CN114019288A - 一种gis盆式绝缘子老化试验方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种GIS盆式绝缘子老化试验方法，它包括绝缘子介质损耗测试工装，绝缘子介质损耗测试工装右侧设置有高压电源，高压电源下方设置有电流比较仪式电桥，电流比较仪式电桥右侧设置有标准电容；本发明具有可屏蔽外界电磁信号干扰、消除杂散电容的影响、保证测量精度的优点。
Description
技术领域
本发明属于GIS盆式绝缘子技术领域，具体涉及一种GIS盆式绝缘子老化试验方法。
背景技术
全封闭组合电器(GIS)是电力系统中的重要设备，GIS盆式绝缘子的绝缘性能是影响GIS设备正常运行的重要因素，盆式绝缘子工作在GIS封闭金属外壳中，长期承受高电压，高温环境，其老化主要是电老化和热老化，电老化主要是由于电场作用产生绝缘老化现象，盆式绝缘子在工作过程中，由于表面自由电荷或金属颗粒的聚集，以及本身可能存在的内部气泡缺陷，会在交流电压场强下形成局部电场过强，产生局部放电，长期局部放电的累积效应造成绝缘子绝缘性能的老化，固体电介质的性能在长期受热的情况下逐渐劣化，失去原来的优良性能，称为热老化；因此，提供一种可屏蔽外界电磁信号干扰、消除杂散电容的影响、保证测量精度的一种GIS盆式绝缘子老化试验方法是非常有必要的。
发明内容
本发明的目的是为了克服现有技术的不足，而提供一种可屏蔽外界电磁信号干扰、消除杂散电容的影响、保证测量精度的一种GIS盆式绝缘子老化试验方法。
本发明的目的是这样实现的：一种GIS盆式绝缘子老化试验方法，它包括绝缘子介质损耗测试工装，所述的绝缘子介质损耗测试工装右侧设置有高压电源，所述的高压电源下方设置有电流比较仪式电桥，所述的电流比较仪式电桥右侧设置有标准电容。
所述方法包括以下步骤：
步骤1)：取十只测试用GIS绝缘子并进行命名，新的绝缘子被命名为N1、N2、N3、N4和N5，服役五年的绝缘子被命名为U1、U2、U3、U4和U5；
步骤2)：将十只测试用绝缘子表面用无尘纸蘸取酒精进行表面污物清洁；
步骤3)：将十只测试用绝缘子在80℃的烘箱中鼓风干燥4h；
步骤4)：为了对整个测试系统进行评价，在对被测试品测试前，采用基于电流比较仪式的GIS盆式绝缘子介质损耗的测试方法先对介质损耗标准器进行测试，它是由98.89pF的标准电容和可调电阻组成的8个档位，可以对整个系统测试误差进行标定；
步骤5)：在10KV电压下，对介质损耗标准器进行电容和介损进行测试，并记录测试结果，与介损标准值进行比较；
步骤6)：在20KV电压下，分别对5只全新的绝缘子以及5只服役五年的绝缘子的电容和介损进行测试，并记录测试结果；
步骤7)：基于电容和介损的测试结果并进行数据对比，对盆式绝缘子寿命进行评估，并基于评估结果，对盆式绝缘子执行不同的寿命维护策略。
所述的步骤4)中采用的基于电流比较仪式的GIS盆式绝缘子介质损耗的测试方法，电流比较仪式电桥的基本工作原理为：在环形铁芯上绕两个匝数分别为WS和WX的绕组，再绕一个指示绕组Wd，Wd并接在一指零仪D，这就构成了一个电流比较器，它工作在铁芯磁化特性的线性范围内，CX为试品，CS为无损标准电容，R为标准可调电阻，C为R和CS的中点接地电容，IX为流经CX和WX的电流，WX又称测量臂绕组，IS、IR分别为流经CS和R，WS的电流，WS称为标准臂绕组，当适当调节WX、WS的匝数及R阻值，可使WX和WS上的安匝数相等，此时由于WX和WS的绕向相反，则在铁芯上产生的磁通量φS和φX的大小相等而方向相反，Wd上的感应电动势为零，指零仪指零，电流比较器即处于平衡状态，CX仍看作串联等效电路，WX、WS的内阻和CX、CS的阻抗相比可忽略不计，可得到：
