CN113960451B - 电路板功能测试通用架构 - Google Patents

Abstract

本发明涉及电路板功能测试设备技术领域，公开了一种：电路板功能测试通用架构，包括固定框架，所述固定框架的顶部固定连接有支撑架，所述支撑架的前端安装有检测设备，所述固定框架底部的中心固定连接有限位导轨，所述限位导轨的中心滑动连接有电路板定位机构；所述电路板定位机构包括滑动底座，所述滑动底座前端的中心固定连接有固定把手，所述滑动底座顶部的中心安装有电路板定位模块，所述电路板定位模块与滑动底座通过多个固定螺钉固定连接。通过设计模块化电路板定位机构、升降支撑机构以及测试对接机构，可以根据测试电路板的规格和类型进行电路板定位机构和测试对接机构的更换，从而使其可以测试各种不同类型的电路板。

Description

电路板功能测试通用架构

技术领域

本发明涉及电路板功能测试设备技术领域，具体的说，是电路板功能测试通用架构。

背景技术

功能测试就是对产品的各功能进行验证，根据功能测试用例，逐项测试，检查产品是否达到用户要求的功能。根据产品特性、操作描述和用户方案，测试一个产品的特性和可操作行为以确定它们满足设计需求。本地化软件的功能测试，用于验证应用程序或网站对目标用户能正确工作，使用适当的平台、浏览器和测试脚本，以保证目标用户的体验将足够好，就像应用程序是专门为该市场开发的一样。功能测试是为了确保程序以期望的方式运行而按功能要求对软件进行的测试，通过对一个系统的所有的特性和功能都进行测试确保符合需求和规范。功能测试也叫黑盒测试或数据驱动测试，只需考虑需要测试的各个功能，不需要考虑整个软件的内部结构及代码，一般从软件产品的界面、架构出发，按照需求编写出来的测试用例，输入数据在预期结果和实际结果之间进行评测，进而提出更加使产品达到用户使用的要求。

电路板是电子设备的重要组成部分，电路板在工厂中生产加工完成后，通常都需要完成多种项目的检测，检测电路是否能够正常通电，各项功能是否能够正常工作运转，对于电路板的检测，各项功能是否能够正常工作运转，对于电路板的检测，一般需要使用到专用的功能测试设备，但目前现有电路板功能测试设备的设计仍然存在较多的缺陷，首先是一种测试设备只能完成一种电路板的检测；其次是现有测试设备通常只能完成硬质电路板测试，对于柔性电路板的测试，还需要使用到其他的测试设备，在实际使用的过程中，存在较多的问题。

为此，我们研发出了新的电路板功能测试通用架构。

发明内容

本发明的目的在于提供一种：电路板功能测试通用架构，具有对不同类型的电路板进行测试的效果、具备良好的通用性。

本发明通过下述技术方案实现：

本发明提供了一种：电路板功能测试通用架构，包括固定框架，所述固定框架的顶部固定连接有支撑架，所述支撑架的前端安装有检测设备，所述固定框架底部的中心固定连接有限位导轨，所述限位导轨的中心滑动连接有电路板定位机构；

所述电路板定位机构包括滑动底座，所述滑动底座前端的中心固定连接有固定把手，所述滑动底座顶部的中心安装有电路板定位模块，所述电路板定位模块与滑动底座通过多个固定螺钉固定连接，所述电路板定位模块的中心开设有电路板定位凹槽；

所述固定框架的中心固定连接有多个限位杆，多个所述限位杆之间滑动安装有升降支撑机构，所述固定框架顶部内表面的两侧分别安装有与升降支撑机构相对应的第一升降器气缸和第二升降器气缸；

所述升降支撑机构的中心安装有与检测设备相对应的测试对接机构，所述检测设备与测试对接机构之间连接有测试线束。

优选的，所述限位导轨与固定框架为一体式结构，且限位导轨内壁的两侧开设有与电路板定位机构相对应的限位滑槽，通过在限位导轨内壁的两侧开设有与电路板定位机构相对应的限位滑槽，从而可以对电路板定位机构起到滑动导向和限位作用。

优选的，多个所述限位杆在固定框架的中心呈对称分布，在固定框架的中心呈对称分布的多个限位杆可以对升降支撑机构起到升降限位作用。

优选的，所述升降支撑机构包括支撑板，所述支撑板的边角处均固定连接有与限位杆相对应的限位轴套，所述支撑板的中心开设有安装孔，所述支撑板的顶部固定连接有多个定位柱，多个所述定位柱的外壁均套接有复位弹簧，多个所述定位柱的顶部均旋合有固定螺帽，升降支撑机构用于测试对接机构的安装定位，通过在多个定位柱的外壁套接复位弹簧，测试对接机构的底端测试触针在与电路板接触后，持续下移中的测试主板中向上挤压复位弹簧，在复位弹簧自身的弹性作用下，会使测试对接机构底端的测试触针会与电路板紧密接触，从而保证了测试时的稳定性。

优选的，多个所述定位柱与支撑板为一体式结构，且多个定位柱外壁的顶部均开设有与固定螺帽相对应的外螺纹，一体式结构设计的定位柱与支撑板结构更为简单牢固，通过在多个定位柱外壁的顶部均开设有与固定螺帽相对应的外螺纹，从而便于利用固定螺帽实现对多个复位弹簧的锁紧定位。

优选的，所述测试对接机构包括测试主板，所述测试主板的底部固定连接有限位板，所述测试主板的边角处均开设有限位孔，所述测试主板的顶部设置有多个连接端口，测试对接机构用于与电路板的对接和电性连接，以便实现对电路板的功能和通电状态测试。

优选的，所述限位板的底部设置有多个与连接端口相对应的测试触针，升降支撑机构在下移的过程中，会同步带动测试对接机构下移，下移中的限位板和测试触针会与电路板定位凹槽中的电路板进行接触，从而使检测设备能够接收到电路板的测试数据并显示。

优选的，所述测试线束包括多股测试导线，多股所述测试导线的顶端均固定连接有连接端子，多股测试导线的外侧包覆有绝缘皮，测试线束用于测试构架的通电和数据传输。

优选的，多股所述测试导线的底端均与测试对接机构对应的连接端口电性连接，从而使多股测试导线的底端能与测试对接机构对应的连接端口通电，测试数据也能正常的经多股测试导线传输至检测设备，并进行测试数据的显示。

本发明与现有技术相比，具有以下优点及有益效果：

（1）本发明的电路板功能测试通用架构，通过设计模块化电路板定位机构、升降支撑机构以及测试对接机构，可以根据测试电路板的规格和类型进行电路板定位机构和测试对接机构的更换，从而使其可以测试各种不同类型的电路板，使该构架具有更好的通用性；

（2）该电路板功能测试通用架构，通过设计简单的测试构架，不仅便于电路板的上下料和自动测试，同时其简单的结构设计也便于进行日常的保养维护，工作效率大大提高。

附图说明

下面将结合附图对技术方案进行清楚、完整地描述，显然所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。

图1为本发明电路板功能测试通用架构的主视结构图；

图2为本发明电路板功能测试通用架构电路板定位机构的结构示意图；

图3为本发明电路板功能测试通用架构升降支撑机构的结构示意图；

图4为本发明电路板功能测试通用架构测试主板的结构示意图；

图5为本发明电路板功能测试通用架构测试线束的结构示意图；

图6为图1中A处的局部放大图。

其中：1、固定框架；2、支撑架；3、检测设备；4、限位导轨；5、电路板定位机构；501、滑动底座；502、固定把手；503、电路板定位模块；504、固定螺钉；505、电路板定位凹槽；6、限位杆；7、升降支撑机构；701、支撑板；702、限位轴套；703、安装孔；704、定位柱；705、复位弹簧；706、固定螺帽；8、第一升降器气缸；9、第二升降器气缸；10、测试对接机构；1001、测试主板；1002、限位板；1003、限位孔；1004、连接端口；11、测试线束；1101、测试导线；1102、连接端子；1103、绝缘皮。

具体实施方式

以下结合实施例的具体实施方式，对本发明创造的上述内容再做进一步的详细说明。但不应将此理解为本发明上述主题的范围仅限于以下的实例。在不脱离本发明上述技术思想情况下，根据本领域普通技术知识和惯用手段作出的各种替换或变更，均应包括在本发明的范围内。

实施例：

如图1-6所示，本发明实施例提供电路板功能测试通用架构，包括固定框架1，固定框架1的顶部固定连接有支撑架2，支撑架2的前端安装有检测设备3，固定框架1底部的中心固定连接有限位导轨4，限位导轨4的中心滑动连接有电路板定位机构5；限位导轨4与固定框架1为一体式结构，且限位导轨4内壁的两侧开设有与电路板定位机构5相对应的限位滑槽，通过在限位导轨4内壁的两侧开设有与电路板定位机构5相对应的限位滑槽，从而可以对电路板定位机构5起到滑动导向和限位作用。

如图3所示，电路板定位机构5包括滑动底座501，滑动底座501前端的中心固定连接有固定把手502，滑动底座501顶部的中心安装有电路板定位模块503，电路板定位模块503与滑动底座501通过多个固定螺钉504固定连接，电路板定位模块503的中心开设有电路板定位凹槽505；

如图3或6所示，固定框架1的中心固定连接有多个限位杆6，多个限位杆6之间滑动安装有升降支撑机构7，升降支撑机构7包括支撑板701，支撑板701的边角处均固定连接有与限位杆6相对应的限位轴套702，支撑板701的中心开设有安装孔703，支撑板701的顶部固定连接有多个定位柱704，多个定位柱704的外壁均套接有复位弹簧705，多个定位柱704的顶部均旋合有固定螺帽706，升降支撑机构7用于测试对接机构10的安装定位，通过在多个定位柱704的外壁套接复位弹簧705，测试对接机构10的底端测试触针在与电路板接触后，持续下移中的测试主板1001中向上挤压复位弹簧705，在复位弹簧705自身的弹性作用下，会使测试对接机构10底端的测试触针会与电路板紧密接触，从而保证了测试时的稳定性；多个定位柱704与支撑板701为一体式结构，且多个定位柱704外壁的顶部均开设有与固定螺帽706相对应的外螺纹，一体式结构设计的定位柱704与支撑板701结构更为简单牢固，通过在多个定位柱704外壁的顶部均开设有与固定螺帽706相对应的外螺纹，从而便于利用固定螺帽706实现对多个复位弹簧705的锁紧定位。

固定框架1顶部内表面的两侧分别安装有与升降支撑机构7相对应的第一升降器气缸8和第二升降器气缸9；多个限位杆6在固定框架1的中心呈对称分布，在固定框架1的中心呈对称分布的多个限位杆6可以对升降支撑机构7起到升降限位作用。

如图4所示，升降支撑机构7的中心安装有与检测设备3相对应的测试对接机构10，测试对接机构10包括测试主板1001，测试主板1001的底部固定连接有限位板1002，测试主板1001的边角处均开设有限位孔1003，测试主板1001的顶部设置有多个连接端口1004，测试对接机构10用于与电路板的对接和电性连接，以便实现对电路板的功能和通电状态测试；限位板1002的底部设置有多个与连接端口1004相对应的测试触针，升降支撑机构7在下移的过程中，会同步带动测试对接机构10下移，下移中的限位板1002和测试触针会与电路板定位凹槽505中的电路板进行接触，从而使检测设备3能够接收到电路板的测试数据并显示。

如图5所示，检测设备3与测试对接机构10之间连接有测试线束11；测试线束11包括多股测试导线1101，多股测试导线1101的顶端均固定连接有连接端子1102，多股测试导线1101的外侧包覆有绝缘皮1103，测试线束11用于测试构架的通电和数据传输；多股测试导线1101的底端均与测试对接机构10对应的连接端口1004电性连接，从而使多股测试导线1101的底端能与测试对接机构10对应的连接端口1004通电，测试数据也能正常的经多股测试导线1101传输至检测设备3，并进行测试数据的显示。

