CN110459153A - 一种显示面板的老化测试电路、老化测试方法和显示装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种显示面板的老化测试电路、老化测试方法和显示装置，所述显示面板，包括老化测试模块可输出老化测试信号，控制电路根据所述老化测试信号输出切换信号，切换显示面板至正常模式或老化测试模式，驱动显示面板的扫描线的栅极驱动电路；开启电压电路根据所述切换信号输出第一驱动信号用于开启栅极驱动电路和关断电压电路根据所述切换信号输出第二驱动信号用于关断栅极驱动电路；在所述老化测试模式下，所述第一驱动信号的电压大于所述正常模式的电压，所述第二驱动信号的电压小于所述正常模式的电压；使显示面板的跨压更大，加速老化测试模式，将早期的不良产品控制在厂内。

Description

一种显示面板的老化测试电路、老化测试方法和显示装置

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板的老化测试电路、老化测试方法和显示装置。

背景技术

随着越来越多的显示设备及品牌的诞生，液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)的竞争也越来越激烈，那么客户对液晶显示器的要求也就越来越高，客户或者液晶显示器厂商都希望在模组出货前将异常品拦检到，以免对客户造成影响。根据“浴缸曲线”(又称U型曲线)，用于描述半导体产品随时间变化的瞬时故障率的通用曲线。浴缸曲线(Bathtub curve,失效率曲线)实践证明大多数设备的故障率是时间的函数，典型故障曲线称之为浴缸曲线，曲线的形状呈两头高，中间低，具有明显的阶段性，可划分为三个阶段：早期故障期，偶然故障期，严重故障期。

为了卡控早期故障期的不良，造成对产品品质出货时就有严重的影响，所以现在有很多种测试方法被提出，比如老化测试(Aging test)。随着新的技术、新的设计的应用，常规的老化测试已经无法满足负载烧机的功耗要求，导致不良拦检率低。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种能够有效卡控显示面板早期故障，加速老化，从而保证产品良率的一种显示面板的老化测试电路、老化测试方法和显示装置。

为实现上述目的，图1至图9所示，本发明公开了一种显示面板，所述显示面板包括老化测试模块、控制电路、栅极驱动电路、开启电压电路和关断电压电路；老化测试模块输出老化测试信号；控制电路根据所述老化测试信号输出切换信号，切换显示面板至正常模式或老化测试模式；栅极驱动电路驱动显示面板的扫描线；开启电压电路根据所述切换信号输出第一驱动信号用于开启栅极驱动电路；关断电压电路根据所述切换信号输出第二驱动信号用于关断栅极驱动电路；在所述老化测试模式下，所述第一驱动信号的电压大于所述正常模式的电压，所述第二驱动信号的电压小于所述正常模式的电压。

可选的，所述开启电压电路包括第一驱动电路和第一电压反馈电路；所述第一驱动电路与所述栅极驱动电路连接，所述第一电压反馈电路连接所述控制电路和所述第一驱动电路；所述第一电压反馈电路根据所述切换信号输出第一反馈信号至所述第一驱动电路；所述第一驱动电路根据所述第一反馈信号输出关断栅极驱动电路的第一驱动信号；

可选的，所述关断电压电路包括第二驱动电路和第二电压反馈电路，所述第二驱动电路与所述栅极驱动电路连接；所述第二电压反馈电路连接所述控制电路和所述第二驱动电路；所述第二电压反馈电路根据所述切换信号输出第二反馈信号至所述第二驱动电路；所述第二驱动电路根据所述第二反馈信号输出关断栅极驱动电路的第二驱动信号。

可选的，所述第一电压反馈电路包括第一可调电阻模块和第一可控开关，所述第一可调电阻模块连接所述第一驱动电路；所述第一可控开关与所述第一可调电阻模块连接；被配置为调节所述第一可调电阻模块的阻值；所述切换信号连接所述第一可控开关；所述第一可调电阻模块输出所述第一反馈信号至所述第一驱动电路。

