CN114167188A - 一种低压盘柜的测试装置 - Google Patents

Abstract

本发明实施例公开了一种低压盘柜的测试装置。该测试装置包括：插接件、接线切换模块、测试电路和控制器；其中，接线切换模块与控制器电连接，测试电路包括多个测试模块，每个测试模块均与控制器以及接线切换模块电连接；多个测试模块中的各测试模块分别用于测试待测试低压盘柜的不同特性，控制器用于控制接线切换模块切换与待测试低压盘柜电连接的测试模块；多个测试模块包括待测试低压盘柜的主回路测试模块和控制回路测试模块，控制回路测试模块包括多个测试单元，每个测试单元均有两路电源输出端，两路电源输出端分别用于提供第一电压和第二电压。本发明实施例提供的技术方案，能够提高测试效率和可靠性。

Description

一种低压盘柜的测试装置

技术领域

本发明实施例涉及开关测试技术，尤其涉及一种低压盘柜的测试装置。

背景技术

对于配电盘，如应用在核电站的低压盘柜，需要定期进行全面检修，在检修过程中需对低压盘柜进行多种测试，如低压盘柜的回路电阻测试、绝缘测试等，以便在测试到低压盘柜有故障时，及时采取相应措施。

目前，现有的低压盘柜的测试装置，通常需要人工辅助，且对盘柜开关的不同功能需使用不同的仪器单独测试，如继电器保护校验仪、机械特性测试仪、直阻测试仪、绝缘电阻测试仪等，测试过程接线繁琐并且存在短路、错线风险，影响测试效率和可靠性。

发明内容

本发明实施例提供一种低压盘柜的测试装置，以提高测试效率和可靠性。

本发明实施例提供了一种低压盘柜的测试装置，包括：插接件、接线切换模块、测试电路和控制器；

其中，接线切换模块与控制器电连接，测试电路包括多个测试模块，每个测试模块均与控制器以及接线切换模块电连接，插接件用于连接接线切换模块与待测试低压盘柜；

多个测试模块中的各测试模块分别用于测试待测试低压盘柜的不同特性，控制器用于控制接线切换模块切换与待测试低压盘柜电连接的测试模块，以使不同的测试模块分别对待测试低压盘柜进行测试；

多个测试模块包括待测试低压盘柜的主回路测试模块和控制回路测试模块，控制回路测试模块包括多个测试单元，每个测试单元均有两路电源输出端，两路电源输出端分别用于提供第一电压和第二电压。

可选的，控制回路测试模块还包括第一开关单元，测试单元通过第一开关单元与待测试低压盘柜的控制回路电连接，第一开关单元还与控制器电连接；

控制器还用于通过第一开关单元控制待测试低压盘柜的分合闸，以使测试单元测试待测试低压盘柜的分合闸线圈阻值。

可选的，第一开关单元包括多个开关,各测试单元均连接有开关，控制器还用于控制多个开关的通断，以使测试单元输出第一电压或第二电压。

可选的，控制回路测试模块包括状态测试单元，控制器还用于控制状态测试单元与待测试低压盘柜的控制回路之间通路的通断。

可选的，主回路测试模块包括绝缘电阻单元和第二开关单元，第二开关单元与控制器电连接，绝缘电阻单元通过第二开关单元与待测试低压盘柜的主回路电连接。

可选的，第二开关单元包括多个开关，控制器还用于控制多个开关的通断，以使主回路测试模块对待测试低压盘柜的主回路进行绝缘测试和电阻测试。

可选的，多个测试模块还包括辅助触点测试模块，辅助触点测试模块用于对待测试低压盘柜的辅助触点进行通断测试。

可选的，插接件包括一次插接件和二次插接件，主回路测试模块通过一次插接件与待测试低压盘柜的主回路电连接，控制回路测试模块通过二次插接件与待测试低压盘柜的控制回路电连接。

可选的，接线切换模块包括一次接线切换模块和二次接线切换模块，一次插接件通过一次接线切换模块与主回路测试模块电连接，二次插接件通过二次接线切换模块与控制回路测试模块电连接。