工作原理：在使用时，先抽出电路板定位机构5，然后将待测试的电路板放置在电路板定位模块503中心开设的电路板定位凹槽505中，然后将电路板定位机构5复位，启动第一升降器气缸8和第二升降器气缸9，使第一升降器气缸8和第二升降器气缸9带动升降支撑机构7向下移动，升降支撑机构7在下移的过程中，会同步带动测试对接机构10下移，下移中的限位板1002和测试触针会与电路板定位凹槽505中的电路板进行接触，从而使检测设备3能够接收到电路板的测试数据并显示，测试对接机构10的底端测试触针在与电路板接触后，持续下移中的测试主板1001中向上挤压复位弹簧705，在复位弹簧705自身的弹性作用下，会使测试对接机构10底端的测试触针会与电路板紧密接触，从而保证了测试时的稳定性。

以上所述，仅是本发明的较佳实施例，并非对本发明做任何形式上的限制，凡是依据本发明的技术实质对以上实施例所做的任何简单修改、等同变化，均落入本发明的保护范围之内。

Claims (5)

1.电路板功能测试通用架构，包括固定框架（1），其特征在于：所述固定框架（1）的顶部固定连接有支撑架（2），所述支撑架（2）的前端安装有检测设备（3），所述固定框架（1）底部的中心固定连接有限位导轨（4），所述限位导轨（4）的中心滑动连接有电路板定位机构（5）；

所述电路板定位机构（5）包括滑动底座（501），所述滑动底座（501）前端的中心固定连接有固定把手（502），所述滑动底座（501）顶部的中心安装有电路板定位模块（503），所述电路板定位模块（503）与滑动底座（501）通过多个固定螺钉（504）固定连接，所述电路板定位模块（503）的中心开设有电路板定位凹槽（505）；

所述固定框架（1）的中心固定连接有多个限位杆（6），多个所述限位杆（6）之间滑动安装有升降支撑机构（7），所述固定框架（1）顶部内表面的两侧分别安装有与升降支撑机构（7）相对应的第一升降器气缸（8）和第二升降器气缸（9）；

所述升降支撑机构（7）的中心安装有与检测设备（3）相对应的测试对接机构（10），所述检测设备（3）与测试对接机构（10）之间连接有测试线束（11）；

所述升降支撑机构（7）包括支撑板（701），所述支撑板（701）的边角处均固定连接有与限位杆（6）相对应的限位轴套（702），所述支撑板（701）的中心开设有安装孔（703），所述支撑板（701）的顶部固定连接有多个定位柱（704），多个所述定位柱（704）的外壁均套接有复位弹簧（705），多个所述定位柱（704）的顶部均旋合有固定螺帽（706）；多个所述定位柱（704）与支撑板（701）为一体式结构，且多个定位柱（704）外壁的顶部均开设有与固定螺帽（706）相对应的外螺纹；

所述测试对接机构（10）包括测试主板（1001），所述测试主板（1001）的底部固定连接有限位板（1002），所述测试主板（1001）的边角处均开设有限位孔（1003），测试主板（1001）的顶部设置有多个连接端口（1004），所述限位板（1002）的底部设置有多个与连接端口（1004）相对应的测试触针；测试对接机构（10）用于与电路板的对接和电性连接，以便实现对电路板的功能和通电状态测试。

2.根据权利要求1所述的电路板功能测试通用架构，其特征在于：所述限位导轨（4）与固定框架（1）为一体式结构，且限位导轨（4）内壁的两侧开设有与电路板定位机构（5）相对应的限位滑槽。

3.根据权利要求1所述的电路板功能测试通用架构，其特征在于：多个所述限位杆（6）在固定框架（1）的中心呈对称分布。

4.根据权利要求1所述的电路板功能测试通用架构，其特征在于：所述测试线束（11）包括多股测试导线（1101），多股所述测试导线（1101）的顶端均固定连接有连接端子（1102），多股测试导线（1101）的外侧包覆有绝缘皮（1103）。

5.根据权利要求4所述的电路板功能测试通用架构，其特征在于：多股所述测试导线（1101）的底端均与测试对接机构（10）对应的连接端口（1004）电性连接。