可选的，所述第二电压反馈电路包括第二可调电阻模块和第二可控开关，第二可调电阻模块连接所述第二驱动电路；第二可控开关与第二可调电阻模块连接；配置为调节所述第二可调电阻模块的阻值；所述切换信号连接所述第二可控开关；所述第二可调电阻模块输出所述第二反馈信号至所述第二驱动电路。

可选的，所述第一可调电阻模块包括多个第一电阻，所述多个第一电阻串联设置；所述多个第一电阻输出所述第一反馈信号至所述第一驱动电路；所述第一可控开关包括第一金氧半场效晶体管，所述第一金氧半场效晶体管的栅极与所述切换信号连接，所述第一金氧半场效晶体管的源极和漏极与所述至少一个所述第一电阻并联连接。

可选的，所述第二可调电阻模块包括多个第二电阻，所述多个第二电阻串联设置；所述多个第二电阻输出所述第二反馈信号至所述第二驱动电路；所述第二可控开关包括第二金氧半场效晶体管，所述第二金氧半场效晶体管的栅极与所述切换信号连接，所述第二金氧半场效晶体管的源极和漏极与所述至少一个所述第二电阻并联连接。

可选的，所述多个第一电阻包括第三电阻，第四电阻以及第五电阻，所述第三电阻，第四电阻以及第五电阻互为串连电路；所述第一金氧半场效晶体管与所述第四电阻连接且并联设置；所述多个第二电阻不少于三个，包括第六电阻，第七电阻和第八电阻，所述第六电阻，第七电阻和第八电阻互为串联电路；所述第二金氧半场效晶体管与所述第八电阻连接且并联设置。

可选的，一种显示面板的老化测试电路，其特征在于，所述第一电压反馈电路包括第三可调电阻模块；所述切换信号连接至所述第三可调电阻模块的控制端；所述第三可调电阻模块的输出端输出所述第一反馈信号至所述第一驱动电路。可选的，所述显示面板还包括时序控制器，所述控制电路集成在所述时序控制器内；所述老化测试模块与时序控制器连接，所述时序控制器输出所述切换信号。

可选的，所述显示面板还包括电源驱动芯片，所述第一驱动电路和所述第二驱动电路集成在所述电源驱动芯片内；所述电源驱动芯片与所述栅极驱动电路连接。

本发明还公开一种显示面板的老化测试方法，所述老化测试方法，包括步骤，

输出老化测试信号；

根据所述老化测试信号输出正常模式和老化测试模式的切换信号；

根据所述切换信号输出开启显示面板的栅极驱动电路的第一驱动信号，以及关断栅极驱动电路的第二驱动信号；

在所述老化测试模式下，所述第一驱动信号的电压大于所述正常模式的电压，所述第二驱动信号的电压小于所述正常模式的电压。

可选的，所述显示面板包括时序控制器和电源驱动芯片，所述时序控制器输出所述切换信号；所述电源驱动芯片输出所述第一驱动信号和第二驱动信号。

本发明还公开一种显示装置，包括显示面板，以及以上所述显示面板的老化测试电路。

相对于利用示例的老化测试或外部老化设备，本发明在老化测试测试模式下，开启栅极驱动电路所需的第一驱动信号的电压值升高，关断栅极驱动电路所需的第二驱动信号降低；使跨电压更大，加速老化，减少显示面板的早期故障，提高出货良率。

附图说明

所包括的附图用来提供对本发明实施例的进一步的理解，其构成了说明书的一部分，用于例示本发明的实施方式，并与文字描述一起来阐释本发明的原理。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。在附图中：

