CN114355047B - 一种棒位探测器线圈测试方法、装置及电子设备 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种棒位探测器线圈测试方法、装置及电子设备，涉及仪控系统核心部件的测试技术领域。具体实现方案为：获取目标控制棒对应的探测器线圈的数据信息，所述数据信息包括：所述探测器线圈的电阻值和绝缘值；依据所述目标控制棒对应探测器线圈的电阻值预测所述探测器线圈的探测器线圈温度；依据所述目标控制棒对应的探测器线圈温度预测所述目标控制棒对应探测器线圈的等效电阻值；确定所述等效电阻值与标准电阻值的对比结果；依据所述对比结果和所述探测器线圈的绝缘值确定所述探测器线圈状态的管理数据。本发明可以提高对于棒位探测器线圈检测的准确性。

Description

一种棒位探测器线圈测试方法、装置及电子设备

技术领域

本发明涉及仪控系统核心部件的测试技术领域，尤其涉及一种棒位探测器线圈测试方法、装置及电子设备。

背景技术

棒控棒位系统是核电厂重要仪控系统之一，用于控制反应堆中控制棒的提升、插入以及保持动作，并且可以监视其具体位置，以此来实现反应堆的启堆、停堆和稳定运行，其中，棒控棒位系统中控制棒驱动机构和棒位探测器线圈的电阻值和绝缘值是反应其性能的重要数据。

棒控棒位系统控制部分通过对控制棒线圈通电流以改变磁场来控制其动作，测量部分相反，控制棒的动作会改变磁场，从而改变线圈电流大小，采用电磁感应对金属件移动进行控制和调节的技术具有通用性，可以拓展到整个仪控领域。

现有技术中，以检测到棒位探测器线圈的实际电阻值和实际绝缘值作为判断性能的依据，另外，通过传统测量设备获取的实际电阻值和实际绝缘值，通过人工读取和记录的方式获取数据，这样会导致对于棒位探测器线圈检测的准确性较低。

发明内容

本公开提供了一种棒位探测器线圈测试方法、装置、电子设备及存储介质，以解决现有技术中对于棒位探测器检测的准确性较低的问题。

根据本公开的一方面，提供了一种棒位探测器线圈测试方法，包括：

获取目标控制棒对应的探测器线圈的数据信息，所述数据信息包括：所述探测器线圈的电阻值和绝缘值；

依据所述目标控制棒对应探测器线圈的电阻值预测所述探测器线圈的探测器线圈温度；

依据所述目标控制棒对应的探测器线圈温度预测所述目标控制棒对应探测器线圈的等效电阻值；

确定所述等效电阻值与标准电阻值的对比结果；

依据所述对比结果和所述探测器线圈的绝缘值确定所述探测器线圈状态的管理数据。

根据本公开的另一方面，提供了一种棒位探测器线圈测试装置，包括：

第一获取模块，用于获取目标控制棒对应的探测器线圈的数据信息，所述数据信息包括：所述探测器线圈的电阻值和绝缘值；

第一预测模块，用于依据所述目标控制棒对应探测器线圈的电阻值预测所述探测器线圈的探测器线圈温度；

第二预测模块，用于依据所述目标控制棒对应的探测器线圈温度预测所述目标控制棒对应探测器线圈的等效电阻值；

第一生成模块，用于确定所述等效电阻值与标准电阻值的对比结果；

第二生成模块，用于依据所述对比结果和所述探测器线圈的绝缘值确定所述探测器线圈状态的管理数据。

根据本公开的另一方面，提供了一种电子设备，包括：

至少一个处理器；以及

与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，

所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行本公开提供的棒位探测器线圈测试方法。

根据本公开的另一方面，提供了一种存储有计算机指令的非瞬时计算机可读存储介质，其中，所述计算机指令用于使所述计算机执行本公开提供的棒位探测器线圈测试方法。

本公开中，通过测量部件首先获取目标控制棒对应的探测器线圈的数据信息，其中，对于目标控制棒的选择可以是一个或者多个，获取目标控制棒对应的探测器线圈的电阻值和绝缘值，依据获取到的电阻值以及其它电阻值预测探测器线圈的温度，再由获取到的目标控制棒对应探测器线圈的温度、连接电阻值和目标控制棒对应探测器线圈的电阻实际测量值预测对应探测器线圈的等效电阻值，将对应探测器线圈的等效电阻值与标准电阻值进行对比并获得对比结果，依据对比结果和探测器线圈的绝缘值确定所述探测器线圈状态的管理数据，依据此管理数据可以判断目标控制棒对应探测器线圈的性能状态，通过此方法确定目标控制棒对应探测器线圈的等效电阻值，从而提高对于棒位探测器检测的准确性。

