CN114252854B - 一种相控阵天线自检方法及系统 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种相控阵天线自检方法及系统，解决了现有技术中相控阵天线自检过程中对场地和设备要求高的问题。该方法包括：设置天线中某一通道为接收状态，其他通道为发射状态；接收状态的通道接收其他通道中各辐射单元发出的信号；切换各通道的发射/接收状态，选择任一接收状态通道接收发射状态通道中各辐射单元发射的信号；设置天线中某一通道为发射状态，其他通道为接收状态；使发射状态通道中任意一个辐射单元发射信号，其他通道中所有辐射单元依次接收信号；切换各通道的发射/接收状态，选择任一发射状态通道中任一个发射功能正常的辐射单元发射信号，接收状态通道中各辐射单元接收脉冲信号；基于接收的信号，获取工作异常的辐射单元信息。

Description

一种相控阵天线自检方法及系统
技术领域
本发明涉及雷达相控阵天线技术领域，尤其涉及一种相控阵天线自检方法及系统。
背景技术
相控阵天线指的是通过控制阵列天线中辐射单元的馈电相位来改变方向图形状的天线。控制相位可以改变天线方向图最大值的指向，以达到波束扫描的目的。相控阵天线在军用雷达、民用雷达等无线电系统中的应用日益广泛，相控阵天线因而相控阵天线的校准也成为了研究的热点。
相控阵天线由多个辐射单元构成一个通道，多个通道构成整个相控阵天线。其中相控阵天线还包含了若干微波器件如移相器、低噪放、低噪放、滤波器、限幅器和TR组件等。这些微波器件在长期使用过程中会出现各种工作异常或失效导致辐射单元工作异常。辐射单元异常会影响整个通道的工作，最终影响阵面工作。因此在相控阵天线服役期间必须对其各通道幅相变化进行定期监测和自检。
相控阵天线的自检方法有内监测、远场监测、近场扫描和互耦法等。“内监测”法通常在天线系统内设置开关矩阵、行波馈电网络等。远场监测需要一个远距离测试场、辅助天线和转台系统，基本原理是在多个预定的角度上分别测出天线总输出端口的幅度和相位值，再计算得到天线口径分布的幅度和相位值。近场扫描法需要在暗室环境中设置测试天线，进行扫描。互耦法是设置辅助辐射单元通过测试辅助辐射单元和辐射单元之间的相互耦合来进行校准。内监测法不能校准天线单元及其互耦影响；远场监测受环境影响大；近场扫描法要求测试环境复杂，操作不便；现有的互耦法仍需要额外设计辅助辐射单元及信号通道，设计复杂。
因此，现有技术中缺少一种基于互耦效应的相控阵天线自检方法及系统。
发明内容
鉴于上述的分析，本发明实施例旨在提供一种相控阵天线自检方法及系统，用以解决现有相控阵天线自检过程中对场地和设备要求高的问题。
一方面，本发明实施例提供了一种相控阵天线自检方法，包括：
设置相控阵天线中某一通道为接收状态，其他通道设置为发射状态；所述接收状态的通道依次接收所述发射状态通道中各辐射单元发出的脉冲信号；
切换各通道的发射/接收状态，选择任意一个接收状态通道依次接收发射状态通道中各辐射单元发射的脉冲信号；
基于接收的所有辐射单元的脉冲信号，获取发射工作异常的辐射单元信息；
设置相控阵天线中某一通道为发射状态，其他通道设置为接收状态；使发射状态通道中任意一个发射功能正常的辐射单元发射脉冲信号，其他通道中所有辐射单元依次接收所述脉冲信号；
切换各通道的发射/接收状态，选择任意一个发射状态通道中任意一个发射功能正常的辐射单元发射脉冲信号，接收状态通道中各辐射单元依次接收脉冲信号；
基于接收的所有辐射单元的脉冲信号，获取接收工作异常的辐射单元信息。
进一步地，所述设置相控阵天线中某一通道为接收状态，其他通道设置为发射状态；所述接收状态的通道依次接收所述发射状态通道中各辐射单元发出的脉冲信号，包括：
从所有通道中任选一通道作为第一通道，设置第一通道收发开关处于接收状态，设置除第一通道外的其他通道收发开关处于发射状态；
控制所述第一通道中各辐射单元对应的T/R组件全部上电；
