CN114050987A - 物联网设备无接触调试系统及方法 - Google Patents

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Abstract

本发明揭示了一种物联网设备无接触调试系统及方法,所述物联网设备无接触调试系统包括调试主机及至少一物联网设备;物联网设备设有微处理器及调试机构,调试机构包括发射单元及接收单元;微处理器的IO引脚连接所述调试机构;物联网设备还包括发送控制模块及接收控制模块;发送控制模块通过调试机构的发射单元,将数据编码后发送至调试主机;接收控制模块通过调试机构的接收单元,将调试主机发送的数据解码,从而获取所述调试主机发送的数据。本发明既能实现无线调试功能,而且不需使用WIFI、蓝牙等价格昂贵、连接复杂的无线外设;具有无接触、开发简单、适用于所有物联网设备的特点;而且也能实现物联网设备到主机的双向通信功能。

Description

物联网设备无接触调试系统及方法
技术领域
本发明属于物联网技术领域,涉及一种物联网设备调试系统,尤其涉及一种物联网设备无接触调试系统及方法。
背景技术
传统的物联网设备调试,分为”无线”、”有线”两种方式。
有线调试方式使用串口或USB等连接物联网设备与主机。由于芯片一般会在片内集成串口等外设使得这种方式几乎不用外接任何转换器件即可实现。但是由于需要接线,所以一般只适用于研发调试阶段。
无线调试方式使用WI FI、蓝牙、BLE等连接物联网设备与主机。需要芯片在片内集成WI FI、蓝牙、BLE等外设;否则就要外接无线转换器件。价格昂贵,而且连接复杂。
有鉴于此,如今迫切需要设计一种新的物联网设备调试方式,以便克服现有调试方式存在的上述至少部分缺陷。
发明内容
本发明提供一种物联网设备无接触调试系统及方法,可在不需要使用价格昂贵、连接复杂的无线外设的情况下,实现所有物联网设备的无接触调试。
为解决上述技术问题,根据本发明的一个方面,采用如下技术方案:
一种物联网设备无接触调试系统,所述物联网设备无接触调试系统包括:调试主机及至少一物联网设备;
所述物联网设备设有微处理器及调试机构,所述调试机构包括发射单元及接收单元;所述微处理器的IO引脚连接所述调试机构;
所述物联网设备还包括发送控制模块及接收控制模块;所述发送控制模块通过所述调试机构的发射单元,将数据编码后发送至所述调试主机;
所述接收控制模块通过所述调试机构的接收单元,将所述调试主机发送的数据解码,从而获取所述调试主机发送的数据。
作为本发明的一种实施方式,所述发送控制模块采用脉冲间隔的方式对每个数据进行编码,控制所述发射单元开关的时间间隔来表示不同的逻辑位。
作为本发明的一种实施方式,所述接收控制模块通过脉冲间隔解析出对应的数据,得到原始信息。
作为本发明的一种实施方式,所述发射单元与接收单元为同时具备发射功能及接收功能的部件。
作为本发明的一种实施方式,所述发射单元为红外LED发射灯或可见光LED发射灯,所述接收单元为红外LED接收灯或可见光LED接收灯;或者,所述调试机构为同时具备发射及接收功能的红外LED灯或可见光LED灯。
根据本发明的一个方面,采用如下技术方案:一种物联网设备无接触调试方法,所述物联网设备无接触调试方法包括:
通过调试机构的发射单元,将数据编码后发送至调试主机;
通过调试机构的接收单元,将调试主机发送的数据解码,从而获取所述调试主机发送的数据。
作为本发明的一种实施方式,将数据编码后发送至调试主机步骤包括:采用脉冲间隔的方式对每个数据进行编码,控制所述发射单元开关的时间间隔来表示不同的逻辑位。
作为本发明的一种实施方式,将调试主机发送的数据解码步骤包括:通过脉冲间隔解析出对应的逻辑值,然后根据获取的至少一逻辑值得到原始信息。
作为本发明的一种实施方式,所述发射单元与接收单元为同时具备发射功能及接收功能的部件。
作为本发明的一种实施方式,所述发射单元为红外LED发射灯或可见光LED发射灯,所述接收单元为红外LED接收灯或可见光LED接收灯;或者,所述调试机构为同时具备发射及接收功能的红外LED灯或可见光LED灯。
本发明的有益效果在于:本发明提出的物联网设备无接触调试系统及方法,既能实现无线调试功能,而且不需使用WI FI、蓝牙等价格昂贵、连接复杂的无线外设;具有无接触、开发简单、适用于所有物联网设备的特点;而且也能实现物联网设备到主机的双向通信功能。
附图说明
图1为本发明一实施例中物联网设备无接触调试系统的组成示意图。
图2为本发明一实施例中物联网设备无接触调试方法的流程图。
图3为本发明一实施例中逻辑数据表达规则示意图。
具体实施方式
下面结合附图详细说明本发明的优选实施例。
为了进一步理解本发明,下面结合实施例对本发明优选实施方案进行描述,但是应当理解,这些描述只是为进一步说明本发明的特征和优点,而不是对本发明权利要求的限制。
该部分的描述只针对几个典型的实施例,本发明并不仅局限于实施例描述的范围。相同或相近的现有技术手段与实施例中的一些技术特征进行相互替换也在本发明描述和保护的范围内。
说明书中各个实施例中的步骤的表述只是为了方便说明,本申请的实现方式不受步骤实现的顺序限制。说明书中的“连接”既包含直接连接,也包含间接连接。
本发明揭示了一种物联网设备无接触调试系统,图1为本发明一实施例中物联网设备无接触调试系统的组成示意图;请参阅图1,所述物联网设备无接触调试系统包括:调试主机1及至少一物联网设备2。
所述物联网设备2设有微处理器21及调试机构22,所述调试机构22包括发射单元221及接收单元222;所述微处理器21的IO引脚连接所述调试机构22。
在本发明的一实施例中,所述发射单元221与接收单元222可以为分别具有发射功能、接收功能的部件;所述发射单元221与接收单元222也可以为同时具备发射功能及接收功能的部件。
在一实施例中,所述发射单元为红外LED发射灯或可见光LED发射灯,所述接收单元为红外LED接收灯或可见光LED接收灯;在另一实施例中,所述调试机构为同时具备发射及接收功能的红外LED灯或可见光LED灯。
所述物联网设备2还包括发送控制模块23及接收控制模块24;所述发送控制模块23通过所述调试机构22的发射单元221,将数据编码后发送至所述调试主机1。在一实施例中,所述发送控制模块23可采用脉冲间隔的方式对每个数据位进行编码;具体来说可以通过发射单元开关的时间间隔来表示不同的逻辑位。
例如发射单元开关的频率为40khz时,那么单次开关时间为25us。使用如下规则表达逻辑1,逻辑0:
“逻辑0”:500us的有效脉冲+500us的空闲间隔,总时长1ms;
“逻辑1”:500us的有效脉冲+1.5ms的空闲间隔,总时长2ms;具体如图3所示。
所述接收控制模块24通过所述调试机构22的接收单元222,将所述调试主机1发送的数据解码,从而获取所述调试主机1发送的数据。在一实施例中,所述接收控制模块24通过上述的脉冲间隔解析出逻辑1、逻辑0(当然也可以是其他逻辑值)。然后把所有二进制(当然也可以是其他进制)还原成原始信息。
本发明还揭示一种物联网设备无接触调试方法,图2为本发明一实施例中物联网设备无接触调试方法的流程图;请参阅图2,所述物联网设备无接触调试方法包括:
【步骤S1】通过调试机构的发射单元,将数据编码后发送至调试主机;
在一实施例中,将数据编码后发送至调试主机步骤包括:采用脉冲间隔的方式对每个数据进行编码,控制所述发射单元开关的时间间隔来表示不同的逻辑位。
【步骤S2】通过调试机构的接收单元,将调试主机发送的数据解码,从而获取所述调试主机发送的数据。
在一实施例中,将调试主机发送的数据解码步骤包括:通过脉冲间隔解析出对应的逻辑值,然后根据获取的至少一逻辑值得到原始信息。
综上所述,本发明提出的物联网设备无接触调试系统及方法,既能实现无线调试功能,而且不需使用WI FI、蓝牙等价格昂贵、连接复杂的无线外设;具有无接触、开发简单、适用于所有物联网设备的特点;而且也能实现物联网设备到主机的双向通信功能。
需要注意的是,本申请可在软件和/或软件与硬件的组合体中被实施;例如,可采用专用集成电路(ASIC)、通用目的计算机或任何其他类似硬件设备来实现。在一些实施例中,本申请的软件程序可以通过处理器执行以实现上文步骤或功能。同样地,本申请的软件程序(包括相关的数据结构)可以被存储到计算机可读记录介质中;例如,RAM存储器,磁或光驱动器或软磁盘及类似设备。另外,本申请的一些步骤或功能可采用硬件来实现;例如,作为与处理器配合从而执行各个步骤或功能的电路。
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合,为使描述简洁,未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述,然而,只要这些技术特征的组合不存在矛盾,都应当认为是本说明书记载的范围。
这里本发明的描述和应用是说明性的,并非想将本发明的范围限制在上述实施例中。实施例中所涉及的效果或优点可因多种因素干扰而可能不能在实施例中体现,对于效果或优点的描述不用于对实施例进行限制。这里所披露的实施例的变形和改变是可能的,对于那些本领域的普通技术人员来说实施例的替换和等效的各种部件是公知的。本领域技术人员应该清楚的是,在不脱离本发明的精神或本质特征的情况下,本发明可以以其它形式、结构、布置、比例,以及用其它组件、材料和部件来实现。在不脱离本发明范围和精神的情况下,可以对这里所披露的实施例进行其它变形和改变。

Claims (10)

1.一种物联网设备无接触调试系统,其特征在于,所述物联网设备无接触调试系统包括:调试主机及至少一物联网设备;
所述物联网设备设有微处理器及调试机构,所述调试机构包括发射单元及接收单元;所述微处理器的IO引脚连接所述调试机构;
所述物联网设备还包括发送控制模块及接收控制模块;所述发送控制模块通过所述调试机构的发射单元,将数据编码后发送至所述调试主机;
所述接收控制模块通过所述调试机构的接收单元,将所述调试主机发送的数据解码,从而获取所述调试主机发送的数据。
2.根据权利要求1所述的物联网设备无接触调试系统,其特征在于:
所述发送控制模块采用脉冲间隔的方式对每个数据进行编码,控制所述发射单元开关的时间间隔来表示不同的逻辑位。
3.根据权利要求2所述的物联网设备无接触调试系统,其特征在于:
所述接收控制模块通过脉冲间隔解析出对应的数据,得到原始信息。
4.根据权利要求1所述的物联网设备无接触调试系统,其特征在于:
所述发射单元与接收单元为同时具备发射功能及接收功能的部件。
5.根据权利要求1所述的物联网设备无接触调试系统,其特征在于:
所述发射单元为红外LED发射灯或可见光LED发射灯,所述接收单元为红外LED接收灯或可见光LED接收灯;或者,所述调试机构为同时具备发射及接收功能的红外LED灯或可见光LED灯。
6.一种物联网设备无接触调试方法,其特征在于,所述物联网设备无接触调试方法包括:
通过调试机构的发射单元,将数据编码后发送至调试主机;
通过调试机构的接收单元,将调试主机发送的数据解码,从而获取所述调试主机发送的数据。
7.根据权利要求6所述的物联网设备无接触调试方法,其特征在于:
将数据编码后发送至调试主机步骤包括:采用脉冲间隔的方式对每个数据进行编码,控制所述发射单元开关的时间间隔来表示不同的逻辑位。
8.根据权利要求7所述的物联网设备无接触调试方法,其特征在于:
将调试主机发送的数据解码步骤包括:通过脉冲间隔解析出对应的逻辑值,然后根据获取的至少一逻辑值得到原始信息。
9.根据权利要求6所述的物联网设备无接触调试方法,其特征在于:
所述发射单元与接收单元为同时具备发射功能及接收功能的部件。
10.根据权利要求6所述的物联网设备无接触调试方法,其特征在于:
所述发射单元为红外LED发射灯或可见光LED发射灯,所述接收单元为红外LED接收灯或可见光LED接收灯;或者,所述调试机构为同时具备发射及接收功能的红外LED灯或可见光LED灯。
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