应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本公开的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本公开的范围。本公开的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。

附图说明

附图用于更好地理解本方案，不构成对本公开的限定。其中：

图1是本公开提供的一种棒位探测器线圈测试方法的流程图；

图2是本公开提供的一种棒位探测器线圈测试方法的控制棒堆平面图；

图3是本公开提供的一种棒位探测器线圈测试方法的数据收集示意图；

图4是本公开提供的一种棒位探测器线圈测试方法的测量线圈示意图；

图5是本公开提供的一种棒位探测器线圈测试方法的应用示意图；

图6是本公开提供的一种棒位探测器线圈测试方法的另一种流程图；

图7是本公开提供的一种棒位探测器线圈测试方法的功能分配图；

图8是本公开提供的一种棒位探测器线圈测试装置的结构图；

图9是本公开提供的一种棒位探测器线圈测试装置的另一种结构图；

图10是本公开提供的一种棒位探测器线圈测试装置的另一种结构图；

图11是用来实现本公开实施例的棒位探测器线圈测试方法的电子设备的框图。

具体实施方式

以下结合附图对本公开的示范性实施例做出说明，其中包括本公开实施例的各种细节以助于理解，应当将它们认为仅仅是示范性的。因此，本领域普通技术人员应当认识到，可以对这里描述的实施例做出各种改变和修改，而不会背离本公开的范围和精神。同样，为了清楚和简明，以下的描述中省略了对公知功能和结构的描述。

请参见图1，图1是本公开提供的一种棒位探测器线圈测试方法的流程图，如图1所示，包括以下步骤：

步骤S101、获取目标控制棒对应的探测器线圈的数据信息，所述数据信息包括：所述探测器线圈的电阻值和绝缘值。

上述目标控制棒的选择可以是对于单个控制棒的选择和多个控制棒的选择，例如：若需要进行对所有控制棒进行探测器线圈的测试，则可以是获取选择获取所有控制棒的数据信息，若需要对用户所选择的控制棒进行探测器线圈的测试，则可以是获取用户所选择的控制棒的数据信息。

上述数据信息包括上述探测器线圈的电阻值和绝缘值，其中，上述探测器线圈可以是包括原边线圈、辅助线圈和二次线圈，同样的，对于上述探测器线圈的数据信息可以是包括原边线圈的电阻值和绝缘值、辅助线圈的电阻值和绝缘值以及二次线圈的电阻值和绝缘值。

需要说明的是，上述测量线圈可以是包括若干个等距分布的线圈组，可以将若干个等距分布的线圈组进行分组，并对不同分组的二次线圈进行测量，从而得到上述二次线圈中对应分组线圈的电阻值和绝缘值。

其中，上述二次线圈中的分组线圈通过正反串联的方式连接，并输出感应电压，而通过检测某一位置的上述二次线圈和上述原边线圈的耦合感应电压可以来确定目标控制棒中驱动轴顶端的位置。

步骤S102、依据所述目标控制棒对应探测器线圈的电阻值预测所述探测器线圈的探测器线圈温度。

上述目标控制棒对应探测器线圈的电阻值可以是包括上述原边线圈的电阻值、上述辅助线圈的电阻值和上述二次线圈的电阻值，其中，上述二次线圈的电阻值包括每一个分组的电阻值。

另外，可以是获取目标控制棒所对应路线中的其它电阻值、测量修正值和连接电阻值，依据上述目标控制棒所对应路线中的其它电阻值、上述测量修正值、上述连接电阻值和上述目标控制棒对应探测器线圈的电阻值得到上述探测器线圈的温度。

步骤S103、依据所述目标控制棒对应的探测器线圈温度预测所述目标控制棒对应探测器线圈的等效电阻值。

上述标控制棒对应的探测器线圈温度可以是包括上述原边线圈的温度、上述辅助线圈的温度和上述二次线圈的温度，其中，上述二次线圈可以为若干个分组，即上述二次线圈中的每一个分组可以是有对应的线圈温度。

另外，对于上述等效电阻值的计算可以是通过上述目标控制棒对应探测器线圈的电阻实际测量值、连接电阻、测量修正值以及上述探测器线圈对应的温度得到。

步骤S104、确定所述等效电阻值与标准电阻值的对比结果。

上述标准电阻值可以是上述探测器线圈的电阻值范围，其中，上述原边线圈、上述辅助线圈和上述二次线圈有对应的标准电阻值范围，且上述二次线圈若包括若干个分组线圈，则上述若干个分组线圈也对应不同的标准电阻值范围。

将上述获取的探测器线圈等效电阻值与对应的上述标准电阻值进行对比，例如：若获取到原边线圈的等效电阻值，则将原边线圈的等效电阻值与原边线圈的标准电阻值进行对比，若等效电阻值在标准电阻值的范围之内，则生成匹配的对比结果；若等效电阻值不在标准电阻值的范围之内，则生成匹配的对比结果。

另外，对于上述二次线圈的对比结果，则可以用上述二次线圈中分组线圈的对比结果表示，例如：获取到二次线圈中各个分组的等效电阻值，将各个分组的等效电阻值和标准电阻值进行对比，生成匹配对应的对比结果。

步骤S105、依据所述对比结果和所述探测器线圈的绝缘值确定所述探测器线圈状态的管理数据。

上述探测器线圈状态由上述对比结果和上述探测器线圈的绝缘值确定，并对应生成上述探测器线圈的管理数据，上述管理数据可以是对目标控制棒进行性能的检测和趋势判断，通过趋势判断可以获取目标控制棒的更换提示，即通过管理数据预测并判断目标控制棒的探测器线圈及相关部件的可使用时间。

需要说明的是，棒位探测器线圈的电阻和绝缘测试结果是反映棒位探测器线圈及其相关电缆状态的重要数据，因此需要对棒位探测器线圈中的原边线圈、辅助线圈和二次线圈分别进行测量，以判断棒位探测器的电阻和绝缘性能。

该实施方案中，通过测量部件首先获取目标控制棒对应的探测器线圈的数据信息，其中，对于目标控制棒的选择可以是一个或者多个，获取目标控制棒对应的探测器线圈的电阻值和绝缘值，依据获取到的电阻值以及其它电阻值预测探测器线圈的温度，再由获取到的目标控制棒对应探测器线圈的温度、连接电阻值和目标控制棒对应探测器线圈的电阻实际测量值预测对应探测器线圈的等效电阻值，将对应探测器线圈的等效电阻值与标准电阻值进行对比并获得对比结果，依据对比结果和探测器线圈的绝缘值确定所述探测器线圈状态的管理数据，依据此管理数据可以判断目标控制棒对应探测器线圈的性能状态，通过此方法确定目标控制棒对应探测器线圈的等效电阻值，从而提高对应棒位探测器检测的准确性。

其中，上述棒控棒位系统是用于控制核电厂反应堆中控制棒的提升、插入以及保持动作，并且可以监视控制的具体位置，以此来实现反应堆的启堆、停堆和稳定运行，并且本发明实施例获取的电阻值和绝缘值可以是反应其性能的重要数据。

需要说明的是，本发明对于棒位探测器线圈的测试可以是应用于61束棒堆，如图2所示，图2位控制棒堆的平面图，其中，编号的位置代表每一个控制棒设置的位置，用户可以是对图2中带有编号的控制棒进行棒位探测器线圈的测试。

作为一种可选的实施方式，所述依据所述目标控制棒对应探测器线圈的电阻值预测所述探测器线圈的探测器线圈温度包括：

通过如下公式预测所述探测器线圈的探测器线圈温度：

其中，Tcal表示所述目标控制棒对应探测器线圈的温度值，RsA、RsB、RsC、RsD和RsE分别为所述目标控制棒对应探测器中二次线圈的若干个分组线圈的电阻值，Ra表示辅助线圈电阻值，Rc表示连接电阻值，Δe表示测量修正量。

另外，请参见图3，图3为探测器线圈的数据表格示意，可以是将获取到上述原边线圈的测量数据、上述辅助线圈的测量数据和上述二次线圈的测量数据填入此表中，对探测器线圈的数据表格进行分析和处理。

请参见图4，应理解，图4为探测器线圈中测量线圈的展开平面图，如图4所示，此测量线圈由31个等距布置的线圈构成，为了减少探测器引线，将31个测量线圈分为A、B、C、D和E共五个组，引线时依次正反串联，以此输出感应电压。

该实施方案中，以探测器线圈中测量线圈包括31组为例，且上述公式以测量线圈中的A组线圈为例，上述探测器线圈温度的确定需要依据上述目标控制棒对应探测器线圈的电阻值，如上公式所示，将探测器线圈中的二次线圈分为A、B、C、D和E五组，首先获取二次线圈中五组线圈的电阻测量值，再获取其它电阻和、连接电阻值和测量修正量，最后得到二次线圈中A组线圈对应的线圈温度。通过先获取温度，根据温度得到对应探测器线圈的等效电阻值，通过此方法提高了对于棒位探测器检测的准确性。

需要说明的是，对于探测器线圈中其它线圈的测量可以是将上述公式中的相关参数进行替换，在此本发明实施例不作限定。

作为一种可选的实施方式，所述依据所述目标控制棒对应的探测器线圈温度预测所述目标控制棒对应探测器线圈的等效电阻值包括：

通过如下公式预测所述目标控制棒对应探测器线圈的等效电阻值：

其中，R25表示在25℃下的所述等效电阻值，Rt表示所述目标控制棒对应探测器线圈的电阻实际测量值，Rc表示连接电阻值，Δe表示测量修正量，Tcal表示所述目标控制棒对应探测器线圈的温度。

该实施方式中，以探测器线圈中二次线圈包括31组为例，且上述公式以二次线圈中的A组线圈为例，上述目标控制棒对应探测器线圈的等效电阻值的确定需要依据上述目标控制棒对应的探测器线圈温度、测量修正量和连接电阻值，如上公式所示，通过获取到二次线圈中A组线圈的温度，确定对应二次线圈中A组线圈在25℃对应的等效电阻值，通过获取的等效电阻值可以是与对应二次线圈中A组线圈的标准电阻值范围进行比较，最后得到对比结果。通过先获取温度，根据温度得到探测器线圈的等效电阻值，通过此方法提高了对于棒位探测器检测的准确性。

需要说明的是，对于探测器线圈中其它线圈的测量可以是将上述公式中的相关参数进行替换，在此本发明实施例不作限定。

作为一种可选的实施方式，所述目标控制棒对应的探测器线圈，包括如下至少一项：所述目标控制棒对应的探测器中的原边线圈；所述目标控制棒对应的探测器中的辅助线圈；所述目标控制棒对应的探测器中的二次线圈。

上述目标控制棒对应探测器中原边线圈的测试可以是通过操作测试部件获取所述目标控制棒对应探测器中原边线圈的数据信息，其中，所述目标控制棒对应探测器中原边线圈的数据信息包括如下至少一项：所述目标控制棒对应探测器中原边线圈的电阻值和所述目标控制棒对应探测器中原边线圈的绝缘值。

上述目标控制棒对应探测器中辅助线圈的测试可以是通过操作测试部件获取所述目标控制棒对应探测器中辅助线圈的数据信息，其中，所述目标控制棒对应探测器中辅助线圈的数据信息包括如下至少一项：所述目标控制棒对应探测器中辅助线圈的电阻值和所述目标控制棒对应探测器中辅助线圈的绝缘值。

上述目标控制棒对应探测器中二次线圈的测试可以是通过操作测试部件获取所述目标控制棒对应探测器中二次线圈的数据信息，其中，所述目标控制棒对应探测器中二次线圈的数据信息包括如下至少一项：所述目标控制棒对应探测器中二次线圈的电阻值和所述目标控制棒对应探测器中二次线圈的绝缘值。

该实施方式中，通过获取不同线圈的数据信息，并根据获取的信息进行对应线圈的等效电阻值计算，再通过线圈的等效电阻值和绝缘值判断二次线圈的性能状态，提高了工作效率的同时也提高了对于棒位探测器检测的准确性。

作为一种可选的实施方式，所述确定所述等效电阻值与标准电阻值的对比结果，包括：确定原边线圈的等效电阻值与所述原边线圈的标准电阻值第一对比结果；确定辅助线圈的等效电阻值与所述辅助线圈的标准电阻值第二对比结果；确定测量线圈的等效电阻值与所述测量线圈的标准电阻值第三对比结果。

上述标准电阻值为每一个线圈对应的标准电阻值范围，例如：一次线圈的标准电阻值范围为4±1Ω，辅助线圈的标准电阻值范围为625±125Ω，二次线圈E的标准电阻值范围为312±62Ω，二次线圈D的标准电阻值范围为625±125Ω，二次线圈C的标准电阻值范围为1250±250Ω，二次线圈B的标准电阻值范围为2500±500Ω，二次线圈A的标准电阻值范围为5000±1000Ω。

该实施方案中，确定原边线圈的等效电阻值与所述原边线圈的标准电阻值第一对比结果，上述第一对比结果包括上述原边线圈的等效电阻值在对应的标准电阻值范围之内以及之外，确定辅助线圈的等效电阻值与所述辅助线圈的标准电阻值第二对比结果，上述第二对比结果包括上述辅助线圈的等效电阻值在对应的标准电阻值范围之内以及之外，确定二次线圈的等效电阻值与所述二次线圈的标准电阻值第三对比结果，上述第三对比结果包括上述二次线圈的等效电阻值在对应的标准电阻值范围之内以及之外，通过获取上述第一对比结果、上述第二对比结果和上述第三对比结果可以得到探测器线圈的总性能概况，提高对于棒位探测器检测的准确性。