控制除第一通道外的其他通道中各辐射单元对应的T/R组件依次上电，并且使每个组件持续上电T时间，各发射状态通道中各辐射单元依次发射脉冲信号；
所述第一通道依次接收各发射状态通道各辐射单元发射的脉冲信号。
进一步地，所述切换各通道的发射/接收状态，选择任意一个接收状态通道依次接收发射状态通道中各辐射单元发射的脉冲信号，包括：
切换所有通道收发开关状态，使所述第一通道收发开关切换为发射状态，使除第一通道外的其他通道收发开关切换为接收状态；
从接收状态通道中任选一通道作为第二通道，控制该通道中各辐射单元对应的T/R组件全部上电；
控制第一通道中各辐射单元对应的T/R组件依次上电，并且使每个组件持续上电T时间，第一通道各辐射单元依次发射脉冲信号；
所述第二通道依次接收所述第一通道各辐射单元发射的脉冲信号。
进一步地，所述基于接收的所有辐射单元的脉冲信号，获取发射工作异常的辐射单元信息，包括：
根据所述第一通道和所述第二通道接收的各通道辐射单元发射的脉冲信号，生成发射幅值相位信息；
通过所述发射幅值相位信息与发射幅值相位真值信息数据的比较，获取发射工作异常的辐射单元的位置信息。
进一步地，所述设置相控阵天线中某一通道为发射状态，其他通道设置为接收状态；使发射状态通道中任意一个发射功能正常的辐射单元向外发射脉冲信号，其他通道中所有辐射单元依次接收所述脉冲信号，包括：
从所有通道中任选一通道作为第三通道，设置第三通道为发射状态，设置除第三通道外的其他通道收发开关处于接收状态；
选择第三通道中任意一个发射功能正常的辐射单元作为第一辐射单元，控制所述第一辐射单元的T/R组件上电，所述第一辐射单元依次向外发射脉冲信号；
控制除第三通道外的其他通道中各辐射单元对应的T/R组件依次上电，并且使每个组件持续上电T时间，依次接收所述第一辐射单元发射的脉冲信号。
进一步地，所述切换各通道的发射/接收状态，选择任一发射状态通道中任意一个发射功能正常的辐射单元发射脉冲信号，接收状态通道中各辐射单元依次接收脉冲信号，包括：
切换所有通道收发开关状态，使所述第三通道收发开关切换为接收状态，使除第三通道外的其他通道收发开关切换为发射状态；
从发射状态通道中任选一个通道为第四通道，从所述第四通道中任选一个发射功能正常的辐射单元为第二辐射单元，控制所述第二辐射单元的T/R组件上电，所述第二辐射单元依次向外发射脉冲信号；
控制所述第三通道中各辐射单元对应的T/R组件依次上电，并且使每个组件持续上电T时间，依次接收所述第二辐射单元发射的脉冲信号。
进一步地，所述基于接收的所有辐射单元的脉冲信号，获取接收工作异常的辐射单元信息，包括：
根据所有辐射单元接收的所述第一辐射单元和第二辐射单元发射的脉冲信号，生成接收幅度相位信息；
通过所述接收幅度相位信息与接收幅度相位真值信息的比较，获取接收工作异常的辐射单元的位置信息。
进一步地，所述发射幅值相位真值信息或接收幅值相位真值信息为所述相控阵天线出厂前的测试结果信息，所述出厂前的测试中各通道对应的发射/接收状态、脉冲信号、各T/R组件上电顺序及上电持续时间与所述自检方法中的设置均相同。
另一方面，本发明实施例提供了一种相控阵天线自检系统，包括：
相控阵天线、上位机、发射机和接收机；
所述上位机，用于配置发射信号参数和接收增益参数，以及根据接收机接收的相控阵天线各辐射单元的脉冲信号，获取接收/发射工作异常的辐射单元的位置信息；
所述发射机，用于根据所述上位机配置的发射信号参数，配置产生辐射所需强度的脉冲信号，并将脉冲信号发送至所述相控阵天线中处于发射状态的通道；
所述接收机，用于根据所述上位机的接收增益参数，接收并放大所述相控阵天线中处于接收状态的通道接收到的脉冲信号。
进一步地，所述相控阵天线，包括：收发开关、波控分机、T/R组件和辐射单元；
所述波控分机用于根据所述上位机发送的自检指令，控制所述收发开关，实现所述相控阵天线中对应通道的发射/接收状态切换；
