CN113983990A - 一种光学镜片中心厚度测量仪 - Google Patents

Abstract

本发明涉及测量技术领域，更具体地说，它涉及一种光学镜片中心厚度测量仪，其包括三爪卡盘、第一探针、第二探针、测量表、顶针和基子砝码；三爪卡盘用于对工件定位，工件为光学镜片或基子砝码；第一探针和第二探针均可活动，第一探针用于受驱动与工件上侧的中心相接触，第二探针用于受驱动与工件下侧的中心相接触；第一探针与测量表联动，第二探针与顶针联动，顶针用于推动测量表的探头运动，使测量表显示相应的读数。根据本发明的方案，其采用便捷易懂的检测手段，保证了操作人员简单的培训也可很快适应工作，减少对熟手的高度依赖，高精度的标准测量仪器以及高精度的加工件，保证了设备的高精度，大大提高了生产效率和测量精度。

Description

一种光学镜片中心厚度测量仪

技术领域

本发明涉及测量技术领域，特别涉及一种光学镜片中心厚度测量仪。

背景技术

光学镜片是光学产品中的一种镜片，主要用于改变光线的路径或使光线发生某种变化。光学镜片在生产过程中需要经过多道工序，例如粗磨、研磨等等，光学镜片在进行相关加工后需要测量其尺寸是否符合要求，而光学镜片的中心厚度是必要测量要素。

现有技术中，光学镜片在测量中心厚度时一般采用手工方式测量，例如采用卡尺等测量工具对光学镜片的中心厚度作绝对测量。这种测量方式，测量效率低，对于大批量生产时并不适用，另外，这种测量方式的测量精度不高，降低了光学镜片的测量精度。

发明内容

有鉴于此，本发明提供一种光学镜片中心厚度测量仪，主要所要解决的技术问题是：如何提高光学镜片中心厚度的测量精度。

为达到上述目的，本发明主要提供如下技术方案：

本发明的实施例提供一种光学镜片中心厚度测量仪，其包括三爪卡盘、第一探针、第二探针、测量表、顶针和高度机子套件；所述测量表具有可伸缩的探头，所述测量表用于根据探头的不同位置，指示相对应的不同读数；所述三爪卡盘用于对工件定位，所述工件为光学镜片或高度机子套件；所述第一探针和第二探针均可活动，所述第一探针用于受驱动与工件一侧的中心相接触，所述第二探针用于受驱动与工件相背另一侧的中心相接触；所述第一探针与所述测量表联动，所述第二探针与顶针联动，所述顶针用于推动测量表的探头运动，使测量表显示相应的读数。

可选的，所述的光学镜片中心厚度测量仪还包括第一活动基座，所述第一探针和测量表均设置在第一活动基座上，以在第一活动基座的带动下联动。

可选的，所述第一活动基座用于在重力作用下下降，以带动第一探针与工件上侧的中心相接触。

可选的，所述的光学镜片中心厚度测量仪还包括第一驱动机构，所述第一驱动机构的输出端可升降，所述第一驱动机构的输出端用于与第一活动基座的下侧相抵，以推动第一活动基座上升。

可选的，所述的光学镜片中心厚度测量仪还包括第二活动基座，所述第二探针和顶针均设置在第二活动基座上，以在第二活动基座的带动下联动。

可选的，所述的光学镜片中心厚度测量仪还包括第二驱动机构，所述第二驱动机构用于驱动第二活动基座升降，以带动第二活动基座上升时使第二探针与工件下侧的中心相接触。

可选的，所述第二驱动机构包括弹性件，所述弹性件用于提供所述第二活动基座上升的力；

和/或，所述第二驱动机构包括驱动缸，所述驱动缸用于驱动所述第二活动基座下降。

可选的，所述的光学镜片中心厚度测量仪还包括微调平台，所述微调平台用于对三爪卡盘在平面上的位置进行调节。

可选的，所述微调平台包括第一滑块和第二滑块；所述第一滑块用于沿X方向运动，所述第二滑块用于设置在第一滑块上、且沿Y方向运动，所述三爪卡盘用于设置在第二滑块上；其中，X方向与Y方向垂直。

借由上述技术方案，本发明光学镜片中心厚度测量仪至少具有以下有益效果：

1、由于在测量光学镜片的中心厚度前，其先通过高度机子套件对测量表进行了校准，从而可以提高整个装置的测量精度；

2、采用便捷易懂的检测手段，保证了操作人员简单的培训也可很快适应工作，减少对熟手的高度依赖，高精度的标准测量仪器以及高精度的加工件，保证了设备的高精度，大大提高了生产效率和测量精度。

上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本发明的较佳实施例并配合附图详细说明如后。

附图说明

图1是本发明的一实施例提供的一种光学镜片中心厚度测量仪的结构示意图；

图2是图1中A处的放大示意图；

图3是图1中光学镜片中心厚度测量仪隐藏外壳的结构示意图；

图4是图1中光学镜片中心厚度测量仪隐藏外壳的另一视角的结构示意图；

图5是三爪卡盘的结构示意图；

图6是三爪卡盘的分解结构示意图。

附图标记：1、第一探针；2、三爪卡盘；3、第二探针；4、测量表；5、高度机子套件；6、顶针；7、第一活动基座；8、第一驱动机构；9、第一滑块；10、第二滑块；11、气动开关；12、第二活动基座；13、弹性件；14、驱动缸；15、导轨；41、探头；81、第一驱动机构的输出端；141、驱动缸的输出端；21、卡盘体；22、调节件；23、活动卡爪；24、轴承；25、固定件；26、环形手调盘；211、凸轴；212、限位导向槽；221、平面螺纹；231、卡齿；232、安装位；251、螺杆；2300、底座；2301、连接块。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

需要说明，若本发明实施例中有涉及方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)，则该方向性指示仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。

另外，若本发明实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述，则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本发明要求的保护范围之内。

如图1和图2所示，本发明的一个实施例提出的一种光学镜片中心厚度测量仪，其包括三爪卡盘2、第一探针1、第二探针3、测量表4、顶针6和高度机子套件5。测量表4具有可伸缩的探头41，测量表4用于根据探头41的不同位置，指示相对应的不同读数。其中，测量表4可以为万分表、千分表等。优选的，为了提高测量精度，本发明中的测量表4为万分表。

三爪卡盘2用于对工件定位，工件为光学镜片或高度机子套件5。高度机子套件5具有基子砝码，基子砝码是条形砝码，其为标准件，其加工精度可以达到正负0.001mm以内。可以使用基子砝码对测量表4比如万分表进行校准，以提高万分表的测量精度，使万分表在测量镜片厚度时的数据更加趋于真实。

前述的第一探针1和第二探针3均可活动。如图2所示，第一探针1用于受驱动与工件一侧的中心相接触，第二探针3用于受驱动与工件相背另一侧的中心相接触。在一个具体的应用示例中，第一探针1和第二探针3均可升降，第一探针1可以为上探针，其位于工件的上方。第二探针3可以为下探针，其位于工件的下方。第一探针1和第二探针3两者的探头41可以均由PEEK工程塑料材料制成，以防止撞伤镜片。

前述的第一探针1与测量表4联动。在一个具体的应用示例中，如图1和图3所示，本发明的光学镜片中心厚度测量仪还包括第一活动基座7，第一探针1和测量表4均设置在第一活动基座7上，第一探针1可以固定在第一活动基座7上，测量表4通过其机壳固定在第一活动基座7上。第一探针1和测量表4两者可以在第一活动基座7的带动下联动，比如同步上升或下降等。

前述的第二探针3与顶针6联动。在一个具体的应用示例中，如图4所示，本发明的光学镜片中心厚度测量仪还包括第二活动基座12，第二探针3和顶针6均设置在第二活动基座12上，第二探针3和顶针6均可固定在第二活动基座12上。第二探针3和顶针6两者可以在第二活动基座12的带动下联动，比如同步上升或下降等。

前述的顶针6用于推动测量表4的探头41运动，使测量表4显示相应的读数。具体来说，顶针6可以在第二探针3的带动下一起运动，以在与测量表4的探头41相抵时推动其伸缩，使测量表4显示相应的读数。

