CN114113135A - 一种区分玻璃盖板上下表面异物缺陷的方法 - Google Patents

一种区分玻璃盖板上下表面异物缺陷的方法 Download PDF

Info

Publication number
CN114113135A
CN114113135A CN202111269235.7A CN202111269235A CN114113135A CN 114113135 A CN114113135 A CN 114113135A CN 202111269235 A CN202111269235 A CN 202111269235A CN 114113135 A CN114113135 A CN 114113135A
Authority
CN
China
Prior art keywords
camera
linear
line
scan camera
cover plate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN202111269235.7A
Other languages
English (en)
Inventor
李军
陶平
田永军
李伟
徐智忠
陈馨馨
陈永超
孟鹏飞
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Beijing C&w Technology Development Co ltd
Original Assignee
Beijing C&w Technology Development Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Beijing C&w Technology Development Co ltd filed Critical Beijing C&w Technology Development Co ltd
Priority to CN202111269235.7A priority Critical patent/CN114113135A/zh
Publication of CN114113135A publication Critical patent/CN114113135A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
    • G01N2021/0106—General arrangement of respective parts
    • G01N2021/0112—Apparatus in one mechanical, optical or electronic block
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N2021/9513—Liquid crystal panels

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

本发明涉及一种区分玻璃盖板上下表面异物缺陷的方法，包括以下步骤，S1安装相机和光源，被测物上下两侧分别设置有第一线扫相机和第二线扫相机，第一线扫相机与被测物之间设置有第一组合线阵光源，第二线扫相机与被测物之间设置有第二组合线阵光源，S2调节第一线扫相机和第二线扫相机，使其第一线扫相机和第二线扫相机拍摄画面完全重合，S3调节第一组合线阵光源和第二组合线阵光源，使其第一线扫相机和第二线扫相机能够采集多种光场图像，S4将标定板置于被测物表面，S5通过第一线扫相机和第二线扫相机在各个光场中采集二十张以上标定板在相机视野不同位置的图像，S6通过标定算法处理步骤S5中获取的图像，得到各个光场下的相机标定参数。

