CN113948024A - 显示面板老化测试方法、装置、显示面板及存储介质 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种显示面板老化测试方法、装置、设备及存储介质，涉及显示技术领域。该方法包括：在接收到老化测试信号时，驱动电源管理电路向数据驱动芯片输出第一电压；驱动数据驱动芯片根据第一电压向数据线输出第二电压，第二电压大于数据线在显示模式下接收的电压。本发明通过显示面板自动执行老化测试方法，并同时实现对数据驱动芯片及数据线的老化测试，使得老化测试效率更高。

Description

显示面板老化测试方法、装置、显示面板及存储介质

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板老化测试方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

液晶显示面板在生成完成后通常需要进行测试，以挑选出不良品，例如老化测试等。在老化测试中，通过向显示面板提供高电压，以测试显示面板受电压影响的老化情况。若显示面板内存在电路不良，在高电压的情况下，会迅速出现异常，以此筛选不良品。目前，显示面板的老化测试效率低，不利于不良品的检出。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种显示面板老化测试方法、装置、设备及存储介质，旨在解决现有技术中显示面板的老化测试系效率低，不利于不良品的检出的技术问题。

为实现上述目的，本发明提供一种显示面板老化测试方法，显示面板包括电源管理电路、数据驱动芯片和数据线，显示面板老化测试方法包括以下步骤：

在接收到老化测试信号时，驱动电源管理电路向数据驱动芯片输出第一电压；

驱动数据驱动芯片根据第一电压向数据线输出第二电压，第二电压大于数据线在显示模式下接收的电压。

可选的，驱动电源管理电路向数据驱动芯片输出第一电压，包括：

驱动电源管理电路向数据驱动芯片的伽马信号端输出第一电压，第一电压大于伽马信号端在显示模式下接收的电压。

可选的，驱动数据驱动芯片根据第一电压向数据线输出第二电压，包括：

向数据驱动芯片传输预设视频数据，驱动数据驱动芯片根据第一电压和预设视频数据向数据线输出第二电压。

可选的，伽马信号端对应的灰阶等级为白灰阶。

可选的，驱动电源管理电路向数据驱动芯片的伽马信号端输出第一电压，包括：

获取电源管理电路对应的各预设伽马电压参数；

从各预设伽马电压参数中选取目标电压值对应的目标伽马电压参数，并根据目标伽马电压参数驱动电源管理电路生成第一电压；

将第一电压传输至数据驱动芯片的伽马信号端。

可选的，在接收到老化测试信号时，驱动电源管理电路向数据驱动芯片输出第一电压之后，还包括：

驱动电源管理电路向数据驱动芯片的第一供电端输出第三电压，第三电压大于第一供电端在显示模式下接收的电压。

可选的，显示面板还包括扫描驱动芯片，在接收到老化测试信号时，驱动电源管理电路向数据驱动芯片输出第一电压之后，还包括：

驱动电源管理电路向扫描驱动芯片的第二供电端输出第四电压，第四电压大于第二供电端在显示模式下接收的电压。

此外，为实现上述目的，本发明还提出一种显示面板老化测试装置，显示面板包括电源管理电路、数据驱动芯片和数据线，显示面板老化测试装置包括：

第一驱动模块，用于在接收到老化测试信号时，驱动电源管理电路向数据驱动芯片输出第一电压；

第二驱动模块，用于驱动数据驱动芯片根据第一电压向数据线输出第二电压，第二电压大于数据线在显示模式下接收的电压。

此外，为实现上述目的，本发明还提出一种显示面板，显示面板包括：电源管理电路、数据驱动芯片和数据线、存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的显示面板老化测试程序，显示面板老化测试程序被处理器执行时实现如上述的显示面板老化测试方法。

此外，为实现上述目的，本发明还提出一种存储介质，存储介质上存储有显示面板老化测试程序，显示面板老化测试程序被处理器执行时实现如上述的显示面板老化测试方法。

本发明中，通过在接收到老化测试信号时，驱动电源管理电路向数据驱动芯片输出第一电压；然后驱动数据驱动芯片根据第一电压向数据线输出第二电压，第二电压大于数据线在显示模式下接收的电压。本发明通过显示面板自动执行老化测试方法，并同时实现对数据驱动芯片及数据线的老化测试，使得老化测试效率更高。

