CN114281622A - 一种芯片测试方法和系统 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种芯片测试方法和系统，由服务器、交换机和至少一个通过交换机与服务器连接的测试机台组成，所述方法包括：经测试机台获取所述测试机台上待测芯片的产品参数；识别与所述测试机台对应的第一版本号，判断所述第一版本号是否与所述产品参数一致；如果否，则根据所述产品参数从服务器对应存储区域获取并更新产品配置文件和/或第二测试用例；并按照更新后的第二测试用例对待测芯片执行测试进程；如果是，则根据第一版本号对应的第一测试用例执行测试进程。本发明能够通过测试机台根据其当前芯片的测试需求从服务器中获取对应测试用例进行更新，进而实现多系列产品高效、准确、操作简易地共享测试机台。

Description

一种芯片测试方法和系统

技术领域

本发明涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种芯片测试方法和系统。

背景技术

目前芯片生产过程中，芯片的SLT测试(system level test，即系统级别测试)是芯片测试重要一环，SLT测试的一般测试方法是把封装好的芯片安装到测试版上，启动专用的SLT测试软件或者常规的系统软件等，记录测试结果。由于SLT测试能够有效提高芯片出厂的良率，因此SLT测试是决定芯片的是否合格的最后环节。

如附图1所示，现有的SLT测试系统基本架构普遍采用的是一台服务器和通过交换机控制多个机台进行测试，属于常用的C/S架构，每个机台都在服务器的控制下独立测试芯片，每个机台彼此之间不干涉，不需要同时开始和结束测试。

随着芯片产品需求不断的变化，芯片产品系列不断的增加，SLT测试中不同系列产品共享测试机台已成为不得不面对的问题。解决这个问题的核心是如何在产品切换时快速高效的实现对测试用例的更新。

目前主流的实现机台共享的方法如下：

测试产品更换时手动更新机台测试用例

工程师预先手动对一个测试机台进行测试用例更新，然后生产技术人员以此机台硬盘为标准测试硬盘，通过磁盘复制机器，对其他机台磁盘进行完全镜像。

但是对于方法中测试产品更换时手动更新机台测试用例具有以下三点明显缺点：

·效率低，每次转换测试产品，需要花费数小时的时间。

·安全性差，没法对每个机台程序做检验，人工操作容易出错。

·灵活性差，不能做到随时切换产品，对产品出货影响大。

因此，由于上述场景以及现有技术中所存在的问题，严重阻碍了芯片产品SLT测试的效率、可靠性和安全性能，同时也延长了芯片产品的迭代周期。因此亟需提供一种能够实现多系列产品共享测试机台的方法，以解决上述现有技术中存在的问题。

发明内容

本发明提供的一种芯片测试方法和系统，能够通过在服务器中按照芯片的产品参数将不同的多用测试用例、和/或产品配置文件、和/或测试机台的版本号布置到固定存储位置，然后由测试机台根据其当前芯片的测试需求进行对测试机台的测试用例进行更新，进而实现多系列产品高效、准确、操作简易地共享测试机台。

第一方面，本发明提供一种芯片测试方法，应用于至少一个测试机台，所述至少一个测试机台与服务器连接，所述方法包括：

经测试机台获取所述测试机台上待测芯片的产品参数；

识别与所述测试机台对应的第一版本号，判断所述第一版本号是否与所述产品参数一致；

如果否，则根据所述产品参数从服务器对应存储区域获取并更新产品配置文件和/或第二测试用例；并按照更新后的第二测试用例对待测芯片执行测试进程；

如果是，则根据第一版本号对应的第一测试用例执行测试进程。

可选地，所述如果否，则根据所述产品参数从服务器对应存储区域获取并更新产品配置文件和/或第二测试用例；并按照更新后的第二测试用例对待测芯片执行测试进程包括：

当所述第一版本号与所述产品参数不一致时，则所述测试机台自行运行用例升级程序、或者所述服务器控制所述测试机台运行用例升级程序；

所述测试机台通过所述用例升级程序从所述服务器获取与所述产品参数对应的测试升级文件，布置到所述测试机台指定的存储位置；

所述测试机台从所述服务器获取对应校验码，对测试升级文件中各文件进行校验；

所述测试机台按照升级和校验后的第二测试用例对待测芯片执行测试进程。

可选地，所述如果否，则根据所述产品参数从服务器对应存储区域获取并更新产品配置文件和/或第二测试用例；并按照更新后的第二测试用例对待测芯片执行测试进程包括：

当所述第一版本号与所述产品参数不一致时，则测试机台从服务器获取与所述产品参数对应的产品配置文件；

所述测试机台自行运行用例升级程序、或者所述服务器控制所述测试机台运行用例升级程序；

所述测试机台根据所述产品配置文件从所述服务器获取对应的测试升级文件，布置到所述测试机台指定的存储位置；

所述测试机台根据所述产品配置文件中对应校验码，对测试升级文件中各文件进行校验；

所述测试机台按照升级和校验后的第二测试用例对待测芯片执行测试进程。

可选地，所述产品配置文件包括测试用例信息、文件名、测试机台存储空间的安装路径、校验码中一种或任意组合。

可选地，在所述测试机台按照更新和校正后的第二测试用例对待测芯片执行测试进程之后，所述方法还包括：

所述测试机台将芯片的测试结果、和/或所述测试机台的当前版本号发送至所述服务器。

可选地，所述经测试机台获取所述测试机台上待测芯片的产品参数包括：

启动所述服务器的测试管理软件；并与所述测试机台的测试软件连接；

所述测试机台从芯片FuseChain中获取所述测试机台上待测芯片产品参数并上传至所述服务器。

可选地，所述如果是，则所述测试机台根据第一版本号对应的测试用例执行测试进程包括：

当所述第一版本号与所述产品参数一致时，所述测试机台退出用例升级程序、或者所述服务器控制所述测试机台退出用例升级程序；

退出后，所述测试机台根据第一版本号对应的测试用例执行测试进程。

第二方面，本发明提供一种芯片测试系统，包括服务器和至少一个与服务器连接的测试机台，所述系统还包括：

获取模块，用于经测试机台获取所述测试机台上待测芯片的产品参数；

识别模块，用于识别与所述测试机台对应的第一版本号；

判断模块，用于判断所述第一版本号是否与所述产品参数一致；

用例更新模块，用于当所述第一版本号与所述产品参数不一致时，根据所述产品参数从服务器对应存储区域获取并更新产品配置文件和/或第二测试用例；

执行模块，用于按照更新后的第二测试用例对待测芯片执行测试进程，或者根据第一版本号对应的第一测试用例执行测试进程。

可选地，所述用例更新模块包括：

运行子模块，用于所述测试机台自行运行用例升级程序、或者所述服务器控制所述测试机台运行用例升级程序；

用例获取子模块，用于所述测试机台通过所述用例升级程序从所述服务器获取与所述产品参数对应的测试升级文件，布置到所述测试机台指定的存储位置；

校验子模块，用于所述测试机台从所述服务器获取对应校验码，对测试升级文件中各文件进行校验。

可选地，所述系统包括：

发送模块，用于将芯片的测试结果、和/或所述测试机台的当前版本号发送至所述服务器。

本发明实施例提供的芯片测试方法和系统，能够实现多系列产品共享测试机台。其中，本发明实施例是在服务器中按照芯片的产品参数将不同的测试用例、和/或产品配置文件、和/或测试机台的版本号布置到固定存储位置。在各个测试机台存储空间固定位置存储一个本地的第一版本号。当各个测试机台和服务器连接后，测试机台首先获取到在该测试机台上待测芯片的产品参数。然后比对所述第一版本号是否与所述产品参数一致；最后根据比对结果确定测试用例更新需求。之后按照更新需求基于对应产品配置文件从服务器上获取第二测试用例更新到本地存储空间；或者按照更新需求直接根据产品参数从服务器上获取第二测试用例更新到本地存储空间。最后，更新第二测试用例同时完成文件校验，更新完成后基于服务器版本号对本地版本号进行更改，开始运行本地的第二测试用例。

因此，与现有技术相比，本发明一方面能够大大节约测试中产品切换的时间。第二方面能够降低芯片系统测试环节操作复杂度，降低测试工位人员的要求。第三方面能够提高生产效益，可以基于生产计划，在测试硬件相同的不同产品之间随时转换，大大提高测试机台利用率。综上所述本发明实施例能够实现多系列产品高效、准确、操作简易地共享测试机台。

附图说明

图1为现有芯片的SLT测试架构示意图；

图2为本发明一实施例芯片测试方法流程图；

图3为本发明另一实施例芯片测试方法流程图；

图4为本发明另一实施例芯片测试方法流程图；

图5为本发明一实施例芯片测试系统的结构示意图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

本发明实施例提供一种芯片测试方法，应用于至少一个测试机台，所述至少一个测试机台与服务器连接，如图2所示，所述方法包括

S11、经测试机台获取所述测试机台上待测芯片的产品参数；

S12、识别与所述测试机台对应的第一版本号，判断所述第一版本号是否与所述产品参数一致；

S13、如果否，则根据所述产品参数从服务器对应存储区域获取并更新产品配置文件和/或第二测试用例；并按照更新后的第二测试用例对待测芯片执行测试进程；

S14、如果是，则根据第一版本号对应的第一测试用例执行测试进程。

具体的，本发明提供的芯片测试方法，能够实现多系列产品共享测试机台。其中，本发明实施例是在服务器中按照芯片的产品参数将不同的测试用例、和/或产品配置文件、和/或测试机台的版本号布置到固定存储位置。在各个测试机台存储空间固定位置存储一个本地的第一版本号。当各个测试机台和服务器连接后，测试机台首先获取到在该测试机台上待测芯片的产品参数。然后比对所述第一版本号是否与所述产品参数一致；最后根据比对结果确定测试用例更新需求。之后按照更新需求基于对应产品配置文件从服务器上获取第二测试用例更新到本地存储空间；或者按照更新需求直接根据产品参数从服务器上获取第二测试用例更新到本地存储空间。最后，更新第二测试用例同时完成文件校验，更新完成后基于服务器版本号对本地版本号进行更改，开始运行本地的第二测试用例。

因此，与现有技术相比，本发明实施例一方面能够大大节约测试中产品切换的时间。第二方面能够降低芯片系统测试环节操作复杂度，降低测试工位人员的要求。第三方面能够提高生产效益，可以基于生产计划，在测试硬件相同的不同产品之间随时转换，大大提高测试机台利用率。综上所述，本发明实施例能够实现多系列产品高效、准确、操作简易地共享测试机台。

可选地，所述芯片测试方法还可应用于至少一个测试机台，所述至少一个测试机台通过交换机与服务器连接。

如图3所示，可选地，所述如果否，则根据所述产品参数从服务器对应存储区域获取并更新产品配置文件和/或第二测试用例；并按照更新后的第二测试用例对待测芯片执行测试进程包括：

当所述第一版本号与所述产品参数不一致时，则所述测试机台自行运行用例升级程序、或者所述服务器控制所述测试机台运行用例升级程序；

所述测试机台通过所述用例升级程序从所述服务器获取与所述产品参数对应的测试升级文件，布置到所述测试机台指定的存储位置；

所述测试机台从所述服务器获取对应校验码，对测试升级文件中各文件进行校验；

所述测试机台按照升级和校验后的第二测试用例对待测芯片执行测试进程。

可选地，所述如果否，则根据所述产品参数从服务器对应存储区域获取并更新产品配置文件和/或第二测试用例；并按照更新后的第二测试用例对待测芯片执行测试进程包括：

S131、当所述第一版本号与所述产品参数不一致时，则测试机台从服务器获取与所述产品参数对应的产品配置文件；

S132、所述测试机台自行运行用例升级程序、或者所述服务器控制所述测试机台运行用例升级程序；

S133、所述测试机台根据所述产品配置文件从所述服务器获取对应的测试升级文件，布置到所述测试机台指定的存储位置；

S134、所述测试机台根据所述产品配置文件中对应校验码，对测试升级文件中各文件进行校验；

S135、所述测试机台按照升级和校验后的第二测试用例对待测芯片执行测试进程。

可选地，所述产品配置文件包括测试用例信息、文件名、测试机台存储空间的安装路径、校验码中一种或任意组合。

可选地，在所述测试机台按照更新和校正后的第二测试用例对待测芯片执行测试进程之后，所述方法还包括：

S15、所述测试机台将芯片的测试结果、和/或所述测试机台的当前版本号发送至所述服务器。

可选地，所述经测试机台获取所述测试机台上待测芯片的产品参数包括：

S111、启动所述服务器的测试管理软件；并与所述测试机台的测试软件连接；

S112、所述测试机台从芯片FuseChain中获取所述测试机台上待测芯片产品参数并上传至所述服务器。

其中，所述FuseChain是芯片中存储芯片型号、产品参数等信息的存储空间。

可选地，所述如果是，则所述测试机台根据第一版本号对应的测试用例执行测试进程包括：

S141、当所述第一版本号与所述产品参数一致时，所述测试机台退出用例升级程序、或者所述服务器控制所述测试机台退出用例升级程序；

S142、退出后，所述测试机台根据第一版本号对应的测试用例执行测试进程。

具体的，如图4所示，本发明实施例可在服务器上按照芯片的产品参数将不同的测试用例、和/或产品配置文件、和/或测试机台的版本号布置到固定存储位置。在各个测试机台存储空间固定位置存储一个本地版本号。当各个测试机台和服务器连接后，测试机台程序通过比对服务器和本地版本号，按需求基于对应产品配置文件从服务器上获取测试用例更新到本地存储空间，更新测试用例同时完成文件校验，更新完成后基于服务器版本号对本地版本号进行更改，开始运行本地的第二测试用例进行待测芯片的SLT测试。

例如，当所述服务器上存储有所有的测试机台的版本号(例如：A版本号、B版本号、C版本号、D版本号)、所有的产品配置文件(例如：A产品配置文件、B产品配置文件、C产品配置文件、D产品配置文件)、所有的测试用例(例如：A测试用例、B测试用例、C测试用例、D测试用例)；其中，A、B、C、D分别代表不同产品时；需要对A产品对应的芯片进行SLT测试，则此时将A产品对应的芯片放置在第一测试机台，则由测试机台从A产品对应的芯片的FuseChain中获取产品参数，识别和判断第一测试机台的第一版本号是否和产品参数一致，如果第一版本号为A版本号，则直接用第一测试机台中当前存储的A测试用例对A产品对应的芯片进行SLT测试。

而如果第一版本号为B版本号时，第一测试机台从服务器获取与所述A产品参数对应的A产品配置文件。然后第一测试机台自行运行用例升级程序，并根据A产品配置文件从所述服务器获取对应的A测试升级文件，布置到所述测试机台指定的存储位置；之后第一测试机台根据所述产品配置文件中对应校验码，对测试升级文件中各文件进行校验；最后，第一测试机台按照升级和校验后的A测试用例对A产品芯片执行测试进程。综上完成了第一测试机台利用服务器的公共存储空间完成了B测试用例到A测试用例的高效更新。

最后，本发明实施例将第一测试机台对A产品芯片的SLT测试结果和更新后的A版本号反馈至服务器进行存储和使用。

综上所述，与现有技术相比本发明实施例所述方法具有以下5个优点：

(一)测试用例运行在每个机台的本地磁盘，运行效率高，稳定性好，对网络稳定性的要求低。

(二)不再需要人工更新测试用例到机台磁盘，大大节省切换产品切换的时间。

(三)增加校验功能，保证测试用例准确性和安全性。

(四)每种产品测试相关信息都已存储到服务器，机台端会根据所测产品自动判断，切换产品时不需要再在服务器上更新测试用例。

(五)可实现运行时升级，例如在产品A测试时，在服务器后台更新产品B、C、D测试相关信息不会影响产品A测试。

本发明实施例提供一种芯片测试系统，包括服务器和至少一个与服务器连接的测试机台，如图5所示，所述系统还包括：

获取模块11，用于经测试机台获取所述测试机台上待测芯片的产品参数；

识别模块12，用于识别与所述测试机台对应的第一版本号；

判断模块13，用于判断所述第一版本号是否与所述产品参数一致；

用例更新模块14，用于当所述第一版本号与所述产品参数不一致时，根据所述产品参数从服务器对应存储区域获取并更新产品配置文件和/或第二测试用例；

执行模块15，用于按照更新后的第二测试用例对待测芯片执行测试进程，或者根据第一版本号对应的第一测试用例执行测试进程。

具体的，本发明提供的芯片测试系统，能够实现多系列产品共享测试机台。其中，本发明实施例所述系统是在服务器中按照芯片的产品参数将不同的测试用例、和/或产品配置文件、和/或测试机台的版本号布置到固定存储位置。在各个测试机台存储空间固定位置存储一个本地的第一版本号。当各个测试机台和服务器连接后，测试机台首先获取到在该测试机台上待测芯片的产品参数。然后比对所述第一版本号是否与所述产品参数一致；最后根据比对结果确定测试用例更新需求。之后按照更新需求基于对应产品配置文件从服务器上获取第二测试用例更新到本地存储空间；或者按照更新需求直接根据产品参数从服务器上获取第二测试用例更新到本地存储空间。最后，更新第二测试用例同时完成文件校验，更新完成后基于服务器版本号对本地版本号进行更改，开始运行本地的第二测试用例。

因此，与现有技术相比，本发明实施例一方面能够大大节约测试中产品切换的时间。第二方面能够降低芯片系统测试环节操作复杂度，降低测试工位人员的要求。第三方面能够提高生产效益，可以基于生产计划，在测试硬件相同的不同产品之间随时转换，大大提高测试机台利用率。综上所述本发明实施例能够实现多系列产品高效、准确、操作简易地共享测试机台。

可选地，所述系统还可包括交换机，所述服务器通过交换机和至少一个测试机台进行连接。

可选地，所述用例更新模块包括：

运行子模块，用于所述测试机台自行运行用例升级程序、或者所述服务器控制所述测试机台运行用例升级程序；

用例获取子模块，用于所述测试机台通过所述用例升级程序从所述服务器获取与所述产品参数对应的测试升级文件，布置到所述测试机台指定的存储位置；

校验子模块，用于所述测试机台从所述服务器获取对应校验码，对测试升级文件中各文件进行校验。

可选地，所述系统包括：

发送模块，用于将芯片的测试结果、和/或所述测试机台的当前版本号发送至所述服务器。

可选地，所述获取模块包括：

启动子模块，用于启动所述服务器的测试管理软件；并与所述测试机台的测试软件连接；

获取子模块，用于从芯片FuseChain中获取所述测试机台上待测芯片产品参数并上传至所述服务器；其中，所述FuseChain是芯片中存储芯片型号、产品参数等信息的存储空间。

可选地，所述执行模块包括：

退出子模块，用于当所述第一版本号与所述产品参数一致时，所述测试机台退出用例升级程序、或者所述服务器控制所述测试机台退出用例升级程序；

测试子模块，用于退出用例升级程序后，根据第一版本号对应的测试用例执行测试进程。

本实施例的装置，可以用于执行上述方法实施例的技术方案，其实现原理和技术效果类似，此处不再赘述。

本领域普通技术人员可以理解实现上述方法实施例中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，所述的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(Read-Only Memory，ROM)或随机存储记忆体(Random AccessMemory，RAM)等。

以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应该以权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种芯片测试方法，应用于至少一个测试机台，所述至少一个测试机台与服务器连接，其特征在于，所述方法包括：

经测试机台获取所述测试机台上待测芯片的产品参数；

识别与所述测试机台对应的第一版本号，判断所述第一版本号是否与所述产品参数一致；

如果否，则根据所述产品参数从服务器对应存储区域获取并更新产品配置文件和/或第二测试用例；并按照更新后的第二测试用例对待测芯片执行测试进程；

如果是，则根据第一版本号对应的第一测试用例执行测试进程。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述如果否，则根据所述产品参数从服务器对应存储区域获取并更新产品配置文件和/或第二测试用例；并按照更新后的第二测试用例对待测芯片执行测试进程包括：

当所述第一版本号与所述产品参数不一致时，则所述测试机台自行运行用例升级程序、或者所述服务器控制所述测试机台运行用例升级程序；

所述测试机台通过所述用例升级程序从所述服务器获取与所述产品参数对应的测试升级文件，布置到所述测试机台指定的存储位置；

所述测试机台从所述服务器获取对应校验码，对测试升级文件中各文件进行校验；

所述测试机台按照升级和校验后的第二测试用例对待测芯片执行测试进程。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述如果否，则根据所述产品参数从服务器对应存储区域获取并更新产品配置文件和/或第二测试用例；并按照更新后的第二测试用例对待测芯片执行测试进程包括：

当所述第一版本号与所述产品参数不一致时，则测试机台从服务器获取与所述产品参数对应的产品配置文件；

所述测试机台自行运行用例升级程序、或者所述服务器控制所述测试机台运行用例升级程序；

所述测试机台根据所述产品配置文件从所述服务器获取对应的测试升级文件，布置到所述测试机台指定的存储位置；

所述测试机台根据所述产品配置文件中对应校验码，对测试升级文件中各文件进行校验；

所述测试机台按照升级和校验后的第二测试用例对待测芯片执行测试进程。

4.根据权利要求1-3任一所述的方法，其特征在于，所述产品配置文件包括测试用例信息、文件名、测试机台存储空间的安装路径、校验码中一种或任意组合。

5.根据权利要求1-4任一所述的方法，其特征在于，在所述测试机台按照更新和校正后的第二测试用例对待测芯片执行测试进程之后，所述方法还包括：

所述测试机台将芯片的测试结果、和/或所述测试机台的当前版本号发送至所述服务器。

6.根据权利要求1-5任一所述的方法，其特征在于，所述经测试机台获取所述测试机台上待测芯片的产品参数包括：

启动所述服务器的测试管理软件；并与所述测试机台的测试软件连接；

所述测试机台从芯片FuseChain中获取所述测试机台上待测芯片产品参数并上传至所述服务器。

7.根据权利要求1-6任一所述的方法，其特征在于，所述如果是，则所述测试机台根据第一版本号对应的测试用例执行测试进程包括：

当所述第一版本号与所述产品参数一致时，所述测试机台退出用例升级程序、或者所述服务器控制所述测试机台退出用例升级程序；

退出后，所述测试机台根据第一版本号对应的测试用例执行测试进程。

8.一种芯片测试系统，包括服务器和至少一个与服务器连接的测试机台，其特征在于，所述系统还包括：

获取模块，用于经测试机台获取所述测试机台上待测芯片的产品参数；

识别模块，用于识别与所述测试机台对应的第一版本号；

判断模块，用于判断所述第一版本号是否与所述产品参数一致；

用例更新模块，用于当所述第一版本号与所述产品参数不一致时，根据所述产品参数从服务器对应存储区域获取并更新产品配置文件和/或第二测试用例；

执行模块，用于按照更新后的第二测试用例对待测芯片执行测试进程，或者根据第一版本号对应的第一测试用例执行测试进程。

9.根据权利要求8所述的系统，其特征在于，所述用例更新模块包括：

运行子模块，用于所述测试机台自行运行用例升级程序、或者所述服务器控制所述测试机台运行用例升级程序；

用例获取子模块，用于所述测试机台通过所述用例升级程序从所述服务器获取与所述产品参数对应的测试升级文件，布置到所述测试机台指定的存储位置；

校验子模块，用于所述测试机台从所述服务器获取对应校验码，对测试升级文件中各文件进行校验。

10.根据权利要求8或9所述的系统，其特征在于，所述系统包括：

发送模块，用于将芯片的测试结果、和/或所述测试机台的当前版本号发送至所述服务器。

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