可选的，第一电压为48V，第二电压为24V。

本发明实施例提供的低压盘柜的测试装置，包括插接件、接线切换模块、测试电路和控制器；其中，接线切换模块与控制器电连接，测试电路包括多个测试模块，每个测试模块均与控制器以及接线切换模块电连接，插接件用于连接接线切换模块与待测试低压盘柜；多个测试模块中的各测试模块分别用于测试待测试低压盘柜的不同特性，控制器用于控制接线切换模块切换与待测试低压盘柜电连接的测试模块，以使不同的测试模块分别对待测试低压盘柜进行测试；多个测试模块包括待测试低压盘柜的主回路测试模块和控制回路测试模块，控制回路测试模块包括多个测试单元，每个测试单元均有两路电源输出端，两路电源输出端分别用于提供第一电压和第二电压。本发明实施例提供的低压盘柜的测试装置，通过多个测试模块可对低压盘柜进行不同性能的测试，测试过程简单，不同的功能测试无需使用不同的仪器单独测试，并且无需人工辅助，从而可提高测试效率和可靠性。

附图说明

图1是本发明实施例一提供的一种低压盘柜的测试装置的结构示意图；

图2是本发明实施例一提供的一种低压盘柜的测试装置的结构框图；

图3是本发明实施例二提供的一种控制回路测试模块的结构示意图；

图4是本发明实施例三提供的一种主回路测试模块的结构示意图；

图5是本发明实施例三提供的一种辅助触点测试模块的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。

实施例一

图1是本发明实施例一提供的一种低压盘柜的测试装置的结构示意图，图2是本发明实施例一提供的一种低压盘柜的测试装置的结构框图。参考图1和图2，本实施例可适用于对低压盘柜进行测试情况，低压盘柜的测试装置包括：插接件10、接线切换模块20、测试电路30和控制器40。

其中，接线切换模块10与控制器40电连接，测试电路30包括多个测试模块，每个测试模块均与控制器40以及接线切换模块20电连接，插接件10用于连接接线切换模块20与待测试低压盘柜50；多个测试模块中的各测试模块分别用于测试待测试低压盘柜50的不同特性，控制器40用于控制接线切换模块20切换与待测试低压盘柜50电连接的测试模块，以使不同的测试模块分别对待测试低压盘柜50进行测试；多个测试模块包括待测试低压盘柜50的主回路测试模块31和控制回路测试模块32，控制回路测试模块32包括多个测试单元，每个测试单元均有两路电源输出端，两路电源输出端分别用于提供第一电压和第二电压。

具体的，测试电路30可集成在测试仪60中，当测试装置对待测试低压盘柜50进行测试时，待测试低压盘柜50可置于测试抽架70，并与插接件10连接，接线切换模块20可包括多个开关，接线切换模块20中的开关与测试模块一一对应，控制器40可控制接线切换模块20中开关的通断，从而控制与插接件10电连接的测试模块，使得不同的测试模块分别对待测试低压盘柜50进行测试。例如，当控制器40控制接线切换模块20中的一个开关导通时，该开关对应的测试模块如主回路测试模块31对待测试低压盘柜50的主回路进行测试，测试模块完成测试后可将测试过程中的测试数据传输至控制器40，控制器40控制该开关断开，以此控制其它开关的通断，使各测试模块均完成对待测试低压盘柜50的测试。

其中，控制回路测试模块32中的测试单元，可提供第一电压或第二电压至待测试低压盘柜50的控制回路，对控制回路进行测试。并且，各测试模块均可将测试得到的测试数据传输至控制器40，控制器40可对各测试模块传输的测试数据进行存储和相应的分析处理。

参考图2，可选的，插接件10包括一次插接件11和二次插接件12，主回路测试模块31通过一次插接件11与待测试低压盘柜50的主回路电连接，控制回路测试模块32通过二次插接件12与待测试低压盘柜50的控制回路电连接。

