CN114221696A - 大芯径光纤衰减系数测试方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种大芯径光纤衰减系数测试方法，样品光纤Xn的一端放置在光纤拉锥机中，将其芯径Rn熔融拉锥至Rn+1，样品光纤Xn被制作成为桥纤Yn。将所制作的桥纤根据光纤芯径大小依次排列，使用大直径光纤熔接机将各个桥纤中芯径匹配的一端熔接起来。将尾纤ZN芯径为R的一端连接到OTDR上，使用芯径为R0的一端与待测光纤通过光纤耦合器连接，使用OTDR对待测光纤进行测试，得到待测光纤的衰减系数测试结果。本发明测试的方法对于各种类型及不同工艺方法制造的大芯径光纤的测试均可方便实现，测试结果可行，能极大的提高生产测试效率降低测试成本并解决衰减均匀性测试困难的问题。

Description

大芯径光纤衰减系数测试方法
技术领域
本发明属于光纤光缆测试技术领域，尤其涉及一种大芯径光纤衰减系数测试方法。
背景技术
标准规定光纤衰减和衰减均匀性可以使用后向散射法进行测试，现有技术中测试常规单多模光纤的后向散射设备OTDR普遍存在，但是目前的设备往往只适用于芯直径小于等于65um的光纤，对于更大芯直径的光纤无法正常进行测试。因此，当前大芯径光纤的衰减测试往往是通过标准规定的截断法进行测试的，这种方法能够准确测试大芯径光纤的衰减，但是无法正常评估大芯径光纤的衰减均匀性，并且使用截断法进行大芯径光纤的测试，对于光纤的切割端面质量要求较高，测试所花费的时间较长，因此需要寻找一种简单高效适合大规模生产的替代测试方法。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是，提供一种大芯径光纤衰减系数测试方法，其目的在于采用预先生产出待测大芯径光纤与常规多模OTDR(光时域反射仪)匹配的尾纤，通过该尾纤连接待测大芯径光纤与常规OTDR完成衰减和衰减均匀性测试，由此解决当前操作要求难度高且无法完成衰减系数缺陷测试的技术问题。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：提供一种大芯径光纤衰减系数测试方法，该方法包括以下步骤，步骤一，测试待测样品光纤芯径，得到测试结果R0；步骤二，选择一根长度为L0样品光纤X0，多模OTDR尾纤Z的芯径为R；步骤三，由于R和R0存在巨大的差值，而通常使用光纤拉锥机的拉锥变径幅度不能低于25％，准备芯径在R和R0之间的样品光纤Xn，其长度为Ln，光纤芯径为Rn；步骤四，将样品光纤X0的一端放置在光纤拉锥机中，将其芯径R0熔融拉锥至R1，使用光纤切割刀，将样品光纤X0的拉锥平坦区部分切割制作端面，样品光纤X0被制作成为桥纤Y0，Y0的一端的芯径为R0，另一端芯径为R1；步骤五，将样品光纤Xn的一端放置在光纤拉锥机中，将其芯径Rn熔融拉锥至Rn+1，使用光纤切割刀，将样品光纤Xn的拉锥平坦区部分切割制作端面，样品光纤Xn被制作成为桥纤Yn，Yn的一端的芯径为Rn，另一端芯径为Rn+1；步骤六，将所制作的桥纤根据光纤芯径大小依次排列，使用大直径光纤熔接机将各个桥纤中芯径匹配的一端熔接起来，最后一根桥纤XN则与尾纤Z的一端进行熔接，完成尾纤ZN；步骤七，将尾纤ZN芯径为R的一端连接到OTDR上，使用芯径为R0的一端与待测光纤通过光纤耦合器连接；步骤八，使用OTDR对待测光纤进行测试，得到待测光纤的衰减系数测试结果。
按上述技术方案，所述步骤三中，桥纤的数量N≥[log4(R0/R)]，桥纤的芯径Rn范围为(R0/(4*n)～R0/(2*n)，其中n＝(1,2,…[log4(R0/R)])。
按上述技术方案，所述步骤五中，最后一根桥纤XN一端的芯直径拉锥设定值为R，与尾纤Z的芯径匹配。
按上述技术方案，OTDR所带的尾纤芯径R等于62.5um或者50um。
按上述技术方案，样品光纤X0的长度L0的范围为1m～9999m。
本发明产生的有益效果是：通过本发明方法，在实际生产过程中在OTDR上替换匹配的尾纤，通过光纤耦合器连接尾纤和待测光纤，启动OTDR测试程序，能够快速完成大芯径光纤的衰减系数的测试。
附图说明
下面将结合附图及实施例对本发明作进一步说明，附图中：
图1是本发明实施中例尾纤制造组装示意图；
图2是本发明实施中大芯径光纤衰减系数测试过程示意图；
图3是实施例芯径为900um的光纤将芯径拉锥至400um效果图；
图4是实施例芯径为400um的光纤将芯径拉锥至200um效果图；
图5是实施例芯径为200um的光纤将芯径拉锥至62.5um效果图；
图6是实施例芯径为1000um的光纤测试结果。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
如图1-图2所示，本发明实施例中，首先选取待测样品光纤，测试其芯径为R0。从待测样品光纤中选取第一根桥纤X0，芯径同样为R0，选取常规多模OTDR及其尾纤，尾纤光纤芯径为R。根据待测光纤芯径R0和尾纤芯径R，计算所需桥纤的数量桥纤的数量N≥[log4(R0/R)]，所需桥纤的芯径Rn选定范围为(R0/(4*n)，R0/(2*n))，其中n＝(1,2,…[log4(R0/R)])。根据计算结果在该范围内选择合适的桥纤Xn；将桥纤根据芯径大小排列X0，X1,…Xn，使用光纤拉锥机，依次将排序前的桥纤其中一端的芯径由Rn-1拉锥为Rn，直到选取到与R绝对值差最小的Rn。选择拉锥完成的桥纤Xn，将拉锥平坦区光纤切割制作端面。使用大直径光纤熔接机将各个桥纤中芯径匹配的一端熔接起来，而最后一根桥纤XN则与尾纤Z的一端进行熔接，得到需要的尾纤ZN。将尾纤ZN芯径为R的一端连接到OTDR上，使用芯径为R0的一端与待测光纤通过光纤耦合器连接。然后使用常规OTDR对待测光纤进行测试，可以得到待测光纤的衰减系数测试结果。所述样品光纤Xn的长度Ln的范围为1m～9999m，待测样品光纤芯径R0适用范围为1um～9999um，尾纤芯径R适用范围为1um～9999um，桥纤芯径Rn适用范围为1um～9999um。
具体可选用光纤为芯径900um，包层直径1000um的阶跃大芯径光纤，OTDR尾纤为芯径62.5um，包层直径125um的多模光纤。因此R0＝900,R＝62.5。
将数据代入根据本发明计算桥纤数量的公式N≥[log4(R0/R)]+1，得到N≥2。
将数据代入桥纤的芯径计算公式(R0/(4*n)，R0/(2*n))，n＝(1,2,…[log4(R0/R)])，R1的选定范围为(250，500)。查询手头上符合条件的光纤型号，选定芯层直径400um，包层直径440um的阶跃大芯径光纤作为桥纤。R2的选定范围为(125，250)。查询手头上符合条件的光纤型号，选定芯层直径200um，包层直径220um的阶跃大芯径光纤作为桥纤。
选取一段长约200m的待测样品光纤，取其一端进行拉锥，如图3所示，将其包层直径拉锥至440um左右，芯层直径拉锥至400um左右。
选取一段长约2m的桥纤R1，取其一端进行拉锥，如图4所示，将其包层直径拉锥至440um左右，芯层直径拉锥至220um左右。
选取一段长约2m的桥纤R2，取其一端进行拉锥，如图5所示，将其包层直径拉锥至70um左右，芯层直径拉锥至63um左右。
通过光纤熔接机，根据纤芯匹配的原则，将拉锥好的样品光纤，桥纤R1，桥纤R2和OTDR自带尾纤Z进行熔接，生产出匹配芯径900um包层直径1000um的阶跃大芯径光纤的尾纤。
将尾纤的芯径为62.5um的一端接入OTDR，芯径为900um的一端通过光纤耦合器与同样为900um芯径的待测光纤相连接，启动OTDR测试设备程序，如图6可以测得该光纤的衰减系数测试结果。
应当理解的是，对本领域普通技术人员来说，可以根据上述说明加以改进或变换，而所有这些改进和变换都应属于本发明所附权利要求的保护范围。

