CN113985238A - 耐电压和esd测试的控制电路、耐电压测试方法及内窥镜 - Google Patents

耐电压和esd测试的控制电路、耐电压测试方法及内窥镜 Download PDF

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CN113985238A CN202111588855.7A CN202111588855A CN113985238A CN 113985238 A CN113985238 A CN 113985238A CN 202111588855 A CN202111588855 A CN 202111588855A CN 113985238 A CN113985238 A CN 113985238A
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Abstract

本发明公开了一种耐电压和ESD测试的控制电路、耐电压测试方法及内窥镜，控制电路包括开关电源、隔离电路和可调电气元件，开关电源用于与电网电源电连接，开关电源与隔离电路串联连接，可调电气元件与开关电源和隔离电路电连接。采用参数方法描述控制电路，通过测量控制电路的分布电容、分布电感、分布电阻和分布电导，计算控制电路的总阻抗，根据电子内窥镜的耐电压等级值，计算漏电流确定电子内窥镜的耐电压性能，实现了电子内窥镜的耐电压测试；在ESD测试过程中，可调电气元件作为放电途径，以防止静电放电流经电子内窥镜内部而导致电子内窥镜发生故障；本发明提高了电子内窥镜的安全性以及可靠性，并提升了内窥镜手术的安全性。

Description

耐电压和ESD测试的控制电路、耐电压测试方法及内窥镜
技术领域
本发明属于医疗器械测试领域，具体涉及一种耐电压和ESD测试的控制电路、耐电压测试方法及内窥镜。
背景技术
目前，电气设备、家用电器、电气元件等进行耐电压测试时，采用耐电压测试仪直接与待测设备的金属外壳电连接测试；在耐电压测试之前，依据电气安全性能指标设置耐压测试仪的输出电压和漏电流，根据测试结果确定待测设备的耐电压性能。
由于医用电子内窥镜作用于人体内部，对于安全和可靠性有很高的要求，内窥镜与耐电压和ESD测试的控制电路由绝缘材料隔离，使得内窥镜直接与输入网电源隔离，不能采用耐电压测试仪直接进行耐电压测试。
发明内容
本发明实施例的目的是提供一种耐电压和ESD测试的控制电路、耐电压测试方法及内窥镜，能够解决现有技术进行电子内窥镜耐电压测试的问题。
为了解决上述技术问题，本发明是这样实现的：
第一方面，本发明实施例提供了一种耐电压和ESD测试的控制电路，包括：开关电源、隔离电路和可调电气元件；
所述开关电源的输入端与电网电源电连接，所述开关电源的输出端与所述隔离电路的输入端电连接，所述隔离电路的输出端与电子内窥镜电连接，所述开关电源用于将电源输入的高电压转换为直流低电压，所述隔离电路用于将所述开关电源的电压转换为所述电子内窥镜所需输入电压；
所述可调电气元件与所述开关电源和所述隔离电路电连接，所述可调电气元件用于静电放电测试的放电途径；
其中，所述耐电压和ESD测试的控制电路能够通过分布参数描述并被测量分布参数值，所述分布参数值用于确定所述电子内窥镜的耐电压性能。
第二方面，本发明实施例提供了一种耐电压测试方法，包括：
获取所述开关电源的等效电容和隔离电路的等效电容；
基于所述开关电源的等效电容和所述隔离电路的等效电容，确定所述开关电源和所述隔离电路的总等效电抗；
根据耐电压的值，确定所述耐电压和ESD测试的控制电路的漏电流，所述漏电流用于确定电子内窥镜的耐电压性能；
第三方面，本发明实施例提供了一种内窥镜，所述内窥镜包括前述的耐电压和ESD测试的控制电路。
在本发明实施例中，提出了一种耐电压和ESD测试的控制电路，由开关电源、隔离电路和可调电气元件组成，开关电源和隔离电路串联，开关电源为隔离电路提供直流电压，隔离电路为电子内窥镜的内置电路板提供直流电压，可调电气元件与隔离电路电连接。由于医用内窥镜与控制电路由绝缘材料隔离，不能直接使用耐电压测试仪进行电子内窥镜的耐电压测试，采用参数方法描述控制电路，通过测量控制电路的分布电容、分布电感、分布电阻和分布电导，计算控制电路的总阻抗，根据电子内窥镜的耐电压等级值，计算漏电流确定电子内窥镜的耐电压性能，实现了电子内窥镜的耐电压测试；在ESD测试过程中，可调电气元件作为放电途径，以防止静电放电流经电子内窥镜内部而导致电子内窥镜发生故障；本发明控制电路提高了电子内窥镜的安全性以及可靠性，并提升了内窥镜手术的安全性。
附图说明
图1是根据本发明实施例的第一种耐电压和ESD测试的控制电路的示意图；
图2是根据本发明实施例的转换器的电路示意图；
图3是根据本发明实施例的耐电压和ESD测试的控制电路的第一种等效分布电容的示意图；
图4是根据本发明实施例的电子内窥镜的静电放电测试的示意图；
图5是根据本发明实施例的耐电压和ESD测试的控制电路的第二种等效分布电容的示意图；
图6是根据本发明实施例的耐电压和ESD测试的控制电路的第二种耐电压和ESD测试的控制电路的示意图；
图7是根据本发明实施例的耐电压测试方法的流程图。
附图标记
41-电子内窥镜，411-电路板接地端，412-等效控制电路输出端，413-电子内窥镜内部等效分布电容，414-电缆等效分布电容，42-电网电源，421-电源接地端，422-等效电源输入端，43-摄像头控制单元，431-控制电路接地端，435-隔离电路，4351-转换器，4352-稳压器，4353-等效隔离电路分布电容，4354-可调电气元件，437-开关电源，4371-等效开关电源分布电容，44-静电枪，45-参考接地板。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
本发明的说明书和权利要求书中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便本发明的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，说明书以及权利要求中“和/或”表示所连接对象的至少其中之一，字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
下面结合附图1-图7，通过具体的实施例及其应用场景对本发明实施例提供的耐电压和ESD测试的控制电路、耐电压测试方法及医用电子内窥镜进行详细地说明。
本发明的耐电压和ESD测试的控制电路适用于医用电子内窥镜中的耐电压测试和静电放电测试，可以解决现有技术进行电子内窥镜耐电压测试的问题以及静电放电测试过程中内部电路工作异常的问题，确保电子内窥镜的安全性和可靠性。
如图1-图6所示，根据本发明一些实施例的耐电压和ESD测试的控制电路，包括：开关电源437、隔离电路435和可调电气元件4354；
所述开关电源437的输入端与电网电源电连接，所述开关电源437的输出端与所述隔离电路435的输入端电连接，所述隔离电路435的输出端与电子内窥镜电连接，所述开关电源437用于将电源输入的高电压转换为直流低电压，所述隔离电路435用于将所述开关电源437的电压转换为所述电子内窥镜41所需输入电压。
所述可调电气元件4354与所述开关电源437和所述隔离电路435电连接，所述控制电路能够通过分布参数描述并被测量分布参数值，所述分布参数值可以用于确定所述电子内窥镜41的耐电压性能。
具体地，如图1至图6的示意，本发明的耐电压和ESD测试的控制电路由开关电源437、隔离电路435和可调电气元件4354组成，开关电源437可以为交流开关电源，其输入由电网电源提供220V的交流电压，经过内部电路转换，输出不同的直流电压，例如12V、24V，开关电源437也可以为直流开关电源，其输入由电网电源或者蓄电池提供220V的直流电压，经过内部电路转换，输出不同的直流电压，开关电源437可将电能质量较差的原生态电源转换成满足耐电压和ESD测试的控制电路要求的质量较高的直流电压，可为摄像头控制单元43（CCU，Camera Control Unit）和电子内窥镜41的光源提供电源，隔离电路435的输入电压为12V的直流电，可根据实际应用选用开关电源437的类型和型号，本发明不做限定，优选CUS600M-12型号的开关电源437；隔离电路435可将电源和开关电源437的电源信号与电子内窥镜41的内部耐电压和ESD测试的控制电路隔离，避免电子内窥镜41的内部耐电压和ESD测试的控制电路受到干扰，隔离电路435经过电压转换，为电子内窥镜41的内置电路板提供3.3V的电源，隔离电路435可作为整体的隔离模块，可根据实际应用选用市面上常用的隔离模块的类型和型号，也可以自主开发，本发明优选REC7.5-1205型号的隔离模块，隔离电路435的电容值为50pF；可调电气元件4354可以选用电容器、电抗器或者电感器，也可以采用电容器、电抗器和电感器组成的谐振器，用于与隔离电路435电连接，本发明的控制电路可以采用分布参数描述，通过测量分布电容、分布电抗、分布电感电路或者分布电导，计算控制电路的总阻抗，获得漏电流的方法进行电子内窥镜41的耐电压测试。
值得说明的是，这里的分布电容、分布电抗、分布电感电路或者分布电导均可以理解为上述分布参数值。换言之，基于上述的分布参数值可以计算本发明实施例提供的控制电路的总阻抗，从而获得漏电流，该漏电流可以用于确定电子内窥镜41的耐电压性能。
ESD测试可以确保电子内窥镜41在一定的放电情况中正常工作，不会出现死机或者复位。在进行ESD（Electro-Static discharge，静电释放）测试，分布电容、分布电抗、分布电感电路或者分布电导也可作为放电途径；ESD测试时，静电枪44的接地线接至参考接地板45，将电子内窥镜41放置于接地板之上，静电枪44充满电荷，直接压在电子内窥镜41的绝缘外侧，ESD测试是以共模为主的抗扰度测试，ESD测试的电流最终进入参考接地板45，ESD测试产生的压降为U≈Z·I，其中，Z为静电枪44压在电子内窥镜41的位置与参考接地板45的等效阻抗，I为ESD放电的最大瞬时电流峰值；如图4示意，ESD测试中，放电电流会转换成差模电压干扰电子内窥镜41内部耐电压和ESD测试的控制电路的正常工作电压，并沿电路板接地端411传输。
ESD测试时，瞬态放电可产生瞬态磁场，时变磁环经过耐电压和ESD测试的控制电路中的任何环路时，该磁场环路必然有感应电动势，感应电动势可根据如下公式计算：
H=IE/(2πD) （1）
U=S·µ0·∆H/∆t （2）
式中，IE为电流峰值，D为静电枪与电子内窥镜41内部金属部件的距离，S为环路面积，µ0为空气磁导率，∆t为放电电流上升沿时间。
通过公式（1）可计算出磁场强度H，通过公式（2）计算出感应电动势，根据磁场强度和感应电动势可知，不同放电路径的电流峰值、感应电动势将会对电子内窥镜41的内部耐电压和ESD测试的控制电路产生电气影响。
以可调电气元件4354为可调电容器为例说明，如图4-图6示意，电子内窥镜41放电分别流经电子内窥镜41内部等效分布电容413、电缆等效分布电容414和等效隔离电路分布电容4353，如前述所选择的隔离电路435模块的隔离电容值为50pF，隔离电路435的等效阻抗大，放电电荷不能很快释放参考接地地板45，造成电子内窥镜41的内部耐电压和ESD测试的控制电路的电流较大，导致电子内窥镜41出现死机或者复位现象，在控制电路接地端431和电源接地端421设置有可调电容器，可调电容器的电容值在20nF到100nF之间，可调电容器的电容值为40nF时，采用分布电容参数描述的控制电路，既可以进行电子内窥镜41的耐电压测试，也可以进行电子内窥镜41的静电放电测试。
在本发明实施例中，提出了一种耐电压和ESD测试的控制电路，由开关电源、隔离电路和可调电气元件组成，开关电源和隔离电路串联，开关电源为隔离电路提供直流电压，隔离电路为电子内窥镜的内置电路板提供直流电压，可调电气元件与隔离电路电连接。由于医用内窥镜与控制电路由绝缘材料隔离，不能直接使用耐电压测试仪进行电子内窥镜的耐电压测试，采用参数方法描述控制电路，通过测量控制电路的分布电容、分布电感、分布电阻和分布电导，计算控制电路的总阻抗，根据电子内窥镜的耐电压等级值，计算漏电流确定电子内窥镜的耐电压性能，实现了电子内窥镜的耐电压测试；在ESD测试过程中，可调电气元件作为放电途径，以防止静电放电流经电子内窥镜内部而导致电子内窥镜发生故障；本发明控制电路提高了电子内窥镜的安全性以及可靠性，并提升了内窥镜手术的安全性。
根据本发明的一些实施例，参照图1、图2和图6，所述隔离电路435包括转换器4351和低压稳压器4352；
所述转换器4351的输入端与所述开关电源437的输出端电连接，所述转换器4351的输出端与所述低压稳压器4352的输入端电连接，所述低压稳压器4352的输出端用于与电子内窥镜41电连接。
具体地，转换器4351选用降压型DC-DC（Direct current-Direct currentconverter）转换器或者升降压型DC-DC转换器，进行单向信号传输，采用降压型DC-DC转换器，双向信号传输时，采用升降压型DC-DC转换器，可以采用市面上常用的各类转换器4351，特殊应用领域，可根据电路要求进行设计和研发，本发明中，降压型DC-DC转换器优选ISO7240数字隔离芯片，也可选用其他信号数字隔离芯片，升降压型DC-DC转换器采用ISO1540D数字隔离芯片，如图2示意，输入至输出的电容值为1pF；稳压器4352可以选用LDO（Low-dropout regulator，低压线性稳压器），也可以选用线性稳压器，实现从应用的输入电压中减去超额的电压，产生经过调节的输出电压，为电子内窥镜41内部的电路板提供合适的电源，由于LDO能于更小输出输入电压差的情况下工作，本发明优选LDO。隔离电路435由转换器4351和稳压器4352组成，可将电源和开关电源437的电源信号与电子内窥镜41的内部耐电压和ESD测试的控制电路隔离，避免电子内窥镜41的内部耐电压和ESD测试的控制电路受到干扰，隔离电路435经过电压转换，为电子内窥镜的内置耐电压和ESD测试的控制电路提供3.3V的电源，提高了电子内窥镜41的安全性和可靠性。
根据本发明的一些实施例，参照图4-图6，所述可调电气元件4354为可调电容器；
所述可调电容器与所述开关电源437和所述隔离电路435电连接。
具体地，可调电容器可以与开关电源437和隔离电路435并联连接，也可以分别与开关电源437和隔离电路435并联连接，优选可调电容器与隔离电路并联连接，可调电容器的值可以进行实时调整。测量开关电源437、隔离电路435的分布电容值，然后计算总阻抗，通过计算漏电流大小确定电子内窥镜41的性能，在ESD测试过程中，产生放电电流，放电电流波形上升到峰值的时间小于1ns，由此可知，ESD测试为一种高频现象，其放电电流路径与大小由电子内窥镜41的内部几何结构和电路结构与分布参数决定，电容器可以储存电荷，如图4和图5示意，电容器的电容值可通过计算获得，选择最适合的电容值作为放电途径所需，以防止静电放电流经电子内窥镜内部41而导致电子内窥镜41发生故障，避免瞬态电流击穿电子内窥镜41的内部耐电压和ESD测试的控制电路，提高了电子内窥镜41的安全性和可靠性。
根据本发明的一些实施例，参照图4-图6，所述可调电气元件4354为可调电感器；
所述可调电感器与所述开关电源437和所述隔离电路435电连接。
具体地，可调电感器可以与开关电源437和隔离电路435并联连接，也可以分别与开关电源437和隔离电路435并联连接，优选可调电感器与隔离电路并联连接，可调电感器的值可以进行实时调整，直到选择最合适的值后，测量开关电源437、隔离电路435的分布电感值，然后计算总阻抗，通过计算漏电流大小确定电子内窥镜41的性能，如图4和图5示意，在ESD测试过程中，并联电感器可以使得电流做功，消耗了放电能量，防止了静电放电流经电子内窥镜41内部而导致电子内窥镜41发生故障，避免电流击穿电子内窥镜41的内部耐电压和ESD测试的控制电路，提高了电子内窥镜41的安全性和可靠性。
根据本发明的一些实施例，参照图4-图6，所述可调电气元件4354为可调电抗器；
所述可调电抗器与所述开关电源437和所述隔离电路435电连接。
具体地，可调电抗器既可以与开关电源437和隔离电路435并联连接，也可以分别与开关电源437和隔离电路435并联连接，优选可调电抗器与隔离电路并联连接，可调电感器的值可以进行实时调整，直到选择最合适的值后，直接测量开关电源437、隔离电路435的分布电抗值，获得总阻抗值，通过计算漏电流大小确定电子内窥镜41的性能，如图4和图5示意，在ESD测试过程中，并联电抗器可以使得电流做功，消耗了放电能量，并且可以进行过热保护，防止了静电放电流经电子内窥镜41内部而导致电子内窥镜41发生故障，避免瞬态电流击穿电子内窥镜41的内部耐电压和ESD测试的控制电路，提高了电子内窥镜41的安全性和可靠性。
根据本发明的一些实施例，参照图4-图6，所述可调电气元件4354为电感器和电容器；
所述电感器和所述电容器并联连接，所述电感器和所述电容器与所述开关电源437电连接，所述电感器和所述电容器与所述隔离电连接。
具体地，可调电气元件4354为电感器和电容器并联可组成谐振器，既可以与开关电源437和隔离电路435并联连接，也可以分别与开关电源437和隔离电路435并联连接，优选可调电抗器与隔离电路并联连接，采用分布参数，LC并联谐振器也可以等效为分布电容、分布电抗、分布电感或者分布电导，进行电气参数的测量后，计算总阻抗值，通过计算漏电流大小确定电子内窥镜41的性能。电子内窥镜41在信号频率比较低的时候工作，电感器和电容器并联构成的谐振器电容的容抗很大，信号难以通过，电路表现为感性阻抗，在ESD测试过程中，谐振器电路可等效为容性阻抗，可以储存电荷，如图4和图5示意，可作为放电途径，防止了静电放电流经电子内窥镜内部41而导致电子内窥镜41发生故障，避免瞬态电流击穿电子内窥镜41的内部耐电压和ESD测试的控制电路，提高了电子内窥镜41的安全性和可靠性。
根据本发明的一些实施例，参照图5和图6，所述可调电气元件4354为电抗器和电容器；
所述电抗器和所述电容器串联连接，所述电抗器和所述电容器与所述开关电源437电连接，所述电抗器和所述电容器与所述隔离电连接。
具体地，电抗器和电容器串联，既可以与开关电源437和隔离电路435并联连接，也可以分别与开关电源437和隔离电路435并联连接，优选可调电抗器与隔离电路并联连接，采用分布参数，电抗器和电容器串联也可以等效为分布电容、分布电抗、分布电感或者分布电导，进行电气参数的测量后，计算总阻抗值，通过计算漏电流大小确定电子内窥镜41的性能，在电源切换过程中，电抗器和电容器串联也可以吸收隔离电路产生的浪涌电流。在ESD测试过程中，电抗器和电容器串联，可以吸收和消耗放电电流的瞬态磁场，可防止过电压造成的电子内窥镜41的绝缘层被击穿，如图4和图5示意，可作为放电途径，防止了静电放电流经电子内窥镜内部41而导致电子内窥镜发生故障，避免瞬态电流击穿电子内窥镜41的内部耐电压和ESD测试的控制电路，提高了电子内窥镜41的安全性和可靠性；电抗器和电容器串联结构简单，可以节省成本。
根据本发明的一些实施例，参照图5和图6，所述可调电容器与所述隔离电路435的输入接地端和输出接地端电连接；
所述可调电容器用于所述电子内窥镜41静电放电测试的放电途径。
具体地，可调电容器与隔离电路435并联，可调电容器的值可以进行实时调整，直到选择最合适的值后，测量开关电源437、隔离电路435的分布电容值，然后计算总阻抗，通过计算漏电流大小确定电子内窥镜41的性能，相比其他电连接方式，可调电容器与电子内窥镜41的距离更近，在ESD测试过程中，静电电荷很快通过可调电容器进行储存，如图4和图5示意，可作为放电途径，以防止静电放电流经电子内窥镜41内部而导致电子内窥镜41发生故障，避免瞬态电流击穿电子内窥镜41的内部耐电压和ESD测试的控制电路，提高了电子内窥镜41的安全性和可靠性。
根据本发明的一些实施例，参照图5和图6，所述可调电容器的电容值为20nF-100nF。
具体地，采用分布电容参数描述的耐电压和ESD测试的控制电路，分别测量开关电源437和隔离电源435的分布电容值，根据电气要求设定电压等级值范围，计算可调电容器的电容值范围，通过计算可调电容器的电容值为20nF-100nF，选择可调电容器的型号，在ESD测试过程中，可以随时调整可调电容器的电容值，选取满足ESD测试中最适合的电容值，可以提高ESD测试效率，节省测试时间和测试成本。
本实施例还提供了一种耐电压测试方法，如图7所示，所述测试方法包括：
步骤S101，获取所述开关电源437的等效电容和隔离电路435的等效电容；
步骤S102，基于所述开关电源437的等效电容和所述隔离电路435的等效电容，确定所述开关电源437和所述隔离电路435的总等效电抗；
步骤S103，根据耐电压的值，确定所述开关电源437的等效电容和所述隔离电路435的漏电流，所述漏电流用于确定电子内窥镜41的耐电压性能。
具体地，如图3示意，将开关电源437的电源的L（Live，火线）和N(Null，零线)短接，即等效电源输入端422，隔离电路435的输出端等效为等效控制电路输出端412，开关电源437表示为等效开关电源分布电容4371，隔离电路435表示为等效隔离电路分布电容4353，则电子内窥镜41的耐电压测试可通过以下步骤进行说明。
在步骤S101中，通过测试设备分别测量开关电源437和隔离电路435的等效隔离电路分布电容4353的电容值，开关电源437的等效电源分布电容4371，分别计为C1和C2。
在步骤S102中，通过分布电容C1和分布电容C2计算开关电源437和隔离电路435的总阻抗Xc，具体可以通过以下公式进行计算：
Xc=（1/ωC1）·（1/ωC2）/ (1/ωC2 + 1/ωC1)，式中，ω为电频率；
在步骤S103中，电子内窥镜41的耐电压为4kV，通过公式可I=U/Xc计算漏电流，式中，U为电子内窥镜41的耐电压值，漏电流I的值小于等于20mA，电子内窥镜41满足耐电压性能要求。
电子内窥镜41与控制电路由绝缘材料隔离，不能直接使用耐电压测试仪进行电子内窥镜41的耐电压测试，采用参数方法描述控制电路，通过测量控制电路的分布电容，计算控制电路的总阻抗，根据电子内窥镜41的耐电压等级值，计算漏电流确定电子内窥镜41的耐电压性能，实现了电子内窥镜41的耐电压测试，没有增加其他的电气元件，测试方法简单，不仅确保了电子内窥镜41的安全性，还节省了测试成本。
本实施例还提供了一种内窥镜，所述内窥镜包括前述的耐电压和ESD测试的控制电路。
具体地，本实施例的耐电压和ESD测试的控制电路和耐电压测试方法可以适用于医用电子内窥镜，耐电压和ESD测试的控制电路包括开关电源437、隔离电路435和可调电气元件4354；采用参数方法描述控制电路，通过测量控制电路的分布电容、分布电感、分布电阻和分布电导，计算控制电路的总阻抗，根据电子内窥镜41的耐电压等级值，计算漏电流确定电子内窥镜41的耐电压性能，实现了电子内窥镜41的耐电压测试；在ESD测试过程中，可调电气元件4354作为放电途径，以防止静电放电流经电子内窥镜41内部而导致电子内窥镜41发生故障；本发明控制电路提高了电子内窥镜41的安全性以及可靠性和提升了电子内窥镜41手术的安全性。
在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示意性实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
尽管已经示出和描述了本发明的实施例，本领域的普通技术人员可以理解：在不脱离本发明的原理和宗旨的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由权利要求及其等同物限定。

Claims (11)

1.一种耐电压和ESD测试的控制电路，其特征在于，所述控制电路包括开关电源、隔离电路和可调电气元件；
所述开关电源的输入端与电网电源电连接，所述开关电源的输出端与所述隔离电路的输入端电连接，所述隔离电路的输出端与电子内窥镜电连接，所述开关电源用于将电源输入的高电压转换为直流低电压，所述隔离电路用于将所述开关电源的电压转换为所述电子内窥镜所需输入电压；所述可调电气元件与所述开关电源和所述隔离电路电连接，所述可调电气元件用于作为静电放电测试的放电途径；
其中，所述控制电路能够通过分布参数描述并被测量分布参数值，所述分布参数值用于确定所述电子内窥镜的耐电压性能。
2.根据权利要求1所述的耐电压和ESD测试的控制电路，其特征在于，所述隔离电路包括转换器和低压稳压器；
所述转换器的输入端与所述开关电源的输出端电连接，所述转换器的输出端与所述低压稳压器的输入端电连接，所述低压稳压器的输出端用于与电子内窥镜电连接。
3.根据权利要求1所述的耐电压和ESD测试的控制电路，其特征在于，所述可调电气元件为可调电容器；
所述可调电容器与所述开关电源和所述隔离电路电连接。
4.根据权利要求1所述的耐电压和ESD测试的控制电路，其特征在于，所述可调电气元件为可调电感器；
所述可调电感器与所述开关电源和所述隔离电路电连接。
5.根据权利要求1所述的耐电压和ESD测试的控制电路，其特征在于，所述可调电气元件为可调电抗器；
所述可调电抗器与所述开关电源和所述隔离电路电连接。
6.根据权利要求1所述的耐电压和ESD测试的控制电路，其特征在于，所述可调电气元件为电感器和电容器；
所述电感器和所述电容器并联连接，所述电感器和所述电容器与所述开关电源电连接，所述电感器和所述电容器与所述隔离电连接。
7.根据权利要求1所述的耐电压和ESD测试的控制电路，其特征在于，所述可调电气元件为电抗器和电容器；
所述电抗器和所述电容器串联连接，所述电抗器和所述电容器与所述开关电源电连接，所述电抗器和所述电容器与所述隔离电连接。
8.根据权利要求3所述的耐电压和ESD测试的控制电路，其特征在于，所述可调电容器与所述隔离电路的输入接地端和输出接地端电连接；
所述可调电容器用于所述电子内窥镜静电放电测试的放电途径。
9.根据权利要求8所述的耐电压和ESD测试的控制电路，其特征在于，所述可调电容器的电容值为20nF-100nF。
10.一种耐电压测试方法，其特征在于，用于权利要求1至8任一项所述的耐电压和ESD测试的控制电路，所述测试方法包括：
获取所述开关电源的等效电容和隔离电路的等效电容；
基于所述开关电源的等效电容和所述隔离电路的等效电容，确定所述开关电源和所述隔离电路的总等效电抗；
根据耐电压的值，确定所述开关电源的等效电容和所述隔离电路的漏电流，所述漏电流用于确定电子内窥镜的耐电压性能。
11.一种内窥镜，其特征在于，所述内窥镜包括权利要求1至9任一项所述的耐电压和ESD测试的控制电路。
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