图1是本发明一实施例一种显示面板示意图；

图2是本发明一实施例的一种老化测试模式的示意图；

图3是本发明一实施例的一种显示面板老化测试方法的示意图；

图4是本发明一实施例的另一种显示面板老化测试方法的示意图；

图5是本发明一实施例的另一种显示面板老化测试方法的示意图；

图6是本发明一实施例的一种时序控制器内部示意图；

图7是本发明一实施例的一种时序控制器内部示意图；

图8是本发明一实施例的一种显示面板驱动方法的流程图；

图9是本发明一实施例的一种显示装置的示意图。

其中，100、显示面板；110、老化测试模块；120、控制电路；130、开启电压电路；131、第一驱动电路；132、第一电压反馈电路；134、第一可调电阻模块；135、第一可控开关；140、关断电压电路；141、第二驱动电路；142、第二电压反馈电路；144、第二可调电阻模块；145、第二可控开关；150、栅极驱动电路；160、时序控制器；161、内建自测模式；162、输入输出口；170、电源驱动芯片；180、第三可调电阻模块；190、第四可调电阻模块；200、显示装置。

具体实施方式

这里所公开的具体结构和功能细节仅仅是代表性的，并且是用于描述本发明的示例性实施例的目的。但是本发明可以通过许多替换形式来具体实现，并且不应当被解释成仅仅受限于这里所阐述的实施例。

在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“横向”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本发明的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。另外，术语“包括”及其任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。

在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

这里所使用的术语仅仅是为了描述具体实施例而不意图限制示例性实施例。除非上下文明确地另有所指，否则这里所使用的单数形式“一个”、“一项”还意图包括复数。还应当理解的是，这里所使用的术语“包括”和/或“包含”规定所陈述的特征、整数、步骤、操作、单元和/或组件的存在，而不排除存在或添加一个或更多其他特征、整数、步骤、操作、单元、组件和/或其组合。

下面参考附图和可选的的实施例对本发明作进一步说明。

如图1至图9所示，本发明公开了一种显示面板100包括老化测试模块110、控制电路120、栅极驱动电路150、开启电压电路130和关断电压电路140；老化测试模块110可输出老化测试信号，控制电路120根据老化测试信号输出切换信号，切换显示面板至正常模式或老化测试模式；栅极驱动电路150驱动显示面板的扫描线；以及开启电压电路130根据切换信号输出第一驱动信号VGH用于开启栅极驱动电路150和关断电压电路140根据搜书切换信号输出第二驱动信号VGL用于关断栅极驱动电路150，在老化测试模式下，所述第一驱动信号的电压VGH大于所述正常模式的电压；第二驱动信号的电压VGL小于所述正常模式的电压VGL。

利用老化测试模式控制显示面板100的早期故障不良，出货前先行驱动显示面板100至老化测试模式下，老化测试模式下，利用比正常第一驱动信号VGH(VGH)时更高的电压以及比正常第二驱动信号VGL(VGL)时更低的电压，使栅极驱动电路150的跨电压更大，加速老化，将早期不良产品淘汰，提升显示面板100良率。

如图2所示，开启电压电路130包括，第一驱动电路131，与栅极驱动电路150连接；第一电压反馈电路132，连接控制电路120和第一驱动电路131；第一电压反馈电路132根据切换信号输出第一反馈信号至第一驱动电路131；第一驱动电路131根据第一反馈信号输出关断栅极驱动电路150的第一驱动信号VGH；关断电压电路140包括，第二驱动电路141，与栅极驱动电路150连接；第二电压反馈电路142，连接控制电路120和第二驱动电路141；第二电压反馈电路142根据切换信号输出第二反馈信号至第二驱动电路141；第二驱动电路141根据第二反馈信号输出关断栅极驱动电路150的第二驱动信号VGL。

显示面板100主要驱动原理是，显示面板100接受到的电源、信号是由栅极驱动电路150从控制电路120输出至显示面板100的，显示面板100打开是以逐行(Line By Line)的方式把每一条数据线打开，具体实现方式为，将信号通过第一驱动电路131传输至栅极驱动电路150，再由电源驱动芯片170接受行信号，每一个信号对应一个输出，再通过数模转换，使面板逐行打开。但老化测试模式下的电压需要与正常模式下的电压不同，在不额外增设电路的情况下，在显示面板100原有的开启电压电路130和关断电压电路140中分别设置第一电压反馈电路132以及第二电压反馈电路142，根据切换信号第一电压反馈电路132以及第二电压反馈电路142输出的电压值不同，反馈至栅极驱动电路150的电压也不同，实现双第一驱动信号VGH的电压值和双第二驱动信号VGL的电压值。

如图3所示，第一电压反馈电路132包括，第一可调电阻模块134，连接第一驱动电路131；第一可控开关135，与第一可调电阻模块134连接；被配置为调节第一可调电阻模块134的阻值；切换信号连接第一可控开关135；第一可调电阻模块134输出第一反馈信号至第一驱动电路131，第二电压反馈电路142包括：第二可调电阻模块144，连接第二驱动电路141；第二可控开关145，与第二可调电阻模块144连接；配置为调节第二可调电阻模块144的阻值；切换信号连接第一可控开关145；第一可调电阻模块144输出第二反馈信号至第二驱动电路141。

如图4所示，第一可调电阻模块134包括三个第一电阻R1、R2和R3，三个第一电阻串联设置；第一驱动电路131输出驱动电压至电阻R1，依次通过电阻R2和电阻R3，最后接地。将电阻R1的电压作为第一反馈信号输出至第一驱动电路131；第一可控开关135包括第一金氧半场效晶体管(MOS，Metal-Oxide-Semiconductor)M1，第一金氧半场效晶体管M1的栅极与切换信号连接，第一金氧半场效晶体管M1的源极和漏极与电阻R2连接。

第二可调电阻模块144包括三个第二电阻R4、R5和R6，三个第二电阻串联设置；第二驱动电路141输出驱动电压至电阻R4，依次通过电阻R5和电阻R6，最后接地。将电阻R4的电压作为第二反馈信号输出至第二驱动电路141；第二可控开关145包括第二金氧半场效晶体管M2，第二金氧半场效晶体管M2的源极和漏极与切换信号连接，第二金氧半场效晶体管M2的栅极与电阻R5连接。

当一个电路串联，R1、R2、R3…Rn，电压比为U1:U2＝R1:R2总电压为比为在本发明中，假设老化测试模式下，金氧半场效晶体管MOS导通，对应的电阻R2和电阻R5短路，第一驱动信号VGH上的电压比在此时为对应的，第二驱动信号VGL上的电压比为

而在正常模式下，即MOS断开时，因所有电阻串联，此时第一驱动信号VGH上电压比为对应的第二驱动信号VGL上的电压比为

所以老化测试模式第一驱动信号VGH的电压＞正常点亮的第一驱动信号VGH的电压，老化测试模式下第二驱动信号VGL的电压＜正常点亮的第二驱动信号VGL的电压，使老化测试模式下提高第一驱动信号VGH的电压，降低第二驱动信号VGL的电压，使跨压更大，加速老化测试模式，将早期的不良产品控制在厂内。

考虑到电阻不能少于两颗，否则无法电压无法做出调整，导致无法反馈电压；而考虑到如果更多的电阻也可以完成，但是会带来成本上升，所以本发明采用三个，即能实现通过老化测试，控制早期故障的显示面板100，又能节省成本。当然，第一电阻的数量可以是两个，或者超过三个，第一金氧半场效晶体管M1和第二金氧半场效晶体管M2可以跟一个电阻并联，也可以跟多个电阻并联，在电阻阻值和数量一定的情况下，并联电阻越多，第一反馈信号和第二反馈信号变化的压差越大，越容易被识别。

假设老化测试模式下，金氧半场效晶体管(以下简称MOS管)M1/M2导通，对应的设有MOS管M1/M2的电阻R2/R5被短路，此时第一驱动信号VGH的电压因电阻减少而增大，第二驱动信号VGL的电压因电阻减少而减小(为负电压)，使第一驱动电路131和第二驱动电路141在老化测试模式下的跨电压更大,即可栅极驱动电路150输出到扫描线的驱动电压压差增大，可以加速显示面板100的老化速率。由于第一反馈信号和第二反馈信号的变化值是一个定值，只需要两个数据，用MOS管作为开关作用就可以实现，相比用其他器件做可控开关更节省成本，也更易实现。

当然，第一电压反馈电路的还可以通过增设数字电位器、变压器等方式，只要可使第一电压反馈电路和第二反馈电路在不同模式下的电压不同(至少有两个不同电压值)。

以数字电位器举例说明，如图5所示，第一电压反馈电路132上设有第三可调电阻模块180，控制电路120输出切换信号控制第三可调电阻模块180上的阻值实现第一驱动信号VGH在老化测试模式和正常模式输出的电压值不同，再通过第一驱动电路131反馈老化测试模式下所需的开启电压至栅极驱动电路150；同理，第二电压反馈电路142上设有第四可调电阻模块190，控制电路120输出切换信号控制第四可调电阻190上的阻值实现第二驱动信号VGL在老化测试模式和正常模式输出的电压值不同，再通过第二驱动电路141反馈老化测试模式下所需的关断电压至栅极驱动电路150；

第三可调电阻模块180和第四可调电阻模块190可以选用数字电位器，亦称数控可编程电阻器，切换信号为数字信号，能精确控制数字电位器的电阻值，相应的，第一驱动信号VGH和第二驱动信号VGL也有多组，能满足不同应用场合，提高通用性。

更具体的，MOS管有很多种类，在本发明中作为电源或者驱动的开关作用；MOS管包括N型和P型，N型MOS管为正极性导通，即当输出高电平信号时导通；P型MOS管为负极性导通，即当输出低电平信号时导通；在本发明中，没有限定MOS管的种类，老化测试模式可以是在在高电平时输出也可以是在低电平时输出，因此，MOS对应的种类也可以随老化测试模式对应修改，在此不做限定。

在一实施例中，显示面板100还包括时序控制器160(TCON,Timing Controller)，控制电路120集成在时序控制器160内；老化测试模块110与时序控制器160连接，时序控制器160输出切换信号。

如图6所示的一种时序控制器160的内部结构，因为老化测试模式是为了拦截出货前的异常品，并不是长期被需要的电路，所以老化测试模式与时序控制器160相连，可以在需要老化测试模式时，对显示面板100进行点亮，增大跨电压，加速老化，提升产品良率，而再不需要时，显示面板100进入正常模式，输出正常电压；如图所示，老化测试模式与时序控制器160相连，时序控制器160接收到老化测试模式的数据后，通过控制电路120传输老化测试时栅极驱动电路150与所需的电压；电压包括，开启电压和关断电压，分别由第一电压反馈电路132和第二电压反馈电路142控制所需开启电压和关断电压的电压值；

更具体的，如图6所示，时序控制器160还包括内建自测模块161(Built In Self-Test，BIST)，老化测试模式可存储于内建自测模块161中。因为时序控制器160内的自测电路中本身的就含有对显示面板100各项测试的图像和数据，当进入老化测试模式时，控制电路120电平拉高，时序控制器160可直接从内建自测模式(BIST)模块161中，提取老化测试模式的数据，将整个显示面板100切换至老化测试模式，如此，在本身存储的一些图像和配置的修复元件中添加老化测试模式的数据，不影响其他模块功能的运作，更容易实现。

如图7所示，时序控制器160还包括输入输出口162(General-purpose Input/output Processor，GIOP)，老化测试模块110也可作为使能信号与输入输出口162连接，输出老化测试信号，再通过控制电路120传输至电源驱动电路。

当然，通过老化测试模式控制显示面板100早期故障在出货前的方法有很多种，也可以是单独的一个芯片等不与时序控制器160连接的部件，在此不做限定。

显示面板100还包括电源驱动芯片170，第一驱动电路131和第二驱动电路141集成在电源驱动芯片170(PowerIntegrated Circuit，Power IC)内；电源驱动芯片170与栅极驱动电路150连接。

如图5所示，电源驱动芯片170本身被配置为驱动栅极驱动芯片，而第一驱动电路131和第二驱动电路141是配置为开启和关闭栅极驱动的电路，在本发明中，将第一驱动电路131和第二驱动电路141设置在电源驱动芯片170内，不影响其他电路的运作，保留原有的电路和芯片的功能的同时，使显示面板100进入老化测试模式，对显示面板100整体影响较小，不易在老化测试下发生其他损伤。

作为本发明的另一实施例，如图8所示，本发明还公开一种显示面板100的老化测试方法，其特征在于，包括步骤，

S1、输出老化测试信号；

S2、根据老化测试信号输出正常模式和老化测试模式的切换信号；

S3、根据切换信号输出开启显示面板的栅极驱动电路150的第一驱动信号VGH，以及关断栅极驱动电路150的第二驱动信号VGL；

在老化测试模式下，第一驱动信号VGH的电压大于正常模式VGH的电压；第二驱动信号的电压VGL小于所述正常模式VGL的电压。

在一实施例中，显示面板100包括时序控制器160和电源驱动芯片170，时序控制器160输出切换信号；电源驱动芯片170输出第一驱动信号VGH和第二驱动信号VGL。

老化测试信号通过时序控制器160输出切换信号，开启栅极驱动电路150的第一驱动信号VGH(VGH)和关断栅极驱动电路150的第二驱动信号VGL(VGH)由电源驱动芯片170输出，电源驱动芯片170又与栅极驱动芯片相连，使显示面板100在不影响其他部件下，复用显示面板100原有的功能切换至老化测试模式，不需要额外的电路和芯片，制作方法简单容易实现，并节省成本。

作为本发明的另一实施例，如图9所示，还公开了一种显示装置，包括显示面板100，以及如上述任意一项显示面板100的老化测试电路。老化测试电路和显示面板100做在一起，形成显示装置，在测试的时候无须额外增加测试机台和相关测试设备即可进行老化测试，提高了测试效率。

需要说明的是，本方案中涉及到的各步骤的限定，在不影响具体方案实施的前提下，并不认定为对步骤先后顺序做出限定，写在前面的步骤可以是在先执行的，也可以是在后执行的，甚至也可以是同时执行的，只要能实施本方案，都应当视为属于本发明的保护范围。

本发明的技术方案可以广泛应用于薄膜晶体管液晶显示器(Thin FilmTransistor-Liquid Crystal Display，TFT-LCD)和有机发光二极管(Organic Light-Emitting Diode，OLED)显示器等平板显示器。

以上内容是结合具体的可选的实施方式对本发明所作的进一步详细说明，不能认定本发明的具体实施只局限于这些说明。对于本发明所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种显示面板的老化测试电路，其特征在于，包括：

老化测试模块，输出老化测试信号；

控制电路，根据所述老化测试信号输出正常模式和老化测试模式的切换信号；

栅极驱动电路，驱动所述显示面板的扫描线；

开启电压电路，根据所述切换信号输出开启栅极驱动电路的第一驱动信号；

关断电压电路，根据所述切换信号输出关断栅极驱动电路的第二驱动信号；

在所述老化测试模式下，所述第一驱动信号的电压大于所述正常模式的电压，所述第二驱动信号的电压小于所述正常模式的电压。

2.如权利要求1所述的一种显示面板的老化测试电路，其特征在于，

所述开启电压电路包括：

第一驱动电路，与所述栅极驱动电路连接；

第一电压反馈电路，连接所述控制电路和所述第一驱动电路；

所述第一电压反馈电路根据所述切换信号输出第一反馈信号至所述第一驱动电路；

所述第一驱动电路根据所述第一反馈信号输出关断栅极驱动电路的第一驱动信号；

所述关断电压电路包括：

第二驱动电路，与所述栅极驱动电路连接；

第二电压反馈电路，连接所述控制电路和所述第二驱动电路；

所述第二电压反馈电路根据所述切换信号输出第二反馈信号至所述第二驱动电路；

所述第二驱动电路根据所述第二反馈信号输出关断栅极驱动电路的第二驱动信号。

3.如权利要求2所述一种显示面板的老化测试电路，其特征在于，所述第一电压反馈电路包括：

第一可调电阻模块，连接所述第一驱动电路；

第一可控开关，与第一可调电阻模块连接；被配置为调节所述第一可调电阻模块的阻值；

所述切换信号连接所述第一可控开关；所述第一可调电阻模块输出所述第一反馈信号至所述第一驱动电路；

所述第二电压反馈电路包括：

第二可调电阻模块，连接所述第二驱动电路；

第二可控开关，与第二可调电阻模块连接；被配置为调节所述第二可调电阻模块的阻值；

所述切换信号连接所述第二可控开关；所述第二可调电阻模块输出所述第二反馈信号至所述第二驱动电路。

4.如权利要求3所述一种显示面板的老化测试电路，其特征在于，所述第一可调电阻模块包括多个第一电阻，多个所述第一电阻串联设置；多个所述第一电阻输出所述第一反馈信号至所述第一驱动电路；

所述第一可控开关包括第一金氧半场效晶体管，所述第一金氧半场效晶体管的栅极与所述切换信号连接，所述第一金氧半场效晶体管的源极和漏极与至少一个所述第一电阻并联；

所述第二可调电阻模块包括多个第二电阻，多个所述第二电阻串联设置；多个所述第二电阻输出所述第二反馈信号至所述第二驱动电路；

所述第二可控开关包括第二金氧半场效晶体管，所述第二金氧半场效晶体管的栅极与所述切换信号连接，所述第二金氧半场效晶体管的源极和漏极与至少一个所述第二电阻并联。

5.如权利要求2所述一种显示面板的老化测试电路，其特征在于，所述第一电压反馈电路包括第三可调电阻模块；所述切换信号连接至所述第三可调电阻模块的控制端；所述第三可调电阻模块的输出端输出所述第一反馈信号至所述第一驱动电路。

6.如权利要求1所述一种显示面板的老化测试电路，其特征在于，所述显示面板还包括时序控制器，所述控制电路集成在所述时序控制器内；所述老化测试模块与时序控制器连接；所述时序控制器输出所述切换信号。

7.如权利要求2所述一种显示面板的老化测试电路，其特征在于，所述显示面板还包括电源驱动芯片，所述第一驱动电路和所述第二驱动电路集成在所述电源驱动芯片内；所述电源驱动芯片与所述栅极驱动电路连接。

8.一种显示面板的老化测试方法，其特征在于，包括步骤：

输出老化测试信号；

根据所述老化测试信号输出正常模式和老化测试模式的切换信号；

根据所述切换信号输出开启所述显示面板的栅极驱动电路的第一驱动信号，以及关断所述栅极驱动电路的第二驱动信号；

在所述老化测试模式下，所述第一驱动信号的电压大于所述正常模式的电压，所述第二驱动信号的电压小于所述正常模式的电压。

9.一种如权利要求8所述老化测试方法，其特征在于，所述显示面板包括时序控制器和电源驱动芯片，所述时序控制器输出所述切换信号；所述电源驱动芯片输出所述第一驱动信号和第二驱动信号。

10.一种显示装置，其特征在于，包括显示面板，以及如权利要求1至8任意一项所述显示面板的老化测试电路。