在上述示例中，可以通过高度机子套件的基子砝码对测量表4进行校准，具体来说，可以将高度机子套件放置在三爪卡盘2上，三爪卡盘2夹固高度机子套件并对其进行定位。然后分别启动第一探针1和第二探针3，使第一探针1与高度机子套件的基子砝码的上侧中心相抵，第二探针3与基子砝码的下侧中心相抵。第一探针1和第二探针3分别带动测量表4的探头41和顶针6运动，当第一探针1和第二探针3均与基子砝码相抵时，顶针6与测量表4的探头41也相抵，此时可以调节测量表4比如万分表的数值，使其与基子砝码的数值保持一致，此操作可以反复三次调校，以使测量表4取得最优基准。校准完成后，可以将高度机子套件取下，然后放入光学镜片；然后启动第一探针1和第二探针3，使第一探针1与光学镜片的上侧中心相抵，第二探针3与光学镜片的下侧中心相抵，此时通过测量表4即可得到光学镜片的中心厚度。

在上述本发明的技术方案中，由于在测量光学镜片的中心厚度前，其先通过高度机子套件对测量表4进行了校准，从而可以提高整个装置的测量精度。

为了节省人力，前述的第一活动基座7可以在重力作用下下降，以带动第一探针1与工件上侧的中心相接触。为了防止第一探针1下降过快撞伤工件，优选的，如图3所示，前述的光学镜片中心厚度测量仪还可以包括第一驱动机构8，第一驱动机构8的输出端可升降，第一驱动机构8的输出端用于与第一活动基座7的下侧相抵，以推动第一活动基座7上升。该第一驱动机构8可以为驱动缸等。在本示例中，第一驱动机构8的输出端81可以与第一活动基座7的下侧保持相抵，第一驱动机构8的输出端81缓慢下降，以通过第一活动基座7对第一探针1的下降速度进行控制，防止第一探针1的下降速度过快。

在上述示例中，第一驱动机构8的输出端81与第一活动基座7之间无连接，第一活动基座7位于第一驱动机构8的输出端81的运动轨迹上，第一驱动机构8的输出端81上升时，可以推动第一活动基座7一起上升；当第一驱动机构8的输出端81下降时，第一活动基座7在自身重力的作用下带动第一探针1一起下降。其中，由于第一驱动机构8的输出端81与第一活动基座7之间无连接，从而可以减小第一驱动机构8的输出端81对第一探针1与工件相接触时位置的影响，提高了第一探针1的测量精度。

为了节省人力，前述的光学镜片中心厚度测量仪还可以包括第二驱动机构，第二驱动机构用于驱动第二活动基座12升降，以带动第二活动基座12上升时使第二探针3与工件下侧的中心相接触。在一个具体的应用示例中，如图4所示，该第二驱动机构可以包括弹性件13，该弹性件13可以为卷簧等。弹性件13用于提供第二活动基座12上升的力，以通过第二活动基座12带动第二探针3与工件下侧的中心相接触。第二驱动机构还可以包括驱动缸14，驱动缸14用于驱动第二活动基座12下降，使第二活动基座12带动第二探针3一起下降，以为第二探针3下一次的测量做准备。这里需要说明的是：驱动缸14的输出端141与第二活动基座12之间无连接，第二活动基座12位于驱动缸14输出端141的运动轨迹上，驱动缸14的输出端141伸出时，可以推动第二活动基座12下降。驱动缸14的输出端141缩回时，第二活动基座12在弹性件13的驱使下上升。

在上述示例中，由于驱动缸14的输出端141与第二活动基座12之间无连接，从而可以减小驱动缸14对第二探针3与工件相接触时位置的影响，提高了第二探针3的测量精度。

为了提高第一活动基座7和第二活动基座12两者的运动精度，优选的，本发明的光学镜片中心厚度测量仪可以包括机架，机架上设有导轨15，第一活动基座7和第二活动基座12均可滑动地设置在导轨15上，以沿导轨15升降。

本发明的光学镜片中心厚度测量仪还可以包括微调平台，微调平台用于对三爪卡盘2在平面上的位置进行调节。具体来说，在校准时，可以采用一款精度在正负0.002mm的中心定位基子对微调平台的位置进行调节，使第一探针1和第二探针3两者可以准确地对准工件的中心，从而达到抵消零件的加工误差和装配误差的目的。其中，中心定位的基准调校好后，微调平台的位置即被固定。

如图1所示，前述的微调平台可以包括第一滑块9和第二滑块10，第一滑块9用于沿X方向运动，第二滑块10用于设置在第一滑块9上、且沿Y方向运动。三爪卡盘2用于设置在第二滑块10上；其中，X方向与Y方向垂直。在本示例中，可以通过移动第一滑块9和第二滑块10对三爪卡盘2的位置进行调节。为了节省人力，微调平台还可以包括第一调节驱动机构和第二调节驱动机构，第一调节驱动机构用于驱动第一滑块9沿X方向运动，该第一调节驱动机构可以包括第一直线电机等，以通过第一直线电机驱动第一滑块9沿X方向运动。第二调节驱动机构用于驱动第二滑块10沿Y方向运动，该第二调节驱动机构可以包括第二直线电机等，以通过第二直线电机驱动第二滑块10沿Y方向运动。

如图1所示，本发明的光学镜片中心厚度测量仪还可以包括手动气动开关11，该手动气动开关11用于控制第一驱动机构8和第二驱动机构两者驱动缸14的启闭，以方便作业人员操作。

如图5所示，前述的三爪卡盘2可以为自定心手调三爪卡盘，其包括卡盘体21和调节件22。卡盘体21上设有三个活动卡爪23，调节件22可转动地套设在卡盘体21上。如图6所示，卡盘体21上可以设有供调节件22套设的凸轴211，该凸轴211可以位于卡盘体21的背离活动卡爪23一侧的中部，凸轴211与调节件22之间设有轴承24。轴承24具有可相对转动的外圈和内圈，轴承24通过内圈套设在凸轴211上，且内圈与凸轴211保持相对固定。调节件22套设在轴承24的外圈上，且与外圈保持相对固定。

前述的调节件22可以呈盘状，调节件22具有把手部，该把手部可以包括环绕调节件22侧面设置的凸缘，凸缘与调节件22相对固定。在一个具体的应用示例中，如图5和图6所示，调节件22上固定地套设有环形手调盘26，环形手调盘26可以通过螺丝与调节件22固定。其中，环形手调盘26凸出调节件22侧面的部分形成前述的凸缘。作业人员可以通过握持凸缘带动调节件22转动。为了进一步方便作业人员操作，凸缘的侧面沿周向可以均匀设有多个凹槽，该多个凹槽可以均为弧形槽，以符合人体工学设计，方便作业人员用手握持转动调节件22。

前述的调节件22可以通过传动机构与三个活动卡爪23连接，调节件22用于受驱动转动时带动三个活动卡爪23相对打开或闭合，以在闭合时夹持工件比如镜片，和在打开时松开工件。在一个具体的应用示例中，如图6所示，传动机构可以包括设置在调节件22上的平面螺纹221，该平面螺纹221可以一体成型在调节件22的上侧。前述的各活动卡爪23上均设有用于与平面螺纹221啮合的卡齿231，各活动卡爪23与其上的卡尺为一体成型结构。为了提高零件的使用寿命和耐磨性，优选的，调节件22的平面螺纹221表面以及卡齿231表面均采用硬质氧化处理。前述的卡盘体21上还设有限位导向槽212，限位导向槽212的数量与活动卡爪23的数量相等、且一一对应滑动配合。

在上述示例中，调节件22受驱动转动时通过平面螺纹221带动卡齿231运动，卡齿231带动活动卡爪23沿限位导向槽212运动，使各活动卡爪23相对打开或闭合。相对于现有技术中采用扳手驱动各活动卡爪23运动的方式，本发明中采用符合人体工学设计的调节件22手动操作，用手操作力度可控，而且不需要借助外部工具，操作起来更加方便快捷。

在一个具体的应用示例中，前述各活动卡爪23上卡齿231的数量均小于或等于两个。优选的，各活动卡爪23上卡齿231的数量均为两个，并且相对于现有技术，调节件22上平面螺纹221的螺距可以适当缩小，提高各零件的加工精度，以达到提高卡齿231与平面螺纹221啮合精度的目的，提高本发明三爪卡盘2的自定心的中心点定位。

如图5和图6所示，前述的各活动卡爪23上均可以设有固定件25，以通过固定件25与工件相抵触，各固定件25可以均为塑料材质，比如为PEEK工程塑料材质。相对于现有技术中采用金属材质的活动卡条夹持工件，本示例中采用塑料材质的固定件25可以减小夹持时对工件造成的损伤。

优选的，前述的各固定件25均成柱状，即固定件25为固定柱。前述的各固定件25上可以均具有台阶，以通过台阶对工件的底部提供支撑，方便对工件进行夹持固定。

优选的，前述的各固定件25均可拆卸，如此当发生损伤时方便对各固定件25进行更换。当然各固定件25可相对活动卡爪23拆卸还能实现其它目的，比如在一个具体的应用示例中，如图5和图6所示，前述的各活动卡爪23上均设有两个以上供固定件25安装的安装位232，各活动卡爪23上安装位232的数量相等、且一一对应，其中，当各固定件25安装在相应不同的安装位232时，各固定件25相互配合可以夹持不同尺寸的工件，如此可以增大对工件比如镜片的夹持兼容度，在一个示例中，通过上述的设计，在10mm-200mm之间外径的工件比如光学镜片均可以进行夹持，其夹持工件的尺寸范围非常的柔性，对工件的夹持兼容度非常高。

为了实现前述各固定件25均可相对活动卡爪23拆卸的目的，如图6所示，前述的各固定件25均具有螺杆251，各螺杆251可以一体成型在相应的固定件25上。前述的各安装位232处均设有用于与螺杆251连接的螺纹孔。各固定件25可以通过螺杆251螺纹连接在相应安装位232处的螺纹孔内，以方便各固定件25的拆装。

在一个示例中，前述的活动卡爪23可以为分体式结构，活动卡爪23可以包括底座2300和设置在底座2300上的连接块2301，底座2300的下侧具有前述的卡齿231，活动卡爪23通过底座2300与卡盘体21上的限位导向槽212滑动配合。其中，连接块2301可以通过螺丝等固定在底座2300上，连接块2301上具有前述的安装位232，固定件25用于安装在连接块2301上。在本示例中，通过将活动卡爪23设计成分体式的结构，具有方便加工的优点。

下面介绍一下本发明的工作原理和优选实施例。

本发明在于设计一种光学镜片中心厚度测量仪，其所要解决的技术问题是：目前在各类型光学镜片检测的技术手段相对落后，检测设备也相对落后，而且依赖检测人员的检测经验和手法熟练度，生产效率低检测精度难以保证。而采用本发明光学镜片中心厚度测量仪的有益效果是：采用便捷易懂的检测手段，保证了操作人员简单的培训也可很快适应工作，减少对熟手的高度依赖，高精度的标准测量仪器以及高精度的加工件，保证了设备的高精度，大大提高了生产效率和测量精度。

本发明光学镜片中心厚度测量仪的发明点主要在于：1、三爪卡盘2对镜片的中心定位。2、采用双气缸驱动第一探针1和第二探针3移动，第一探针1为上探针，第二探针3为下探针。具体来说，第一驱动机构8的气缸伸出顶住上探针机构的第一活动基座7，气缸回缩时第一活动基座7在自身重力作用下缓缓下降，直到上探针接触到镜片的上表面受阻而停止。第二驱动机构的气缸伸出压住下探针机构的第二活动基座12，气缸缩回，第二活动基座12由卷簧的拉力将其往上拉动，直到下探针接触到镜片的下表面受阻而停止。3、采用卷簧作为回弹往复的动力源；具体来说，下探针机构的第二活动基座12需要通过拉力向上运动，使下探针接触镜片，检测完毕后下探针受驱动向下复位。4、采用XY轴微调平台辅助中心定位。具体来说，XY轴微调平台是为了抵消零件的加工误差和装配误差，中心定位的基准是通过一款精度在正负0.002mm的中心定位基子而调校得来，一旦调校好，所有零件则可以完全固定。5、采用手动气动开关11控制气缸，实现设备的简易操作。

本发明光学镜片中心厚度测量仪的操作过程如下：

1.接通测量表4即万分表的电源。

2.将高度机子套件5放在三爪卡盘2的测量位上，启动上下探针接触高度机子套件5的基子砝码，调节万分表基准为基子玛法的数值。此操作可反复三次调教以取得最优基准，其中，高度机子套件5的基子砝码就是条形砝码，其是专业量具，其加工精度能达到正负0.001mm以内，能使万分表在测量镜片厚度时的数据更加趋于真实。

3.匀速旋转三爪卡盘2的手调盘将固定件25调到适合镜片直径的尺寸，然后将镜片放在三个固定件25的台阶上。用手轻轻调整镜片的位置保证没有出现悬空的情况。

4.先拨动上探针的气动开关11，接触镜片后拨动下探针的气动开关11。

5.万分表通过条形砝码的读数，以及镜片安放处的两个尺寸来得出不同规格形状的镜片中心厚度。

这里需要说明的是：在不冲突的情况下，本领域的技术人员可以根据实际情况将上述各示例中相关的技术特征相互组合，以达到相应的技术效果，具体对于各种组合情况在此不一一赘述。

以上所述仅是本发明的优选实施方式，本发明的保护范围并不仅局限于上述实施例，凡属于本发明思路下的技术方案均属于本发明的保护范围。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理前提下的若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (9)

1.一种光学镜片中心厚度测量仪，其特征在于，包括三爪卡盘(2)、第一探针(1)、第二探针(3)、测量表(4)、顶针(6)和高度机子套件(5)；

所述测量表(4)具有可伸缩的探头(41)，所述测量表(4)用于根据探头(41)的不同位置，指示相对应的不同读数；

所述三爪卡盘(2)用于对工件定位，所述工件为光学镜片或高度机子套件(5)；

所述第一探针(1)和第二探针(3)均可活动，所述第一探针(1)用于受驱动与工件一侧的中心相接触，所述第二探针(3)用于受驱动与工件相背另一侧的中心相接触；

所述第一探针(1)与所述测量表(4)联动，所述第二探针(3)与顶针(6)联动，所述顶针(6)用于推动测量表(4)的探头(41)运动，使测量表(4)显示相应的读数。

2.根据权利要求1所述的光学镜片中心厚度测量仪，其特征在于，还包括第一活动基座(7)，所述第一探针(1)和测量表(4)均设置在第一活动基座(7)上，以在第一活动基座(7)的带动下联动。

3.根据权利要求2所述的光学镜片中心厚度测量仪，其特征在于，

所述第一活动基座(7)用于在重力作用下下降，以带动第一探针(1)与工件上侧的中心相接触。

4.根据权利要求3所述的光学镜片中心厚度测量仪，其特征在于，还包括第一驱动机构(8)，所述第一驱动机构(8)的输出端(81)可升降，所述第一驱动机构(8)的输出端(81)用于与第一活动基座(7)的下侧相抵，以推动第一活动基座(7)上升。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的光学镜片中心厚度测量仪，其特征在于，还包括第二活动基座(12)，所述第二探针(3)和顶针(6)均设置在第二活动基座(12)上，以在第二活动基座(12)的带动下联动。

6.根据权利要求5所述的光学镜片中心厚度测量仪，其特征在于，还包括第二驱动机构，所述第二驱动机构用于驱动第二活动基座(12)升降，以带动第二活动基座(12)上升时使第二探针(3)与工件下侧的中心相接触。

7.根据权利要求6所述的光学镜片中心厚度测量仪，其特征在于，

所述第二驱动机构包括弹性件(13)，所述弹性件(13)用于提供所述第二活动基座(12)上升的力；

和/或，所述第二驱动机构包括驱动缸(14)，所述驱动缸(14)用于驱动所述第二活动基座(12)下降。

8.根据权利要求1所述的光学镜片中心厚度测量仪，其特征在于，还包括微调平台，所述微调平台用于对三爪卡盘(2)在平面上的位置进行调节。

9.根据权利要求8所述的光学镜片中心厚度测量仪，其特征在于，所述微调平台包括第一滑块(9)和第二滑块(10)；

所述第一滑块(9)用于沿X方向运动，所述第二滑块(10)用于设置在第一滑块(9)上、且沿Y方向运动，所述三爪卡盘(2)用于设置在第二滑块(10)上；其中，X方向与Y方向垂直。

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