其中，主回路测试模块31包括综合保护测试单元、主回路阻值测试单元、开关机械特性测试单元和绝缘性能测试单元，主回路测试模块31中的各个测试单元均与一次插接件11电连接。控制回路测试模块32包括回路功能测试单元、辅助触点测试单元、线圈阻值测试单元和绝缘性能测试单元，控制回路测试模块32中的各个测试单元均与二次插接件12电连接。

可选的，接线切换模块20包括一次接线切换模块21和二次接线切换模块22，一次插接件11通过一次接线切换模块21与主回路测试模块31电连接，二次插接件12通过二次接线切换模块22与控制回路测试模块32电连接。

具体的，主回路测试模块31中的各个测试单元均通过一次接线切换模块21与一次插接件11电连接，控制回路测试模块32中的各个测试单元均通过二次接线切换模块22与二次插接件12电连接，以实现各测试单元对待测试低压盘柜50进行相应性能的测试。

本实施例提供的低压盘柜的测试装置，包括插接件、接线切换模块、测试电路和控制器；其中，接线切换模块与控制器电连接，测试电路包括多个测试模块，每个测试模块均与控制器以及接线切换模块电连接，插接件用于连接接线切换模块与待测试低压盘柜；多个测试模块中的各测试模块分别用于测试待测试低压盘柜的不同特性，控制器用于控制接线切换模块切换与待测试低压盘柜电连接的测试模块，以使不同的测试模块分别对待测试低压盘柜进行测试；多个测试模块包括待测试低压盘柜的主回路测试模块和控制回路测试模块，控制回路测试模块包括多个测试单元，每个测试单元均有两路电源输出端，两路电源输出端分别用于提供第一电压和第二电压。本实施例提供的低压盘柜的测试装置，通过多个测试模块可对低压盘柜进行不同性能的测试，测试过程简单，不同的功能测试无需使用不同的仪器单独测试，并且无需人工辅助，从而可提高测试效率和可靠性。

实施例二

图3是本发明实施例二提供的一种控制回路测试模块的结构示意图，参考图3，在实施例一的基础上，可选的，控制回路测试模块32还包括第一开关单元321，测试单元通过第一开关单元321与待测试低压盘柜50的控制回路电连接，第一开关单元321还与控制器40电连接；控制器40还用于通过第一开关单元321控制待测试低压盘柜50的分合闸，以使测试单元测试待测试低压盘柜的分合闸线圈阻值。

其中，控制回路测试模块32中的各测试单元均与第一开关单元321电连接。内触发J1与第一开关单元321电连接，控制器40可控制第一开关单元321的通断，并通过控制第一开关单元321的通断来控制配电盘开关即待测试低压盘柜50的分合闸，以对待测试低压盘柜50的分合闸线圈阻值进行测试。

可选的，第一开关单元321包括多个开关,各测试单元均连接有开关，控制器40还用于控制多个开关的通断，以使测试单元输出第一电压或第二电压。

具体的，图3中的各开关均可与控制器40电连接，端子J1和J3均有两路输出，可以同时输出两路控制电压即第一电压和第二电压。外触发J2的输出端J21、J22和J23分别连接至线路端6、8和7，开关K5-K11为无源控制输出点，用于控制线路的合分及其他动作。通过控制器40控制各开关的通断，可实现输出电压的切换。线路端1-2脚为第一路电源输出，开关K01-1和K01-2不动作时，电源由测试装置提供，当开关K01-1和K01-2动作时，电源由外部接入提供。当开关K01-3，K01-4动作时，控制回路测试模块32对待测试低压盘柜50的控制回路进行绝缘测试。线路端13-14脚为第二路电源输出，当开关K01-1和K01-2不动作时，电源提供第二电压如24V，当开关K01-1和K01-2动作时，电源提供第一电压如48V。当开关K02-3，K02-4动作时，进行绝缘测试。线路端6、7、8为外触发接入，开关K04-1接通时为合闸外触发，开关K04-2接通时为分闸外触发，开关K03-1和K03-2为外触发电源切换，开关K03-1和K03-2不动作时输出电压为24V，动作时输出电压为48V。当开关K04-3、K04-4、K04-5动作时，进行绝缘测试。

可选的，控制回路测试模块32包括状态测试单元，控制器40还用于控制状态测试单元与待测试低压盘柜50的控制回路之间通路的通断。

其中，状态测试单元有多个电压不同的输出端，状态测试单元的各输出端通过不同的开关与控制器40电连接，以使控制器40控制状态测试单元输出的电压大小。参考图3，状态测试单元的端子J5，J6为检测状态输入，电压范围可以是24-220V，无需考虑输入电压等级。

本实施例提供的低压盘柜的测试装置，控制回路测试模块包括多个测试单元和第一开关单元，控制回路测试模块通过测试单元和第一开关单元对待测试低压盘柜的控制回路进行测试；插接件与待测试低压盘柜匹配，并直接与接线切换模块连接，无需拆接线，集成度高，可实现各种低压盘柜的各项功能测试，并且体积小、自动化程度高，测试可靠性较高。

实施例三

图4是本发明实施例三提供的一种主回路测试模块的结构示意图，参考图4，在实施例一的基础上，可选的，主回路测试模块31包括绝缘电阻单元311和第二开关单元312，第二开关单元312与控制器40电连接(图中未示出)，绝缘电阻单元311通过第二开关单元312与待测试低压盘柜50的主回路电连接。

其中，主回路测试模块31中的绝缘电阻单元311通过第二开关单元312与待测试低压盘柜50的主回路的三相线ABC电连接，通过控制器40控制第二开关单元312的通断，实现对待测试低压盘柜50的主回路的不同位置绝缘测试。例如，根据主回路中某个位置的电压和电流确定该位置的对地电阻，若阻值超过预设阻值，则表示对地绝缘良好，若阻值低于预设阻值，则表示对地绝缘不良。主回路测试模块31还可将在测试过程中得到的测试数据如阻值传输至控制器40。其它位置的绝缘测试类似，在此不再赘述。

可选的，第二开关单元312包括多个开关，控制器40还用于控制多个开关的通断，以使主回路测试模块31对待测试低压盘柜50的主回路进行绝缘测试和电阻测试。

其中，第二开关单元312包括多个如图3所示的开关KM1、KM2、KM3，主回路测试模块31还包括开关KM4、KM5。主回路测试模块31中的开关可以是继电器，通过控制器40控制继电器的通断，对主回路进行不同的测试。如图3所示，测试时引出测试线接至插接件10，测试过程无需更换测试线。待测试中压开关50可以是断路器KM，开关KM1接通时，断路器合闸状态，此时是对断路器进行三相对地绝缘测试；开关KM3接通时，断路器合闸状态，此时是对断路器进行相间绝缘测试；开关KM1和KM2接通时，断路器分闸状态，此时是对断路器进行三相断口绝缘测试；开关KM4接通时，绝缘电阻单元311接至断路器的二次回路，对二次绝缘阻值进行测试。开关KM5接通时，可根据主回路的电压和电流确定主回路的电阻，实现对主回路的电阻测试和开关特性测试。并且，开关KM1、KM2、KM3接通时，开关KM5需断开，开关KM5接通时，开关KM1、KM2、KM3需断开。

可选的，多个测试模块还包括辅助触点测试模块，辅助触点测试模块用于对待测试低压盘柜50的辅助触点进行通断测试。

具体的，图5是本发明实施例三提供的一种辅助触点测试模块的结构示意图，图5中的开关与待测试中压开关50的辅助触点一一对应，各开关均可由控制器40控制。控制器40控制某个开关导通时，可对该开关对应的辅助触点进行通断测试。端子J4的输出端通过开关可连接至待测试中压开关50的辅助触点，线圈直阻测试可以同时检测3路，端子J7的端口J7-1为公共端，J7-2至J7-4为检测端，控制器40可控制检测端口的输出，以实现线圈直阻的测试。

本实施例提供的低压盘柜的测试装置，主回路测试模块包括绝缘电阻单元和第二开关单元，主回路测试模块通过绝缘电阻单元和第二开关单元实现对待测试低压盘柜的主回路的测试；插接件与待测试低压盘柜匹配，并直接与接线切换模块连接，无需拆接线，集成度高，可实现各种低压盘柜的各项功能测试，并且体积小、自动化程度高，测试可靠性较高。

注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整、结合和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (10)

1.一种低压盘柜的测试装置，其特征在于，包括：插接件、接线切换模块、测试电路和控制器；

其中，所述接线切换模块与所述控制器电连接，所述测试电路包括多个测试模块，每个所述测试模块均与所述控制器以及所述接线切换模块电连接，所述插接件用于连接所述接线切换模块与待测试低压盘柜；

所述多个测试模块中的各测试模块分别用于测试所述待测试低压盘柜的不同特性，所述控制器用于控制所述接线切换模块切换与所述待测试低压盘柜电连接的测试模块，以使不同的测试模块分别对所述待测试低压盘柜进行测试；

所述多个测试模块包括所述待测试低压盘柜的主回路测试模块和控制回路测试模块，所述控制回路测试模块包括多个测试单元，每个所述测试单元均有两路电源输出端，所述两路电源输出端分别用于提供第一电压和第二电压。

2.根据权利要求1所述的低压盘柜的测试装置，其特征在于，所述控制回路测试模块还包括第一开关单元，所述测试单元通过所述第一开关单元与所述待测试低压盘柜的控制回路电连接，所述第一开关单元还与所述控制器电连接；

所述控制器还用于通过所述第一开关单元控制所述待测试低压盘柜的分合闸，以使所述测试单元测试所述待测试低压盘柜的分合闸线圈阻值。

3.根据权利要求2所述的低压盘柜的测试装置，其特征在于，所述第一开关单元包括多个开关,各所述测试单元均连接有所述开关，所述控制器还用于控制所述多个开关的通断，以使所述测试单元输出所述第一电压或所述第二电压。

4.根据权利要求1所述的低压盘柜的测试装置，其特征在于，所述控制回路测试模块包括状态测试单元，所述控制器还用于控制所述状态测试单元与所述待测试低压盘柜的控制回路之间通路的通断。

5.根据权利要求1所述的低压盘柜的测试装置，其特征在于，所述主回路测试模块包括绝缘电阻单元和第二开关单元，所述第二开关单元与所述控制器电连接，所述绝缘电阻单元通过所述第二开关单元与所述待测试低压盘柜的主回路电连接。

6.根据权利要求5所述的低压盘柜的测试装置，其特征在于，所述第二开关单元包括多个开关，所述控制器还用于控制所述多个开关的通断，以使所述主回路测试模块对所述待测试低压盘柜的主回路进行绝缘测试和电阻测试。

7.根据权利要求1所述的低压盘柜的测试装置，其特征在于，所述多个测试模块还包括辅助触点测试模块，所述辅助触点测试模块用于对所述待测试低压盘柜的辅助触点进行通断测试。

8.根据权利要求1所述的低压盘柜的测试装置，其特征在于，所述插接件包括一次插接件和二次插接件，所述主回路测试模块通过所述一次插接件与所述待测试低压盘柜的主回路电连接，所述控制回路测试模块通过所述二次插接件与所述待测试低压盘柜的控制回路电连接。

9.根据权利要求8所述的低压盘柜的测试装置，其特征在于，所述接线切换模块包括一次接线切换模块和二次接线切换模块，所述一次插接件通过所述一次接线切换模块与所述主回路测试模块电连接，所述二次插接件通过所述二次接线切换模块与所述控制回路测试模块电连接。

10.根据权利要求1所述的低压盘柜的测试装置，其特征在于，所述第一电压为48V，所述第二电压为24V。

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