作为一种可选的实施方式，所述依据所述对比结果和所述探测器线圈的绝缘值确定所述探测器线圈状态的管理数据，包括：依据所述第一对比结果和所述原边线圈的绝缘值确定所述原边线圈的第一性能数据；依据所述第二对比结果和所述辅助线圈的绝缘值确定所述辅助线圈的第二性能数据；依据所述第三对比结果和所述二次线圈的绝缘值确定所述二次线圈的第三性能数据；依据所述第一性能数据、所述第二性能数据和所述第三性能数据确定所述目标控制棒对应的探测器线圈的性能状态，根据所述性能状态进行对所述目标控制棒对应的探测器线圈的趋势判断，根据所述趋势判断确定时间点发布所述探测器线圈的替换提示。

该实施方案中，根据对应线圈的对比结果以及绝缘值确定所测量线圈的性能数据，通过对每一个探测器线圈测量数据的收集和数据处理，得到目标控制棒对应的探测线圈的性能状态，即判断目标控制棒中探测器线圈以及其它部件的可使用时限，做出对应的趋势判断，根据此趋势判断对用户在设定的时间点进行更换部件的提示。通过此方法提高了对于控制棒及探测器线圈更换的效率和准确度。

作为一种可选的实施方式，如图5所示，上述棒位探测器线圈测试方法可应用于如图5所示的管理系统，其中，该管理系统包括上位机和下位机，上位机用于获取下位机收集到的数据信息，对数据信息进行处理以及趋势判断，与上位机相连接的下位机用于对探测器线圈进行电阻值和绝缘值的测试，下位机通过与负载接口的连接获取目标控制棒的相关信息，另外，下位机还需要与测点进行连接，测点可以是包括测量柜、电缆转接板和控制棒堆顶，另外，上位机和下位机需要连接电源进行正常的工作操作。

其中，用户操作上位机选择如下任意一种工作模式：全自动轮询模式和自主选挡模式；所述全自动轮询模式自动完成所述目标控制棒对应探测器线圈的测试；所述自主选挡模式检测发生异常的所述目标控制棒，对发生异常的所述目标控制棒的问题线圈进行单独测试。

请参见图6，对于棒位探测器线圈测试方法整个流程中自动模式与手动模式的确认可以通过图6的流程图进行确认，例如：将控制棒的连接作为功能分析的输入，在强制自动的条件下首先判断控制棒的连接操作是否可以人工进行，在强制手动的条件下再判断该操作是否规定严格按照手动操作执行，若进行强制手动则得到手动执行的分配结果，若不选择强制手动，则判断控制棒的连接是否适合自动，若适合自动执行该操作则得到自动执行的分配结果，若不适合自动执行，则判断是否适合手动执行该操作，得到最终的分配结果。

需要说明的是，每一步中的预设条件可以是根据实际需求和相关规定进行确认，对此本发明实施例不作限定。

请参见图7，通过将相关步骤代入此流程图中可以得到如图7所示的表格，其中，表格包括三大任务部分：数据测试、数据记录和数据处理，数据测试部分可以是包括连接负载和测试，将控制棒连接的操作通过上述流程图得到手动的分配结果，而单独控制棒的线束连接则为自动的分配结果。

另外，对于数据测试的测试阶段可以自动选择数据的自动获取，因此对于全自动模式得到自动的分配结果。对于异常情况下，用户需要对异常控制棒进行测试，因此对于自主选挡模式得到手动的分配结果。对于数据记录和数据处理操作根据预设条件可以获得自动的分配结果，其中包括：数据自动采集和显示、测量结果的自动储存、测量数据的等效处理及评估和趋势预判。

需要说明的是，用户可以是基于上述表格得到执行棒位探测器线圈测试方法设备的手动及自动状态，依据表格数据分配工作任务，进而提高工作效率。

如图7所示，表格中任务部分包括数据测试、数据记录和数据处理，而在对应的动作栏中表示需要进行的工作流程，通过将此动作栏中的操作需求输入至流程图进行功能分析得到分配结果。

