CN114200374B - 一种自动化测试平台电压和频率自检系统 - Google Patents
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Abstract
本发明揭示了一种自动化测试平台电压和频率自检系统，其特征在于：所述的自检系统通过其接口模块将自检系统耦接到产品生产测试板上，并经由产品生产测试版与自动化测试平台建立通讯；在产品生产测试板的的生产过程中，所述的自检系统对自动化测试平台的电压和频率进行实时自检。本发明所述的自动化测试平台电压和频率自检系统能够在芯片封测领域的生产测试过程中实时的频率、电压测试资源的进行自检，防止测试精度异常问题导致的测试结果出现偏差导致测试可靠性变低的问题。
Description
技术领域
本发明属于芯片封测领域，特别涉及一种自动化测试平台电压和频率自检系统。
背景技术
芯片封测的自动化测试平台是大规模芯片生产的常用设备，自检校验板是必备配件。常规操作是定期安排自检校验，但对于生产测试过程中突然出现的测试精度异常问题，不能及时发现，这会导致芯片的测试结果整体出现偏差不准，测试可靠性变低。
本领域亟需一种自动化测试平台的自检系统。
发明内容
有鉴于此，本发明提出一种自动化测试平台电压和频率自检系统，其特征在于：
所述的自检系统通过其接口模块将自检系统耦接到产品生产测试板上，并经由产品生产测试版与自动化测试平台建立通讯；
在产品生产测试板的的生产过程中，所述的自检系统对自动化测试平台的电压和频率进行实时自检。
优选的，
所述自检系统包括供电模块和接口模块，且所述自检系统通过接口模块从自动化测试平台获取电能，并经由供电模块为所述自检系统提供电源。
优选的，
所述自检系统还包括基准频率模块，其用于提供基准频率。
优选的，
所述自检系统还包括基准电压模块，其用于提供基准电压。
优选的，
所述自动化测试平台提供+5V供电。
优选的，
所述供电模块采用四个电容并联的方式进行稳压滤波。
优选的，
所述基准频率模块采用1MHz有源晶振。
优选的，
所述基准电压模块用于在1.2mV以内的精度提供电压且温度系数为8ppm/℃。
优选的，
基准电压模块包括采用ADR系列芯片，芯片的外围通过开尔文连接方式实现。
本发明具备如下技术效果：
通过上述方案，本发明所述的自动化测试平台电压和频率自检系统能够在芯片封测领域的生产测试过程中实时的频率、电压测试资源的进行自检，防止测试精度异常问题导致的测试结果出现偏差导致测试可靠性变低的问题。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本发明的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
图1是本发明的一个实施例中的自检系统示意图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图1，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本发明实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。
因此，以下对在附图中提供的本发明的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本发明的范围，而是仅仅表示本发明的选定实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。
在本发明的描述中，需要说明的是，若出现术语“上”、“下”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该发明产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
此外，若出现术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
需要说明的是，在不冲突的情况下，本发明的实施例中的特征可以相互结合。
在一个实施例中，本发明揭示了一种自动化测试平台电压和频率自检系统，其特征在于：
所述的自检系统通过其接口模块将自检系统耦接到产品生产测试板上，并经由产品生产测试版与自动化测试平台建立通讯；
在产品生产测试板的的生产过程中，所述的自检系统对自动化测试平台的电压和频率进行实时自检。
优选的，
所述自检系统包括供电模块和接口模块，且所述自检系统通过接口模块从自动化测试平台获取电能，并经由供电模块为所述自检系统提供电源。
优选的，
所述自检系统还包括基准频率模块，其用于提供基准频率。
优选的，
所述自检系统还包括基准电压模块，其用于提供基准电压。
优选的，
所述自动化测试平台提供+5V供电。
优选的，
所述供电模块采用四个电容并联的方式进行稳压滤波。
优选的，
所述基准频率模块采用1MHz有源晶振。
优选的，
所述基准电压模块用于在1.2mV以内的精度提供电压且温度系数为8ppm/℃。
优选的，
基准电压模块包括采用ADR系列芯片，芯片的外围通过开尔文连接方式实现。
参见图1，在一个实施例中，所述自动化测试平台电压和频率自检系统，包括：
接口模块、供电模块、基准频率模块以及基准电压模块；
供电模块：通过接口模块连接自动化测试平台中的测试机提供的+5V，用10uF+1uF+0.1uF+0.01uF电容并联稳压滤波，并向其他模块供电；
接口模块：充当所述自检系统与自动化测试平台之间的连接桥梁，且接口模块并非直接连接于自动化测试平台，而是连接于产品电路测试板；其中，产品电路测试板的一端连接自动化测试平台，另一端连接所述接口模块；产品电路测试板不仅在生产测试环节处于实时的工作状态，而且产品电路测试板自身也充当自动化测试平台与所述自检系统的连接桥梁；正是因此，本发明所述的自检系统不仅不影响正常的生产测试工作，而且能实现对测试资源例如频率和电压的实时自检；
特别的，接口模块还进一步连接第一路、第二路继电器，两路继电器分别控制基准频率模块和基准电压模块的输出；
基准频率模块：用于产生基准频率，且选择1MHz的有源晶振，供电来自于供电模块及追根溯源的自动化测试平台，之所以选择1MHz的有源晶振，一是为了利用来自于自动化测试平台的供电，二是为了满足本发明所要解决的技术问题的需要，满足基准需求并确保晶振频率较稳定；
基准电压模块：可以选用ADR34xx系列芯片，芯片的外围通过4线开尔文连接，用于实现1.2000V的典型值加上0.1％的精度，从而实现1.2mV以内精度的电压提供，温度系数8ppm/℃的稳定性。如此，方能满足本发明所要解决的技术问题的测试精度。
综上，本发明所述的自动化测试平台电压和频率自检系统能够在芯片封测领域的生产测试过程中实时的频率、电压测试资源的进行自检，防止测试精度异常问题导致的测试结果出现偏差导致测试可靠性变低的问题。
以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。
Claims (2)
1.一种芯片封测自动化测试平台电压和频率自检系统，其特征在于：
所述的自检系统通过其接口模块将自检系统耦接到产品生产测试板上，并经由产品生产测试板与自动化测试平台建立通讯；
在产品生产测试板的生产过程中，所述的自检系统对自动化测试平台的电压和频率进行实时自检；
其中，
所述自检系统包括供电模块和接口模块，且所述自检系统通过接口模块从自动化测试平台获取电能，并经由供电模块为所述自检系统提供电源；
所述自检系统还包括基准频率模块，其用于提供基准频率；
所述自检系统还包括基准电压模块，其用于提供基准电压；
所述自动化测试平台提供+5V供电；
所述基准频率模块采用1MHz有源晶振，一是为了利用来自于自动化测试平台的供电，二是为了满足基准需求并确保晶振频率较稳定；
基准电压模块采用ADR34xx系列芯片，芯片的外围通过4线开尔文连接，用于实现1.2000V的典型值加上0.1%的精度，从而实现1.2mV以内精度的电压提供，温度系数8ppm/℃的稳定性；
产品生产测试板的一端连接自动化测试平台，另一端连接所述接口模块；产品生产测试板不仅在生产测试环节处于实时的工作状态，而且产品生产测试板自身也充当自动化测试平台与所述自检系统的连接桥梁；
所述自检系统能够在芯片封测领域的生产测试过程中实时的频率、电压测试资源的进行自检，防止测试精度异常问题导致的测试结果出现偏差导致测试可靠性变低的问题。
2.如权利要求1所述的自检系统，其中，
所述供电模块采用四个电容并联的方式进行稳压滤波。
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