波控分机还用于控制所述T/R组件依次上电并持续一定时间T，实现信号的放大和移相。
与现有技术相比，本发明至少可实现如下有益效果之一：
1、本发明中相控阵天线自检过程中，接收自检与发射自检中均采用单个辐射单元发射，避免相邻辐射源接收产生信号饱和现象；多个辐射单元接收，增加了测试的可靠性；
2、本发明中相控阵天线自检过程中，相控阵天线位置固定，测试结果稳定可靠，测试过程简单，阵面开机即可进行自检测试；
3、本发明的自检过程中不需单独提供测试信号，且相控阵天线中各辐射单元的接收和发射信号均可进行检测；
4、本发明自检过程中，没有辅助测试天线，自检方式自动化程度高，测试可靠，方便快捷，尺寸小，结构简单。
本发明中，上述各技术方案之间还可以相互组合，以实现更多的优选组合方案。本发明的其他特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分优点可从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过说明书以及附图中所特别指出的内容中来实现和获得。
附图说明
附图仅用于示出具体实施例的目的，而并不认为是对本发明的限制，在整个附图中，相同的参考符号表示相同的部件。
图1为本申请一个实施例所示的相控阵天线自检方法流程图；
图2为本申请一个实施例所示的相控阵天线辐射源典型分布示意图；
图3为本申请一个实施例所示的相控阵天线合成/分解网络示意图；
图4为本申请另一个实施例所示的相控阵天线自检系统框图；
图5为本申请另一个实施例所示的相控阵天线框图；
图6为本申请另一个实施例所示的相控阵天线自检流程示意图。
具体实施方式
下面结合附图来具体描述本发明的优选实施例，其中，附图构成本申请一部分，并与本发明的实施例一起用于阐释本发明的原理，并非用于限定本发明的范围。
实施例1
本发明的一个具体实施例，公开了一种相控阵天线自检方法，如图1所示，包括：
S10、设置相控阵天线中某一通道为接收状态，其他通道设置为发射状态；所述接收状态的通道依次接收所述发射状态通道中各辐射单元发出的脉冲信号，包括：
从所有通道中任选一通道作为第一通道，设置所述第一通道收发开关处于接收状态，设置除第一通道外的其他通道收发开关处于发射状态；
控制所述第一通道中各辐射单元对应的T/R组件全部上电；
控制除第一通道外的其他通道中各辐射单元对应的T/R组件依次上电，并且使每个组件持续上电T时间，所述除第一通道外的其他通道中各辐射单元依次发射脉冲信号；
所述第一通道依次接收各发射状态通道各辐射单元发射的脉冲信号。
具体地，如图2所示，相控阵天线分为多个通道分别用N1～NP表示，各通道对应多个辐射单元，其中Np通道的辐射单元，分别用Npx1、Npx2……Npxm表示；如图3所示，本发明中相控阵天线收发共用，用于发射和接收脉冲信号；在发射时，相控阵天线与发射机接通，并与接收机断开，以免强大的发射功率进入接收机把接收机烧毁；在接收时，天线与接收机接通，并与发射机断开；自检时把天线分为N1～NP等多个部分，相控阵天线一部分发射，另一部分接收。
具体地，测试辐射单元的发射功能时，采用某一通道的所有辐射单元作为接收，通过某一通道的整体接收，可以忽略该接收通道中某个辐射单元接收异常的情况，增加了自检测试的可靠性；通过单个辐射单元依次发射，可以有效避免相邻辐射源接收产生信号饱和现象。
S20、切换各通道的发射/接收状态，选择任一接收状态通道依次接收发射状态通道中各辐射单元发射的脉冲信号，具体地，包括：
切换所有通道收发开关状态，使所述第一通道收发开关切换为发射状态，使除第一通道外的其他通道收发开关切换为接收状态；
从接收状态通道中任选一通道作为第二通道，控制该通道中各辐射单元对应的T/R组件全部上电；
控制第一通道中各辐射单元对应的T/R组件依次上电，并且使每个组件持续上电T时间，第一通道各辐射单元依次发射脉冲信号；
