CN114226286A - 一种温盐深测量仪测试筛选装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种温盐深测量仪测试筛选装置，涉及仪器测试技术领域，所述温盐深测量仪测试筛选装置包括：上位机、测量电路测试筛选装置和传感器测试筛选装置，当需要对温盐深测量仪中的测量电路进行测试时，上位机分别与测量电路测试筛选装置和被测测量电路连接，测量电路测试筛选装置与被测测量电路连接，当需要对温盐深测量仪中的传感器进行测试时，上位机分别与传感器测试筛选装置和温盐深测量仪中的标准测量电路连接，测量电路测试筛选装置与至少一个被测传感器连接，测量电路测试筛选装置的输出端与标准测量电路连接。本发明能单独对温盐深测量仪中的测量电路和传感器开展测试和筛选，从而缩短测试周期，降低试错成本，提高生产效率。

Description

一种温盐深测量仪测试筛选装置

技术领域

本发明涉及仪器测试技术领域，特别是涉及一种温盐深测量仪测试筛选装置。

背景技术

温盐深测量仪（Conductivity Temperature Depth profiler，CTD）用来测定海水的温度、电导率和压力，继而得到不同深度处的海水温度和盐度信息，海水温度、盐度的大小和变化是制约和影响水文、气象、化学和生物等要素分布、演化的重要因素，作为海洋调查最基础的仪器，CTD的测量精度指标至关重要。

CTD的温度、电导率和压力技术指标分别需达到0.002℃、0.003mS/cm和0.05%F.S.的精度，目前，对该指标的评测只能依靠CTD整机实验进行，CTD整机包括测量电路和与测量电路连接的传感器，一次实验要耗费一至两天时间，整个实验周期长达数周或数月，费时、费力且增加了生产成本。特别是当CTD整机温度、电导率和压力测量性能超出技术指标时，常常难以确认到底是测量电路出了问题还是传感器出了问题，也无法排除是否是两者共同作用的结果，只能由生产实验人员根据经验试探性的更换排查，然后重新做整机实验，造成CTD出厂测试周期过长，成本增加，产能降低。

发明内容

基于此，本发明实施例提供一种温盐深测量仪测试筛选装置，单独对CTD中的测量电路和传感器开展测试和筛选，从而缩短测试周期，降低试错成本，提高生产效率。

为实现上述目的，本发明提供了如下方案：

一种温盐深测量仪测试筛选装置，包括：上位机、测量电路测试筛选装置和传感器测试筛选装置；

当需要对温盐深测量仪中的测量电路进行测试时，所述上位机分别与所述测量电路测试筛选装置的控制端和被测测量电路的输出端连接，所述测量电路测试筛选装置的输出端与所述被测测量电路的输入端连接，所述上位机用于控制所述测量电路测试筛选装置输出标准电阻值、获取所述被测测量电路输出的测量值以及将所述测量值与标准电阻值进行比较，得到所述被测测量电路的测试结果；

当需要对温盐深测量仪中的传感器进行测试时，所述上位机分别与所述传感器测试筛选装置的控制端和温盐深测量仪中的标准测量电路的输出端连接，所述测量电路测试筛选装置的被测接入端与至少一个被测传感器连接，所述测量电路测试筛选装置的输出端与所述标准测量电路的输入端连接，所述上位机用于控制所述被测传感器工作、获取所述标准测量电路输出的测量值以及将所述测量值与标准值进行比较，得到所述被测传感器的测试结果。

可选的，所述测量电路测试筛选装置，包括：电阻测量电路；所述电阻测量电路的一端作为第一接线端，所述电阻测量电路的另一端作为第二接线端；所述被测测量电路的输入端分别与所述第一接线端和所述第二接线端连接；

所述电阻测量电路包括至少一个电阻测量支路；当所述电阻测量支路为多个时，多个所述电阻测量支路并联；所述电阻测量支路包括串联的开关和标准电阻；所述上位机与各所述电阻测量支路中的所述开关连接；所述上位机用于控制所述电阻测量电路中各所述开关的通断。

