CN114137030A - 液态金属分布检测方法、装置、设备及可读存储介质 - Google Patents

液态金属分布检测方法、装置、设备及可读存储介质 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种液态金属分布检测方法、装置、设备及可读存储介质,液态金属分布检测方法应用于待检测装置,待检测装置包括散热器、导电液体、集成芯片和目标信号线,该方法包括:当接收到检测指令时,获取所述目标信号线的当前电压值,其中,所述散热器接地,所述目标信号线与所述导电液体接触,当所述导电液体充满所述散热器与所述集成芯片之间的目标空间时,所述目标信号线通过所述导电液体与所述散热器间接接触;若所述目标信号线的当前电压值大于或等于第一预设阈值,则确定所述目标信号线对应的目标空间液态金属分布不均匀。本发明解决了检测散热器与集成芯片之间的液态金属分布是否均匀的技术问题。

Description

液态金属分布检测方法、装置、设备及可读存储介质
技术领域
本发明涉及智能电子设备散热技术领域,尤其涉及一种液态金属分布检测方法、装置、设备及可读存储介质。
背景技术
目前的智能设备(例如,智能手机和个人电脑)对散热的要求越来越高,在现有的散热解决方案中会使用液态金属作为散热材料,并将液态金属涂布在散热器与SOC(Systemon Chip,系统级芯片)之间,若散热器与SOC之间的液态金属分布不均匀,这种情况会导致设备散热异常或者散热器挤压SOC,如何检测散热器与SOC之间的液态金属分布是否均匀成为亟待解决的技术问题。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种液态金属分布检测方法、装置、设备及可读存储介质,旨在解决如何检测散热器与SOC之间的液态金属分布是否均匀的技术问题。
此外,为实现上述目的,本发明还提供一种液态金属分布检测方法,所述液态金属分布检测方法包括以下步骤:
当接收到检测指令时,获取所述目标信号线的当前电压值,其中,所述散热器接地,所述目标信号线与所述导电液体接触,当所述导电液体充满所述散热器与所述集成芯片之间的目标空间时,所述目标信号线通过所述导电液体与所述散热器间接接触;
若所述目标信号线的当前电压值大于或等于第一预设阈值,则确定所述目标信号线对应的目标空间液态金属分布不均匀。
可选地,所述当接收到检测指令时,获取所述目标信号线的当前电压值的步骤之后,包括:
若所述目标信号线的当前电压值小于第一预设阈值且大于或等于第二预设阈值,则获取所述目标信号线的历史电压值;
根据所述当前电压值和所述历史电压值,确定所述当前电压值的变化趋势;
若所述当前电压值的变化趋势为上升趋势,则确定所述目标信号线与所述导电液体接触的位置液态金属分布不均匀;
若所述当前电压值的变化趋势为平缓趋势,则确定所述目标信号线与所述导电液体接触的位置液态金属分布均匀。
可选地,所述当接收到检测指令时,获取所述目标信号线的当前电压值的步骤之后,包括:
若所述目标信号线的当前电压值小于所述第二预设阈值,则判定所述导电液体充满所述目标信号线对应的目标空间,所述目标信号线对应的目标空间液态金属分布均匀。
可选地,所述根据所述当前电压值和所述历史电压值,确定所述当前电压值的变化趋势的步骤包括:
基于所述当前电压值和所述历史电压值,计算得到电压值离散函数;
若所述电压值离散函数的离散系数属于第一预设区间,则确定所述当前电压值的变化趋势为上升趋势;
若所述电压值离散函数的离散系数属于第二预设区间,则确定所述当前电压值的变化趋势为平缓趋势,其中,所述第一预设区间的左端点等于所述第二预设区间的右端点。
可选地,所述基于所述当前电压值和所述历史电压值,计算得到电压值离散函数的步骤包括:
基于所述历史电压值计算得到目标离散函数,根据所述目标离散函数的离散程度,确定所述当前电压值是否为异常数据;
若所述当前电压值不是所述异常数据,则基于所述当前电压值更新所述目标离散函数,并将更新后的目标离散函数作为电压值离散函数。
可选地,所述基于所述当前电压值和所述历史电压值,计算得到电压值离散函数的步骤之后,包括:
根据所述当前电压值的获取时间以及所述电压值离散函数的离散系数,估算所述导电液体分布不均匀的时间,并输出包含所述分布不均匀的时间的提示信息。
可选地,所述根据所述目标离散函数的离散程度,确定所述当前电压值是否为异常数据的步骤之后,包括:
若所述当前电压值不是所述异常数据,且所述当前电压值的变化趋势为平缓趋势,则将所述当前电压值加入所述历史电压值,并执行所述根据所述当前电压值的获取时间以及所述电压值离散函数的离散系数,估算所述导电液体分布不均匀的时间,并输出包含所述分布不均匀的时间的提示信息的步骤。
此外,为实现上述目的,本发明还提供一种液态金属分布检测装置,所述液态金属分布检测装置包括:
当前电压值获取模块,用于当接收到检测指令时,获取目标信号线的当前电压值,其中,散热器接地,所述目标信号线与导电液体接触,当所述导电液体充满所述散热器与集成芯片之间的目标空间时,所述目标信号线通过所述导电液体与所述散热器间接接触;
液态金属分布检测模块,用于若所述目标信号线的当前电压值大于或等于第一预设阈值,则确定所述目标信号线对应的目标空间液态金属分布不均匀。
此外,为实现上述目的,本发明还提供一种液态金属分布检测设备,所述液态金属分布检测设备包括:存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的液态金属分布检测程序,所述液态金属分布检测程序被所述处理器执行时实现如上述的液态金属分布检测方法的步骤。
此外,为实现上述目的,本发明还提供一种可读存储介质,所述可读存储介质上存储有液态金属分布检测程序,所述液态金属分布检测程序被处理器执行时实现如上述的液态金属分布检测方法的步骤。
此外,为实现上述目的,本发明还提供一种计算机程序产品,包括计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如上述的液态金属分布检测方法的步骤。
本发明实施例提出的一种液态金属分布检测方法、装置、设备及可读存储介质。在本发明实施例中,液态金属分布检测方法应用于待检测装置,所述待检测装置包括散热器、导电液体、集成芯片和目标信号线,其中,散热器接地,目标信号线与导电液体接触,当导电液体充满散热器与集成芯片之间的目标空间时,目标信号线通过导电液体与所述散热器间接接触,因为散热器接地,所以目标信号线与散热器间接接触的一端也接地,当待检测装置接收到检测指令时,获取目标信号线的当前电压值,进而对目标信号线的当前电压值进行判断,若目标信号线对应的目标空间的导电液体分布均匀,则目标信号线的当前电压值应接近于零,所以,若目标信号线的当前电压值大于或等于第一预设阈值,则确定目标信号线对应的目标空间液态金属分布不均匀,解决了检测散热器与集成芯片之间的液态金属是否分布均匀的技术问题。
附图说明
图1为本发明实施例提供的液态金属分布检测设备一种实施方式的硬件结构示意图;
图2为本发明液态金属分布检测方法第一实施例的流程示意图;
图3为本发明液态金属分布检测方法第二实施例的流程示意图;
图4为本发明液态金属分布检测装置一实施例的功能模块示意图。
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例,参照附图做进一步说明。
具体实施方式
应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
在后续的描述中,使用用于表示元件的诸如“模块”、“部件”或“单元”的后缀仅为了有利于本发明的说明,其本身没有特定的意义。因此,“模块”、“部件”或“单元”可以混合地使用。
本发明实施例液态金属分布检测终端(又叫终端、设备或者终端设备)可以是由散热器、导电液体、集成芯片和目标信号线组成的待检测装置,也可以是具有代码编译功能的个人电脑。
如图1所示,该终端可以包括:处理器1001,例如CPU(Central Processing Unit,中央处理器),通信总线1002,存储器1003。其中,通信总线1002用于实现这些组件之间的连接通信。存储器1003可以是高速RAM存储器,也可以是稳定的存储器(non-volatilememory),例如磁盘存储器。存储器1003可选的还可以是独立于前述处理器1001的存储装置。
本领域技术人员可以理解,图1中示出的终端结构并不构成对终端的限定,可以包括比图示更多或更少的部件,或者组合某些部件,或者不同的部件布置。
如图1所示,作为一种计算机存储介质的存储器1003中可以包括液态金属分布检测程序。
在图1所示的终端中,处理器1001可以用于调用存储器1003中存储的液态金属分布检测程序,并执行以下操作:
当接收到检测指令时,获取所述目标信号线的当前电压值,其中,所述散热器接地,所述目标信号线与所述导电液体接触,当所述导电液体充满所述散热器与所述集成芯片之间的目标空间时,所述目标信号线通过所述导电液体与所述散热器间接接触;
若所述目标信号线的当前电压值大于或等于第一预设阈值,则确定所述目标信号线对应的目标空间液态金属分布不均匀。
进一步地,处理器1001可以用于调用存储器1003中存储的液态金属分布检测程序,还执行以下操作:
若所述目标信号线的当前电压值小于第一预设阈值且大于或等于第二预设阈值,则获取所述目标信号线的历史电压值;
根据所述当前电压值和所述历史电压值,确定所述当前电压值的变化趋势;
若所述当前电压值的变化趋势为上升趋势,则确定所述目标信号线与所述导电液体接触的位置液态金属分布不均匀;
若所述当前电压值的变化趋势为平缓趋势,则确定所述目标信号线与所述导电液体接触的位置液态金属分布均匀。
进一步地,处理器1001可以用于调用存储器1003中存储的液态金属分布检测程序,还执行以下操作:
若所述目标信号线的当前电压值小于所述第二预设阈值,则判定所述导电液体充满所述目标信号线对应的目标空间,所述目标信号线对应的目标空间液态金属分布均匀。
在图1所示的终端中,处理器1001还可以用于调用存储器1003中存储的液态金属分布检测程序,执行以下操作:
基于所述当前电压值和所述历史电压值,计算得到电压值离散函数;
若所述电压值离散函数的离散系数属于第一预设区间,则确定所述当前电压值的变化趋势为上升趋势;
若所述电压值离散函数的离散系数属于第二预设区间,则确定所述当前电压值的变化趋势为平缓趋势。
进一步地,处理器1001可以用于调用存储器1003中存储的液态金属分布检测程序,还执行以下操作:
基于所述历史电压值计算得到目标离散函数,根据所述目标离散函数的离散程度,确定所述当前电压值是否为异常数据;
若所述当前电压值不是所述异常数据,则基于所述当前电压值更新所述目标离散函数,并将更新后的目标离散函数作为电压值离散函数。
进一步地,处理器1001可以用于调用存储器1003中存储的液态金属分布检测程序,还执行以下操作:
根据所述当前电压值的获取时间以及所述电压值离散函数的离散系数,估算所述导电液体分布不均匀的时间,并输出包含所述分布不均匀的时间的提示信息。
进一步地,处理器1001可以用于调用存储器1003中存储的液态金属分布检测程序,还执行以下操作:
若所述当前电压值不是所述异常数据,且所述当前电压值的变化趋势为平缓趋势,则将所述当前电压值加入所述历史电压值,并执行所述根据所述当前电压值的获取时间以及所述电压值离散函数的离散系数,估算所述导电液体分布不均匀的时间,并输出包含所述分布不均匀的时间的提示信息的步骤。
基于上述设备硬件结构,提出了本发明液态金属分布检测方法的实施例。
参照图2,在本发明液态金属分布检测方法的第一实施例中,所述液态金属分布检测方法包括:
步骤S10,当接收到检测指令时,获取所述目标信号线的当前电压值,其中,所述散热器接地,所述目标信号线与所述导电液体接触,当所述导电液体充满所述散热器与所述集成芯片之间的目标空间时,所述目标信号线通过所述导电液体与所述散热器间接接触;
在本发明实施例中,液态金属分布检测方法应用于由散热器、导电液体、集成芯片和目标信号线组成的待检测装置,其中,散热器接地,导电液体存在于散热器与集成芯片之间的目标空间,目标信号线与导电液体直接接触,当导电液体充满散热器与集成芯片之间的目标空间时,目标信号线通过导电液体与所述散热器间接接触,因为散热器接地,所以目标信号线与散热器间接接触的一端也接地,这种情况下,目标信号线两端的电压应为0,考虑到误差的存在,当导电液体充满散热器与集成芯片之间的目标空间时,目标信号线两端的电压应为一个很小的数(例如,0.5伏),本实施例中的检测指令是指,检测导电液体是否分布均匀的开始指令,当接收到检测指令时,获取目标信号线两端的电压(即,本实施例中的当前电压值),可知地,目标信号线可以为一条也可以为多条,当目标信号线存在多条时,散热器与集成芯片之间的目标空间可以分成多个子空间,其中,目标信号线的数量是子空间数量的整数倍,当目标信号线存在多条时,获取到的当前电压值也存在多个(目标信号线的数量与当前电压值的数量存在一一对应关系)。
步骤S20,若所述目标信号线的当前电压值大于或等于第一预设阈值,则确定所述目标信号线对应的目标空间液态金属分布不均匀。
当目标信号线存在多条时,目标信号线中某个信号线的当前电压值大于或等于第一预设阈值,则说明这条信号线对应的目标(子)空间液态金属分布不均匀,具体的,第一预设阈值为一个略大于0的数,例如,0.5伏特,第一预设阈值是根据多次实验得出的,经过多次实验得知,当某个信号线两端的电压值大于或等于第一预设阈值时,这个信号线对应的目标子空间液态金属分布不均匀的概率最大,因为,当目标子空间内的液态金属分布均匀(即,液态金属充满这个目标子空间)时,这个目标子空间对应的信号线可以通过液态金属与散热器间接接触,而散热器接地,这个目标子空间对应的信号线的两端电压(即,当前电压值)应接近0伏特,综上可以通过当前电压值与第一预设阈值的大小关系,判断目标信号线对应的目标空间液态金属分布是否均匀。
进一步地,在一种可行的实施例中,上述步骤S10,当接收到检测指令时,获取所述目标信号线的当前电压值,之后的步骤包括:
步骤S30,若所述目标信号线的当前电压值小于第一预设阈值且大于或等于第二预设阈值,则获取所述目标信号线的历史电压值;
步骤S40,根据所述当前电压值和所述历史电压值,确定所述当前电压值的变化趋势;
步骤S50,若所述当前电压值的变化趋势为上升趋势,则确定所述目标信号线与所述导电液体接触的位置液态金属分布不均匀;
步骤S60,若所述当前电压值的变化趋势为平缓趋势,则确定所述目标信号线与所述导电液体接触的位置液态金属分布均匀。
可以理解的是,当前电压值小于或等于第一预设电压时,本实施例还会做进一步判断以使本方案适应更多特殊场景,具体地,当当前电压值小于第一预设阈值且大于或等于第二预设阈值时,则获取目标信号线的历史电压值,其中,第二预设阈值大于0且小于第一预设阈值,例如,第一预设阈值为0.5伏特,第二预设阈值为0.1伏特。获取到目标信号线的历史电压值后,根据当前电压值和历史电压值,确定当前电压值的变化趋势,需要说明的是,由于导电液体与当前电压值具有负相关关系,即,导电液体减少,当前电压值增加,由于除人为操作之外,导电液体不会增多,所以与历史电压值相比,当前电压值不会降低,即,当前电压值的变化趋势不包括降低趋势,因此,本实施例中当前电压值的变化趋势只包括上升趋势和平缓趋势,若当前电压值的变化趋势为上升趋势,则说明当前的导电液体相较于历史来说可能有所减少,即,确定目标信号线与导电液体接触的位置存在液态金属分布不均匀的风险;若当前电压值的变化趋势为平缓趋势,则说明当前的导电液体量相较于历史来说基本持平,即,确定目标信号线与导电液体接触的位置不存在液态金属分布不均匀的风险。
进一步地,在一种可行的实施例中,上述步骤S10,当接收到检测指令时,获取所述目标信号线的当前电压值,之后的步骤还包括:
步骤a1,若所述目标信号线的当前电压值小于所述第二预设阈值,则判定所述导电液体充满所述目标信号线对应的目标空间,所述目标信号线对应的目标空间液态金属分布均匀。
已知,第二预设阈值大于0且小于第一预设阈值,因此,当目标信号线的当前电压值小于第二预设阈值时,表明导电液体充满目标信号线对应的目标空间,目标信号线对应的目标空间液态金属分布均匀。
在本实施例中,液态金属分布检测方法应用于待检测装置,所述待检测装置包括散热器、导电液体、集成芯片和目标信号线,其中,散热器接地,目标信号线与导电液体接触,当导电液体充满散热器与集成芯片之间的目标空间时,目标信号线通过导电液体与所述散热器间接接触,因为散热器接地,所以目标信号线与散热器间接接触的一端也接地,当待检测装置接收到检测指令时,获取目标信号线的当前电压值,进而对目标信号线的当前电压值进行判断,若目标信号线对应的目标空间的导电液体分布均匀,则目标信号线的当前电压值应接近于零,所以,若目标信号线的当前电压值大于或等于第一预设阈值,则确定目标信号线对应的目标空间液态金属分布不均匀,解决了检测散热器与集成芯片之间的液态金属是否分布均匀的技术问题。
进一步地,参照图3,在本发明上述实施例的基础上,提出了本发明液态金属分布检测方法的第二实施例。
本实施例是第一实施例中步骤S40细化的步骤,本实施例与本发明上述实施例的区别在于:
步骤S41,基于所述当前电压值和所述历史电压值,计算得到电压值离散函数;
步骤S42,若所述电压值离散函数的离散系数属于第一预设区间,则确定所述当前电压值的变化趋势为上升趋势;
步骤S43,若所述电压值离散函数的离散系数属于第二预设区间,则确定所述当前电压值的变化趋势为平缓趋势,其中,所述第一预设区间的左端点等于所述第二预设区间的右端点。
将历史电压值按照时间顺序绘制在电压值与时间的坐标系中,然后将当前电压值也绘制在该坐标系中,基于当前电压值和历史电压值,计算得到电压值离散函数,若导电液体在历史时长内未发生分布不均匀的情况,则电压值离散函数应是较为平缓的直线,即,电压值离散函数的斜率(即,本实施例中的离散系数)较小,由于电压值离散函数不可能呈下降趋势,所以本实施例中的离散系数大于或等于零,本实施例定义一个数值,当电压值离散函数的离散系数大于或等于这个数值时,确定当前电压值的变化趋势为上升趋势;当电压值离散函数的离散系数小于这个数值时,确定当前电压值的变化趋势为平缓趋势,假设这个数值等于1,则本实施例中的第一预设区间为[1,∞),第二预设区间是[0,1)。
进一步地,在一种可行的实施例中,上述步骤S41,基于所述当前电压值和所述历史电压值,计算得到电压值离散函数,细化的步骤包括:
步骤c1,基于所述历史电压值计算得到目标离散函数,根据所述目标离散函数的离散程度,确定所述当前电压值是否为异常数据;
步骤c2,若所述当前电压值不是所述异常数据,则基于所述当前电压值更新所述目标离散函数,并将更新后的目标离散函数作为电压值离散函数。
可以理解的是,检测导电液体分布是否均匀的检测频率如果是均匀的,例如,每天检测一次,那么历史电压值应是稳定上升或者趋于平缓的,首先,基于历史电压值计算得到目标离散函数,然后根据目标离散函数的离散程度,确定当前电压值是否为异常数据,需要说明的是,若当前电压值与目标离散函数之间的距离较远,则确定当前电压值为异常数据,这种情况下,就需要重新检测获取新的当前电压值,若当前电压值不是异常数据,则基于当前电压值和历史电压值重新计算电压值离散函数,即,基于当前电压值更新目标离散函数,并将更新后的目标离散函数作为电压值离散函数。
进一步地,在一种可行的实施例中,上述步骤S41,基于所述当前电压值和所述历史电压值,计算得到电压值离散函数,之后的步骤包括:
步骤d1,根据所述当前电压值的获取时间以及所述电压值离散函数的离散系数,估算所述导电液体分布不均匀的时间,并输出包含所述分布不均匀的时间的提示信息。
可知地,将当前电压值和历史电压值在电压值与时间的坐标系中绘制后,可计算得到电压值离散函数,基于计算得到的电压值离散函数,可估算导电液体分布不均匀的时间,并输出包含分布不均匀的时间的提示信息,具体地,若电压值离散函数为稳定上升的函数(即,电压值随着时间的推移稳定增加),则可延长电压值离散函数,并将延长后的电压值离散函数与第一预设阈值的交叉点对应的时间作为估算的导电液体分布不均匀的时间。
进一步地,在一种可行的实施例中,上述步骤c1,基于所述当前电压值和所述历史电压值,计算得到电压值离散函数,之后的步骤包括:
步骤e1,若所述当前电压值不是所述异常数据,且所述当前电压值的变化趋势为平缓趋势,则将所述当前电压值加入所述历史电压值,并执行所述根据所述当前电压值的获取时间以及所述电压值离散函数的离散系数,估算所述导电液体分布不均匀的时间,并输出包含所述分布不均匀的时间的提示信息的步骤。
可知地,若当前电压值不是异常数据,且当前电压值的变化趋势为平缓趋势,则说明当前电压值不能证明导电液体分布不均匀,这种情况下,将当前电压值加入历史电压值的记录中,以用于下一次检测时作为历史电压值数据进行分析,本实施例在将当前电压值加入历史电压值的记录中的同时,执行根据当前电压值的获取时间以及电压值离散函数的离散系数,估算导电液体分布不均匀的时间,并输出包含分布不均匀的时间的提示信息的步骤。
在本实施例中,通过对当前电压值及历史电压值进行分析,更加准确地判断出导电液体是否分布均匀,解决了准确检测散热器与集成芯片之间的液态金属是否分布均匀的技术问题。
此外,参照图4,本发明实施例还提出一种液态金属分布检测装置,所述液态金属分布检测装置包括:
当前电压值获取模块10,用于当接收到检测指令时,获取目标信号线的当前电压值,其中,散热器接地,所述目标信号线与导电液体接触,当所述导电液体充满所述散热器与集成芯片之间的目标空间时,所述目标信号线通过所述导电液体与所述散热器间接接触;
液态金属分布检测20,用于若所述目标信号线的当前电压值大于或等于第一预设阈值,则确定所述目标信号线对应的目标空间液态金属分布不均匀。
可选地,所述液态金属分布检测装置,还包括:
历史电压值获取模块,用于若所述目标信号线的当前电压值小于第一预设阈值且大于或等于第二预设阈值,则获取所述目标信号线的历史电压值;
变化趋势确定模块,用于根据所述当前电压值和所述历史电压值,确定所述当前电压值的变化趋势;
第一确定模块,用于若所述当前电压值的变化趋势为上升趋势,则确定所述目标信号线与所述导电液体接触的位置液态金属分布不均匀;
第二确定模块,用于若所述当前电压值的变化趋势为平缓趋势,则确定所述目标信号线与所述导电液体接触的位置液态金属分布均匀。
可选地,所述液态金属分布检测装置,还包括:
判定模块,用于若所述目标信号线的当前电压值小于所述第二预设阈值,则判定所述导电液体充满所述目标信号线对应的目标空间,所述目标信号线对应的目标空间液态金属分布均匀。
可选地,所述变化趋势确定模块,包括:
电压值离散函数计算单元,用于基于所述当前电压值和所述历史电压值,计算得到电压值离散函数;
第三确定单元,用于若所述电压值离散函数的离散系数属于第一预设区间,则确定所述当前电压值的变化趋势为上升趋势;
第四确定单元,用于若所述电压值离散函数的离散系数属于第二预设区间,则确定所述当前电压值的变化趋势为平缓趋势,其中,所述第一预设区间的左端点等于所述第二预设区间的右端点。
可选地,所述电压值离散函数计算单元,包括:
第五确定单元,用于基于所述历史电压值计算得到目标离散函数,根据所述目标离散函数的离散程度,确定所述当前电压值是否为异常数据;
单元,用于若所述当前电压值不是所述异常数据,则基于所述当前电压值更新所述目标离散函数,并将更新后的目标离散函数作为电压值离散函数。
可选地,所述液态金属分布检测装置,还包括:
估算模块,用于根据所述当前电压值的获取时间以及所述电压值离散函数的离散系数,估算所述导电液体分布不均匀的时间,并输出包含所述分布不均匀的时间的提示信息。
可选地,所述液态金属分布检测装置,还包括:
历史电压值更新模块,用于若所述当前电压值不是所述异常数据,且所述当前电压值的变化趋势为平缓趋势,则将所述当前电压值加入所述历史电压值,并执行所述根据所述当前电压值的获取时间以及所述电压值离散函数的离散系数,估算所述导电液体分布不均匀的时间,并输出包含所述分布不均匀的时间的提示信息的步骤。
此外,本发明实施例还提出一种可读存储介质,所述可读存储介质上存储有液态金属分布检测程序,所述液态金属分布检测程序被处理器执行时实现上述实施例提供的液态金属分布检测方法中的操作。
上述各程序模块所执行的方法可参照本发明方法各个实施例,此处不再赘述。
需要说明的是,在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体/操作/对象与另一个实体/操作/对象区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体/操作/对象之间存在任何这种实际的关系或者顺序;术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者系统不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者系统所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者系统中还存在另外的相同要素。
对于装置实施例而言,由于其基本相似于方法实施例,所以描述得比较简单,相关之处参见方法实施例的部分说明即可。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的,其中作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的。可以根据实际的需要选择中的部分或者全部模块来实现本发明方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性劳动的情况下,即可以理解并实施。
上述本发明实施例序号仅仅为了描述,不代表实施例的优劣。
通过以上的实施方式的描述,本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现,当然也可以通过硬件,但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解,本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在如上所述的一个存储介质(如ROM/RAM、磁碟、光盘)中,包括若干指令用以使得一台终端设备(可以是手机,计算机,服务器,空调器,或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的液态金属分布检测方法。
以上仅为本发明的优选实施例,并非因此限制本发明的专利范围,凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换,或直接或间接运用在其他相关的技术领域,均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种液态金属分布检测方法,其特征在于,所述液态金属分布检测方法应用于待检测装置,所述待检测装置包括散热器、导电液体、集成芯片和目标信号线,所述液态金属分布检测方法包括以下步骤:
当接收到检测指令时,获取所述目标信号线的当前电压值,其中,所述散热器接地,所述目标信号线与所述导电液体接触,当所述导电液体充满所述散热器与所述集成芯片之间的目标空间时,所述目标信号线通过所述导电液体与所述散热器间接接触;
若所述目标信号线的当前电压值大于或等于第一预设阈值,则确定所述目标信号线对应的目标空间液态金属分布不均匀。
2.如权利要求1所述的液态金属分布检测方法,其特征在于,所述当接收到检测指令时,获取所述目标信号线的当前电压值的步骤之后,包括:
若所述目标信号线的当前电压值小于第一预设阈值且大于或等于第二预设阈值,则获取所述目标信号线的历史电压值;
根据所述当前电压值和所述历史电压值,确定所述当前电压值的变化趋势;
若所述当前电压值的变化趋势为上升趋势,则确定所述目标信号线与所述导电液体接触的位置液态金属分布不均匀;
若所述当前电压值的变化趋势为平缓趋势,则确定所述目标信号线与所述导电液体接触的位置液态金属分布均匀。
3.如权利要求2所述的液态金属分布检测方法,其特征在于,所述当接收到检测指令时,获取所述目标信号线的当前电压值的步骤之后,还包括:
若所述目标信号线的当前电压值小于所述第二预设阈值,则判定所述导电液体充满所述目标信号线对应的目标空间,所述目标信号线对应的目标空间液态金属分布均匀。
4.如权利要求2所述的液态金属分布检测方法,其特征在于,所述根据所述当前电压值和所述历史电压值,确定所述当前电压值的变化趋势的步骤,包括:
基于所述当前电压值和所述历史电压值,计算得到电压值离散函数;
若所述电压值离散函数的离散系数属于第一预设区间,则确定所述当前电压值的变化趋势为上升趋势;
若所述电压值离散函数的离散系数属于第二预设区间,则确定所述当前电压值的变化趋势为平缓趋势,其中,所述第一预设区间的左端点等于所述第二预设区间的右端点。
5.如权利要求4所述的液态金属分布检测方法,其特征在于,所述基于所述当前电压值和所述历史电压值,计算得到电压值离散函数的步骤,包括:
基于所述历史电压值计算得到目标离散函数,根据所述目标离散函数的离散程度,确定所述当前电压值是否为异常数据;
若所述当前电压值不是所述异常数据,则基于所述当前电压值更新所述目标离散函数,并将更新后的目标离散函数作为电压值离散函数。
6.如权利要求5所述的液态金属分布检测方法,其特征在于,所述基于所述当前电压值和所述历史电压值,计算得到电压值离散函数的步骤之后,包括:
根据所述当前电压值的获取时间以及所述电压值离散函数的离散系数,估算所述导电液体分布不均匀的时间,并输出包含所述分布不均匀的时间的提示信息。
7.如权利要求6所述的液态金属分布检测方法,其特征在于,所述根据所述目标离散函数的离散程度,确定所述当前电压值是否为异常数据的步骤之后,包括:
若所述当前电压值不是所述异常数据,且所述当前电压值的变化趋势为平缓趋势,则将所述当前电压值加入所述历史电压值,并执行所述根据所述当前电压值的获取时间以及所述电压值离散函数的离散系数,估算所述导电液体分布不均匀的时间,并输出包含所述分布不均匀的时间的提示信息的步骤。
8.一种液态金属分布检测装置,其特征在于,所述液态金属分布检测装置包括:
当前电压值获取模块,用于当接收到检测指令时,获取目标信号线的当前电压值,其中,散热器接地,所述目标信号线与导电液体接触,当所述导电液体充满所述散热器与集成芯片之间的目标空间时,所述目标信号线通过所述导电液体与所述散热器间接接触;
液态金属分布检测模块,用于若所述目标信号线的当前电压值大于或等于第一预设阈值,则确定所述目标信号线对应的目标空间液态金属分布不均匀。
9.一种液态金属分布检测设备,其特征在于,所述液态金属分布检测设备包括:存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的液态金属分布检测程序,所述液态金属分布检测程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的液态金属分布检测方法的步骤。
10.一种可读存储介质,其特征在于,所述可读存储介质上存储有液态金属分布检测程序,所述液态金属分布检测程序被处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的液态金属分布检测方法的步骤。
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