Description

一种区分玻璃盖板上下表面异物缺陷的方法
技术领域
本发明涉及液晶显示面板检测领域，尤其是涉及一种区分玻璃盖板上下表面异物缺陷的方法。
背景技术
玻璃盖板作为液晶显示产品中重要组成器件，其市场需求量越来越大，仅手机玻璃盖板每年出货量就达到20亿片/年。作为智能终端产品最重要的构成部件之一，玻璃盖板的制造拥有巨大的市场存量以及增长潜力，是众多国家和企业争夺的焦点，其中外观检测作为玻璃盖板生产的最后一道工序，是产品品质控制的关键。
在玻璃盖板检测中，玻璃盖板外观缺陷种类繁多，异物缺陷较为特殊，根据异物所处位置，判定该异物是否为不良缺陷，若异物处于上表面(用户面)，判定为非不良缺陷，若异物处于下表面(贴合面)，则判定为不良缺陷，若能将上下表面异物进行区分，可将异物位于上表面的产品判定为良品，因此可以提高产品良率，减少成本损失。
为满足产线的生产能力要求，现有玻璃盖板检测设备产能要求3～5秒/片,玻璃盖板的最小厚度达到0.4mm，已有视觉检测手段很难既将上下表面异物区分出来，又能满足实际产线检测速度。申请号201721549921.9，发明名称为“一种检测并区分透明玻璃盖板上下表面缺陷的装置”的中国专利描述一种区分透明玻璃上下表面的缺陷，其原理是利用景深方法，通过低景深、大倍率镜头进行检测，要求镜头景深要小于盖板厚度，但此方法检测效率非常低，很难在实际生产线中实现；申请号201910413461.4，发明名称“一种玻璃表面异物与内部异物区分方法”的中国专利描述一种区分玻璃表面异物和内部异物的方法，其原理是通过明暗场图片对缺陷的位置和亮暗状态进行区分，但此方法无法区分上下表面异物缺陷。
因此，本领域技术人员致力于开发一种区分玻璃盖板上下表面异物缺陷的方法，不但能区分玻璃盖板上下表面的异物或缺陷，且检测快速高效。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种区分玻璃盖板上下表面异物缺陷的方法，不但能区分玻璃盖板上下表面的异物或缺陷，且检测快速高效。
本发明解决上述技术问题的技术方案如下：一种区分玻璃盖板上下表面异物缺陷的方法，包括以下步骤：
S1安装相机和光源，被测物上下两侧分别设置有第一线扫相机和第二线扫相机，第一线扫相机与被测物之间设置有第一组合线阵光源，第二线扫相机与被测物之间设置有第二组合线阵光源；
S2调节第一线扫相机和第二线扫相机，使其第一线扫相机和第二线扫相机拍摄画面完全重合；
S3调节第一组合线阵光源和第二组合线阵光源，使其第一线扫相机和第二线扫相机能够采集多种光场图像；
S4将标定板置于被测物表面；
S5通过第一线扫相机和第二线扫相机在各个光场中采集二十张以上标定板在相机视野不同位置的图像；
S6通过标定算法处理步骤S5中获取的图像，得到各个光场下的相机标定参数；
S7将待测产品通过检测系统图像采集，得到多种光场图像；
S8通过算法处理步骤S7中获取的光场图像确定玻璃盖板缺陷在何种光场中能够被识别；
S9对步骤S8中能够识别玻璃盖板缺陷的光场的图片与步骤S6中获取的相机标定参数进行双目算法视觉处理，得到视觉差并判断缺陷位置。
本发明的有益效果是：通过线扫切换技术，并一次性拍摄多种光场图像，与标定物进行对比，并通过双目视觉原理，搭建双目线扫方案，能够准确检测异物并判断异物所处位置，不但检测效率高，且检测精度较高。
在上述技术方案的基础上，本发明还可以做如下改进。
进一步，步骤S3中，所述第一线扫相机和所述第二线扫相机分别获取四种光场图像，分别为反射明场、透射明场、反射暗场，透射暗场。
采用上述进一步方案的有益效果是线扫相机获取不同的光场的图像，并通过不同的光场进行处理，不同的异物或缺陷在不同的光场下呈现不同的结构或形状，从而更精确的判断出何种异物或缺陷，同时可一次性检测多种异物或缺陷，检测效率高。
进一步，步骤S1中，所述第一线扫相机和所述第二线扫相机沿被测物中心线对称；所述第一组合线阵光源和所述第二组合线阵光源沿被测物中心线对称。
采用上述进一步方案的有益效果是各线扫相机和各组合线阵光源沿被测物中心线对称，使其获取的画面重合，便于进一步的判定异物或缺陷的位置。
进一步，步骤S6中，相机标定参数包括所述第一线扫相机和所述第二线扫相机与被测物之间的工作距离和工作角度。
采用上述进一步方案的有益效果是第一线扫相机和第二线扫相机与被测物之间的工作距离和工作角度便于快速确定缺陷或异物的具体位置，进而提高检测效率。
进一步，步骤S6中，相机标定参数包括所述第一组合线阵光源和所述第二组合线阵光源与被测物之间的工作距离和工作角度。
采用上述进一步方案的有益效果是第一组合线阵光源和第二组合线阵光源与被测物之间的工作距离和工作角度便于快速确定缺陷或异物的具体位置，进而提高检测效率。
进一步，步骤S4中，所述标定板的面积大于相机视野的1/4。
采用上述进一步方案的有益效果是标定板的面积大于相机视野的1/4，便于确定相机标定参数，进而提高检测效率和精度。
进一步，所述第一组合线阵光源和所述第二组合线阵光源均包括至少三个透射线光源。
采用上述进一步方案的有益效果是多个投射线光源使其组合线阵光源照射在被测物表面时，呈现多个不同的光场，从而便于各线扫相机获取图像并进行进一步处理。
进一步，还包括控制器，所述控制器与各组合线阵光源和各线扫相机连接，所述控制器控制各所述透射线光源发光时间和工作顺序。
采用上述进一步方案的有益效果是控制器控制各线光源发光时间和工作顺序，进而便于各线扫相机获取画面。
附图说明
图1为本发明一具体实施例结构图；
图2为本发明一具体实施例流程示意图。
附图中，各标号所代表的部件列表如下：
1、第一线扫相机；2、第一组合线阵光源；3、被测物；4、第二组合线阵光源；5、第二线扫相机。
具体实施方式
以下结合附图对本发明的原理和特征进行描述，所举实例只用于解释本发明，并非用于限定本发明的范围。
在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“长度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“内”、“外”、“周侧”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的系统或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
在本发明的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。
在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
如图1、图2所示，一种区分玻璃盖板上下表面异物缺陷的方法，针对玻璃盖板上下表面异物或盖板与光学胶(OCA)之间异物，单一光场图片很难将所有缺陷全部检出，此方案利用线扫切换技术，通过一次拍摄完成多种光场图像采集并检测，并通过双目视觉原理，搭建双目线扫方案，能够准确检测异物并判断异物所处位置，并且检测速度可达产线实际生产要求，包括以下步骤：
S1安装相机和光源，被测物3上下两侧分别设置有第一线扫相机1和第二线扫相机5，第一线扫相机1与被测物3之间设置有第一组合线阵光源2，第二线扫相机5与被测物3之间设置有第二组合线阵光源4。具体实施例中，第一线扫相机1和第二线扫相机5沿被测物3中心线对称，第一组合线阵光源2和第二组合线阵光源4沿被测物3中心线对称，各线扫相机和组合阵线沿被测物3中心线对称，便于后续调节、标定和计算。
第一组合线阵光源2和第二组合线阵光源4均包括至少三个透射线光源，透射线光源发出的光均呈白色。
还包括控制器，控制器与各组合线阵光源和各线扫相机连接，控制器控制各透射线光源发光时间和工作顺序，多个透射线光源便于呈现多种不同的光场，不同的异物或缺陷在不同的光场下呈现不同的结构或形状，便于后续各线扫相机获取的图像进行处理。
S2调节第一线扫相机1和第二线扫相机5，使其第一线扫相机1和第二线扫相机5拍摄画面完全重合，便于后续标定和计算。
S3调节第一组合线阵光源2和第二组合线阵光源4，使其第一线扫相机1和第二线扫相机5能够采集多种光场图像，第一线扫相机1和第二线扫相机5分别获取四种光场图像，分别为反射明场、透射明场、反射暗场，透射暗场，便于后续对不同光场图像进行抽取和对比。
S4将标定板置于被测物表面，具体实施例中，根据标定方法选择标定板类型，根据检测视野和检测精度，确定标定板的大小，标定板的面积大于相机视野的1/4，且标定板置于被测物3表面时，保证紧密贴合，无缝隙。
S5通过第一线扫相机1和第二线扫相机5在各个光场中采集二十张以上标定板在相机视野不同位置的图像。