请参见图，图8是本公开提供的一种棒位探测器线圈测试装置，如图8所示，棒位探测器线圈测试装置800包括：

第一获取模块801，用于获取目标控制棒对应的探测器线圈的数据信息，所述数据信息包括：所述探测器线圈的电阻值和绝缘值；

第一预测模块802，用于依据所述目标控制棒对应探测器线圈的电阻值预测所述探测器线圈的探测器线圈温度；

第二预测模块803，用于依据所述目标控制棒对应的探测器线圈温度预测所述目标控制棒对应探测器线圈的等效电阻值；

第一生成模块804，用于确定所述等效电阻值与标准电阻值的对比结果；

第二生成模块805，用于依据所述对比结果和所述探测器线圈的绝缘值确定所述探测器线圈状态的管理数据。

可选的，所述第一预测模块802用于通过如下公式预测所述探测器线圈的探测器线圈温度：

其中，Tcal表示所述目标控制棒对应探测器线圈的温度值，RsA、RsB、RsC、RsD和RsE分别为所述目标控制棒对应探测器中测量线圈的若干个分组线圈的电阻值，Ra表示辅助线圈电阻值，Rc表示连接电阻值，Δe表示测量修正量。

可选的，所述第二预测模块803用于通过如下公式预测所述目标控制棒对应探测器线圈的等效电阻值：

其中，R25表示在25℃下的所述等效电阻值，Rt表示所述目标控制棒对应探测器线圈的电阻实际测量值，Rc表示连接电阻值，Δe表示测量修正量，Tcal表示所述目标控制棒对应探测器线圈的温度。

可选的，所述目标控制棒对应的探测器线圈，包括如下至少一项：所述目标控制棒对应的探测器中的原边线圈；所述目标控制棒对应的探测器中的辅助线圈；所述目标控制棒对应的探测器中的二次线圈。

可选的，如图9所示，所述第一生成模块804包括：

第一确定单元8041，用于确定原边线圈的等效电阻值与所述原边线圈的标准电阻值第一对比结果；

第二确定单元8042，用于确定辅助线圈的等效电阻值与所述辅助线圈的标准电阻值第二对比结果；

第三确定单元8043，用于确定二次线圈的等效电阻值与所述二次线圈的标准电阻值第三对比结果。

可选的，如图10所示，所述第二生成模块805包括：

第四确定单元8051，用于依据所述第一对比结果和所述原边线圈的绝缘值确定所述原边线圈的第一性能数据；

第五确定单元8052，用于依据所述第二对比结果和所述辅助线圈的绝缘值确定所述辅助线圈的第二性能数据；

第六确定单元8053，用于依据所述第三对比结果和所述二次线圈的绝缘值确定所述测量线圈的第三性能数据；

管理单元8054，用于依据所述第一性能数据、所述第二性能数据和所述第三性能数据确定所述目标控制棒对应的探测器线圈的性能状态，根据所述性能状态进行对所述目标控制棒对应的探测器线圈的趋势判断，根据所述趋势判断确定时间点发布所述探测器线圈的替换提示。

根据本公开的实施例，本公开还提供了一种电子设备、一种可读存储介质。

图11示出了可以用来实施本公开的实施例的示例电子设备1100的示意性框图。电子设备旨在表示各种形式的数字计算机，诸如，膝上型计算机、台式计算机、工作台、个人数字助理、服务器、刀片式服务器、大型计算机、和其它适合的计算机。电子设备还可以表示各种形式的移动装置，诸如，个人数字处理、蜂窝电话、智能电话、可穿戴设备和其它类似的计算装置。本文所示的部件、它们的连接和关系、以及它们的功能仅仅作为示例，并且不意在限制本文中描述的和/或者要求的本公开的实现。

如图11所示，设备1100包括计算单元1101，其可以根据存储在只读存储器(ROM)1102中的计算机程序或者从存储单元1108加载到随机访问存储器(RAM)1103中的计算机程序，来执行各种适当的动作和处理。在RAM 1103中，还可存储设备1100操作所需的各种程序和数据。计算单元1101、ROM 1102以及RAM 1103通过总线1104彼此相连。输入/输出(I/O)接口1105也连接至总线1104。

设备1100中的多个部件连接至I/O接口1105，包括：输入单元1106，例如键盘、鼠标等；输出单元1107，例如各种类型的显示器、扬声器等；存储单元1108，例如磁盘、光盘等；以及通信单元1109，例如网卡、调制解调器、无线通信收发机等。通信单元1109允许设备1100通过诸如因特网的计算机网络和/或各种电信网络与其他设备交换信息/数据。

计算单元1101可以是各种具有处理和计算能力的通用和/或专用处理组件。计算单元1101的一些示例包括但不限于中央处理单元(CPU)、图形处理单元(GPU)、各种专用的人工智能(AI)计算芯片、各种运行机器学习模型算法的计算单元、数字信号处理器(DSP)、以及任何适当的处理器、控制器、微控制器等。计算单元1101执行上文所描述的各个方法和处理，例如棒位探测器线圈测试方法。