IX＝UXjωCX/(1+jωRXCX) (1)
IS＝UjωCS(1+jωRC)/[1+jωR(C+CS)] (2)
IR＝IS(1+jωRC)＝UjωCS[1+jωR(C+CS)] (3)
将IS、IR代入安匝平衡条件WXIX＝WSIR并展开，将实部和虚部分开可得：
CX＝CSWS/WX (4)
RX＝R(C+CS)WX/(CSWS) (5)
tanδ＝ωRXCX＝ωR(C+CS) (6)
由此可求得以并联等效电路代表试品时相应的值为：
tanδ＝1/(ωRXCX)＝ωR(C+CS) (7)
CX＝(CSWS)/[(1+tan2δ)WX]＝CSWS/WX (8)。
所述的标准电容的额定电压为60KV，额定容量为10pF。
所述的步骤4)中采用的基于电流比较仪式的GIS盆式绝缘子介质损耗的测试方法，电流比较仪式电桥的介损分辨率为1×10-6，介损精度为±0.5％rdg±5×10-5，电容分辨率为0.001pF，电容精度为±0.0.2％rdg±0.01。
所述的绝缘子介质损耗测试工装底部还设置有四个可移动的底座，底座上设置有可固定用于支撑被测盆式绝缘子玻璃钢柱形体，所述的绝缘子介质损耗测试工装上侧和右侧金属面均设置有供高压线和测量线接入的开孔，且所述的绝缘子介质损耗测试工装外壳、所述的高压电源、所述的电流比较仪式电桥以及所述的标准电容均进行接地。
本发明的有益效果：本发明为GIS盆式绝缘子老化试验方法，在使用中，取十只测试用GIS绝缘子并进行命名，新的绝缘子被命名为N1、N2、N3、N4和N5，服役五年的绝缘子被命名为U1、U2、U3、U4和U5；将十只测试用绝缘子表面用无尘纸蘸取酒精进行表面污物清洁；将十只测试用绝缘子在80℃的烘箱中鼓风干燥4h；为了对整个测试系统进行评价，在对被测试品测试前，采用基于电流比较仪式的GIS盆式绝缘子介质损耗的测试方法先对介质损耗标准器进行测试，它是由98.89pF的标准电容和可调电阻组成的8个档位，可以对整个系统测试误差进行标定；在10KV电压下，对介质损耗标准器进行电容和介损进行测试，并记录测试结果，与介损标准值进行比较；在20KV电压下，分别对5只全新的绝缘子以及5只服役五年的绝缘子的电容和介损进行测试，并记录测试结果；基于电容和介损的测试结果并进行数据对比，对盆式绝缘子寿命进行评估，并基于评估结果，对盆式绝缘子执行不同的寿命维护策略；本发明采用基于电流比较仪式的GIS盆式绝缘子介质损耗的测试方法，电流准确度也取决于标准元件R、C、CX及WX、WS的准确度，WS和WX是电流比较器的标准臂和测量臂绕组的匝数，可以较为精确的设置，故电桥的测量准确度得以保证，在平衡条件下WS和WX的内阻均很小，每100匝仅约0.6Ω，故其附近的杂散电容分流的影响可忽略，标准臂上连接的中性点接地电容C，其电容值比杂散电容大的多，故其附近的杂散电容的影响也可忽略，绝缘子介质损耗测试工装能够降低杂散电容的影响，同时屏蔽外界电磁场的干扰，采用屏蔽线连接，屏蔽层相互连在一起使外界电场引起的感应电荷由屏蔽直接入地，能够有效实现固定盆式绝缘子杂散电容，精确测量绝缘子的介质损耗并依此判断绝缘子老化状态；本发明具有可屏蔽外界电磁信号干扰、消除杂散电容的影响、保证测量精度的优点。
附图说明
图1为本发明一种GIS盆式绝缘子老化试验方法的绝缘子介质损耗测试工装的结构示意图。
图2为本发明一种GIS盆式绝缘子老化试验方法的电流比较仪式电桥的测试原理电路图。
图3为本发明一种GIS盆式绝缘子老化试验方法的标准电容的介损测试对比表。
图4为本发明一种GIS盆式绝缘子老化试验方法的盆式绝缘子的电容和介损测试结果表。
图5为本发明一种GIS盆式绝缘子老化试验方法的盆式绝缘子的电容和介损以及电容和介损的平均值柱状图。
图中：1、绝缘子介质损耗测试工装 2、高压电源 3、电流比较仪式电桥 4、标准电容。
具体实施方式
下面结合附图对本发明做进一步的说明。
实施例1
如图1-5所示，一种GIS盆式绝缘子老化试验方法，它包括绝缘子介质损耗测试工装，所述的绝缘子介质损耗测试工装右侧设置有高压电源，所述的高压电源下方设置有电流比较仪式电桥，所述的电流比较仪式电桥右侧设置有标准电容。
所述方法包括以下步骤：
步骤1)：取十只测试用GIS绝缘子并进行命名，新的绝缘子被命名为N1、N2、N3、N4和N5，服役五年的绝缘子被命名为U1、U2、U3、U4和U5；
步骤2)：将十只测试用绝缘子表面用无尘纸蘸取酒精进行表面污物清洁；
步骤3)：将十只测试用绝缘子在80℃的烘箱中鼓风干燥4h；
步骤4)：为了对整个测试系统进行评价，在对被测试品测试前，采用基于电流比较仪式的GIS盆式绝缘子介质损耗的测试方法先对介质损耗标准器进行测试，它是由98.89pF的标准电容和可调电阻组成的8个档位，可以对整个系统测试误差进行标定；
步骤5)：在10KV电压下，对介质损耗标准器进行电容和介损进行测试，并记录测试结果，与介损标准值进行比较；
步骤6)：在20KV电压下，分别对5只全新的绝缘子以及5只服役五年的绝缘子的电容和介损进行测试，并记录测试结果；
步骤7)：基于电容和介损的测试结果并进行数据对比，对盆式绝缘子寿命进行评估，并基于评估结果，对盆式绝缘子执行不同的寿命维护策略。
所述的步骤4)中采用的基于电流比较仪式的GIS盆式绝缘子介质损耗的测试方法，电流比较仪式电桥的基本工作原理为：在环形铁芯上绕两个匝数分别为WS和WX的绕组，再绕一个指示绕组Wd，Wd并接在一指零仪D，这就构成了一个电流比较器，它工作在铁芯磁化特性的线性范围内，CX为试品，CS为无损标准电容，R为标准可调电阻，C为R和CS的中点接地电容，IX为流经CX和WX的电流，WX又称测量臂绕组，IS、IR分别为流经CS和R，WS的电流，WS称为标准臂绕组，当适当调节WX、WS的匝数及R阻值，可使WX和WS上的安匝数相等，此时由于WX和WS的绕向相反，则在铁芯上产生的磁通量φS和φX的大小相等而方向相反，Wd上的感应电动势为零，指零仪指零，电流比较器即处于平衡状态，CX仍看作串联等效电路，WX、WS的内阻和CX、CS的阻抗相比可忽略不计，可得到：
IX＝UXjωCX/(1+jωRXCX) (1)
IS＝UjωCS(1+jωRC)/[1+jωR(C+CS)] (2)
IR＝IS(1+jωRC)＝UjωCS[1+jωR(C+CS)] (3)
将IS、IR代入安匝平衡条件WXIX＝WSIR并展开，将实部和虚部分开可得：
CX＝CSWS/WX (4)
RX＝R(C+CS)WX/(CSWS) (5)
tanδ＝ωRXCX＝ωR(C+CS) (6)
由此可求得以并联等效电路代表试品时相应的值为：
tanδ＝1/(ωRXCX)＝ωR(C+CS) (7)
CX＝(CSWS)/[(1+tan2δ)WX]＝CSWS/WX (8)。
所述的标准电容4的额定电压为60KV，额定容量为10pF。
所述的步骤4)中采用的基于电流比较仪式的GIS盆式绝缘子介质损耗的测试方法，电流比较仪式电桥的介损分辨率为1×10-6，介损精度为±0.5％rdg±5×10-5，电容分辨率为0.001pF，电容精度为±0.0.2％rdg±0.01。
所述的绝缘子介质损耗测试工装1底部还设置有四个可移动的底座，底座上设置有可固定用于支撑被测盆式绝缘子玻璃钢柱形体，所述的绝缘子介质损耗测试工装1上侧和右侧金属面均设置有供高压线和测量线接入的开孔，且所述的绝缘子介质损耗测试工装1外壳、所述的高压电源2、所述的电流比较仪式电桥3以及所述的标准电容4均进行接地。
本发明为GIS盆式绝缘子老化试验方法，在使用中，取十只测试用GIS绝缘子并进行命名，新的绝缘子被命名为N1、N2、N3、N4和N5，服役五年的绝缘子被命名为U1、U2、U3、U4和U5；将十只测试用绝缘子表面用无尘纸蘸取酒精进行表面污物清洁；将十只测试用绝缘子在80℃的烘箱中鼓风干燥4h；为了对整个测试系统进行评价，在对被测试品测试前，采用基于电流比较仪式的GIS盆式绝缘子介质损耗的测试方法先对介质损耗标准器进行测试，它是由98.89pF的标准电容和可调电阻组成的8个档位，可以对整个系统测试误差进行标定；在10KV电压下，对介质损耗标准器进行电容和介损进行测试，并记录测试结果，与介损标准值进行比较；在20KV电压下，分别对5只全新的绝缘子以及5只服役五年的绝缘子的电容和介损进行测试，并记录测试结果；基于电容和介损的测试结果并进行数据对比，对盆式绝缘子寿命进行评估，并基于评估结果，对盆式绝缘子执行不同的寿命维护策略；本发明采用基于电流比较仪式的GIS盆式绝缘子介质损耗的测试方法，电流准确度也取决于标准元件R、C、CX及WX、WS的准确度，WS和WX是电流比较器的标准臂和测量臂绕组的匝数，可以较为精确的设置，故电桥的测量准确度得以保证，在平衡条件下WS和WX的内阻均很小，每100匝仅约0.6Ω，故其附近的杂散电容分流的影响可忽略，标准臂上连接的中性点接地电容C，其电容值比杂散电容大的多，故其附近的杂散电容的影响也可忽略，绝缘子介质损耗测试工装1能够降低杂散电容的影响，同时屏蔽外界电磁场的干扰，采用屏蔽线连接，屏蔽层相互连在一起使外界电场引起的感应电荷由屏蔽直接入地，能够有效实现固定盆式绝缘子杂散电容，精确测量绝缘子的介质损耗并依此判断绝缘子老化状态；本发明具有可屏蔽外界电磁信号干扰、消除杂散电容的影响、保证测量精度的优点。
实施例2
如图1-5所示，一种GIS盆式绝缘子老化试验方法，它包括绝缘子介质损耗测试工装，所述的绝缘子介质损耗测试工装右侧设置有高压电源，所述的高压电源下方设置有电流比较仪式电桥，所述的电流比较仪式电桥右侧设置有标准电容。
所述方法包括以下步骤：
步骤1)：取十只测试用GIS绝缘子并进行命名，新的绝缘子被命名为N1、N2、N3、N4和N5，服役五年的绝缘子被命名为U1、U2、U3、U4和U5；
步骤2)：将十只测试用绝缘子表面用无尘纸蘸取酒精进行表面污物清洁；
步骤3)：将十只测试用绝缘子在80℃的烘箱中鼓风干燥4h；
步骤4)：为了对整个测试系统进行评价，在对被测试品测试前，采用基于电流比较仪式的GIS盆式绝缘子介质损耗的测试方法先对介质损耗标准器进行测试，它是由98.89pF的标准电容和可调电阻组成的8个档位，可以对整个系统测试误差进行标定；
步骤5)：在10KV电压下，对介质损耗标准器进行电容和介损进行测试，并记录测试结果，与介损标准值进行比较；
步骤6)：在20KV电压下，分别对5只全新的绝缘子以及5只服役五年的绝缘子的电容和介损进行测试，并记录测试结果；
步骤7)：基于电容和介损的测试结果并进行数据对比，对盆式绝缘子寿命进行评估，并基于评估结果，对盆式绝缘子执行不同的寿命维护策略。
所述的步骤4)中采用的基于电流比较仪式的GIS盆式绝缘子介质损耗的测试方法，电流比较仪式电桥的基本工作原理为：在环形铁芯上绕两个匝数分别为WS和WX的绕组，再绕一个指示绕组Wd，Wd并接在一指零仪D，这就构成了一个电流比较器，它工作在铁芯磁化特性的线性范围内，CX为试品，CS为无损标准电容，R为标准可调电阻，C为R和CS的中点接地电容，IX为流经CX和WX的电流，WX又称测量臂绕组，IS、IR分别为流经CS和R，WS的电流，WS称为标准臂绕组，当适当调节WX、WS的匝数及R阻值，可使WX和WS上的安匝数相等，此时由于WX和WS的绕向相反，则在铁芯上产生的磁通量φS和φX的大小相等而方向相反，Wd上的感应电动势为零，指零仪指零，电流比较器即处于平衡状态，CX仍看作串联等效电路，WX、WS的内阻和CX、CS的阻抗相比可忽略不计，可得到：
IX＝UXjωCX/(1+jωRXCX) (1)
IS＝UjωCS(1+jωRC)/[1+jωR(C+CS)] (2)
IR＝IS(1+jωRC)＝UjωCS[1+jωR(C+CS)] (3)
将IS、IR代入安匝平衡条件WXIX＝WSIR并展开，将实部和虚部分开可得：
CX＝CSWS/WX (4)
RX＝R(C+CS)WX/(CSWS) (5)
tanδ＝ωRXCX＝ωR(C+CS) (6)
由此可求得以并联等效电路代表试品时相应的值为：
tanδ＝1/(ωRXCX)＝ωR(C+CS) (7)
CX＝(CSWS)/[(1+tan2δ)WX]＝CSWS/WX (8)。
所述的标准电容4的额定电压为60KV，额定容量为10pF。
所述的步骤4)中采用的基于电流比较仪式的GIS盆式绝缘子介质损耗的测试方法，电流比较仪式电桥的介损分辨率为1×10-6，介损精度为±0.5％rdg±5×10-5，电容分辨率为0.001pF，电容精度为±0.0.2％rdg±0.01。
所述的绝缘子介质损耗测试工装1底部还设置有四个可移动的底座，底座上设置有可固定用于支撑被测盆式绝缘子玻璃钢柱形体，所述的绝缘子介质损耗测试工装1上侧和右侧金属面均设置有供高压线和测量线接入的开孔，且所述的绝缘子介质损耗测试工装1外壳、所述的高压电源2、所述的电流比较仪式电桥3以及所述的标准电容4均进行接地。
本发明为GIS盆式绝缘子老化试验方法，在使用中，取十只测试用GIS绝缘子并进行命名，新的绝缘子被命名为N1、N2、N3、N4和N5，服役五年的绝缘子被命名为U1、U2、U3、U4和U5；将十只测试用绝缘子表面用无尘纸蘸取酒精进行表面污物清洁；将十只测试用绝缘子在80℃的烘箱中鼓风干燥4h；为了对整个测试系统进行评价，在对被测试品测试前，采用基于电流比较仪式的GIS盆式绝缘子介质损耗的测试方法先对介质损耗标准器进行测试，它是由98.89pF的标准电容和可调电阻组成的8个档位，可以对整个系统测试误差进行标定；在10KV电压下，对介质损耗标准器进行电容和介损进行测试，并记录测试结果，与介损标准值进行比较；在20KV电压下，分别对5只全新的绝缘子以及5只服役五年的绝缘子的电容和介损进行测试，并记录测试结果；基于电容和介损的测试结果并进行数据对比，对盆式绝缘子寿命进行评估，并基于评估结果，对盆式绝缘子执行不同的寿命维护策略；本发明采用基于电流比较仪式的GIS盆式绝缘子介质损耗的测试方法，电流准确度也取决于标准元件R、C、CX及WX、WS的准确度，WS和WX是电流比较器的标准臂和测量臂绕组的匝数，可以较为精确的设置，故电桥的测量准确度得以保证，在平衡条件下WS和WX的内阻均很小，每100匝仅约0.6Ω，故其附近的杂散电容分流的影响可忽略，标准臂上连接的中性点接地电容C，其电容值比杂散电容大的多，故其附近的杂散电容的影响也可忽略，绝缘子介质损耗测试工装1能够降低杂散电容的影响，同时屏蔽外界电磁场的干扰，采用屏蔽线连接，屏蔽层相互连在一起使外界电场引起的感应电荷由屏蔽直接入地，能够有效实现固定盆式绝缘子杂散电容，精确测量绝缘子的介质损耗并依此判断绝缘子老化状态；本发明具有可屏蔽外界电磁信号干扰、消除杂散电容的影响、保证测量精度的优点。
Claims (6)
1.一种GIS盆式绝缘子老化试验方法，它包括绝缘子介质损耗测试工装，其特征在于：所述的绝缘子介质损耗测试工装右侧设置有高压电源，所述的高压电源下方设置有电流比较仪式电桥，所述的电流比较仪式电桥右侧设置有标准电容。
2.如权利要求1所述的一种GIS盆式绝缘子老化试验方法，其特征在于：所述方法包括以下步骤：
步骤1)：取十只测试用GIS绝缘子并进行命名，新的绝缘子被命名为N1、N2、N3、N4和N5，服役五年的绝缘子被命名为U1、U2、U3、U4和U5；
步骤2)：将十只测试用绝缘子表面用无尘纸蘸取酒精进行表面污物清洁；
步骤3)：将十只测试用绝缘子在80℃的烘箱中鼓风干燥4h；
步骤4)：为了对整个测试系统进行评价，在对被测试品测试前，采用基于电流比较仪式的GIS盆式绝缘子介质损耗的测试方法先对介质损耗标准器进行测试，它是由98.89pF的标准电容和可调电阻组成的8个档位，可以对整个系统测试误差进行标定；
步骤5)：在10KV电压下，对介质损耗标准器进行电容和介损进行测试，并记录测试结果，与介损标准值进行比较；
步骤6)：在20KV电压下，分别对5只全新的绝缘子以及5只服役五年的绝缘子的电容和介损进行测试，并记录测试结果；
步骤7)：基于电容和介损的测试结果并进行数据对比，对盆式绝缘子寿命进行评估，并基于评估结果，对盆式绝缘子执行不同的寿命维护策略。
3.如权利要求2所述的一种GIS盆式绝缘子老化试验方法，其特征在于：所述的步骤4)中采用的基于电流比较仪式的GIS盆式绝缘子介质损耗的测试方法，电流比较仪式电桥的基本工作原理为：在环形铁芯上绕两个匝数分别为WS和WX的绕组，再绕一个指示绕组Wd，Wd并接在一指零仪D，这就构成了一个电流比较器，它工作在铁芯磁化特性的线性范围内，CX为试品，CS为无损标准电容，R为标准可调电阻，C为R和CS的中点接地电容，IX为流经CX和WX的电流，WX又称测量臂绕组，IS、IR分别为流经CS和R，WS的电流，WS称为标准臂绕组，当适当调节WX、WS的匝数及R阻值，可使WX和WS上的安匝数相等，此时由于WX和WS的绕向相反，则在铁芯上产生的磁通量φS和φX的大小相等而方向相反，Wd上的感应电动势为零，指零仪指零，电流比较器即处于平衡状态，CX仍看作串联等效电路，WX、WS的内阻和CX、CS的阻抗相比可忽略不计，可得到：
IX＝UXjωCX/(1+jωRXCX) (1)
IS＝UjωCS(1+jωRC)/[1+jωR(C+CS)] (2)
IR＝IS(1+jωRC)＝UjωCS[1+jωR(C+CS)] (3)
将IS、IR代入安匝平衡条件WXIX＝WSIR并展开，将实部和虚部分开可得：
CX＝CSWS/WX (4)
RX＝R(C+CS)WX/(CSWS) (5)
tanδ＝ωRXCX＝ωR(C+CS) (6)
由此可求得以并联等效电路代表试品时相应的值为：
tanδ＝1/(ωRXCX)＝ωR(C+CS) (7)
CX＝(CSWS)/[(1+tan2δ)WX]＝CSWS/WX (8)。
4.如权利要求1所述的一种GIS盆式绝缘子老化试验方法，其特征在于：所述的标准电容的额定电压为60KV，额定容量为10pF。
5.如权利要求3所述的一种GIS盆式绝缘子老化试验方法，其特征在于：所述的步骤4)中采用的基于电流比较仪式的GIS盆式绝缘子介质损耗的测试方法，电流比较仪式电桥的介损分辨率为1×10-6，介损精度为±0.5％rdg±5×10-5，电容分辨率为0.001pF，电容精度为±0.0.2％rdg±0.01。
6.如权利要求1所述的一种GIS盆式绝缘子老化试验方法，其特征在于：所述的绝缘子介质损耗测试工装底部还设置有四个可移动的底座，底座上设置有可固定用于支撑被测盆式绝缘子玻璃钢柱形体，所述的绝缘子介质损耗测试工装上侧和右侧金属面均设置有供高压线和测量线接入的开孔，且所述的绝缘子介质损耗测试工装外壳、所述的高压电源、所述的电流比较仪式电桥以及所述的标准电容均进行接地。
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