CN114236294B - 一种用于光电控制产品的老化测试方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种用于光电控制产品的老化测试方法，包括：S1将产品与测试模块连接，系统自检，建立产品档案；S2设置测试时间T1、中断时间T2、测试次数N后开始测试；S3T1时间后中断测试，记录实测次数n；S4T2时间后重启测试；S5对比实测次数n与测试次数N，如n小于N‑1，则重复S3~S5，如n大于等于N‑1，则T1时间后停止测试；S6检查测试结果，并将测试结果关联至对应的产品档案后上传，同时保存到数据库。本发明实现了产品老化测试的自动控制，使产品按预设进程自动切换状态、判断老化情况、自动上传测试结果，不仅减少了人工成本，还确保了测试结果精准，更方便追溯、查询测试情况，提高了测试效率。
Description
技术领域
本发明涉及一种用于光电控制产品的老化测试方法，适用于光电控制产品老化测试技术领域。
背景技术
光电控制产品是一种通过将光信号与电信号相互转换，进而从多种途径实现控制设备、反馈信息的主令装置，其被广泛运用于光通讯技术、数字信息技术、多媒体技术、半导体技术等各种高新技术行业。随着光电产业的迅猛发展，光电控制产品所占的市场份额也随之增长，为了确保流向市场的产品质量，光电控制产品在出厂前都要进行老化测试。现在对于光电控制产品进行老化测试的方法大多是在恒温恒湿的环境中，通过长时间满负荷运行，检测产品在运行过程中的是否出现不良情况，但为了确保测试结果精准，产品老化过程中需要频繁切换测试状态，并判断产品是否出现不良情况。目前，这部分工作都是通过人工进行，需要技术人员按时关注测试进程，并进行判断、调整，不仅会浪费大量人工成本，还容易出现失误造成切换测试不及时，进而导致测试结果出现误差。
发明内容
为了解决上述现有技术存在的缺陷，本发明提出了一种用于光电控制产品的老化测试方法。
本发明采用的技术方案是：一种用于光电控制产品的老化测试方法，采用光电控制产品的老化测试系统，测试系统包括若干用于测试产品的测试模块、与测试模块通讯连接的控制模块、用于人机交互的操作终端，操作终端与控制模块相连接。
老化测试方法包括：
步骤S01：将若干产品分别与测试模块相连接，老化测试系统自检，建立产品档案；
步骤S02：在操作终端上设置测试时间T1、中断时间T2、测试次数N后生成测试命令，并由控制模块根据测试命令控制测试模块进行测试；
步骤S03：T1时间后，控制模块控制测试模块中断测试，同时记录实测次数n，即为实际已进行过测试的次数；
步骤S04：T2时间后，控制模块控制测试模块再次启动测试；
步骤S05：控制模块将实测次数n与测试次数N进行比对，如n小于N-1，则重复步骤S03~步骤S05，如n大于等于N-1，则T1时间后，控制模块控制测试模块停止测试；
步骤S06：控制模块控制测试模块检查测试结果，并将测试结果关联至对应的产品档案后上传至操作终端，同时保存到数据库。
进一步地，步骤S01中，老化测试系统自检，包括以下步骤：
S01.1、控制模块分别对每个测试模块发出读取命令；
S01.2、测试模块接收到读取命令后读取相连接的产品的产品信息，并将产品信息反馈至控制模块；
S01.3、如测试模块读取失败，则向控制模块反馈报警信号；
S01.4、控制模块将产品信息或报警信号上传至操作终端；
可以通过是否能够读取产品信息判断产品是否连接到位，同时可及时生成报警信息显示在操作终端，方便操作者及时发现问题，防止因连接不当造成产品被误判为不良品，提高测试准确性。
更进一步地，步骤S01中，建立产品档案具体为：控制模块根据产品信息建立以产品信息为名称的档案文件夹，可将测试中的过程信息、完成后的测试结果保存至产品对应的档案文件夹中，方便后期技术人员追溯问题或查询结果。
进一步地，步骤S03与步骤S04之间还包括：
步骤S03.1、控制模块控制测试模块对产品的状态进行检查；
步骤S03.2、测试模块将检查结果反馈至控制模块，并由控制模块对检查结果进行判定；
步骤S03.3、如控制模块判定检查结果不合格，则控制测试模块停止对产品的测试，并生成报警信号上传至操作终端；
对每个测试阶段的测试状态都进行检查记录，提高老化测试的可控性，将测试过程中不良品的测试进程及时中断，防止不良品对测试过程造成影响。
由于上述技术方案运用，本发明相较现有技术具有以下优点：
本发明的用于光电控制产品的老化测试方法，实现了光电控制产品老化测试过程中的自动化控制，使得产品的老化测试可以按照预设的测试进程自动切换测试状态、自动判断产品的老化情况以及自动将测试结果上传保存，不仅减少了消耗的人工成本，还确保了测试过程的可控以及测试结果的精准，更方便了技术人员追溯测试过程、查询测试结果，提高了测试效率。