S6通过标定算法处理步骤S5中获取的图像，得到各个光场下的相机标定参数；相机标定参数包括第一线扫相机1和第二线扫相机5与被测物3之间的工作距离和工作角度。相机标定参数包括第一组合线阵光源2和第二组合线阵光源4与被测物3之间的工作距离和工作角度，进而完成四种光场图像的采集，一旦确定上述参数，标定过程中以及标定完成后，都不允许更改，否则需要重新标定。
S7将待测产品通过检测系统图像采集，得到多种光场图像，具体采集过程中，采集四种光场图像，即为反射明场图像、透射明场图像、反射暗场图像，透射暗场图像。
S8通过算法处理步骤S7中获取的光场图像确定玻璃盖板缺陷在何种光场中能够被识别，并将能够识别的图像提取。
S9对步骤S8中能够识别玻璃盖板缺陷的光场的图片与步骤S6中获取的相机标定参数进行双目算法视觉处理，得到视觉差并判断缺陷位置。
在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。
以上所述仅为本发明的较佳实施例，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种区分玻璃盖板上下表面异物缺陷的方法，其特征在于，包括以下步骤：
S1安装相机和光源，被测物上下两侧分别设置有第一线扫相机和第二线扫相机，第一线扫相机与被测物之间设置有第一组合线阵光源，第二线扫相机与被测物之间设置有第二组合线阵光源；
S2调节第一线扫相机和第二线扫相机，使其第一线扫相机和第二线扫相机拍摄画面完全重合；
S3调节第一组合线阵光源和第二组合线阵光源，使其第一线扫相机和第二线扫相机能够采集多种光场图像；
S4将标定板置于被测物表面；
S5通过第一线扫相机和第二线扫相机在各个光场中采集二十张以上标定板在相机视野不同位置的图像；
S6通过标定算法处理步骤S5中获取的图像，得到各个光场下的相机标定参数；
S7将待测产品通过检测系统图像采集，得到多种光场图像；
S8通过算法处理步骤S7中获取的光场图像确定玻璃盖板缺陷在何种光场中能够被识别；
S9对步骤S8中能够识别玻璃盖板缺陷的光场的图片与步骤S6中获取的相机标定参数进行双目算法视觉处理，得到视觉差并判断缺陷位置。
2.根据权利要求1所述的区分玻璃盖板上下表面异物缺陷的方法，其特征在于：步骤S3中，所述第一线扫相机和所述第二线扫相机分别获取四种光场图像，分别为反射明场、透射明场、反射暗场，透射暗场。
3.根据权利要求1所述的区分玻璃盖板上下表面异物缺陷的方法，其特征在于：步骤S1中，所述第一线扫相机和所述第二线扫相机沿被测物中心线对称；所述第一组合线阵光源和所述第二组合线阵光源沿被测物中心线对称。
4.根据权利要求1所述的区分玻璃盖板上下表面异物缺陷的方法，其特征在于：步骤S6中，相机标定参数包括所述第一线扫相机和所述第二线扫相机与被测物之间的工作距离和工作角度。
5.根据权利要求1所述的区分玻璃盖板上下表面异物缺陷的方法，其特征在于：步骤S6中，相机标定参数包括所述第一组合线阵光源和所述第二组合线阵光源与被测物之间的工作距离和工作角度。
6.根据权利要求1所述的区分玻璃盖板上下表面异物缺陷的方法，其特征在于：步骤S4中，所述标定板的面积大于相机视野的1/4。
7.根据权利要求1所述的区分玻璃盖板上下表面异物缺陷的方法，其特征在于：所述第一组合线阵光源和所述第二组合线阵光源均包括至少三个透射线光源。
8.根据权利要求7所述的区分玻璃盖板上下表面异物缺陷的方法，其特征在于：还包括控制器，所述控制器与各组合线阵光源和各线扫相机连接，所述控制器控制各所述透射线光源发光时间和工作顺序。
CN202111269235.7A 2021-10-29 2021-10-29 一种区分玻璃盖板上下表面异物缺陷的方法 Pending CN114113135A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202111269235.7A CN114113135A (zh) 2021-10-29 2021-10-29 一种区分玻璃盖板上下表面异物缺陷的方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202111269235.7A CN114113135A (zh) 2021-10-29 2021-10-29 一种区分玻璃盖板上下表面异物缺陷的方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN114113135A true CN114113135A (zh) 2022-03-01

