CN113933238A - 一种基于表面摩擦力的高效石墨烯膜鉴别系统 - Google Patents

一种基于表面摩擦力的高效石墨烯膜鉴别系统 Download PDF

Info

Publication number
CN113933238A
CN113933238A CN202111213141.8A CN202111213141A CN113933238A CN 113933238 A CN113933238 A CN 113933238A CN 202111213141 A CN202111213141 A CN 202111213141A CN 113933238 A CN113933238 A CN 113933238A
Authority
CN
China
Prior art keywords
friction force
module
data
qualified
graphene
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN202111213141.8A
Other languages
English (en)
Inventor
廖乃上
张旭光
肖琼阳
范玉言
马娉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hairui Film Technology Nantong Co Ltd
Original Assignee
Hairui Film Technology Nantong Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hairui Film Technology Nantong Co Ltd filed Critical Hairui Film Technology Nantong Co Ltd
Priority to CN202111213141.8A priority Critical patent/CN113933238A/zh
Publication of CN113933238A publication Critical patent/CN113933238A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N19/00Investigating materials by mechanical methods
    • G01N19/02Measuring coefficient of friction between materials
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G01N21/65Raman scattering
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/22Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
    • G01N23/225Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material using electron or ion
    • G01N23/2251Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material using electron or ion using incident electron beams, e.g. scanning electron microscopy [SEM]
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01QSCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
    • G01Q60/00Particular types of SPM [Scanning Probe Microscopy] or microscopes; Essential components thereof
    • G01Q60/24AFM [Atomic Force Microscopy] or apparatus therefor, e.g. AFM probes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/10Different kinds of radiation or particles
    • G01N2223/102Different kinds of radiation or particles beta or electrons

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Radiology & Medical Imaging (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

本发明公开了一种基于表面摩擦力的高效石墨烯膜鉴别系统,属于石墨烯膜技术领域,本发明包括取样模块、鉴别模块、对比模块、分类模块和存储模块,鉴别模块包括有摩擦力区分模块、光谱区分模块和微观区分模块。本发明通过摩擦力区分模块可得出取样样品与石墨烯膜标准摩擦力系数之间的差值,通过光谱区分模块可将多个取样样品所检测后并制出的波浪形图表进行对照,通过微观区分模块可逐步对取样样品进行检测,其细致程度逐渐变强,可更加精确获知取样样品数据,最后可根据摩擦力区分模块、光谱区分模块和微观区分模块采用表格样式进行数据分类,并通过多个区分模块进行整体比较,使得鉴别后的取样样品合格数据更加精准。

Description

一种基于表面摩擦力的高效石墨烯膜鉴别系统
技术领域
本发明涉及石墨烯膜鉴别技术领域,具体为一种基于表面摩擦力的高效石墨烯膜鉴别系统。
背景技术
石墨烯膜是浙江大学高分子系高超教授团队制造出的一种新型材料,石墨烯膜兼具高导热性和超柔性的材料的问世,对柔软电子器件的发展意义重大,从航空航天到智能手机,这种新型石墨烯膜展现出令人振奋的应用远景,人工导热石墨烯膜采用聚酰亚胺薄膜(简称PI膜)经高温碳化,石墨化,压延而成,为层状结构;聚酰亚胺薄膜的种类、厂家繁多,质量参差不齐,因此需要对其进行检测鉴别。
现有的石墨烯膜鉴别方式,一般通过采取多个样本对其进行检测,并在检测后通过数据对比,来获知石墨烯膜其合格度,但是其检测方面较为单一,使得在石墨烯膜检测并测出其一方面合格后,如其他方面数据不合格则易影响石墨烯膜后期使用时的安全性。
发明内容
本发明的目的在于:为了解决石墨烯膜鉴别不够精准的问题,提供一种基于表面摩擦力的高效石墨烯膜鉴别系统。
为达到上述目的,本发明采用的技术方案为:一种基于表面摩擦力的高效石墨烯膜鉴别系统,包括取样模块、鉴别模块、对比模块、分类模块和存储模块,所述鉴别模块包括有摩擦力区分模块、光谱区分模块和微观区分模块。
优选地,所述取样模块包括以下步骤:
步骤一:制作标准统一的多个采样模具;
步骤二:对石墨烯膜多个位置分别进行取样;
步骤三:对多个取样样品进行称重使其保持一致。
优选地,所述摩擦力区分模块包括以下步骤:
步骤一:采用统一样式测量纳米探对多个取样样品逐一其摩擦力检测;
步骤二:将多个取样样品所检测后的摩擦力进行统计并均取平均值计算。
优选地,所述光谱区分模块包括以下步骤:
步骤一:采用拉曼光谱仪进行检测,获知多个取样样品所检测后的光谱数据并制成波浪形图表。
优选地,所述微观区分模块包括以下步骤:
步骤一:采用扫描电子显微镜(SEM)进行直接观察,了解石墨烯的生成状况;
步骤二:采用透射电子显微镜(TEM)进行观察,能够直接观测到石墨烯的侧面,从而能清楚地看到石墨烯的层数;
步骤三:采用原子力显微镜(AFM)进行观察,能将单层的石墨烯划开研究,具有很高的精度,能够确认石墨烯的层数,及其在单层下的优异性能。
优选地,所述摩擦力区分模块中步骤二中的数据与石墨烯膜标准摩擦力系数进行列表比较,得出取样样品与石墨烯膜标准摩擦力系数之间的差值,如差值处于合格范围内,则说明取样样品合格,如差值不处于合格范围内,则说明取样样品不合格。
通过采用上述技术方案,可通过摩擦力区分模块将石墨烯膜进行区分,完成石墨烯膜的鉴别。
优选地,所述光谱区分模块中步骤一中的多个取样样品所检测后并制出的波浪形图表进行对照,如取样样品数据处于合格范围内,则说明取样样品合格,如取样样品数据不处于合格范围内,则说明取样样品不合格。
通过采用上述技术方案,可通过光谱区分模块将石墨烯膜进行区分,完成石墨烯膜的鉴别。
优选地,所述微观区分模块中步骤一、步骤二和步骤三逐步对取样样品进行检测,其细致程度逐渐变强,可更加精确获知取样样品数据,以便取用该数据与标准数据作比较,如取样样品数据处于合格范围内,则说明取样样品合格,如取样样品数据不处于合格范围内,则说明取样样品不合格。
通过采用上述技术方案,可通过微观区分模块将石墨烯膜进行区分,完成石墨烯膜的鉴别。
优选地,所述摩擦力区分模块、光谱区分模块和微观区分模块采用表格样式进行数据分类,并通过多个区分模块进行整体比较,使得鉴别后的取样样品合格数据更加精准。
通过采用上述技术方案,通过表格样式进行数据分类,可将数据综合处理,一一对照,完成石墨烯膜的鉴别。
优选地,所述存储模块可将最终结果进行分类,分为合格产品与不合格产品,并分别将合格产品与不合格产品进行分装存储。
通过采用上述技术方案,以便对石墨烯膜进行后续加工转运。
与现有技术相比,本发明的有益效果是:
1、本发明通过设置鉴别模块包括有摩擦力区分模块、光谱区分模块和微观区分模块,通过摩擦力区分模块中的数据与石墨烯膜标准摩擦力系数进行列表比较,得出取样样品与石墨烯膜标准摩擦力系数之间的差值,如差值处于合格范围内,则说明取样样品合格,如差值不处于合格范围内,则说明取样样品不合格;通过光谱区分模块中的多个取样样品所检测后并制出的波浪形图表进行对照,如取样样品数据处于合格范围内,则说明取样样品合格,如取样样品数据不处于合格范围内,则说明取样样品不合格;通过微观区分模块中逐步对取样样品进行检测,其细致程度逐渐变强,可更加精确获知取样样品数据,以便取用该数据与标准数据作比较,如取样样品数据处于合格范围内,则说明取样样品合格,如取样样品数据不处于合格范围内,则说明取样样品不合格;最后根据摩擦力区分模块、光谱区分模块和微观区分模块采用表格样式进行数据分类,并通过多个区分模块进行整体比较,使得鉴别后的取样样品合格数据更加精准,避免了石墨烯膜鉴别不够精准的情况。
附图说明
图1为本发明一种基于表面摩擦力的高效石墨烯膜鉴别系统的结构示意图;
图2为本发明中鉴别模块的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
在本发明中,除非另有明确的规定和限定,术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”、“固定”、“套接”、等术语应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或成一体;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系,对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义
实施例一:
本发明提供一种技术方案:一种基于表面摩擦力的高效石墨烯膜鉴别系统,参阅图1-2所示,包括取样模块、鉴别模块、对比模块、分类模块和存储模块,鉴别模块包括有摩擦力区分模块、光谱区分模块和微观区分模块。
进一步地,取样模块包括以下步骤:
步骤一:制作标准统一的多个采样模具;
步骤二:对石墨烯膜多个位置分别进行取样;
步骤三:对多个取样样品进行称重使其保持一致。
进一步地,摩擦力区分模块包括以下步骤:
步骤一:采用统一样式测量纳米探对多个取样样品逐一其摩擦力检测;
步骤二:将多个取样样品所检测后的摩擦力进行统计并均取平均值计算。
进一步地,光谱区分模块包括以下步骤:
步骤一:采用拉曼光谱仪进行检测,获知多个取样样品所检测后的光谱数据并制成波浪形图表。
进一步地,微观区分模块包括以下步骤:
步骤一:采用扫描电子显微镜(SEM)进行直接观察,了解石墨烯的生成状况;
步骤二:采用透射电子显微镜(TEM)进行观察,能够直接观测到石墨烯的侧面,从而能清楚地看到石墨烯的层数;
步骤三:采用原子力显微镜(AFM)进行观察,能将单层的石墨烯划开研究,具有很高的精度,能够确认石墨烯的层数,及其在单层下的优异性能。
进一步地,所述摩擦力区分模块中步骤二中的数据与石墨烯膜标准摩擦力系数进行列表比较,得出取样样品与石墨烯膜标准摩擦力系数之间的差值,如差值处于合格范围内,则说明取样样品合格,如差值不处于合格范围内,则说明取样样品不合格,可通过摩擦力区分模块将石墨烯膜进行区分,完成石墨烯膜的鉴别。
进一步地,所述光谱区分模块中步骤一中的多个取样样品所检测后并制出的波浪形图表进行对照,如取样样品数据处于合格范围内,则说明取样样品合格,如取样样品数据不处于合格范围内,则说明取样样品不合格,可通过光谱区分模块将石墨烯膜进行区分,完成石墨烯膜的鉴别。
进一步地,所述微观区分模块中步骤一、步骤二和步骤三逐步对取样样品进行检测,其细致程度逐渐变强,可更加精确获知取样样品数据,以便取用该数据与标准数据作比较,如取样样品数据处于合格范围内,则说明取样样品合格,如取样样品数据不处于合格范围内,则说明取样样品不合格,可通过微观区分模块将石墨烯膜进行区分,完成石墨烯膜的鉴别。
进一步地,所述摩擦力区分模块、光谱区分模块和微观区分模块采用表格样式进行数据分类,并通过多个区分模块进行整体比较,使得鉴别后的取样样品合格数据更加精准,通过表格样式进行数据分类,可将数据综合处理,一一对照,完成石墨烯膜的鉴别。
进一步地,所述存储模块可将最终结果进行分类,分为合格产品与不合格产品,并分别将合格产品与不合格产品进行分装存储,以便对石墨烯膜进行后续加工转运。
本发明中:通过摩擦力区分模块中的数据与石墨烯膜标准摩擦力系数进行列表比较,得出取样样品与石墨烯膜标准摩擦力系数之间的差值,如差值处于合格范围内,则说明取样样品合格,如差值不处于合格范围内,则说明取样样品不合格;通过光谱区分模块中的多个取样样品所检测后并制出的波浪形图表进行对照,如取样样品数据处于合格范围内,则说明取样样品合格,如取样样品数据不处于合格范围内,则说明取样样品不合格;通过微观区分模块中逐步对取样样品进行检测,其细致程度逐渐变强,可更加精确获知取样样品数据,以便取用该数据与标准数据作比较,如取样样品数据处于合格范围内,则说明取样样品合格,如取样样品数据不处于合格范围内,则说明取样样品不合格;最后根据摩擦力区分模块、光谱区分模块和微观区分模块采用表格样式进行数据分类,并通过多个区分模块进行整体比较,使得鉴别后的取样样品合格数据更加精准。
尽管已经示出和描述了本发明的实施例,对于本领域的普通技术人员而言,可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (10)

1.一种基于表面摩擦力的高效石墨烯膜鉴别系统,其特征在于,包括其特征在于,包括取样模块、鉴别模块、对比模块、分类模块和存储模块,所述鉴别模块包括有摩擦力区分模块、光谱区分模块和微观区分模块。
2.根据权利要求1所述的一种基于表面摩擦力的高效石墨烯膜鉴别系统,其特征在于:所述取样模块包括以下步骤:
步骤一:制作标准统一的多个采样模具;
步骤二:对石墨烯膜多个位置分别进行取样;
步骤三:对多个取样样品进行称重使其保持一致。
3.根据权利要求1所述的一种基于表面摩擦力的高效石墨烯膜鉴别系统,其特征在于:所述摩擦力区分模块包括以下步骤:
步骤一:采用统一样式测量纳米探对多个取样样品逐一其摩擦力检测;
步骤二:将多个取样样品所检测后的摩擦力进行统计并均取平均值计算。
4.根据权利要求1所述的一种基于表面摩擦力的高效石墨烯膜鉴别系统,其特征在于:所述光谱区分模块包括以下步骤:
步骤一:采用拉曼光谱仪进行检测,获知多个取样样品所检测后的光谱数据并制成波浪形图表。
5.根据权利要求1所述的一种基于表面摩擦力的高效石墨烯膜鉴别系统,其特征在于:所述微观区分模块包括以下步骤:
步骤一:采用扫描电子显微镜(SEM)进行直接观察,了解石墨烯的生成状况;
步骤二:采用透射电子显微镜(TEM)进行观察,能够直接观测到石墨烯的侧面,从而能清楚地看到石墨烯的层数;
步骤三:采用原子力显微镜(AFM)进行观察,能将单层的石墨烯划开研究,具有很高的精度,能够确认石墨烯的层数,及其在单层下的优异性能。
6.根据权利要求3所述的一种基于表面摩擦力的高效石墨烯膜鉴别系统,其特征在于:所述摩擦力区分模块中步骤二中的数据与石墨烯膜标准摩擦力系数进行列表比较,得出取样样品与石墨烯膜标准摩擦力系数之间的差值,如差值处于合格范围内,则说明取样样品合格,如差值不处于合格范围内,则说明取样样品不合格。
7.根据权利要求4所述的一种基于表面摩擦力的高效石墨烯膜鉴别系统,其特征在于:所述光谱区分模块中步骤一中的多个取样样品所检测后并制出的波浪形图表进行对照,如取样样品数据处于合格范围内,则说明取样样品合格,如取样样品数据不处于合格范围内,则说明取样样品不合格。
8.根据权利要求5所述的一种基于表面摩擦力的高效石墨烯膜鉴别系统,其特征在于:所述微观区分模块中步骤一、步骤二和步骤三逐步对取样样品进行检测,其细致程度逐渐变强,可更加精确获知取样样品数据,以便取用该数据与标准数据作比较,如取样样品数据处于合格范围内,则说明取样样品合格,如取样样品数据不处于合格范围内,则说明取样样品不合格。
9.根据权利要求1所述的一种基于表面摩擦力的高效石墨烯膜鉴别系统,其特征在于:所述摩擦力区分模块、光谱区分模块和微观区分模块采用表格样式进行数据分类,并通过多个区分模块进行整体比较,使得鉴别后的取样样品合格数据更加精准。
10.根据权利要求1所述的一种基于表面摩擦力的高效石墨烯膜鉴别系统,其特征在于:所述存储模块可将最终结果进行分类,分为合格产品与不合格产品,并分别将合格产品与不合格产品进行分装存储。
CN202111213141.8A 2021-10-19 2021-10-19 一种基于表面摩擦力的高效石墨烯膜鉴别系统 Pending CN113933238A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202111213141.8A CN113933238A (zh) 2021-10-19 2021-10-19 一种基于表面摩擦力的高效石墨烯膜鉴别系统

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202111213141.8A CN113933238A (zh) 2021-10-19 2021-10-19 一种基于表面摩擦力的高效石墨烯膜鉴别系统

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN113933238A true CN113933238A (zh) 2022-01-14

Family

ID=79280399

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202111213141.8A Pending CN113933238A (zh) 2021-10-19 2021-10-19 一种基于表面摩擦力的高效石墨烯膜鉴别系统

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN113933238A (zh)

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009063322A (ja) * 2007-09-04 2009-03-26 Hiroshima Univ ダイヤモンド様薄膜の評価方法、評価装置及び評価用プログラム
CN102862979A (zh) * 2012-09-21 2013-01-09 上海大学 利用摩擦碳纳米管材料制备石墨烯和石墨烯表面的方法
JP2014238377A (ja) * 2013-06-10 2014-12-18 独立行政法人産業技術総合研究所 グラフェン膜の欠陥修復方法及びグラフェン膜の透過率測定装置
KR20150023134A (ko) * 2013-08-23 2015-03-05 건국대학교 산학협력단 원자간력 현미경을 이용한 그래핀의 두께 측정방법
KR20180020792A (ko) * 2016-08-19 2018-02-28 한국과학기술연구원 그라핀 소재의 검증 방법
CN109540726A (zh) * 2019-01-09 2019-03-29 江苏鸿凌达科技有限公司 一种高效人工石墨烯膜鉴别方法
CN112697969A (zh) * 2020-04-07 2021-04-23 苏州鸿凌达电子科技有限公司 一种基于表面摩擦力的高效石墨烯膜鉴别系统
CN112986176A (zh) * 2021-02-06 2021-06-18 西北大学 一种石墨烯薄膜的质量检测方法
CN113030198A (zh) * 2021-03-31 2021-06-25 深圳市溢鑫科技研发有限公司 一种直立石墨烯薄膜材料的品质检测分析方法

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009063322A (ja) * 2007-09-04 2009-03-26 Hiroshima Univ ダイヤモンド様薄膜の評価方法、評価装置及び評価用プログラム
CN102862979A (zh) * 2012-09-21 2013-01-09 上海大学 利用摩擦碳纳米管材料制备石墨烯和石墨烯表面的方法
JP2014238377A (ja) * 2013-06-10 2014-12-18 独立行政法人産業技術総合研究所 グラフェン膜の欠陥修復方法及びグラフェン膜の透過率測定装置
KR20150023134A (ko) * 2013-08-23 2015-03-05 건국대학교 산학협력단 원자간력 현미경을 이용한 그래핀의 두께 측정방법
KR20180020792A (ko) * 2016-08-19 2018-02-28 한국과학기술연구원 그라핀 소재의 검증 방법
CN109540726A (zh) * 2019-01-09 2019-03-29 江苏鸿凌达科技有限公司 一种高效人工石墨烯膜鉴别方法
CN112697969A (zh) * 2020-04-07 2021-04-23 苏州鸿凌达电子科技有限公司 一种基于表面摩擦力的高效石墨烯膜鉴别系统
CN112986176A (zh) * 2021-02-06 2021-06-18 西北大学 一种石墨烯薄膜的质量检测方法
CN113030198A (zh) * 2021-03-31 2021-06-25 深圳市溢鑫科技研发有限公司 一种直立石墨烯薄膜材料的品质检测分析方法

Non-Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
吴兆杰;方建华;彭宏业;李铮;: "原子力显微镜在摩擦学研究中的应用", 合成润滑材料, no. 02 *
张利, 尹光福, 郑昌琼, 蒋书文: "钛合金基类金刚石梯度薄膜的生物摩擦学性能评价", 功能材料, no. 03 *
朱齐荣;李慧琴;李宁;柴静;高润纲;梁齐;: "石墨烯的纳米摩擦与磨损性质", 物理化学学报, no. 07 *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Shekhirev et al. Characterization of MXenes at every step, from their precursors to single flakes and assembled films
Wang et al. Two-dimensional amorphous TiO2 nanosheets enabling high-efficiency photoinduced charge transfer for excellent SERS activity
Saito et al. Nano‐scale analysis of graphene layers by tip‐enhanced near‐field Raman spectroscopy
US20230002913A1 (en) Graphene and the production of graphene
Zeller et al. Scanning photoelectron spectro‐microscopy: a modern tool for the study of materials at the nanoscale
Zhu et al. Lifting the mist of flatland: The recent progress in the characterizations of two-dimensional materials
Hutzler et al. Large-area layer counting of two-dimensional materials evaluating the wavelength shift in visible-reflectance spectroscopy
Guo et al. Structural testing of polyimide nanocomposite films with SAXS and SVM-PUK
Brette et al. Assessing the surface chemistry of 2D transition metal carbides (MXenes): a combined experimental/theoretical 13C solid state NMR approach
Hu et al. Rapid thin-layer WS 2 detection based on monochromatic illumination photographs
CN113933238A (zh) 一种基于表面摩擦力的高效石墨烯膜鉴别系统
CN109342472A (zh) 一种碳质材料综合检测方法
Chan et al. Correlation between the optical absorption and twisted angle of bilayer graphene observed by high-resolution reflectance confocal laser microscopy
CN105717148A (zh) 一种碳化硅基底上的石墨烯的层数测量方法
Yao et al. Effect of high pressure on electrical transport in the Li 4 C 60 fulleride polymer from 100 to 400 K
CN109540941A (zh) 一种检测碳材料类型的方法
Song et al. Electronic microstructure and thermal conductivity modeling of semiconductor nanomaterials
CN109540827A (zh) 一种氧化石墨烯综合检测方法
CN109682670A (zh) 一种判断碳材料是否为氧化石墨烯的方法
CN109142405B (zh) 一种石墨烯/碳纳米管复合导电浆料的定量分析方法
CN109682846A (zh) 一种综合检测碳材料的方法
Gu et al. Twist angle-dependent work functions in CVD-grown twisted bilayer graphene probed by Kelvin probe force microscopy
Rezania Optical spectroscopy and scanning force microscopy of small molecules intercalated within graphene and graphene oxide interfaces
CN109580680A (zh) 一种判断碳材料类型和层数的方法
Singh et al. An electrochemical approach for bulk production of reduced graphene oxide from graphite oxide followed by thermal reduction

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20220114