Claims (5)

1.一种大芯径光纤衰减系数测试方法，其特征在于，该方法包括以下步骤，步骤一，测试待测样品光纤芯径，得到测试结果R0；步骤二，选择一根长度为L0样品光纤X0，多模OTDR尾纤Z的芯径为R；步骤三，准备芯径在R和R0之间的样品光纤Xn，其长度为Ln，光纤芯径为Rn；步骤四，将样品光纤X0的一端放置在光纤拉锥机中，将其芯径R0熔融拉锥至R1，将样品光纤X0的拉锥平坦区部分切割制作端面，样品光纤X0被制作成为桥纤Y0，Y0的一端的芯径为R0，另一端芯径为R1；步骤五，将样品光纤Xn的一端放置在光纤拉锥机中，将其芯径Rn熔融拉锥至Rn+1，将样品光纤Xn的拉锥平坦区部分切割制作端面，样品光纤Xn被制作成为桥纤Yn，Yn的一端的芯径为Rn，另一端芯径为Rn+1；步骤六，将所制作的桥纤根据光纤芯径大小依次排列，使用大直径光纤熔接机将各个桥纤中芯径匹配的一端熔接起来，最后一根桥纤XN则与尾纤Z的一端进行熔接，完成尾纤ZN；步骤七，将尾纤ZN芯径为R的一端连接到OTDR上，使用芯径为R0的一端与待测光纤通过光纤耦合器连接；步骤八，使用OTDR对待测光纤进行测试，得到待测光纤的衰减系数测试结果。
2.根据权利要求1所述的大芯径光纤衰减系数测试方法，其特征在于，所述步骤三中，桥纤的数量N≥[log4(R0/R)]，桥纤的芯径Rn范围为(R0/(4*n)～R0/(2*n)，其中n＝(1,2,…[log4(R0/R)])。
3.根据权利要求1或2所述的大芯径光纤衰减系数测试方法，其特征在于，所述步骤五中，最后一根桥纤XN一端的芯直径拉锥设定值为R，与尾纤Z的芯径匹配。
4.根据权利要求1或2所述的大芯径光纤衰减系数测试方法，其特征在于，OTDR所带的尾纤芯径R等于62.5um或者50um。
5.根据权利要求1或2所述的大芯径光纤衰减系数测试方法，其特征在于，样品光纤X0的长度L0的范围为1m～9999m。
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