CN114372482A - 一种智能卡多功能测试方法及装置 - Google Patents

Abstract

一种智能卡多功能测试方法及系统，包括读卡器和PC，所述读卡器具有接触界面和非接触界面，并设置有对应的接触端口和非接触端口，方法包括步骤1，当智能卡插入读卡器接触界面时，PC端自动选择接触端口，进入接触模式；当智能卡插入读卡器接触界面时，PC端通过指令设置接触界面为掉电状态，并使用指令选择非接触端口，从而在智能卡插入接触界面时进入非接触式模式；当智能卡在读卡器非接触界面时，PC端自动选择非接触端口，从而进入非接触式模式；步骤2，在接触模式或非接触模式下进行防拔测试、性能测试和跟踪测试。本发明集成非接和接触智能卡两种测试于一体，并能自动切换接触模式或非接触模式，完成种类较多的多样化测试，并且成本低廉。

Description

一种智能卡多功能测试方法及装置

技术领域

本发明涉及智能卡测试领域，具体涉及一种智能卡多功能测试方法及装置。

背景技术

通常，智能卡根据其使用的环境和具体用途可分为接触式和非接触式两种，智能卡对应的芯片也随之分为接触式和非接触式两种，不同类型的智能卡芯片所使用的测试方式也不相同，但对测试的要求指标却基本一致。

目前对于专业的单一类型智能卡测试设备市场上较为多见，功能比较齐全，且价格非常昂贵，但是对于同时集成接触式和非接触式智能卡部分特定功能且低成本的测试的方法和设备则非常罕有。

因此，现在亟需一种智能卡多功能测试方法来解决上述问题。

发明内容

鉴于现有技术中存在的技术缺陷和技术弊端，本发明实施例提供克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的一种智能卡多功能测试方法及装置，具体方案如下：

作为本发明的第一方面，提供一种智能卡多功能测试方法，其特征在于，包括读卡器和PC，所述读卡器具有接触界面和非接触界面，并设置有对应的接触端口和非接触端口，所述读卡器与PC端连接，所述方法包括：

步骤1，当智能卡插入读卡器接触界面时，PC端自动选择接触端口，进入接触模式；

当智能卡插入读卡器接触界面时，PC端通过指令设置接触界面为掉电状态，并使用指令选择非接触端口，从而在智能卡插入接触界面时进入非接触式模式；

当智能卡在读卡器非接触界面时，PC端自动选择非接触端口，从而进入非接触式模式；

步骤2，在所述接触模式或非接触模式下自动进行防拔测试、性能测试和跟踪测试。

进一步地，防拔测试具体包括：

通过获取指令时间的指令获取上一条指令的执行时间，根据获取的上一条指令的执行时间确认下一指令执行时间的起始值以及执行时间的步长；

基于下一指令执行时间的起始值以及执行时间的步长获取断电时间；

通过断电指令设置读卡器的断电时间，并在下一条指令执行到断电时间后对智能卡执行下电操作。

进一步地，性能测试具体包括；

当进行性能测试时，通过性能监测指令和波形数据输出指令监控和记录指令执行时的波形数据，并将对应指令的执行时间进行统计，并将指令执行时间返回给测试程序，同时测试程序依据波形数据生成波形文件。

进一步地，具体包括：

将读卡器连接PC端，通过设置跟踪指令，设置读卡器处于跟踪模式；

将智能卡插入读卡器接触界面，同时将读卡器上的扩展板插入到第三方读卡器，建立读卡器的监听通道，通过跟踪测试程序，获取第三方读卡器与智能卡交互的指令流，并同步输出智能卡的指令流和波形数据，测试程序依据波形数据生成波形文件。

作为本发明的第二方面，提供一种智能卡多功能测试装置，其特征在于，所述装置包括读卡器的接触和非接触式模式、交叉测试系统、防拔测试系统、性能测试系统和跟踪测试系统；所述读卡器具有接触界面和非接触界面，并设置有对应的接触端口和非接触端口，所述读卡器通过usb与PC端连接；

所述交叉测试系统用于通过PC端指令切换接触端口和非接触端口进行智能卡非接触和接触式的交叉测试；

所述防拔测试系统用于通过PC端获取指令时间的指令以及断电指令，对智能卡进行防拔测试；

所述性能测试系统用于通过PC端获取指令时间的指令，对智能卡进行性能测试；

所述跟踪测试系统用于跟踪智能卡或第三方读卡器与智能卡之间通信的指令流和波形。

进一步地，所述交叉测试系统具体用于：

当智能卡插入读卡器接触界面时，PC端自动选择接触端口，从而进行接触式智能卡的测试；

当智能卡插入读卡器接触界面时，PC端通过指令设置接触界面为掉电状态，并使用指令选择非接触端口，从而在智能卡插入接触界面时执行非接触式测试；

当智能卡在读卡器非接触界面时，PC端自动选择非接触端口，从而进行非接触式智能卡的测试。

进一步地，所述防拔测试系统具体用于：

通过获取指令时间的指令获取上一条指令的执行时间，根据获取的上一条指令的执行时间确认下一指令执行时间的起始值以及执行时间的步长

基于下一指令执行时间的起始值以及执行时间的步长获取断电时间为x微秒，通过断电指令设置读卡器的断电时间为x微秒，在下一条指令x微秒后对读卡器执行下电操作。

进一步地，所述性能测试系统具体用于：

将双界面读卡器连接PC端，获取测试程序，其中，测试程序中预先设置有性能监测指令和波形输出指令。

当开始测试智能卡的各项性能时，通过性能监测指令和波形输出指令监控和记录指令执行时的波形，并将对应指令的执行时间进行统计，根据统计的时间和波形来确定智能卡的性能是否符合要求。

进一步地，所述跟踪测试系统具体用于：

将测试设备外接一张智能卡，同时连接读卡器，建立读卡器上智能卡与外接智能卡的数据通讯，在测试设备设置跟踪测试程序，获取读卡器上智能卡的指令流，并同步通过串口输出智能卡的指令流。

本发明具有以下有益效果：

本发明集成非接和接触智能卡两种测试于一体，能完成种类较多的多样化测试，并且成本低廉。

附图说明

图1为本发明实施例提供的一种智能卡多功能测试方法的流程图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。

作为本发明的第一实施例，提供一种智能卡多功能测试方法，所述方法主要包括：1、交叉测试，2、防拔测试，3、性能测试，4、跟踪功能。

其中，如图1所示，交叉测试流程具体包括：

当智能卡插入接触界面时，通过指令选择接触的端口可以对智能卡进行正常操作，即进行接触式智能卡的测试；

当智能卡插入接触界面时，通过指令选择非接的端口对智能卡进行正常操作，此时接触界面为掉电状态，即在智能卡插入接触界面时执行非接触式测试；

当智能卡在非接触界面时，通过指令选择非接的端口可以对卡片进行正常操作，即进行非接触式智能卡的测试。

通过切换接触端口和非接触端口来实现交叉测试。

需要说明的是，硬件上设备为智能卡读卡器，读卡器通过usb与PC端连接，通过PC端的测试程序进行相关测试。读卡器上有接触界面和非接触界面，相应的也设置有接触的端口和非接触端口来传递指令。

其中，防拔测试流程具体包括：

新增获取指令时间的指令以及断电指令。

通过获取指令时间的指令能够知道上一条指令的执行时间，根据这一信息可以确认下一指令执行时间的起始值以及执行时间的步长

通过断电指令设置读卡器的断电时间，具体的：假设设置的断电时间为x微秒，则在下一条指令x微秒后对读卡器执行下电操作。

实际操作时，首先获取指令时间的指令确认设置的起始时间和步长，在断电指令设置断电时间，在需要掉电的指令前设置断电时间，执行需要测试的指令。

说要说明的是，执行测试指令时必须确保读卡器和卡片完全的切断通讯，和模拟的插拔效果一致，优选方案是仅将芯片与读卡器之间的通信(接触或非接)切断，不将该读卡器的USB口关闭。

其中，性能测试流程具体流程包括：

将双界面读卡器连接PC测试端，通过相应端口访问测试程序，测试程序中预先设置有性能监测指令和波形输出指令。

当开始测试智能卡的各项性能时，就可以通过性能监测指令和波形输出指令监控和记录指令执行时的波形，并将对应指令的执行时间进行统计，根据统计的时间和波形来确定智能卡的性能是否符合要求。

具体过程：用来获取上一条指令执行的时间，该指令返回上一条指令发送给卡执行的命令实际消耗的时钟周期(单位为微秒)。

当P1＝0时，该时间计数从读卡器向卡发送指令开始，到读卡器发送指令完成的时间；如果是Case3指令，则包含了命令头、INS、到读卡器发完数据域

当P1＝1时，该时间计数从读卡器向卡发送指令开始，到读卡器接收响应完成的时间。

该指令执行不影响取响应过程。

补充说明：

FF24010004：获取从读卡器发送命令头开始到卡片响应结束的时间(传输时间+处理时间)

FF24000004：获取从读卡器发送命令头开始到读卡器发送数据结束的时间(如果是CASE2指令就是命令头时间，如果是CASE4指令就包含了卡片返回INS，到读卡器发送完数据域的时间)

需要说明的是，此指令获取的始终是读卡器最后一条执行的命令；在测试终端配置为自动取响应的情况下，如果某条指令需要取响应(取响应指令本身不会再在脚本中体现)，执行指令获取执行时间获取的不是指令本身，而是取响应指令

其中，跟踪测试的具体流程包括：

测试设备外接一张智能卡，同时连接读卡器，建立读卡器上智能卡与外接智能卡的数据通讯。根据测试设备上的跟踪测试程序进行测试，获取读卡器上智能卡的指令流，并同步通过串口输出跟踪智能卡的指令流。

作为本发明的第二实施例，提供一种智能卡多功能测试装置，所述装置包括：包括读卡器、PC、交叉测试系统、防拔测试系统、性能测试系统和跟踪测试系统，所述读卡器具有接触界面和非接触界面，并设置有对应的接触端口和非接触端口，所述读卡器通过usb与PC端连接。

所述交叉测试系统用于通过切换接触端口和非接触端口实现交叉测试，具体包括：

当智能卡插入读卡器接触界面时，PC端过指令设置接触界面为掉电状态，并通过指令选择接触端口对智能卡进行相关测试，从而进行接触式智能卡的测试；

当智能卡插入读卡器接触界面时，PC端通过指令选择非接触端口对智能卡进行相关测试，从而在智能卡插入接触界面时执行非接触式测试；

当智能卡在读卡器非接触界面时，PC端通过指令选择非接触端口对卡片进行相关测试，从而进行非接触式智能卡的测试。

所述防拔测试系统用于对智能卡进行防拔测试，具体包括：

通过获取指令时间的指令获取上一条指令的执行时间，根据获取的上一条指令的执行时间确认下一指令执行时间的起始值以及执行时间的步长

基于下一指令执行时间的起始值以及执行时间的步长获取断电时间为x微秒，通过断电指令设置读卡器的断电时间为x微秒，在下一条指令x微秒后对读卡器执行下电操作。

所述性能测试系统用于对智能卡进行性能测试，具体包括：

将双界面读卡器连接PC端，获取测试程序，其中，测试程序中预先设置有性能监测指令和波形输出指令。

当开始测试智能卡的各项性能时，通过性能监测指令和波形输出指令监控和记录指令执行时的波形，并将对应指令的执行时间进行统计，根据统计的时间和波形来确定智能卡的性能是否符合要求。

所述跟踪测试系统用于对智能卡进行跟踪测试，具体包括：

将测试设备外接一张智能卡，同时连接读卡器，建立读卡器上智能卡与外接智能卡的数据通讯，在测试设备设置跟踪测试程序，获取读卡器上智能卡的指令流，并同步通过串口输出智能卡的指令流。

以上所述仅为本发明的较佳实施例，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (9)

1.一种智能卡多功能测试方法，其特征在于，包括读卡器和PC，所述读卡器具有接触界面和非接触界面，并设置有对应的接触端口和非接触端口，所述读卡器与PC端连接，所述方法包括：

步骤1，当智能卡插入读卡器接触界面时，PC端自动选择接触端口，进入接触模式；

当智能卡插入读卡器接触界面时，PC端通过指令设置接触界面为掉电状态，并使用指令选择非接触端口，从而在智能卡插入接触界面时进入非接触式模式；

当智能卡在读卡器非接触界面时，PC端自动选择非接触端口，从而进入非接触式模式；

步骤2，在所述接触模式或非接触模式下自动进行防拔测试、性能测试和跟踪测试。

2.根据权利要求1所述的智能卡多功能测试方法，其特征在于，防拔测试具体包括：

通过获取指令时间的指令获取上一条指令的执行时间，根据获取的上一条指令的执行时间确认下一指令执行时间的起始值以及执行时间的步长；

基于下一指令执行时间的起始值以及执行时间的步长获取断电时间；

通过断电指令设置读卡器的断电时间，并在下一条指令执行到断电时间后对智能卡执行下电操作。

3.根据权利要求1所述的智能卡多功能测试方法，其特征在于，性能测试具体包括；

当进行性能测试时，通过性能监测指令和波形数据输出指令监控和记录指令执行时的波形数据，并将对应指令的执行时间进行统计，并将指令执行时间返回给测试程序，同时测试程序依据波形数据生成波形文件。

4.根据权利要求1所述的智能卡多功能测试方法，其特征在于，跟踪测试，具体包括：

将读卡器连接PC端，通过设置跟踪指令，设置读卡器处于跟踪模式；

将智能卡插入读卡器接触界面，同时将读卡器上的扩展板插入到第三方读卡器，建立读卡器的监听通道，通过跟踪测试程序，获取第三方读卡器与智能卡交互的指令流，并同步输出智能卡的指令流和波形数据，测试程序依据波形数据生成波形文件。

5.一种智能卡多功能测试装置，其特征在于，所述装置包括读卡器的接触和非接触式模式、交叉测试系统、防拔测试系统、性能测试系统和跟踪测试系统；所述读卡器具有接触界面和非接触界面，并设置有对应的接触端口和非接触端口，所述读卡器通过usb与PC端连接；

所述交叉测试系统用于通过PC端指令切换接触端口和非接触端口进行智能卡非接触和接触式的交叉测试；

所述防拔测试系统用于通过PC端获取指令时间的指令以及断电指令，对智能卡进行防拔测试；

所述性能测试系统用于通过PC端获取指令时间的指令，对智能卡进行性能测试；

所述跟踪测试系统用于跟踪智能卡或第三方读卡器与智能卡之间通信的指令流和波形。

6.根据权利要求5所述的智能卡多功能测试装置，其特征在于，所述交叉测试系统具体用于：

当智能卡插入读卡器接触界面时，PC端自动选择接触端口，从而进行接触式智能卡的测试；

当智能卡插入读卡器接触界面时，PC端通过指令设置接触界面为掉电状态，并使用指令选择非接触端口，从而在智能卡插入接触界面时执行非接触式测试；

当智能卡在读卡器非接触界面时，PC端自动选择非接触端口，从而进行非接触式智能卡的测试。

7.根据权利要求5所述的智能卡多功能测试装置，其特征在于，所述防拔测试系统具体用于：

通过获取指令时间的指令获取上一条指令的执行时间，根据获取的上一条指令的执行时间确认下一指令执行时间的起始值以及执行时间的步长

基于下一指令执行时间的起始值以及执行时间的步长获取断电时间为x微秒，通过断电指令设置读卡器的断电时间为x微秒，在下一条指令x微秒后对读卡器执行下电操作。

8.根据权利要求5所述的智能卡多功能测试装置，其特征在于，所述性能测试系统具体用于：

将双界面读卡器连接PC端，获取测试程序，其中，测试程序中预先设置有性能监测指令和波形输出指令。

当开始测试智能卡的各项性能时，通过性能监测指令和波形输出指令监控和记录指令执行时的波形，并将对应指令的执行时间进行统计，根据统计的时间和波形来确定智能卡的性能是否符合要求。

9.根据权利要求5所述的智能卡多功能测试装置，其特征在于，所述跟踪测试系统具体用于：

将测试设备外接一张智能卡，同时连接读卡器，建立读卡器上智能卡与外接智能卡的数据通讯，在测试设备设置跟踪测试程序，获取读卡器上智能卡的指令流，并同步通过串口输出智能卡的指令流。

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