CN114100710B - 一种芯片检测样本定量注样的系统装置、方法与用途 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种芯片检测样本定量注样的系统装置、方法与用途，所述的系统装置用于将定量的检测样本注入芯片的间隙腔内，所述的系统装置包括样本定量组件与注液腔室，所述的样本定量组件包括本体，所述本体内设有定量腔室，所述的注液腔室包括敞口的壳体，所述壳体内设有隔板，所述的隔板将壳体分为第一腔室与第二腔室，所述第一腔室内注入检测样本，将所述样本定量组件置于注液腔室，并持续下压，所述本体伸入第一腔室内进行定量注样。本发明无需额外定量工具，对检测样本进行定量注入，从而实现芯片注样的自动化，减少对额外定量工具的依赖，使得操作更便捷灵活。
Description
技术领域
本发明属于微流控芯片技术领域，涉及芯片内的定量注样，尤其涉及一种芯片检测样本定量注样的系统装置、方法与用途。
背景技术
在聚合酶链式反应(PCR)反应过程中，检测样本需要在样本采集处理后，由检测人员在使用芯片时添加，通常检测样本收集在采集管中，需注入数字微流控芯片中的样本量是一定的，若通过移液器、滴管等液体定量工具从采集管中定量取出再注入芯片样本入口，增加用户的操作步骤，且使数字微流控芯片的使用场景受到极大局限。
CN109652298A公开了一种基于微流控芯片的液滴PCR扩增检测装置，该装置包括液滴微流控芯片、XYZ运动单元、PCR扩增单元、检测单元。含有DNA分子的液滴生成后，通过移液枪导入液滴微流控芯片中，将芯片置于液滴PCR扩增单元中进行PCR扩增反应。
CN107831811A公开了一种微纳米纤维素的微流道流动控制装置及控制方法，装置包括：注射泵、注射部分、加样塞、微流控芯片、密封膜等，其中注射泵定量控制注射微纳米纤维素悬浮液的流量大小；注射部分用于包含有微纳米纤维素的悬浮液并将微纳米纤维素悬浮液注射入微流控芯片内。
CN112271416A公开了一种利用储液杯注入电解液的锂电池注液装置及制造方法，其结构包括电池壳体、模托和储液杯等，该储液杯与模托之间设有可拆式连接的锁定组件，储液杯与电池壳体顶部之间设有受锁定组件连接而形成密封的注液腔，储液杯内设有定量储存电解液的储液腔，该储液腔内的电解液能受外界压力加压先进入注液腔，再经注液孔一次性注入电池壳体内。
传统的PCR反应一旦启动无法在中途新增反应组，全手动式操作耗时耗力，数字微流控芯片采用电润湿技术原理，通过电势调控固、液表面能，并利用表面能的不平衡状态驱动液体产生移动，从而达到对微液体的精确操控，极大地依赖于注射泵，成本较高。
发明内容
针对现有技术存在的不足，本发明的目的在于提供一种芯片检测样本定量注样的系统装置、方法与用途，使用过程中可通过自带的样本定量组件完成对所需检测样本的定量提取，无需额外定量工具，对检测样本进行定量注入，从而实现芯片注样的自动化，减少对额外定量工具的依赖，使得操作更便捷灵活。
为达此目的，本发明采用以下技术方案：
第一方面，本发明提供了一种芯片检测样本定量注样的系统装置，用于将定量的检测样本注入芯片的间隙腔内，所述的系统装置包括样本定量组件与注液腔室，所述的样本定量组件包括本体，所述本体内设有定量腔室，所述的注液腔室包括敞口的壳体，所述壳体内设有隔板，所述的隔板将壳体分为第一腔室与第二腔室，所述第一腔室内注入检测样本，将所述样本定量组件置于注液腔室，并持续下压，所述本体伸入第一腔室内进行定量注样。
本发明提供的一种芯片检测样本定量注样的系统装置在使用过程中可通过自带的样本定量组件完成对所需检测样本的定量提取，无需额外定量工具，对检测样本进行定量注入，从而实现芯片注样的自动化，减少对额外定量工具的依赖，使得操作更便捷灵活。
本发明中可通过调整壳体和本体的尺寸以满足不同体系的检测样本量需求，从而实现更大或更小液体量的定量注样功能。
需要说明的是，本发明中提供的第一腔室起到定量注样的作用，第二腔室起到溢流液存储的作用；本发明对于隔板、第一腔室与第二腔室的结构及组合方式不作具体限定或特殊要求，示例性地，当隔板采用空心的柱体，则壳体分为柱体内的第一腔室与柱体外的第二腔室，其中第一腔室与第二腔室为包含关系，进样柱位于第一腔室内；当隔板采用竖立板，则壳体分为并排设置的第一腔室与第二腔室，可在第一腔室与第二腔室连接处设置缺口，进而实现检测样本的溢流。
作为本发明一个优选技术方案，所述第一腔室内设置有连通间隙腔的至少一个进样柱，在定量注样过程中，持续下压样本定量组件，所述进样柱伸入定量腔室内。
本发明中的进样柱可以与壳体一体成型，也可以是单独的构件装配在壳体底部。
优选地，所述的注液腔室还包括贯通所述进样柱的注样通道，所述的注样通道连接芯片的间隙腔。
需要说明的是，本发明中对注样通道的结构不作具体限定或特殊要求，示例性地，可以选择采用贯通进样柱的直孔或斜孔，或者在进样柱内装配管状配件等。
优选地，所述注样通道靠近间隙腔的一端设有导向缺口。
优选地，所述壳体靠近敞口端的内壁设有排气长槽。
需要说明的是，本发明中排气长槽的长度与本体高度相匹配，应保证样本定量组件下压至壳体底部时，排气结束，从而溢出的液体被密封在第二腔室内。
作为本发明一个优选技术方案，所述本体伸入壳体的一端设置密封件。
需要说明的是，在定量注样过程中，本体伸入第一腔室内，并通过密封件与第一腔室形成密封环境，使得液体被挤压后只能从注样通道流出。
优选地，所述本体的外壁开设凹槽，所述密封件设置于所述的凹槽内。
优选地，所述的密封件为“O”型密封圈。
需要说明的是，本发明中注样开始时，样本定量组件受到下压力缓慢匀速下降，当“O”型圈开始进入第一腔室时，第一腔室内多余的检测样本被本体挤压，并溢流至第二腔室内，继续下降至“O”型圈完全进入第一腔室时，形成密封环境，第一腔室内的检测样本量基本恒定，随着持续下压，检测样本进入注样通道并进入芯片间隙腔内，本体下压至第一腔室底部时，完成定量注样。
本发明中的本定量组件可预先存放在芯片壳空置区或随芯片一起包装，待检测样本初步滴入后放置于注液腔室上。
作为本发明一个优选技术方案，所述的样本定量组件还包括用于固定所述本体的底座，在注样过程中，所述底座的边缘与壳体的内壁过盈配合实现密封。
需要说明的是，本发明中将装配好密封件的样本定量组件放置于注液腔室中，需确保水平放置，样本定量组件的底座在下压过程中与壳体的内壁有过盈量，起到二次密封作用。
优选地，所述底座靠近所述本体一侧的表面还设有导向件。
优选地，所述本体与导向件之间留有空隙，在注样过程中，所述隔板逐渐伸入所述空隙中。
需要说明的是，本发明中的导向件使得样本定量组件垂直下降，避免本体发生偏移或倾斜导致注液出现偏差，或卡住无法下压的情况。
优选地，所述底座表面开设有排气通孔。
优选地，所述底座外缘设有排气缺口。
需要说明的是，本领域技术人员可根据具体情况，选择在底座表面开设有排气通孔和/或底座外缘设有排气缺口的方式进行排气。
作为本发明一个优选技术方案，所述进样柱高于所述隔板。
优选地，所述进样柱的外壁与所述定量腔室的内壁之间留有间隙，检测样本在所述间隙内流通。
作为本发明一个优选技术方案，所述隔板靠近样本定量组件的一侧表面开设有台阶槽。
需要说明的是，本发明中隔板顶部的台阶槽起到缓冲的作用。
优选地，所述台阶槽沿所述本体伸入第一腔室的方向分为第一凹槽与第二凹槽，所述第一凹槽的宽度大于所述第二凹槽的宽度，检测样本位于所述第一凹槽与第二凹槽的对接处。
需要说明的是，本发明提供的系统装置在开始注样前，将检测样本注入注液腔室的第一腔室内，检测样本量滴至第一凹槽与第二凹槽的对接处，此时由于进样柱高于第一腔室，液体暂无法进入注样通道，随后进行注样过程中，样本定量组件下压，部分的检测样本逐渐被挤压至进样柱与定量腔室之间，再进入注样通道，并流入间隙腔中。
第二方面，本发明提供了一种芯片检测样本定量注样的方法，所述的方法采用第一方面所述的系统装置，所述的方法包括：
第一腔室内注入检测样本，将样本定量组件置于注液腔室内，持续下压样本定量组件，本体由壳体的敞口端送入第一腔室内，第一腔室内的部分检测样本溢流至第二腔室中，进入定量腔室内的检测样本流入间隙腔中实现定量注样。
作为本发明一个优选技术方案，所述的定量注样具体包括：
持续下压样本定量组件，所述进样柱逐渐伸入定量腔室内，将检测样本挤入进样柱与定量腔室的间隙，随后通过注样通道流入间隙腔中。
优选地，所述的方法包括利用采集管向第一腔室内注入检测样本。
优选地，所述下压本体包括采用电机或升降机构实现自动化下压。
作为本发明一个优选技术方案，所述的方法还包括在定量注样过程中进行排气。
优选地，采用底座表面开设的排气通孔进行排气。
优选地，采用底座外缘设有排气缺口进行排气。
优选地，采用壳体内壁的排气长槽进行排气。
示例性地，本发明提供的一种芯片检测样本定量注样的方法，具体包括以下步骤：
(1)利用采集管将检测样本滴入第一腔室内，直至检测样本的液面上升至隔板顶部的第一凹槽与第二凹槽的对接处，此时由于进样柱高于隔板，检测样本液体暂无法进入注样通道内；
(2)滴完检测样本，将装配好“O”型圈的样本定量组件水平放置于注液腔室内，其中本体靠近进样柱放置；
(3)利用电机或升降机构下压样本定量组件，使其缓慢匀速下降，采用壳体内壁的排气长槽进行排气，下降到“O”型圈开始进入第一腔室时，底座的边缘与壳体的内壁过盈配合实现密封，第一腔室内多余的检测样本被本体挤压，并溢流至第二腔室内，继续下降至“O”型圈完全进入第一腔室时，形成密封环境，隔板逐渐伸入本体与导向件之间的空隙中，第一腔室内的检测样本量基本恒定，随着持续下压，检测样本进入注样通道并进入芯片间隙腔内，本体下压至第一腔室底部时，完成定量注样。
第三方面，本发明提供了一种第一方面所述的系统装置的用途，所述的系统装置用于向数字微流控芯片的间隙腔内注入检测样本。
本发明中的数字微流控芯片数字微流控芯片采用电润湿技术原理，通过电势调控固、液表面能，并利用表面能的不平衡状态驱动液体产生移动，从而达到对微液体的精确操控。主要组成包括：透明导电盖子(例如ITO玻璃)、表面包含疏水层和介电层的电极阵列，透明导电盖子和电极阵列之间具有用于液滴移动的间隙腔。电极阵列的表面设置有本发明提供的芯片检测样本定量注样的系统装置，进样柱通过注样通道与间隙腔连通。
所述系统是指设备系统、装置系统或生产装置。
与现有技术相比，本发明的有益效果为：
本发明提供的一种芯片检测样本定量注样的系统装置、方法与用途，在使用过程中可通过自带的样本定量组件完成对所需检测样本的定量提取，无需额外定量工具，对检测样本进行定量注入，从而实现芯片注样的自动化，减少对额外定量工具的依赖，使得操作更便捷灵活。
附图说明
图1为本发明实施例1提供的芯片检测样本定量注样的系统装置的结构示意图；
图2为本发明实施例1提供的样本定量组件的结构示意图；
图3为本发明实施例1提供的注液腔室的结构示意图；
图4为本发明实施例1提供的样本定量组件进入注液腔室的示意图；
图5为本发明应用例1提供的数字微流控芯片的结构示意图；
图6为本发明应用例1提供的定量注样的流程示意图。
其中，1-样本定量组件；2-注液腔室；3-本体；4-“O”型密封圈；5-定量腔室；6-导向件；7-壳体；8-隔板；9-第一腔室；10-第二腔室；11-进样柱；12-注样通道；13-台阶槽；14-间隙腔；15-电极阵列；16-疏水层；17-介电层；18-透明导电盖子。
具体实施方式
需要理解的是，在本发明的描述中，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”等的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本发明的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。
需要说明的是，在本发明的描述中，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以通过具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本发明的技术方案。
在一个具体实施方式中，本发明提供了一种芯片检测样本定量注样的系统装置，所述的系统装置用于将定量的检测样本注入芯片的间隙腔14内，所述的系统装置包括样本定量组件1与注液腔室2，所述的样本定量组件1包括本体3，所述本体3内设有定量腔室5，所述的注液腔室2包括敞口的壳体7，所述壳体7内设有隔板8，所述的隔板8将壳体7分为第一腔室9与第二腔室10，所述第一腔室9内注入检测样本，将所述样本定量组件1置于注液腔室2，并持续下压，所述本体3伸入第一腔室9内进行定量注样。
本发明中可通过调整壳体7和本体3的尺寸实现不同体系的样本量需求，从而实现更大或更小液体量的定量注样功能。
本发明中提供的第一腔室9起到定量注样的作用，第二腔室10起到溢流液存储的作用；本发明对于隔板8、第一腔室9与第二腔室10的结构及组合方式不作具体限定或特殊要求，示例性地，当隔板8采用空心的柱体，则壳体7分为柱体内的第一腔室9与柱体外的第二腔室10，其中第一腔室9与第二腔室10为包含关系，进样柱11位于第一腔室9内；当当隔板8采用竖立板，则壳体7分为并排设置的第一腔室9与第二腔室10，可在第一腔室9与第二腔室10连接处设置缺口，进而实现检测样本的溢流。
进一步地，所述第一腔室9内设置有连通间隙腔14的至少一个进样柱11，在定量注样过程中，持续下压样本定量组件1，所述进样柱11伸入定量腔室5内。本发明中的进样柱11可以与壳体7一体成型，也可以是单独的构件装配在壳体7底部。
所述的注液腔室2还包括贯通所述进样柱11的注样通道12，所述的注样通道12连接芯片的间隙腔14。本发明中对注样通道12的结构不作具体限定或特殊要求，示例性地，可以选择采用贯通进样柱11的直孔或斜孔，或者在进样柱11内装配管状配件等。
所述注样通道12靠近间隙腔14的一端设有导向缺口。
所述壳体7靠近敞口端的内壁设有排气长槽。本发明中排气长槽的长度与本体3高度相匹配，应保证样本定量组件1下压至壳体7底部时，排气结束，从而溢出的液体被密封在第二腔室10内。
进一步地，所述本体3伸入壳体7的一端设置密封件。在定量注样过程中，本体3伸入第一腔室9内，并通过密封件与第一腔室9形成密封环境，使得液体被挤压后只能从注样通道12流出。
所述本体3的外壁开设凹槽，所述密封件设置于所述的凹槽内。
所述的密封件为“O”型密封圈4。本发明中注样开始时，样本定量组件1受到下压力缓慢匀速下降，起初下降到“O”型圈还未起到密封作用时，第一腔室9中多余的液体被样本定量组件1的本体3挤入第二腔室10内，继续下降至“O”型圈开始一次密封时，第一腔室9的液体量基本恒定，随着继续下压，样本通过进样柱11进入芯片的间隙腔14，样本定量组件1下压到底时，完成定量注样。
本发明中的本定量组件可预先存放在芯片壳空置区或随芯片一起包装，待检测样本初步滴入后放置于注液腔室上。
进一步地，所述的样本定量组件1还包括用于固定所述本体3的底座，在注样过程中，所述底座的边缘与壳体7的内壁过盈配合实现密封。本发明中将装配好密封件的样本定量组件1放置于注液腔室2中，需确保水平放置，样本定量组件1的底座在下压过程中与壳体7的内壁有过盈量，起到二次密封作用。
所述底座靠近所述本体3一侧的表面还设有导向件6。所述本体3与导向件6之间留有空隙，在注样过程中，所述隔板8逐渐伸入所述空隙中。本发明中的导向件6使得样本定量组件1垂直下降，避免本体3发生偏移或倾斜导致注液出现偏差，或卡住无法下压的情况。
所述底座表面开设有排气通孔。
所述底座外缘设有排气缺口。
进一步地，所述的进样柱11高于所述隔板8。
所述进样柱11的外壁与所述定量腔室5的内壁之间留有间隙，检测样本在所述间隙内流通。
进一步地，所述隔板8靠近样本定量组件1的一侧表面开设有台阶槽13。所述台阶槽13沿所述本体3伸入第一腔室9的方向分为第一凹槽与第二凹槽，所述第一凹槽的宽度大于所述第二凹槽的宽度，检测样本位于所述第一凹槽与第二凹槽的对接处。
本发明提供的系统装置在开始注样前，将检测样本注入注液腔室2的第一腔室9内，检测样本量滴至第一凹槽与第二凹槽的对接处，此时由于进样柱11高于第一腔室9，液体暂无法进入注样通道12，随后进行注样过程中，样本定量组件1下压，部分的检测样本逐渐被挤压至进样柱11与定量腔室5之间，再进入注样通道12，并流入间隙腔14中。
在另一个具体实施方式中，本发明提供了一种芯片检测样本定量注样的方法，所述的方法采用第一方面所述的系统装置，所述的方法包括：
第一腔室9内注入检测样本，将样本定量组件1置于注液腔室2内，持续下压样本定量组件1，本体3由壳体7的敞口端送入第一腔室9内，第一腔室9内的部分检测样本溢流至第二腔室10中，进入定量腔室5内的检测样本流入间隙腔14中实现定量注样。
进一步地，所述的定量注样具体包括：
持续下压样本定量组件1，所述进样柱11逐渐伸入定量腔室5内，将检测样本挤入进样柱11与定量腔室5的间隙，随后通过注样通道12流入间隙腔14中
所述的方法包括利用采集管向第一腔室9内注入检测样本。检测样本位于所述第一凹槽与第二凹槽的对接处。
所述下压本体3包括采用电机或升降机构实现自动化下压。
进一步地，所述的方法还包括在定量注样过程中进行排气。
采用底座表面开设的排气通孔进行排气。
采用底座外缘设有排气缺口进行排气。
采用壳体7内壁的排气长槽进行排气。
实施例1
本实施例中提供了一种芯片检测样本定量注样的系统装置，如图1所示，所述的系统装置包括样本定量组件1与注液腔室2，如图2所示，样本定量组件1包括本体3，本体3内设有定量腔室5，本体3的外壁开设凹槽，凹槽内设置“O”型密封圈4。样本定量组件1还包括用于固定本体3的底座，在注样过程中，底座的边缘与壳体7的内壁过盈配合实现密封，底座靠近本体3的一侧表面还设有四个导向件6，本体3与导向件6之间留有空隙。
如图3所示，注液腔室2包括敞口的壳体7，壳体7内设有隔板8，隔板8为空心柱体，隔板8将壳体7分为第一腔室9与第二腔室10，第一腔室9内设置有连通间隙腔14的一个进样柱11。注液腔室2还包括贯通进样柱11的注样通道12，注样通道12连接芯片的间隙腔14，注样通道12靠近间隙腔14的一端设有导向缺口，如图3所示，壳体7靠近敞口端的内壁设有排气长槽。
如图4所示，进样柱11高于隔板8，进样柱11的外壁与定量腔室5的内壁留有间隙，检测样本在间隙内流通。
隔板8靠近样本定量组件1的一侧表面开设有台阶槽13，台阶槽13沿本体3伸入第一腔室9的方向分为第一凹槽与第二凹槽，第一凹槽的宽度大于第二凹槽的宽度，检测样本位于第一凹槽与第二凹槽的对接处。
应用例1
本应用例中采用实施例1提供的芯片检测样本定量注样的系统装置向如图5所示的数字微流控芯片的间隙腔14内注入试剂，本应用例中的数字微流控芯片主要组成包括：透明导电盖子18、表面包含疏水层16和介电层17的电极阵列15，透明导电盖子18和电极阵列15之间具有用于液滴移动的间隙腔14。电极阵列15的表面设置有本发明提供的芯片检测样本定量注样的系统装置，进样柱11通过注样通道12与间隙腔14连通。
如图6所示，定量注样具体包括以下步骤：
(1)利用采集管将检测样本滴入第一腔室9内，直至检测样本的液面上升至隔板8顶部的第一凹槽与第二凹槽的对接处，此时由于进样柱11高于隔板8，检测样本液体暂无法进入注样通道12内；
(2)滴完检测样本，将装配好“O”型圈的样本定量组件1水平放置于注液腔室2内，其中本体3靠近进样柱11放置；
(3)利用电机或升降机构下压样本定量组件1，使其缓慢匀速下降，采用壳体7内壁的排气长槽进行排气，下降到“O”型圈开始进入第一腔室9时，底座的边缘与壳体7的内壁过盈配合实现密封，导向件6伸入第二腔室10内，第一腔室9内多余的检测样本被本体3挤压，并溢流至第二腔室10内，继续下降至“O”型圈完全进入第一腔室9时，形成密封环境，隔板8逐渐伸入本体3与导向件6之间的空隙中，第一腔室9内的检测样本量基本恒定，随着持续下压，检测样本进入注样通道12并进入芯片间隙腔14内，本体3下压至第一腔室9底部时，完成定量注样。
(1)样本定量组件1的密封性与注液精度测试，具体采用以下步骤：
1、将EP管称重，标注序号，记录重量；
2、测量单体及样本定量组件1关键尺寸并标注序号；
3、用移液枪向样本定量组件1注入液体，然后上方放置装配好O型圈的样本定量塞，下方用EP管接注出的液体，手动下压，对接液的EP管称重，记录数据，并计算差值，结果如表1所示；
4、实验结束，整理实验台面。
表1
(2)样本定量组件1的压力测试，具体采用以下步骤：
1、注液腔室2放置在压力机压头正下方；
2、在注液腔室2中注入样本液体至台阶槽13附近(液面位于第一凹槽与第二凹槽的对接处)；
2、放置装配好O型圈的样本定量组件1放置于注液腔室2上方；
3、启动压力机下压；
4、观察记录下压时压力值，结果如表2所示。
表2
由表1可知，四十组数据测试样本极差为12.8μL，注液精度满足要求，本发明提供的样本定量组件1具有良好的密封性，测试样本可按设想从注样通道12注入芯片的间隙腔14。由表2可知，样本定量组件1所需下压力平均值为：145.975N，最大压力值：158.7N，最小压力值：131.8N。
本发明提供的芯片检测样本定量注样的系统装置在使用过程中可通过自带的样本定量组件1完成对所需检测样本的定量提取，无需额外定量工具，对检测样本进行定量注入，从而实现芯片注样的自动化，减少对额外定量工具的依赖，使得操作更便捷灵活。
申请人声明，以上所述仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，所属技术领域的技术人员应该明了，任何属于本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，均落在本发明的保护范围和公开范围之内。
Claims (22)
1.一种芯片检测样本定量注样的系统装置，用于将定量的检测样本注入芯片的间隙腔内，其特征在于，所述的系统装置包括样本定量组件与注液腔室，所述的样本定量组件包括本体，所述本体内设有定量腔室，所述的注液腔室包括敞口的壳体，所述壳体内设有隔板，所述的隔板将壳体分为第一腔室与第二腔室，所述第一腔室内注入检测样本，将所述样本定量组件置于注液腔室，并持续下压，所述本体伸入第一腔室内进行定量注样；
所述第一腔室内设置有连通间隙腔的至少一个进样柱，在定量注样过程中，持续下压样本定量组件，所述进样柱伸入定量腔室内，所述的进样柱高于所述隔板，所述进样柱的外壁与所述定量腔室的内壁之间留有间隙，检测样本在所述间隙内流通，所述的注液腔室还包括贯通所述进样柱的注样通道，所述的注样通道连接芯片的间隙腔。
2.根据权利要求1所述的系统装置，其特征在于，所述注样通道靠近间隙腔的一端设有导向缺口。
3.根据权利要求1所述的系统装置，其特征在于，所述壳体靠近敞口端的内壁设有排气长槽。
4.根据权利要求1所述的系统装置，其特征在于，所述本体的外壁设置密封件。
5.根据权利要求4所述的系统装置，其特征在于，所述本体的外壁开设凹槽，所述密封件设置于所述的凹槽内。
6.根据权利要求5所述的系统装置，其特征在于，所述的密封件为“O”型密封圈。
7.根据权利要求1所述的系统装置，其特征在于，所述的样本定量组件还包括用于固定所述本体的底座，在注样过程中，所述底座的边缘与壳体的内壁过盈配合实现密封。
8.根据权利要求7所述的系统装置，其特征在于，所述底座靠近所述本体一侧的表面还设有导向件。
9.根据权利要求8所述的系统装置，其特征在于，所述本体与导向件之间留有空隙，在注样过程中，所述隔板逐渐伸入所述空隙中。
10.根据权利要求7所述的系统装置，其特征在于，所述底座表面开设有排气通孔。
11.根据权利要求7所述的系统装置，其特征在于，所述底座外缘设有排气缺口。
12.根据权利要求1所述的系统装置，其特征在于，所述隔板靠近样本定量组件的一侧表面开设有台阶槽。
13.根据权利要求12所述的系统装置，其特征在于，所述台阶槽沿所述本体伸入第一腔室的方向分为第一凹槽与第二凹槽，所述第一凹槽的宽度大于所述第二凹槽的宽度，检测样本位于所述第一凹槽与第二凹槽的对接处。
14.一种芯片检测样本定量注样的方法，所述的方法采用权利要求1-13任一项所述的系统装置，其特征在于，所述的方法包括：
第一腔室内注入检测样本，将样本定量组件置于注液腔室内，持续下压样本定量组件，本体由壳体的敞口端送入第一腔室内，第一腔室内的部分检测样本溢流至第二腔室中，进入定量腔室内的检测样本流入间隙腔中实现定量注样。
15.根据权利要求14所述的方法，其特征在于，所述的定量注样具体包括：
持续下压样本定量组件，所述进样柱逐渐伸入定量腔室内，将检测样本挤入进样柱与定量腔室的间隙，随后通过注样通道流入间隙腔中。
16.根据权利要求14所述的方法，其特征在于，所述的方法包括利用采集管向第一腔室内注入检测样本。
17.根据权利要求14所述的方法，其特征在于，所述样本定量组件包括采用电机或升降机构实现自动化下压。
18.根据权利要求14所述的方法，其特征在于，所述的方法还包括在定量注样过程中进行排气。
19.根据权利要求18所述的方法，其特征在于，采用底座表面开设的排气通孔进行排气。
20.根据权利要求18所述的方法，其特征在于，采用底座外缘设有的排气缺口进行排气。
21.根据权利要求18所述的方法，其特征在于，采用壳体内壁的排气长槽进行排气。
22.一种权利要求1-13任一项所述的系统装置的用途，其特征在于，所述的系统装置用于向数字微流控芯片的间隙腔内注入检测样本。
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