第二通道依次接收所述第一通道各辐射单元发射的脉冲信号。
具体地，在切换各通道的收发状态后，因其他通道的辐射单元已经通过第一任意通道进行了发射测试，且通过通道N1整体接收，可以忽略通道N1中某个辐射单元接收异常的情况，所以不需要重复测试。
S30、基于接收的所有辐射单元的脉冲信号，获取发射工作异常的辐射单元信息；
具体地，所述基于接收的所有辐射单元的脉冲信号，获取发射工作异常的辐射单元信息，包括：
根据所述第一通道和所述第二通道接收的各通道辐射单元发射的脉冲信号，生成发射幅值相位信息；
通过所述发射幅值相位信息与发射幅值相位真值信息数据的比较，获取发射工作异常的辐射单元的位置信息。
具体地，相控阵天线出场时按照所述方法采集一组数据作为发射幅值相位真值信息，与发射幅值相位真值信息对应有异常则上报错误，上位机显示发射功能异常的辐射单元，操作员对其进行维修。
S40、设置相控阵天线中某一通道为发射状态，其他通道设置为接收状态；使发射状态通道中任意一个发射功能正常的辐射单元向外发射脉冲信号，其他通道中所有辐射单元依次接收所述脉冲信号；
所述设置相控阵天线中某一通道为发射状态，其他通道设置为接收状态；使发射状态通道中任意一个发射功能正常的辐射单元向外发射脉冲信号，其他通道中所有辐射单元依次接收所述脉冲信号，包括：
从所有通道中任选一通道作为第三通道，设置第三通道为发射状态，设置除第三通道外的其他通道收发开关处于接收状态；
选择第三通道中任意一个发射功能正常的辐射单元作为第一辐射单元，控制所述第一辐射单元的T/R组件上电，所述第一辐射单元依次向外发射脉冲信号；
控制除第三通道外的其他通道中各辐射单元对应的T/R组件依次上电，并且使每个组件持续上电T时间，依次接收所述第一辐射单元发射的脉冲信号。
具体地，根据发射自检测试，可以选择任意通道中任意一个发射功能正常的辐射单元，通过该辐射单元依次发射，其他通道辐射单元依次接收，进行各辐射单元的接收自检测试，可以有效避免相邻辐射源接收产生信号饱和现象。
S50、切换各通道的发射/接收状态，选择任一发射状态通道中任意一个发射功能正常的辐射单元发射脉冲信号，接收状态通道中各辐射单元依次接收脉冲信号；
所述切换各通道的发射/接收状态，选择任一发射状态通道中任意一个发射功能正常的辐射单元发射脉冲信号，接收状态通道中各辐射单元依次接收脉冲信号，包括：
切换所有通道收发开关状态，使所述第三通道收发开关切换为接收状态，使除第三通道外的其他通道收发开关切换为发射接收状态；
从发射状态通道中任选一个通道为第四通道，从所述第四通道中任选一个发射功能正常的辐射单元为第二辐射单元，控制所述第二辐射单元的T/R组件上电，所述第二辐射单元依次向外发射脉冲信号；
控制所述第三通道中各辐射单元对应的T/R组件依次上电，并且使每个组件持续上电T时间，依次接收所述第二辐射单元发射的脉冲信号。
具体地，在切换各通道的收发状态后，因其他通道的辐射单元已经在发射正常的前提下进行了接收测试，因此在切换后仅需测试处于接收功能的通道的接收功能，其他通道不需要重复测试。
S60、基于接收的所有辐射单元的脉冲信号，获取接收工作异常的辐射单元信息。
所述基于接收的所有辐射单元的脉冲信号，获取接收工作异常的辐射单元信息，包括：
根据所有辐射单元接收的所述第一辐射单元和第二辐射单元发射的脉冲信号，生成接收幅度相位信息；
通过所述接收幅度相位信息与接收幅度相位真值信息的比较，获取接收工作异常的辐射单元的位置信息。
具体地，相控阵天线出场时按照所述方法采集一组数据作为接收幅值相位真值信息，与接收幅值相位真值信息对应有异常则上报错误，上位机显示接收功能异常的辐射单元，操作员对其进行维修。
具体地，所述发射幅值相位真值信息或接收幅值相位真值信息为所述相控阵天线出厂前的测试结果信息，所述出厂前的测试中各通道对应的发射/接收状态、脉冲信号、各T/R组件上电顺序及上电持续时间与所述自检方法中的设置均相同，更具体地，所述持续时间T根据脉冲信号周期以及需要发射/接收脉冲累计个数确定，例如，脉冲周期为t，需要累计测试10个脉冲，则持续时间T＝10*t。
与现有技术相比，首先，本发明中相控阵天线自检过程中，接收自检与发射自检中均采用单个辐射单元发射，避免相邻辐射源接收产生信号饱和现象；多个辐射单元接收，增加了测试的可靠性；其次，本发明中相控阵天线自检过程中，相控阵天线位置固定，测试结果稳定可靠，测试过程简单，阵面开机即可进行自检测试；再次，本发明的自检过程中不需单独提供测试信号，且相控阵天线中各辐射单元的接收和发射信号均可进行检测；最后，本发明自检过程中，没有辅助测试天线，自检方式自动化程度高，测试可靠，方便快捷，尺寸小，结构简单。
实施例2
本发明的另一个具体实施例，公开了一种相控阵天线自检系统，如图4所示，包括：相控阵天线10、上位机40、发射机20和接收机30。
所述上位机40，用于配置发射信号参数和接收增益参数，以及根据接收机接收的相控阵天线各辐射单元的脉冲信号，获取接收/发射工作异常的辐射单元的位置信息；更具体地，上位机面向用户，用于控制整个系统，配置发射信号参数，接收增益控制，切换工作模式等；具体地，上位机用于进行相控阵天线的收发状态控制，以及向所述发射机、接收机和信号处理机发送自检指令；
所述发射机20，用于根据所述上位机40配置的发射信号参数，配置产生辐射所需强度的脉冲信号，并将脉冲信号发送至所述相控阵天线中处于发射状态的通道；具体地，其波形是脉冲宽度为τ，重复周期为Tr的高频脉冲串；发射机输出的功率馈送至相控阵天线。
所述接收机30，用于根据所述上位机40的接收增益参数，接收并放大所述相控阵天线中处于接收状态的通道接收到的脉冲信号；更具体地，接收机30为超外差式，其任务为把微弱的回波信号放大到足以进行信号处理的电平，把射频进行降为中频信号，并对其进行数字采样。
具体地，相控阵天线自检系统还包括信号处理机及电源；
信号处理机的目的是消除不需要的信号(如杂波)及干扰信号，加强由目标产生的回波信号；
电源主要为各个部分供电。
具体地，如图5所示，所述相控阵天线，包括：收发开关、波控分机、T/R组件和辐射单元；
所述波控分机用于根据所述上位机40发送的自检指令，控制所述收发开关，实现所述控制相控阵天线中对应通道的发射/接收状态的切换。
波控分机还用于控制所述T/R组件依次上电并持续一定时间T，实现信号的放大和移相；TR组件是收发组件，位于相控阵天线与信号合成/分解网络之间。其功能就是对信号进行放大、移相、衰减。在本专利中T/R组件处于放大状态表示对应辐射单元在工作中，在衰减状态表示对应的辐射单元在待机中。
更具体地，波控分机接收上位机40发出的模式控制指令，控制阵面射频分机中的辐射单元进行自检与工作模式转换；波控分机接收上位机40发出的波束扫描控制指令，控制射频分机中T/R组件的工作状态，使T/R组件在指定空间方向上形成发射波束，完成空间功率合成；收发开关在波控分机的控制下，切换对应通道的收/发状态转换；馈电网络用于为各个T/R组件供电。
本发明中系统实施例的具体实施过程参见上述方法实施例即可，本实施例在此不再赘述。由于本实施例与上述方法实施例原理相同，所以本系统也具有上述方法实施例相应的技术效果。
实施例3
具体地，如图6所示，下文中以具体实施例的方式对相控阵天线自检过程进行详细描述。
首先，获取相控阵天线出厂前的发射幅值相位真值信息或接收幅值相位真值信息；
需要自检时，用户通过上位机发送自检指令到各个部分，各部分获取到自检之后后，自动开启自检过程，其中步骤(1)～(6)实现图6中相控阵天线中各辐射单元发射功能自检，步骤(7)-(10)实现图6中相控阵天线中各辐射单元接收功能自检，具体如下：
(1)发射机产生固定频率，固定周期的脉冲信号，并对其进行放大、变频、调制等操作，使其达到固定的幅度、频率，并传送至相控阵天线；
(2)相控阵面波控分机中的波控分机接收上位机发送的自检指令，并对指令进行解析；
(3)波控分机控制相控阵天线N1通道收发开关在接收状态，使相控阵天线N1通道中辐射单元作为接收测试天线，其他通道收发开关在发射状态，逐个发射射频信号。波控分机控制N2～Np通道下的T/R组件按一定顺序处于发射放大状态，每个开启持续一定时间(根据信号周期，与脉冲积累个数调整)，对应的天线单元处于发射状态并发射信号。N1通道所有T/R处于接收信号放大状态，接收信号，用于测试其他辐射单元的发射功能；N1通道接收到的信号经过功合网络后，输出至接收机。
(4)接收机将信号下变频至中频信号，对信号进行A/D变换。
(5)信号处理机对信号进行脉冲累积等处理，得到其幅值相位信息，将该信息与历史真值数据比对，判断发射状态天线单元发射工作是否正常。
(6)波控分机控制相控阵天线N2通道收发开关在接收状态，其他通道收发开关在发射状态。波控分机控制N1通道下的T/R组件按一定顺序上电，使其处于发射放大状态，每个开启持续一定时间，对应的天线单元处于发射状态，并发射信号。N2通道所有T/R处于接收信号放大状态，用于测试N1辐射单元的发射功能。N2通道接收到N1通道的脉冲信号后，输出至接收机重复步骤(4)和步骤(5)，完成N1～Np通道的发射自检测试。
(7)波控分机控制相控阵天线N1通道收发开关在发射状态，其他通道收发开关在接收状态。波控分机控制辐射单元N1X1对应的TR组件上电，使其处于发射放大状态(避免其他辐射单元接收信号过大饱和)。波控分机控制N2～Np等通道下的T/R组件按一定顺序上电，使其处于接收放大状态，每个组件开启持续一定时间，接收发射状态辐射单元发出的射频信号；N2～Np通道接收到的信号经过功合网络后，输出至接收机。
(8)接收机将信号下变频至中频信号，对信号进行A/D变换。
(9)信号处理机对信号进行脉冲累积等处理，得到其幅值相位信息，将该信息与历史真值数据比对，判断接收状态天线单元接收工作是否正常。
(10)波控分机控制相控阵天线N2通道收发开关在发射状态，N1通道收发开关在接收状态。波控分机控制辐射单元N2X1对应的TR组件上电，使其处于发射放大状态。波控分机控制N1通道下的T/R组件按一定顺序上电，使其处于接收放大状态，每个组件开启持续一定时间，接收发射状态辐射单元发出的射频信号；N1通道接收到的信号经过功合网络后，输出至接收机，重复步骤(8)和步骤(9)，完成N1通道的接收自检测试。
本领域技术人员可以理解，实现上述实施例方法的全部或部分流程，可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可存储于计算机可读存储介质中。其中，所述计算机可读存储介质为磁盘、光盘、只读存储记忆体或随机存储记忆体等。
以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种相控阵天线自检方法，其特征在于，包括：
设置相控阵天线中某一通道为接收状态，其他通道设置为发射状态；所述接收状态的通道依次接收所述发射状态通道中各辐射单元发出的脉冲信号；
切换各通道的发射/接收状态，选择任意一个接收状态通道依次接收发射状态通道中各辐射单元发射的脉冲信号；
基于接收的所有辐射单元的脉冲信号，获取发射工作异常的辐射单元信息；
设置相控阵天线中某一通道为发射状态，其他通道设置为接收状态；使发射状态通道中任意一个发射功能正常的辐射单元发射脉冲信号，其他通道中所有辐射单元依次接收所述脉冲信号；
切换各通道的发射/接收状态，选择任意一个发射状态通道中任意一个发射功能正常的辐射单元发射脉冲信号，接收状态通道中各辐射单元依次接收脉冲信号；
基于接收的所有辐射单元的脉冲信号，获取接收工作异常的辐射单元信息。
2.根据权利要求1所述的相控阵天线自检方法，其特征在于，所述设置相控阵天线中某一通道为接收状态，其他通道设置为发射状态；所述接收状态的通道依次接收所述发射状态通道中各辐射单元发出的脉冲信号，包括：
从所有通道中任选一通道作为第一通道，设置第一通道收发开关处于接收状态，设置除第一通道外的其他通道收发开关处于发射状态；
控制所述第一通道中各辐射单元对应的T/R组件全部上电；
控制除第一通道外的其他通道中各辐射单元对应的T/R组件依次上电，并且使每个组件持续上电T时间，各发射状态通道中各辐射单元依次发射脉冲信号；
所述第一通道依次接收各发射状态通道各辐射单元发射的脉冲信号。
3.根据权利要求2所述的相控阵天线自检方法，其特征在于，所述切换各通道的发射/接收状态，选择任意一个接收状态通道依次接收发射状态通道中各辐射单元发射的脉冲信号，包括：
切换所有通道收发开关状态，使所述第一通道收发开关切换为发射状态，使除第一通道外的其他通道收发开关切换为接收状态；
从接收状态通道中任选一通道作为第二通道，控制该通道中各辐射单元对应的T/R组件全部上电；
控制第一通道中各辐射单元对应的T/R组件依次上电，并且使每个组件持续上电T时间，第一通道各辐射单元依次发射脉冲信号；
所述第二通道依次接收所述第一通道各辐射单元发射的脉冲信号。
4.根据权利要求3所述的相控阵天线自检方法，其特征在于，所述基于接收的所有辐射单元的脉冲信号，获取发射工作异常的辐射单元信息，包括：
根据所述第一通道和所述第二通道接收的各通道辐射单元发射的脉冲信号，生成发射幅值相位信息；
通过所述发射幅值相位信息与发射幅值相位真值信息数据的比较，获取发射工作异常的辐射单元的位置信息。
5.根据权利要求4所述的相控阵天线自检方法，其特征在于，所述设置相控阵天线中某一通道为发射状态，其他通道设置为接收状态；使发射状态通道中任意一个发射功能正常的辐射单元向外发射脉冲信号，其他通道中所有辐射单元依次接收所述脉冲信号，包括：
从所有通道中任选一通道作为第三通道，设置第三通道为发射状态，设置除第三通道外的其他通道收发开关处于接收状态；
选择第三通道中任意一个发射功能正常的辐射单元作为第一辐射单元，控制所述第一辐射单元的T/R组件上电，所述第一辐射单元依次向外发射脉冲信号；
控制除第三通道外的其他通道中各辐射单元对应的T/R组件依次上电，并且使每个组件持续上电T时间，依次接收所述第一辐射单元发射的脉冲信号。
6.根据权利要求5所述的相控阵天线自检方法，其特征在于，所述切换各通道的发射/接收状态，选择任一发射状态通道中任意一个发射功能正常的辐射单元发射脉冲信号，接收状态通道中各辐射单元依次接收脉冲信号，包括：
切换所有通道收发开关状态，使所述第三通道收发开关切换为接收状态，使除第三通道外的其他通道收发开关切换为发射状态；
从发射状态通道中任选一个通道为第四通道，从所述第四通道中任选一个发射功能正常的辐射单元为第二辐射单元，控制所述第二辐射单元的T/R组件上电，所述第二辐射单元依次向外发射脉冲信号；
控制所述第三通道中各辐射单元对应的T/R组件依次上电，并且使每个组件持续上电T时间，依次接收所述第二辐射单元发射的脉冲信号。
7.根据权利要求6所述的相控阵天线自检方法，其特征在于，
所述基于接收的所有辐射单元的脉冲信号，获取接收工作异常的辐射单元信息，包括：
根据所有辐射单元接收的所述第一辐射单元和所述第二辐射单元发射的脉冲信号，生成接收幅值相位信息；
通过所述接收幅值相位信息与接收幅值相位真值信息的比较，获取接收工作异常的辐射单元的位置信息。
8.根据权利要求7所述的相控阵天线自检方法，其特征在于，
所述发射幅值相位真值信息或所述接收幅值相位真值信息为所述相控阵天线出厂前的测试结果信息，所述出厂前的测试中各通道对应的发射/接收状态、脉冲信号、各T/R组件上电顺序及上电持续时间与所述自检方法中的设置均相同。
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