CN114383580A - 电子勘测仪器 - Google Patents
电子勘测仪器 Download PDFInfo
- Publication number
- CN114383580A CN114383580A CN202111170064.2A CN202111170064A CN114383580A CN 114383580 A CN114383580 A CN 114383580A CN 202111170064 A CN202111170064 A CN 202111170064A CN 114383580 A CN114383580 A CN 114383580A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- sequence
- projection light
- image
- image sensor
- preparation
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 45
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 24
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 claims description 7
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 claims description 5
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 claims description 5
- 230000008685 targeting Effects 0.000 claims description 4
- 238000011065 in-situ storage Methods 0.000 claims description 3
- 238000001429 visible spectrum Methods 0.000 claims description 2
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 claims 13
- 230000008569 process Effects 0.000 description 17
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 13
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 9
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 8
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 8
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 5
- 239000003550 marker Substances 0.000 description 4
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000013481 data capture Methods 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 230000001627 detrimental effect Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000011835 investigation Methods 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 238000009428 plumbing Methods 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 238000003908 quality control method Methods 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 238000012876 topography Methods 0.000 description 1
- 238000012800 visualization Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C3/00—Measuring distances in line of sight; Optical rangefinders
- G01C3/02—Details
- G01C3/06—Use of electric means to obtain final indication
- G01C3/08—Use of electric radiation detectors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C15/00—Surveying instruments or accessories not provided for in groups G01C1/00 - G01C13/00
- G01C15/002—Active optical surveying means
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C15/00—Surveying instruments or accessories not provided for in groups G01C1/00 - G01C13/00
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S17/00—Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
- G01S17/02—Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
- G01S17/06—Systems determining position data of a target
- G01S17/08—Systems determining position data of a target for measuring distance only
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
Abstract
本发明涉及一种电子勘测仪器和一种用于使电子勘测仪器对投影光(8、8a)的发射和电子勘测仪器的图像传感器(6)对图像的获取同步以减小投影光(9、9a)在图像传感器(6)所获取的图像的至少一部分中的可见性的方法。
Description
技术领域
本发明涉及电子勘测仪器和用于将光投影到由该电子勘测仪器勘测的对象上的方法。
背景技术
用于例如点坐标的勘测或投影的电子勘测仪器在本领域中是已知的。这种用于对结构或对象的表面上的空间点进行跟踪或标记和勘测的勘测设备特别用于测量周围环境或工件,特别是诸如机身的大型实体,或者用于建筑物的建造或检查。从这种测量设备到一个或更多个待勘测的目标点的距离和角度可以被记录为空间标准数据。在另一方面,计划的位置数据(例如,基于数字建筑平面图或CAD数据)可以通过激光束以位置准确方式(position true manner)将其投影在对象表面上,以用于布局或放样目的。这样的仪器用于传统的大地测量(土地勘测)或工业中的大地测量(例如,对工件进行3D坐标获取以进行质量控制),以及用于街道、隧道或房屋等建筑物的精确建造,以及用于内部建造或组装任务,例如由建筑师、厨房制造商、玻璃工、瓷砖工或楼梯建造工等设计师使用模板进行例如竣工数据捕获。要强调的是,在本申请中,术语“大地测量学”和“大地测量”不限于处理地球表面和海底的测量和表示的科学学科,而是在广义上涉及对象点的测量、勘测和位置确定或投影,以便获取数字对象坐标或在空间中标记数字对象坐标。
通用类型的已知大地测量仪器(诸如,建筑勘测设备)通常包括:基座;上部,该上部被安装成能够绕基座上的旋转轴线旋转;以及瞄准单元,该瞄准单元被安装成能够绕回转轴线回转,该瞄准单元具有被设计成发射激光束的激光源;以及成像检测器,该成像检测器例如配备有取向指示功能,以指示瞄准单元关于作为瞄准点的空间点的取向,并且该瞄准单元还具有距离确定检测器,该距离确定检测器用于提供测距功能。举例来说,取向指示功能可以是作为成像检测器的取景器或摄像机中的十字线。
现代自动化建筑勘测设备还包括:旋转驱动器,该旋转驱动器使上部和/或瞄准单元能够以电动方式驱动;测角仪;以及倾斜传感器(如果适用),该倾斜传感器用于确定瞄准单元空间取向;并且还包括评估和控制单元,该评估和控制单元联接至激光源、距离确定检测器以及测角仪和倾斜传感器(如果适用)。
在这种情况下,作为示例,评估和控制单元配备有显示器,该显示器具有输入装置或者所谓的可操纵的操纵杆,输入装置用于由用户在显示器(例如,触摸屏)上输入控制命令,评估和控制单元用于通过操纵操纵杆来改变瞄准单元的取向的目的,并在显示器上呈现来自成像检测器或摄像机的图像,其中,瞄准单元的取向可以借助于显示器上的取向指示功能来指示,例如借助叠加(overlaying)。已知显示器上的输入装置为箭头形式的功能,其标记和触摸使得用户能够改变瞄准单元在水平或竖直方向上的取向。
另一方面,使用可见或不可见点或线的投影来提供位置参照点或线,以作为人眼或电子系统的参照,并且还允许自动定位或机器引导。在此,参照线通常是通过加宽激光束(特别是可以用于直线)或通过旋转激光点的投影来创建的。
适用于此的大地测量仪器的实例是旋转激光器或线或点激光器,它们用于使用可见或不可见激光束来固定平面,并且现在已经例如在建筑行业或工业中使用了很多年。它们是在水平、竖直或限定的斜置平面上标记建造线的有价值辅助工具。
DE4443413公开了一种用于在间隔的线或区域上进行测量和标记的方法和设备。在各种情况下,使用安装在万向型支架中的激光测距单元,关于两个空间角度和相对于参照点的距离来测量一个或更多个相关空间点。激光测距单元可以绕两个相互垂直的轴线枢转,这些轴线配备有测角仪。根据这些文献中描述的一个实施方式,手动地对准要测量的空间点,基于测量与标记之间的预定相对关系从测量数据计算标记点,然后通过测量和标记设备独立地瞄准这些标记点。
作为另一示例,EP2053353公开了一种具有电光测距单元的参照线投影单元。根据该申请文献的教导,基准光束(特别是激光束)沿着限定参照路径被路由。通过集成测距单元,在EP2053353中公开的系统还使得能够基于所建立的表面形貌来控制投影。
如可以看出的,已知用于在建筑物的建造或开发过程中测量和/或标记空间点的许多技术布置和方法。同样,为了完成复杂的勘测任务,特别是在自由地形中,如在大地测量的现有技术中已知的大地测量全站仪或经纬仪已经使用了很多年。这种设备原则上在技术上也适用于实现垂准点发现功能,例如在建筑物的内部装修期间。然而,它们是在技术上相对复杂且昂贵的设备。
将可见点或线投影到待勘测对象的表面上可能在对象表面的图像获取时引入成像误差,所述投影提供用作人眼参照的位置参照点或线,所述图像经由显示器显示给人眼。这种成像误差可能由于提供图像的图像传感器的过饱和而产生,或者由于例如在将光聚焦到图像传感器上的光学透镜系统中出现的杂散光而产生,杂散光是由于反射的投影可见光进入光学透镜系统而产生的。
发明内容
因此,本发明的目的是提供一种用于减少电子勘测仪器中由于用于位置参照的投影光而导致的成像误差的方法。
本发明的另一目的是提供一种具有减小的由于用于位置参照的投影光而导致的成像误差的电子勘测仪器。
通过实现独立权利要求的特征化特征来实现这些目的。可以从从属专利权利要求以及包括附图描述的具体实施方式收集以另选方式或有利方式开发本发明的特征。除非另有明确说明,否则在本文献中以其它方式例示或公开的本发明的所有实施方式可以彼此组合。
本发明涉及一种用于电子勘测仪器的方法,所述电子勘测仪器特别是全站仪、激光跟踪器、电子测距仪、放样仪器或激光扫描器,所述方法具有以下步骤:1)以定向的方式将投影光朝向对象发射,以向用户指示瞄准状态,所述投影光特别是来自激光器的激光;2)接收由所述对象反射的投影光的至少一部分;以及3)使用图像传感器以特别是20fps或更高的帧速率以及图像获取阶段和图像获取暂停的引入顺序获取对象的图像序列,所述图像传感器对所述投影光敏感。该方法的特征在于,按以下这样的方式同步所述投影光的发射和所述图像序列的获取:对于所述图像序列的第一子序列,在图像获取阶段期间接收的投影光的接收功率比在不是图像获取阶段的剩余时间期间的接收功率低。
由例如激光指示器发射的投影光可以用于可视化目的和/或用于测量,例如用于距离测量。
所发射的投影光可以是用于测量对象的发射测量光的一部分。例如,瞄准状态可以是参照点。使用图像传感器获取投影有投影光的对象的图像。图像传感器可以以足够高的帧速率操作,使得呈现所获取的图像序列的人眼将图像感知为连续的。投影光也可以以对人眼看起来连续的方式发射。在图像获取阶段期间获取图像序列的各个图像,在该图像获取阶段期间,图像传感器获取图像。在获取图像之后,例如可能需要从图像传感器读取图像。在这个时间期间,图像传感器不获取新的图像。相应的时间是图像获取暂停。
所发射的投影光和图像序列的获取按以下这样的方式同步:对于第一子序列,第一子序列包括至少一个图像,在对应于第一子序列的那些图像获取阶段期间接收的投影光的接收功率比在获取图像序列的剩余时间期间的接收功率低,剩余时间是图像序列获取的总时间减去对应于第一子序列的图像获取阶段。接收功率可以是例如在对应于第一子序列的图像获取阶段内在时间上平均的平均功率,或者接收功率可以是峰值接收功率。第一子序列可以等于图像序列。在第一子序列等于图像序列的情况下,剩余时间可以对应于图像获取阶段,或者剩余时间也可以包括图像获取阶段。第一子序列包括可以显示给人眼的图像。
对于第一子序列,可以避免或最小化由于例如图像传感器对接收的投影光的过饱和和/或由投影光导致的杂散光而引起的成像误差。
同步可以通过例如共享时钟进行,或者通过其它数字装置进行,例如通过控制投影光源和/或图像传感器的控制器进行。
所发射的投影光可以是周期性的,例如周期性脉冲,或者由投影光源非周期性地发射。
在根据本发明的方法的实施方式中,投影光具有可见光谱中的波长。
投影光可以优选地对人眼是可见的。
投影光也可能对人眼不可见。在投影光不可见的情况下,例如可以使用十字准线来帮助用户瞄准。在所获取的场景图像上显示瞄准辅助工具,例如十字准线。十字准线可以向用户指示当前瞄准点。在图像获取期间,在投影光是人眼可见的并且投影光的功率接近于零的情况下,可以使用十字准线来向用户指示目标。
在根据本发明的方法的另一实施方式中,同步是按以下这样的方式进行的:对于至少所述第一子序列,在图像获取阶段期间,所述接收功率为零。
第一子序列可以没有由接收的投影光引起的或由投影光导致的接收的杂散光引起的图像伪影。如果图像序列的获取和投影光的发射都是周期性的,则在第一子序列的图像获取阶段期间的零接收功率可以通过适当地设置图像传感器的基频(即,帧速率)、图像获取阶段和图像获取暂停的持续时间以及发射的周期性投影光的基频及其发射波形来实现。
在根据本发明的方法的另一实施方式中,所述图像序列的非空第二子序列与所述第一子序列的并集形成所述图像序列,并且提供使用所述第一子序列的图像和所述第二子序列的图像的差分图像。
第一子序列可以不等于图像序列。图像序列的至少一个图像可以使得在至少一个图像的图像获取阶段期间接收的投影光的接收功率比在第一子序列的图像获取阶段期间的接收功率大。第二子序列可以用于获得差分图像,该差分图像清楚地示出所接收的投影光,所述第二子序列包括所接收的投影光比在属于第一子序列的那些图像中更好可见的图像。
在根据本发明的方法的另一实施方式中,所述同步是按以下这样的方式进行的:所述第一子序列中的接收功率被调整(adapt)到所述图像传感器的饱和电平,特别是以防止过饱和的方式进行调整。
按以下方式同步投影光的发射和图像序列的获取可能是足够的:在第一子序列的图像获取阶段期间,图像传感器不通过所接收的投影光变得过饱和。
在根据本发明的方法的另一实施方式中,从所述图像序列中原位识别和丢弃所述第二子序列的图像,其中,所述识别是至少使用所述图像和关于所述图像传感器的信息来进行的。
属于第二子序列的图像可以例如通过自动算法程序原位确定,并随后丢弃。识别可以通过使用关于图像传感器的知识(例如图像传感器的饱和特性)来进行。
在根据本发明的方法的另一实施方式中,识别是基于同步的。
同步可以用于识别第二子序列。在完全控制同步的情况下,可以预先计算图像获取阶段期间的接收功率。在这种情况下,可以基于同步来确定第二子序列。
在根据本发明的方法的另一实施方式中,以滚动快门方式获取所述图像序列,并且所述同步至少针对与图像传感器的所接收的投影光落在的部分相交的滚动快门扫描线进行。
在图像传感器以滚动快门方式操作的情况下,同步可以仅针对所接收的投影光所落在的图像传感器的那些扫描线进行。这样的方案可能需要关于需要同步的扫描线的知识,所需的知识例如对应于电子勘测仪到被勘测对象的已知几何配置。
在根据本发明的方法的另一实施方式中,第一序列被显示给电子勘测仪器的用户。
本发明还涉及一种电子勘测仪器,所述电子勘测仪器特别是全站仪、激光跟踪器、电子测距仪、放样仪器或激光扫描器,所述电子勘测仪器具有:1)投影光发射单元,特别是激光器;2)光学发射光路,所述光学发射光路从所述投影光发射单元到对象;3)光学接收光路,所述光学接收光路从所述对象到图像传感器,所述光学接收光路具有特别是20fps或更高的帧速率,其中,所述图像传感器按以下方式被配置:在各个图像获取阶段之后是图像获取暂停,所述图像传感器对所述投影光敏感。所述电子勘测仪器的特征在于,所述投影光发射单元和所述图像传感器以关于提供根据本发明的方法的方式同步。
在根据本发明的电子勘测仪器的实施方式中,电子勘测仪器包括控制器单元,该控制器单元被配置成提供投影光发射单元与图像传感器之间的同步。
控制器单元可以提供所发射的投影光与图像序列的获取之间的同步。控制器单元可以访问投影光发射单元和/或图像传感器。控制器单元可以仅控制投影光发射单元,或者它可以仅控制图像传感器,或者它可以控制两者。控制器单元可以具有关于不受控制的投影光发射单元或不受控制的图像传感器的操作特性的知识。
在根据本发明的电子勘测仪器的另一实施方式中,光接收光路没有用于投影光的专用光学滤波器。
在使用根据本发明的方法执行所发射的投影光和图像序列的获取的情况下,在对应于第一子序列的图像获取阶段期间,没有或少量所接收的投影光可能落在图像传感器上。不需要附加的滤波器来滤除投影光。
在根据本发明的电子勘测仪器的另一实施方式中,所述投影光发射单元包括斩波轮或液晶快门,其中,所述斩波轮或所述液晶快门由所述控制器单元控制,和/或所述控制器单元被配置成打开和关闭所述投影光发射单元。
例如,同步可以通过控制斩波轮或液晶快门的控制器单元提供。通过改变斩波轮的旋转频率,例如通过控制控制斩波轮的电动机,可以由控制器单元控制所发射的投影光。另选地,可以通过使用控制电子器件直接调制投影光发射单元来提供同步,以产生期望形式的投影光。控制电子器件可以是控制器单元的一部分或与控制器单元分离。一种可能的实现方式是连续地接通和断开投影光发射单元,特别是通过连续地接通和断开激光器。也可以使用用于同步的任何其它方法。
在根据本发明的电子勘测仪器的另一实施方式中,所述电子勘测仪器还包括显示器,其中,所述显示器特别地经由无线或有线连接链接到所述图像传感器和/或所述控制器单元,所述显示器被配置成向所述电子勘测仪器的用户显示所述第一子序列。
显示器可以无线地连接到图像传感器和/或控制器单元,或者显示器可以利用有线连接来连接到图像传感器和/或控制器单元。
附图说明
下面仅通过示例方式,参照附图中示意性示出的工作示例,更详细地描述或说明根据本发明的大地测量仪器。在附图中,相同的元素利用相同的附图标记来标记。所描述的实施方式通常未按比例真实地示出,并且它们也不应被解释成限制本发明。
图1示出了电子勘测仪器的第一示意性和例示性视图;
图2示出了电子勘测仪器的第二示意性和例示性视图;
图3示出了电子勘测仪器的第三示意性和例示性视图;
图4示出了双轴电子勘测仪器的示意性和例示性视图;
图5示出了根据本发明的所发射的投影光和图像获取的时间进程的示意性和例示性视图;
图6示出了根据现有技术的所发射的投影光和图像获取的时间进程的示意性和例示性视图;
图7示出了根据本发明的所发射的投影光和图像获取的时间进程的示意性和例示性视图;
图8示出了根据本发明的所发射的投影光和图像获取的时间进程的示意性和例示性视图;
图9示出了根据本发明的所发射的投影光和图像获取的时间进程的示意性和例示性视图;以及
图10示出了电子勘测仪器的第四示意性和例示性视图。
在下面的附图中,图像获取阶段和图像获取暂停以指示二者的相等时间范围的方式被绘制。然而,通常,图像获取阶段不必须与图像获取暂停一样长。
具体实施方式
