CN114167622A - 一种用于获取被拍摄物表面三维信息的光学系统 - Google Patents

一种用于获取被拍摄物表面三维信息的光学系统 Download PDF

Info

Publication number
CN114167622A
CN114167622A CN202111524802.9A CN202111524802A CN114167622A CN 114167622 A CN114167622 A CN 114167622A CN 202111524802 A CN202111524802 A CN 202111524802A CN 114167622 A CN114167622 A CN 114167622A
Authority
CN
China
Prior art keywords
optical
optical system
incident
incident surface
dimensional information
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN202111524802.9A
Other languages
English (en)
Inventor
不公告发明人
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Individual
Original Assignee
Individual
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Individual filed Critical Individual
Priority to CN202111524802.9A priority Critical patent/CN114167622A/zh
Publication of CN114167622A publication Critical patent/CN114167622A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B30/00Optical systems or apparatus for producing three-dimensional [3D] effects, e.g. stereoscopic images
    • G02B30/50Optical systems or apparatus for producing three-dimensional [3D] effects, e.g. stereoscopic images the image being built up from image elements distributed over a 3D volume, e.g. voxels
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03BAPPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
    • G03B35/00Stereoscopic photography

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Studio Devices (AREA)
  • Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)

Abstract

本发明公开了一种用于获取被拍摄物表面三维信息的光学系统,包括光学子系统,光学子系统包括多个沿光路依次设置的第一光学元件和感光元件,光学子系统的预设位置还设置有第二光学元件,被拍摄物反射的入射光线沿光路依次经过多个第一光学元件和第二光学元件后照射在感光元件上生成多个具有视角差异的子图像;第二光学元件包括至少两个光学元件单元,相邻两个光学元件单元按设定结构并列设置;光学元件单元具有设定的入射面和与入射面对应的出射面。本系统能够从光学系统的内部光线中获取被拍摄物体的多个具有视角差异的子图像,后续通过其他处理设备对多个有视角差异的子图像进行进一步处理,即可获取被拍摄物的三维空间信息。

Description

一种用于获取被拍摄物表面三维信息的光学系统
技术领域
本发明涉及拍摄设备技术领域,具体涉及一种用于获取被拍摄物表面三维信息的光学系统。
背景技术
现有光学系统要获取被拍摄物表面三维信息,如果被拍摄物体是运动的,通常采用的是激光+普通照相机(或摄像机)、雷达+普通照相机(或摄像机)、红外+普通照相机(或摄像机)、或是多个相机组成的阵列来同步拍摄;如果被拍摄物体是静止的,通常采用普通照相机(或摄像机)从多个角度对被拍摄物体进行拍摄、或是光场相机对被拍摄物体进行拍摄。但是,不管采用上述那种拍摄方式,需要使用的器材较多,拍摄操作复杂。
发明内容
针对现有技术中的缺陷,本发明提供一种用于获取被拍摄物表面三维信息的光学系统,以解决背景技术中所提出的技术问题。
一种用于获取被拍摄物表面三维信息的光学系统,包括光学子系统,所述光学子系统包括多个沿光路依次设置的第一光学元件和感光元件,所述光学子系统的预设位置还设置有第二光学元件,被拍摄物反射的入射光线沿光路依次经过多个所述第一光学元件和所述第二光学元件后照射在所述感光元件上生成多个具有视角差异的子图像;
所述第二光学元件包括至少两个光学元件单元,所述光学元件单元具有设定的入射面和与所述入射面对应的出射面;相邻两个所述光学元件单元按设定结构并列设置。
可选的,所述预设位置为从被拍摄物体表面不同位置反射的入射光线在所述光学子系统内的汇聚点所组成的平面。
可选的,所述设定的入射面为平面,所述入射面与所述光学子系统的光轴之间的夹角不等于90度,入射光线在入射面折射;
所述出射面为平面,且所述出射面与所述入射面平行。
可选的,相邻两个所述光学元件单元的入射面夹角大于0度,小于180度。
可选的,所述设定的入射面为平面,所述入射面与所述光学子系统的光轴之间的夹角不等于90度,入射光线在入射面反射;
所述出射面为平面,且所述出射面与所述入射面不相互垂直。
可选的,相邻两个所述光学元件单元的入射面夹角大于0度,小于180度。
可选的,所述设定的入射面为平面,所述入射面表面设置有偏光膜,所述入射面与所述光学子系统的光轴之间的夹角等于90度;
所述出射面为平面,且所述出射面与所述入射面平行。
可选的,相邻两个所述光学元件单元的入射面夹角等于0度。
可选的,所述设定的入射面为曲面,入射光线在入射面折射;
所述出射面为平面或者曲面,所述出射面与所述入射面组合形成一个透镜。
可选的,相邻两个所述光学元件单元的入射面所对应的光轴相互平行。
本发明的有益效果体现在:
本发明提供的用于获取被拍摄物多个视角视图的光学系统,能够从光学系统的内部光线中获取被拍摄物体的多个具有视角差异的子图像,后续通过其他处理设备对多个有视角差异的子图像进行进一步处理,即可获取被拍摄物的三维空间信息。被拍摄物体处于运动状态或是静止状态都适用,且不存在同步问题,拍摄操作简单、便捷。
附图说明
为了更清楚地说明本发明具体实施方式或现有技术中的技术方案,下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。在所有附图中,类似的元件或部分一般由类似的附图标记标识。附图中,各元件或部分并不一定按照实际的比例绘制。
图1为本发明实施例提供的现有的光学子系统的结构示意图;
图2为本发明实施例提供的用于获取被拍摄物表面三维信息的光学系统的结构示意图;
图3为本发明实施例提供的方案一的入射面的结构示意图;
图4为本发明实施例提供的方案一的出射面的结构示意图;
图5为本发明实施例提供的方案一的第二光学元件的结构示意图;
图6为本发明实施例提供的方案二的入射面的结构示意图;
图7为本发明实施例提供的方案二的出射面的结构示意图;
图8为本发明实施例提供的方案二的第二光学元件的结构示意图;
图9为本发明实施例提供的方案三的入射面的结构示意图;
图10为本发明实施例提供的方案三的出射面的结构示意图;
图11为本发明实施例提供的方案三的第二光学元件的结构示意图;
图12为本发明实施例提供的方案四的入射面的结构示意图;
图13a-图13d为本发明实施例提供的方案四的出射面的结构示意图;
图14a-图14d为本发明实施例提供的方案四的第二光学元件的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合附图对本发明技术方案的实施例进行详细的描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本发明的技术方案,因此只作为示例,而不能以此来限制本发明的保护范围。
需要注意的是,除非另有说明,本申请使用的技术术语或者科学术语应当为本发明所属领域技术人员所理解的通常意义。
目前,普通照相机或摄像机等拍摄设备均具有由若干光学元件组成的光学成像系统(参考图1所示),用拍摄设备拍摄被拍摄物体时,被拍摄物体反射的入射光线通过光学元件后在图像传感器(如CMOS器件)上成像,在入射光线到达图像传感器之前,入射光线中是包含有被拍摄物体的三维空间信息的。
如图2所示,本发明实施例提供的一种用于获取被拍摄物表面三维信息的光学系统。该光学系统包括如图1所示的光学子系统,所述光学子系统包括多个沿光路依次设置的第一光学元件和感光元件1。在所述光学子系统的预设位置设置有第二光学元件2,被拍摄物反射的入射光线沿光路依次经过多个所述第一光学元件和所述第二光学元件2后照射在所述感光元件1上生成多个具有视角差异的子图像。多个子图像之间具有视角差异,后续通过其他处理设备对多个有视角差异的子图像进行进一步处理,获取被拍摄物的三维空间信息。本实施例中,感光元件1可以采用CCD器件或者CMOS器件。
本实施例中,所述预设位置为从被拍摄物体表面不同位置反射的入射光线在所述光学子系统内的汇聚点所组成的平面,如图1中a处所示。在光学子系统内部可能有一个或多个这样由汇聚点所组成的平面,在实际安装第二光学元件2时,应使第二光学元件2的入射面尽量靠近该平面,越靠近该平面,获取的被拍摄物的三维空间信息越完整。
所述第二光学元件2包括至少两个光学元件单元,也可以是三个、四个或者多个,相邻两个所述光学元件单元按设定结构并列设置。所述光学元件单元具有设定的入射面和与所述入射面对应的出射面。照射在所述感光元件1上生成的子图像的个数与第二光学元件2包括的光学元件单元的个数相等。
具体的,光学元件单元的入射面和出射面可以有以下几种设计方案:
方案一:如图3所示,所述设定的入射面为平面,所述入射面与所述光学子系统的光轴之间的夹角不等于90度,入射光线在入射面折射。此时,如图4所示,出射面为平面,且所述出射面与所述入射面平行。
此种设计方案下,如图5所示,相邻两个所述光学元件单元的入射面夹角大于0度,小于180度。
方案二:如图6所示,所述设定的入射面为平面,所述入射面与所述光学子系统的光轴之间的夹角不等于90度,入射光线在入射面反射。此时,如图7所示,所述出射面为平面,且所述出射面与所述入射面不相互垂直。
此种设计方案下,如图8所示,相邻两个所述光学元件单元的入射面夹角大于0度,小于180度。
方案三:如图9所示,所述设定的入射面为平面,所述入射面表面设置有偏光膜,所述入射面与所述光学子系统的光轴之间的夹角等于90度。此时,如图10所示,所述出射面为平面,且所述出射面与所述入射面平行。
此种设计方案下,如图11所示,相邻两个所述光学元件单元的入射面夹角等于0度。
方案四:如图12所示,所述设定的入射面为曲面,入射光线在入射面折射。所述曲面可以是部分球面或者凹面等。此时,如图13a-图13d所示,所述出射面可以设计为平面或者曲面,所述出射面与所述入射面组合形成一个透镜。
此种设计方案下,对应的,如图14a-图14d所示,相邻两个所述光学元件单元的入射面所对应的光轴相互平行。
综上所述,本发明提供的用于获取被拍摄物多个视角视图的光学系统,能够从光学系统的内部光线中获取被拍摄物体的多个具有视角差异的子图像,后续通过其他处理设备对多个有视角差异的子图像进行进一步处理,即可获取被拍摄物的三维空间信息。被拍摄物体处于运动状态或是静止状态都适用,且不存在同步问题,拍摄操作简单、便捷。
最后应说明的是:以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围,其均应涵盖在本发明的权利要求和说明书的范围当中。