附图说明
后文将参照附图以示例性而非限制性的方式详细描述本发明的一些具体实施例。附图中相同的附图标记标示了相同或类似的组件或部分。本领域技术人员应该理解，这些附图未必是按比例绘制的。附图中：
图1是本发明中一个实施例的流程图。
具体实施方式
下面将结合附图对本发明的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。
下面所描述的本发明不同实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互结合。
参考附图1，本实施例提供了一种用于光电控制产品的老化测试方法，采用光电控制产品的老化测试系统，测试系统包括若干用于测试产品的测试模块、与测试模块通讯连接的控制模块、用于人机交互的操作终端，操作终端与控制模块相连接。
老化测试方法包括：
步骤S01：将若干产品分别与测试模块相连接，老化测试系统自检，建立产品档案；
具体的，老化测试系统自检包括：S01.1、控制模块分别对每个测试模块发出读取命令；S01.2、测试模块接收到读取命令后读取相连接的产品的产品信息，并将产品信息反馈至控制模块；S01.3、如测试模块读取失败，则向控制模块反馈报警信号；S01.4、控制模块将产品信息或报警信号上传至操作终端；可以通过是否能够读取产品信息判断产品是否连接到位，同时可及时生成报警信息显示在操作终端，方便操作者及时发现问题，防止因连接不当造成产品被误判为不良品，提高测试准确性。
步骤S02：在操作终端上设置测试时间T1、中断时间T2、测试次数N后生成测试命令，并由控制模块根据测试命令控制测试模块进行测试；通过预设命令使控制模块控制测试进程自动进行。
步骤S03：T1时间后，控制模块控制测试模块中断测试，同时记录实测次数n，即为实际已进行过测试的次数；
具体的，步骤S03之后还包括：步骤S03.1、控制模块控制测试模块对产品的状态进行检查；步骤S03.2、测试模块将检查结果反馈至控制模块，并由控制模块对检查结果进行判定；步骤S03.3、如控制模块判定检查结果不合格，则控制测试模块停止对产品的测试，并生成报警信号上传至操作终端；通过对每个测试阶段的测试状态都进行检查记录，提高老化测试的可控性，并通过将测试过程中不良品的测试进程及时中断，防止不良品对测试过程造成影响。
步骤S04：T2时间后，控制模块控制测试模块再次启动测试。
步骤S05：控制模块将实测次数n与测试次数N进行比对，如n小于N-1，则重复步骤S03~步骤S05，如n大于等于N-1，则T1时间后，控制模块控制测试模块停止测试；通过将实测次数n与预设的测试次数N进行对比判断，使产品的老化测试进程能够自动化进行。
步骤S06：控制模块控制测试模块检查测试结果，并将测试结果关联至对应的产品档案后上传至操作终端，同时保存到数据库，具体的，控制模块通过将测试状态、完成时间等信息保存至与产品对应的档案文件夹中，方便技术人员通过操作终端查询被测产品中的不良品，也方便后期追溯测试过程。
在一种更为优选的实施方案中，步骤S01中，建立产品档案具体实施为：控制模块根据产品信息建立以产品信息为名称的档案文件夹，可将测试中的过程信息、完成后的测试结果保存至产品对应的档案文件夹中，方便后期技术人员追溯问题或查询结果。
由于上述技术方案的运用，本发明相较现有技术具有以下优点：
本发明的用于光电控制产品的老化测试方法，实现了光电控制产品老化测试过程中的自动化控制，使得产品的老化测试可以按照预设的测试进程自动切换测试状态、自动判断产品的老化情况以及自动将测试结果上传保存，不仅减少了消耗的人工成本，还确保了测试过程的可控以及测试结果的精准，更方便了技术人员追溯测试过程、查询测试结果，提高了测试效率。
上述实施例只为说明本发明的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此项技术的人士能够了解本发明的内容并据以实施，并不能以此限制本发明的保护范围，凡根据本发明精神实质所作的等效变化或修饰，都应涵盖在本发明的保护范围之内。
Claims (4)
1.一种用于光电控制产品的老化测试方法，其特征在于，采用光电控制产品的老化测试系统，所述测试系统包括若干用于测试所述产品的测试模块、与所述测试模块通讯连接的控制模块、用于人机交互的操作终端，所述操作终端与所述控制模块相连接，所述老化测试方法包括：
步骤S01：将若干所述产品分别与所述测试模块相连接，所述老化测试系统自检，建立产品档案；
步骤S02：在所述操作终端上设置测试时间T1、中断时间T2、测试次数N后生成测试命令，并由所述控制模块根据所述测试命令控制所述测试模块进行测试；
步骤S03：T1时间后，所述控制模块控制所述测试模块中断测试，同时记录实测次数n；
步骤S04：T2时间后，所述控制模块控制所述测试模块再次启动测试；
步骤S05：所述控制模块将所述实测次数n与所述测试次数N进行比对，如n小于N-1，则重复步骤S03~步骤S05，如n大于等于N-1，则T1时间后，所述控制模块控制所述测试模块停止测试；
步骤S06：所述控制模块控制所述测试模块检查测试结果，并将所述测试结果关联至对应的所述产品档案后上传至所述操作终端，同时保存到数据库。
2.根据权利要求1所述的用于光电控制产品的老化测试方法，其特征在于：步骤S01中，所述老化测试系统自检，包括以下步骤：
S01.1、所述控制模块分别对每个所述测试模块发出读取命令；
S01.2、所述测试模块接收到所述读取命令后读取相连接的所述产品的产品信息，并将所述产品信息反馈至所述控制模块；
S01.3、如所述测试模块读取失败，则向所述控制模块反馈报警信号；
S01.4、所述控制模块将所述产品信息或所述报警信号上传至所述操作终端。
3.根据权利要求2所述的用于光电控制产品的老化测试方法，其特征在于：步骤S01中，建立产品档案具体为：所述控制模块根据所述产品信息建立以所述产品信息为名称的档案文件夹。
4.根据权利要求1所述的用于光电控制产品的老化测试方法，其特征在于：步骤S03与步骤S04之间还包括：
步骤S03.1、所述控制模块控制所述测试模块对所述产品的状态进行检查；
步骤S03.2、所述测试模块将检查结果反馈至所述控制模块，并由所述控制模块对所述检查结果进行判定；
步骤S03.3、如所述控制模块判定所述检查结果不合格，则控制所述测试模块停止对所述产品的测试，并生成报警信号上传至所述操作终端。
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Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104007340A (zh) * | 2014-05-21 | 2014-08-27 | 杭州互诚控制技术有限公司 | 电子产品老化测试系统以及老化测试方法 |
| CN106841886A (zh) * | 2016-12-30 | 2017-06-13 | 惠州市亿能电子有限公司 | 一种bms老化测试监控系统及其应用设备 |
| WO2017206319A1 (zh) * | 2016-06-03 | 2017-12-07 | 深圳市樊溪电子有限公司 | 移动终端老化测试方法、装置及系统 |
| CN113746501A (zh) * | 2021-09-14 | 2021-12-03 | 北京中睿昊天信息科技有限公司 | 一种用于评价hplc深化功能的仿真装置系统和测试方法 |
-
2021
- 2021-12-21 CN CN202111574178.3A patent/CN114236294B/zh active Active
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104007340A (zh) * | 2014-05-21 | 2014-08-27 | 杭州互诚控制技术有限公司 | 电子产品老化测试系统以及老化测试方法 |
| WO2017206319A1 (zh) * | 2016-06-03 | 2017-12-07 | 深圳市樊溪电子有限公司 | 移动终端老化测试方法、装置及系统 |
| CN106841886A (zh) * | 2016-12-30 | 2017-06-13 | 惠州市亿能电子有限公司 | 一种bms老化测试监控系统及其应用设备 |
| CN113746501A (zh) * | 2021-09-14 | 2021-12-03 | 北京中睿昊天信息科技有限公司 | 一种用于评价hplc深化功能的仿真装置系统和测试方法 |
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| 于亚静 ; .OCXO老化测试自动筛选系统设计.电子测试.2019,(第24期),全文. * |
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