CN114089165A - 一种基于ate的c8051f芯片在线测试方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种基于ATE的C8051F芯片在线测试方法，该在线测试方法不需要专用下载软件、仿真器和下载板，通过使用ATE模拟SILICON的仿真器下载时序，直接将棋盘格数据、功能配置的二进制代码写入到芯片内部的存储区，加载后在ATE进行功能模块验证测试，大大缩短了测试时间，同时也提高了C8051F系列芯片测试的覆盖率以及测试的可靠性，确保了测试的质量要求，解决了C8051F系列芯片的二次筛选，产生直接的测试经济效益。
Description
技术领域
本发明属于芯片筛选领域，具体涉及一种基于ATE的C8051F芯片在线测试方法。
背景技术
C8051F系列单片机由Silicon Labs公司推出，是业内最小封装的微控制器，也是目前8位微控制器中功能最齐全、性能最优的一种，高速的20MIPS～25MIPS与8051全兼容的CIP51内核，增加了64KB闪存和XRAM，内部Flash存储器可实现在系统编程；通过交叉开关网络，由用户自己定义I/O功能；大量SOC片上系统；完整的模拟和数字混合系统。对该系列芯片的二次筛选测试无国外厂家的设计向量，需要根据交叉开关网络，利用SILICON的专用编程软件使用C语言对功能模块进行配置后采用专用的适配器烧写到芯片内部的FLASH存储区。
传统的测试方法需要在写入板和ATE测试机上进行多次写入、测试、擦除和检空操作，测试效率较低，同时多次插拔操作对器件管脚损伤较大。随着集成电路测试成本占比越来越高，合理控制测试成本，提升测试效率，提高集成电路测试的可靠性，成为集成电路测试环节的当务之急。
发明内容
本发明的目的在于克服上述现有技术的缺点，提供一种基于ATE的C8051F芯片在线测试方法，以解决现有技术中测试效率低，测试集成电路的可靠性差，成本低的问题。
为达到上述目的，本发明采用以下技术方案予以实现：
一种基于ATE的C8051F芯片在线测试方法，包括以下步骤：
步骤1，编写逻辑功能模块，将逻辑功能模块转换为二进制代码hex文件；
步骤2，编写转换模块，通过转换模块将二进制代码hex文件转换为测试设备ATE的测试向量；
步骤3，通过芯片读写存储区的时序和指令、JTAG协议、JTAG扫描链的时序，将测试设备ATE的测试向量写入至芯片内部的存储区；
步骤4，通过测试设备ATE施加电源及激励信号，进行芯片功能验证及参数测试。
本发明的进一步改进在于：
优选的，步骤1中，通过IDE软件将逻辑功能模块转换为二进制代码hex文件。
优选的，步骤2中，根据hex文件内容、JTAG扫描链的时序图、JTAG协议和测试设备ATE测试向量的格式要求编写转换模块。
优选的，步骤2中，转换模块中的变量赋值能够改变。
优选的，步骤2中，通过JAVA语言编写转换模块。
优选的，步骤2中，hex文件按照JTAG时序从C8051F芯片的TDI管脚读入。
优选的，步骤3中，通过PCB专用测试板和测试工装，将测试设备ATE通道与C8051F芯片管脚连接。
优选的，步骤3中，将测试向量写入至芯片内部的存储区过程中，测试设备ATE提供电源、时钟信号、激励信号和输出采样。
与现有技术相比，本发明具有以下有益效果：
本发明公开了一种基于ATE的C8051F芯片在线测试方法，该在线测试方法不需要专用下载软件、仿真器和下载板，通过使用ATE模拟SILICON的仿真器下载时序，直接将棋盘格数据、功能配置的二进制代码写入到芯片内部的存储区，加载后在ATE进行功能模块验证测试，大大缩短了测试时间，同时也提高了C8051F系列芯片测试的覆盖率以及测试的可靠性，确保了测试的质量要求，解决了C8051F系列芯片的二次筛选，产生直接的测试经济效益；该方法针对目前进口芯片采购渠道的不确定性，可以对C8051F系列芯片进行功能和参数测试，提高芯片的可靠性；该在线测试方法改变了利用仿真器和下载软件写入配置代码的传统测试方式，从传统测试方法的七道测试流程变为一次ATE全部完成测试，大大节省了测试流程，测试效率提升6倍以上。基于ATE的C8051F芯片在线测试方法脱离了SILICON专用下载软件和专用仿真器，无需人工干预，为C8051F系列芯片的测试操作提供了极大的便利，提高了测试的稳定性、可靠性及测试覆盖率，进一步保证了器件的筛选质量。
附图说明
图1为原测试方法的流程图；
图2为本测试方法的流程图；
图3为dos环境下输入HEX文件的界面；
图4为HEX转换为测试向量的界面图。
具体实施方式
下面结合附图和具体的实施例对本发明做进一步详细描述：
本发明通过对ATE设备测试向量的解析，使用JAVA开发语言进行软件的开发，对软件代码进行了优化，生成易于每个使用者使用，不需要了解源代码，只需要输入HEX文件即可生成ATE的测试向量。
分析C8051F系列芯片利用专用仿真器下载数据及代码的原理及时序，将配置文件(二进制文件)及数据利用ATE设备及芯片管脚写入芯片内部FLASH存储区；
传统的测试方案及本发明提出的基于ATE的C8051F芯片在线测试方法流程见图1所示。
本发明解决的问题是：
1)软件设计：将配置文件的二级制代码、棋盘格数据自动生成ATE的测试向量；
①通过C8051F芯片厂家提供的开发套件Silicon Laboratories IDE采用C++语言编写逻辑功能模块的应用程序代码，编写完成后在该软件中进行编译后可生成二进制代码hex文件。
②使用JAVA开发语言，根据二进制hex文件的地址分配、C8051F芯片JTAG管脚的时序关系及设备测试向量的格式三个要素，编制转换软件将二进制hex文件(或棋盘格数据)转换为适应于测试设备ATE使用的测试向量。该转换软件可直接将hex文件直接转换为ATE的测试向量，即hex文件内容即为CS051F芯片JTAG管脚的TDI的输入内容。
2)通过PCB专用测试板和测试工装，将ATE通道与C8051F芯片管脚进行物理连接，测试设备ATE模拟计算机软件和仿真器的加载及JTAG扫描链的时序，运行ATE的测试向量即可将逻辑功能模块的应用程序代码hex文件、棋盘格数据加载至C8051F芯片的内部FLASH存储区。
3)通过ATE施加电源及激励信号，采样芯片输出，完成芯片功能验证、内部FLASH存储区的读写和擦除功能以及参数测试。
参见图2，本发明的具体的实施步骤
步骤1，功能模块应用程序代码的生成(hex文件)
采用C++语言编写逻辑功能模块的应用程序代码，获得逻辑功能模块，通过C8051F芯片厂家提供的开发套件Silicon Laboratiories IDE将逻辑功能模块转换生成生成二进制代码hex文件。
步骤2，基于ATE的测试向量生成：ATE测试向量自动转换软件
(1)使用软件工具：jdk-7u79-windows-i586，在计算机上安装此运行软件；
(2)使用语言：使用JAVA开发语言进行本软件的开发，运行JAVA语言编写软件代码；
(3)编写代码：根据hex文件内容、JTAG扫描链的时序图、JTAG协议及测试设备ATE测试向量的格式要求编写转换模块，将hex文件内容按照JTAG时序从C8051F芯片的TDI管脚读入；
(4)转换软件代码的优化：将一些在其它型号器件中可变化的量用变量表示，对于不同型号器件都可以使用该转换软件，只需将变量赋值处进行值的变化即可，整个转换软件代码无需改写，这样易于每个使用者使用，使用非常方便，不需要了解源代码，只需要输入HEX文件即可生成ATE的测试向量。换出来的测试，转换成测试向量，通过ATE写入到存储区内部
图3为dos环境下输入HEX文件的界面，图4为hex文件转换为测试向量示意图。
步骤3，运行测试向量：即为将功能模块应用代码通过ATE写入到芯片内部存储区
将功能模块应用代码(二进制hex文件)写入至C8051F芯片内部存储区的原有写入方法为利用仿真器、C8051F系列写入软件写入至芯片内部存储区，这样需要专用的仿真器和专用测试板，过程繁琐，步骤较多，对芯片管脚伤害较大。本测试方法采用ATE的在线方法，由ATE提供所需的电源、时钟信号、激励信号及输出采样等，利用芯片读写存储区的时序和指令，JTAG协议、JTAG扫描链的时序，通过芯片的JTAG管脚将hex文件写入到芯片内部的存储区。
步骤4，测试验证：
按照C8051F芯片规范给出的条件，通过ATE施加电源及激励信号，采样芯片输完，完成芯片功能验证及参数测试。
基于ATE的C8051F芯片在线测试方法脱离了SILICON专用下载软件和专用仿真器，无需人工干预，为C8051F系列芯片的测试操作提供了极大的遍历，提高了测试的稳定性。可靠性及测试覆盖率，进一步保证了器件的筛选质量及可靠性。
CygnalC8051F系列单片机提供基于Windows集成的在线开发调试环境，包括IDE软件和调试环境，可做Keil C源程序级别的调试。利用提供的IDE软件进行配置代码的编写，生成二进制HEX文件，分析C8051F系列芯片利用专用仿真器下载数据及代码的原理及时序，通过利用JTAG接口和FLASH读写时序编写向量转换软件，直接将HEX文件转换成测试机的测试向量，即可完成配置代码、AA和55等数据的写入和擦除。
通过ATE施加电源及激励信号，采样芯片输出，完成芯片功能验证和参数测试。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (8)
1.一种基于ATE的C8051F芯片在线测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
步骤1，编写逻辑功能模块，将逻辑功能模块转换为二进制代码hex文件；
步骤2，编写转换模块，通过转换模块将二进制代码hex文件转换为测试设备ATE的测试向量；
步骤3，通过芯片读写存储区的时序和指令、JTAG协议、JTAG扫描链的时序，将测试设备ATE的测试向量写入至芯片内部的存储区；
步骤4，通过测试设备ATE施加电源及激励信号，进行芯片功能验证及参数测试。
2.根据权利要求1所述的一种基于ATE的C8051F芯片在线测试方法，其特征在于，步骤1中，通过IDE软件将逻辑功能模块转换为二进制代码hex文件。
3.根据权利要求1所述的一种基于ATE的C8051F芯片在线测试方法，其特征在于，步骤2中，根据hex文件内容、JTAG扫描链的时序图、JTAG协议和测试设备ATE测试向量的格式要求编写转换模块。
4.根据权利要求1所述的一种基于ATE的C8051F芯片在线测试方法，其特征在于，步骤2中，转换模块中的变量赋值能够改变。
5.根据权利要求1所述的一种基于ATE的C8051F芯片在线测试方法，其特征在于，步骤2中，通过JAVA语言编写转换模块。
6.根据权利要求1所述的一种基于ATE的C8051F芯片在线测试方法，其特征在于，步骤2中，hex文件按照JTAG时序从C8051F芯片的TDI管脚读入。
7.根据权利要求1所述的一种基于ATE的C8051F芯片在线测试方法，其特征在于，步骤3中，通过PCB专用测试板和测试工装，将测试设备ATE通道与C8051F芯片管脚连接。
8.根据权利要求1所述的一种基于ATE的C8051F芯片在线测试方法，其特征在于，步骤3中，将测试向量写入至芯片内部的存储区过程中，测试设备ATE提供电源、时钟信号、激励信号和输出采样。
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Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN115291082A (zh) * | 2022-08-04 | 2022-11-04 | 北京京瀚禹电子工程技术有限公司 | 芯片的高效测试方法、装置和存储介质 |
| CN115372803A (zh) * | 2022-10-25 | 2022-11-22 | 深圳华北工控股份有限公司 | 主板测试系统、方法、装置和存储介质 |
| CN115902595A (zh) * | 2023-02-20 | 2023-04-04 | 之江实验室 | 一种芯片测试系统以及芯片测试方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1369714A (zh) * | 2001-07-18 | 2002-09-18 | 中国人民解放军第二炮兵工程学院技术开发中心 | 大规模集成电路边界扫描测试系统 |
| CN102466776A (zh) * | 2010-11-19 | 2012-05-23 | 北京自动测试技术研究所 | 面向复杂可编程逻辑器件的批量测试方法 |
-
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Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1369714A (zh) * | 2001-07-18 | 2002-09-18 | 中国人民解放军第二炮兵工程学院技术开发中心 | 大规模集成电路边界扫描测试系统 |
| CN102466776A (zh) * | 2010-11-19 | 2012-05-23 | 北京自动测试技术研究所 | 面向复杂可编程逻辑器件的批量测试方法 |
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| 陈龙等: "一种单片机的在线编程测试方法研究", 电子质量, no. 10, 31 October 2019 (2019-10-31), pages 1 - 3 * |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN115291082A (zh) * | 2022-08-04 | 2022-11-04 | 北京京瀚禹电子工程技术有限公司 | 芯片的高效测试方法、装置和存储介质 |
| CN115372803A (zh) * | 2022-10-25 | 2022-11-22 | 深圳华北工控股份有限公司 | 主板测试系统、方法、装置和存储介质 |
| CN115372803B (zh) * | 2022-10-25 | 2023-09-15 | 深圳华北工控股份有限公司 | 主板测试系统、方法、装置和存储介质 |
| CN115902595A (zh) * | 2023-02-20 | 2023-04-04 | 之江实验室 | 一种芯片测试系统以及芯片测试方法 |
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