Claims (10)

1.一种用于获取被拍摄物表面三维信息的光学系统,包括光学子系统,所述光学子系统包括多个沿光路依次设置的第一光学元件和感光元件,其特征在于:所述光学子系统的预设位置还设置有第二光学元件,被拍摄物反射的入射光线沿光路依次经过多个所述第一光学元件和所述第二光学元件后照射在所述感光元件上生成多个具有视角差异的子图像;
所述第二光学元件包括至少两个光学元件单元,所述光学元件单元具有设定的入射面和与所述入射面对应的出射面;相邻两个所述光学元件单元按设定结构并列设置。
2.根据权利要求1所述的一种用于获取被拍摄物表面三维信息的光学系统,其特征在于:所述预设位置为从被拍摄物体表面不同位置反射的入射光线在所述光学子系统内的汇聚点所组成的平面。
3.根据权利要求1所述的一种用于获取被拍摄物表面三维信息的光学系统,其特征在于:所述设定的入射面为平面,所述入射面与所述光学子系统的光轴之间的夹角不等于90度,入射光线在入射面折射;
所述出射面为平面,且所述出射面与所述入射面平行。
4.根据权利要求3所述的一种用于获取被拍摄物表面三维信息的光学系统,其特征在于:相邻两个所述光学元件单元的入射面夹角大于0度,小于180度。
5.根据权利要求1所述的一种用于获取被拍摄物表面三维信息的光学系统,其特征在于:所述设定的入射面为平面,所述入射面与所述光学子系统的光轴之间的夹角不等于90度,入射光线在入射面反射;
所述出射面为平面,且所述出射面与所述入射面不相互垂直。
6.根据权利要求5所述的一种用于获取被拍摄物表面三维信息的光学系统,其特征在于:相邻两个所述光学元件单元的入射面夹角大于0度,小于180度。
7.根据权利要求1所述的一种用于获取被拍摄物表面三维信息的光学系统,其特征在于:所述设定的入射面为平面,所述入射面表面设置有偏光膜,所述入射面与所述光学子系统的光轴之间的夹角等于90度;
所述出射面为平面,且所述出射面与所述入射面平行。
8.根据权利要求7所述的一种用于获取被拍摄物表面三维信息的光学系统,其特征在于:相邻两个所述光学元件单元的入射面夹角等于0度。
9.根据权利要求1所述的一种用于获取被拍摄物表面三维信息的光学系统,其特征在于:所述设定的入射面为曲面,入射光线在入射面折射;
所述出射面为平面或者曲面,所述出射面与所述入射面组合形成一个透镜。
10.根据权利要求9所述的一种用于获取被拍摄物表面三维信息的光学系统,其特征在于:相邻两个所述光学元件单元的入射面所对应的光轴相互平行。
CN202111524802.9A 2021-12-14 2021-12-14 一种用于获取被拍摄物表面三维信息的光学系统 Pending CN114167622A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202111524802.9A CN114167622A (zh) 2021-12-14 2021-12-14 一种用于获取被拍摄物表面三维信息的光学系统

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202111524802.9A CN114167622A (zh) 2021-12-14 2021-12-14 一种用于获取被拍摄物表面三维信息的光学系统

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN114167622A true CN114167622A (zh) 2022-03-11

Family

ID=80486325

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202111524802.9A Pending CN114167622A (zh) 2021-12-14 2021-12-14 一种用于获取被拍摄物表面三维信息的光学系统

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN114167622A (zh)

Citations (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000227332A (ja) * 1998-07-31 2000-08-15 Sony Corp 三次元撮像装置とステレオカメラ記録再生システム
CN1448043A (zh) * 2000-08-22 2003-10-08 安捷伦科技有限公司 用于带引线的集成电路的三维检测
JP2009300268A (ja) * 2008-06-13 2009-12-24 Nippon Hoso Kyokai <Nhk> 3次元情報検出装置
US20100277569A1 (en) * 2009-04-29 2010-11-04 Ke-Ou Peng Mobile information kiosk with a three-dimensional imaging effect
CN102033325A (zh) * 2009-09-24 2011-04-27 上海奇谋能源技术开发有限公司 一种立体电影电视摄像镜头装置
CN102298216A (zh) * 2010-06-25 2011-12-28 韩松 一种用于普通照相机或摄像机的立体镜头
JP2012145624A (ja) * 2011-01-07 2012-08-02 Sharp Corp 立体像撮影装置および電子機器
KR20160114947A (ko) * 2015-03-25 2016-10-06 (주)아솔 실린더리컬 렌즈를 이용한 무초점 3차원 광학 장치
FR3040798A1 (fr) * 2015-09-08 2017-03-10 Safran Camera plenoptique
CN107561089A (zh) * 2017-09-15 2018-01-09 深圳市牧激科技有限公司 内孔检测光学系统及内孔检测设备
CN108121078A (zh) * 2017-11-29 2018-06-05 樊燚 一种可拍摄多个视角的视图的镜头
CN109143767A (zh) * 2018-09-27 2019-01-04 杭州行开科技有限公司 一种基于棱镜折射分光的单镜头3d拍摄结构
JP2019045299A (ja) * 2017-09-01 2019-03-22 学校法人東京電機大学 3次元情報取得装置
CN110618480A (zh) * 2019-09-26 2019-12-27 上海科乃特激光科技有限公司 一种90°偏转的光学元件、其使用方法及应用

Patent Citations (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000227332A (ja) * 1998-07-31 2000-08-15 Sony Corp 三次元撮像装置とステレオカメラ記録再生システム
CN1448043A (zh) * 2000-08-22 2003-10-08 安捷伦科技有限公司 用于带引线的集成电路的三维检测
JP2009300268A (ja) * 2008-06-13 2009-12-24 Nippon Hoso Kyokai <Nhk> 3次元情報検出装置
US20100277569A1 (en) * 2009-04-29 2010-11-04 Ke-Ou Peng Mobile information kiosk with a three-dimensional imaging effect
CN102033325A (zh) * 2009-09-24 2011-04-27 上海奇谋能源技术开发有限公司 一种立体电影电视摄像镜头装置
CN102298216A (zh) * 2010-06-25 2011-12-28 韩松 一种用于普通照相机或摄像机的立体镜头
JP2012145624A (ja) * 2011-01-07 2012-08-02 Sharp Corp 立体像撮影装置および電子機器
KR20160114947A (ko) * 2015-03-25 2016-10-06 (주)아솔 실린더리컬 렌즈를 이용한 무초점 3차원 광학 장치
FR3040798A1 (fr) * 2015-09-08 2017-03-10 Safran Camera plenoptique
JP2019045299A (ja) * 2017-09-01 2019-03-22 学校法人東京電機大学 3次元情報取得装置
CN107561089A (zh) * 2017-09-15 2018-01-09 深圳市牧激科技有限公司 内孔检测光学系统及内孔检测设备
CN108121078A (zh) * 2017-11-29 2018-06-05 樊燚 一种可拍摄多个视角的视图的镜头
CN109143767A (zh) * 2018-09-27 2019-01-04 杭州行开科技有限公司 一种基于棱镜折射分光的单镜头3d拍摄结构
CN110618480A (zh) * 2019-09-26 2019-12-27 上海科乃特激光科技有限公司 一种90°偏转的光学元件、其使用方法及应用

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7667730B2 (en) Composite surveillance camera system
KR101207198B1 (ko) 기판 검사장치
US20030164875A1 (en) System and method for passive three-dimensional data acquisition
US6954310B2 (en) High resolution multi-lens imaging device
EP3480648A1 (en) Adaptive three-dimensional imaging system
US11978222B2 (en) Three-dimensional light field technology-based optical unmanned aerial vehicle monitoring system
US6346965B1 (en) High resolution imaging system for simultaneous acquisition of two high aspect ratio object fields
KR102214199B1 (ko) 이동 통신 단말기
JP2002191060A (ja) 3次元撮像装量
Fujigaki et al. Multi-view imaging system using paraboloidal mirror arrays for efficient acquisition of dynamic light fields
KR102031485B1 (ko) 360도 카메라와 평면 거울을 이용한 다시점 영상 획득 장치 및 방법
US20030164841A1 (en) System and method for passive three-dimensional data acquisition
CN111669565A (zh) 一种立体成像装置及其成像方法
CN114167622A (zh) 一种用于获取被拍摄物表面三维信息的光学系统
TWI674472B (zh) 具有至少三個鏡頭的全景影像擷取裝置及其全景影像擷取模組
JPH08289329A (ja) 立体画像撮像装置
US5341168A (en) Method and system for receiving and transferring images in three dimensions
Cowan et al. 360° snapshot imaging with a convex array of long-wave infrared cameras
US20110242272A1 (en) Rigid multi-directional imaging bundle and imaging assembly incorporating the same
EP2369382A1 (en) Rigid multi-directional imaging bundle and imaging assembly incorporating the same
JP3564383B2 (ja) 3次元動画入力装置
US8670033B2 (en) Momentum balance optical scanning for wide field of view optical sensors
US20220308355A1 (en) Striped mirror image splitter
JP3872250B2 (ja) 広画角撮像装置
JP4781537B2 (ja) カメラ・システムおよびディスプレイ装置

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination