CN114089079A - 一种抗干扰测试系统 - Google Patents

Abstract

本公开提供了一种抗干扰测试系统，包括主机模块、校准模块以及测试模块，主机模块包括：控制单元、信号发射单元、第一耦合单元、功率计单元、开关单元以及功率衰减单元；开关单元由控制单元控制开关单元的开断状态，当开关单元处于第一导通状态时，系统工作于校准模式，校准信号发射单元输出的干扰信号，功率计单元接收信号发射单元输出的干扰信号作用于校准模块的开路试验电压；当开关单元处于第二导通状态时，系统工作于测试模式，功率计单元接收信号发射单元输出的干扰信号，以监测信号发射单元是否正常工作。在提升传导骚扰抗扰度测试的检测效率的同时，提升检测结果的准确度，并且可以应对复杂场景下的传导骚扰抗扰度测试工作。

Description

一种抗干扰测试系统

技术领域

本公开涉及电气检测技术领域，具体而言，涉及一种抗干扰测试系统。

背景技术

目前，随着电子技术的不断创新与发展，小到人们手中的智能手机，大到汽车、航空器等，都会装备多种电子设备，用以辅助人们的操控与使用，由于电子设备在运行过程中产生的静电等因素，带静电的器件进行放电时会产生短暂的强度较高的电磁场，该电磁场会作用于电气、电子设备的电源线、通讯先和接口电缆等连接线路上，引起电气、电子设备的电路发生故障甚至损坏，因此需要针对电气、电子设备在遭受电磁场放电骚扰时抵抗这些干扰的性能进行检测。

在现有的传导骚扰抗扰度测试的过程中，往往需要较大的场地布置检测系统，同时需要布置支撑部件、电源等辅助设施，测试过程较为繁琐无法应对狭小环境等复杂场景下的传导骚扰抗扰度测试工作，在布置测试装置前需要先搭建一个射频信号源的校准装置，并且在测试过程中需要同时进行人工校准射频信号源的输出、电压表/功率计的读数监控以及监测被检测器件的工作情况，极为耗费时间与人力，并且检测结果准确度较低。

发明内容

本公开实施例至少提供一种抗干扰测试系统，在提升传导骚扰抗扰度测试的检测效率的同时，提升检测结果的准确度，并且可以应对复杂场景下的传导骚扰抗扰度测试工作。

本公开实施例提供了一种抗干扰测试系统，所述抗干扰测试系统包括：主机模块、校准模块以及测试模块，其中，所述主机模块包括：控制单元、信号发射单元、第一耦合单元、功率计单元、开关单元以及功率衰减单元；

所述控制单元与所述信号发射单元、所述开关单元以及所述功率计单元连接；所述开关单元包括第一导通状态以及第二导通状态；

当所述抗干扰测试系统需要进行信号校准时，所述控制单元控制所述开关单元处于第一导通状态，信号校准通路导通工作；

所述信号校准通路中包括依次串联的所述控制单元、所述信号发射单元、所述第一耦合单元、所述功率衰减单元、所述开关单元以及所述功率计单元，所述信号校准通路中的所述功率衰减单元连接所述校准模块，其中，所述校准模块用于接收由所述信号发射单元输出，经过所述功率衰减单元衰减后的干扰信号，生成用于校准所述干扰信号的开路试验电压，并将所述开路试验电压输入至所述功率衰减单元；

当所述抗干扰测试系统需要进行测试时，所述控制单元控制所述开关单元处于第二导通状态，测试通路导通工作；

所述测试通路中包括依次串联的所述控制单元、所述信号发射单元、所述第一耦合单元、所述开关单元以及所述功率计单元，所述测试通路中的所述第一耦合单元与所述功率衰减单元连接，所述测试模块连接所述功率衰减单元，其中，所述测试通路用于检测所述信号发射单元是否正常工作。

一种可选的实施方式中，在所述信号校准通路中，所述信号发射单元输出的干扰信号经所述第一耦合单元、所述功率衰减单元、所述校准模块后形成开路试验电压、所述开路试验电压经所述功率衰减单元、所述开关单元发送至所述功率计单元；

在所述测试通路中，所述信号发射单元输出的干扰信号经所述第一耦合单元、所述开关单元后发送至所述功率计单元，用以检测所述信号发射单元是否正常工作。

一种可选的实施方式中，所述控制单元用于：

控制所述开关单元处于所述第一导通状态，调整所述信号发射单元在预设频率下输出的所述干扰信号的参数，当接收到的所述信号发射单元输出的干扰信号作用于所述校准模块的开路试验电压为预设电压阈值时，存储所述信号发射单元的校准输出功率；

将所述开关单元由所述第一导通状态切换至所述第二导通状态，根据所述校准输出功率调整所述信号发射单元输出的所述干扰信号的参数，根据接收到的所述功率计单元输出的功率计示数，确定所述信号发射单元是否正常工作。

一种可选的实施方式中，所述信号发射单元包括信号源器件以及功率放大器件；

所述信号源器件与所述功率放大器件连接，所述功率放大器件与所述第一耦合单元连接；

所述信号源器件用于产生所述干扰信号；

所述功率放大器件用于放大所述信号源器件产生的干扰信号的电压值。

一种可选的实施方式中，所述控制单元包括人机交互器件以及控制主板器件；

所述人机交互器件与控制主板器件连接；

所述控制主板器件与所述信号发射单元、所述开关单元以及所述功率计单元连接；

所述人机交互器件用于采集用户输入的测试参数；

所述控制主板器件用于根据所述测试参数，控制所述开关单元的导通状态以及所述信号发射单元输出的干扰信号的参数。

一种可选的实施方式中，所述功率衰减单元包括第一功率衰减器件以及第二功率衰减器件；

所述第一功率衰减器件用于，根据预设第一衰减比例衰减所述信号发射单元输入至所述校准模块或所述测试模块的干扰信号的功率；

所述第二功率衰减器件用于，根据预设第二衰减比例衰减所述干扰信号经过所述校准模块后输入至所述开关单元的功率；

所述第一功率衰减器件的输入端作为所述功率衰减单元的第一输入端，与所述第一耦合单元连接；所述第一功率衰减器件的输出端作为所述功率衰减单元的第一输出端；

当所述抗干扰测试系统需要进行信号校准时，所述功率衰减单元的第一输出端与所述校准模块连接；所述第二功率衰减器件的输入端作为所述功率衰减单元的第二输入端，与所述校准模块连接；所述第二功率衰减器件的输出端作为所述功率衰减单元的第二输出端，与所述开关单元连接；

当所述抗干扰测试系统需要进行测试时，所述功率衰减单元的第一输出端作为所述主机模块的信号输出端与所述测试模块连接，向所述测试模块输入干扰信号。

一种可选的实施方式中，所述校准模块包括：负载单元、第二耦合单元以及欧姆变换单元；

所述负载单元、所述第二耦合单元以及所述欧姆变换单元依次连接；

所述第二耦合单元与所述功率衰减单元连接，所述欧姆变换单元与所述功率衰减单元连接。

一种可选的实施方式中，所述第二耦合单元连接至待测试器件的电源输入端；

所述第二耦合单元用于，将所述信号发射单元输出的干扰信号耦合至待测试器件的输入电源信号，用于针对所述待测试器件产生信号干扰，以测试所述待测试器件的抗干扰能力。

一种可选的实施方式中，所述人机交互器件包括触摸屏以及键盘；

所述触摸屏与所述控制主板器件连接；

所述键盘与所述控制主板器件连接。

一种可选的实施方式中，所述信号发射单元输出的干扰信号为射频信号。

一种可选的实施方式中，所述第一耦合单元包括定向耦合器。

本公开实施例提供的一种抗干扰测试系统，主机模块、校准模块以及测试模块，其中，主机模块包括：控制单元、信号发射单元、第一耦合单元、功率计单元、开关单元以及功率衰减单元；控制单元与信号发射单元、开关单元以及功率计单元连接；开关单元包括第一导通状态以及第二导通状态；当抗干扰测试系统需要进行信号校准时，控制单元控制开关单元处于第一导通状态，信号校准通路导通工作；信号校准通路中包括依次串联的控制单元、信号发射单元、第一耦合单元、功率衰减单元、开关单元以及功率计单元，信号校准通路中的功率衰减单元连接校准模块，其中，校准模块用于接收由信号发射单元输出，经过功率衰减单元衰减后的干扰信号，生成用于校准干扰信号的开路试验电压，并将开路试验电压输入至功率衰减单元；当抗干扰测试系统需要进行测试时，控制单元控制开关单元处于第二导通状态，测试通路导通工作；测试通路中包括依次串联的控制单元、信号发射单元、第一耦合单元、开关单元以及功率计单元，测试通路中的第一耦合单元与功率衰减单元连接，测试模块连接功率衰减单元，其中，测试通路用于检测信号发射单元是否正常工作。在提升传导骚扰抗扰度测试的检测效率的同时，提升检测结果的准确度，并且可以应对复杂场景下的传导骚扰抗扰度测试工作。

为使本公开的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。

附图说明

为了更清楚地说明本公开实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，此处的附图被并入说明书中并构成本说明书中的一部分，这些附图示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于说明本公开的技术方案。应当理解，以下附图仅示出了本公开的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1示出了本公开实施例提供的一种抗干扰测试系统的结构示意图之一；

图2示出了本公开实施例提供的一种抗干扰测试系统的结构示意图之二；

图3示出了本公开实施例提供的一种抗干扰测试系统的结构示意图之三；

图4示出了本公开实施例提供的一种抗干扰测试系统的结构示意图之四。

图示说明：100-抗干扰测试系统；110-主机模块；120-校准模块；130-测试模块；111-控制单元；112-信号发射单元；113-第一耦合单元；114-功率计单元；115-开关单元；116-功率衰减单元；1121-信号源器件；1122-功率放大器件；1161-第一功率衰减器件；1162-第二功率衰减器件；121-负载单元；122-第二耦合单元；123-欧姆变换单元；1111-人机交互器件；1112-控制主板器件；10-触摸屏；20-键盘。

具体实施方式

为使本公开实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本公开实施例中附图，对本公开实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本公开一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本公开实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本公开的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本公开的范围，而是仅仅表示本公开的选定实施例。基于本公开的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本公开保护的范围。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。

本文中术语“和/或”，仅仅是描述一种关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。另外，本文中术语“至少一种”表示多种中的任意一种或多种中的至少两种的任意组合，例如，包括A、B、C中的至少一种，可以表示包括从A、B和C构成的集合中选择的任意一个或多个元素。

经研究发现，在现有的传导骚扰抗扰度测试的过程中，往往需要较大的场地布置检测系统，同时需要布置支撑部件、电源等辅助设施，测试过程较为繁琐无法应对狭小环境等复杂场景下的传导骚扰抗扰度测试工作，并且在测试过程中需要同时进行人工校准射频信号源的输出、电压表/功率计的读数监控以及监测被检测器件的工作情况，极为耗费时间与人力，并且检测结果准确度较低。

基于上述研究，本公开提供了一种抗干扰测试系统，主机模块、校准模块以及测试模块，其中，主机模块包括：控制单元、信号发射单元、第一耦合单元、功率计单元、开关单元以及功率衰减单元；控制单元与信号发射单元、开关单元以及功率计单元连接；开关单元包括第一导通状态以及第二导通状态；当抗干扰测试系统需要进行信号校准时，控制单元控制开关单元处于第一导通状态，信号校准通路导通工作；信号校准通路中包括依次串联的控制单元、信号发射单元、第一耦合单元、功率衰减单元、开关单元以及功率计单元，信号校准通路中的功率衰减单元连接校准模块，其中，校准模块用于接收由信号发射单元输出，经过功率衰减单元衰减后的干扰信号，生成用于校准干扰信号的开路试验电压，并将开路试验电压输入至功率衰减单元；当抗干扰测试系统需要进行测试时，控制单元控制开关单元处于第二导通状态，测试通路导通工作；测试通路中包括依次串联的控制单元、信号发射单元、第一耦合单元、开关单元以及功率计单元，测试通路中的第一耦合单元与功率衰减单元连接，测试模块连接功率衰减单元，其中，测试通路用于检测信号发射单元是否正常工作。在提升传导骚扰抗扰度测试的检测效率的同时，提升检测结果的准确度，并且可以应对复杂场景下的传导骚扰抗扰度测试工作。

为便于对本实施例进行理解，首先对本公开实施例所公开的一种抗干扰测试系统方法进行详细介绍。

参见图1所示，为本公开实施例提供的一种抗干扰测试系统100的结构示意图之一。

所述抗干扰测试系统100包括：主机模块110、校准模块120以及测试模块130，其中，所述主机模块110包括：控制单元111、信号发射单元112、第一耦合单元113、功率计单元114、开关单元115以及功率衰减单元116。

所述信号发射单元112、所述第一耦合单元113、所述开关单元115以及所述功率计单元114依次连接；所述功率衰减单元116的第一输入端A与所述第一耦合单元113连接，所述功率衰减单元116的第一输出端B与所述校准模块120连接，所述功率衰减单元116的第二输入端C与所述校准模块120连接，所述功率衰减单元116的第二输出端D与所述开关单元115连接；所述控制单元111与所述信号发射单元112、所述开关单元115以及所述功率计单元114连接。

这里，当所述抗干扰测试系统100需要进行信号校准时，所述控制单元111控制所述开关单元115处于第一导通状态，信号校准通路导通工作；所述信号校准通路中包括依次串联的所述控制单元111、所述信号发射单元112、所述第一耦合单元113、所述功率衰减单元116、所述开关单元115以及所述功率计单元114，所述信号校准通路中的所述功率衰减单元116连接所述校准模块120。

进一步的，当所述抗干扰测试系统100需要针对待检测物体进行抗干扰测试时，所述控制单元111控制所述开关单元115处于第二导通状态，测试通路导通工作；所述测试通路中包括依次串联的所述控制单元111、所述信号发射单元112、所述第一耦合单元113、所述开关单元115以及所述功率计单元114。所述测试通路中的所述第一耦合单元113与所述功率衰减单元116连接，所述测试模块130连接所述功率衰减单元116。

其中，所述校准模块120用于接收由所述信号发射单元112输出，经过所述功率衰减单元116衰减后的干扰信号，生成用于校准所述干扰信号的开路试验电压；所述测试通路用于检测所述信号发射单元112是否正常工作。

其中，所述第一耦合单元113用于将信号发射单元112输出的干扰信号的大部分能量通过第一耦合单元113流过，少部分能量传输至开关单元115。所述功率衰减单元116用于基于预设衰减比例衰减经由功率衰减单元116的干扰信号以及开路试验电压。干扰信号可以为射频信号。

具体的，抗干扰测试系统100通过对待测试器件的电流输入端，如电源线、通信线等耦合加入由信号发射单元112输出的干扰信号的方式，对待测试器件进行传导骚扰，进而使用户可以观察到待测试器件在存在传导骚扰的情况下的工作状态，以确定待测试器件的抗干扰能力。抗干扰测试系统100包括两种工作模式，一种为校准模式，另一种为测试模式。当抗干扰测试系统100工作于校准模式时，开关单元115处于第一导通状态；当抗干扰测试系统100工作于测试模式时，开关单元115处于第二导通状态。

其中，所述测试模块用于接收信号发射单元112在校准完毕后输出的经过功率衰减单元116衰减后的干扰信号，完成对待检测物体的抗干扰测试工作。

优选的，所述测试模块可以采用国标GB/T 17626.6-2017中规定的射频传导骚扰抗扰度试验布置方式。

在实际应用过程中，校准模式工作于测试模式之前，用于在进行抗干扰测试前根据用户的实验需求，校准信号发射单元112在该次测试过程中所需要输出的干扰信号的频率以及幅度值，并由控制单元111对此时校准信号发射单元112的输出功率进行存储。在完成信号发射单元112输出功率的校准之后，控制单元111根据在校准模式下存储的信号发射单元112输出功率，驱动信号发射单元112以该功率进行工作，此时信号发射单元112输出的干扰信号频率与幅值均可满足该次抗干扰测试所需，无需进行手动调整与人工监视信号发射单元112的输出。

其中，抗干扰测试系统100可应用于国标GB/T 17626.6-2017标准下的传导骚扰抗扰度测试。

可选的，所述第一耦合单元113可以包括定向耦合器，所述开关单元115可以包括单刀双掷继电器。

作为一种可能的实施方式，所述控制单元111用于：控制所述开关单元115处于所述第一导通状态，调整所述信号发射单元112在预设频率下输出的所述干扰信号的参数，当接收到的当接收到的所述信号发射单元112输出的干扰信号作用于所述校准模块120的开路试验电压为预设电压阈值时，存储所述信号发射单元112的校准输出功率；将所述开关单元115由所述第一导通状态切换至所述第二导通状态，根据所述校准输出功率调整所述信号发射单元112输出的所述干扰信号的参数，根据接收到的所述功率计单元114输出的功率计示数，确定所述信号发射单元是否正常工作。

其中，所述干扰信号的参数包括：干扰信号的频率以及幅度值。

这里，当抗干扰测试系统100工作于校准模式时，由控制单元111向开关单元115发出控制信号，控制开关单元115处于所述第一导通状态，并向信号发射单元112发出控制信号，在预设的测试标准中规定的测试频率范围内的某一测试频率下，控制信号发射单元112输出干扰信号，控制信号发射单元112输出的干扰信号经过第一耦合单元113、功率衰减单元116以及校准模块120后形成开路试验电压，开路试验电压经过功率衰减单元116之后经由开关单元115进入功率计单元114，经过功率计单元114的计算后得到相应的功率值，并将开路试验电压与相应的功率值作为功率计示数传输至控制单元111。控制单元111在接收到功率计单元114传输的开路试验电压与相应的功率值后，将其与预设的测试标准中对应的预设电压阈值进行比较，若相等，则该测试频率下的校准工作完成，并记录此时信号发射单元112的输出功率作为校准输出功率，若不相等则需要继续调整直至功率计单元114传输的开路试验电压与预设电压阈值相等。在完成当前测试频率下的校准工作之后，控制单元111向开关单元115发出控制信号转移至下一测试频率，如此往复。

其中，预设的测试标准中规定的测试频率范围可以为国标GB/T17626.6-2017标准下的测试频率范围：150kHz～80MHz。在具体实施中，每次校准过程均只对应一个测试频率，校准过程既可以步进的方式覆盖全部150kHz～80MHz频率范围，优选的，频率步进不可以超过1％；也可以针对待测试器件的自身工作情况，选取测试频率范围：150kHz～80MHz内的一个或多个测试频率进行校准。

这里，当抗干扰测试系统100工作于测试模式时，由控制单元111向开关单元115发出控制信号，控制开关单元115由第一导通状态切换为第二导通状态，并向信号发射单元112发出控制信号，控制信号发射单元112以校准模式中存储的校准输出功率输出干扰信号，此时干扰信号经由第一耦合单元113进入开关单元115后传输至功率计单元114，控制单元111采集传输至功率计单元114的干扰信号，监测信号发射单元112是否正常输出干扰信号，若信号发射单元112的工作状态异常，则及时对信号发射单元112进行调整，保证信号发射单元112处于正常的工作状态。

可选的，控制单元111控制信号发射单元112在每个测试频率点输出干扰信号的停留时间可以根据待测试器件的运行时间确定，最短停留时间不小于0.5s。

示例性的，参见如下表1所示，为国标GB/T 17626.6-2017中规定的实验等级与开路试验电压的对照表。若某电子产品作为待测试器件需要进行试验等级为1的抗干扰测试，在校准过程中控制单元111向信号发射单元112输出控制信号，控制信号发射单元112输出干扰信号，直至控制单元111采集到的开路试验电压为表1中试验等级1对应的有效值120dB(μV)时，完成校准过程。

表1

这样，在进行传导骚扰抗扰度测试过程中，无需进行针对信号发射单元112进行手动调整与人工监视信号发射单元112的输出即可自动完成校准以及测试工作，工作人员仅需观察待测试器件的工作状态，降低了传导骚扰抗扰度测试的复杂度，提升测试效率，并且具有较高的准确度。

本申请实施例提供的一种抗干扰测试系统，主机模块、校准模块以及测试模块，其中，主机模块包括：控制单元、信号发射单元、第一耦合单元、功率计单元、开关单元以及功率衰减单元；控制单元与信号发射单元、开关单元以及功率计单元连接；开关单元包括第一导通状态以及第二导通状态；当抗干扰测试系统需要进行信号校准时，控制单元控制开关单元处于第一导通状态，信号校准通路导通工作；信号校准通路中包括依次串联的控制单元、信号发射单元、第一耦合单元、功率衰减单元、开关单元以及功率计单元，信号校准通路中的功率衰减单元连接校准模块，其中，校准模块用于接收由信号发射单元输出，经过功率衰减单元衰减后的干扰信号，生成用于校准干扰信号的开路试验电压，并将开路试验电压输入至功率衰减单元；当抗干扰测试系统需要进行测试时，控制单元控制开关单元处于第二导通状态，测试通路导通工作；测试通路中包括依次串联的控制单元、信号发射单元、第一耦合单元、开关单元以及功率计单元，测试通路中的第一耦合单元与功率衰减单元连接，测试模块连接功率衰减单元，其中，测试通路用于检测信号发射单元是否正常工作。在提升传导骚扰抗扰度测试的检测效率的同时，提升检测结果的准确度，并且可以应对复杂场景下的传导骚扰抗扰度测试工作。

参见图2所示，为本公开实施例提供的一种抗干扰测试系统100的结构示意图之二。

所述抗干扰测试系统100包括：主机模块110、校准模块120以及测试模块130，其中，所述主机模块110包括：控制单元111、信号发射单元112、第一耦合单元113、功率计单元114、开关单元115以及功率衰减单元116。信号发射单元112包括：信号源器件1121以及功率放大器件1122。功率衰减单元116包括：第一功率衰减器件1161以及第二功率衰减器件1162。

所述信号源器件1121与所述功率放大器件1122连接，所述功率放大器件1122与所述第一耦合单元113连接；所述第一功率衰减器件1161的输入端作为所述功率衰减单元116的第一输入端A，与所述第一耦合单元113连接；所述第一功率衰减器件1161的输出端作为所述功率衰减单元116的第一输出端B。

这里，当所述抗干扰测试系统100需要进行校准时，所述功率衰减单元116的第一输出端B与所述校准模块120连接；所述第二功率衰减器件1162的输入端作为所述功率衰减单元116的第二输入端C，与所述校准模块120连接；所述第二功率衰减器件1162的输出端作为所述功率衰减单元116的第二输出端D，与所述开关单元115连接。

进一步的，当所述抗干扰测试系统100需要进行测试时，所述功率衰减单元116的第一输出端B作为所述主机模块110的信号输出端与所述测试模块130连接，向所述测试模块130输入干扰信号。

这里，所述信号源器件1121用于产生所述干扰信号；所述功率放大器件1122用于放大所述信号源器件1121产生的干扰信号的电压值。所述第一功率衰减器件1161用于，根据预设第一衰减比例衰减所述信号发射单元112输入至所述校准模块120或测试模块130的干扰信号的功率；所述第二功率衰减器件1162用于，根据预设第二衰减比例衰减所述干扰信号经过所述校准模块120后输入至所述开关单元115的功率。

这里，由于一般的信号源器件1121很难直接满足高测试等级要求的电压值，因此需要设置功率放大器件1122，放大信号源器件1121输出的干扰信号，以满足高测试等级要求的电压值。

其中，所述第一衰减比例以及所述第二衰减比例的大小可以根据实际情况进行设置，在此不做具体限制。所述信号源器件1121可以为射频信号源。

优选的，所述第一功率衰减器件1161可以为6dB的衰减器，所述第二功率衰减器件1162可以为10dB的衰减器。

参见图3所示，为本公开实施例提供的一种抗干扰测试系统100的结构示意图之三。

所述抗干扰测试系统100包括：主机模块110、校准模块120以及测试模块130，其中，所述主机模块110包括：控制单元111、信号发射单元112、第一耦合单元113、功率计单元114、开关单元115以及功率衰减单元116。信号发射单元112包括：信号源器件1121以及功率放大器件1122。功率衰减单元116包括：第一功率衰减器件1161以及第二功率衰减器件1162。校准模块120包括：负载单元121、第二耦合单元122以及欧姆变换单元123。

这里，所述负载单元121、所述第二耦合单元122以及所述欧姆变换单元123依次连接。所述第二耦合单元122与所述功率衰减单元116连接，所述欧姆变换单元123与所述功率衰减单元116连接。

具体的，所述第二耦合单元122与所述功率衰减单元116中第一功率衰减器件1161连接，所述欧姆变换单元123与所述功率衰减单元116中第二功率衰减器件1162连接。

其中，负载单元121可以包括150-50ohm变换器以及50ohm负载；欧姆变换单元123可以包括150-50ohm变换器。

作为一种可能的实施方式，在抗干扰测试系统100处于测试模式工作下时，第二耦合单元122可以连接至测试模块130中的待测试器件的电源输入端；在该种连接方式下，所述第二耦合单元122用于，将所述信号发射单元112输出的干扰信号耦合至待测试器件的输入电源信号，用于针对所述待测试器件产生信号干扰，以测试所述待测试器件的抗干扰能力。

参见图4所示，为本公开实施例提供的一种抗干扰测试系统100的结构示意图之四。

所述抗干扰测试系统100包括：主机模块110、校准模块120以及测试模块130，其中，所述主机模块110包括：控制单元111、信号发射单元112、第一耦合单元113、功率计单元114、开关单元115以及功率衰减单元116。信号发射单元112包括：信号源器件1121以及功率放大器件1122。功率衰减单元116包括：第一功率衰减器件1161以及第二功率衰减器件1162。校准模块120包括：负载单元121、第二耦合单元122以及欧姆变换单元123。控制单元111包括：人机交互器件1111以及控制主板器件1112。人机交互器件1111包括触摸屏10以及键盘20。

所述人机交互器件1111与控制主板器件1112连接；所述控制主板器件1112与所述信号发射单元112、所述开关单元115以及所述功率计单元114连接；所述触摸屏10与所述控制主板器件1112连接；所述键盘20与所述控制主板器件1112连接。

这里，所述人机交互器件1111用于采集用户输入的测试参数；所述控制主板器件1112用于根据所述测试参数，控制所述开关单元115的导通状态以及所述信号发射单元112输出的干扰信号的参数。

作为一种可能的实施方式，触摸屏10装置于主机模块110的前面板上，通过(低电压差分信号，Low Voltage Differential Signaling，LVDS)接口与控制主板器件1112连接；键盘20装置于主机模块110的前面板上，通过通用串行总线(Universal Serial Bus，USB)接口与控制主板器件1112连接。

可选的，控制主板器件1112装载安卓系统，可读取功率计单元114计算得到的功率示数并根据用户设置控制开关单元115的导通状态。

本申请实施例提供的一种抗干扰测试系统，主机模块、校准模块以及测试模块，其中，主机模块包括：控制单元、信号发射单元、第一耦合单元、功率计单元、开关单元以及功率衰减单元；控制单元与信号发射单元、开关单元以及功率计单元连接；开关单元包括第一导通状态以及第二导通状态；当抗干扰测试系统需要进行信号校准时，控制单元控制开关单元处于第一导通状态，信号校准通路导通工作；信号校准通路中包括依次串联的控制单元、信号发射单元、第一耦合单元、功率衰减单元、开关单元以及功率计单元，信号校准通路中的功率衰减单元连接校准模块，其中，校准模块用于接收由信号发射单元输出，经过功率衰减单元衰减后的干扰信号，生成用于校准干扰信号的开路试验电压，并将开路试验电压输入至功率衰减单元；当抗干扰测试系统需要进行测试时，控制单元控制开关单元处于第二导通状态，测试通路导通工作；测试通路中包括依次串联的控制单元、信号发射单元、第一耦合单元、开关单元以及功率计单元，测试通路中的第一耦合单元与功率衰减单元连接，测试模块连接功率衰减单元，其中，测试通路用于检测信号发射单元是否正常工作。在提升传导骚扰抗扰度测试的检测效率的同时，提升检测结果的准确度，并且可以应对复杂场景下的传导骚扰抗扰度测试工作。

所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的系统和装置的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。在本公开所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的系统，可以通过其它的方式实现。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，又例如，多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些通信接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。

所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本公开各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。

所述功能如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个处理器可执行的非易失的计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本公开的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本公开各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-OnlyMemory，ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

最后应说明的是：以上所述实施例，仅为本公开的具体实施方式，用以说明本公开的技术方案，而非对其限制，本公开的保护范围并不局限于此，尽管参照前述实施例对本公开进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：任何熟悉本技术领域的技术人员在本公开揭露的技术范围内，其依然可以对前述实施例所记载的技术方案进行修改或可轻易想到变化，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改、变化或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本公开实施例技术方案的精神和范围，都应涵盖在本公开的保护范围之内。因此，本公开的保护范围应所述以权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种抗干扰测试系统，其特征在于，所述抗干扰测试系统包括：主机模块、校准模块以及测试模块，其中，所述主机模块包括：控制单元、信号发射单元、第一耦合单元、功率计单元、开关单元以及功率衰减单元；

所述控制单元与所述信号发射单元、所述开关单元以及所述功率计单元连接；所述开关单元包括第一导通状态以及第二导通状态；

当所述抗干扰测试系统需要进行信号校准时，所述控制单元控制所述开关单元处于第一导通状态，信号校准通路导通工作；

所述信号校准通路中包括依次串联的所述控制单元、所述信号发射单元、所述第一耦合单元、所述功率衰减单元、所述开关单元以及所述功率计单元，所述信号校准通路中的所述功率衰减单元连接所述校准模块，其中，所述校准模块用于接收由所述信号发射单元输出，经过所述功率衰减单元衰减后的干扰信号，生成用于校准所述干扰信号的开路试验电压，并将所述开路试验电压输入至所述功率衰减单元；

当所述抗干扰测试系统需要进行测试时，所述控制单元控制所述开关单元处于第二导通状态，测试通路导通工作；

所述测试通路中包括依次串联的所述控制单元、所述信号发射单元、所述第一耦合单元、所述开关单元以及所述功率计单元，所述测试通路中的所述第一耦合单元与所述功率衰减单元连接，所述测试模块连接所述功率衰减单元，其中，所述测试通路用于检测所述信号发射单元是否正常工作。

2.根据权利要求1所述的抗干扰测试系统，其特征在于：

在所述信号校准通路中，所述信号发射单元输出的干扰信号经所述第一耦合单元、所述功率衰减单元、所述校准模块后形成开路试验电压、所述开路试验电压经所述功率衰减单元、所述开关单元发送至所述功率计单元；

在所述测试通路中，所述信号发射单元输出的干扰信号经所述第一耦合单元、所述开关单元后发送至所述功率计单元，用以检测所述信号发射单元是否正常工作。

3.根据权利要求1所述的抗干扰测试系统，其特征在于，所述控制单元用于：

控制所述开关单元处于所述第一导通状态，调整所述信号发射单元在预设频率下输出的所述干扰信号的参数，当接收到的所述信号发射单元输出的干扰信号作用于所述校准模块的开路试验电压为预设电压阈值时，存储所述信号发射单元的校准输出功率；

将所述开关单元由所述第一导通状态切换至所述第二导通状态，根据所述校准输出功率调整所述信号发射单元输出的所述干扰信号的参数，根据接收到的所述功率计单元输出的功率计示数，确定所述信号发射单元是否正常工作。

4.根据权利要求1所述的抗干扰测试系统，其特征在于，所述信号发射单元包括信号源器件以及功率放大器件，

所述信号源器件与所述功率放大器件连接，所述功率放大器件与所述第一耦合单元连接；

所述信号源器件用于产生所述干扰信号；

所述功率放大器件用于放大所述信号源器件产生的干扰信号的电压值。

5.根据权利要求1所述的抗干扰测试系统，其特征在于，所述控制单元包括人机交互器件以及控制主板器件；

所述人机交互器件与控制主板器件连接；

所述控制主板器件与所述信号发射单元、所述开关单元以及所述功率计单元连接；

所述人机交互器件用于采集用户输入的测试参数；

所述控制主板器件用于根据所述测试参数，控制所述开关单元的导通状态以及所述信号发射单元输出的干扰信号的参数。

6.根据权利要求1所述的抗干扰测试系统，其特征在于，所述功率衰减单元包括第一功率衰减器件以及第二功率衰减器件；

所述第一功率衰减器件用于，根据预设第一衰减比例衰减所述信号发射单元输入至所述校准模块或所述测试模块的干扰信号的功率；

所述第二功率衰减器件用于，根据预设第二衰减比例衰减所述干扰信号经过所述校准模块后输入至所述开关单元的功率；

所述第一功率衰减器件的输入端作为所述功率衰减单元的第一输入端，与所述第一耦合单元连接；所述第一功率衰减器件的输出端作为所述功率衰减单元的第一输出端；

当所述抗干扰测试系统需要进行信号校准时，所述功率衰减单元的第一输出端与所述校准模块连接；所述第二功率衰减器件的输入端作为所述功率衰减单元的第二输入端，与所述校准模块连接；所述第二功率衰减器件的输出端作为所述功率衰减单元的第二输出端，与所述开关单元连接；

当所述抗干扰测试系统需要进行测试时，所述功率衰减单元的第一输出端作为所述主机模块的信号输出端与所述测试模块连接，向所述测试模块输入干扰信号。

7.根据权利要求1所述的抗干扰测试系统，其特征在于，所述校准模块包括：负载单元、第二耦合单元以及欧姆变换单元；

所述负载单元、所述第二耦合单元以及所述欧姆变换单元依次连接；

所述第二耦合单元与所述功率衰减单元连接，所述欧姆变换单元与所述功率衰减单元连接。

8.根据权利要求7所述的抗干扰测试系统，其特征在于：

所述第二耦合单元连接至待测试器件的电源输入端；

所述第二耦合单元用于，将所述信号发射单元输出的干扰信号耦合至待测试器件的输入电源信号，用于针对待测试器件产生信号干扰，以测试所述待测试器件的抗干扰能力。

9.根据权利要求5所述的抗干扰测试系统，其特征在于，所述人机交互器件包括触摸屏以及键盘；

所述触摸屏与所述控制主板器件连接；

所述键盘与所述控制主板器件连接。

10.根据权利要求1所述的抗干扰测试系统，其特征在于：

所述信号发射单元输出的干扰信号为射频信号。

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