CN114283716A - 测试双栅极显示面板的方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种测试双栅极显示面板的方法，包含测试显示第一颜色的画面的方法，其包含：当第一组扫描线的至少一部分与第二组扫描线的一部分相同时，将显示第一颜色的画面的一个第一图框分割为多个子图框，且多个子图框包含第一子图框与第二子图框，其中在第一子图框期间，第一数据线组与第二数据线组接收对应第一颜色的像素数据；以及在第二子图框期间，第二数据线组接收对应第一颜色的像素数据。本发明的测试双栅极显示面板的方法可提升影像显示测试的效能。

Description

测试双栅极显示面板的方法

技术领域

本发明是有关于显示面板的测试，且特别是指一种测试双栅极显示面板的方法。

背景技术

随着显示科技及面板生产技术的演进，平板型显示面板现今已应用在各种类型的电子产品上。举凡智能型手机、平板电脑、膝上型电脑、或是监视器等，均具有平板型显示面板。为了近一步降低平板型显示面板的电力消耗，相关产业已提出各种解决方案，以符合节能减碳的需求，其中之一为将显示面板的像素结构设计为双栅极像素结构。在双栅极像素结构中，同一条数据线耦接相邻两列的子像素，且在同一像素行的子像素分别耦接两条相邻的栅极线，如此一来可减去半数数据线，进而达到降低显示面板电力消耗的功效，同时也可达成窄边框以及生产成本降低等效果。

另一方面，在显示面板的生产过程中，在组装电路板和芯片前，通常会先进行影像显示测试，确认显示画面的正确性，若有问题可即时对像素结构进行检测及修补。然而，在对一般具有双栅极像素结构的显示面板进行影像显示测试上，无论显示面板的扫描方式为何，例如弓字形扫描、Z字形扫描、反Z字形扫描等，每一数据线传输的像素数据信号在单一图框期间需进行许多次的高低电平切换。因晶体管的元件特性，在高低电平切换时需经过一段转换时间，故在进行此类显示面板影像显示测试上，会衍生出测试效能不佳的问题。

发明内容

本发明的目的在于提出一种测试双栅极显示面板的方法，其可在对双栅极显示面板进行影像显示测试时，降低像素数据信号在单一图框期间需进行高低电平切换的次数，进而提升测试效能。

本发明的一方面是在于提供一种测试双栅极显示面板的方法，双栅极显示面板包含第一数据线组、第二数据线组、多条扫描线和多个第一子像素，多个第一子像素的每一个用以显示第一颜色，第一数据线组和第二数据线组中的每一个数据线组包含至少一条数据线，第一数据线组和第二数据线组分别耦接多个第一子像素中的J个第一子像素和K个第一子像素，J、K均为大于或等于1的正整数，J个第一子像素和K个第一子像素分别耦接第一组扫描线和第二组扫描线，且第一组扫描线和第二组扫描线中的每一组扫描线包含多条扫描线中的至少一条，方法包含测试显示第一颜色的画面的方法，其包含：当第一组扫描线的至少一部分与第二组扫描线的一部分相同时，将显示第一颜色的画面的一个第一图框分割为多个子图框，且多个子图框包含第一子图框与第二子图框，其中在第一子图框期间，第一数据线组与第二数据线组接收对应第一颜色的像素数据；以及在第二子图框期间，第二数据线组接收对应第一颜色的像素数据。

依据本发明的一些实施例，双栅极显示面板还包含第三数据线组，第三数据线组包含至少一条数据线，第三数据线组耦接多个第一子像素中的L个第一子像素，L为大于或等于1的正整数，L个第一子像素耦接第三组扫描线，且第三组扫描线中包含多条扫描线中的至少一条，其中第三组扫描线的至少一部分与第二组扫描线的另一部分相同，且第三数据线组在第二子图框期间接收对应第一颜色的像素数据。

依据本发明的一些实施例，双栅极显示面板还包含多个第二子像素，多个第二子像素的每一个用以显示第二颜色，第一数据线组和第二数据线组还分别耦接多个第二子像素中的P个第二子像素和Q个第二子像素，P、Q均为大于或等于1的正整数，P个第二子像素和Q个第二子像素和R个第二子像素分别耦接第四组扫描线和第五组扫描线，且第四组扫描线和第五组扫描线中的每一组扫描线包含多条扫描线中的至少一条，方法还包含测试显示第二颜色的画面的方法，其包含：当第五组扫描线的至少一部分与第四组扫描线的一部分相同时，将显示第二颜色的画面的一个第二图框分割为多个子图框，且第二图框的多个子图框包含第一子图框与第二子图框，其中在第二图框的第一子图框期间，第一数据线组与第二数据线组接收对应第二颜色的像素数据；以及在第二图框的第二子图框期间，第一数据线组接收对应第二颜色的像素数据。

依据本发明的一些实施例，双栅极显示面板还包含第三数据线组，第三数据线组包含至少一条数据线，第三数据线组耦接多个第二子像素中的R个第二子像素，R为大于或等于1的正整数，R个第二子像素耦接第六组扫描线，且第六组扫描线中包含多条扫描线中的至少一条，其中第六组扫描线的至少一部分与第四组扫描线的另一部分相同，且第三数据线组在第二图框的第二子图框期间接收对应第二颜色的像素数据。

依据本发明的一些实施例，双栅极显示面板还包含多个第三子像素，多个第三子像素的每一个用以显示第三颜色，第一数据线组和第二数据线组还分别耦接多个第三子像素中的S个第三子像素和T个第三子像素，S、T均为大于或等于1的正整数，S个第三子像素和T个第三子像素分别耦接第七组扫描线和第八组扫描线，且第七组扫描线和第八组扫描线中的每一组扫描线包含多条扫描线中的至少一条，方法还包含测试显示第三颜色的画面的方法，其包含：当第七组扫描线与第八组扫描线完全不同时，将显示第三颜色的画面的一个第三图框分割为多个子图框，且第三图框的多个子图框包含第一子图框与第二子图框，其中在第三图框的第一子图框期间，第一数据线组接收对应第三颜色的像素数据；以及在第三图框的第二子图框期间，第二数据线组接收对应第三颜色的像素数据。

依据本发明的一些实施例，述双栅极显示面板还包含第三数据线组，第三数据线组包含至少一条数据线，第三数据线组耦接多个第三子像素中的V个第三子像素，V为大于或等于1的正整数，V个第三子像素耦接第九组扫描线，且第九组扫描线中包含多条扫描线中的至少一条，其中当第九组扫描线完全不同于第七组扫描线与第八组扫描线时，第三图框还包含第三子图框，且在第三图框的第三子图框期间，第三数据线组接收对应第三颜色的像素数据。

本发明的另一方面是在于一种测试双栅极显示面板的方法，双栅极显示面板包含第一数据线组、第二数据线组、多条扫描线和多个第一子像素，多个第一子像素的每一个用以显示第一颜色，第一数据线组和第二数据线组中的每一数据线组包含至少一条数据线，第一数据线组和第二数据线组分别耦接多个第一子像素中的J个第一子像素和K个第一子像素，J、K均为大于或等于1的正整数，J个第一子像素和K个第一子像素分别耦接第一组扫描线和第二组扫描线，且第一组扫描线和第二组扫描线中的每一组扫描线包含多条扫描线中的至少一条，方法包含测试显示第一颜色的画面的方法，其包含：当第一组扫描线和第二组扫描线完全不同时，将显示第一颜色的画面的一个第一图框分割为多个子图框，且多个子图框包含第一子图框和第二子图框，其中在第一子图框期间，第一数据线组接收对应第一颜色的像素数据；以及在第二子图框期间，第二数据线组接收对应第一颜色的像素数据。

依据本发明的一些实施例，双栅极显示面板还包含第三数据线组，第三数据线组包含至少一条数据线，第三数据线组耦接多个第一子像素中的L个第一子像素，L为大于或等于1的正整数，L个第一子像素耦接第三组扫描线，且第三组扫描线中包含多条扫描线中的至少一条，其中当第三组完全不同于第二组扫描线和第一组扫描线时，多个子图框还包含第三子图框，在第三子图框期间，第三数据线组接收对应第一颜色的像素数据。

依据本发明的一些实施例，双栅极显示面板具有显示区与周边区，双栅极显示面板还包含第一接触垫和第二接触垫，位于周边区中，且当测试显示第一颜色的画面时，第一数据线组和第二数据线组分别电连接第一接触垫和第二接触垫。

依据本发明的一些实施例，双栅极显示面板还包含多个晶体管，位于周边区中，其中多个晶体管的每一个的第一端耦接对应的数据线，多个晶体管的控制端彼此耦接，多个晶体管的每一个的第二端耦接第一接触垫和第二接触垫中对应的一个，且当测试显示第一颜色的画面时，多个晶体管均为导通。

本发明的有益效果至少在于，通过实施本发明的测试双栅极显示面板的方法，可在对双栅极显示面板进行影像显示测试时，降低像素数据信号在单一图框期间需进行高低电平切换的次数，进而提升测试效能。

附图说明

为了更完整了解实施例及其优点，现参照并结合附图做下列描述，其中：

图1为依据本发明实施例的显示装置的示意图；

图2为依据本发明另一实施例的显示装置的示意图；

图3为依据本发明一些实施例的双栅极显示面板像素结构的示意图；

图4为依据图3的双栅极显示面板像素结构输入列反转(column inversion)的像素数据信号后，子像素的极性分布示意图；

图5为依据本发明实施例的栅极驱动电路的结构示意图；

图6为图5的栅极驱动电路中移位寄存器的电路方块图；

图7为在扫描信号依序切换为高电位的期间，使数据线将灰阶数据写入至图3所示的像素结构中对应子像素的示意图；

图8A为测试显示面板时，显示面板预定显示颜色R的画面；

图8B为在扫描线致能的期间，经由数据线将对应颜色R的像素数据信号写入至图3所示的像素结构中的子像素PX1以显示图8A的颜色R的画面的示意图；

图8C为对图1或图2所示的像素结构进行图8A的颜色R的图像显示测试时，扫描信号和像素数据信号在一个图框的期间的时序图；

图9A为测试显示面板时，显示面板预定显示颜色G的画面；

图9B为在扫描线致能的期间，经由数据线将对应颜色G的像素数据信号写入至图3所示的像素结构中的子像素PX2以显示图9A的颜色G的画面的示意图；

图9C为对图1或图2所示的像素结构进行图9A的颜色G的图像显示测试时，扫描信号和像素数据信号在一个图框的期间的时序图；

图10A为测试显示面板时，显示面板预定显示颜色B的画面；

图10B为在扫描线致能的期间，经由数据线将对应颜色B的像素数据信号写入至图3所示的像素结构中的子像素PX3以显示图10A的颜色B的画面的示意图；

图10C为对图1或图2所示的像素结构进行图10A的颜色B的图像显示测试时，扫描信号和像素数据信号在一个图框的期间的时序图；

图11为对图3所示的像素结构进行图8A的颜色R图像显示测试时，图5的栅极驱动电路中的信号和像素数据信号在一图框期间的时序图；

图12为对图3所示的像素结构进行图9A的颜色G图像显示测试时，图5的栅极驱动电路中的信号和像素数据信号在一图框期间的时序图；

图13为对图3所示的像素结构进行图10A的颜色B图像显示测试时，图5的栅极驱动电路中的信号和像素数据信号在一图框期间的时序图；

图14为依据本发明另一些实施例的双栅极显示面板像素结构的示意图；

图15为在扫描信号依序切换为高电位的期间，使数据线将灰阶数据写入至图14所示的像素结构中对应子像素的示意图；

图16A为测试显示面板时，显示面板预定显示颜色R的画面；

图16B为在扫描线致能的期间，经由数据线将对应颜色R的像素数据信号写入至图14所示的像素结构中的子像素PX1以显示图16A的颜色R的画面的示意图；

图16C为对图14所示的像素结构进行图16A的颜色R的图像显示测试时，扫描信号和像素数据信号在一个图框的期间的时序图；

图17A为测试显示面板时，显示面板预定显示颜色G的画面；

图17B为在扫描线致能的期间，经由数据线将对应颜色G的像素数据信号写入至图14所示的像素结构中的子像素PX2以显示图17A的颜色G的画面的示意图；

图17C为对图14所示的像素结构进行图17A的颜色G的图像显示测试时，扫描信号和像素数据信号在一个图框的期间的时序图；

图18A为测试显示面板时，显示面板预定显示颜色B的画面；

图18B为在扫描线致能的期间，经由数据线将对应颜色B的像素数据信号写入至图14所示的像素结构中的子像素PX3以显示图18A的颜色B的画面的示意图；

图18C为对图14所示的像素结构进行图18A的颜色B的图像显示测试时，扫描信号和像素数据信号在一个图框的期间的时序图；

图19为对图14所示的像素结构进行图16A的颜色R图像显示测试时，图5的栅极驱动电路中的信号和像素数据信号在一图框期间的时序图；

图20为对图14所示的像素结构进行图17A颜色G图像显示测试时，图5的栅极驱动电路中的信号和像素数据信号在一图框期间的时序图；

图21为对图14所示的像素结构进行图18A颜色B图像显示测试时，图5的栅极驱动电路中的信号和像素数据信号在一图框期间的时序图。

具体实施方式

以下仔细讨论本发明的实施例。然而，可以理解的是，实施例提供许多可应用的概念，其可实施于各式各样的特定内容中。所讨论、揭示的实施例仅供说明，并非用以限定本发明的范围。

可被理解的是，虽然在本文可使用“第一”、“第二”、“第三”…等等用语来描述各种元件和/或信号，但这些用语不应限制这些元件和/或信号。这些用语仅用以区别一元件和/或信号与另一元件和/或信号。

在本文中所使用的用语仅是为了描述特定实施例，非用以限制权利要求的保护范围。除非另有限制，否则单数形式的“一”或“该”用语也可用来表示复数形式。此外，除了在附图中所绘示的方向外，这些空间相对用语意欲含括元件在使用或操作中的不同方位。结构可能以不同方式定位(旋转90度或在其他方位上)，因此可利用同样的方式来解释在此所使用的空间相对描述符号。

关于本文中所使用的“耦接”一词，可指二或多个元件相互直接实体或电性接触，或是相互间接实体或电性接触。“耦接”还可指二或多个元件相互操作或动作。

为了简化和明确说明，本文可能会在各种实施例中重复使用元件符号和/或字母，但这并不表示所讨论的各种实施例及/或配置之间有因果关系。

请参照图1，图1为依据本发明实施例的显示装置100的示意图。显示装置100包含显示面板110和栅极驱动电路120。显示面板110可以是例如扭转向列(twisted nematic；TN)型、水准切换(in-plane switching；IPS)型、边缘电场切换(fringe-field switching；FFS)型或垂直配向(vertical alignment；VA)型等各种类型的液晶显示面板，或是例如有机发光二极体(organic light-emitting diode；OLED)或微发光二极体(micro light-emitting diode；micro LED)等各种类型的发光二极体显示面板等。显示面板110具有主动区AA和周边区PA，其中主动区AA具有形成在显示面板110的基板112上的多个数据线、多个扫描线以及多个排列为阵列的像素，而周边区PA具有接触垫SBP1-SBP4、测试线SBL1-SBL4和晶体管SW(1)-SW(M)。测试线SBL1-SBL4的一端分别连接接触垫SBP1-SBP4。每一个晶体管SW(1)-SW(M)具有控制端、第一端和第二端。在本文中，晶体管的“控制端”、“第一端”和“第二端”分别是指晶体管的栅极、源极和漏极，或者分别是指晶体管的栅极、漏极和源极。晶体管SW(1)-SW(M)的控制端均耦接测试线SBL4，且通过测试线SBL4电连接接触垫SBP4。晶体管SW(1)-SW(M)的第一端分别耦接数据线DL(1)-DL(M)。晶体管SW(1)-SW(M)的第二端依序且交替耦接测试线SBL1-SBL3；晶体管SW(1)、SW(4)、SW(7)、…的第二端通过测试线SBL1电连接接触垫SBP1，晶体管SW(2)、SW(5)、SW(8)、…的第二端通过测试线SBL2电连接接触垫SBP2，晶体管SW(3)、SW(6)、SW(9)、…的第二端通过测试线SBL3电连接接触垫SBP3。因此，当晶体管SW(1)-SW(M)导通时，数据线DL(1)、DL(4)、DL(7)、…可分别通过晶体管SW(1)、SW(4)、SW(7)、…以电连接测试线SBL1和接触垫SBP1，数据线DL(2)、DL(5)、DL(8)、…可分别通过晶体管SW(2)、SW(5)、SW(8)、…以电连接测试线SBL2和接触垫SBP2，数据线DL(3)、DL(6)、DL(9)、…可分别通过晶体管SW(3)、SW(6)、SW(9)、…以电连接测试线SBL3和接触垫SBP3。在对显示面板110进行测试时，可分别通过接触垫SBP1-SBP4提供像素数据信号SBD1-SBD3和栅极控制信号CS。举例来说，当制作完成显示面板110后，为了在出货前测试显示面板110是否正常，会对显示面板110进行影像显示测试以判定显示面板110是否正常，在对显示面板110进行影像显示测试以判定显示面板110是否正常时，栅极控制信号CS切换至致能电位(例如高电位)，以导通晶体管SW(1)-SW(M)，使得数据线DL(1)-DL(M)分别且交替写入像素数据信号SBD1-SBD3，例如像素数据信号SBD1、SBD2、SBD3、SBD1、SBD2、SBD3、…分别写入数据线DL(1)、DL(2)、DL(3)、DL(4)、DL(5)、DL(6)、…，也就是像素数据信号SBD1、SBD2、SBD3分别写入数据线DL(3K-2)、DL(3K-1)、DL(3K)，其中K为大于或等于1的正整数。在本文中，数据线DL(3K-2)，例如数据线DL(1)、DL(4)、DL(7)、…可被称为数据线组DLA；数据线DL(3K-1)，例如数据线DL(2)、DL(5)、DL(8)、…可被称为数据线组DLB；数据线DL(3K)，例如数据线DL(3)、DL(6)、DL(9)、…可被称为数据线组DLC。在测试显示面板110时，因为晶体管SW(1)-SW(M)均导通，因此数据线组DLA、DLB、DLC分别电连接接触垫SBP1、SBP2、SBP3，使得像素数据信号SBD1、SBD2、SBD3可分别通过接触垫SBP1、SBP2、SBP3以分别传送至数据线组DLA、DLB、DLC。此外，当显示面板110测试正常后，在使用者使用显示面板110时，栅极控制信号CS的电位为禁能电位(例如低电位)，以关闭晶体管SW(1)-SW(M)，使得杂讯不会通过接触垫SBP1-SBP3和测试线SBL1-SBL3传输至数据线DL(1)-DL(M)而影响显示画面。需说明的是，显示面板110可还包括M个焊垫(图1未示)，设置于周边区PA中，上述M个焊垫分别电连接数据线DL(1)-DL(M)，且可用来电连接源极驱动电路(例如源极驱动芯片)，使得源极驱动电路可提供讯号至数据线DL(1)-DL(M)。举例来说，如前所述，当制作完成显示面板110后，为了在出货前测试显示面板110是否正常，会对显示面板110进行影像显示测试以判定显示面板110是否正常，其可为制作完成显示面板110后，且在将源极驱动电路电连接上述M个焊垫前，对显示面板110进行影像显示测试以判定显示面板110是否正常，但不以此为限。在其它实施例中，可在将源极驱动电路电连接上述M个焊垫后，对显示面板110进行影像显示测试以判定显示面板110是否正常。

栅极驱动电路120电性连接至显示面板110，其用以产生扫描信号SC(1)-SC(N)，且将栅极驱动信号SC(1)-SC(N)传输至显示面板110的主动区AA中的扫描线SL(1)-SL(N)。

本发明的显示面板110可为系统整合式玻璃面板(system on glass；SOG)，也就是说，在本发明中，栅极驱动电路120是制作在显示面板110中。如此一来，便可使用相同工艺来同时制作主动区AA和栅极驱动电路120中的电子元件。举例来说，栅极驱动电路120中的薄膜晶体管可与显示面板110中位于主动区AA内的薄膜晶体管使用相同工艺来同时制作。此外，位于周边区PA中的晶体管SW(1)-SW(M)可为薄膜晶体管，且可与显示面板110中位于主动区AA内的薄膜晶体管使用相同工艺来同时制作，但不以此为限。

请参照图2，图2为依据本发明另一实施例的显示装置100a的示意图。显示装置100a包含显示面板110a和栅极驱动电路120。图1与图2的差别在于，图2的显示面板100a不具有晶体管SW(1)-SW(M)、测试线SBL4和接触垫SBP4。如图2所示，数据线组DLA(例如数据线DL(1)、DL(4)、DL(7)、…)可通过测试线SBL1以电连接接触垫SBP1，数据线组DLB(例如数据线DL(2)、DL(5)、DL(8)、…)可通过测试线SBL2以电连接接触垫SBP2，数据线组DLC(例如数据线DL(3)、DL(6)、DL(9)、…)可通过测试线SBL3以电连接接触垫SBP3。在对显示面板110a进行测试时，像素数据信号SBD1-SBD3可分别通过接触垫SBP1-SBP3以分别传输至数据线组DLA、DLB、DLC。若是显示面板110a的影像显示测试为正常，则可进行工艺(例如切割工艺)，以将图2中显示面板110a的虚线围绕部分移除，使得在使用者使用显示面板110a时，杂讯不会通过接触垫SBP1-SBP3和测试线SBL1-SBL3传输至数据线DL(1)-DL(M)而影响显示画面。类似地，显示面板110a可还包括M个焊垫(图2未示)，设置于周边区PA中，上述M个焊垫分别电连接数据线DL(1)-DL(M)，且可用来电连接源极驱动电路(例如源极驱动芯片)，使得源极驱动电路提供讯号至数据线DL(1)-DL(M)。举例来说，如前所述，在出货前进行工艺(例如切割工艺)，以将图2中显示面板110a的虚线围绕部分移除，其虚线围绕部分不包括上述M个焊垫，也就是在移除接触垫SBP1-SBP3和测试线SBL1-SBL3后，上述M个焊垫仍位于显示面板110a中，以将源极驱动电路电连接上述M个焊垫，但不以此为限。

在本发明实施例中，显示面板110为双栅极(dual-gate)显示面板，其具有(2M-2)×(N/2)个子像素。图3为依据本发明一些实施例的双栅极显示面板像素结构的示意图。需说明的是，虽然图3中位于下方用来进行影像显示测试的配置(例如晶体管SW(1)-SW(M)、测试线SBL1-SBL4和接触垫SBP1-SBP4的配置)与图1相同，但本发明不以此为限。在其他实施例中，图3中位于下方用来进行影像显示测试的配置可与图2相同，也就是不具有晶体管SW(1)-SW(M)、测试线SBL4和接触垫SBP4。在图3所示的像素结构中，每一个子像素包含薄膜晶体管PT，其耦接至对应的数据线和扫描线，以在对应的扫描线的扫描信号切换至致能电位(例如高电位)时，使像素数据信号写入对应的数据线。此外，子像素PX1、PX2、PX3分别用于显示不同颜色。举例来说，子像素PX1、PX2、PX3可分别用于显示红色、绿色以及蓝色，但不以此为限。

若(M-1)为3的正倍数，则当i为2的奇数倍数(即i为2、6、10、…)且j为3的正倍数减2(即j为1、4、7、…)时，第(i/2)行第(2j-1)列子像素、第(i/2)行第(2j)列子像素、第(i/2)行第(2j+1)列子像素、第(i/2)行第(2j+2)列子像素、第(i/2)行第(2j+3)列子像素和第(i/2)行第(2j+4)列子像素分别耦接第j数据线DL(j)、第(j+1)数据线DL(j+1)、第(j+2)数据线DL(j+2)、第(j+1)数据线DL(j+1)、第(j+3)数据线DL(j+3)和第(j+2)数据线DL(j+2)，且分别耦接第(i-1)扫描线SL(i-1)、第i扫描线SL(i)、第i扫描线SL(1)、第(i-1)扫描线SL(i-1)、第i扫描线SL(i)、第(i-1)扫描线SL(i-1)。需说明的是，第(i/2)行第(2j-1)列子像素是指位于第(i/2)行子像素SPR(i/2)与第(2j-1)列子像素SPC(2j-1)交会处的子像素，其余依此类推，于此不再赘述。举例来说，当i为2且j为1时，第1行第1列子像素P11、第1行第2列子像素P12、第1行第3列子像素P13、第1行第4列子像素P14、第1行第5列子像素P15和第1行第6列子像素P16分别耦接第1数据线DL(1)、第2数据线DL(2)、第3数据线DL(3)、第2数据线DL(2)、第4数据线DL(4)和第3数据线DL(3)，且分别耦接第1扫描线SL(1)、第2扫描线SL(2)、第2扫描线SL(2)、第1扫描线SL(1)、第2扫描线SL(2)和第1扫描线SL(1)。当i为2的偶数倍数(即i为4、8、12、…)且j为3的正倍数减2(即j为1、4、7、…)时，第(i/2)行第(2j-1)列子像素、第(i/2)行第(2j)列子像素、第(i/2)行第(2j+1)列子像素、第(i/2)行第(2j+2)列子像素、第(i/2)行第(2j+3)列子像素和第(i/2)行第(2j+4)列子像素分别耦接第(j+1)数据线DL(j+1)、第j数据线DL(j)、第(j+1)数据线DL(j+1)、第(j+2)数据线DL(j+2)、第(j+2)数据线DL(j+2)和第(j+3)数据线DL(j+3)，且分别耦接第(i-1)扫描线SL(i-1)、第i扫描线SL(i)、第i扫描线SL(i)、第(i-1)扫描线SL(i-1)、第i扫描线SL(i)和第(i-1)扫描线SL(i-1)。举例来说，当i为4且j为1时，第2行第1列子像素P21、第2行第2列子像素P22、第2行第3列子像素P23、第2行第4列子像素P24、第2行第5列子像素P25和第2行第6列子像素P26分别耦接第2数据线DL(2)、第1数据线DL(1)、第2数据线DL(2)、第3数据线DL(3)、第3数据线DL(3)和第4数据线DL(4)，且分别耦接第3扫描线SL(3)、第4扫描线SL(4)、第4扫描线SL(4)、第3扫描线SL(3)、第4扫描线SL(4)和第3扫描线SL(3)。

由图3可知，图3的双栅极显示面板像素结构的配置中的子像素与对应的数据线和扫描线的连接关系是以子像素P11、P12、P13、P14、P15、P16、P21、P22、P23、P24、P25、P26与其对应的数据线和扫描线的连接为一单元往方向D1和方向D2重复配置而得到。举例来说，子像素P17、P18、P19、P1A、P1B、P1C、P27、P28、P29、P2A、P2B、P2C与数据线DL(4)、DL(5)、DL(6)、DL(7)和扫描线SL(1)、SL(2)、SL(3)、SL(4)的连接关系类似于子像素P11、P12、P13、P14、P15、P16、P21、P22、P23、P24、P25、P26与数据线DL(1)、DL(2)、DL(3)、DL(4)和扫描线SL(1)、SL(2)、SL(3)、SL(4)的连接关系；而子像素P31、P32、P33、P34、P35、P36、P41、P42、P43、P44、P45、P46与数据线DL(1)、DL(2)、DL(3)、DL(4)和扫描线SL(5)、SL(6)、SL(7)、SL(8)的连接关系类似于子像素P11、P12、P13、P14、P15、P16、P21、P22、P23、P24、P25、P26与数据线DL(1)、DL(2)、DL(3)、DL(4)和扫描线SL(1)、SL(2)、SL(3)、SL(4)的连接关系。

此外，在图3所示的像素结构中，第(i/2)行子像素SPR(i/2)位于第(i-1)扫描线SL(i-1)与第i扫描线SL(i)之间，第(2j-1)列子像素SPC(2j-1)和第(2j)列子像素SPC(2j)位于第j数据线DL(j)与第(j+1)数据线DL(j+1)之间，第(2j+1)列子像素SPC(2j+1)和第(2j+2)列子像素SPC(2j+2)位于第(j+1)数据线DL(j+1)与第(j+2)数据线DL(j+2)之间，且第(2j+3)列子像素SPC(2j+3)和第(2j+4)列子像素SPC(2j+4)位于第(j+2)数据线DL(j+2)与第(j+3)数据线DL(j+3)之间。举例来说，当i为2时，第1行子像素SPR(1)位于第1扫描线SL(1)与第2扫描线SL(2)之间；当j为1时，第1列子像素SPC(1)和第2列子像素SPC(2)位于第1数据线DL(1)与第2数据线DL(2)之间，第3列子像素SPC(3)和第4列子像素SPC(4)位于第2数据线DL(2)与第3数据线DL(3)之间，且第5列子像素SPC(5)和第6列子像素SPC(6)位于第3数据线DL(3)与第4数据线DL(4)之间。

请参照图4，图4为依据图3的双栅极显示面板像素结构输入列反转(columninversion)的像素数据信号后，子像素的极性分布示意图。如图4所示，一个源极驱动电路DD耦接并传送像素数据信号至数据线DL(1)-DL(M)。源极驱动电路DD输出列反转的像素数据信号至数据线DL(1)-DL(M)，例如在一图框中，当负极性的像素数据信号(在图4中以(-)表示)传送至奇数数据线DL(1)、DL(3)、DL(5)、…，且正极性的像素数据信号(在图4中以(+)表示)传送至偶数数据线DL(2)、DL(4)、DL(6)、…后，第1列子像素P11、P21、P31、P41的极性分别为-+-+，第2列子像素P12、P22、P32、P42的极性分别为+-+-，第3列子像素P13、P23、P33、P43的极性分别为-+-+，其余各列子像素的极性请参考图4，于此不再赘述。此外，在下一个图框中，当正极性的像素数据信号传送至奇数数据线DL(1)、DL(3)、DL(5)、…，且负极性的像素数据信号传送至偶数数据线DL(2)、DL(4)、DL(6)、…后，虽然未绘示于图中，但可依此类推第1列子像素P11、P21、P31、P41的极性分别为+-+-，第2列子像素P12、P22、P32、P44的极性分别为-+-+，第3列子像素P13、P23、P33、P43的极性分别为+-+-，于此不再赘述。在现有技术的显示面板像素结构中，当输入列反转的像素数据信号后，一列子像素中的所有子像素均为相同极性，且相邻两列子像素的极性彼此相反，例如相邻两列子像素中的其中一列子像素均为正极性，且另一列子像素均为负极性，因此容易造成直条画面，进而影响画面视效。在本发明中，当输入列反转的像素数据信号后，一列子像素中的所有子像素为正极性与负极性交互排列，且相邻两列子像素的极性彼此相反，因此形成类似点反转的画面，进而改善画面视效。因为列反转驱动方式较点反转驱动方式省电，故通过本发明的双栅极显示面板像素结构设计，可运用较省电的列反转驱动方式达成较佳的画面视效。

请参照图5，其绘示栅极驱动电路200的结构示意图。栅极驱动电路200可以是图1与图2的栅极驱动电路120的一示例。栅极驱动电路200包括时钟信号线L1-L8、第一控制信号线S、第二控制信号线R和N级移位寄存器210(1)-210(N)，其中N为大于或等于9的正整数。在一些实施例中，N为8的复数倍数。时钟信号线L1-L8用以提供时钟信号C1-C8至对应的移位寄存器210(1)-210(N)。在图5中，时钟信号线L1-L8分别提供时钟信号C1-C8至对应的移位寄存器210(1)-210(N)。此外，第一控制信号线S提供第一控制信号STV1至第1-4级移位寄存器210(1)-210(4)，第二控制信号线R提供第二控制信号STV2至第(N-3)-N级移位寄存器210(N-3)-210(N)，且第一控制信号STV1和第二控制信号STV2中的一个与另一个分别为一个图框中的起始信号和结束信号。移位寄存器210(1)-210(N)分别产生扫描信号SC(1)-SC(N)。其中，扫描信号SC(1)-SC(4)分别输入至第5-8级移位寄存器210(5)-210(8)，扫描信号SC(N-3)-SC(N)分别输入至第(N-7)-(N-4)级移位寄存器210(N-7)-210(N-4)，而其他扫描信号SC(5)-SC(N-4)的每一扫描信号输入至其上下四级的移位寄存器。例如，扫描信号SC(5)输入至移位寄存器210(1)和移位寄存器210(9)。

图6为图5的栅极驱动电路200中第i级移位寄存器210(i)的电路方块图，其中i为1至N的正整数。第i级移位寄存器210(i)包括预充电单元212、上拉单元214、第一下拉单元216和第二下拉单元218。

预充电单元212接收输入信号IN1、IN2，且依据输入信号IN1、IN2而由节点P1输出预充电信号。此外，预充电单元212还接收顺向输入信号FW及逆向输入信号BW，以使栅极驱动电路200依据顺向输入信号FW及逆向输入信号BW而以顺向或逆向的扫描顺序来逐行驱动主动区AA中的像素。

若移位寄存器210(i)为第1至4级移位寄存器电路(即i为1至4)，则输入信号IN1为第一控制信号STV1，且输入信号IN2为第(i+4)级移位寄存器210(i+4)输出的扫描信号SC(i+4)。若移位寄存器210(i)为第5至(N-4)级移位寄存器电路(即i为5至(N-4)的正整数)，则输入信号IN1为第(i-4)级移位寄存器210(i-4)输出的扫描信号SC(i-4)，且输入信号IN2为第(i+4)级移位寄存器210(i+4)输出的扫描信号SC(i+4)。若移位寄存器210(i)为第(N-3)至N级移位寄存器电路(即i为(N-3)至N)，则输入信号IN1为第(i-4)级移位寄存器210(i-4)输出的扫描信号SC(i-4)，且输入信号IN2为第二控制信号STV2。

举例来说，预充电单元212可包括第一晶体管和第二晶体管，第一晶体管的第一端和第二晶体管的第一端彼此耦接，第一晶体管的控制端和第二端分别接收输入信号IN1和顺向输入信号FW，第二晶体管的控制端和第二端分别接收输入信号IN2和逆向输入信号BW。但本发明的预充电单元212的电路不以此为限。

上拉单元214耦接预充电单元212，其接收预充电信号和时钟信号CN，且根据预充电信号和时钟信号CN由节点P2输出扫描信号SC(i)，其中时钟信号CN为时钟信号C1-C8中的一个时钟信号。上拉单元214包括晶体管T(亦可称为第三晶体管)和电容Cx。晶体管T的栅极接收预充电信号，晶体管T的漏极接收时钟信号CN，且晶体管T的源极输出扫描信号SC(i)。电容Cx的第一端耦接晶体管T的栅极，且电容Cx的第二端耦接晶体管T的源极。

第一下拉单元216耦接预充电单元212和上拉单元214，其接收预充电信号和下拉控制信号GPW1、GPW2，且根据预充电信号和下拉控制信号GPW1、GPW2来控制是否将扫描信号SC(i)下拉至参考电位VGL。在第一下拉单元216将扫描信号SC(i)下拉至参考电位VGL后，第一下拉单元216将扫描信号SC(i)维持在参考电位VGL。

举例来说，第一下拉单元216可包括第四至第八晶体管，第四晶体管的控制端、第五晶体管的控制端、第六晶体管的第一端、第七晶体管的第一端和第八晶体管的第一端彼此耦接，第四晶体管的第一端和第二端分别耦接节点P2和参考电位VGL，第五晶体管的第一端和第二端分别耦接节点P1和参考电位VGL，第六晶体管的控制端和第二端分别接收下拉控制信号GPW2和耦接参考电位VGL，第七晶体管的控制端和第二端彼此耦接且接收下拉控制信号GPW1，第八晶体管的控制端和第二端分别耦接节点P1和参考电位VGL。但本发明的第一下拉单元216的电路不以此为限。

第二下拉单元218耦接预充电单元212和上拉单元214，其接收预充电信号和下拉控制信号GPW1、GPW2，且根据预充电信号和下拉控制信号GPW1、GPW2来控制是否将扫描信号SC(i)下拉至参考电位VGL。在第二下拉单元218将扫描信号SC(i)下拉至参考电位VGL后，第二下拉单元218将扫描信号SC(i)维持在参考电位VGL。

举例来说，第二下拉单元218可包括第九至第十三晶体管，第九晶体管的控制端、第十晶体管的控制端、第十一晶体管的第一端、第十二晶体管的第一端和第十三晶体管的第一端彼此耦接，第九晶体管的第一端和第二端分别耦接节点P2和参考电位VGL，第十晶体管的第一端和第二端分别耦接节点P1和参考电位VGL，第十一晶体管的控制端和第二端彼此耦接且接收下拉控制信号GPW2，第十二晶体管的控制端和第二端分别接收下拉控制信号GPW1和耦接参考电位VGL，第十三晶体管的控制端和第二端分别耦接节点P1和参考电位VGL。但本发明的第二下拉单元218的电路不以此为限。

需说明的是，本发明的栅极驱动电路200中第i级移位寄存器210(i)的电路方块图不以上述实施例为限。举例来说，在一些实施例中，栅极驱动电路200中第i级移位寄存器210(i)的下拉单元的数量仅有一个。

请同时参考图3与图7。图7为在扫描信号SC(1)-SC(N)依序切换为致能电位(例如高电位)的期间，通过数据线将灰阶数据写入至图3所示的像素结构中对应子像素的示意图。需说明的是，图7中位于数据线DL(1)与扫描线SL(1)的交会处设置有子像素PX1，其表示数据线DL(1)与扫描线SL(1)耦接至一个子像素PX1，因此当扫描线SL(1)致能时，可将像素数据信号SBD1经由接触垫SBP1传送至数据线DL(1)，以进一步传送至上述子像素PX1的像素电极。类似地，数据线DL(2)与扫描线SL(2)耦接至一个子像素PX2，数据线DL(3)与扫描线SL(1)耦接至一个子像素PX3，其余不再赘述。此外，数据线与扫描线交会处标示为无是表示数据线与扫描线未耦接至任何子像素。举例来说，数据线DL(1)与扫描线SL(2)未耦接至任何子像素。对于k为奇数的第k行子像素而言，当扫描信号SC(2k-1)的电位为致能电位(例如高电位)时，例如扫描线SL(1)、SL(5)、SL(9)、SL(13)、…致能时，像素数据信号SBD1可经由数据线DL(1)、DL(4)、…、DL(M-3)写入至一部分的子像素PX1，像素数据信号SBD2可经由数据线DL(2)、DL(5)、…、DL(M-2)写入至另一部分的子像素PX1，且像素数据信号SBD3可经由数据线DL(3)、DL(6)、…、DL(M-1)写入至一部分的子像素PX3，而当扫描信号SC(2k)的电位为致能电位(例如高电位)时，例如扫描线SL(2)、SL(6)、SL(10)、SL(14)、…致能时，像素数据信号SBD1可经由数据线DL(4)、DL(7)、…、DL(M)写入至一部分的子像素PX2，像素数据信号SBD2可经由数据线DL(2)、DL(5)、…、DL(M-2)写入至另一部分的子像素PX2，且像素数据信号SBD3可经由数据线DL(3)、DL(6)、…、DL(M-1)写入至另一部分的子像素PX3。对于k为偶数的第k子像素行而言，当扫描信号SC(2k-1)的电位为致能电位(例如高电位)时，例如扫描线SL(3)、SL(7)、SL(11)、SL(15)、…致能时，像素数据信号SBD1可经由数据线DL(4)、DL(7)、…、DL(M)写入至一部分的子像素PX3，像素数据信号SBD2可经由数据线DL(2)、DL(5)、…、DL(M-2)写入至一部分的子像素PX1，且像素数据信号SBD3可经由数据线DL(3)、DL(6)、…、DL(M-1)写入至另一部分的子像素PX1，而当扫描信号SC(2k)的电位为致能电位(例如高电位)时，例如扫描线SL(4)、SL(8)、SL(12)、SL(16)、…致能时，像素数据信号SBD1可经由数据线DL(1)、DL(4)、…、DL(M-3)写入至一部分的子像素PX2，像素数据信号SBD2可经由数据线DL(2)、DL(5)、…、DL(M-2)写入至另一部分的子像素PX3，且像素数据信号SBD3可经由数据线DL(3)、DL(6)、…、DL(M-1)写入至另一部分的子像素PX2。

图8A为测试显示面板时，显示面板预定显示颜色R的画面，图8B为在扫描线SL(1)-SL(N)致能的期间，也就是扫描信号SC(1)-SC(N)为致能电位的期间，经由数据线将对应颜色R的像素数据写入至图3所示的像素结构中的子像素PX1以显示图8A的颜色R的画面的示意图，且图8C为对图1或图2所示的像素结构进行图8A的颜色R的图像显示测试时，扫描信号SC(1)-SC(N)和像素数据信号SBD1-SBD3在一个图框的期间的时序图。需说明的是，图8A中标示R的子像素是表示这个子像素发光而显示颜色R，而用虚线标示的子像素则表示这个子像素不发光，因此图8A为测试显示面板时，显示面板预定显示颜色R的画面；而图8B中标示为PX1(R)是表示子像素PX1用以显示颜色R。请参考图8A和图8B，当扫描线SL(1)(或SL(5)、SL(9)…)致能时，像素数据信号SBD1中对应颜色R的像素数据传送至数据线组DLA以写入至多个子像素PX1，使得这些子像素PX1显示颜色R；像素数据信号SBD2中对应颜色R的像素数据传送至数据线组DLB以写入至多个子像素PX1，使得这些子像素PX1显示颜色R。当扫描线SL(3)(或SL(7)、SL(11)…)致能时，像素数据信号SBD2中对应颜色R的像素数据传送至数据线组DLB以写入至多个子像素PX1，使得这些子像素PX1显示颜色R；像素数据信号SBD3中对应颜色R的像素数据传送至数据线组DLC以写入至多个子像素PX1，使得这些子像素PX1显示颜色R。需说明的是，图8B中位于数据线DL(1)与扫描线SL(1)的交会处所标示的PX1(R)是表示位于数据线DL(1)与扫描线SL(1)的交会处设置有子像素PX1，其接收对应颜色R的像素数据以显示颜色R，其余位置的PX1(R)类似，于此不再赘述。

就子像素PX1而言，搭配图3所示的像素结构图可知，耦接至数据线组DLA的多个子像素PX1耦接一组扫描线SL(1)、SL(5)、…、SL(N-3)，耦接至数据线组DLB的多个子像素PX1耦接另一组扫描线SL(1)、SL(3)、SL(5)、…、SL(N-3)、SL(N-1)，耦接至数据线组DLC的多个子像素PX1耦接又一组扫描线SL(3)、SL(7)、…、SL(N-1)。上述一组扫描线与上述另一组扫描线的一部分相同，且相同的扫描线为扫描线SL(1)、SL(5)、…、SL(N-3)，因此当扫描线SL(1)、SL(5)、…、SL(N-3)致能时，可在致能期间将像素数据信号SBD1中的对应颜色R的像素数据和像素数据信号SBD2中的对应颜色R的像素数据分别传送至数据线组DLA和数据线组DLB，使得耦接扫描线SL(1)、SL(5)、…、SL(N-3)的多个子像素PX1显示颜色R。上述又一组扫描线与上述另一组扫描线的另一部分相同，且相同的扫描线为扫描线SL(3)、SL(7)、…、SL(N-1)，因此当SL(3)、SL(7)、…、SL(N-1)致能时，可在致能期间将像素数据信号SBD2中对应颜色R的像素数据和像素数据信号SBD3中对应颜色R的像素数据分别传送至数据线组DLB和数据线组DLC，使得耦接扫描线SL(3)、SL(7)、…、SL(N-1)的多个子像素PX1显示颜色R。因此，如图8C所示，可将每一图框FP分割为多个子图框；在其中一个子图框SFP1期间，数据线组DLA接收对应颜色R的像素数据RD1，数据线组DLB接收对应颜色R的像素数据RD2，且扫描线SL(1)、SL(5)、…、SL(N-3)的电位依序由禁能电位(例如低电位)切换至致能电位(例如高电位)，使得耦接至扫描线SL(1)、SL(5)、…、SL(N-3)的子像素PX1发光而显示颜色R，而在另一个子图框SFP2期间，数据线组DLB接收对应颜色R的像素数据RD2，数据线组DLC接收对应颜色R的像素数据RD3，且扫描线SL(3)、SL(7)、…、SL(N-1)的电位依序切换至致能电位(例如高电位)，使得耦接至扫描线SL(3)、SL(7)、…、SL(N-1)的子像素PX1发光而显示颜色R。因为在一个图框FP的期间需扫描所有扫描线，且扫描线SL(2)、SL(4)、…、SL(N-2)、SL(N)在上述两个子图框SFP1、SFP2中未致能，因此一个图框FP可还包含另外两个子图框SFP3、SFP4，且扫描线SL(2)、SL(6)、…、SL(N-2)以及扫描线SL(4)、SL(8)、…、SL(N)分别在上述另外两个子图框SFP3、SFP4中依序致能。此外，在本实施例中，扫描线SL(2)、SL(4)、…、SL(N-2)、SL(N)未耦接子像素PX1，因此在上述另外两个子图框SFP3、SFP4中，无需将对应颜色R的像素数据RD1、RD2、RD3分别传送至数据线组DLA、DLB、DLC，但不以此为限。如上所述，耦接至数据线组DLA的多个子像素PX1耦接的一组扫描线与耦接至数据线组DLB的多个子像素PX1耦接的另一组扫描线的一部分相同，而耦接至数据线组DLC的多个子像素PX1耦接的又一组扫描线与耦接至数据线组DLB的多个子像素PX1耦接的另一组扫描线的另一部分相同，但不以此为限。举例来说，当耦接至数据线组DLA的多个子像素PX1耦接的一组扫描线的至少一部分与耦接至数据线组DLB的多个子像素PX1耦接的另一组扫描线的一部分相同时，同样可将相同的扫描线在一子图框期间致能，且数据线组DLA、DLB在上述子图框期间分别接收对应颜色R的像素数据RD1、RD2；当耦接至数据线组DLC的多个子像素PX1耦接的又一组扫描线的至少一部分与耦接至数据线组DLB的多个子像素PX1耦接的另一组扫描线的另一部分相同时，同样可将相同的扫描线在另一子图框期间致能，且数据线组DLB、DLC在上述另一子图框期间分别接收对应颜色R的像素数据RD2、RD3。综上所述，在图框FP的一个子图框(例如子图框SFP1)中，像素数据信号SBD1、SBD2、SBD3的波形可分别为致能、致能、禁能；在图框FP的另一个子图框(例如子图框SFP2)中，像素数据信号SBD1、SBD2、SBD3的波形可分别为禁能、致能、致能。如图8C所示，在一个图框FP中，像素数据信号SBD1的波形可依序为致能-禁能-禁能-禁能，像素数据信号SBD2的波形可依序为致能-致能-禁能-禁能，且像素数据信号SBD3的波形可依序为禁能-致能-禁能-禁能。然而，本发明不以此为限；在本发明中，图框FP中的子图框SFP1、SFP2、SFP3、SFP4的顺序可任意调整。举例来说，图框FP中的子图框顺序可调整为依序为SFP1、SFP3、SFP2、SFP4，因此在一个图框FP中，像素数据信号SBD1的波形可依序为致能-禁能-禁能-禁能，像素数据信号SBD2的波形可依序为致能-禁能-致能-禁能，且像素数据信号SBD3的波形可依序为禁能-禁能-致能-禁能。上述致能是指具有对应颜色R的像素数据的电位，以使子像素PX1发光而显示颜色R；上述禁能是指具有不使子像素PX1发光的电位。举例来说，当显示面板是液晶显示面板时，子像素发光是指液晶可让光线(例如背光源的光线、环境光或反射光)穿过以发光而显示对应的颜色；而当显示面板为发光二极体显示面板时，子像素发光是指显示面板的发光二极体发光以使子像素显示对应的颜色，但不以此为限。此外，在图1的实施例中，晶体管SW(1)-SW(M)的控制端均耦接测试线SBL4，且通过测试线SBL4电连接接触垫SBP4，但不以此为限。在变化实施例中，晶体管SW(1)、SW(4)、SW(7)、…的控制端均耦接一条测试线，且通过上述测试线电连接一个接触垫，晶体管SW(2)、SW(5)、SW(8)、…的控制端均耦接另一条测试线，且通过上述另一条测试线电连接另一个接触垫，晶体管SW(3)、SW(6)、SW(9)、…的控制端均耦接又一条测试线，且通过上述又一条测试线电连接又一个接触垫，因此在测试显示面板110时，晶体管SW(1)-SW(M)可不同时导通。在上述变化实施例中，像素数据信号SBD1、SBD2、SBD3的波形在图框FP中可均为致能，晶体管SW(1)、SW(4)、SW(7)、…在子图框SFP1、SFP2、SFP3、SFP4中分别均为导通、关闭、关闭、关闭，晶体管SW(2)、SW(5)、SW(8)、…在子图框SFP1、SFP2、SFP3、SFP4中分别均为导通、导通、关闭、关闭，晶体管SW(3)、SW(6)、SW(9)、…在子图框SFP1、SFP2、SFP3、SFP4中分别均为关闭、导通、关闭、关闭，同样可使得数据线组DLA、DLB在子图框SFP1期间接收对应颜色R的像素数据，数据线组DLB、DLC在子图框SFP2期间接收对应颜色R的像素数据。通过上述的将一个图框分割为多个子图框的方式，可测试显示面板是否正常显示颜色R的画面。需说明的是，在图8C中的子图框SFP1期间，扫描线SL(1)、SL(5)、…、SL(N-3)的电位依序由禁能电位切换至致能电位，但本发明不限制扫描线SL(1)、SL(5)、…、SL(N-3)在子图框SFP1期间的电位切换顺序。举例来说，在其它实施例中，在子图框SFP1期间，扫描线SL(N-3)、…、SL(5)、SL(1)的电位依序由禁能电位切换至致能电位。类似地，本发明不限制在子图框SFP2、SFP3、SFP4期间的扫描线的电位切换顺序。

在现有技艺中，通常扫描线SL(1)、SL(2)、SL(3)…、SL(N)在一个图框中是依序致能，因此像素数据信号SBD1、SBD2、SBD3在一个图框中期间需进行许多次的高低电位切换。举例来说，请同时参考图8B，若是扫描线SL(1)、SL(2)、SL(3)…、SL(N)在一个图框中依序致能，则像素数据信号SBD1、SBD2、SBD3的电位在上述图框中会进行许多次的高低电位切换，因此除了耗电外，有些测试设备无法提供如此高频的信号。依据本发明的测试方法，请同时参考图8C，像素数据信号SBD1、SBD2的电位在一个图框FP中仅进行一次高低电位切换，而像素数据信号SBD3的电位在一个图框FP中仅进行两次高低电位切换因此除了省电外，也无需昂贵的测试设备。

图9A为测试显示面板时，显示面板预定显示颜色G的画面，图9B为在扫描线SL(1)-SL(N)致能的期间，经由数据线将对应颜色G的像素数据信号写入至图3所示的像素结构中的子像素PX2以显示图9A的颜色G的画面的示意图，且图9C为对图1或图2所示的像素结构进行图9A的颜色G的图像显示测试时，扫描信号SC(1)-SC(N)和像素数据信号SBD1-SBD3在一个图框的期间的时序图。需说明的是，图9A中标示为G的子像素是表示这个子像素发光而显示颜色G，而用虚线标示的子像素则表示这个子像素不发光，因此图9A为测试显示面板时，显示面板预定显示颜色G的画面；而图9B中标示为PX2(G)是表示子像素PX2用以显示颜色G。请参考图9A与图9B，当扫描线SL(2)(或SL(6)、SL(10)…)致能时，像素数据信号SBD1中对应颜色G的像素数据传送至数据线组DLA以写入至多个子像素PX2，使得这些子像素PX2显示颜色G；像素数据信号SBD2中对应颜色G的像素数据传送至数据线组DLB以写入至多个子像素PX2，使得这些子像素PX2显示颜色G。当扫描线SL(4)(或SL(8)、SL(12)…)致能时，像素数据信号SBD1中对应颜色G的像素数据传送至数据线组DLA以写入至多个子像素PX2，使得这些子像素PX2显示颜色G；像素数据信号SBD3中对应颜色G的像素数据传送至数据线组DLC以写入至多个子像素PX2，使得这些子像素PX2显示颜色G。需说明的是，图9B中位于数据线DL(2)与扫描线SL(2)的交会处所标示的PX2(G)是表示位于数据线DL(2)与扫描线SL(2)的交会处设置有子像素PX2，其接收对应颜色G的像素数据信号以显示颜色G，其余位置的PX2(G)类似，于此不再赘述。

就子像素PX2而言，搭配图3所示的像素结构图可知，耦接至数据线组DLA的多个子像素PX2耦接一组扫描线SL(2)、SL(4)、SL(6)、…、SL(N-2)、SL(N)，耦接至数据线组DLB的多个子像素PX2耦接另一组扫描线SL(2)、SL(6)、…、SL(N-2)，耦接至数据线组DLC的多个子像素PX2耦接又一组扫描线SL(4)、SL(8)、…、SL(N)。上述一组扫描线的一部分与上述另一组扫描线相同，且相同的扫描线为扫描线SL(2)、SL(6)、…、SL(N-2)，因此当扫描线SL(2)、SL(6)、…、SL(N-2)致能时，可在致能期间将像素数据信号SBD1中对应颜色G的像素数据和像素数据信号SBD2中对应颜色G的像素数据分别传送至数据线组DLA和数据线组DLB，使得耦接扫描线SL(2)、SL(6)、…、SL(N-2)的多个子像素PX2显示颜色G。上述一组扫描线的另一部分与上述又一组扫描线相同，且相同的扫描线为扫描线SL(4)、SL(8)、…、SL(N)，因此当扫描线SL(4)、SL(8)、…、SL(N)致能时，可在致能期间将像素数据信号SBD1中对应颜色G的像素数据和像素数据信号SBD3中对应颜色G的像素数据分别传送至数据线组DLA和数据线组DLC，使得耦接扫描线SL(4)、SL(8)、…、SL(N)的多个子像素PX2显示颜色G。因此，如图9C所示，可将每一图框FP分割为多个子图框；在其中一个子图框SFP3期间，数据线组DLA接收颜色G的像素数据GD1，数据线组DLB接收对应颜色G的像素数据GD2，且扫描线SL(2)、SL(6)、…、SL(N-2)的电位依序切换至致能电位(例如高电位)，使得耦接至扫描线SL(2)、SL(6)、…、SL(N-2)的多个子像素PX2发光而显示颜色G，而在另一个子图框SFP4期间，数据线组DLA接收对应颜色G的像素数据GD1，数据线组DLC接收对应颜色G的像素数据GD3，且扫描线SL(4)、SL(8)、…、SL(N)的电位依序切换至高电位，使得耦接至扫描线SL(4)、SL(8)、…、SL(N)的多个子像素PX2发光而显示颜色G。因为扫描线SL(1)、SL(3)、…、SL(N-3)、SL(N-1)在上述两个子图框SFP3、SFP4中未致能，因此一个图框FP可还包含另外两个子图框SFP1、SFP2，且扫描线SL(1)、SL(5)、…、SL(N-3)以及扫描线SL(3)、SL(7)、…、SL(N)分别在上述另外两个子图框SFP1、SFP2中依序致能。本发明不限制在子图框SFP1、SFP2、SFP3、SFP4期间的扫描线的电位切换顺序。此外，在本实施例中，扫描线SL(2)、SL(4)、…、SL(N-2)、SL(N)未耦接子像素PX2，因此在上述另外两个子图框SFP1、SFP2中，无需将对应颜色G的像素数据GD1、GD2、GD3分别传送至数据线组DLA、DLB、DLC，但不以此为限。综上所述，在图框FP的一个子图框(例如子图框SFP3)中，像素数据信号SBD1、SBD2、SBD3的波形可分别为致能、致能、禁能；在图框FP的另一个子图框(例如子图框SFP4)中，像素数据信号SBD1、SBD2、SBD3的波形可分别为致能、禁能、致能。如图9C所示，在一个图框FP中，像素数据信号SBD1的波形可依序为禁能-禁能-致能-致能，像素数据信号SBD2的波形可依序为禁能-禁能-致能-禁能，且像素数据信号SBD3的波形可依序为禁能-禁能-禁能-致能。然而，本发明不以此为限；在本发明中，图框FP中的子图框SFP1、SFP2、SFP3、SFP4的顺序可任意调整。举例来说，图框FP中的子图框顺序可调整为依序为SFP1、SFP3、SFP2、SFP4，因此在一个图框FP中，像素数据信号SBD1的波形可依序为禁能-致能-禁能-致能，像素数据信号SBD2的波形可依序为禁能-致能-禁能-禁能，且像素数据信号SBD3的波形可依序为禁能-禁能-禁能-致能。上述致能是指具有对应颜色G的像素数据的电位，以使子像素PX2发光而显示颜色G；上述禁能是指具有不使子像素PX2发光的电位。通过上述的将一个图框分割为多个子图框的方式，可测试显示面板是否正常显示颜色G的画面。

图10A为测试显示面板时，显示面板预定显示颜色B的画面，图10B为在扫描线SL(1)-SL(N)致能的期间，也就是扫描信号SC(1)-SC(N)为高电位的期间，经由数据线将对应颜色B的像素数据信号写入至图3所示的像素结构中的子像素PX3以显示图10A的颜色B的画面的示意图，且图10C为对图1或图2所示的像素结构进行图10A的颜色B的图像显示测试时，扫描信号SC(1)-SC(N)和像素数据信号SBD1-SBD3在一个图框的期间的时序图。需说明的是，图10A中标示B的子像素是表示这个子像素发光而显示颜色B，而用虚线标示的子像素则表示这个子像素不发光，因此图10A为测试显示面板时，显示面板预定显示颜色B的画面；而图10B中标示为PX3(B)是表示子像素PX3用以显示颜色B。请参考图10A与图10B，当扫描线SL(1)(或SL(5)、SL(9)…)致能时，像素数据信号SBD3中对应颜色B的像素数据传送至数据线组DLC以写入至多个子像素PX3，使得这些子像素PX3显示颜色B。当扫描线SL(2)(或SL(6)、SL(10)…)致能时，像素数据信号SBD3中对应颜色B的像素数据传送至数据线组DLC以写入至多个子像素PX3，使得这些子像素PX3显示颜色B。当扫描线SL(3)(或SL(7)、SL(11)…)致能时，像素数据信号SBD1中对应颜色B的像素数据传送至数据线组DLA以写入至多个子像素PX3，使得这些子像素PX3显示颜色B。当扫描线SL(4)(或SL(8)、SL(12)…)致能时，像素数据信号SBD2中对应颜色B的像素数据传送至数据线组DLB以写入至多个子像素PX3，使得这些子像素PX3显示颜色B。需说明的是，图10B中位于数据线DL(3)与扫描线SL(1)的交会处所标示的PX3(B)是表示位于数据线DL(3)与扫描线SL(1)的交会处设置有子像素PX3，其接收对应颜色B的像素数据信号以显示颜色B，其余位置的PX3(B)类似，于此不再赘述。

就子像素PX3而言，搭配图3所示的像素结构图可知，耦接至数据线组DLA的多个子像素PX3耦接一组扫描线SL(3)、SL(7)、…、SL(N-1)，耦接至数据线组DLB的多个子像素PX3耦接另一组扫描线SL(4)、SL(8)、…、SL(N)，耦接至数据线组DLC的多个子像素PX3耦接又一组扫描线SL(1)、SL(2)、SL(5)、SL(6)、…、SL(N-3)、SL(N-2)。上述一组扫描线、上述另一组扫描线和上述又一组扫描线彼此完全不同，因此，可将每一图框分割为三个或三个以上的子图框。举例而言，如图10C所示，在将每一图框FP分割为四个子图框SFP1、SFP2、SFP3、SFP4的示例中，在子图框SFP1期间，数据线组DLC接收对应颜色B的像素数据BD3，且扫描线SL(1)、SL(5)、…、SL(N-3)的电位依序切换至致能电位(例如高电位)，使得耦接至扫描线SL(1)、SL(5)、…、SL(N-3)的子像素PX3发光而显示颜色B；在子图框SFP2期间，数据线组DLA接收对应颜色B的像素数据BD1，且扫描线SL(3)、SL(7)、…、SL(N-1)的电位依序切换至高电位，使得耦接至扫描线SL(3)、SL(7)、…、SL(N-1)的子像素PX3发光而显示颜色B；在子图框SFP3期间，数据线组DLC接收对应颜色B的像素数据BD3，且扫描线SL(2)、SL(6)、…、SL(N-2)的电位依序切换至高电位，使得耦接至扫描线SL(2)、SL(6)、…、SL(N-2)的子像素PX3发光而显示颜色B；在子图框SFP4期间，数据线组DLB接收颜色B的像素数据BD2，且扫描线SL(4)、SL(8)、…、SL(N)的电位依序切换至高电位，使得耦接至扫描线SL(4)、SL(8)、…、SL(N)的子像素PX3发光而显示颜色B。本发明不限制在子图框SFP1、SFP2、SFP3、SFP4期间的扫描线的电位切换顺序。综上所述，在图框FP的一个子图框(例如子图框SFP1或SFP3)中，像素数据信号SBD1、SBD2、SBD3的波形可分别为禁能、禁能、致能；在图框FP的另一个子图框(例如子图框SFP2)中，像素数据信号SBD1、SBD2、SBD3的波形可分别为致能、禁能、禁能；在图框FP的又一个子图框(例如子图框SFP4)中，像素数据信号SBD1、SBD2、SBD3的波形可分别为禁能、致能、禁能。如图10C所示，在一个图框FR中，像素数据信号SBD1的波形可依序为禁能-致能-禁能-禁能，像素数据信号SBD2的波形可依序为禁能-禁能-禁能-致能，且像素数据信号SBD3的波形可依序为致能-禁能-致能-禁能。但本发明不以此为限，在变化实施例中，图框FP中的子图框SFP1、SFP2、SFP3、SFP4的顺序可任意调整。举例来说，图框FP中的子图框顺序可调整为依序为SFP1、SFP3、SFP2、SFP4，因此在一个图框FP中，像素数据信号SBD1的波形可依序为禁能-禁能-致能-禁能，像素数据信号SBD2的波形可依序为禁能-禁能-禁能-致能，且像素数据信号SBD3的波形可依序为致能-致能-禁能-禁能。上述致能是指具有对应颜色B的像素数据的电位，以使子像素PX3发光而显示颜色B；上述禁能是指具有不使子像素PX3发光的电位。通过上述的将一个图框分割为多个子图框的方式，可测试显示面板是否正常显示颜色B的画面。

在本文中，子像素PX1、PX2、PX3可以是红色子像素、绿色子像素和蓝色子像素的组合，也就是子像素PX1、PX2、PX3中的一个、另一个和剩余一个可以分别是红色子像素、绿色子像素和蓝色子像素，但不以此为限。举例而言，子像素PX1、PX2、PX3可以分别是红色子像素、绿色子像素和蓝色子像素，也就是子像素PX1显示的颜色R、子像素PX2显示的颜色G和子像素PX3显示的颜色B分别是红色、绿色和蓝色；或是子像素PX1、PX2、PX3分别是绿色子像素、蓝色子像素和红色子像素，也就是子像素PX1显示的颜色R、子像素PX2显示的颜色G和子像素PX3显示的颜色B分别是绿色、蓝色和红色。子像素PX1、PX2、PX3可以是其他组合，其可依据对应双栅极像素结构的设计对应配置。本发明不限定子像素PX1、PX2、PX3对应的颜色。在本文中，数据线组DLA、DLB、DLC中的一个、另一个和剩余一个可以分别称为第一数据线组、第二数据线组和第三数据线组。在测试双栅极显示面板时，第一数据线组电连接的接触垫、第二数据线组电连接的接触垫和第三数据线组电连接的接触垫可分别称为第一接触垫、第二接触垫和第三接触垫。此外，子像素PX1、PX2、PX3中的一个、另一个和剩余一个可以分别称为第一子像素、第二子像素和第三子像素，且第一子像素、第二子像素和第三子像素对应的颜色可分别称为第一颜色、第二颜色和第三颜色。

综上所述，本发明提供一种测试双栅极显示面板的方法，双栅极显示面板包含第一数据线组、第二数据线组、第三数据线组、多条扫描线、多个第一子像素、第一接触垫、第二接触垫和第三接触垫。第一子像素用以显示第一颜色。第一数据线组、第二数据线组和第三数据线组中的每一数据线组包含至少一条数据线。在测试双栅极显示面板时，第一数据线组、第二数据线组和第三数据线组分别电连接第一接触垫、第二接触垫和第三接触垫，使得第一像素数据信号、第二像素数据信号和第三像素数据信号可分别通过第一接触垫、第二接触垫和第三接触垫以分别传送至第一数据线组、第二数据线组和第三数据线组。举例来说，第一数据线组、第二数据线组和第三数据线组可通过导通的薄膜晶体管分别电连接第一接触垫、第二接触垫和第三接触垫，但不以此为限。第一数据线组、第二数据线组和第三数据线组分别耦接J、K、L个第一子像素，J、K、L均为大于或等于1的正整数。J个第一子像素、K个第一子像素和L个第一子像素分别耦接第一组扫描线、第二组扫描线和第三组扫描线，且第一组扫描线、第二组扫描线和第三组扫描线中的每一组扫描线包含至少一条扫描线。测试双栅极显示面板的方法包含测试显示第一颜色的画面的方法，其包含：当第一组扫描线的至少一部分与第二组扫描线的一部分相同时，将显示第一颜色的画面的一个第一图框分割为包含第一子图框与第二子图框的多个子图框，其中在第一子图框期间，第一数据线组与第二数据线组接收对应第一颜色的像素数据；以及在第二子图框期间，第二数据线组接收对应第一颜色的像素数据。当第三组扫描线的至少一部分与第二组扫描线的另一部分相同时，第三数据线组在第二子图框期间接收对应第一颜色的像素数据。第一子图框期间包含第一组扫描线的至少一部分的致能期间(也就是第二组扫描线的一部分的致能期间)，且第二子图框期间包含第三组扫描线的至少一部分的致能期间(也就是第二组扫描线的另一部分的致能期间)。

双栅极显示面板还包含多个第二子像素，第二子像素用以显示第二颜色。第一数据线组、第二数据线组和第三数据线组还分别耦接P、Q、R个第二子像素，P、Q、R均为大于或等于1的正整数。P个第二子像素、Q个第二子像素和R个第二子像素分别耦接第四组扫描线、第五组扫描线和第六组扫描线，且第四组扫描线、第五组扫描线和第六组扫描线中的每一组扫描线包含至少一条扫描线。测试双栅极显示面板的方法还包含测试显示第二颜色的画面的方法，其包含：当第五组扫描线的至少一部分与第四组扫描线的一部分相同时，将显示所述第二颜色的画面的一个第二图框分割为包含第一子图框与第二子图框的多个子图框，其中在第二图框的第一子图框期间，第一数据线组与第二数据线组接收对应所述第二颜色的像素数据；以及在第二图框的第二子图框期间，第一数据线组接收对应第二颜色的像素数据。当第六组扫描线的至少一部分与第四组扫描线的另一部分相同时，第六数据线组在第二图框的第二子图框期间接收对应第二颜色的像素数据。第二图框的第一子图框期间包含第五组扫描线的至少一部分的致能期间(也就是第四组扫描线的一部分的致能期间)，且第二图框的第二子图框期间包含第六组扫描线的至少一部分的致能期间(也就是第四组扫描线的另一部分的致能期间)。

双栅极显示面板还包含多个第三子像素，第三子像素用以显示第三颜色。第一数据线组、第二数据线组和第三数据线组还分别耦接S、T、V个第三子像素，S、T、V均为大于或等于1的正整数。S个第三子像素、T个第三子像素和V个第三子像素分别耦接第七组扫描线、第八组扫描线和第九组扫描线，且第七组扫描线、第八组扫描线和第九组扫描线中的每一组扫描线包含至少一条扫描线。测试双栅极显示面板的方法还包含测试显示第三颜色的画面的方法，其包含：当第七组扫描线、第八组扫描线完全不同时，将显示第三颜色的画面的一个第三图框分割为包含第一子图框与第二子图框的多个子图框，其中在第三图框的所述第一子图框期间，第一数据线组接收对应第三颜色的像素数据；以及在第三图框的第二子图框期间，第二数据线组接收对应第三颜色的像素数据。当第七组扫描线、第八组扫描线和第九组扫描线完全不同时，第三图框的多个子图框还包含第三子图框，第九组扫描线在第三图框的第三子图框期间接收对应第三颜色的像素数据。第三图框的第一子图框期间包含第七组扫描线的至少一部分的致能期间，第三图框的第二子图框期间包含第八组扫描线的至少一部分的致能期间，第三图框的第三子图框期间包含第九组扫描线的至少一部分的致能期间。

在上述说明中，双栅极显示面板包含三个数据线组DLA、DLB、DLC和三个接触垫SBP1、SBP2、SBP3，数据线组DLA、DLB、DLC分别包含数据线DL(3K-2)、DL(3K-1)、DL(3K)，其中K为大于或等于1的正整数，且在测试双栅极显示面板时，数据线组DLA、DLB、DLC分别电连接接触垫SBP1、SBP2、SBP3，但不以此为限。在变化实施例中，双栅极显示面板可仅包含两个数据线组和两个对应的接触垫，上述两个数据线组分别包含数据线DL(2K-1)、DL(2K)，其中K为大于或等于1的正整数，且在测试双栅极显示面板时，上述两个数据线组分别电连接上述两个接触垫；或是双栅极显示面板可包含四个数据线组和四个对应的接触垫，上述四个数据线组分别包含数据线数据线DL(4K-3)、DL(4K-2)、DL(4K-1)、DL(4K)，其中K为大于或等于1的正整数，在测试双栅极显示面板时，上述四个数据线组分别电连接上述四个接触垫。在上述变化实施例中，同样可采用类似上述的方法进行双栅极显示面板的测试。举例来说，在双栅极显示面板包含至少两个数据线组的实施例中，第一数据线组和第二数据线组分别耦接多个第一子像素中的J个第一子像素和K个第一子像素，J、K均为大于或等于1的正整数，J个第一子像素和K个第一子像素分别耦接第一组扫描线和第二组扫描线，当第一组扫描线的至少一部分与第二组扫描线的一部分相同时，将显示第一颜色的画面的一个第一图框分割为多个子图框，且上述多个子图框包含第一子图框与第二子图框，其中在第一子图框期间，第一数据线组与第二数据线组接收对应第一颜色的像素数据；以及在第二子图框期间，第二数据线组接收对应第一颜色的像素数据。

图11为对图3所示的像素结构进行图8A的颜色R的图像显示测试时，图5的栅极驱动电路200中的第一控制信号STV1、时钟信号C1-C8、第二控制信号STV2、顺向输入信号FW、逆向输入信号BW、下拉控制信号GPW1、GPW2和像素数据信号SBD1-SBD3在一个图框FP的期间的时序图。每一图框FP分割为四个子图框SFP1-SFP4，且以下分别对在子图框SFP1-SFP4中的信号时序进行说明。

在以下说明中，禁能电位与致能电位分别为低电位与高电位，但本发明不以此为限。在其他实施例中，禁能电位与致能电位可分别为高电位与低电位。在子图框SFP1的期间，顺向输入信号FW、逆向输入信号BW分别维持在致能电位和禁能电位，下拉控制信号GPW1、GPW2分别维持在禁能电位和致能电位，像素数据信号SBD1、SBD2均具有致能电位，且像素数据信号SBD3具有禁能电位；在扫描信号的驱动上，首先第一控制信号STV1切换至致能电位，且接着时钟信号C1、C5依序且交替地切换至致能电位，以依序输出扫描信号SC(1)、SC(5)、…、SC(N-3)至扫描线SL(1)、SL(5)、…、SL(N-3)，使得像素数据信号SBD1中对应颜色R的像素数据RD1经由数据线组DLA写入至所有奇数子像素行中的一部分子像素PX1，且像素数据信号SBD2中对应颜色R的像素数据RD2经由数据线组DLB写入至所有奇数子像素行中的另一部分子像素PX1，最后第二控制信号STV2切换至致能电位，以结束子图框SFP1。

在子图框SFP2的期间，顺向输入信号FW、逆向输入信号BW分别维持在致能电位和禁能电位，下拉控制信号GPW1、GPW2分别维持在致能电位和禁能电位，像素数据信号SBD1具有禁能电位，且像素数据信号SBD2、SBD3具有致能电位；在扫描信号的驱动上，首先第一控制信号STV1切换至致能电位，且接着时钟信号C3、C7依序且交替地切换至致能电位，以依序输出扫描信号SC(3)、SC(7)、…、SC(N-1)至扫描线SL(3)、SL(7)、…、SL(N-1)，使得像素数据信号SBD2中对应颜色R的像素数据RD2经由数据线组DLB写入至所有偶数子像素行中的一部分子像素PX1，且像素数据信号SBD3中对应颜色R的像素数据RD3经由数据线组DLC写入至所有偶数子像素行中的另一部分子像素PX1，最后第二控制信号STV2切换至致能电位，以结束子图框SFP2。

在子图框SFP3的期间，顺向输入信号FW、逆向输入信号BW分别维持在致能电位和禁能电位，下拉控制信号GPW1、GPW2分别维持在禁能电位和致能电位，且像素数据信号SBD1-SBD3均维持在禁能电位；在扫描信号的驱动上，首先第一控制信号STV1切换至致能电位，且接着时钟信号C2、C6依序且交替地切换至致能电位，以依序输出扫描信号SC(2)、SC(6)、…、SC(N-2)至扫描线SL(2)、SL(6)、…、SL(N-2)。由于在子图框SFP3的期间，像素数据信号SBD1-SBD3的电位均为禁能电位，因此奇数子像素行中的所有子像素PX1均未写入对应颜色R的像素数据。最后，第二控制信号STV2切换至致能电位，以结束子图框SFP3。

在子图框SFP4的期间，顺向输入信号FW、逆向输入信号BW分别维持在致能电位和禁能电位，下拉控制信号GPW1、GPW2分别维持在致能电位和禁能电位，且像素数据信号SBD1-SBD3均维持在禁能电位；在扫描信号的驱动上，首先第一控制信号STV1切换至致能电位，且接着时钟信号C4、C8依序且交替地切换至致能电位，以依序输出扫描信号SC(4)、SC(8)、…、SC(N)至扫描线SL(4)、SL(8)、…、SL(N)。由于在子图框SFP3的期间，像素数据信号SBD1-SBD3的电位均为禁能电位，因此偶数子像素行中的所有子像素PX1均未写入对应颜色R的像素数据。最后，第二控制信号STV2切换至致能电位，以结束子图框SFP4。

图12为对图3所示的像素结构进行图9A的颜色G的图像显示测试时，图5的栅极驱动电路200中的第一控制信号STV1、时钟信号C1-C8、第二控制信号STV2、顺向输入信号FW、逆向输入信号BW、下拉控制信号GPW1、GPW2和像素数据信号SBD1-SBD3在一个图框FP的期间的时序图。第一控制信号STV1、时钟信号C1-C8、第二控制信号STV2、顺向输入信号FW、逆向输入信号BW和下拉控制信号GPW1、GPW2的时序分别与图11所示的对应信号时序相同，故不再重复说明。以下分别对像素数据信号SBD1-SBD3在子图框SFP1-SFP4中的时序进行说明。

在子图框SFP1的期间，像素数据信号SBD1-SBD3均具有禁能电位，也就是在子图框SFP1的期间，禁能的像素数据信号传送至所有的数据线DL(1)-DL(M)，因此在子图框SFP1的期间，奇数子像素行中的所有子像素PX2均未写入对应颜色G的像素数据。

在子图框SFP2的期间，像素数据信号SBD1-SBD3均具有禁能电位，也就是在子图框SFP2的期间，禁能的像素数据信号传送至所有的数据线DL(1)-DL(M)，因此在子图框SFP2的期间，偶数子像素行中的所有子像素PX2均未写入对应颜色G的像素数据。

在子图框SFP3的期间，像素数据信号SBD1、SBD2均具有致能电位，且像素数据信号SBD3具有禁能电位，也就是在子图框SFP3的期间，像素数据信号SBD1中对应颜色G的像素数据GD1和像素数据信号SBD2中对应颜色G的像素数据GD2分别传送至数据线组DLA以及数据线组DLB；因扫描信号SC(2)、SC(6)、…、SC(N-2)依序输出至扫描线SL(2)、SL(6)、…、SL(N-2)，使得像素数据信号SBD1中对应颜色G的像素数据GD1经由数据线组DLA写入至所有奇数子像素行中的一部分子像素PX2，且像素数据信号SBD2中对应颜色G的像素数据GD2经由数据线组DLB写入至所有奇数子像素行中的另一部分子像素PX2。

在子图框SFP4的期间，像素数据信号SBD1、SBD3均具有致能电位，且像素数据信号SBD2具有禁能电位，也就是在子图框SFP3的期间，像素数据信号SBD1中对应颜色G的像素数据GD1和像素数据信号SBD3中对应颜色G的像素数据GD3分别传送至分别传送至数据线组DLA以及数据线组DLC；因扫描信号SC(4)、SC(8)、…、SC(N)依序输出至扫描线SL(4)、SL(8)、…、SL(N)，使得像素数据信号SBD1中对应颜色G的像素数据GD1经由数据线组DLA写入至所有偶数子像素行中的一部分子像素PX2，且像素数据信号SBD3中对应颜色G的像素数据GD3经由数据线组DLC写入至所有偶数子像素行中的另一部分子像素PX2。

图13为对图3所示的像素结构进行图10A的颜色B的图像显示测试时，图5的栅极驱动电路200中的第一控制信号STV1、时钟信号C1-C8、第二控制信号STV2、顺向输入信号FW、逆向输入信号BW、下拉控制信号GPW1、GPW2和像素数据信号SBD1-SBD3在一个图框FP的期间的时序图。同样地，第一控制信号STV1、时钟信号C1-C8、第二控制信号STV2、顺向输入信号FW、逆向输入信号BW和下拉控制信号GPW1、GPW2的时序分别与图11所示的对应信号时序相同，故不再重复说明。以下分别对像素数据信号SBD1-SBD3在子图框SFP1-SFP4中的时序进行说明。

在子图框SFP1的期间，像素数据信号SBD1、SBD2均具有禁能电位，且像素数据信号SBD3具有致能电位；因扫描信号SC(1)、SC(5)、…、SC(N-3)依序输出至扫描线SL(1)、SL(5)、…、SL(N-3)，使得像素数据信号SBD3中对应颜色B的像素数据BD3经由数据线组DLC写入至所有奇数子像素行中的一部分子像素PX3。

在子图框SFP2的期间，像素数据信号SBD1具有致能电位，且像素数据信号SBD2、SBD3均具有禁能电位；因扫描信号SC(3)、SC(7)、…、SC(N-1)依序输出至扫描线SL(3)、SL(7)、…、SL(N-1)，使得像素数据信号SBD1中对应颜色B的像素数据BD1经由数据线组DLA写入至所有偶数子像素行中的一部分子像素PX3。

在子图框SFP3的期间，像素数据信号SBD1、SBD2均具有禁能电位，且像素数据信号SBD3具有致能电位；因扫描信号SC(2)、SC(6)、…、SC(N-2)依序输出至扫描线SL(2)、SL(6)、…、SL(N-2)，使得像素数据信号SBD3中对应颜色B的像素数据BD3经由数据线组DLC写入至所有奇数子像素行中的另一部分子像素PX3。

在子图框SFP4的期间，像素数据信号SBD1、SBD3均具有禁能电位，且像素数据信号SBD2具有致能电位；因扫描信号SC(4)、SC(8)、…、SC(N)依序输出至扫描线SL(4)、SL(8)、…、SL(N)，使得像素数据信号SBD2中对应颜色B的像素数据BD2经由数据线组DLB写入至所有偶数子像素行中的另一部分子像素PX3。

需说明的是，在图11、12、13的子图框SFP1、SFP2、SFP3、SFP4的期间，顺向输入信号FW、逆向输入信号BW分别维持在致能电位和禁能电位，以进行顺向扫描，但本发明不以此为限。在其它实施例中，顺向输入信号FW、逆向输入信号BW可分别维持在禁能电位和致能电位，以进行逆向扫描，例如在子图框SFP1的期间依序输出扫描信号SC(N-3)、…、SC(5)、SC(1)至扫描线SL(N-3)、…、SL(5)、SL(1)，在子图框SFP2、SFP3、SFP4的期间的逆向扫描可依此类推，于此不再赘述。此外，在本发明中的显示画面期间，下拉控制信号GPW1、GPW2中的一个信号与另一个信号可分别为致能电位和禁能电位。如图11、12、13所示，在子图框SFP1、SFP2、SFP3、SFP4的期间，下拉控制信号GPW1、GPW2分别维持在禁能电位、致能电位、禁能电位、致能电位，而下拉控制信号GPW1、GPW2分别维持在致能电位、禁能电位、致能电位、禁能电位，但本发明不以此为限。举例来说，在子图框SFP1、SFP2、SFP3、SFP4的期间，下拉控制信号GPW1均维持在禁能电位，而下拉控制信号GPW2均维持在致能电位；或是下拉控制信号GPW1均维持在致能电位，而下拉控制信号GPW2均维持在禁能电位。

图14为依据本发明另一些实施例的双栅极显示面板像素结构的示意图。在图14所示的像素结构中，第(i/2)行子像素SPR(i/2)位于第(i-1)扫描线SL(i-1)与第i扫描线SL(i-1)之间，且第(2j-1)列子像素SPC(2j-1)和第(2j)列子像素SPC(2j)位于第j数据线DL(j)与第(j+1)数据线DL(j+1)之间，其中i为大于1且小于或等于N的偶数，且j为大于或等于1且小于M的整数。若(M-1)为3的正倍数，则当i为2的奇数倍数(即i为2、6、10、…)时，第(i/2)行第(2j-1)列子像素和第(i/2)行第(2j)列子像素均耦接第(j+1)数据线DL(j+1)，且分别耦接第i扫描线SL(i)和第(i-1)扫描线SL(i-1)；当i为2的偶数倍数(即i为4、8、12、…)时，第(i/2)行第(2j-1)列子像素和第(i/2)行第(2j)列子像素均耦接第j数据线DL(j)，且分别耦接第(i-1)扫描线SL(i-1)和第i扫描线SL(i)。

需说明的是，在图14的实施例中，数据线DL(1)-DL(M)、晶体管SW(1)-SW(M)和接触垫SBP1-SBP4的配置与耦接方式类似于图1的实施例。在图14的变化实施例中，显示面板可类似于图2的实施例不具有晶体管SW(1)-SW(M)和接触垫SBP4，且数据线DL(1)-DL(M)和接触垫SBP1-SBP3的配置与耦接方式类似于图2的实施例，于此不再赘述。在下述说明中，是以图14的双栅极显示面板像素结构为例，但不以此为限，下述说明同样可应用于图14的变化实施例的双栅极显示面板像素结构。

图15为在扫描信号SC(1)-SC(N)依序切换为致能电位(例如高电位的期间)，通过数据线将灰阶数据写入至图14所示的像素结构中对应颜色子像素的示意图。对于k为奇数的第k子像素行而言，当扫描信号SC(2k-1)的电位为致能电位时，例如扫描线SL(1)、SL(5)、SL(9)、SL(13)、…致能时，像素数据信号SBD1可经由数据线DL(4)、DL(7)、…、DL(M)写入至一部分的子像素PX3，像素数据信号SBD2可经由数据线DL(2)、DL(5)、…、DL(M-2)写入至一部分的子像素PX2，且像素数据信号SBD3可经由数据线DL(3)、DL(6)、…、DL(M-1)写入至一部分的子像素PX1，而当扫描信号SC(2k)的电位为致能电位时，例如扫描线SL(2)、SL(6)、SL(10)、SL(14)、…致能时，像素数据信号SBD1可经由数据线DL(4)、DL(7)、…、DL(M)写入至另一部分的子像素PX2，像素数据信号SBD2可经由数据线DL(2)、DL(5)、…、DL(M-2)写入至另一部分的子像素PX1，且像素数据信号SBD3可经由数据线DL(3)、DL(6)、…、DL(M-1)写入至另一部分的子像素PX3。对于k为偶数的第k子像素行而言，当扫描信号SC(2k-1)的电位为致能电位时，例如扫描线SL(3)、SL(7)、SL(11)、SL(15)、…致能时，像素数据信号SBD1可经由数据线DL(1)、DL(4)、…、DL(M-3)写入至一部分的子像素PX1，像素数据信号SBD2可经由数据线DL(2)、DL(5)、…、DL(M-2)写入至一部分的子像素PX3，且像素数据信号SBD3可经由数据线DL(3)、DL(6)、…、DL(M-1)写入至另一部分的子像素PX2，而当扫描信号SC(2k)的电位为致能电位时，例如扫描线SL(4)、SL(8)、SL(12)、SL(16)、…致能时，像素数据信号SBD1可经由数据线DL(1)、DL(4)、…、DL(M-3)写入至另一部分的子像素PX2，像素数据信号SBD2可经由数据线DL(2)、DL(5)、…、DL(M-2)写入至另一部分的子像素PX1，且像素数据信号SBD3可经由数据线DL(3)、DL(6)、…、DL(M-1)写入至另一部分的子像素PX3。

图16A为测试显示面板时，显示面板预定显示颜色R的画面，图16B为在扫描线SL(1)-SL(N)致能的期间，也就是扫描信号SC(1)-SC(N)的电位为致能电位的期间，经由数据线将对应颜色R的像素数据写入至图14所示的像素结构中的子像素PX1以显示图16A的颜色R的画面的示意图，且图16C为对图14所示的像素结构进行图16A的颜色R的图像显示测试时，扫描信号SC(1)-SC(N)和像素数据信号SBD1-SBD3在一个图框的期间的时序图。请参考图16A和图16B，当扫描线SL(1)(或SL(5)、SL(9)…)致能时，像素数据信号SBD3中对应颜色R的像素数据经由数据线组DLC写入至多个子像素PX1，使得这些子像素PX1显示颜色R。当扫描线SL(2)(或SL(4)、SL(6)、SL(8)…)致能时，像素数据信号SBD2中对应颜色R的像素数据经由数据线DLB组写入至多个子像素PX1，使得这些子像素PX1显示颜色R。当扫描线SL(3)(或SL(7)、SL(11)…)致能时，像素数据信号SBD1中对应颜色R的像素数据经由数据线组DLA以写入至多个子像素PX1，使得这些子像素PX1显示颜色R。

就子像素PX1而言，搭配图14所示的像素结构图可知，耦接至数据线组DLA的多个子像素PX1耦接一组扫描线SL(3)、SL(7)、…、SL(N-1)、耦接至数据线组DLB的多个子像素PX1耦接另一组扫描线SL(2)、SL(4)、SL(6)、SL(8)、…、SL(N-2)、SL(N)，耦接至数据线组DLC的多个子像素PX1耦接又一组扫描线SL(1)、SL(5)、…、SL(N-3)。上述一组扫描线、上述另一组扫描线和上述又一组扫描线彼此完全不同，因此，如图16C所示，可将每一图框分割为三个或三个以上的子图框。举例而言，在将每一图框FP分割为四个子图框SFP1、SFP2、SFP3、SFP4的示例中，在子图框SFP1期间，数据线组DLC接收像素数据信号SBD3中对应颜色R的像素数据RD3，且扫描线SL(1)、SL(5)、…、SL(N-3)的电位依序切换至致能电位，使得耦接至扫描线SL(1)、SL(5)、…、SL(N-3)的子像素PX1发光而显示颜色R；在子图框SFP2期间，数据线组DLA接收像素数据信号SBD1中对应颜色R的像素数据RD1，且扫描线SL(3)、SL(7)、…、SL(N-1)的电位依序切换至致能电位，使得耦接至扫描线SL(3)、SL(7)、…、SL(N-1)的子像素PX1发光而显示颜色R；在子图框SFP3期间，数据线组DLB接收像素数据信号SBD2中对应颜色R的像素数据RD2，且扫描线SL(2)、SL(6)、…、SL(N-2)的电位依序切换至致能电位，使得耦接至扫描线SL(2)、SL(6)、…、SL(N-2)的子像素PX1发光而显示颜色R；在子图框SFP4期间，数据线组DLB接收像素数据信号SBD2中对应颜色R的像素数据RD2，且扫描线SL(4)、SL(8)、…、SL(N)的电位依序切换至致能电位，使得耦接至扫描线SL(4)、SL(8)、…、SL(N)的子像素PX1发光而显示颜色R。本发明不限制在子图框SFP1、SFP2、SFP3、SFP4期间的扫描线的电位切换顺序。综上所述，在一个图框FP的一个子图框(例如子图框SFP1)中，像素数据信号SBD1、SBD2、SBD3的波形可分别为禁能、禁能、致能；在一个图框FP的另一个子图框(例如子图框SFP2)中，像素数据信号SBD1、SBD2、SBD3的波形可分别为致能、禁能、禁能；在一个图框FP的又一个子图框(例如子图框SFP3或SFP4)中，像素数据信号SBD1、SBD2、SBD3的波形可分别为禁能、致能、禁能。如图16C所示，在一个图框FR中，像素数据信号SBD1的波形可依序为禁能-致能-禁能-禁能，像素数据信号SBD2的波形可依序为禁能-禁能-致能-致能，且像素数据信号SBD3的波形可依序为致能-禁能-禁能-禁能。然而，本发明不以此为限；在本发明中，图框FP中的子图框SFP1、SFP2、SFP3、SFP4的顺序可任意调整。上述致能是指具有对应颜色R的像素数据的电位，以使子像素PX1发光而显示颜色R；上述禁能是指具有不使子像素PX1发光的电位。通过上述的将一个图框分割为多个子图框的方式，可测试显示面板是否正常显示颜色R的画面。

图17A为测试显示面板时，显示面板预定显示颜色G的画面，图17B为在扫描线SL(1)-SL(N)致能的期间，也就是扫描信号SC(1)-SC(N)的电位为高电位的期间，经由数据线将对应颜色G的像素数据信号写入至图14所示的像素结构中的子像素PX2以显示图17A的颜色G的画面的示意图，且图17C为对图14所示的像素结构进行图17A的颜色G的图像显示测试时，扫描信号SC(1)-SC(N)和像素数据信号SBD1-SBD3在一个图框的期间的时序图。请参考图17A与图17B，当扫描线SL(1)(或SL(5)、SL(9)…)致能时，像素数据信号SBD2中对应颜色G的像素数据经由数据线组DLB写入至多个子像素PX2，使得这些子像素PX2显示颜色G。当扫描线SL(2)(或SL(4)、SL(6)、SL(8)…)致能时，像素数据信号SBD1中对应颜色G的像素数据经由数据线组DLA写入至多个子像素PX2，使得这些子像素PX2显示颜色G。当扫描线SL(3)(或SL(7)、SL(11)…)致能时，像素数据信号SBD3中对应颜色G的像素数据经由数据线组DLC写入至多个子像素PX2，使得这些子像素PX2显示颜色G。

就子像素PX2而言，搭配图14所示的像素结构图可知，耦接至数据线组DLA的多个子像素PX2耦接一组扫描线SL(2)、SL(4)、SL(6)、SL(8)、…、SL(N-2)、SL(N)，耦接至数据线组DLB的多个子像素PX2耦接另一组扫描线SL(1)、SL(5)、…、SL(N-3)，耦接至数据线组DLC的多个第二子像素PX2耦接又一组扫描线SL(3)、SL(7)、…、SL(N-1)。上述一组扫描线、上述另一组扫描线和上述又一组扫描线彼此完全不同，因此，如图17C所示，可将每一图框分割为三个或三个以上的子图框。举例而言，在将每一图框FP分割为四个子图框SFP1、SFP2、SFP3、SFP4的示例中，在子图框SFP1期间，数据线组DLB接收像素数据信号SBD2中对应颜色G的像素数据GD2，且扫描线SL(1)、SL(5)、…、SL(N-3)的电位依序切换至致能电位，使得耦接至扫描线SL(1)、SL(5)、…、SL(N-3)的多个子像素PX2发光而显示颜色G；在子图框SFP2期间，数据线组DLC接收像素数据信号SBD3中对应颜色G的像素数据GD3，且扫描线SL(3)、SL(7)、…、SL(N-1)的电位依序切换至致能电位，使得耦接至扫描线SL(3)、SL(7)、…、SL(N-1)的多个子像素PX2发光而显示颜色G；在子图框SFP3期间，数据线组DLA接收像素数据信号SBD1中对应颜色G的像素数据GD1，且扫描线SL(2)、SL(4)、…、SL(N-2)的电位依序切换至致能电位，使得耦接至扫描线SL(2)、SL(6)、…、SL(N-2)的多个子像素PX2发光而显示颜色G；在子图框SFP4期间，数据线组DLA接收像素数据信号SBD1中对应颜色G的像素数据GD1，且扫描线SL(4)、SL(8)、…、SL(N)的电位依序切换至致能电位，使得耦接至扫描线SL(4)、SL(8)、…、SL(N)的多个子像素PX2发光而显示颜色G。本发明不限制在子图框SFP1、SFP2、SFP3、SFP4期间的扫描线的电位切换顺序。综上所述，在一个图框FP的一个子图框(例如子图框SFP1)中，像素数据信号SBD1、SBD2、SBD3的波形可分别为禁能、致能、禁能；在一个图框FP的另一个子图框(例如子图框SFP2)中，像素数据信号SBD1、SBD2、SBD3的波形可分别为禁能、禁能、致能；在一个图框FP的又一个子图框(例如子图框SFP3或SFP4)中，像素数据信号SBD1、SBD2、SBD3的波形可分别为致能、禁能、禁能。因此在一个图框FR中，像素数据信号SBD1的波形可依序为禁能-禁能-致能-致能，像素数据信号SBD2的波形可依序为致能-禁能-禁能-禁能，且像素数据信号SBD3的波形可依序为禁能-致能-禁能-禁能。然而，本发明不以此为限；在本发明中，图框FP中的子图框SFP1、SFP2、SFP3、SFP4的顺序可任意调整。上述的致能是指具有对应颜色G的像素数据的电位，以使子像素PX2发光而显示颜色G；上述的禁能是指具有不使子像素PX2发光的电位。通过上述的将一个图框分割为多个子图框的方式，可测试显示面板的颜色G的画面是否正常。

图18A为测试显示面板时，显示面板预定显示颜色B的画面，图18B为在扫描线SL(1)-SL(N)致能的期间，也就是扫描信号SC(1)-SC(N)的电位为高电位的期间，经由数据线将对应颜色B的像素数据信号写入至图14所示的像素结构中的子像素PX3以显示图18A的颜色B的画面的示意图，且图18C为对图14所示的像素结构进行图18A的颜色B的图像显示测试时，扫描信号SC(1)-SC(N)和像素数据信号SBD1-SBD3在一个图框的期间的时序图。请参考图18A与图18B，当扫描线SL(1)(或SL(5)、SL(9)…)致能时，像素数据信号SBD1中对应颜色B的像素数据经由数据线组DLA写入至多个子像素PX3，使得这些子像素PX3显示颜色B。当扫描线SL(2)(或SL(4)、SL(6)、SL(8)…)致能时，像素数据信号SBD3中对应颜色B的像素数据经由数据线组DLC写入至多个子像素PX3，使得这些子像素PX3显示颜色B。当扫描线SL(3)(或SL(7)、SL(11)…)致能时，像素数据信号SBD2中对应颜色B的像素数据经由数据线组DLB写入至多个子像素PX3，使得这些子像素PX3显示颜色B。

就子像素PX3而言，搭配图14所示的像素结构图可知，耦接至数据线组DLA的多个子像素PX3耦接一组扫描线SL(1)、SL(5)、…、SL(N-3)，耦接至数据线组DLB的多个子像素PX3耦接另一组扫描线SL(3)、SL(7)、…、SL(N-1)，耦接至数据线组DLC的多个子像素PX3耦接又一组扫描线SL(2)、SL(4)、SL(6)、SL(8)、…、SL(N-2)、SL(N)。上述一组扫描线、上述另一组扫描线和上述又一组扫描线彼此完全不同，因此，如图18C所示，可将每一图框分割为三个或三个以上的子图框。举例而言，在将每一图框FP分割为四个子图框SFP1、SFP2、SFP3、SFP4的示例中，在子图框SFP1期间，数据线组DLA接收像素数据信号SBD1对应颜色B的像素数据BD1，且扫描线SL(1)、SL(5)、…、SL(N-3)的电位依序切换至致能电位，使得耦接至扫描线SL(1)、SL(5)、…、SL(N-3)的多个子像素PX3发光而显示颜色B；在子图框SFP2期间，数据线组DLB接收像素数据信号SBD2中对应颜色B的像素数据BD2，且扫描线SL(3)、SL(7)、…、SL(N-1)依序切换至致能电位，使得耦接至扫描线SL(3)、SL(7)、…、SL(N-1)的多个子像素PX3发光而显示颜色B；在子图框SFP3期间，数据线组DLC接收像素数据信号SBD3中对应颜色B的像素数据BD3，且扫描线SL(2)、SL(6)、…、SL(N-2)的电位依序切换至致能电位，使得耦接至扫描线SL(2)、SL(6)、…、SL(N-2)的多个子像素PX3发光而显示颜色B；在子图框SFP4期间，数据线组DLC接收像素数据信号SBD3中对应颜色B的像素数据BD3，且扫描线SL(4)、SL(8)、…、SL(N)依序切换至致能电位，使得耦接至扫描线SL(4)、SL(8)、…、SL(N)的多个子像素PX3发光而显示颜色B。本发明不限制在子图框SFP1、SFP2、SFP3、SFP4期间的扫描线的电位切换顺序。综上所述，在一个图框FP的一个子图框(例如子图框SFP1)中，像素数据信号SBD1、SBD2、SBD3的波形可分别为致能、禁能、禁能；在一个图框FP的另一个子图框(例如子图框SFP2)中，像素数据信号SBD1、SBD2、SBD3的波形可分别为禁能、致能、禁能；在一个图框FP的又一个子图框(例如子图框SFP3或SFP4)中，像素数据信号SBD1、SBD2、SBD3的波形可分别为禁能、禁能、致能。因此在一个图框FR中，像素数据信号SBD1的波形可依序为致能-禁能-禁能-禁能，像素数据信号SBD2的波形可依序为禁能-致能-禁能-禁能，且像素数据信号SBD3的波形可依序为禁能-禁能-致能-致能。然而，本发明不以此为限；在本发明中，图框FP中的子图框SFP1、SFP2、SFP3、SFP4的顺序可任意调整。上述的致能是指具有对应颜色B的像素数据的电位，以使子像素PX3发光而显示颜色B；上述的禁能是指具有不使子像素PX3发光的电位。通过上述的将一个图框分割为多个子图框的方式，可测试显示面板的颜色B的画面是否正常。

综上所述，本发明提供一种测试双栅极显示面板的方法，双栅极显示面板包含第一数据线组、第二数据线组、第三数据线组、多条扫描线、多个第一子像素、第一接触垫、第二接触垫和第三接触垫。第一子像素用以显示第一颜色。第一数据线组、第二数据线组和第三数据线组中的每一数据线组包含至少一条数据线。在测试双栅极显示面板时，第一数据线组、第二数据线组和第三数据线组分别电连接第一接触垫、第二接触垫和第三接触垫，使得第一像素数据信号、第二像素数据信号和第三像素数据信号可分别通过第一接触垫、第二接触垫和第三接触垫以分别传送至第一数据线组、第二数据线组和第三数据线组。举例来说，第一数据线组、第二数据线组和第三数据线组可通过导通的薄膜晶体管分别电连接第一接触垫、第二接触垫和第三接触垫，但不以此为限。第一数据线组、第二数据线组和第三数据线组分别耦接J、K、L个第一子像素，J、K、L均为大于或等于1的正整数。J个第一子像素、K个第一子像素和L个第一子像素分别耦接第一组扫描线、第二组扫描线和第三组扫描线，且第一组扫描线、第二组扫描线和第三组扫描线中的每一组扫描线包含至少一条扫描线。测试双栅极显示面板的方法包含测试显示第一颜色的画面的方法，其包含：当第一组扫描线和第二组扫描线完全不同时，将显示第一颜色的画面的一个第一图框分割为包含第一子图框和第二子图框的多个子图框，其中在第一子图框期间，第一数据线组接收对应第一颜色的像素数据；以及在第二子图框期间，第二数据线组接收对应第一颜色的像素数据。当第三组扫描线完全不同于第二组扫描线和第一组扫描线时，第一图框的多个子图框还包含第三子图框，在第三子图框期间，第三数据线组接收对应第一颜色的像素数据。第一子图框期间包含第一组扫描线的至少一部分的致能期间，第二子图框期间包含第二组扫描线的至少一部分的致能期间，第三子图框期间包含第三组扫描线的至少一部分的致能期间。

双栅极显示面板还包含多个第二子像素，第二子像素用以显示第二颜色。第一数据线组、第二数据线组和第三数据线组还分别耦接P、Q、R个第二子像素，P、Q、R均为大于或等于1的正整数。P个第二子像素、Q个第二子像素和R个第二子像素分别耦接第四组扫描线、第五组扫描线和第六组扫描线，且第四组扫描线、第五组扫描线和第六组扫描线中的每一组扫描线包含至少一条扫描线。测试双栅极显示面板的方法还包含测试显示第二颜色的画面的方法，其包含：当第四组扫描线和第五组扫描线完全不同时，将显示第二颜色的画面的一个第二图框分割为包含第一子图框和第二子图框的多个子图框，其中在第二图框的第一子图框期间，第一数据线组接收对应第二颜色的像素数据；以及在第二图框的第二子图框期间，第二数据线组接收对应第二颜色的像素数据。当第六组扫描线完全不同于第四组扫描线和第五组扫描线时，第二图框的多个子图框还包含第三子图框，在第二图框的第三子图框期间，第三数据线组接收对应第二颜色的像素数据。第二图框的第一子图框期间包含第四组扫描线的至少一部分的致能期间，第二图框的第二子图框期间包含第五组扫描线的至少一部分的致能期间，第二图框的第三子图框期间包含第六组扫描线的至少一部分的致能期间。

双栅极显示面板还包含多个第三子像素，第三子像素用以显示第三颜色。第一数据线组、第二数据线组和第三数据线组还分别耦接S、T、V个第三子像素，S、T、V均为大于或等于1的正整数。S个第三子像素、T个第三子像素和V个第三子像素分别耦接第七组扫描线、第八组扫描线和第九组扫描线，且第七组扫描线、第八组扫描线和第九组扫描线中的每一组扫描线包含至少一条扫描线。测试双栅极显示面板的方法还包含测试显示第三颜色的画面的方法，其包含：当第七组扫描线和第八组扫描线完全不同时，将显示第三颜色的画面的一个第三图框分割为包含第一子图框和第二子图框的多个子图框，其中在第三图框的第一子图框期间，第一数据线组接收对应第三颜色的像素数据；以及在第三图框的第二子图框期间，第二数据线组接收对应第三颜色的像素数据。当第九组扫描线完全不同于第七组扫描线和第八组扫描线时，第三图框的多个子图框还包含第三子图框，在第三图框的第三子图框期间，第三数据线组接收对应第三颜色的像素数据。第三图框的第一子图框期间包含第七组扫描线的至少一部分的致能期间，第三图框的第二子图框期间包含第八组扫描线的至少一部分的致能期间，第三图框的第三子图框期间包含第九组扫描线的至少一部分的致能期间。

在上述说明中，双栅极显示面板包含三个数据线组DLA、DLB、DLC和三个接触垫SBP1、SBP2、SBP3，数据线组DLA、DLB、DLC分别包含数据线DL(3K-2)、DL(3K-1)、DL(3K)，其中K为大于或等于1的正整数，且在测试双栅极显示面板时，数据线组DLA、DLB、DLC分别电连接接触垫SBP1、SBP2、SBP3，但不以此为限。在变化实施例中，双栅极显示面板可仅包含两个数据线组和两个对应的接触垫，上述两个数据线组分别包含数据线DL(2K-1)、DL(2K)，其中K为大于或等于1的正整数，且在测试双栅极显示面板时，上述两个数据线组分别电连接上述两个接触垫；或是双栅极显示面板可包含四个数据线组和四个对应的接触垫，上述四个数据线组分别包含数据线数据线DL(4K-3)、DL(4K-2)、DL(4K-1)、DL(4K)，其中K为大于或等于1的正整数，在测试双栅极显示面板时，上述四个数据线组分别电连接上述四个接触垫。在上述变化实施例中，同样可采用类似上述的方法进行双栅极显示面板的测试。举例来说，在双栅极显示面板包含至少两个数据线组的实施例中，第一数据线组和第二数据线组分别耦接多个第一子像素中的J个第一子像素和K个第一子像素，J、K均为大于或等于1的正整数，J个第一子像素和K个第一子像素分别耦接第一组扫描线和第二组扫描线，当第一组扫描线和第二组扫描线完全不同时，将显示第一颜色的画面的一个第一图框分割为多个子图框，且上述多个子图框包含第一子图框和第二子图框，其中在第一子图框期间，第一数据线组接收对应第一颜色的像素数据；以及在第二子图框期间，第二数据线组接收对应第一颜色的像素数据。

图19为对图14所示的像素结构进行图16A的颜色R的图像显示测试时，图5的栅极驱动电路200中的第一控制信号STV1、时钟信号C1-C8、第二控制信号STV2、顺向输入信号FW、逆向输入信号BW、下拉控制信号GPW1、GPW2和像素数据信号SBD1-SBD3在图框FP的期间的时序图。第一控制信号STV1、时钟信号C1-C8、第二控制信号STV2、顺向输入信号FW、逆向输入信号BW和下拉控制信号GPW1、GPW2的时序分别与图11所示的对应信号时序相同，故不再重复说明。以下分别对像素数据信号SBD1-SBD3在子图框SFP1-SFP4中的时序进行说明。

在子图框SFP1的期间，像素数据信号SBD1、SBD2均具有禁能电位，且像素数据信号SBD3具有致能电位；因扫描信号SC(1)、SC(5)、…、SC(N-3)依序输出至扫描线SL(1)、SL(5)、…、SL(N-3)，使得像素数据信号SBD3中对应颜色R的像素数据RD3经由数据线组DLC写入至所有奇数子像素行中的一部分子像素PX1。

在子图框SFP2的期间，像素数据信号SBD1具有致能电位，且像素数据信号SBD2、SBD3均具有禁能电位；因扫描信号SC(3)、SC(7)、…、SC(N-1)依序输出至扫描线SL(3)、SL(7)、…、SL(N-1)，使得像素数据信号SBD1中对应颜色R的像素数据RD1经由数据线组DLA写入至所有偶数子像素行中的一部分子像素PX1。

在子图框SFP3的期间，像素数据信号SBD1、SBD3均具有禁能电位，且像素数据信号SBD2具有致能电位；因扫描信号SC(2)、SC(6)、…、SC(N-2)依序输出至扫描线SL(2)、SL(6)、…、SL(N-2)，使得像素数据信号SBD2中对应颜色R的像素数据RD2经由数据线组DLB写入至所有奇数子像素行中的另一部分子像素PX1。

在子图框SFP4的期间，像素数据信号SBD1、SBD3均具有禁能电位，且像素数据信号SBD2具有致能电位；因扫描信号SC(4)、SC(8)、…、SC(N)依序输出至扫描线SL(4)、SL(8)、…、SL(N)，使得像素数据信号SBD2中对应颜色R的像素数据RD2经由数据线组DLB写入至所有偶数子像素行中的另一部分子像素PX1。

图20为对图14所示的像素结构进行图17A的颜色G的图像显示测试时，图3的栅极驱动电路200中的第一控制信号STV1、时钟信号C1-C8、第二控制信号STV2、顺向输入信号FW、逆向输入信号BW、下拉控制信号GPW1、GPW2和像素数据信号SBD1-SBD3在图框的期间的时序图。同样地，第一控制信号STV1、时钟信号C1-C8、第二控制信号STV2、顺向输入信号FW、逆向输入信号BW和下拉控制信号GPW1、GPW2的时序分别与图11所示的对应信号时序相同，故不再重复说明。以下分别对像素数据信号SBD1-SBD3在子图框SFP1-SFP4中的时序进行说明。

在子图框SFP1的期间，像素数据信号SBD1、SBD3均具有禁能电位，且像素数据信号SBD2具有致能电位；因扫描信号SC(1)、SC(5)、…、SC(N-3)依序输出至扫描线SL(1)、SL(5)、…、SL(N-3)，使得像素数据信号SBD2中对应颜色G的像素数据GD2经由数据线组DLB写入至所有奇数子像素行中的一部分子像素PX2。

在子图框SFP2的期间，像素数据信号SBD1、SBD2均具有禁能电位，且像素数据信号SBD3具有致能电位；因扫描信号SC(3)、SC(7)、…、SC(N-1)依序输出至扫描线SL(3)、SL(7)、…、SL(N-1)，使得像素数据信号SBD3中对应颜色G的像素数据GD3经由数据线组DLC写入至所有偶数子像素行中的一部分子像素PX2。

在子图框SFP3的期间，像素数据信号SBD1具有致能电位，且像素数据信号SBD2、SBD3均具有禁能电位；因扫描信号SC(2)、SC(6)、…、SC(N-2)依序输出至扫描线SL(2)、SL(6)、…、SL(N-2)，使得像素数据信号SBD1中对应颜色G的像素数据GD1经由数据线组DLA写入至所有奇数子像素行中的另一部分子像素PX2。

在子图框SFP4的期间，像素数据信号SBD1具有致能电位，且像素数据信号SBD2、SBD3均具有禁能电位；因扫描信号SC(4)、SC(8)、…、SC(N)依序输出至扫描线SL(4)、SL(8)、…、SL(N)，使得像素数据信号SBD1中对应颜色G的像素数据GD1经由数据线组DLA写入至所有偶数子像素行中的另一部分子像素PX2。

图21为对图14所示的像素结构进行图18A的颜色B的图像显示测试时，图3的栅极驱动电路200中的第一控制信号STV1、时钟信号C1-C8、第二控制信号STV2、顺向输入信号FW、逆向输入信号BW、下拉控制信号GPW1、GPW2和像素数据信号SBD1-SBD3在图框的期间的时序图。同样地，第一控制信号STV1、时钟信号C1-C8、第二控制信号STV2、顺向输入信号FW、逆向输入信号BW和下拉控制信号GPW1、GPW2的时序分别与图11所示的对应信号时序相同，故不再重复说明。以下分别对像素数据信号SBD1-SBD3在子图框SFP1-SFP4中的时序进行说明。

在子图框SFP1的期间，像素数据信号SBD1具有致能电位，且像素数据信号SBD2、SBD3均具有禁能电位；因扫描信号SC(1)、SC(5)、…、SC(N-3)依序输出至扫描线SL(1)、SL(5)、…、SL(N-3)，使得像素数据信号SBD1中对应颜色B的像素数据BD1经由数据线组DLA写入至所有奇数子像素行中的一部分子像素PX3。

在子图框SFP2的期间，像素数据信号SBD1、SBD3均具有禁能电位，且像素数据信号SBD2具有致能电位；因扫描信号SC(3)、SC(7)、…、SC(N-1)依序输出至扫描线SL(3)、SL(7)、…、SL(N-1)，使得像素数据信号SBD2中对应颜色B的像素数据BD2经由数据线组DLB写入至所有偶数子像素行中的一部分子像素PX3。

在子图框SFP3的期间，像素数据信号SBD1、SBD2均具有禁能电位，且像素数据信号SBD3具有致能电位；因扫描信号SC(2)、SC(6)、…、SC(N-2)依序输出至扫描线SL(2)、SL(6)、…、SL(N-2)，使得像素数据信号SBD3中对应颜色B的像素数据BD3经由数据线组DLC写入至所有奇数子像素行中的另一部分子像素PX3。

在子图框SFP4的期间，像素数据信号SBD1、SBD2均具有禁能电位，且像素数据信号SBD3具有致能电位；因扫描信号SC(4)、SC(8)、…、SC(N)依序输出至扫描线SL(4)、SL(8)、…、SL(N)，使得像素数据信号SBD3中对应颜色B的像素数据BD3经由数据线组DLC写入至所有偶数子像素行中的另一部分子像素PX3。

需说明的是，在图19、20、21的子图框SFP1、SFP2、SFP3、SFP4的期间，顺向输入信号FW、逆向输入信号BW分别维持在致能电位和禁能电位，以进行顺向扫描，但本发明不以此为限。在其它实施例中，顺向输入信号FW、逆向输入信号BW可分别维持在禁能电位和致能电位，以进行逆向扫描，例如在子图框SFP1的期间依序输出扫描信号SC(N-3)、…、SC(5)、SC(1)至扫描线SL(N-3)、…、SL(5)、SL(1)，在子图框SFP2、SFP3、SFP4的期间的逆向扫描可依此类推，于此不再赘述。此外，在本发明中的显示画面期间，下拉控制信号GPW1、GPW2中的一个信号与另一个信号可分别为致能电位和禁能电位。如图19、20、21所示，在子图框SFP1、SFP2、SFP3、SFP4的期间，下拉控制信号GPW1、GPW2分别维持在禁能电位、致能电位、禁能电位、致能电位，而下拉控制信号GPW1、GPW2分别维持在致能电位、禁能电位、致能电位、禁能电位，但本发明不以此为限。举例来说，在子图框SFP1、SFP2、SFP3、SFP4的期间，下拉控制信号GPW1均维持在禁能电位，而下拉控制信号GPW2均维持在致能电位；或是下拉控制信号GPW1均维持在致能电位，而下拉控制信号GPW2均维持在禁能电位。

由上述说明可知，本发明的测试双栅极显示面板的方法，可在对双栅极显示面板进行影像显示测试时，降低像素数据信号在单一图框期间需进行高低电平切换的次数，进而提升测试效能。

应注意的是，虽然图1和图2绘示的显示装置100、图3和图14绘示的双栅极像素结构、图5绘示的栅极驱动电路200、图7和图15绘示的对应子像素示意图和图8C、9C、10C、11-13、16C、17C、18C、19-21绘示的信号时序图仅示出部分元件、结构和波形等，但本领域技术人员可通过参照说明书的内容直接得知未示出的元件、结构和波形构等。此外，在图8C、9C、10C、11-13、16C、17C、18C、19-21中，子图框SFP1-SFP4的顺序可任意调整，而不以图8C、9C、10C、11-13、16C、17C、18C、19-21所示的顺序为限。

虽然本发明已以实施例公开如上，然其并非用以限定本发明，任何所属技术领域中的技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作些许的更动与润饰，故本发明的保护范围当视权利要求所界定的为准。

Claims (10)

1.一种测试双栅极显示面板的方法，所述双栅极显示面板包含第一数据线组、第二数据线组、多条扫描线和多个第一子像素，所述多个第一子像素的每一个用以显示第一颜色，所述第一数据线组和所述第二数据线组中的每一个数据线组包含至少一条数据线，所述第一数据线组和所述第二数据线组分别耦接所述多个第一子像素中的J个第一子像素和K个第一子像素，J、K均为大于或等于1的正整数，所述J个第一子像素和所述K个第一子像素分别耦接第一组扫描线和第二组扫描线，且所述第一组扫描线和所述第二组扫描线中的每一组扫描线包含所述多条扫描线中的至少一条，其特征在于，所述方法包含测试显示第一颜色的画面的方法，其包含：

当所述第一组扫描线的至少一部分与所述第二组扫描线的一部分相同时，将显示所述第一颜色的画面的一个第一图框分割为多个子图框，且所述多个子图框包含第一子图框与第二子图框，其中在所述第一子图框期间，所述第一数据线组与所述第二数据线组接收对应所述第一颜色的像素数据；以及在所述第二子图框期间，所述第二数据线组接收对应所述第一颜色的像素数据。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述双栅极显示面板还包含第三数据线组，所述第三数据线组包含至少一条数据线，所述第三数据线组耦接所述多个第一子像素中的L个第一子像素，L为大于或等于1的正整数，所述L个第一子像素耦接第三组扫描线，且所述第三组扫描线中包含所述多条扫描线中的至少一条，其中所述第三组扫描线的至少一部分与所述第二组扫描线的另一部分相同，且所述第三数据线组在所述第二子图框期间接收对应所述第一颜色的像素数据。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述双栅极显示面板还包含多个第二子像素，所述多个第二子像素的每一个用以显示第二颜色，所述第一数据线组和所述第二数据线组还分别耦接所述多个第二子像素中的P个第二子像素和Q个第二子像素，P、Q均为大于或等于1的正整数，所述P个第二子像素和所述Q个第二子像素和所述R个第二子像素分别耦接第四组扫描线和第五组扫描线，且所述第四组扫描线和所述第五组扫描线中的每一组扫描线包含所述多条扫描线中的至少一条，所述方法还包含测试显示第二颜色的画面的方法，其包含：

当所述第五组扫描线的至少一部分与所述第四组扫描线的一部分相同时，将显示所述第二颜色的画面的一个第二图框分割为多个子图框，且所述第二图框的所述多个子图框包含第一子图框与第二子图框，其中在所述第二图框的所述第一子图框期间，所述第一数据线组与所述第二数据线组接收对应所述第二颜色的像素数据；以及在所述第二图框的所述第二子图框期间，所述第一数据线组接收对应所述第二颜色的像素数据。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述双栅极显示面板还包含第三数据线组，所述第三数据线组包含至少一条数据线，所述第三数据线组耦接所述多个第二子像素中的R个第二子像素，R为大于或等于1的正整数，所述R个第二子像素耦接第六组扫描线，且所述第六组扫描线中包含所述多条扫描线中的至少一条，其中所述第六组扫描线的至少一部分与所述第四组扫描线的另一部分相同，且所述第三数据线组在所述第二图框的所述第二子图框期间接收对应所述第二颜色的像素数据。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述双栅极显示面板还包含多个第三子像素，所述多个第三子像素的每一个用以显示第三颜色，所述第一数据线组和所述第二数据线组还分别耦接所述多个第三子像素中的S个第三子像素和T个第三子像素，S、T均为大于或等于1的正整数，所述S个第三子像素和所述T个第三子像素分别耦接第七组扫描线和第八组扫描线，且所述第七组扫描线和所述第八组扫描线中的每一组扫描线包含所述多条扫描线中的至少一条，所述方法还包含测试显示第三颜色的画面的方法，其包含：

当所述第七组扫描线与所述第八组扫描线完全不同时，将显示所述第三颜色的画面的一个第三图框分割为多个子图框，且所述第三图框的所述多个子图框包含第一子图框与第二子图框，其中在所述第三图框的所述第一子图框期间，所述第一数据线组接收对应所述第三颜色的像素数据；以及在所述第三图框的所述第二子图框期间，所述第二数据线组接收对应所述第三颜色的像素数据。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述双栅极显示面板还包含第三数据线组，所述第三数据线组包含至少一条数据线，所述第三数据线组耦接所述多个第三子像素中的V个第三子像素，V为大于或等于1的正整数，所述V个第三子像素耦接第九组扫描线，且所述第九组扫描线中包含所述多条扫描线中的至少一条，其中当所述第九组扫描线完全不同于所述第七组扫描线与所述第八组扫描线时，所述第三图框还包含第三子图框，且在所述第三图框的所述第三子图框期间，所述第三数据线组接收对应所述第三颜色的像素数据。

7.一种测试双栅极显示面板的方法，所述双栅极显示面板包含第一数据线组、第二数据线组、多条扫描线和多个第一子像素，所述多个第一子像素的每一个用以显示第一颜色，所述第一数据线组和所述第二数据线组中的每一个数据线组包含至少一条数据线，所述第一数据线组和所述第二数据线组分别耦接所述多个第一子像素中的J个第一子像素和K个第一子像素，J、K均为大于或等于1的正整数，所述J个第一子像素和所述K个第一子像素分别耦接第一组扫描线和第二组扫描线，且所述第一组扫描线和所述第二组扫描线中的每一组扫描线包含所述多条扫描线中的至少一条，其特征在于，所述方法包含测试显示第一颜色的画面的方法，其包含：

当所述第一组扫描线和所述第二组扫描线完全不同时，将显示所述第一颜色的画面的一个第一图框分割为多个子图框，且所述多个子图框包含第一子图框和第二子图框，其中在所述第一子图框期间，所述第一数据线组接收对应所述第一颜色的像素数据；以及在所述第二子图框期间，所述第二数据线组接收对应所述第一颜色的像素数据。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述双栅极显示面板还包含第三数据线组，所述第三数据线组包含至少一条数据线，所述第三数据线组耦接所述多个第一子像素中的L个第一子像素，L为大于或等于1的正整数，所述L个第一子像素耦接第三组扫描线，且所述第三组扫描线中包含所述多条扫描线中的至少一条，其中当所述第三组完全不同于所述第二组扫描线和所述第一组扫描线时，所述多个子图框还包含第三子图框，且在所述第三子图框期间，所述第三数据线组接收对应所述第一颜色的像素数据。

9.根据权利要求1或7所述的方法，其特征在于，所述双栅极显示面板具有显示区与周边区，所述双栅极显示面板还包含第一接触垫和第二接触垫，位于所述周边区中，且当测试显示所述第一颜色的画面时，所述第一数据线组和所述第二数据线组分别电连接所述第一接触垫和所述第二接触垫。

10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述双栅极显示面板还包含多个晶体管，位于所述周边区中，其中所述多个晶体管的每一个的第一端耦接对应的所述数据线，所述多个晶体管的控制端彼此耦接，所述多个晶体管的每一个的第二端耦接所述第一接触垫和所述第二接触垫中对应的一个，且当测试显示所述第一颜色的画面时，所述多个晶体管均为导通。

Images