可选的，当需要对所述被测测量电路中的温度测量电路进行测试时，所述被测测量电路中温度测量电路的输入端分别与所述第一接线端和所述第二接线端连接；

当需要对所述被测测量电路中的电导率测量电路进行测试时，所述被测测量电路中电导率测量电路的输入端分别与所述第一接线端和所述第二接线端连接；

当需要对所述被测测量电路中的压力测量电路进行测试时，所述被测测量电路中压力测量电路的输入端分别与所述第一接线端和所述第二接线端连接。

可选的，当需要对所述被测测量电路中的温度测量电路进行测试时，所述电阻测量电路包括四个电阻测量支路，四个所述标准电阻的阻值分别为30kΩ、20kΩ、15kΩ和10kΩ；

当需要对所述被测测量电路中的电导率测量电路进行测试时，所述电阻测量电路包括三个电阻测量支路，三个所述标准电阻的阻值分别为500Ω、750Ω和1000Ω；

当需要对所述被测测量电路中的压力测量电路进行测试时，所述电阻测量电路包括四个电阻测量支路，四个所述标准电阻的阻值分别为10Ω、50Ω、100Ω和250Ω。

可选的，所述传感器测试筛选装置，包括：第一开关电路和第二开关电路；所述第一开关电路的一端作为第三接线端，所述第一开关电路的另一端作为第四接线端；所述第二开关电路的一端作为第五接线端，所述第二开关电路的另一端作为第六接线端；所述标准测量电路的输入端分别与所述第三接线端、所述第四接线端、所述第五接线端和所述第六接线端连接；

所述第一开关电路包括至少一个第一开关支路；当所述第一开关支路为多个时，多个所述第一开关支路并联；所述第一开关支路包括串联的开关和被测接入端；

所述第二开关电路包括至少一个第二开关支路；当所述第二开关支路为多个时，多个所述第二开关支路并联；所述第二开关支路包括串联的开关和被测接入端；

所述上位机用于控制所述第一开关电路和所述第二开关电路中各所述开关的通断。

可选的，当需要对温盐深测量仪中的温度传感器进行测试时，所述第三接线端和所述第五接线端短接，所述第四接线端和所述第六接线端短接，所述标准测量电路中的温度测量电路分别与所述第三接线端和所述第四接线端连接，每个所述第一开关支路中的被测接入端连接一个被测温度传感器，每个所述第二开关支路中的被测接入端连接一个被测温度传感器；

当需要对温盐深测量仪中的电导率传感器进行测试时，所述第三接线端和所述第五接线端短接，所述第四接线端和所述第六接线端短接，所述标准测量电路中的电导率测量电路分别与所述第三接线端和所述第四接线端连接，每个所述第一开关支路中的被测接入端连接一个被测电导率传感器，每个所述第二开关支路中的被测接入端连接一个被测电导率传感器；

当需要对温盐深测量仪中的压力传感器进行测试时，所述标准测量电路中的压力测量电路的电源端与所述第三接线端和所述第四接线端连接，所述标准测量电路中的压力测量电路的输入端与所述第五接线端和所述第六接线端连接，每个所述第一开关支路中的被测接入端连接一个被测压力传感器的电源端，所述被测压力传感器的输出端与所述第二开关支路中的被测接入端连接。

可选的，所述测量电路测试筛选装置，还包括：第一单片机和第一通讯芯片；

当需要对温盐深测量仪中的测量电路进行测试时，所述上位机与所述第一通讯芯片连接；所述第一通讯芯片与所述第一单片机连接；所述第一单片机与所述电阻测量电路中的各所述开关连接。

可选的，所述传感器测试筛选装置，还包括：第二单片机和第二通讯芯片；

当需要对温盐深测量仪中的传感器进行测试时，所述上位机与所述第二通讯芯片连接；所述第二通讯芯片与所述第二单片机连接；所述第二单片机分别与所述第一开关电路和所述第二开关电路中的各所述开关连接。

本发明还提供了一种温盐深测量仪测试筛选装置，包括：上位机和测量电路测试筛选装置；

所述上位机分别与所述测量电路测试筛选装置的控制端和被测测量电路的输出端连接；所述测量电路测试筛选装置的输出端与所述被测测量电路的输入端连接；

所述上位机用于控制所述测量电路测试筛选装置输出标准电阻值、获取所述被测测量电路输出的测量值以及将所述测量值与标准电阻值进行比较，得到所述被测测量电路的测试结果。

本发明还提供了一种温盐深测量仪测试筛选装置，包括：上位机和传感器测试筛选装置；

所述上位机分别与所述传感器测试筛选装置的控制端和温盐深测量仪中的标准测量电路的输出端连接；所述测量电路测试筛选装置的被测接入端与至少一个被测传感器连接；所述测量电路测试筛选装置的输出端与所述标准测量电路的输入端连接；

所述上位机用于控制所述被测传感器工作、获取所述标准测量电路输出的测量值以及将所述测量值与标准值进行比较，得到所述被测传感器的测试结果。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：

本发明实施例提出了一种温盐深测量仪测试筛选装置，该温盐深测量仪测试筛选装置包括：上位机、测量电路测试筛选装置和传感器测试筛选装置，当需要对温盐深测量仪中的测量电路进行测试时，上位机分别与测量电路测试筛选装置和被测测量电路连接，测量电路测试筛选装置与被测测量电路连接，上位机将被测测量电路输出的测量值与标准电阻值进行比较，实现对被测测量电路的测试；当需要对温盐深测量仪中的传感器进行测试时，上位机分别与传感器测试筛选装置和温盐深测量仪中的标准测量电路连接，测量电路测试筛选装置与至少一个被测传感器连接，测量电路测试筛选装置的输出端与标准测量电路连接，上位机将标准测量电路输出的测量值与标准值进行比较，实现对被测传感器的测试。与传统的整机实验相比，本发明能单独对温盐深测量仪中的测量电路和传感器开展测试，从而能确认发生问题的部件，以便于对测量电路和传感器的筛选，缩短测试周期，降低试错成本，提高生产效率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例1提供的对测量电路进行测试时的温盐深测量仪测试筛选装置的结构示意图；

图2为本发明实施例1提供的对传感器进行测试时的温盐深测量仪测试筛选装置的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。

本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的术语在适当情况下可以互换，这仅仅是描述本申请的实施例中对相同属性的对象在描述时所采用的区分方式。术语“多个”指至少两个。

此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，以便包含一系列单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于那些单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它单元。

实施例1

从测量原理上，温盐深测量仪通过测量温度传感器（如热敏电阻）的阻值获取海水温度信息，通过测量电导率传感器内海水的阻值获取海水电导率信息，测量压力传感器的阻值获取海水压力信息。温盐深测量仪的测量精度取决于测量电路和传感器两方面因素，本实施例提出的温盐深测量仪测试筛选装置，可分别实现温盐深测量仪中测量电路和传感器的测试筛选，这样从测量电路和传感器两方面着手，在温盐深测量仪整机组装之前，测试和确认测量电路和传感器的精度和稳定性，减少漫长和反复的实验环节，并且当测量性能不满足指标要求时，使用本实施例的温盐深测量仪测试筛选装置可以诊断出测量误差来自于测量电路还是传感器，降低试错成本，缩短CTD实验周期，大幅提升生产效率。

本实施例提供的温盐深测量仪测试筛选装置，包括：上位机、测量电路测试筛选装置和传感器测试筛选装置。

当需要对温盐深测量仪中的测量电路（后续将其称为被测测量电路）进行测试时，参见图1，所述上位机分别与所述测量电路测试筛选装置的控制端和被测测量电路的输出端连接，所述测量电路测试筛选装置的输出端与所述被测测量电路的输入端连接，所述上位机用于控制所述测量电路测试筛选装置输出标准电阻值、获取所述被测测量电路输出的测量值以及将所述测量值与标准电阻值进行比较，得到所述被测测量电路的测试结果。

当需要对温盐深测量仪中的传感器（可称为被测传感器）进行测试时，参见图2，所述上位机分别与所述传感器测试筛选装置的控制端和温盐深测量仪中的标准测量电路的输出端连接，所述测量电路测试筛选装置的被测接入端与至少一个被测传感器连接，所述测量电路测试筛选装置的输出端与所述标准测量电路的输入端连接，所述上位机用于控制所述被测传感器工作、获取所述标准测量电路输出的测量值以及将所述测量值与标准值进行比较，得到所述被测传感器的测试结果。

本实施例的温盐深测量仪测试筛选装置，可以在温盐深测量仪整机装配和实验之前，单独对温盐深测量仪中的测量电路和传感器的精度和稳定性开展测试和筛选，从而缩短测试周期，降低试错成本，提高生产效率，提升温盐深测量仪的产品质量。