图1示出了电子勘测仪器的第一示意性和例示性视图。电子勘测仪器包括激光指示器3、图像传感器6、控制单元4a、分束器5和光学透镜系统2,光学透镜系统2用于将由激光指示器3发射的光投影到对象1并用于捕获从对象1反射的光。控制单元4a直接控制激光指示器3。控制单元4a本身连接7到图像传感器6。图像传感器6以帧速率获取图像序列,即,在时间上等距地获取图像。各个图像的获取可以分成两个时间段:在第一时间段期间,图像传感器对入射光敏感;在第二时间段期间,图像传感器对入射光不敏感。例如,在第一时间段期间拍摄图像本身,并且第二时间段可以用于读取所拍摄的图像。周期性地重复第一时间段和第二时间段的组合,重复频率是帧速率。当控制单元4a连接到图像传感器6时,控制单元4a知道第一时间段和第二时间段的周期性重复发生的时间。优选地,控制单元4a指示激光指示器3发射脉冲投影光8,其中,在第二时间段的周期性重复期间发出脉冲。这样,脉冲投影光8在由图像传感器6获取的图像中不可见。利用分束器5将脉冲投影光8引导到对象上。从对象1反射的光9由光学透镜系统2聚焦到图像传感器6上。因此,所获取的对象1的图像没有由投影光引起的伪影。脉冲投影光8优选地是在可见频率范围内的光,使得当该脉冲投影光8撞击到对象上时,电子勘测仪器的操作人员可以看到该脉冲投影光8。投影光在所获取的图像中不可见。撞击到对象上的投影光对于人眼是可见的,但在所获取的图像中不可见。
图2示出了电子勘测仪器的第二示意性和例示性视图。图2类似于图1。主要差别在于生成脉冲投影光8的方式。在图2中,控制单元4b控制电动机10,电动机10控制斩波轮11。斩波轮11围绕固定轴线旋转,其中,旋转由电动机10提供。根据旋转频率和斩波轮11中的小孔的尺寸和形状,可以生成不同的脉冲投影光8。
图3示出了电子勘测仪器的第三示意性和例示性视图。图3类似于图1和图2。主要差别在于生成脉冲投影光8的方式。在图3中,控制单元4c控制液晶快门12。根据控制单元4c提供给液晶快门的控制输入,生成不同的脉冲投影光8。
通常可以使用快门或舱口(hatch)形式的机构来阻挡投影光,以便获得脉冲投影光。
图4示出了双轴电子勘测仪器的示意性和例示性视图。激光指示器3向对象1发射脉冲投影光8。脉冲投影光8通过投影光光学透镜系统16准直或另选地聚焦到对象1上。准直光束也可以是发散光束,例如具有0.1°。从对象反射的光9由接收光光学透镜系统15聚焦到图像传感器6和距离传感器14上。平板分束器13将聚焦的光引导到图像传感器6和距离传感器14上。如图1、图2和图3所示,脉冲投影光8优选地由激光指示器3按以下这样的方式发射:脉冲投影光8在由图像传感器6获取的对象1的图像中不可见。距离传感器14可以使用脉冲投影光8来确定到对象1的距离。
图5示出了根据本发明的所发射的投影光的时间进程和图像获取过程的时间进程的示意性和例示性视图。在图5中,脉冲投影光8a被用于照射对象上的点。为了简单起见,如图5所示的脉冲投影光8a包括两个交替的状态,即,打开(ON)和关闭(OFF)。所发射的脉冲投影光8a是周期性的。脉冲投影光8a的其它时间进程也是可行的:例如,脉冲投影光8a的侧面也可以是平滑的,或者脉冲投影光8a不必是周期性的。脉冲投影光8a用于向电子勘测仪器的用户指示位置。因此,脉冲投影光8a优选地是可见光,即,与人眼有关的可见度。然而,脉冲投影光8a可能导致由图像传感器获取的图像中的伪影。例如,接收到的从对象反射的脉冲投影光对图像传感器的过饱和会产生图像伪影。这种伪影对于图像的进一步计量处理是有害的。
图像获取过程6a包括两个一般阶段的周期性重复。在第一阶段期间,获取图像的图像传感器对光敏感。正是在该第一阶段期间获取图像。第二阶段例如可以用于读取所获取的图像。因此,第二阶段也可以称为图像获取暂停。如图5所示的图像获取过程6a是周期性的,其中,各个周期17的长度在提供图像获取过程6a的图像传感器的帧速率上等于一。第一阶段(图像获取阶段)的周期性重复在图5中按以下这样的方式对准:当没有脉冲投影光8a撞击到图像传感器上时执行图像获取。这样,在所获取的图像中没有由于脉冲投影光8a而获得的伪影。如果图像传感器的帧速率足够大,则脉冲投影光8a和所获取的图像序列二者对于人来说将看起来是连续的。在图像获取暂停与照射周期一致时,根据图5所示的本发明的实施方式获取的所有图像属于第一子序列。在图像获取阶段期间,接收到的脉冲投影光的接收功率比在图5中对应于图像获取暂停的剩余时间期间的接收功率低。在图5中,第一子序列由虚线标记可视地指示。
图6示出了根据现有技术的所发射的投影光的时间进程和图像获取过程的时间进程的示意性和例示性视图。所发射的投影光8b被连续发射,或者它可以是具有非常高脉冲重复率的脉冲投影光8b。图像获取过程6b包括如图5所示的两个一般阶段的周期性重复。在图5中,在图像获取阶段期间接收到与图像获取暂停期间相同的功率。图5中的图像获取阶段由条纹标记可视地指示。
图7示出了根据本发明的所发射的投影光的时间进程和图像获取过程的时间进程的示意性和例示性视图。脉冲投影光8a的时间进程与图5中的相同。图像获取过程6c包括如图5和图6所示的两个一般阶段的周期性重复。然而,两个一般阶段中的每一者与图5相比短一半,并且一般阶段的开始/偏移与脉冲投影光8a对准。在图7中,图像序列的第一子序列在视觉上由虚线标记指示,而图像序列的第二子序列在视觉上由条纹标记指示。两个一般阶段不需要具有相同的长度。例如,图像获取阶段可能比图像获取暂停更长。可以使用如图7所示的投影光和图像获取过程的时间进程将图像的第一子序列显示给电子勘测仪器的用户。第二子序列可以例如被丢弃,或者例如用于确定第一子序列与第二子序列的相邻元素之间的差异图像。
图8示出了根据本发明的所发射的投影光的时间进程和图像获取过程的时间进程的示意性和例示性视图。图8类似于图5,差异在于,在所发射的投影光8a的上升侧和图像获取过程6d之间存在偏移18,偏移18不等于图5中的半个周期。如果偏移18使得撞击在提供图像获取过程的图像传感器上的脉冲投影光8a的量足够小,使得图像传感器不会经历过饱和,则在图像获取阶段期间提供的图像序列完全对应于第一子序列。在图8中,第一子序列由虚线标记可视地指示。
图9示出了根据本发明的所发射的投影光的时间进程和图像获取过程的时间进程的示意性和例示性视图。两个图像传感器可以获取图像。第一图像传感器(第一图像传感器属于第一摄像机)可以通过第一图像获取过程6a按以下这样的方式来获取图像:在图像获取阶段期间,没有反射的脉冲投影光8a撞击到第一传感器上。第二图像传感器(第二图像传感器属于第二摄像机)可以通过第二图像获取过程19按以下这样的方式来获取图像:第二图像获取过程19在时间上与脉冲投影光8a对准。第二图像获取过程19可以获取从被照射的场景中的某个对象反射的脉冲投影光8a是可见的图像。可以通过从由第一摄像机提供的第一图像序列的图像中减去由第二摄像机提供的第二图像序列的图像来获得差分图像。也可以仅使用一个摄像机来提供与图9中类似的测量设置。在这种情况下,图像获取暂停优选地较短。与使用一个摄像机获得的差分图像相比,由于更长的可能图像获取时间,使用两个摄像机提供的差分图像可以具有更高的SNR。
图10示出了电子勘测仪器的第四示意性和例示性视图。图10类似于图4。与图4相比的主要差别是存在两个分离的光接收路径,用于使用两个分离的光学透镜系统15a、15b将反射光9a、9b聚焦到图像传感器6和距离传感器14上。两个分离的光学透镜系统15a、15b可以具有不同的光学特性,例如不同的焦距。
本领域技术人员知道以下事实:如果没有另外说明,则此处关于不同实施方式示出和说明的细节在本发明的意义上也可以以其它排列被组合。
Claims (14)
1.一种用于电子勘测仪器的方法,所述电子勘测仪器特别是全站仪、激光跟踪器、电子测距仪、放样仪器或激光扫描器,所述方法具有以下步骤:
·以瞄准方式将投影光(8、8a)朝向对象(1)发射,以向用户指示瞄准状态,所述投影光(8、8a)特别是来自激光器(3)的激光,
·接收所述投影光(9、9a)的由所述对象(1)反射的至少一部分,以及
·使用图像传感器(6)以特别是20fps或更高的帧速率以及图像获取阶段和图像获取暂停的引入序列(6a、6c、6d)获取所述对象的图像序列,所述图像传感器对所述投影光(8、8a)敏感,
其特征在于,
按以下这样的方式同步所述投影光(8、8a)的发射和所述图像序列的获取:对于所述图像序列的第一子序列,在图像获取阶段期间,所接收的投影光的接收功率比在不是图像获取阶段的剩余时间期间的接收功率低。
2.根据权利要求1所述的方法,
其特征在于,
所述投影光(8、8a)具有处于可见光谱内的波长。
3.根据权利要求1或2所述的方法,
其特征在于,
同步是按以下这样的方式进行的:对于至少所述第一子序列,在图像获取阶段期间,接收功率为零。
4.根据前述权利要求中任一项所述的方法,
其特征在于,
·所述图像序列的非空第二子序列与所述第一子序列的并集形成所述图像序列,并且
·提供使用所述第一子序列的图像和所述第二子序列的图像的差分图像。
5.根据前述权利要求中任一项所述的方法,
其特征在于,
所述同步是按以下这样的方式进行的:所述第一子序列中的接收功率被调整至所述图像传感器(6)的饱和电平,特别是以防止过饱和的方式进行调整。
6.根据权利要求4或5所述的方法,
其特征在于,
从所述图像序列中原位识别和丢弃所述第二子序列的图像,其中,所述识别是至少使用所述图像和关于所述图像传感器(6)的信息来进行的。
7.根据权利要求6所述的方法,
其特征在于,
所述识别是基于所述同步的。
8.根据前述权利要求中任一项所述的方法,
其特征在于,
以滚动快门方式获取所述图像序列,并且所述同步是至少针对滚动快门扫描线进行的,所述滚动快门扫描线与所述图像传感器(6)的、所接收的投影光(9)落在上面的部分相交。
9.根据前述权利要求中任一项所述的方法,
其特征在于,
向所述电子勘测仪器的用户显示所述第一序列。
10.一种电子勘测仪器,所述电子勘测仪器特别是全站仪、激光跟踪器、电子测距仪、放样仪器或激光扫描器,所述电子勘测仪器具有:
·投影光发射单元(3),特别是激光器,
·光学发射光路(2、5、16),所述光学发射光路(2、5、16)是从所述投影光发射单元(3)到对象(1)的,
·光学接收光路(2、5、13、15、15a),所述光学接收光路(2、5、13、15、15a)是从所述对象(1)到图像传感器(6)的,所述光学接收光路(2、5、13、15、15a)具有特别是20fps或更高的帧速率,其中,所述图像传感器(6)按以下方式配置:在各个图像获取阶段之后是图像获取暂停,所述图像传感器对所述投影光(8、8a、9)敏感,
其特征在于,
所述投影光发射单元(3)和所述图像传感器(6)以提供根据权利要求1至8中任一项所述的方法的方式同步。
11.根据权利要求10所述的电子勘测仪器,
所述电子勘测仪器包括控制器单元(4a、4b、4c),所述控制器单元(4a、4b、4c)被配置成提供所述投影光发射单元(3)与所述图像传感器(6)之间的所述同步。
12.根据权利要求10或11所述的电子勘测仪器,
其特征在于,
所述光学接收光路(2、5、13、15、15a)没有用于所述投影光(9)的专用光学滤波器。
13.根据权利要求11所述的电子勘测仪器,
其特征在于,
所述投影光发射单元(3)包括斩波轮(11)或液晶快门(12),其中,所述斩波轮(11)或所述液晶快门(12)由所述控制器单元(4b、4c)控制,和/或所述控制器单元(4a)被配置成打开和关闭所述投影光发射单元(3)。
14.根据权利要求10至13中任一项所述的电子勘测仪器,
其特征在于,
所述电子勘测仪器还包括显示器,其中,所述显示器特别地经由无线或有线连接链接到所述图像传感器(6)和/或所述控制器单元(4a、4b、4c),所述显示器被配置成向所述电子勘测仪器的用户显示所述第一子序列。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
EP20202774.4 | 2020-10-20 | ||
EP20202774.4A EP3988897B1 (en) | 2020-10-20 | 2020-10-20 | Electronic surveying instrument |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN114383580A true CN114383580A (zh) | 2022-04-22 |
CN114383580B CN114383580B (zh) | 2024-06-28 |
Family
ID=
Citations (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1996018083A1 (de) * | 1994-12-07 | 1996-06-13 | Schiele, Josef | Verfahren und vorrichtung zum vermessen und markieren |
US20020051288A1 (en) * | 2000-10-19 | 2002-05-02 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Surveying instrument |
CN1615426A (zh) * | 2002-01-15 | 2005-05-11 | 英泰克普拉斯有限公司 | 测量物体二维或三维形状的光学仪器 |
CN1902508A (zh) * | 2003-12-31 | 2007-01-24 | 讯宝科技公司 | 使用彩色激光投影显示器获取图像的方法和设备 |
JP2007060272A (ja) * | 2005-08-24 | 2007-03-08 | Casio Comput Co Ltd | 投影装置、投影画像の撮影方法及びプログラム |
JP2007316127A (ja) * | 2006-05-23 | 2007-12-06 | Nippon Hoso Kyokai <Nhk> | 時分割表示装置、映像撮影システムおよび投射光時分割装置 |
US20090220145A1 (en) * | 2008-02-28 | 2009-09-03 | Kabushiki Kaisha Topcon | Target and three-dimensional-shape measurement device using the same |
US20100296075A1 (en) * | 2007-10-26 | 2010-11-25 | Leica Geosystems Ag | Distance-measuring method for a device projecting a reference line, and such a device |
CN105051488A (zh) * | 2013-03-15 | 2015-11-11 | 法罗技术股份有限公司 | 通过受引导的探测来在3d扫描仪中诊断多路径干扰并且消除多路径干扰 |
CN107850423A (zh) * | 2015-07-09 | 2018-03-27 | 佳能株式会社 | 用于测量目标对象的形状的测量装置、系统和制造方法 |
CN110243759A (zh) * | 2019-06-13 | 2019-09-17 | 中国科学院电工研究所 | 可见光热反射测温装置 |
CN111158011A (zh) * | 2020-01-06 | 2020-05-15 | 航天金鹏科技装备(北京)有限公司 | 一种脉冲激光光斑综合测试系统及光斑测试方法 |
Patent Citations (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1996018083A1 (de) * | 1994-12-07 | 1996-06-13 | Schiele, Josef | Verfahren und vorrichtung zum vermessen und markieren |
US20020051288A1 (en) * | 2000-10-19 | 2002-05-02 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Surveying instrument |
CN1615426A (zh) * | 2002-01-15 | 2005-05-11 | 英泰克普拉斯有限公司 | 测量物体二维或三维形状的光学仪器 |
CN1902508A (zh) * | 2003-12-31 | 2007-01-24 | 讯宝科技公司 | 使用彩色激光投影显示器获取图像的方法和设备 |
JP2007060272A (ja) * | 2005-08-24 | 2007-03-08 | Casio Comput Co Ltd | 投影装置、投影画像の撮影方法及びプログラム |
JP2007316127A (ja) * | 2006-05-23 | 2007-12-06 | Nippon Hoso Kyokai <Nhk> | 時分割表示装置、映像撮影システムおよび投射光時分割装置 |
US20100296075A1 (en) * | 2007-10-26 | 2010-11-25 | Leica Geosystems Ag | Distance-measuring method for a device projecting a reference line, and such a device |
US20090220145A1 (en) * | 2008-02-28 | 2009-09-03 | Kabushiki Kaisha Topcon | Target and three-dimensional-shape measurement device using the same |
CN105051488A (zh) * | 2013-03-15 | 2015-11-11 | 法罗技术股份有限公司 | 通过受引导的探测来在3d扫描仪中诊断多路径干扰并且消除多路径干扰 |
CN107850423A (zh) * | 2015-07-09 | 2018-03-27 | 佳能株式会社 | 用于测量目标对象的形状的测量装置、系统和制造方法 |
CN110243759A (zh) * | 2019-06-13 | 2019-09-17 | 中国科学院电工研究所 | 可见光热反射测温装置 |
CN111158011A (zh) * | 2020-01-06 | 2020-05-15 | 航天金鹏科技装备(北京)有限公司 | 一种脉冲激光光斑综合测试系统及光斑测试方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP3988897A1 (en) | 2022-04-27 |
EP3988897B1 (en) | 2023-09-27 |
US20220120563A1 (en) | 2022-04-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US9189858B2 (en) | Determining coordinates of a target in relation to a survey instrument having at least two cameras | |
EP3258212B1 (en) | Surveying system | |
EP3392612B1 (en) | Defect detection apparatus and program | |
US9958268B2 (en) | Three-dimensional measuring method and surveying system | |
US10469754B2 (en) | Position guiding device, position guiding method, and position guiding program | |
CN100580374C (zh) | 激光测定方法及激光测定系统 | |
CN101932905B (zh) | 相对于地面标志来定位勘测仪器 | |
EP3677872A1 (en) | Surveying instrument | |
EP3211369B1 (en) | Surveying instrument and program | |
EP2587215B1 (en) | Method for image measuring system | |
EP3098564A1 (en) | Surveying instrument | |
EP3514489B1 (en) | Surveying device and surveying method | |
JP7313955B2 (ja) | 測量装置、測量方法および測量用プログラム | |
EP3101388A1 (en) | Surveying instrument | |
JP6201252B1 (ja) | 位置計測装置及び位置計測方法 | |
JP2021039013A (ja) | 壁面のひび割れ測定機および測定方法 | |
CN114383580B (zh) | 电子勘测仪器 | |
EP2240741B1 (en) | Localizing a surveying instrument in relation to a ground mark | |
EP3988897B1 (en) | Electronic surveying instrument | |
KR20100132841A (ko) | 비접촉식 면적측정 장치 | |
JP2021067615A (ja) | スキャナシステムおよびスキャン方法 | |
JP2000055660A (ja) | レーザ三次元測量機 | |
JP7511049B2 (ja) | 測量装置、測量方法および測量用プログラム | |
EP4390308A1 (en) | Determination of an optimal laser scanning plan | |
JPH0484710A (ja) | 水中作業機の3次元座標無人測量方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant |