:0.8~1.0mmol:1~1.1mmol的比例称取硒源、氧化铜、无水四氯化锡和氧化锌;然后与乙醇胺、巯基乙酸和乙二醇甲醚的混合液混合均匀后,得CZTS溶胶前驱体旋涂液;将CZTS溶胶前驱体液旋涂到清洗干净的镀钼玻璃基底上,然后加热,反复旋涂后得到CZTS纳米晶前驱体薄膜;
所述的乙醇胺、巯基乙酸和乙二醇甲醚的混合液中乙醇胺、巯基乙酸和乙二醇甲醚的体积比为1:0.5~0.7:1~3;
二、硒化:
将二硫化硒与质量百分数为97%~98%的水合肼混合搅拌12h~24h,得到混合物,在氮气气氛下,将CZTS纳米晶前驱体薄膜浸渍于混合物中,并在温度为530℃~550℃的条件下,对CZTS纳米晶前驱体薄膜进行硒化10min~15min,得到CZTSSe薄膜。
具体实施方式二:本实施方式与具体实施方式一不同的是:步骤一中所述的CZTS纳米晶前驱体薄膜的厚度为1.5μm~1.7μm。其它与具体实施方式一相同。
具体实施方式三:本实施方式与具体实施方式一或二之一不同的是:步骤一中所述的按摩尔比为2mmol:0.7mmol:0.9mmol:1.05mmol的比例称取硒源、氧化铜、无水四氯化锡和氧化锌。其它与具体实施方式一或二相同。
具体实施方式四:本实施方式与具体实施方式一至三之一不同的是:步骤一中所述的乙醇胺、巯基乙酸和乙二醇甲醚的混合液中乙醇胺、巯基乙酸与乙二醇甲醚的体积比为1:0.6:2。其它与具体实施方式一至三相同。
具体实施方式五:本实施方式与具体实施方式一至四之一不同的是:步骤一中将氧化铜、无水四氯化锡、氧化锌、硒源与乙醇胺、巯基乙酸和乙二醇甲醚的混合液,在超声功率为80~100w的条件下超声混合。其它与具体实施方式一至四相同。
具体实施方式六:本实施方式与具体实施方式一至五之一不同的是:步骤一中先将无水四氯化锡加入到乙醇胺、巯基乙酸和乙二醇甲醚的混合液中,在超声功率为80~100w的条件下超声10min,然后加入氧化铜在超声功率为80~100w的条件下超声20~30min,再加入氧化锌在超声功率为80~100w的条件下超声5~10min,最后加入硒源在超声功率为80~100w的条件下超声10~30min。其它与具体实施方式一至五相同。
具体实施方式七:本实施方式与具体实施方式一至六之一不同的是:步骤一中所述的加热具体是在加热温度为300℃~350℃的条件下,加热1~5min。其它与具体实施方式一至六相同。
具体实施方式八:本实施方式与具体实施方式一至七之一不同的是:步骤一中所述的硒源、氧化铜、无水四氯化锡和氧化锌的总摩尔与乙醇胺、巯基乙酸和乙二醇甲醚的混合液的总体积比为(0.5~0.7)mmol:1mL。其它与具体实施方式一至七相同。
具体实施方式九:本实施方式与具体实施方式一至八之一不同的是:步骤一中所述的硒源为硒粉或二氧化硒。其它与具体实施方式一至八相同。
具体实施方式十:本实施方式与具体实施方式一至九之一不同的是:步骤二中所述的二硫化硒与质量百分数为97%~98%的水合肼的质量比为1:(1~30)。其它与具体实施方式一至九相同。
采用以下实施例验证本发明的有益效果:
实施例一:
一种降低CZTSSe薄膜中小晶粒层的方法,它是按照以下步骤进行的:
一、CZTS纳米晶前驱体薄膜的制备:
先将0.9mmol的无水四氯化锡加入到乙醇胺、巯基乙酸和乙二醇甲醚的混合液中,在超声功率为100w的条件下超声10min,然后加入0.7mmol的氧化铜在超声功率为80w的条件下超声30min,再加入1.05mmol的氧化锌在超声功率为80w的条件下超声5min,最后加入2mmol的硒粉在超声功率为80w的条件下超声15min,得CZTS溶胶前驱体旋涂液,经过过滤后,在转速为3000rpm的条件下将CZTS溶胶前驱体液旋涂到清洗干净的镀钼玻璃基底上,旋涂20s后,320℃加热1min,得到CZTS纳米晶前驱体薄膜;其中,乙醇胺、巯基乙酸和乙二醇甲醚的混合液中含有1.2mL的巯基乙酸、2mL的乙醇胺和4mL的乙二醇甲醚;
所述的CZTS纳米晶前驱体薄膜的厚度为1.6μm;
二、硒化:
将二硫化硒与质量百分数为97%的水合肼混合搅拌12h,得到混合物,在氮气气氛下,将CZTS纳米晶前驱体薄膜浸渍于混合物中,并在温度为540℃的条件下,对CZTS纳米晶前驱体薄膜进行硒化12min,得到CZTSSe薄膜;
所述的二硫化硒与质量百分数为97%~98%的水合肼的质量比为1:20。
对比例一:本对比例与实施例一不同的是:步骤一中不加入硒粉。其它与具体实施方式一相同。
对比例二:本对比例与实施例一不同的是:步骤二中硒化具体为将CZTS纳米晶前驱体薄膜及0.5g的硒粉置于石墨盒内,盖上石墨盖,然后以1min的速度升温至540℃并保持12min后,得到CZTSSe薄膜。其它与具体实施方式一相同。
图1为实施例一制备的CZTSSe薄膜的表面形貌图;图2为实施例一制备的CZTSSe薄膜的截面形貌图;由图可知,所制备的薄膜由单层大晶粒构成,晶粒尺寸大、致密连续且均匀,无晶界缺陷,几乎不含有小晶粒层。
图3为实施例一制备的CZTSSe薄膜的XRD图。由图可知,本实施例制备的材料为锌黄锡矿结构,具有特征(200)晶面的衍射峰,且不存在其他杂相。
由图1至3可知,本发明通过向前驱体溶液中加入硒元素,提高前驱体薄膜中Se和S的比例,提高了硒化后薄膜的结晶性,利于大晶粒的生长。本发明采用水合肼与二硫化硒制备混合物,硒化过程中可同时生成容易挥发的CS2
图4为实施例一制备的CZTSSe薄膜的禁带宽度图;由图可知,实施例一制备的CZTSSe材料的禁带宽度的光学带隙约为1.39eV。
图5为对比例一制备的CZTSSe薄膜的截面形貌图;由图可知,在前驱体溶液中不加入硒粉后,存在明显的小晶粒层,小晶粒之间存在大量的晶界,增加了缺陷复合,从而降低了CZTSSe吸收层禁带宽度。
图6为对比例二制备的CZTSSe薄膜的截面形貌图;由图可知,虽然在前驱体溶液中加入了硒粉,但是,并未采用实施例一的硒化方法,依旧存在小晶粒层。
将实施例一、对比例一和对比例二的CZTSSe薄膜分别采用常规方法组装成太阳能电池,太阳能电池结构为:SLG/Mo/CZTSSe/CdS/i-ZnO/ITO/Al。测得实施例一的太阳能电池光电转化效率为10.7%;对比例一的太阳能电池光电转化效率为8.7%;对比例二的太阳能电池光电转化效率为9.9%。
实施例二:
一种降低CZTSSe薄膜中小晶粒层的方法,它是按照以下步骤进行的:
一、CZTS纳米晶前驱体薄膜的制备:
先将0.9mmol的无水四氯化锡加入到乙醇胺、巯基乙酸和乙二醇甲醚的混合液中,在超声功率为100w的条件下超声10min,然后加入0.7mmol的氧化铜在超声功率为80w的条件下超声30min,再加入1.05mmol的氧化锌在超声功率为80w的条件下超声5min,最后加入2mmol的二氧化硒在超声功率为80w的条件下超声15min,得CZTS溶胶前驱体旋涂液,经过过滤后,在转速为3000rpm的条件下将CZTS溶胶前驱体液旋涂到清洗干净的镀钼玻璃基底上,旋涂20s后,320℃加热1min,得到CZTS纳米晶前驱体薄膜;其中,乙醇胺、巯基乙酸和乙二醇甲醚的混合液中含有1.2mL的巯基乙酸、2mL的乙醇胺和4mL的乙二醇甲醚;
所述的CZTS纳米晶前驱体薄膜的厚度为1.6μm;
二、硒化:
将二硫化硒与质量百分数为97%的水合肼混合搅拌12h,得到混合物,在氮气气氛下,将CZTS纳米晶前驱体薄膜浸渍于混合物中,并在温度为540℃的条件下,对CZTS纳米晶前驱体薄膜进行硒化12min,得到CZTSSe薄膜;
所述的二硫化硒与质量百分数为97%~98%的水合肼的质量比为1:20。
将实施例二采用常规方法组装成太阳能电池,太阳能电池结构为:SLG/Mo/CZTSSe/CdS/i-ZnO/ITO/Al。测得的太阳能电池光电转化效率为10.4%。

Claims (10)

1.一种降低CZTSSe薄膜中小晶粒层的方法,其特征在于它是按照以下步骤进行的:
一、CZTS纳米晶前驱体薄膜的制备:
按摩尔比为1~2mmol:0.6~0.8mmol:0.8~1.0mmol:1~1.1mmol的比例称取硒源、氧化铜、无水四氯化锡和氧化锌;然后与乙醇胺、巯基乙酸和乙二醇甲醚的混合液混合均匀后,得CZTS溶胶前驱体旋涂液;将CZTS溶胶前驱体液旋涂到清洗干净的镀钼玻璃基底上,然后加热,旋涂后得到CZTS纳米晶前驱体薄膜;
所述的乙醇胺、巯基乙酸和乙二醇甲醚的混合液中乙醇胺、巯基乙酸与乙二醇甲醚的体积比为1:0.5~0.7:1~3;
二、硒化:
将二硫化硒与质量百分数为97%~98%的水合肼混合搅拌12h~24h,得到混合物,在氮气气氛下,将CZTS纳米晶前驱体薄膜浸渍于混合物中,并在温度为530℃~550℃的条件下,对CZTS纳米晶前驱体薄膜进行硒化10min~15min,得到CZTSSe薄膜。
2.根据权利要求1所述的一种降低CZTSSe薄膜中小晶粒层的方法,其特征在于步骤一中所述的CZTS纳米晶前驱体薄膜的厚度为1.5μm~1.7μm。
3.根据权利要求1所述的一种降低CZTSSe薄膜中小晶粒层的方法,其特征在于步骤一中所述的按摩尔比为2mmol:0.7mmol:0.9mmol:1.05mmol的比例称取硒源、氧化铜、无水四氯化锡和氧化锌。
4.根据权利要求1所述的一种降低CZTSSe薄膜中小晶粒层的方法,其特征在于步骤一中所述的乙醇胺、巯基乙酸和乙二醇甲醚的混合液中乙醇胺、巯基乙酸与乙二醇甲醚的体积比为1:0.6:2。
5.根据权利要求1所述的一种降低CZTSSe薄膜中小晶粒层的方法,其特征在于步骤一中将氧化铜、无水四氯化锡、氧化锌、硒源与乙醇胺、巯基乙酸和乙二醇甲醚的混合液,在超声功率为80~100w的条件下超声混合。
6.根据权利要求1或5所述的一种降低CZTSSe薄膜中小晶粒层的方法,其特征在于步骤一中先将无水四氯化锡加入到乙醇胺、巯基乙酸和乙二醇甲醚的混合液中,在超声功率为80~100w的条件下超声10min,然后加入氧化铜在超声功率为80~100w的条件下超声20~30min,再加入氧化锌在超声功率为80~100w的条件下超声5~10min,最后加入硒源在超声功率为80~100w的条件下超声10~30min。
7.根据权利要求1所述的一种降低CZTSSe薄膜中小晶粒层的方法,其特征在于步骤一中所述的加热具体是在加热温度为300℃~350℃的条件下,加热1~5min。
8.根据权利要求1所述的一种降低CZTSSe薄膜中小晶粒层的方法,其特征在步骤一中所述的硒源、氧化铜、无水四氯化锡和氧化锌的总摩尔与乙醇胺、巯基乙酸和乙二醇甲醚的混合液的总体积比为(0.5~0.7)mmol:1mL。
9.根据权利要求1所述的一种降低CZTSSe薄膜中小晶粒层的方法,其特征在于步骤一中所述的硒源为硒粉或二氧化硒。
10.根据权利要求1所述的一种降低CZTSSe薄膜中小晶粒层的方法,其特征在于步骤二中所述的二硫化硒与质量百分数为97%~98%的水合肼的质量比为1:(1~30)。
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