本文中以上描述的系统和技术的各种实施方式可以在数字电子电路系统、集成电路系统、场可编程门阵列(FPGA)、专用集成电路(ASIC)、专用标准产品(ASSP)、芯片上系统的系统(SOC)、负载可编程逻辑设备(CPLD)、计算机硬件、固件、软件、和/或它们的组合中实现。这些各种实施方式可以包括：实施在一个或者多个计算机程序中，该一个或者多个计算机程序可在包括至少一个可编程处理器的可编程系统上执行和/或解释，该可编程处理器可以是专用或者通用可编程处理器，可以从存储系统、至少一个输入装置、和至少一个输出装置接收数据和指令，并且将数据和指令传输至该存储系统、该至少一个输入装置、和该至少一个输出装置。

用于实施本公开的方法的程序代码可以采用一个或多个编程语言的任何组合来编写。这些程序代码可以提供给通用计算机、专用计算机或其他可编程数据处理装置的处理器或控制器，使得程序代码当由处理器或控制器执行时使流程图和/或框图中所规定的功能/操作被实施。程序代码可以完全在机器上执行、部分地在机器上执行，作为独立软件包部分地在机器上执行且部分地在远程机器上执行或完全在远程机器或服务器上执行。

在本公开的上下文中，机器可读介质可以是有形的介质，其可以包含或存储以供指令执行系统、装置或设备使用或与指令执行系统、装置或设备结合地使用的程序。机器可读介质可以是机器可读信号介质或机器可读储存介质。机器可读介质可以包括但不限于电子的、磁性的、光学的、电磁的、红外的、或半导体系统、装置或设备，或者上述内容的任何合适组合。机器可读存储介质的更具体示例会包括基于一个或多个线的电气连接、便携式计算机盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦除可编程只读存储器(EPROM或快闪存储器)、光纤、便捷式紧凑盘只读存储器(CD-ROM)、光学储存设备、磁储存设备、或上述内容的任何合适组合。

为了提供与用户的交互，可以在计算机上实施此处描述的系统和技术，该计算机具有：用于向用户显示信息的显示装置(例如，CRT(阴极射线管)或者LCD(液晶显示器)监视器)；以及键盘和指向装置(例如，鼠标或者轨迹球)，用户可以通过该键盘和该指向装置来将输入提供给计算机。其它种类的装置还可以用于提供与用户的交互；例如，提供给用户的反馈可以是任何形式的传感反馈(例如，视觉反馈、听觉反馈、或者触觉反馈)；并且可以用任何形式(包括声输入、语音输入或者、触觉输入)来接收来自用户的输入。

可以将此处描述的系统和技术实施在包括后台部件的计算系统(例如，作为数据服务器)、或者包括中间件部件的计算系统(例如，应用服务器)、或者包括前端部件的计算系统(例如，具有图形用户界面或者网络浏览器的用户计算机，用户可以通过该图形用户界面或者该网络浏览器来与此处描述的系统和技术的实施方式交互)、或者包括这种后台部件、中间件部件、或者前端部件的任何组合的计算系统中。可以通过任何形式或者介质的数字数据通信(例如，通信网络)来将系统的部件相互连接。通信网络的示例包括：局域网(LAN)、广域网(WAN)和互联网。

计算机系统可以包括客户端和服务器。客户端和服务器一般远离彼此并且通常通过通信网络进行交互。通过在相应的计算机上运行并且彼此具有客户端服务器关系的计算机程序来产生客户端和服务器的关系。服务器可以是云服务器，也可以为分布式系统的服务器，或者是结合了区块链的服务器。

应该理解，可以使用上面所示的各种形式的流程，重新排序、增加或删除步骤。例如，本公开中记载的各步骤可以并行地执行也可以顺序地执行也可以不同的次序执行，只要能够实现本公开公开的技术方案所期望的结果，本文在此不进行限制。

上述具体实施方式，并不构成对本公开保护范围的限制。本领域技术人员应该明白的是，根据设计要求和其他因素，可以进行各种修改、组合、子组合和替代。任何在本公开的精神和原则之内所作的修改、等同替换和改进等，均应包含在本公开保护范围之内。

Claims (10)

1.一种棒位探测器线圈测试方法，其特征在于，所述方法包括：

获取目标控制棒对应的探测器线圈的数据信息，所述数据信息包括：所述探测器线圈的电阻值和绝缘值；

依据所述目标控制棒对应探测器线圈的电阻值预测所述探测器线圈的探测器线圈温度；

依据所述目标控制棒对应的探测器线圈温度预测所述目标控制棒对应探测器线圈的等效电阻值；

确定所述等效电阻值与标准电阻值的对比结果；

依据所述对比结果和所述探测器线圈的绝缘值确定所述探测器线圈状态的管理数据。

2.根据权利要求1所述的棒位探测器线圈测试方法，其特征在于，所述依据所述目标控制棒对应探测器线圈的电阻值预测所述探测器线圈的探测器线圈温度包括：

通过如下公式预测所述探测器线圈的探测器线圈温度：

其中，Tcal表示所述目标控制棒对应探测器线圈的温度值，RsA、RsB、RsC、RsD和RsE分别为所述目标控制棒对应探测器中二次线圈的若干个分组线圈的电阻值，Ra表示辅助线圈电阻值，Rc表示连接电阻值，Δe表示测量修正量。

3.根据权利要求1所述的棒位探测器线圈测试方法，其特征在于，所述依据所述目标控制棒对应的探测器线圈温度预测所述目标控制棒对应探测器线圈的等效电阻值包括：

通过如下公式预测所述目标控制棒对应探测器线圈的等效电阻值：

其中，R25表示在25℃下的所述等效电阻值，Rt表示所述目标控制棒对应探测器线圈的电阻实际测量值，Rc表示连接电阻值，Δe表示测量修正量，Tcal表示所述目标控制棒对应探测器线圈的温度。

4.根据权利要求1所述的棒位探测器线圈测试方法，其特征在于，所述目标控制棒对应的探测器线圈，包括如下至少一项：

所述目标控制棒对应的探测器中的原边线圈；

所述目标控制棒对应的探测器中的辅助线圈；

所述目标控制棒对应的探测器中的二次线圈。

5.根据权利要求4所述的棒位探测器线圈测试方法，其特征在于，所述确定所述等效电阻值与标准电阻值的对比结果，包括：

确定原边线圈的等效电阻值与所述原边线圈的标准电阻值第一对比结果；

确定辅助线圈的等效电阻值与所述辅助线圈的标准电阻值第二对比结果；

确定二次线圈的等效电阻值与所述二次线圈的标准电阻值第三对比结果。

6.根据权利要求5所述的棒位探测器线圈测试方法，其特征在于，所述依据所述对比结果和所述探测器线圈的绝缘值确定所述探测器线圈状态的管理数据，包括：

依据所述第一对比结果和所述原边线圈的绝缘值确定所述原边线圈的第一性能数据；

依据所述第二对比结果和所述辅助线圈的绝缘值确定所述辅助线圈的第二性能数据；

依据所述第三对比结果和所述二次线圈的绝缘值确定所述二次线圈的第三性能数据；

依据所述第一性能数据、所述第二性能数据和所述第三性能数据确定所述目标控制棒对应的探测器线圈的性能状态，根据所述性能状态进行对所述目标控制棒对应的探测器线圈的趋势判断，根据所述趋势判断确定时间点发布所述探测器线圈的替换提示。

7.一种棒位探测器线圈测试装置，其特征在于，包括：

第一获取模块，用于获取目标控制棒对应的探测器线圈的数据信息，所述数据信息包括：所述探测器线圈的电阻值和绝缘值；

第一预测模块，用于依据所述目标控制棒对应探测器线圈的电阻值预测所述探测器线圈的探测器线圈温度；

第二预测模块，用于依据所述目标控制棒对应的探测器线圈温度预测所述目标控制棒对应探测器线圈的等效电阻值；

第一生成模块，用于确定所述等效电阻值与标准电阻值的对比结果；

第二生成模块，用于依据所述对比结果和所述探测器线圈的绝缘值确定所述探测器线圈状态的管理数据。

8.根据权利要求7所述的棒位探测器线圈测试装置，其特征在于，所述第一生成模块包括：

第一确定单元，用于确定原边线圈的等效电阻值与所述原边线圈的标准电阻值第一对比结果；

第二确定单元，用于确定辅助线圈的等效电阻值与所述辅助线圈的标准电阻值第二对比结果；

第三确定单元，用于确定二次线圈的等效电阻值与所述二次线圈的标准电阻值第三对比结果。

9.一种电子设备，其特征在于，包括：

至少一个处理器；以及

与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，

所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行权利要求1至6中任一项所述的方法。

10.一种存储有计算机指令的非瞬时计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机指令用于使所述计算机执行根据权利要求1至6中任一项所述的方法。

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