下面对测量电路测试筛选装置进行介绍。

在一个示例中，仍请参见图1，所述测量电路测试筛选装置，包括：电阻测量电路；所述电阻测量电路的一端作为第一接线端A，所述电阻测量电路的另一端作为第二接线端B；在对被测测量电路进行测量时，可将所述被测测量电路的输入端分别与所述第一接线端A和所述第二接线端B连接。

所述电阻测量电路包括至少一个电阻测量支路；当所述电阻测量支路为多个时，多个所述电阻测量支路并联；所述电阻测量支路包括串联的开关和标准电阻。可以理解的是，本领域技术人员可根据需要灵活设计电阻测量支路的个数，对于每一支路中所包含的标准电阻的个数，以及每一标准电阻的阻值，也可根据需要进行设计。

如图1所示，电阻测量电路包括四个电阻测量支路，因此，电阻测量电路包括四个开关和四个标准电阻，四个开关分别为S1、S2、S3和S4，四个标准电阻分别为R1、R2、R3和R4，四个开关可以选择低导通电阻开关，四个标准电阻可以选择高精度低温漂标准电阻。

其中，被测测量电路包括温度测量电路、电导率测量电路和压力测量电路。当需要对所述被测测量电路中的温度测量电路进行测试时，所述被测测量电路中温度测量电路的输入端分别与所述第一接线端A和所述第二接线端B连接。当需要对所述被测测量电路中的电导率测量电路进行测试时，所述被测测量电路中电导率测量电路的输入端分别与所述第一接线端A和所述第二接线端B连接。当需要对所述被测测量电路中的压力测量电路进行测试时，所述被测测量电路中压力测量电路的输入端分别与所述第一接线端A和所述第二接线端B连接。

所述上位机与各所述电阻测量支路中的所述开关（S1、S2、S3和S4）连接；所述上位机用于控制所述电阻测量电路中各所述开关的通断。上位机发送指令给测量电路测试筛选装置，控制S1、S2、S3和S4的通断，令相应的标准电阻接入电路或不接入电路，从而可得到不同标准电阻值，第一接线端A和第二接线端B依次连接被测测试电路的温度测量电路、电导率测量电路和压力测量电路，上位机读取被测测量电路的温度、电导率和压力测量值，与标准电阻值比较可评估温度测量电路、电导率测量电路和压力测量电路的测量精度，测试数据记录在上位机中，经过一段时间，再次测量该电路时，可以对比评估温度测量电路、电导率测量电路和压力测量电路的稳定性。

当然，也可按其他连接顺序连接被测测试电路中的各电路，例如，按照电导率、温度、压力的测量时序来进行连接，再例如，按照压力、电导率、温度的测量时序来进行连接等等，以此类推，不作赘述。

本示例中，从电路原理上分析，温盐深测量仪中测量电路对海水温度、电导率、压力参数的测量过程均可等效为阻值测量，因此，本示例中使用多路开关和多个标准电阻模拟温度传感器、电导率传感器和压力传感器，从而测试和评估温度测量电路、电导率测量电路、压力测量电路的精度和稳定性。

对于其他可被作为阻值测量的测量过程，也可采用包含上述电阻测量电路（电阻测量支路）的温盐深测量仪测试筛选装置进行测量，在测量过程中，可通过对电阻测量支路中开关的通断控制，得到不同的标准电阻值，以适应不同的测量场景、需求等。

下面介绍电阻测量电路的具体设计方式。

在一个示例中，标准电阻取值时，需考虑温度传感器、电导率传感器、压力传感器的阻值范围，还需考虑标准电阻可获得性和经济性，测试筛选测量电路的具体实施方式如下：

当需要对所述被测测量电路中的温度测量电路进行测试时，所述电阻测量电路包括四个电阻测量支路，四个标准电阻R1、R2、R3和R4的阻值可分别为30kΩ、20kΩ、15kΩ和10kΩ，通过上位机组合控制S1、S2、S3和S4的通断，可获取13个不同的阻值（4 kΩ、4.6 kΩ、5 kΩ、5.45 kΩ、6 kΩ、6.67 kΩ、7.5 kΩ、8.57 kΩ、10 kΩ、12 kΩ、15 kΩ、20 kΩ、30kΩ），其覆盖温度传感器的阻值范围（4～25kΩ）。

当需要对所述被测测量电路中的电导率测量电路进行测试时，所述电阻测量电路包括三个电阻测量支路，三个所述标准电阻R1、R2和R3的阻值分别为500Ω、750Ω和1000Ω，通过上位机组合控制S1、S2和S3的通断，可获取7个不同的阻值（230Ω、300Ω、330Ω、428Ω、500Ω、750Ω、1000Ω），覆盖电导率传感器的等效阻值范围（300Ω～1000Ω）。当开关S1、S2和S3都断路时，得到无穷大阻值，用于检测电导率测量电路的零点。

当需要对所述被测测量电路中的压力测量电路进行测试时，所述电阻测量电路包括四个电阻测量支路，四个所述标准电阻R1、R2、R3和R4的阻值分别为10Ω、50Ω、100Ω和250Ω，通过上位机组合控制S1、S2、S3和S4的通断，可以获取7.46Ω、8.33Ω、9.09Ω、10Ω、29.4Ω、33.33Ω、41.67Ω、50Ω、71.43Ω、100Ω、250Ω，第一接线端A和第二接线端B短接后可近似得到0Ω，覆盖压力传感器的等效阻值范围（0～200Ω）。

下面对传感器测试筛选装置进行介绍。

在一个示例中，仍请参见图2，所述传感器测试筛选装置，包括：第一开关电路和第二开关电路；所述第一开关电路的一端作为第三接线端C，所述第一开关电路的另一端作为第四接线端D；所述第二开关电路的一端作为第五接线端E，所述第二开关电路的另一端作为第六接线端F；所述标准测量电路的输入端分别与所述第三接线端C、所述第四接线端D、所述第五接线端E和所述第六接线端F连接。

所述第一开关电路包括至少一个第一开关支路；当所述第一开关支路为多个时，多个所述第一开关支路并联；所述第一开关支路包括串联的开关和被测接入端。如图2所示，第一开关电路包括四个第一开关支路，因此第一开关支路包括四个开关和四组被测接入端，第一开关支路中的四个开关分别为S5、S6、S7和S8，第一开关支路中的四个被测接入端分别为P1、P2、P3和P4，四个开关可以选择低导通电阻开关。

所述第二开关电路包括至少一个第二开关支路；当所述第二开关支路为多个时，多个所述第二开关支路并联；所述第二开关支路包括串联的开关和被测接入端。如图2所示，第二开关电路包括四个第二开关支路，因此第二开关支路包括四个开关和四组被测接入端，第二开关支路中的四个开关分别为S9、S10、S11和S12，第二开关支路中的四个被测接入端分别为P5、P6、P7和P8，四个开关可以选择低导通电阻开关。

可以理解的是，本领域技术人员可根据需要灵活设计第一开关支路和第二开关支路的个数，在此不赘述。

所述上位机用于控制所述第一开关电路和所述第二开关电路中各所述开关的通断。

其中，任一被测传感器可以为温度传感器、电导率传感器或压力传感器。图2所示温盐深测量仪测试筛选装置可在一次温盐实验中同时测试8只温度传感器或8只电导率传感器，或在一次压力实验中同时测试4只压力传感器，批量评估温盐深测量仪中温度传感器、电导率传感器和压力传感器的测量精度和稳定性。具体实施方式如下：

当需要对温盐深测量仪中的温度传感器进行测试时，令所述第三接线端C和所述第五接线端E短接，所述第四接线端D和所述第六接线端F短接，所述标准测量电路中的温度测量电路分别与所述第三接线端C和所述第四接线端D连接，每个所述第一开关支路中的被测接入端连接一个被测温度传感器，每个所述第二开关支路中的被测接入端连接一个被测温度传感器。

更为具体的：

将8只温度传感器放置在恒温海水槽中，水槽控温在指定温度下。8只温度传感器连线分别连接至P1～P8两端，将D与F接线端短接、E与C接线端短接，将标准测量电路中的温度测量电路连接装C与D接线端。上位机发送指令，依次单独导通S5～S12，分别测量8只温度传感器的温度值，与标准温度（即指定温度）对比，可评估温度传感器的精度指标，测试数据记录在上位机中。经过一段时间后，再次将8只温度传感器放置在水槽中测试，可对比检测温度传感器的稳定性。

当需要对温盐深测量仪中的电导率传感器进行测试时，令所述第三接线端C和所述第五接线端E短接，所述第四接线端D和所述第六接线端F短接，所述标准测量电路中的电导率测量电路分别与所述第三接线端C和所述第四接线端D连接，每个所述第一开关支路中的被测接入端连接一个被测电导率传感器，每个所述第二开关支路中的被测接入端连接一个被测电导率传感器。更为具体的：

将8只电导率传感器放置在恒温海水槽中，水槽控温在指定温度下。8只电导率传感器连线分别连接至P1～P8两端，将D与F接线端短接、E与C接线端短接，将标准测量电路中的温度测量电路连接装C与D接线端。上位机发送指令，依次单独导通S5～S12，分别测量8只电导率传感器的电导率值，与标准电导率对比，可评估电导率传感器的精度指标，测试数据记录在上位机中。经过一段时间后，再次将8只电导率传感器放置在水槽中测试，可对比检测电导率传感器的稳定性。

当需要对温盐深测量仪中的压力传感器进行测试时，所述标准测量电路中的压力测量电路的电源端与所述第三接线端C和所述第四接线端D连接，所述标准测量电路中的压力测量电路的输入端与所述第五接线端E和所述第六接线端F连接，每个所述第一开关支路中的被测接入端连接一个被测压力传感器的电源端，所述被测压力传感器的输出端与所述第二开关支路中的被测接入端连接。具体的：

将4只压力传感器连接活塞式压力计，压力计加压至指定压力，4只压力传感器的电源+和电源-分别连接至P1、P2、P3、P4的两端，压力传感器的输出+和输出-分别连接至P5、P6、P7、P8的两端，将标准测量电路的压力测量电路的电源+、电源-、输入+、输入-分别接入装置的C、D、E、F引脚。上位机发送指令，依次单独导通S5和S9、S6和S10、S7和S11、S8和S12，分别测量4只压力传感器的压力值，与标准压力对比，可评估压力传感器的精度指标，经过一段时间后，再次将4只压力传感器连接压力计测试，可对比检测压力传感器的稳定性。

在一个示例中，如图1所示，所述测量电路测试筛选装置，还包括：第一单片机和第一通讯芯片；当需要对温盐深测量仪中的测量电路进行测试时，所述上位机与所述第一通讯芯片连接；所述第一通讯芯片与所述第一单片机连接；所述第一单片机与所述电阻测量电路中的各所述开关连接。

本领域技术人员可根据需要选择第一通讯芯片的型号或类型，例如，第一通讯芯片可以为RS485，只要其至少可实现通讯功能即可。

同理，第一单片机的型号或类型乃至功能可根据需求选择或设计，只要其至少可实现控制功能即可。

如图2所示，所述传感器测试筛选装置，还包括：第二单片机和第二通讯芯片；当需要对温盐深测量仪中的传感器进行测试时，所述上位机与所述第二通讯芯片连接；所述第二通讯芯片与所述第二单片机连接；所述第二单片机分别与所述第一开关电路和所述第二开关电路中的各所述开关连接。

本领域技术人员可根据需要选择第二通讯芯片的型号或类型，例如，第二通讯芯片可以为RS485，只要其至少可实现通讯功能即可。

同理，第二单片机的型号或类型乃至功能可根据需求选择或设计，只要其至少可实现控制功能即可。

本实施例中的温盐深测量仪测试筛选装置，具有如下优点：

1）温盐深测量仪（CTD）对测量精度和稳定性要求极高，因此要求测量电路和传感器都有很高的精度和稳定性，本实施例中的温盐深测量仪测试筛选装置可在CTD整机装配和实验之前，评估CTD测量电路的精度和稳定性，测试合格的电路入库备用，不合格的返修、弃用或降级使用，提前把关，避免将隐患带入到整机实验阶段，避免长期反复实验，有效缩短实验周期并降低成本。

2）本实施例中的温盐深测量仪测试筛选装置可在一次水槽温盐实验中批量测试8个温度、电导率传感器，也可以在一次压力实验中批量测试4个压力传感器，在CTD整机装配和实验之前，确定CTD传感器的精度和稳定性。测试合格的传感器入库备用，不合格的返修、弃用或降级使用，提前把关，避免将隐患带入到整机实验阶段，避免长期反复实验，有效缩短实验周期并降低成本。

3）本实施例中的温盐深测量仪测试筛选装置可以将测量电路和传感器拆分开来，单独评估各自的性能状态，CTD使用一段时间或经历冲击震动、高压、高低温等环境变化后，测量性能有可能超标，在这种情况下，使用该温盐深测量仪测试筛选装置分别再次检测测量电路和传感器，通过对比原始测试数据，能够准确的诊断出误差的来源及分布，便于进一步采取针对性的措施，不断提升CTD产品性能。

实施例2

本发明还提供了一种温盐深测量仪测试筛选装置，包括：上位机和测量电路测试筛选装置。

所述上位机分别与所述测量电路测试筛选装置的控制端和被测测量电路的输出端连接；所述测量电路测试筛选装置的输出端与所述被测测量电路的输入端连接；所述上位机用于控制所述测量电路测试筛选装置输出标准电阻值、获取所述被测测量电路输出的测量值以及将所述测量值与标准电阻值进行比较，得到所述被测测量电路的测试结果。

与实施例1相同的部分，参见实施例1即可，在此不再赘述。本实施例能单独对温盐深测量仪中的测量电路开展测试和筛选。

实施例3

本发明还提供了一种温盐深测量仪测试筛选装置，包括：上位机和传感器测试筛选装置。

所述上位机分别与所述传感器测试筛选装置的控制端和温盐深测量仪中的标准测量电路的输出端连接；所述测量电路测试筛选装置的被测接入端与至少一个被测传感器连接；所述测量电路测试筛选装置的输出端与所述标准测量电路的输入端连接；所述上位机用于控制所述被测传感器工作、获取所述标准测量电路输出的测量值以及将所述测量值与标准值进行比较，得到所述被测传感器的测试结果。

与实施例1相同的部分，参见实施例1即可，在此不再赘述。本实施例能单独对温盐深测量仪中的传感器开展测试和筛选。

本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。

本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处。综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

Claims (9)

1.一种温盐深测量仪测试筛选装置，其特征在于，包括：上位机、测量电路测试筛选装置和传感器测试筛选装置；

当需要对温盐深测量仪中的测量电路进行测试时，所述上位机分别与所述测量电路测试筛选装置的控制端和被测测量电路的输出端连接，所述测量电路测试筛选装置的输出端与所述被测测量电路的输入端连接，所述上位机用于控制所述测量电路测试筛选装置输出标准电阻值、获取所述被测测量电路输出的测量值以及将所述测量值与标准电阻值进行比较，得到所述被测测量电路的测试结果；

当需要对温盐深测量仪中的传感器进行测试时，所述上位机分别与所述传感器测试筛选装置的控制端和温盐深测量仪中的标准测量电路的输出端连接，所述测量电路测试筛选装置的被测接入端与至少一个被测传感器连接，所述测量电路测试筛选装置的输出端与所述标准测量电路的输入端连接，所述上位机用于控制所述被测传感器工作、获取所述标准测量电路输出的测量值以及将所述测量值与标准值进行比较，得到所述被测传感器的测试结果。

2.根据权利要求1所述的一种温盐深测量仪测试筛选装置，其特征在于，所述测量电路测试筛选装置，包括：电阻测量电路；所述电阻测量电路的一端作为第一接线端，所述电阻测量电路的另一端作为第二接线端；所述被测测量电路的输入端分别与所述第一接线端和所述第二接线端连接；

所述电阻测量电路包括至少一个电阻测量支路；当所述电阻测量支路为多个时，多个所述电阻测量支路并联；所述电阻测量支路包括串联的开关和标准电阻；所述上位机与各所述电阻测量支路中的所述开关连接；所述上位机用于控制所述电阻测量电路中各所述开关的通断。

3.根据权利要求2所述的一种温盐深测量仪测试筛选装置，其特征在于，

当需要对所述被测测量电路中的温度测量电路进行测试时，所述被测测量电路中温度测量电路的输入端分别与所述第一接线端和所述第二接线端连接；

当需要对所述被测测量电路中的电导率测量电路进行测试时，所述被测测量电路中电导率测量电路的输入端分别与所述第一接线端和所述第二接线端连接；

当需要对所述被测测量电路中的压力测量电路进行测试时，所述被测测量电路中压力测量电路的输入端分别与所述第一接线端和所述第二接线端连接。

4.根据权利要求2所述的一种温盐深测量仪测试筛选装置，其特征在于，

当需要对所述被测测量电路中的温度测量电路进行测试时，所述电阻测量电路包括四个电阻测量支路，四个所述标准电阻的阻值分别为30kΩ、20kΩ、15kΩ和10kΩ；

当需要对所述被测测量电路中的电导率测量电路进行测试时，所述电阻测量电路包括三个电阻测量支路，三个所述标准电阻的阻值分别为500Ω、750Ω和1000Ω；

当需要对所述被测测量电路中的压力测量电路进行测试时，所述电阻测量电路包括四个电阻测量支路，四个所述标准电阻的阻值分别为10Ω、50Ω、100Ω和250Ω。

5.根据权利要求1所述的一种温盐深测量仪测试筛选装置，其特征在于，所述传感器测试筛选装置，包括：第一开关电路和第二开关电路；所述第一开关电路的一端作为第三接线端，所述第一开关电路的另一端作为第四接线端；所述第二开关电路的一端作为第五接线端，所述第二开关电路的另一端作为第六接线端；所述标准测量电路的输入端分别与所述第三接线端、所述第四接线端、所述第五接线端和所述第六接线端连接；

所述第一开关电路包括至少一个第一开关支路；当所述第一开关支路为多个时，多个所述第一开关支路并联；所述第一开关支路包括串联的开关和被测接入端；

所述第二开关电路包括至少一个第二开关支路；当所述第二开关支路为多个时，多个所述第二开关支路并联；所述第二开关支路包括串联的开关和被测接入端；

所述上位机用于控制所述第一开关电路和所述第二开关电路中各所述开关的通断。

6.根据权利要求5所述的一种温盐深测量仪测试筛选装置，其特征在于，

当需要对温盐深测量仪中的温度传感器进行测试时，所述第三接线端和所述第五接线端短接，所述第四接线端和所述第六接线端短接，所述标准测量电路中的温度测量电路分别与所述第三接线端和所述第四接线端连接，每个所述第一开关支路中的被测接入端连接一个被测温度传感器，每个所述第二开关支路中的被测接入端连接一个被测温度传感器；

当需要对温盐深测量仪中的电导率传感器进行测试时，所述第三接线端和所述第五接线端短接，所述第四接线端和所述第六接线端短接，所述标准测量电路中的电导率测量电路分别与所述第三接线端和所述第四接线端连接，每个所述第一开关支路中的被测接入端连接一个被测电导率传感器，每个所述第二开关支路中的被测接入端连接一个被测电导率传感器；

当需要对温盐深测量仪中的压力传感器进行测试时，所述标准测量电路中的压力测量电路的电源端与所述第三接线端和所述第四接线端连接，所述标准测量电路中的压力测量电路的输入端与所述第五接线端和所述第六接线端连接，每个所述第一开关支路中的被测接入端连接一个被测压力传感器的电源端，所述被测压力传感器的输出端与所述第二开关支路中的被测接入端连接。

7.根据权利要求2所述的一种温盐深测量仪测试筛选装置，其特征在于，所述测量电路测试筛选装置，还包括：第一单片机和第一通讯芯片；

当需要对温盐深测量仪中的测量电路进行测试时，所述上位机与所述第一通讯芯片连接；所述第一通讯芯片与所述第一单片机连接；所述第一单片机与所述电阻测量电路中的各所述开关连接。

8.根据权利要求5所述的一种温盐深测量仪测试筛选装置，其特征在于，所述传感器测试筛选装置，还包括：第二单片机和第二通讯芯片；

当需要对温盐深测量仪中的传感器进行测试时，所述上位机与所述第二通讯芯片连接；所述第二通讯芯片与所述第二单片机连接；所述第二单片机分别与所述第一开关电路和所述第二开关电路中的各所述开关连接。

9.一种温盐深测量仪测试筛选装置，其特征在于，包括：上位机和测量电路测试筛选装置；

所述上位机分别与所述测量电路测试筛选装置的控制端和被测测量电路的输出端连接；所述测量电路测试筛选装置的输出端与所述被测测量电路的输入端连接；

所述上位机用于控制所述测量电路测试筛选装置输出标准电阻值、获取所述被测测量电路输出的测量值以及将所述测量值与标准电阻值进行比较，得到所述被测测量电路的测试结果。

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