附图说明

图1是本发明实施例方案涉及的硬件运行环境的显示面板的结构示意图；

图2为本发明显示面板老化测试方法第一实施例的流程示意图；

图3为本发明显示面板老化测试方法第二实施例的流程示意图；

图4为本发明显示面板老化测试装置的结构框图。

本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

参照图1，图1为本发明实施例方案涉及的硬件运行环境的显示面板的结构示意图。

如图1所示，该显示面板可以包括：处理器1001，例如中央处理器(CentralProcessing Unit，CPU)，电源管理电路1002、数据驱动芯片1003、扫描驱动芯片1004、阵列基板1005和存储器1006。其中，阵列基板1005中设置有多个像素单元(图中未示出)，各像素单元对应配置有一数据线和扫描线。各数据线由数据驱动芯片1003驱动，各扫描线由扫描驱动芯片1004驱动。扫描驱动芯片1004用于向各扫描线输出扫描信号，控制各像素单元按照预设的顺序开启；数据驱动芯片1003用于向各数据线输出数据信号，在像素单元处于开启状态时，接收该数据信号，根据该数据信号对应的数据电压进行充电。电源管理电路1002用于向数据驱动芯片1003和扫描驱动芯片1004提供基准电压，使数据驱动芯片1003和扫描驱动芯片1004正常运行；可以包括如降压电路和/或升压电路等。存储器1006可以是高速的随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)存储器，也可以是稳定的存储器(Non-volatile Memory，NVM)，例如磁盘存储器。存储器1006可选的还可以是独立于前述处理器1001的存储装置。

本领域技术人员可以理解，图1中示出的结构并不构成对显示面板老化测试设备的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。

如图1所示，认定为一种计算机存储介质的存储器1006中可以包括操作系统以及显示面板老化测试程序。显示面板通过处理器1001调用存储器1005中存储的显示面板老化测试程序，并执行本发明实施例提供的显示面板老化测试方法。

基于上述硬件结构，提出本发明显示面板老化测试方法的第一实施例。

参照图2，图2为本发明显示面板老化测试方法第一实施例的流程示意图，提出本发明显示面板老化测试方法第一实施例。

在第一实施例中，显示面板的具体结构可以参考前述内容，所述显示面板老化测试方法包括以下步骤：

步骤S10：在接收到老化测试信号时，驱动电源管理电路1002向数据驱动芯片1003输出第一电压。

应理解的是，本实施例的执行主体可以为上述的显示面板，该显示面板具有数据处理、数据通信及程序运行等功能；具体的，本实施例的执行主体可以为上述显示面板中的处理器1001。

在本实施方式中，显示面板中还可以设置有用户接口，该用户接口用于接收用户的操作指令。在需要进行老化测试时，测试人员可以通过该用户接口输入老化测试信号，该老化测试信号的信号格式可以根据测试人员的需求进行设置，本实施方式对此不加以限制。显示面板在接收到该老化测试信号时，通过处理器1001调用存储器内存储的显示面板老化测试程序，以执行本实施方式的显示面板老化测试方法。

需要说明的是，电源管理电路1002可具备降压和/或升压功能，用于实现电压的转换。电源管理电路1002的输入电源可以为外部电源，如电源适配器的输出电源等；电源管理电路1002的输出电压可以根据接收的控制信号进行调整，该控制信号可以为处理器1001发送的控制信号。

可以理解的是，为进行老化测试，电源管理电路1002需要提供更高的电压，因此该第一电压可以大于数据驱动芯片1003在显示模式下的电压；其中，显示模式是指显示面板用于正常显示画面。例如，若数据驱动芯片1003在显示模式下的接收的电压为5V，则第一电压可以为8V或者12V等。由于数据驱动芯片1003接收到了相较于显示模式下更高的电压，数据驱动芯片1003自身一部分进入了老化测试状态，若数据驱动芯片1003自身存在不良(线路接触不良等)时，则会迅速显现，从而挑选出数据驱动芯片1003不良的显示面板。

需要说明的是，若需要更全面地对数据驱动芯片1003自身的不良进行检测，还可以向数据驱动芯片1003的第一供电端提供更高的电压。在具体实现时，处理器1001还可以驱动电源管理电路1002向数据驱动芯片1003的第一供电端输出第三电压，第三电压大于第一供电端在显示模式下接收的电压,。若数据驱动芯片1003处于显示模式时，第一供电端的供电电压为8V，则第三电压可以为12V或者15等。当然，第三电压还可以为第一电压，即将第一电压作为第三电压施加在数据驱动芯片1003的第一供电端。由于数据驱动芯片1003也接收了更高的供电电压，可以对数据驱动芯片1003内部相应的电力回路进行测试，若存在不良则会迅速显现，从而更全面对数据驱动芯片1003进行检测。

步骤S20：驱动数据驱动芯片1003根据第一电压向数据线输出第二电压，第二电压大于数据线在显示模式下接收的电压。

需要说明的是，为对数据线进行老化测试，同样需要向数据线输出更高的电压。例如，若数据线在显示模式下接收的电压为5V，则第二电压可以为8V或者12V等。若数据线存在缺陷(如线宽过细等)，则数据线会变成断线，从而可以挑选出数据线不良的显示面板。

可以理解的是，为向数据线提供更高的电压，数据驱动芯片1003可以将第一电压进行转换第二电压输出至数据线。例如，数据驱动芯片1003内部可以设置电压转换电路，在进入老化测试时，处理器1001向数据驱动芯片1003发送控制信号，以启动电压转换电路向数据线提供第二电压。当然，电压转换电路可以具备降压、升压或者开关等功能，其具体结构可以根据用户需求进行设置，本实施方式对此不加以限制。

在本实施方式中，为更全面地对显示面板进行老化测试，处理器1001还可以在接收到老化测试信号时，驱动电源管理电路102向扫描驱动芯片1004的第二供电端输出第四电压，第四电压大于第二供电端在显示模式下接收的电压。

需要说明的是，扫描驱动芯片1004的通过接收相较于显示模式更高的电压，自身进行老化测试，从而可以检测扫描驱动芯片1004自身的不良。同时，由于扫描驱动芯片1004通常将供电电压转换成扫描信号输出至扫描线，故可以同时对扫描线进行检测，从而更全面地对显示面板进行老化测试。其中，若扫描驱动芯片1004处于显示模式时，第二供电端的供电电压为8V，则第四电压可以为12V或者15等。

在第一实施例中，通过在接收到老化测试信号时，驱动电源管理电路1002向数据驱动芯片1003输出第一电压；然后驱动数据驱动芯片1003根据第一电压向数据线输出第二电压，第二电压大于数据线在显示模式下接收的电压。本实施方式通过显示面板自动执行老化测试方法，并同时实现对数据驱动芯片1003及数据线的老化测试，使得老化测试效率更高。

参照图3，图3为本发明显示面板老化测试方法第二实施例的流程示意图，基于第一实施例，提出本发明显示面板老化测试方法的第二实施例。

在第二实施例中，步骤S10可以包括：

步骤S101：在接收到老化测试信号时，驱动电源管理电路1002向数据驱动芯片1003的伽马信号端输出第一电压，第一电压大于伽马信号端在显示模式下接收的电压。

可以理解的是，为使显示面板在进行显示时更符合人眼的感受，数据驱动芯片1003通常需要采用伽马电压对像素电压进行校正；其中，像素电压由数据驱动芯片1003接入的视频数据转换而成，该伽马电压由数据驱动芯片1003的伽马信号端接入。

通常，数据驱动芯片1003接入的伽马电压存在多组，例如14组，各组伽马电压的电压值，以对应不同的灰阶。在具体实现时，伽马信号端可以为各组伽马电压中具有最高电压值的伽马电压对应的信号端。例如，数据驱动芯片1003用于接入伽马电压的信号端分为GMA1-GMA14；其中，在显示模式先，GMA1所接入的伽马电压大于GMA2-GMA14的电压，故将GMA1作为伽马信号端。由于GMA1具有最高电压，因此数据驱动芯片1003在基于该GMA1输入的第一电压向数据线输出数据信号时，该数据信号能够保证具有相较于显示模式下的电压；通常，GMA1对应的灰阶等级为白灰阶。由此，电源管理电路1002可以仅向GMA1提供更高的电压即可完成对数据线的老化测试。例如，伽马信号端在显示模式下接收的电压为5V，第一电压可以为8V或者12V等。

在具体实现时，为使处理器1001能够自动完成老化测试，驱动电源管理电路向数据驱动芯片的伽马信号端输出第一电压的步骤，可以包括：获取电源管理电路1002对应的各预设伽马电压参数；从各预设伽马电压参数中选取目标电压值对应的目标伽马电压参数，并根据目标伽马电压参数驱动电源管理电路1002生成第一电压；将第一电压传输至数据驱动芯片1003的伽马信号端。

需要说明的是，目标电压值是指预设的老化测试模式对应的电压值。存储器1006内可以预先存储多组伽马电压参数，其中各伽马电压参数可以包括显示面板在显示模式下对应的伽马电压以及在老化测试模式下对应的伽马电压。处理器1001在接收到老化测试信号时，从存储器1006中获取各伽马电压参数，再根据目标电压值从各伽马电压参数中选取老化测试模式下对应的伽马电压作为目标伽马电压参数，并根据该目标伽马电压参数驱动电源管理电路1002生成对应的第一电压。

需要说明的是，各伽马电压参数在存储时还可以添加相应的标识，通过对老化测试模式下对应的伽马电压参数进行标记，使得处理器1001可以根据该标识确定目标伽马电压参数。或者，处理器1001还可以对各伽马电压参数中的伽马电压进行比较，将具有最大电压的伽马电压参数作为目标伽马电压参数；具体的，可以对各伽马电压参数中的GMA1电压进行比较，将具有最大电压的GMA1电压对应的伽马电压参数参数作为目标伽马电压参数。

此外，为提高显示面板老化测试的效率，驱动数据驱动芯片1003根据第一电压向数据线输出第二电压的步骤可以包括：向数据驱动芯片1003传输预设视频数据，驱动数据驱动芯片1003根据第一电压和预设视频数据向数据线输出第二电压。

需要说明的是，数据驱动芯片1003通常需要对视频数据进行转换，获得数字信号，在基于该数字信号及伽马电压进行调制，获得数据信号；再将数据信号传输至数据线。因此，为使数据驱动芯片1003能够根据第一电压生成相应的数据信号，处理器1001还可以向数据驱动芯片1003传输预设视频数据。该预设视频数据的内容可以根据用户需求进行设置，本实施方式对此不加以限制。

可以理解的是，处理器1001在分别向数据驱动芯片1003及扫描驱动芯片1004施加相应的电压时，可以使显示面板产生一预设画面。在显示面板中存在不良时，改预设画面也会有相应的变化，从而可以便于测试人员确定不良的位置等信息。

在第二实施例中，在接收到老化测试信号时，驱动电源管理电路1002向数据驱动芯片1003的伽马信号端输出第一电压，第一电压大于伽马信号端在显示模式下接收的电压。本实施方式通过提高数据驱动芯片1003的伽马电压，从而使数据驱动芯片1003能够像数据线传输相较于显示模式下更高的电压，避免对数据驱动芯片1003的原有结构进行调整，使得老化测试更便利。

此外，本发明实施例还提出一种存储介质，所述存储介质上存储有显示面板老化测试程序，所述显示面板老化测试程序被处理器执行时实现如上文所述的显示面板老化测试方法的步骤。由于本存储介质可以采用上述所有实施例的技术方案，因此至少具有上述实施例的技术方案所带来的有益效果，在此不再一一赘述。

此外，参照图4，图4为本发明显示面板老化测试装置的结构框图。本发明实施例还提出一种显示面板老化测试装置。

在本实施例中，显示面板的具体结构可以参考前述内容，显示面板老化测试装置包括：

第一驱动模块100，用于在接收到老化测试信号时，驱动电源管理电路1002向数据驱动芯片1003输出第一电压。

在本实施方式中，显示面板中还可以设置有用户接口，该用户接口用于接收用户的操作指令。在需要进行老化测试时，测试人员可以通过该用户接口输入老化测试信号，该老化测试信号的信号格式可以根据测试人员的需求进行设置，本实施方式对此不加以限制。显示面板在接收到该老化测试信号时，第一驱动模块100调用存储器内存储的显示面板老化测试程序，以执行本实施方式的显示面板老化测试方法。

需要说明的是，电源管理电路1002可具备降压和/或升压功能，用于实现电压的转换。电源管理电路1002的输入电源可以为外部电源，如电源适配器的输出电源等；电源管理电路1002的输出电压可以根据接收的控制信号进行调整，该控制信号可以为处理器1001发送的控制信号。

可以理解的是，为进行老化测试，电源管理电路1002需要提供更高的电压，因此该第一电压可以大于数据驱动芯片1003在显示模式下的电压；其中，显示模式是指显示面板用于正常显示画面。例如，若数据驱动芯片1003在显示模式下的接收的电压为5V，则第一电压可以为8V或者12V等。由于数据驱动芯片1003接收到了相较于显示模式下更高的电压，数据驱动芯片1003自身一部分进入了老化测试状态，若数据驱动芯片1003自身存在不良(线路接触不良等)时，则会迅速显现，从而挑选出数据驱动芯片1003不良的显示面板。

需要说明的是，若需要更全面地对数据驱动芯片1003自身的不良进行检测，还可以向数据驱动芯片1003的第一供电端提供更高的电压。在具体实现时，第一驱动模块100，还可以驱动电源管理电路1002向数据驱动芯片1003的第一供电端输出第三电压，第三电压大于第一供电端在显示模式下接收的电压,。若数据驱动芯片1003处于显示模式时，第一供电端的供电电压为8V，则第三电压可以为12V或者15等。当然，第三电压还可以为第一电压，即将第一电压作为第三电压施加在数据驱动芯片1003的第一供电端。由于数据驱动芯片1003也接收了更高的供电电压，可以对数据驱动芯片1003内部相应的电力回路进行测试，若存在不良则会迅速显现，从而更全面对数据驱动芯片1003进行检测。

第二驱动模块200，用于驱动数据驱动芯片1003根据第一电压向数据线输出第二电压，第二电压大于数据线在显示模式下接收的电压。

需要说明的是，为对数据线进行老化测试，同样需要向数据线输出更高的电压。例如，若数据线在显示模式下接收的电压为5V，则第二电压可以为8V或者12V等。若数据线存在缺陷(如线宽过细等)，则数据线会变成断线，从而可以挑选出数据线不良的显示面板。

可以理解的是，为向数据线提供更高的电压，数据驱动芯片1003可以将第一电压进行转换第二电压输出至数据线。例如，数据驱动芯片1003内部可以设置电压转换电路，在进入老化测试时，处理器1001向数据驱动芯片1003发送控制信号，以启动电压转换电路向数据线提供第二电压。当然，电压转换电路可以具备降压、升压或者开关等功能，其具体结构可以根据用户需求进行设置，本实施方式对此不加以限制。

在本实施方式中，为更全面地对显示面板进行老化测试，第二驱动模块200，还可以在接收到老化测试信号时，驱动电源管理电路102向扫描驱动芯片1004的第二供电端输出第四电压，第四电压大于第二供电端在显示模式下接收的电压。

需要说明的是，扫描驱动芯片1004的通过接收相较于显示模式更高的电压，自身进行老化测试，从而可以检测扫描驱动芯片1004自身的不良。同时，由于扫描驱动芯片1004通常将供电电压转换成扫描信号输出至扫描线，故可以同时对扫描线进行检测，从而更全面地对显示面板进行老化测试。其中，若扫描驱动芯片1004处于显示模式时，第二供电端的供电电压为8V，则第四电压可以为12V或者15等。

在本实施例中，通过在接收到老化测试信号时，驱动电源管理电路1002向数据驱动芯片1003输出第一电压；然后驱动数据驱动芯片1003根据第一电压向数据线输出第二电压，第二电压大于数据线在显示模式下接收的电压。本实施方式通过显示面板自动执行老化测试方法，并同时实现对数据驱动芯片1003及数据线的老化测试，使得老化测试效率更高。

在一实施方式中，第一驱动模块100，还用于驱动电源管理电路向数据驱动芯片的伽马信号端输出第一电压，第一电压大于伽马信号端在显示模式下接收的电压。

在一实施方式中，第二驱动模块200，还用于向数据驱动芯片传输预设视频数据，驱动数据驱动芯片根据第一电压和预设视频数据向数据线输出第二电压。

在一实施方式中，伽马信号端对应的灰阶等级为白灰阶。

在一实施方式中，第一驱动模块100，还用于获取电源管理电路对应的各预设伽马电压参数；从各预设伽马电压参数中选取具有目标电压值的目标伽马电压参数，并根据目标伽马电压参数驱动电源管理电路生成第一电压；将第一电压传输至数据驱动芯片的伽马信号端。

本发明所述显示面板老化测试装置的其他实施例或具体实现方式可参照上述各方法实施例，因此至少具有上述实施例的技术方案所带来的所有有益效果，此处不再赘述。

需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者系统不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者系统所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者系统中还存在另外的相同要素。

上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。在列举了若干装置的单元权利要求中，这些装置中的若干个可以是通过同一个硬件项来具体体现。词语第一、第二、以及第三等的使用不表示任何顺序，可将这些词语解释为名称。

通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质(如只读存储器镜像(Read Only Memory image，ROM)/随机存取存储器(Random AccessMemory，RAM)、磁碟、光盘)中，包括若干指令用以使得一台终端设备(可以是手机，计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。

以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种显示面板老化测试方法，所述显示面板包括电源管理电路、数据驱动芯片和数据线，其特征在于，所述显示面板老化测试方法包括以下步骤：

在接收到老化测试信号时，驱动所述电源管理电路向所述数据驱动芯片输出第一电压；

驱动所述数据驱动芯片根据所述第一电压向所述数据线输出第二电压，所述第二电压大于所述数据线在显示模式下接收的电压。

2.如权利要求1所述的显示面板老化测试方法，其特征在于，所述驱动所述电源管理电路向所述数据驱动芯片输出第一电压，包括：

驱动所述电源管理电路向所述数据驱动芯片的伽马信号端输出第一电压，所述第一电压大于所述伽马信号端在显示模式下接收的电压。

3.如权利要求2所述的显示面板老化测试方法，其特征在于，所述驱动所述数据驱动芯片根据所述第一电压向所述数据线输出第二电压，包括：

向所述数据驱动芯片传输预设视频数据，驱动所述数据驱动芯片根据所述第一电压和所述预设视频数据向所述数据线输出第二电压。

4.如权利要求3所述的显示面板老化测试方法，其特征在于，所述伽马信号端对应的灰阶等级为白灰阶。

5.如权利要求2所述的显示面板老化测试方法，其特征在于，驱动所述电源管理电路向所述数据驱动芯片的伽马信号端输出第一电压，包括：

获取所述电源管理电路对应的各预设伽马电压参数；

从各预设伽马电压参数中选取目标电压值对应的目标伽马电压参数，并根据所述目标伽马电压参数驱动所述电源管理电路生成第一电压；

将所述第一电压传输至所述数据驱动芯片的伽马信号端。

6.如权利要求1-5中任一项所述的显示面板老化测试方法，其特征在于，所述在接收到老化测试信号时，驱动所述电源管理电路向所述数据驱动芯片输出第一电压之后，还包括：

驱动所述电源管理电路向所述数据驱动芯片的第一供电端输出第三电压，所述第三电压大于所述第一供电端在显示模式下接收的电压。

7.如权利要求1-5中任一项所述的显示面板老化测试方法，所述显示面板还包括扫描驱动芯片，其特征在于，所述在接收到老化测试信号时，驱动所述电源管理电路向所述数据驱动芯片输出第一电压之后，还包括：

驱动所述电源管理电路向所述扫描驱动芯片的第二供电端输出第四电压，所述第四电压大于所述第二供电端在显示模式下接收的电压。

8.一种显示面板老化测试装置，所述显示面板包括电源管理电路、数据驱动芯片和数据线，其特征在于，所述显示面板老化测试装置包括：

第一驱动模块，用于在接收到老化测试信号时，驱动所述电源管理电路向所述数据驱动芯片输出第一电压；

第二驱动模块，用于驱动所述数据驱动芯片根据所述第一电压向所述数据线输出第二电压，所述第二电压大于所述数据线在显示模式下接收的电压。

9.一种显示面板，其特征在于，所述显示面板包括：电源管理电路、数据驱动芯片和数据线、存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的显示面板老化测试程序，所述显示面板老化测试程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的显示面板老化测试方法。

10.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质上存储有显示面板老化测试程序，所述显示面板老化测试程序被处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的显示面板老化测试方法。

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