CN114325503A - 测试tws耳机充电柱与充电仓弹簧针接触寿命的方法及装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开一种测试tws耳机充电柱与充电仓弹簧针接触寿命的方法，包括：在tws耳机的外壳上安装磁铁；在充电仓的外壳安装霍尔传感器，所述霍尔传感器与测试板电连接；所述测试板与上位机电连接；将tws耳机放入充电仓，两个充电柱分别与正极弹簧针和负极弹簧针接触，霍尔传感器感应到所述磁铁，发出耳机放入指令，所述测试板发送计数指令至上位机，所述上位机根据所述计数指令记录放入次数；若两个充电柱与充电仓的正极弹簧针和负极弹簧针接触良好，则测试板发送接触良好信号至上位机，上位机根据所述接触良好信号记录接触良好次数。本发明还公开了一种测试tws耳机充电柱与充电仓弹簧针接触寿命的装置。本发明可自动计数，可靠性高。
Description
技术领域
本发明涉及tws耳机，更确切地说是一种测试tws耳机充电柱与充电仓弹簧针接触寿命的方法及装置。
背景技术
当前在tws耳机行业，通常测试tws耳机充电柱与充电仓pogo pin(弹簧针)接触寿命的装置，主要是通过人工对耳机充电仓的耳机取放来完成。这种方法测试，耳机内部通常会需要有一个led，由于耳机的充电柱与充电仓的pogo pin接触时，耳机的led就会亮起来。当测试员把耳机放入充电仓，测试员看到耳机的LED亮起来，就可以判断tws耳机充电柱与充电仓弹簧针是接触良好；如果耳机的LED不亮，就可以判断tws耳机充电柱与充电仓弹簧针接触不好。然后测试员把耳机取出，人工计数，然后再继续下一轮测试。
这种测试方法，需要耳机必须有个LED灯，还需要人工计数，这就带来了条件限制，导致有的没有LED灯的耳机测不了。此外，由于通常需要测试10000次，人工计数很容易出现计数错误，可靠性低。
发明内容
本发明为了解决现有技术测试tws耳机充电柱与充电仓弹簧针接触寿命的方法要求耳机必须有LED灯，且人工技术容易出现计数错误，可靠性低的技术问题，提供了一种测试tws耳机充电柱与充电仓弹簧针接触寿命的方法及装置。
为解决上述技术问题，本发明采用的技术方案为设计一种测试tws耳机充电柱与充电仓弹簧针接触寿命的方法，包括：
将未接内部电源的tws耳机的两个充电柱用导线短接；将充电仓的正极弹簧针和负极弹簧针与测试板电连接；在tws耳机的外壳上安装磁铁；在充电仓的外壳位于磁铁正下方处安装霍尔传感器，所述霍尔传感器与测试板电连接；所述测试板与上位机电连接；
将tws耳机放入充电仓，两个充电柱分别与正极弹簧针和负极弹簧针接触，霍尔传感器感应到所述磁铁，发出耳机放入指令，所述测试板根据所述耳机放入指令发送计数指令至上位机，所述上位机根据所述计数指令记录放入次数；
若两个充电柱与充电仓的正极弹簧针和负极弹簧针接触良好，则测试板发送接触良好信号至上位机，上位机根据所述接触良好信号记录接触良好次数。
所述充电仓的负极弹簧针与测试板的GND连接，所述正极弹簧针与测试板的上拉输入端连接；
若两个充电柱与充电仓的正极弹簧针和负极弹簧针接触良好，所述上拉输入端收到低电平信号。
所述霍尔传感器的输出端与测试板的另一个上拉输入端连接；
当所述霍尔传感器感应到所述磁铁，霍尔传感器发出低电平信号至所述另一个上拉输入端，即所述耳机放入指令为低电平信号。
所述测试板通过USB线与所述上位机连接。
所述磁铁粘贴于所述tws耳机的外壳上。
本发明还提供了一种测试tws耳机充电柱与充电仓弹簧针接触寿命的装置，包括：
霍尔传感器，其安装于充电仓的外壳上；在tws耳机的外壳上安装磁铁；所述霍尔传感器位于所述磁铁的正下方；
测试板，其与所述霍尔传感器以及所述充电仓的正极弹簧针和负极弹簧针电连接；
上位机，其与所述测试板电连接；
将未接内部电源的tws耳机的两个充电柱用导线短接；
将tws耳机放入充电仓，两个充电柱分别与正极弹簧针和负极弹簧针接触，霍尔传感器感应到所述磁铁，发出耳机放入指令，所述测试板根据所述耳机放入指令发送计数指令至上位机，所述上位机根据所述计数指令记录放入次数；
若两个充电柱与充电仓的正极弹簧针和负极弹簧针接触良好，则测试板发送接触良好信号至上位机，上位机根据所述接触良好信号记录接触良好次数。
所述充电仓的负极弹簧针与测试板的GND连接，所述正极弹簧针与测试板的上拉输入端连接；
若两个充电柱与充电仓的正极弹簧针和负极弹簧针接触良好，所述上拉输入端收到低电平信号。
所述霍尔传感器的输出端与测试板的另一个上拉输入端连接；
当所述霍尔传感器感应到所述磁铁，霍尔传感器发出低电平信号至所述另一个上拉输入端，即所述耳机放入指令为低电平信号。
所述测试板通过USB线与所述上位机连接。
所述磁铁粘贴于所述tws耳机的外壳上。
本发明通过将未接内部电源的tws耳机的两个充电柱用导线短接；将充电仓的正极弹簧针和负极弹簧针与测试板电连接；在tws耳机的外壳上安装磁铁；在充电仓的外壳位于磁铁正下方处安装霍尔传感器，所述霍尔传感器与测试板电连接；所述测试板与上位机电连接；将tws耳机放入充电仓，霍尔传感器感应到所述磁铁，发出耳机放入指令，所述测试板根据所述耳机放入指令发送计数指令至上位机，所述上位机根据所述计数指令记录放入次数；若两个充电柱与充电仓的正极弹簧针和负极弹簧针接触良好，则测试板发送接触良好信号至上位机，上位机根据所述接触良好信号记录接触良好次数。从而不需要在耳机上设置LED灯，既可以记录测试次数，又可以记录接触良好的次数，可靠性也高。
附图说明
下面结合实施例和附图对本发明进行详细说明，其中：
图1是本发明测试tws耳机充电柱与充电仓弹簧针接触寿命的装置的结构示意图；
图2是本发明测试tws耳机充电柱与充电仓弹簧针接触寿命的装置的电路原理图。
具体实施方式
下面结合附图进一步阐述本发明的具体实施方式：
请一并参见图1和图2。tws耳机1有两个充电柱，充电柱是tws耳机的一部分，是负责耳机充电时电流输入的，一般充电柱的表面会镀金或者镀铑，提高电连接性能和增加耐磨性。我们暂且把这两个充电柱分别命名为耳机的正极充电柱11和负极充电柱12。
充电仓2有pogo pin(弹簧针)，pogo pin是充电仓输出充电电压的，用来提供电源，给耳机充电的，弹簧针一般表面会镀金，提高电连接性能和增加耐磨性。一般一个充电仓会有四个pogo pin，其中两个pogo pin给左耳机充电，另外两个pogo pin给右耳机充电；由于左右pogopin测试原理一致，我们暂且取其中两个pogo pin：正极弹簧针21和负极弹簧针22。
tws耳机自带有锂电池；由于耳机的空间限制，此锂电池容量较小，因此经常需要放入充电仓里面充电；充电仓给tws耳机充电时，就需要耳机的两个充电柱分别与充电仓的两个pogo pin接触实现电连接。
要验证耳机的两个充电柱与充电仓的pogo pin接触的可靠性，就需要测试tws耳机充电柱与充电仓pogo pin接触寿命。即把耳机放入充电仓10000次，具体次数可根据实际需要调整，同时检查每一次耳机充电柱与充电仓pogo pin是否接触良好。
本发明测试tws耳机充电柱与充电仓弹簧针接触寿命的方法，包括：
将未接内部电源的tws耳机1的两个充电柱用导线短接。在本具体实施例中，在耳机内部，把电池线剪掉，以免耳机电池对测试造成干扰。在耳机外壳内部飞线使耳机的两个充电柱短路，让耳机充电的两根充电柱形成电连接，把耳机的两个充电柱用一条细铜丝焊到连起来，让两个充电柱处于短路，即把正极充电柱11和负极充电柱12短路。
将充电仓2的正极弹簧针21和负极弹簧针22与测试板3电连接。在本具体实施例中，所述充电仓2的负极弹簧针22与测试板的GND连接，所述正极弹簧针22与测试板3的上拉输入端GPIOA连接。测试板3内含单片机。
在tws耳机1的外壳上安装磁铁13。在本具体实施例中，所述磁铁通过胶水粘贴于所述tws耳机1的外壳上。
在充电仓2的外壳位于磁铁正下方处安装霍尔传感器23，所述霍尔传感器23与测试板3电连接。所述测试板3与上位机4电连接。在本具体实施例中，测试板3通过usb线与上位机6电连接。
霍尔传感器23由测试板3供电，所述霍尔传感器23的输出端231与测试板3的另一个上拉输入端GPIOB连接。霍尔传感器的VCC脚与测试板的VCC脚相连，霍尔传感器的GND脚与测试板的GND相连。
将tws耳机1放入充电仓2，两个充电柱分别与正极弹簧针和负极弹簧针接触，霍尔传感器23感应到所述磁铁13，发出耳机放入指令，所述测试板根据所述耳机放入指令发送计数指令至上位机，所述上位机根据所述计数指令记录放入次数；
若两个充电柱与充电仓的正极弹簧针和负极弹簧针接触良好，则测试板发送接触良好信号至上位机，上位机根据所述接触良好信号记录接触良好次数。
在本具体实施例中，若两个充电柱与充电仓的正极弹簧针和负极弹簧针接触良好，所述上拉输入端收到低电平信号。
在本具体实施例中，当所述霍尔传感器感应到所述磁铁，霍尔传感器发出低电平信号至所述另一个上拉输入端，即所述耳机放入指令为低电平信号。
本发明测试tws耳机充电柱与充电仓弹簧针接触寿命的装置包括霍尔传感器23、测试板3、上位机4。其中：
霍尔传感器23安装于充电仓2的外壳上。在tws耳机1的外壳上安装磁铁13。在本具体实施例中，所述磁铁通过胶水粘贴于所述tws耳机1的外壳上。所述霍尔传感器23位于所述磁铁的正下方。
测试板3与所述霍尔传感器23以及所述充电仓2的正极弹簧针21和负极弹簧针22电连接。在本具体实施例中，所述充电仓2的负极弹簧针22与测试板的GND连接，所述正极弹簧针22与测试板3的上拉输入端GPIOA连接。测试板3内含单片机。
霍尔传感器23由测试板3供电，所述霍尔传感器23的输出端231与测试板3的另一个上拉输入端GPIOB连接。霍尔传感器的VCC脚与测试板的VCC脚相连，霍尔传感器的GND脚与测试板的GND相连。
上位机4与所述测试板电连接。在本具体实施例中，所述测试板通过USB线与所述上位机连接。
将未接内部电源的tws耳机的两个充电柱用导线短接。在本具体实施例中，在耳机内部，把电池线剪掉，以免耳机电池对测试造成干扰。在耳机外壳内部飞线使耳机的两个充电柱短路，让耳机充电的两根充电柱形成电连接，把耳机的两个充电柱用一条细铜丝焊到连起来，让两个充电柱处于短路，即把正极充电柱11和负极充电柱12短路。
将tws耳机1放入充电仓2，两个充电柱分别与正极弹簧针21和负极弹簧针22接触，霍尔传感器23感应到所述磁铁13，发出耳机放入指令，所述测试板3根据所述耳机放入指令发送计数指令至上位机4，所述上位机根据所述计数指令记录放入次数。
若两个充电柱与充电仓的正极弹簧针和负极弹簧针接触良好，则测试板发送接触良好信号至上位机，上位机根据所述接触良好信号记录接触良好次数。
在本具体实施例中，若两个充电柱与充电仓的正极弹簧针和负极弹簧针接触良好，所述上拉输入端收到低电平信号。
在本具体实施例中，当所述霍尔传感器感应到所述磁铁，霍尔传感器发出低电平信号至所述另一个上拉输入端，即所述耳机放入指令为低电平信号。
本发明的工作原理为：
霍尔传感器感应到所述磁铁，发出耳机放入指令，所述测试板根据所述耳机放入指令发送计数指令至上位机，所述上位机根据所述计数指令记录放入次数；若两个充电柱与充电仓的正极弹簧针和负极弹簧针接触良好，则测试板发送接触良好信号至上位机，上位机根据所述接触良好信号记录接触良好次数。
当测试员把tws耳机1放入充电仓2中时，tws耳机1上面的磁铁13就会靠近霍尔传感器23，霍尔传感器感应到所述磁铁，发出耳机放入指令，即霍尔传感器23的输出端231会拉低，进而会把测试板3的上拉输入端GPIOB脚拉低，测试板3收到上拉输入端GPIOB的低电平信号，就会发送一个计数指令(例如发送0x41)给上位机4，上位机4就会自动记录放入次数一次。
同时当tws耳机1放入充电仓2时，耳机的两个充电柱与充电仓的两个弹簧针接触良好了，由于耳机的两个充电柱已经短路，进而正极弹簧针21与负极弹簧针22就会短路，而负极弹簧针与测试板3的gnd已经电连接，进而测试板3的上拉输入端GPIOA就会拉低，测试板3收到上拉输入端GPIOA的低电平信号，就会发送一个接触良好信号(例如发送0x42)给上位机4，上位机4就会自动记录耳机充电柱与pogo pin接触良好次数一次。
如果当tws耳机1放入充电仓2时，耳机的两个充电柱与充电仓的两个pogo pin没有接触良好，那么测试板的上拉输入端GPIOA仍然是高电平，测试板就不发送任何指令，上位机也就不会记录接触良好次数。
这样就实现了自动计数的功能，记录了tws耳机放入充电仓的次数，和耳机充电柱与pogo pin接触良好的次数，记录的数据可靠。
然后测试员把耳机1拿出充电仓2，再放入充电仓，如此循环10000次即完成测试。
本发明通过将未接内部电源的tws耳机的两个充电柱用导线短接；将充电仓的正极弹簧针和负极弹簧针与测试板电连接；在tws耳机的外壳上安装磁铁；在充电仓的外壳位于磁铁正下方处安装霍尔传感器，所述霍尔传感器与测试板电连接；所述测试板与上位机电连接；将tws耳机放入充电仓，霍尔传感器感应到所述磁铁，发出耳机放入指令，所述测试板根据所述耳机放入指令发送计数指令至上位机，所述上位机根据所述计数指令记录放入次数；若两个充电柱与充电仓的正极弹簧针和负极弹簧针接触良好，则测试板发送接触良好信号至上位机，上位机根据所述接触良好信号记录接触良好次数。从而不需要在耳机上设置LED灯，既可以记录测试次数，又可以记录接触良好的次数，可靠性也高。。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1.测试tws耳机充电柱与充电仓弹簧针接触寿命的方法，其特征在于包括：
将未接内部电源的tws耳机的两个充电柱用导线短接；将充电仓的正极弹簧针和负极弹簧针与测试板电连接；在tws耳机的外壳上安装磁铁；在充电仓的外壳位于磁铁正下方处安装霍尔传感器，所述霍尔传感器与测试板电连接；所述测试板与上位机电连接；
将tws耳机放入充电仓，两个充电柱分别与正极弹簧针和负极弹簧针接触，霍尔传感器感应到所述磁铁，发出耳机放入指令，所述测试板根据所述耳机放入指令发送计数指令至上位机，所述上位机根据所述计数指令记录放入次数；
若两个充电柱与充电仓的正极弹簧针和负极弹簧针接触良好，则测试板发送接触良好信号至上位机，上位机根据所述接触良好信号记录接触良好次数。
2.根据权利要求1所述的测试tws耳机充电柱与充电仓弹簧针接触寿命的方法，其特征在于：所述充电仓的负极弹簧针与测试板的GND连接，所述正极弹簧针与测试板的上拉输入端连接；
若两个充电柱与充电仓的正极弹簧针和负极弹簧针接触良好，所述上拉输入端收到低电平信号。
3.根据权利要求1所述的测试tws耳机充电柱与充电仓弹簧针接触寿命的方法，其特征在于：所述霍尔传感器的输出端与测试板的另一个上拉输入端连接；
当所述霍尔传感器感应到所述磁铁，霍尔传感器发出低电平信号至所述另一个上拉输入端，即所述耳机放入指令为低电平信号。
4.根据权利要求1所述的测试tws耳机充电柱与充电仓弹簧针接触寿命的方法，其特征在于：所述测试板通过USB线与所述上位机连接。
5.根据权利要求1所述的测试tws耳机充电柱与充电仓弹簧针接触寿命的方法，其特征在于：所述磁铁粘贴于所述tws耳机的外壳上。
6.测试tws耳机充电柱与充电仓弹簧针接触寿命的装置，其特征在于包括：
霍尔传感器，其安装于充电仓的外壳上；在tws耳机的外壳上安装磁铁；所述霍尔传感器位于所述磁铁的正下方；
测试板，其与所述霍尔传感器以及所述充电仓的正极弹簧针和负极弹簧针电连接；
上位机，其与所述测试板电连接；
将未接内部电源的tws耳机的两个充电柱用导线短接；
将tws耳机放入充电仓，两个充电柱分别与正极弹簧针和负极弹簧针接触，霍尔传感器感应到所述磁铁，发出耳机放入指令，所述测试板根据所述耳机放入指令发送计数指令至上位机，所述上位机根据所述计数指令记录放入次数；
若两个充电柱与充电仓的正极弹簧针和负极弹簧针接触良好，则测试板发送接触良好信号至上位机，上位机根据所述接触良好信号记录接触良好次数。
7.根据权利要求6所述的测试tws耳机充电柱与充电仓弹簧针接触寿命的装置，其特征在于：所述充电仓的负极弹簧针与测试板的GND连接，所述正极弹簧针与测试板的上拉输入端连接；
若两个充电柱与充电仓的正极弹簧针和负极弹簧针接触良好，所述上拉输入端收到低电平信号。
8.根据权利要求6所述的测试tws耳机充电柱与充电仓弹簧针接触寿命的装置，其特征在于：所述霍尔传感器的输出端与测试板的另一个上拉输入端连接；
当所述霍尔传感器感应到所述磁铁，霍尔传感器发出低电平信号至所述另一个上拉输入端，即所述耳机放入指令为低电平信号。
9.根据权利要求6所述的测试tws耳机充电柱与充电仓弹簧针接触寿命的装置，其特征在于：所述测试板通过USB线与所述上位机连接。
10.根据权利要求6所述的测试tws耳机充电柱与充电仓弹簧针接触寿命的装置，其特征在于：所述磁铁粘贴于所述tws耳机的外壳上。
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