CN212749161U - 一种集成电路直流参数测试系统 - Google Patents
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Abstract
本申请公开了一种集成电路直流参数测试系统，该系统由PCIe转接模块、信号源产生模块、继电器驱动模块和测试模块构成，其中，PCIe转接模块包括PCIe插槽，且通过PCIe插槽分别与主控单元和继电器驱动模块连接，实现与信号源产生模块和继电器驱动模块的PCIe通信。具体地，继电器驱动模块通过PCIe接口芯片与PCIe转接模块连接，实现与PCIe转接模块的PCIe通信。PCIe通信方式相较于USB等通信方式具有传输速度快的特点，可有效解决系统对于复杂控制的大量数据传输速度不高的问题。进一步的，本申请实施例提供的集成电路直流参数测试系统采用信号单元代替PMU分立器件，具有测试精度和可靠性高的优点。
Description
技术领域
本申请涉及集成电路技术领域，更具体地说，涉及一种集成电路直流参数测试系统。
背景技术
集成电路直流参数测试技术是集成电路测试环节的重要组成部分，其测试可靠性、灵活性及精度是衡量其性能的关键指标。
目前，多采用分立器件搭建PMU(Precision Measurement Unit，精密测量单元)电路的方式对集成电路直流参数进行测试，PMU电路可以实现精确的DC(Direct Current，直流)参数测量，它能驱动电流进入被测器件而去量测电压或者为被测器件加上电压而去量测产生的电流。但是这种采用分立器件搭建PMU电路的测试系统存在数据传输速度不高等问题。
实用新型内容
为解决上述技术问题，本申请提供了一种集成电路直流参数测试系统，以解决数据传输速度不高的问题。
为实现上述技术目的，本申请实施例提供了如下技术方案：
一种集成电路直流参数测试系统，包括：PCIe转接模块、信号源产生模块、继电器驱动模块和测试模块；其中，
所述信号源产生模块包括：主控单元和信号单元，所述主控单元与所述PCIe转接模块连接，所述信号单元分别与所述主控单元和所述测试模块连接，所述信号单元用于向所述测试模块提供测试信号源，所述测试信号源包括电压源和/或电流源；
所述继电器驱动模块与所述PCIe转接模块连接，且通过PCIe接口芯片与所述PCIe转接模块连接，所述继电器驱动模块用于为所述测试模块提供继电器驱动信号；
所述测试模块用于在所述测试信号源和所述继电器驱动信号的配置下，对被测器件进行测试。
可选的，所述PCIe转接模块包括至少两个PCIe插槽；
所述主控单元通过一个所述PCIe插槽与所述PCIe转接模块连接；
所述继电器驱动模块通过另一个所述PCIe插槽与所述PCIe转接模块连接。
可选的，所述信号单元包括精密测量单元芯片。
可选的，还包括：上位机；
所述上位机通过所述PCIe插槽与所述PCIe模块连接。
可选的，所述PCIe转接模块包括：PCIe转接卡和机箱；
所述PCIe转接卡包括第一连接端和第二连接端，所述第一连接端用于连接所述上位机，所述第二连接端用于连接所述机箱；
所述机箱包括至少两个所述PCIe插槽。
可选的，所述上位机中预先存储有配置参数，所述配置参数至少包括测试通道标识、测试通道模式、测试顺序和结果存储位置。
可选的，所述测试模块还用于获取所述被测器件的测试数据，并向所述主控单元传输。
可选的，所述主控单元还用于将所述测试模块传输的所述被测器件的测试数据基于PCIe向所述上位机传输。
从上述技术方案可以看出，本申请实施例提供了一种集成电路直流参数测试系统，所述集成电路直流参数测试系统由PCIe转接模块、信号源产生模块、继电器驱动模块和测试模块构成，其中，所述PCIe转接模块包括PCIe(Peripheral Component InterconnectExpress，周边设备高速连接标准)插槽，且通过PCIe插槽分别与信号源产生模块的主控单元和所述继电器驱动模块连接，实现与信号源产生模块和继电器驱动模块的PCIe通信。具体地，所述继电器驱动模块通过PCIe接口芯片与所述PCIe转接模块连接，实现与PCIe转接模块的PCIe通信。PCIe通信方式相较于USB等通信方式具有传输速度快的特点，可有效解决集成电路直流参数测试系统对于复杂控制的大量数据传输速度不高的问题。
进一步的，本申请实施例提供的集成电路直流参数测试系统采用信号单元代替PMU分立器件，具有测试精度和可靠性高的优点。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
图1为本申请的一个实施例提供的一种集成电路直流参数测试系统的结构示意图。
具体实施方式
正如背景技术中所述，现有技术中的集成电路直流参数测试系统多采用分立器件搭建，且采用USB方式进行通信，对于复杂控制的大量数据传输速度不高。且现有技术中的集成电路直流参数测试系统测试板卡体积相对较大，输出可配置的局限性较大，分立器件间的可靠性也参差不齐。
有鉴于此，本申请实施例提供了一种集成电路直流参数测试系统，所述集成电路直流参数测试系统由PCIe转接模块、信号源产生模块、继电器驱动模块和测试模块构成，其中，所述PCIe转接模块包括至少两个PCIe(Peripheral Component InterconnectExpress，周边设备高速连接标准)插槽，且其中的两个PCIe插槽分别与信号源产生模块的主控单元和所述继电器驱动模块连接，实现与信号源产生模块和继电器驱动模块的PCIe通信。具体地，所述继电器驱动模块通过PCIe接口芯片与所述PCIe转接模块连接，实现与PCIe转接模块的PCIe通信。PCIe通信方式相较于USB(Universal Serial Bus，通用串行总线)等通信方式具有传输速度快的特点，可有效解决集成电路直流参数测试系统对于复杂控制的大量数据传输速度不高的问题。
下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
本申请实施例提供了一种集成电路直流参数测试系统，如图1所示，包括：PCIe转接模块20、信号源产生模块30、继电器驱动模块40和测试模块50。其中，
所述信号源产生模块30包括：主控单元31和信号单元32。所述主控单元31通过PCIe插槽与所述PCIe转接模块20连接，所述信号单元32分别与所述主控单元31和所述测试模块50连接。所述信号单元32用于向所述测试模块50提供测试信号源，所述测试信号源包括电压源和/或电流源。
所述继电器驱动模块40通过PCIe插槽与所述PCIe转接模块20连接，具体地，通过PCIe接口芯片与所述PCIe转接模块20连接，所述继电器驱动模块40用于为所述测试模块50提供继电器驱动信号。
所述测试模块50用于在所述测试信号源和所述继电器驱动信号的配置下，对被测器件60进行测试。
所述PCIe转接模块20作为信号源产生模块30与上位机10之间的PCIe通信桥梁存在，同时也作为继电器驱动模块40与上位机10之间的PCIe通信桥梁存在，使得信号源产生模块30和继电器驱动模块40可以和上位机10之间建立PCIe通信连接，以PCIe通信方式进行通信。
所述上位机10是指具备运算和存储能力的设备，例如计算机等设备。在本申请的一些实施例中，仍然参考图1，所述集成电路直流参数测试系统还包括上位机10。所述上位机10即为集成电路直流参数测试系统的控制中心，可包括人机交互界面。对于PCIe通信，上位机10可以安装板卡PCIe驱动程序，通过测试程序控制其他模块的协同工作。
所述上位机10也通过PCIe插槽与所述PCIe模块连接，即在图1所示的实施例中，所述PCIe转接模块20需要包括至少三个PCIe插槽，这三个PCIe插槽分别与上位机10、信号源产生模块30和继电器驱动模块40连接。当然地，所述PCIe转接模块20包括的PCIe插槽数量还可以多于3个，多出的PCIe插槽可以作为其他设备或器件的冗余接口，为集成电路直流参数测试系统的其他功能扩展奠定基础。
所述PCIe转接模块20的存在使得上位机10、信号源产生模块30和继电器驱动模块40之间可以基于PCIe通信方式通信。同时所述继电器驱动模块40通过PCIe接口芯片与所述PCIe转接模块20连接，实现与PCIe转接模块20的PCIe通信。PCIe通信方式相较于USB等通信方式具有传输速度快的特点，可有效解决集成电路直流参数测试系统对于复杂控制的大量数据传输速度不高的问题。
进一步的，对于所述信号单元32而言，所述信号单元32可以包括精密测量单元(Precision Measurement Unit，PMU)芯片，使用精密测量单元芯片作为所述信号单元32，具有测试精度与可靠性高的优点。
所述集成电路直流参数测试系统的具体测量对象(即集成电路的直流参数)可以包括：输入脚漏电流、输出脚高阻抗漏电流、输出脚短路电流和输出脚电压等。
在具体测试之前，测试人员需要向上位机10中预先存储配置参数，也可以选择对整个集成电路直流参数测试系统进行校准，其中，对于集成电路直流参数测试系统的校准包括电压、电流的输出施加校准，以及电压、电流的测量校准。具体校准过程基于精密万用表获取测量值，与理论值作为校准程序输入，采用一定的算法计算出校准系数，通过添加校准系数提高系统施加与测量精度。具体是否对系统进行校准可以根据需要随时或定期进行。
所述配置参数可以是测试人员根据测试原理图确定的，所述配置参数至少包括测试通道标识、测试通道模式、测试顺序、结果存储位置以及测试程序。在一次具体的测试过程中，所述配置参数可以由测试人员通过输入、导入等方式存储于所述上位机10中。
上位机10开启测试后，主控单元31从指定位置读取测试程序，控制信号源产生模块30进行工作。继电器驱动模块40接收上位机10根据配置参数确定的上位机10控制信号，控制继电器通断实现对被测器件60不同引脚的各种V/I模式。测试结果自动存储在结果存储位置，测试完成后测试人员可以随时通过上位机10调阅测试结果。
具体地，上位机10的指令经PCIe转接模块20传递给主控单元31与继电器驱动模块40上的PCIe接口芯片。主控单元31对上位机指令进行解析，产生信号单元32的控制信号，控制信号单元的PMU通道按照指定的顺序工作于不同的V/I源(电压源/电流源)模式(如通道1输出1V电压、通道2输出100mA电流测量电压、通道3测量电流等)。继电器驱动模块40解析上位机指令，产生测试模块50上继电器的通断控制信号(即所述继电器驱动信号)。PMU(Precision Measurement Unit，精密测量单元)通道经继电器连接到不同的被测器件60的引脚，二者结合实现V/I源信号在不同时刻的不同PMU通道组合，即根据测试原理在不同时刻对不同的被测器件60的引脚进行信号施加和/或测量。
对于PCIe转接模块20，仍然参考图1，所述PCIe转接模块20包括至少两个PCIe插槽。
所述主控单元31通过一个所述PCIe插槽与所述PCIe转接模块20连接；
所述继电器驱动模块40通过另一个所述PCIe插槽与所述PCIe转接模块20连接。
所述PCIe转接模块20包括：PCIe转接卡21和机箱22。
所述PCIe转接卡21包括第一连接端和第二连接端，所述第一连接端用于连接所述上位机10，所述第二连接端用于连接所述机箱22。
所述机箱22包括至少两个所述PCIe插槽。
所述PCIe转接卡21用于实现上位机10的PCIe插槽与机箱22的连接。所述机箱22配有PCIe插槽，通过PCIe插槽与PCIe转接卡21连接，进行PCIe信号传递，也为信号源产生模块30和继电器驱动模块40提供直流电源。
所述主控单元31在测试过程中控制精密测量单元芯片(信号单元32)向测试模块50提供测试信号源，同时进行测试数据采集与存储(即将所述测试模块50传输的所述被测器件60的测试数据基于PCIe向所述上位机10传输，并存储在结果存储位置)，提供多通道高精度独立V/I源(电压源或电流源)输出，支持各种V/I源模式组合、多种V/I源范围与V/I源校准等。
所述继电器驱动模块40可以为继电器驱动板卡，主要用于在测试过程中产生继电器驱动信号。
所述测试模块50可以为测试负载板，主要用于接收继电器驱动模块40发出的继电器驱动信号，实现对被测器件60不同引脚的各种V/I模式(包括加压测流模式、加流测压模式、加压测压模式和加流测流模式)，即按照上位机10测试程序指定的被测器件60引脚模式实现施加和/或测量信号的通断。同时还用于获取所述被测器件60的测试数据，并向所述主控单元31传输。
综上所述，本申请实施例提供了一种集成电路直流参数测试系统，所述集成电路直流参数测试系统由PCIe转接模块20、信号源产生模块30、继电器驱动模块40和测试模块50构成，其中，所述PCIe转接模块20包括至少两个PCIe(Peripheral ComponentInterconnect Express，周边设备高速连接标准)插槽，且其中的两个PCIe插槽分别与信号源产生模块30的主控单元31和所述继电器驱动模块40连接，实现与信号源产生模块30和继电器驱动模块40的PCIe通信。具体地，所述继电器驱动模块40通过PCIe接口芯片与所述PCIe转接模块20连接，实现与PCIe转接模块20的PCIe通信。PCIe通信方式相较于USB等通信方式具有传输速度快的特点，可有效解决集成电路直流参数测试系统对于复杂控制的大量数据传输速度不高的问题。
进一步的，本申请实施例提供的集成电路直流参数测试系统采用信号单元代替PMU分立器件，具有测试精度和可靠性高的优点。
本说明书中各实施例中记载的特征可以相互替换或者组合，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。
对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本申请。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本申请的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本申请将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。
Claims (8)
1.一种集成电路直流参数测试系统，其特征在于，包括：PCIe转接模块、信号源产生模块、继电器驱动模块和测试模块；其中，
所述信号源产生模块包括：主控单元和信号单元，所述主控单元与所述PCIe转接模块连接，所述信号单元分别与所述主控单元和所述测试模块连接，所述信号单元用于向所述测试模块提供测试信号源，所述测试信号源包括电压源和/或电流源；
所述继电器驱动模块与所述PCIe转接模块连接，且通过PCIe接口芯片与所述PCIe转接模块连接，所述继电器驱动模块用于为所述测试模块提供继电器驱动信号；
所述测试模块用于在所述测试信号源和所述继电器驱动信号的配置下，对被测器件进行测试。
2.根据权利要求1所述的集成电路直流参数测试系统，其特征在于，所述PCIe转接模块包括至少两个PCIe插槽；
所述主控单元通过一个所述PCIe插槽与所述PCIe转接模块连接；
所述继电器驱动模块通过另一个所述PCIe插槽与所述PCIe转接模块连接。
3.根据权利要求1所述的集成电路直流参数测试系统，其特征在于，所述信号单元包括精密测量单元芯片。
4.根据权利要求1所述的集成电路直流参数测试系统，其特征在于，还包括：上位机；
所述上位机通过所述PCIe插槽与所述PCIe模块连接。
5.根据权利要求4所述的集成电路直流参数测试系统，其特征在于，所述PCIe转接模块包括：PCIe转接卡和机箱；
所述PCIe转接卡包括第一连接端和第二连接端，所述第一连接端用于连接所述上位机，所述第二连接端用于连接所述机箱；
所述机箱包括至少两个所述PCIe插槽。
6.根据权利要求4所述的集成电路直流参数测试系统，其特征在于，所述上位机中预先存储有配置参数，所述配置参数至少包括测试通道标识、测试通道模式、测试顺序和结果存储位置。
7.根据权利要求4所述的集成电路直流参数测试系统，其特征在于，所述测试模块还用于获取所述被测器件的测试数据，并向所述主控单元传输。
8.根据权利要求7所述的集成电路直流参数测试系统，其特征在于，所述主控单元还用于将所述测试模块传输的所述被测器件的测试数据基于PCIe向所述上位机传输。
Priority Applications (1)
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| CN202021905991.5U CN212749161U (zh) | 2020-09-03 | 2020-09-03 | 一种集成电路直流参数测试系统 |
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Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114252756A (zh) * | 2021-11-02 | 2022-03-29 | 航天科工防御技术研究试验中心 | 基于ate的电压调整器芯片测试装置及方法 |
| CN114325331A (zh) * | 2021-12-30 | 2022-04-12 | 北京航天测控技术有限公司 | 测量直流参数的电路、方法及系统 |
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- 2020-09-03 CN CN202021905991.5U patent/CN212749161U/zh active Active
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| CN114252756A (zh) * | 2021-11-02 | 2022-03-29 | 航天科工防御技术研究试验中心 | 基于ate的电压调整器芯片测试装置及方法 |
| CN114252756B (zh) * | 2021-11-02 | 2024-05-28 | 航天科工防御技术研究试验中心 | 基于ate的电压调整器芯片测试装置及方法 |
| CN114325331A (zh) * | 2021-12-30 | 2022-04-12 | 北京航天测控技术有限公司 | 测量直流参数的电路、方法及系统 |
| CN114325331B (zh) * | 2021-12-30 | 2024-08-23 | 北京航天测控技术有限公司 | 测量直流参数的电路、方法及系统 |
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