Family

ID=80379395

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202111269235.7A Pending CN114113135A (zh) 2021-10-29 2021-10-29 一种区分玻璃盖板上下表面异物缺陷的方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN114113135A (zh)

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20070216897A1 (en) * 2004-11-24 2007-09-20 Asahi Glass Co., Ltd. Defect inspection method and apparatus for transparent plate-like members
US20070263206A1 (en) * 2006-05-12 2007-11-15 Leblanc Philip Robert Apparatus and method for characterizing defects in a transparent substrate
CN204359710U (zh) * 2014-12-29 2015-05-27 武汉中导光电设备有限公司 一种玻璃表面缺陷检测装置
CN106093068A (zh) * 2016-08-10 2016-11-09 武汉科技大学 锂电池极片表面缺陷检测装置的成像系统及其使用方法
CN111624206A (zh) * 2020-07-03 2020-09-04 东北大学 基于线阵相机立体视觉的金属表面缺陷检测方法
CN112557408A (zh) * 2021-02-25 2021-03-26 中科慧远视觉技术(北京)有限公司 频闪阶梯照明缺陷检测系统
CN113245241A (zh) * 2021-06-17 2021-08-13 苏州中科行智智能科技有限公司 一种基于机器视觉的载玻片缺陷检测方法

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20070216897A1 (en) * 2004-11-24 2007-09-20 Asahi Glass Co., Ltd. Defect inspection method and apparatus for transparent plate-like members
US20070263206A1 (en) * 2006-05-12 2007-11-15 Leblanc Philip Robert Apparatus and method for characterizing defects in a transparent substrate
CN204359710U (zh) * 2014-12-29 2015-05-27 武汉中导光电设备有限公司 一种玻璃表面缺陷检测装置
CN106093068A (zh) * 2016-08-10 2016-11-09 武汉科技大学 锂电池极片表面缺陷检测装置的成像系统及其使用方法
CN111624206A (zh) * 2020-07-03 2020-09-04 东北大学 基于线阵相机立体视觉的金属表面缺陷检测方法
CN112557408A (zh) * 2021-02-25 2021-03-26 中科慧远视觉技术(北京)有限公司 频闪阶梯照明缺陷检测系统
CN113245241A (zh) * 2021-06-17 2021-08-13 苏州中科行智智能科技有限公司 一种基于机器视觉的载玻片缺陷检测方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102023164B (zh) 用于检测透明平板的局部缺陷的装置和方法
CN105511123B (zh) 一种基于机械手臂的高精度自动光学检测系统及方法
CN104081192B (zh) 一种对玻璃多层面摄像的摄像装置及其方法
CN105842885B (zh) 一种液晶屏缺陷分层定位方法及装置
CA2787124C (en) Cell characterization using multiple focus planes
CN106093068A (zh) 锂电池极片表面缺陷检测装置的成像系统及其使用方法
US10060858B2 (en) Device and method for measuring distortion defects in a manufactured float glass strip
CN213456719U (zh) 曲面屏缺陷的检测装置
CN112730463B (zh) 基于同轴光栅光源检测玻璃盖板缺陷的装置及方法
CN109406527B (zh) 一种微型摄像模组镜头精细外观缺陷检测系统及方法
CN107764841B (zh) 一种检测并区分透明玻璃盖板上下表面缺陷的装置及方法
CN110208269A (zh) 一种玻璃表面异物与内部异物区分的方法及系统
WO2015014067A1 (zh) 液晶屏的质量检测方法、装置及设备
CN110596139A (zh) 一种屏缺陷检测方法和系统
CN109596054A (zh) 长条形工件的尺寸检测识别方法
CN113030095A (zh) 一种偏光片外观缺陷检测系统
CN108169240A (zh) 泡沫镍表面缺陷检测装置
KR20230108774A (ko) 레이저 거리 측정기 및 스테레오 카메라를 이용하여 이차전지용 전극의 결함을 검출하기 위한 비젼 검사 시스템
CN114113135A (zh) 一种区分玻璃盖板上下表面异物缺陷的方法
CN117092127A (zh) 一种覆防蓝光保护膜上下层缺陷检测装置和检测方法
CN115598136A (zh) 屏幕涂胶质量的检测装置
CN115901750A (zh) 一种玻璃检测方法
CN113588222B (zh) 一种墨色一致性检测装置及方法
CN211697564U (zh) 滤光片检测设备
CN210401907U (zh) 一种液晶显示屏光学检测系统

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination