CN114325331B - 测量直流参数的电路、方法及系统 - Google Patents

Abstract

本申请涉及一种测量直流参数的电路、方法及系统，该电路包括主控单元、通道控制单元以及模数/数模转换单元；通道控制单元包括PMU通道，PMU通道的数量为至少一个；PMU通道包括PMU芯片电路以及输出放大电路，输出放大电路与PMU芯片电路连接，输出放大电路用于放大PMU芯片电路的输出电压，以增加PMU通道的量程；主控单元与模数/数模转换单元连接，主控单元与通道控制单元连接，模数/数模转换单元与通道控制单元连接，通道控制单元与待测IC芯片连接。本申请通过在通道控制单元中设置输出放大电路以及至少一个PMU通道，来增加PMU通道的量程，解决测量量程较少的问题，提高IC测试的便利性。

Description

测量直流参数的电路、方法及系统

技术领域

本申请涉及集成电路(integrated circuit，IC)测试领域，尤其涉及一种测量直流参数的电路、方法及系统。

背景技术

IC测试作为IC芯片生产中的重要环节，其测量结果不仅可以用于判断IC芯片性能是否符合标准，是否可以进入市场，还可以充分定量地反映出该IC芯片从结构、功能到电气特性的各种指标。因此，IC测试主要用于保证IC芯片能够完全实现其设计规格书所规定的功能及性能指标。在现有用于IC测试的精密测量单元(phasor management unit,PMU)测试方式中，通常是使用测试仪中集成的PMU测试通道对IC芯片进行电流和电压测试，来获取用于表征IC芯片性能的直流参数。其中，该直流参数是表征IC芯片性能的重要指标。但是，现有的测试方法中存在测量量程较少的问题，可能为IC测试造成不便。

发明内容

本申请提供了一种测量直流参数的电路、方法及系统，以解决现有的测试方法中的测量量程较少，导致IC测试不便的问题。

第一方面，本申请提供了一种测量直流参数的电路，该测量直流参数的电路包括主控单元、通道控制单元以及模数/数模转换单元；所述通道控制单元包括PMU通道，所述PMU通道的数量为至少一个；所述PMU通道包括PMU芯片电路以及输出放大电路，所述输出放大电路与所述PMU芯片电路连接，所述输出放大电路用于放大所述PMU芯片电路的输出电压，以增加所述PMU通道的量程；

所述主控单元与所述模数/数模转换单元连接，所述主控单元与所述通道控制单元连接，所述模数/数模转换单元与所述通道控制单元连接，所述通道控制单元与待测IC芯片连接；

所述主控单元用于通过所述模数/数模转换单元向所述通道控制单元传输测量信号，并通过所述模数/数模转换单元获取所述通道控制单元传输的测量结果；所述测量信号包括对所述待测IC芯片进行测量的电压的值；

所述通道控制单元用于根据所述测量信号以目标量程对所述待测IC芯片进行测量，并将采集到的测量结果通过所述模数/数模转换单元传输给所述主控单元；所述测量结果包括所述待测IC芯片的直流参数；所述目标量程为所述PMU通道的至少一个量程中的任意一个；

所述模数/数模转换单元用于将所述主控单元传输的数字信号转换为模拟信号，并传输给所述通道控制单元，所述模数/数模转换单元还用于将所述通道控制单元传输的模拟信号转换为数字信号，并传输给所述主控单元。

可选地，所述主控单元与所述通道控制单元连接；

所述主控单元用于控制所述通道控制单元中的目标PMU通道开启；所述目标PMU通道为所述PMU通道中的至少一个；

所述主控单元用于通过所述模数/数模转换单元向所述目标PMU通道传输测量信号，并通过所述模数/数模转换单元获取所述目标PMU通道传输的测量结果。

可选地，所述目标PMU通道包括第一目标PMU通道与第二目标PMU通道；

所述主控单元用于通过所述模数/数模转换单元向所述第一目标PMU通道传输测量信号，并通过所述模数/数模转换单元获取所述第二目标PMU通道传输的测量结果；

所述第一目标PMU通道用于向所述待测IC芯片传输电压/电流信号，并以所述目标量程测量所述待测IC芯片在所述电压/电流信号下的直流参数；所述电压/电流信号的值根据所述测量信号确定；

所述第二目标PMU通道用于采集对所述待测IC芯片进行测量的测量结果。

可选地，

所述第一目标PMU通道通过所述第一目标PMU通道的第一连接线和第二连接线与所述待测IC芯片的正端连接，所述第一目标PMU通道通过所述第一目标PMU通道的第三连接线和第四连接线与所述待测IC芯片的负端连接；

所述第二目标PMU通道通过所述第二目标PMU通道的第一连接线和第二连接线与所述待测IC芯片的正端连接；所述第二目标PMU通道通过所述第二目标PMU通道的第三连接线和第四连接线与所述待测IC芯片的负端连接；

所述第一目标PMU通道的第一连接线、第二连接线、第三连接线和第四连接线用于传输所述测量信号；

所述第二目标PMU通道的第一连接线、第二连接线、第三连接线和第四连接线用于采集所述测量结果；

所述第一目标PMU通道用于根据所述测量信号，通过所述第一目标PMU通道的第一连接线、第二连接线、第三连接线和第四连接线将所述电压/电流信号传输给所述待测IC芯片，并以所述目标量程测量所述待测IC芯片的直流参数；所述第二目标PMU通道用于通过所述第二目标PMU通道的第一连接线、第二连接线、第三连接线与所述第四连接线采集对所述待测IC芯片进行测量的测量结果。

可选地，所述PMU通道还包括电压反馈网络和/或电流反馈网络；所述待测IC芯片的直流参数包括电压和/或电流；

所述电流反馈网络与所述PMU芯片电路连接，所述电流反馈网络与所述待测IC芯片串联；所述电流反馈网络用于获取对所述待测IC芯片进行测量得到的电流；

所述电压反馈网络与所述PMU芯片电路连接，所述电压反馈网络与所述PMU芯片电路并联，所述电压反馈网络用于获取对所述待测IC芯片进行测量得到的电压。

可选地，所述通道控制单元还包括PMU供电电源；所述PMU供电电源用于为所述PMU通道供电；

所述PMU通道为多个时，四个PMU通道共用同一PMU供电电源。

第二方面，本申请提供了一种测量直流参数的方法，所述测量直流参数的方法包括：

生成测量信号；所述测量信号包括对所述待测IC芯片进行测量的电压的值；

根据所述测量信号以目标量程对待测IC芯片进行测量，得到测量结果，所述测量结果包括所述待测IC芯片的直流参数；所述目标量程为PMU通道的至少一个量程中的任意一个，所述PMU通道的数量为至少一个。

可选地，所述目标PMU通道为所述PMU通道中的至少一个；所述方法还包括：

控制所述目标PMU通道开启；

所述根据所述测量信号以所述目标量程对待测IC芯片进行测量，得到测量结果，包括：

根据所述测量信号通过所述目标PMU通道，以所述目标量程对所述待测IC芯片进行测量，得到所述测量结果。

可选地，所述目标PMU通道包括第一目标PMU通道以及第二目标PMU通道；

所述根据所述测量信号通过所述目标PMU通道，以所述目标量程对所述待测IC芯片进行测量，得到所述测量结果，包括：

根据所述测量信号，通过所述第一目标PMU通道向所述待测IC芯片传输所述电压/电流信号，并以所述目标量程对所述待测IC芯片进行测量，通过所述第二目标PMU通道获取所述测量结果；所述电压/电流信号根据所述测量信号确定。

第三方面，本申请提供了一种测量直流参数的系统，所述系统包括计算机设备以及上述第一方面中任一项实施例所述的电路；

所述电路用于通过PCIe连接器与所述计算机设备通信连接；

所述计算机设备用于向所述电路发送测量指示信息，所述测量指示信息用于指示所述电路以目标量程对待测IC芯片进行测量，所述测量指示信息包括所述目标量程；所述目标量程为所述电路中的PMU通道的至少一个量程中的任意一个；

所述电路根据从所述计算机设备接收到的所述测量指示信息生成测量信号，并根据所述测量信号以所述目标量程对所述待测IC芯片进行测量，得到测量结果；所述测量信号包括对所述待测IC芯片进行测量的电压的值。

第四方面，本申请提供了一种电子设备，包括处理器、通信接口、存储器和通信总线，其中，处理器，通信接口，存储器通过通信总线完成相互间的通信；

存储器，用于存放计算机程序；

处理器，用于执行存储器上所存放的程序时，实现第二方面任一项实施例所述的测量直流参数的方法的步骤。

第五方面，本申请提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如第二方面任一项实施例所述的测量直流参数的方法的步骤。

本申请实施例提供的上述技术方案与现有技术相比具有如下优点：

本申请实施例提供的该测量直流参数的电路，包括主控单元、通道控制单元以及模数/数模转换单元。其中，通道控制单元包括PMU通道，PMU通道的数量为至少一个；PMU通道包括PMU芯片电路以及输出放大电路，输出放大电路与PMU芯片电路连接，输出放大电路用于放大该PMU芯片电路的输出电压，以增加PMU通道的量程。主控单元与模数/数模转换单元连接，主控单元与通道控制单元连接，模数/数模转换单元与通道控制单元连接，通道控制单元与待测IC芯片连接。也就是说，本申请所提高的测量直流参数的电路可通过在通道控制单元中设置输出放大电路和至少一个PMU通道，来增加PMU通道的量程，解决测量量程较少的问题，提高IC测试的便利性。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本发明的实施例，并与说明书一起用于解释本发明的原理。

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例提供的一种测量直流参数的电路的示意图；

图2为本申请实施例提供的一种PMU通道的电路的示意图；

图3为本申请实施例提供的一种测量直流参数的方法的流程示意图；

图4为本申请实施例提供的一种测量直流参数的系统的示意图；

图5为本申请实施例提供的一种测量直流参数的装置的示意图；

图6为本申请实施例提供的一种电子设备的结构示意图。

具体实施方式

为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

为了解决现有技术中测量量程较少，造成IC测试不便的问题，本申请实施例提供了一种测量直流参数的电路，如图1所示，该电路包括主控单元101、通道控制单元02以及模数/数模转换单元103。

主控单元与模数/数模转换单元连接，主控单元与通道控制单元连接，模数/数模转换单元与通道控制单元连接，通道控制单元与待测IC芯片连接。

其中，通道控制单元中包括PMU通道，该PMU通道的数量为至少一个，该PMU通道中包括PMU芯片电路以及输出放大电路，输出放大电路与PMU芯片电路连接，输出放大电路用于放大PMU芯片电路的输出电压，以增加PMU通道的量程。

示例性的，PMU通道的数量为8个，每一PMU通道中均包含PMU芯片电路以及输出放大电路。

主控单元用于通过模数/数模转换单元向通道控制单元传输测量信号，并通过模数/数模转换单元获取该通道控制单元采集的测量结果。其中，测量信号包括对待测IC芯片进行测量的电压的值。因此，根据该测量信号可以确定对待测IC芯片进行测量的电压/电流信号。

示例性地，主控单元可以为现场可编程逻辑门阵列(field programmable gatearray，FPGA)。

上述至少一个量程包括电压量程和/或电流量程，目标量程可以为电压量程，也可以为电流量程。示例性的，该电流量程包括-10μA～10μA、-1mA～1mA、-10mA～10mA以及-100mA～100mA，该电压量程包括-600mV～600mV、-6V～6V以及-30V～30V。其中，电压量程-30V～30V以及电流量程-100mA～100mA是通过与PMU芯片电路连接的输出放大电路实现的。

也就是说，通道控制单元用于根据测量信号以目标量程对待测IC芯片进行测量，并将采集到的测量结果通过模数/数模转换单元传输给主控单元。

其中，该测量结果包括待测IC芯片的直流参数，即待测IC芯片在上述测量电压或测量电流激励下，由于自身工作特性而产生的直流参数，该直流参数包括电压和/或电流。

目标量程为PMU通道的至少一个量程中的任意一个。其中，目标量程是根据测量信号中电压的值确定的。更具体的，基于测量信号确定电压/电流信号后，基于该电压/电流信号选定目标量程。

另外，该模数/数模转换单元用于将主控单元传输的数字信号转换为模拟信号，并传输给通道控制单元，该模数/数模转换单元还用于将通道控制单元传输的模拟信号转换为数字信号，并传输给主控单元。

需要说明的是，上述目标量程是通过被测器件(device under test，DUT)即待测IC芯片的输入电压/电流(或输出电压/电流)确定的。另外，通过向PMU通道中添加输出放大电路，可对PMU通道中与该输出放大电路相连接的PMU芯片电路的输出电压进行调整，从而实现较大量程，解决现有技术中PMU测量的量程不足的问题，实现该直流参数的测量电路的多量程切换，提高利用PMU方法进行IC测试的便利性，并提高使用PMU方法进行IC测试的效率。

在一种可能的实现方式中，主控单元与通道控制单元连接。此时，主控单元用于控制通道控制单元中的目标PMU通道开启，其中，该目标PMU通道为PMU通道中的至少一个。主控单元还用于通过模数/数模转换单元向目标PMU通道传输测量信号，并通过模数/数模转换单元获取目标PMU通道采集的测量结果。上述通过模数/数模转换单元获取目标PMU通道采集的测量结果，即测量结果回读。

具体地，PMU通道中包括继电器开关控制电路以及输出继电器。也就是说，主控单元可通过继电器开关控制电路，来控制输出继电器处于开启状态。相应的，主控单元可通过继电器开关控制电路，来控制输出继电器处于关闭状态。

其中，输出继电器与PMU通道之间一一对应。也就是说，主控单元可通过继电器开关控制电路实现目标PMU通道对应的输出继电器的开启，以控制该目标PMU通道开启，使得该目标PMU通道正常工作。相应的，主控单元可通过继电器开关控制电路实现其他PMU通道对应的输出继电器的关闭，以控制该其他PMU通道关闭，使得该其他PMU通道不工作。其中，该其他PMU通道即PMU通道中除目标PMU通道外的PMU通道。

示例性地，若主控单元控制继电器relay1处于开启状态，则该继电器relay1对应的PMU通道1处于开启状态，若主控单元控制继电器relay2处于关闭状态，则该继电器relay2对应的PMU通道2处于关闭状态。

另外，在一种可能的实现方式中，通道控制单元中的PMU通道默认处于关闭状态，以在不需要对待测IC芯片进行测量的情况下，减少PMU通道开启造成的资源浪费。

需要说明的是，在这一过程中，主控单元控制目标PMU通道开启或关闭，可以在对待测IC芯片进行测量的情况下，减少没有被使用的过多PMU通道处于开启状态所造成的资源浪费，提高测量效率。

在一种可能的实现方式中，目标PMU通道包括第一目标PMU通道以及第二目标PMU通道。此时，主控单元用于通过模数/数模转换单元向第一目标PMU通道传输测量信号，并通过模数/数模转换单元获取第二目标PMU通道采集的测量结果。其中，第一目标PMU通道用于向待测IC芯片传输电压/电流信号，并以目标量程测量待测IC芯片在所述电压/电流信号下的直流参数，该电压/电流信号根据测量信号确定。第二目标PMU通道用于采集对待测IC芯片进行测量得到的测量结果，也即第二目标PMU通道用于回读测量结果。

也就是说，主控单元通过模数/数模转换单元向第一目标PMU通道传输测量信号，并由第一目标PMU通道将测量信号传输给待测IC芯片，以目标量程对待测IC芯片进行测量。随后，将根据该测量信号确定测量电压和/或测量电流传输至待测IC芯片，此时，该待测IC芯片在该测量电压和/或测量电流激励下，由于自身工作特性而产生的直流参数即测量结果，该直流参数包括电流和/或电压。再之后，该待测IC芯片将测量结果传输给第二目标PMU通道。相应的，第二目标PMU通道将测量结果通过模数/数模转换单元传输给主控单元。

需要说明的是，第一目标PMU通道与第二目标PMU通道可以为同一PMU通道，也可以为不同的PMU通道。也就是说，本申请中所涉及到的PMU通道均为双通道，即可传输测量信号给待测IC芯片进行测量，也可以采集测量结果传输给主控单元。通过同一PMU通道对待测IC芯片进行测量并采集测量结果，可使得该PMU通道的资源被充分利用，提高资源利用率，减少不必要的资源浪费。

在一种可能的实现方式中，第一目标PMU通道通过该第一目标PMU通道的第一连接线与第二连接线与待测IC芯片的正端连接，第一目标PMU通道通过第一目标PMU通道的第三连接线和第四连接线与待测IC芯片的负端连接。此时，第一目标PMU通道的第一连接线、第二连接线、第三连接线和第四连接线用于传输电压/电流信号(给待测IC芯片)。

第二目标PMU通道通过第二目标PMU通道的第一连接线和第二连接线与待测IC芯片的正端连接，第二目标PMU通道通过第二目标PMU通道的第三连接线与第四连接线与待测IC芯片的负端连接。此时，第二目标PMU通道的第一连接线、第二连接线、第三连接线和第四连接线用于采集测量结果。

其中，第一目标PMU通道用于根据测量信号，通过第一目标PMU通道的第一连接线、第二连接线、第三连接线和第四连接线将电压/电流信号传输(或者而说施加)给待测IC芯片。其中，第一目标PMU通道的第二连接线和第三连接线还用于电压信号的远端补偿。需要说明的是，通过第一目标PMU通道的第二连接线和第三连接线对传输的测量信号进行远端补偿，从而保证测量信号在传输过程中的准确性。

具体地，第一目标PMU通道用于根据测量信号，通过该第一目标PMU通道的第一连接线-第四连接线将电压/电流信号传输给待测IC芯片。另外，第二目标PMU通道用于通过其第一连接线-第四连接线采集对待测IC芯片进行测量得到的测量结果。

示例性地，上述第一连接线为force线，force为输出正端，第二连接线为sence线，sence为补偿正端，第三连接线为dgs线，dgs为补偿负端，第四连接线为gnd(接地)线，gnd为输出负端。

在一种可能的实现方式中，PMU通道还包括电压反馈网络和/或电流反馈网络。待测IC芯片的直流参数包括电压和/或电流。也就是说，待测IC芯片的直流参数包括电压，或者，待测IC芯片的直流参数包括电流，或者，待测IC芯片的直流参数包括电压和电流。另外，PMU通道还包括电压反馈网络，或者，PMU通道还包括电流反馈网络，或者，PMU通道还包括电压反馈网络和电流反馈网络。

其中，电流反馈网络与PMU芯片电路连接，电流反馈网络与待测IC芯片串联，该电流反馈网络用于获取对待测IC芯片进行测量得到的电流。电压反馈网络与PMU芯片连接，电压反馈网络与PMU芯片电路并联，该电压反馈网络用于获取对待测IC芯片进行测量得到的电压。

也就是说，本申请可根据对待测IC芯片进行测量的实际需求，即需要测量该待测IC芯片的电流和/或电压，在PMU通道中设置所需的电流反馈网络和/或电压反馈网络。

在一种可能的实现方式中，为了保证PMU芯片电路的正常工作，通道控制单元还包括PMU供电电源，该PMU供电电源用于为PMU通道供电，且该PMU供电电源包括PMU正电源以及PMU负电源。PMU通道为多个时，四个PMU通道共用同一PMU供电电源。也就是说，一组PMU供电电源为四个PMU通道供电，一组PMU供电电源中包括PMU正电源与PMU负电源。

示例性地，通道控制单元中包括2组PMU供电电源即A和B，以及8个PMU通道即a-h。其中，PMU供电电源A用于为PMU通道a-d供电，PMU供电电源B用于为PMU通道e-h供电。也就是说，PMU通道a-d共享PMU供电电源A，PMU通道e-h共享PMU供电电源B。

需要说明的是，通过上述过程，同一PMU供电电源实现对多个PMU通道的供电，可保证电源的充分利用，减少资源浪费。

根据上述内容可以确定，上述通道控制单元(中的PMU通道)可用于实现对待测IC芯片的加压测流FVMI、加流测压FIMV、加流测流FIMI以及加压测压FVMV，也就是说，该通道控制单元可用于测量传输给待测IC芯片的电压或电流增加或减少时，该待测IC芯片的电压和/或电流的变化。

在一种可能的实现方式中，PMU通道的至少一个量程中，量程越小则量程的精度越高，每一量程的分辨率相同，且相对于现有技术，本申请中的该至少一个量程的精度较高，该至少一个量程的分辨率较高。因此，利用本申请中的测量直流参数的电路可以测得精度较高且准确度较高的待测IC芯片的直流参数。

在一种可能的实现方式中，PMU通道中包括电压设定数模转换电路、采集信号模数转换电路、电压反馈网络、电流反馈网络、输出放大电路、电流和电压钳位电路、窗口比较器、控制电路、Guard保护电路、输出带宽选择、PMU供电电源以及温度传感器等。其中，电压设定数模转换电路用于将传输给PMU通道的电压由数字信号转换为模拟信号；采集信号模数转换电路用于将传输给主控单元的测量结果由模拟信号转换为数字信号；电压反馈网络用于将测量结果中的电压反馈给PMU芯片电路，并由PMU芯片电路传输给采集信号模数转换电路；电流反馈网络用于将测量结果中的电流反馈给PMU芯片电路，并由PMU芯片电路传输给采集信号模数转换电路；输出放大电路用于对PMU芯片电路的输出电压进行调整；电流和电压钳位电路以及窗口比较器用于根据预设电压阈值、预设电流阈值，对PMU通道所测量的DUT提供保护；控制电路用于控制该PMU芯片电路正常工作；guard电路用于在负载(即待测IC芯片)短路的情况下，保护该PMU通道中的电路；温度传感器可位于用于监测输出放大电路的预设范围内，该温度传感器，监测该输出放大电路的实时温度。

其中，模数/数模转换单元包括上述电压设定数模转换电路以及上述采集信号模数转换电路。

需要说明的是，上述预设电压阈值、预设电流阈值可以是预先确定的，也可以是根据PMU通道的输出电压或输出电流来确定的。

在一种可能的实现方式中，如图1所示，主控单元101通过高速串行计算机扩展总线标准(peripheral component interconnect express，PCIe)与PCIe连接器通信连接，以通过该PCIe连接器与其他设备进行通信。

另外，该测量直流参数的电路用于通过电源连接器与电源连接，该电源用于为该测量直流参数的电路供电。如图1所示，电源连接器通过电源管理电路为PMU芯片电路提供PMU正电源和PMU负电源。该测量直流参数的电路的引出线缆通过图示的输出信号连接器与其他设备或芯片等连接，例如待测IC芯片。其中，输出信号连接器的数量可以为两个，一个输出信号连接器用于4个PMU通道的输出，另一个输出信号连接器用于另外4个PMU通道的输出。

示例性地，上述PMU通道可如图2所示，其中，第一电压设定数模转换电路与PMU通道中的PMU芯片(例如AD5520)电路连接，将测量信号传输给该PMU芯片电路。若是测量待测IC芯片在测试电压下的直流参数，则该测量信号中包含该测试电压所对应的电压的值。若是测量待测IC芯片在测量电流下的直流参数，则该测量信号中包含该测量电流所对应电压的值。第二电压设定数模转换电路与PMU通道中的PMU芯片(例如AD5520)电路连接，将预设电压阈值传输给该PMU通道，以对该PMU通道中的电路提供保护。该预设电压阈值根据PMU通道的输出电压的范围。也就是说，该预设电压阈值用于对PMU通道输出的电压进行限制，从而对DUT进行保护。采集信号模数转换电路与PMU通道中的PMU芯片(例如AD5520)电路连接，该采集信号模数转换电路用于将对DUT即待测IC芯片进行直流测量的测量结果由模拟信号转换为数字信号。关于PMU通道中的PMU芯片电路、输出放大电路、电流反馈网络和电流反馈网络之间的连接关系，PMU通道中的PMU芯片电路、输出放大电路、电流反馈网络和电流反馈网络，与DUT之间的连接关系，可以参见上述内容以及图2所示的连接关系，在此不进行赘述。

相应的，预设电流阈值根据PMU通道的输出电流的范围。也就是说，该预设电流阈值用于对PMU通道输出的电流进行限制，从而对DUT进行保护。

在一种可能的实现方式中，上述模数/数模转换单元用于设定输出电压或者电流，以及采集DUT的电压和/或电流(即回读测量结果)。模数/数模转换单元除了能采集或者输出直流参数。

需要说明的是，本申请实施例主要用于对待测IC芯片的性能进行验证。

示例性的，以加压测流为例，对例如某一电阻的性能(或者说出厂参数，例如电阻值)进行验证，即确定该电阻的性能是否符合出厂指标，例如该电阻的电阻值是否为预期设计的电阻值。在这一验证过程中，对该电阻两端施加测量电压，并回采通过该电阻的电流。若回采到的电流符合预设电流值，则可以确定该电阻的性能符合出厂指标。其中，该预设电流值根据上述预期设计的电阻值以及施加给电阻两端的测量电压确定。

示例性的，在上一示例中，该电阻的出厂指标为电阻值为100Ω，对该电阻施加1V的测量电压，回采到通过该电阻的电流为例如10mA，若预设电流值为10mA，则确定该电阻的电阻值符合出厂指标，达到了预期的设计效果。

示例性的，以加压测压为例，对例如某一DC/DC芯片的性能进行验证，对该DC/DC芯片输入端施加测量电压，并回采该DC/DC芯片输出端的电压，若回采到的电压值为基于该DC/DC芯片的正常输出电压范围确定的预设电压值，则可以确定该DC/DC芯片的性能符合出厂指标，达到了预期的设计效果。

也就是说，对待测IC芯片进行加压测流、加流测压、加流测流或者加压测压，是根据对该待测IC芯片的性能进行的验证的需求确定的。

为了解决现有技术中测量量程较少，造成IC测试不便的问题，本申请实施例还提供了一种测量直流参数的方法，应用于如上图1或图2所示的测量直流参数的电路中，该电路位于可与待测IC芯片连接的设备上。如图3所示，该方法包括步骤S301-步骤S302：

步骤S301、生成测量信号。

其中，测量信号包括对待测IC芯片进行测量的电压的值。

步骤S302、根据测量信号以目标量程对待测IC芯片进行测量，得到测量结果。

其中，测量结果包括该待测IC芯片的直流参数。目标量程为PMU通道的至少一个量程中的任意一个，PMU通道的数量为至少一个。

在一种可能的实现方式中，目标PMU通道为PMU通道中的至少一个。此时，该电路可控制目标PMU通道开启，并根据测量信号通过目标PMU通道，以目标量程对待测IC芯片进行测量，得到测量结果。

具体地，目标PMU通道包括第一目标PMU通道以及第二目标PMU通道，测量信号还包括电压/电流信号。此时，电路可根据测量信号，通过第一目标PMU通道向待测IC芯片传输电压/电流信号，并以目标量程对待测IC芯片进行测量，通过第二目标PMU通道获取测量结果。其中，该电压/电流信号根据测量信号确定。

关于本方法的具体实现可参见上述内容，在此不进行赘述。

通过上述过程，可在该电路可提供至少一个量程的基础上，对待测IC芯片进行测量，实现该直流参数的测量电路的多量程切换，提高利用PMU方法进行IC测试的便利性，并提高使用PMU方法进行IC测试的效率。

如图4所示，本申请实施例提供了一种测量直流参数的系统，其特征在于，该系统包括计算机设备401与上述图1或图2所示的电路402。其中，

电路用于通过PCIe连接器与计算机设备通信连接；

计算机设备用于向电路发送测量指示信息，该测量指示信息用于指示上述电路以目标量程对待测IC芯片进行测量，该测量指示信息包括目标量程，该目标量程为上述电路中的PMU通道的至少一个量程中的任意一个。

该电路用于根据从计算机设备接收到的测量指示信息生成测量信号，并根据测量信号以目标量程对待测IC芯片进行测量，得到测量结果，其中，该测量信号包括对待测IC芯片进行测量的电压的值。

在一种可能的实现方式中，计算机设备可用于指示电路对待测IC芯片进行加压测流，加流测压、加压测压、加流测流等测量过程以及PMU通道切换，该计算机设备上安装有用于实现这一功能的软件。

需要说明的是，上述计算机设备也可以被替换为可指示电路对待测IC芯片进行加压测流，加流测压、加压测压、加流测流等测量过程以及PMU通道切换的其他设备。

如图5所示，本申请实施例提供了一种测量直流参数的装置，该装置包括生成模块501和测量模块502。

其中，生成模块501，用于生成测量信号。

测量模块502，用于根据测量信号以目标量程对待测IC芯片进行测量，得到测量结果。

如图6所示，本申请实施例提供了一种电子设备，包括处理器601、通信接口602、存储器603和通信总线604，其中，处理器601，通信接口602，存储器603通过通信总线604完成相互间的通信，

存储器603，用于存放计算机程序；

在本申请一个实施例中，处理器601，用于执行存储器603上所存放的程序时，实现前述任意一个方法实施例提供的测量直流参数的方法的步骤。

本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如前述任意一个方法实施例提供的测量直流参数的方法的步骤。

需要说明的是，在本文中，诸如“第一”和“第二”等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

以上所述仅是本发明的具体实施方式，使本领域技术人员能够理解或实现本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所申请的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (10)

1.一种测量直流参数的电路，其特征在于，所述电路包括主控单元、通道控制单元以及模数/数模转换单元；所述通道控制单元包括PMU通道，所述PMU通道的数量为至少一个；所述PMU通道包括PMU芯片电路以及输出放大电路，所述输出放大电路与所述PMU芯片电路连接，所述输出放大电路用于放大所述PMU芯片电路的输出电压，以增加所述PMU通道的量程；

所述主控单元与所述模数/数模转换单元连接，所述主控单元与所述通道控制单元连接，所述模数/数模转换单元与所述通道控制单元连接，所述通道控制单元与待测IC芯片连接；

所述主控单元用于通过所述模数/数模转换单元向所述通道控制单元传输测量信号，并通过所述模数/数模转换单元获取所述通道控制单元传输的测量结果；所述测量信号包括对所述待测IC芯片进行测量的电压的值；

所述通道控制单元用于根据所述测量信号以目标量程对所述待测IC芯片进行测量，并将采集到的测量结果通过所述模数/数模转换单元传输给所述主控单元；所述测量结果包括所述待测IC芯片的直流参数；所述目标量程为所述PMU通道的至少一个量程中的任意一个；

所述模数/数模转换单元用于将所述主控单元传输的数字信号转换为模拟信号，并传输给所述通道控制单元，所述模数/数模转换单元还用于将所述通道控制单元传输的模拟信号转换为数字信号，并传输给所述主控单元。

2.根据权利要求1所述的测量直流参数的电路，其特征在于，所述主控单元与所述通道控制单元连接；

所述主控单元用于控制所述通道控制单元中的目标PMU通道开启；所述目标PMU通道为所述PMU通道中的至少一个；

所述主控单元用于通过所述模数/数模转换单元向所述目标PMU通道传输测量信号，并通过所述模数/数模转换单元获取所述目标PMU通道传输的测量结果。

3.根据权利要求2所述的测量直流参数的电路，其特征在于，所述目标PMU通道包括第一目标PMU通道与第二目标PMU通道；

所述主控单元用于通过所述模数/数模转换单元向所述第一目标PMU通道传输测量信号，并通过所述模数/数模转换单元获取所述第二目标PMU通道传输的测量结果；

所述第一目标PMU通道用于向所述待测IC芯片传输电压/电流信号，并以所述目标量程测量所述待测IC芯片在所述电压/电流信号下的直流参数；所述电压/电流信号的值根据所述测量信号确定；

所述第二目标PMU通道用于采集对所述待测IC芯片进行测量得到的测量结果。

4.根据权利要求3所述的测量直流参数的电路，其特征在于，所述第一目标PMU通道通过所述第一目标PMU通道的第一连接线和第二连接线与所述待测IC芯片的正端连接，所述第一目标PMU通道通过所述第一目标PMU通道的第三连接线和第四连接线与所述待测IC芯片的负端连接；

所述第二目标PMU通道通过所述第二目标PMU通道的第一连接线和第二连接线与所述待测IC芯片的正端连接；所述第二目标PMU通道通过所述第二目标PMU通道的第三连接线和第四连接线与所述待测IC芯片的负端连接；

所述第一目标PMU通道的第一连接线、第二连接线、第三连接线和第四连接线用于传输所述电压/电流信号；

所述第二目标PMU通道的第一连接线、第二连接线、第三连接线和第四连接线用于采集所述测量结果；

所述第一目标PMU通道用于根据所述测量信号，通过所述第一目标PMU通道的第一连接线、第二连接线、第三连接线和第四连接线将所述电压/电流信号传输给所述待测IC芯片，并以所述目标量程测量所述待测IC芯片的直流参数；所述第二目标PMU通道用于通过所述第二目标PMU通道的第一连接线、第二连接线、第三连接线与所述第四连接线采集对所述待测IC芯片进行测量的测量结果。

5.根据权利要求1-4中任一项所述的测量直流参数的电路，其特征在于，所述PMU通道还包括电压反馈网络和/或电流反馈网络；所述待测IC芯片的直流参数包括电压和/或电流；

所述电流反馈网络与所述PMU芯片电路连接，所述电流反馈网络与所述待测IC芯片串联；所述电流反馈网络用于获取对所述待测IC芯片进行测量得到的电流；

所述电压反馈网络与所述PMU芯片电路连接，所述电压反馈网络与所述PMU芯片电路并联，所述电压反馈网络用于获取对所述待测IC芯片进行测量得到的电压。

6.根据权利要求1-4中任一项所述的测量直流参数的电路，其特征在于，所述通道控制单元还包括PMU供电电源；所述PMU供电电源用于为所述PMU通道供电；

所述PMU通道为多个时，四个PMU通道共用同一PMU供电电源。

7.一种测量直流参数的方法，其特征在于，所述方法应用于上述权利要求1-6中任一项所述的测量直流参数的电路中，所述方法包括：

生成测量信号；所述测量信号包括对所述待测IC芯片进行测量的电压的值；

根据所述测量信号以目标量程对待测IC芯片进行测量，得到测量结果，所述测量结果包括所述待测IC芯片的直流参数；所述目标量程为PMU通道的至少一个量程中的任意一个，所述PMU通道的数量为至少一个。

8.根据权利要求7所述的测量直流参数的方法，其特征在于，控制所述通道控制单元中的目标PMU通道开启，所述目标PMU通道为所述PMU通道中的至少一个；所述方法还包括：

控制所述目标PMU通道开启；

所述根据所述测量信号以所述目标量程对待测IC芯片进行测量，得到测量结果，包括：

根据所述测量信号通过所述目标PMU通道，以所述目标量程对所述待测IC芯片进行测量，得到所述测量结果。

9.根据权利要求8所述的测量直流参数的方法，其特征在于，所述目标PMU通道包括第一目标PMU通道以及第二目标PMU通道；

所述根据所述测量信号通过所述目标PMU通道，以所述目标量程对所述待测IC芯片进行测量，得到所述测量结果，包括：

根据所述测量信号，通过所述第一目标PMU通道向所述待测IC芯片传输所述电压/电流信号，并以所述目标量程对所述待测IC芯片进行测量，通过所述第二目标PMU通道获取所述测量结果；所述电压/电流信号根据所述测量信号确定。

10.一种测量直流参数的系统，其特征在于，所述系统包括计算机设备与上述权利要求1-6中任意一项所述的电路；

所述电路用于通过PCIe连接器与所述计算机设备通信连接；

所述计算机设备用于向所述电路发送测量指示信息，所述测量指示信息用于指示所述电路以目标量程对待测IC芯片进行测量，所述测量指示信息包括所述目标量程；所述目标量程为所述电路中的PMU通道的至少一个量程中的任意一个；

所述电路根据从所述计算机设备接收到的所述测量指示信息生成测量信号，并根据所述测量信号以所述目标量程对所述待测IC芯片进行测量，得到测量结果；所述测量信号包括对所述待测IC芯片进行测量的电压的值。