CN113933142A - 一种锂电池盖帽镀镍层硬度的检测方法 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种锂电池盖帽镀镍层硬度的检测方法,属于金属材料表面镀层测量技术领域。所述方法包括:将锂电池盖帽放置于光谱仪中,测试并记录锂电池盖帽镀镍层厚度;将锂电池盖帽放置于维氏硬度计中,根据测试的镀镍层厚度,选择相应的测试压力档位对锂电池盖帽进行硬度检测,并记录测试数据;将锂电池盖帽放置于轮廓仪中,测试并记录锂电池盖帽硬度压痕深度;将锂电池盖帽镀镍层厚度与锂电池盖帽硬度压痕深度进行比较,确定锂电池盖帽镀镍层硬度。本发明排除了铁基体硬度的干扰,可实现纯镀镍层的硬度检测,且测试成本低、硬度检测结果方便精准。

Description

一种锂电池盖帽镀镍层硬度的检测方法
技术领域
本发明涉及一种锂电池盖帽镀镍层硬度的检测方法,属于金属材料表面镀层测量技术领域。
背景技术
锂电池,是一类由锂金属或锂合金为正、负极材料、使用非水电解质溶液的电池,锂电池盖帽可起到封闭电池、提供安全阀门以及正极导电端子的作用。
随着锂电池盖帽的广泛应用,端子会出现磨损,磨损的地方容易被氧化或腐蚀,导致电接触性不好,为了提高端子的抗氧化性、耐腐蚀性,目前端子都电镀有电镀镀层,镀镍层是指通过电解或化学方法在金属或某些非金属上镀上一层镍的方法,镀镍层可减缓金属的腐蚀,延长使用寿命,防锈能力强。
在现有技术中,锂电池盖帽镀镍层硬度的检测存在着铁基体硬度干扰的问题,且测试成本较高、测试精度不准, 因此,一种可以检测锂电池盖帽镀镍层硬度的方法显得尤为重要。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术中的不足,提供一种锂电池盖帽镀镍层硬度的检测方法,通过利用常规检测设备:光谱仪、维氏硬度计、轮廓仪,即可方便、快捷、准确的检测出锂电池盖帽镀镍层的硬度。
为达到上述目的,本发明是采用下述技术方案实现的:
一方面,本发明提供了一种锂电池盖帽镀镍层硬度的检测方法,包括:
将锂电池盖帽放置于光谱仪中,测试并记录锂电池盖帽镀镍层厚度;
将锂电池盖帽放置于维氏硬度计中,根据测试的镀镍层厚度,选择相应的测试压力档位对锂电池盖帽进行硬度检测,并记录测试数据;
将锂电池盖帽放置于轮廓仪中,测试并记录锂电池盖帽硬度压痕深度;
将锂电池盖帽镀镍层厚度与锂电池盖帽硬度压痕深度进行比较,确定锂电池盖帽镀镍层硬度。
进一步地,所述锂电池盖帽镀镍层厚度测试次数为三次,以平均值作为锂电池盖帽镀镍层厚度。
进一步地,所述锂电池盖帽镀镍层厚度测试产生的三条压痕在一条直线上。
进一步地,所述根据测试的镀镍层厚度,选择相应的测试压力档位对锂电池盖帽进行硬度检测,具体为:
若镀镍层厚度≤6μm,则测试压力档位选择≤HV1;
若镀镍层厚度6~9μm,则测试压力档位选择HV2;
若镀镍层厚度≥9μm,则测试压力档位选择≥HV3。
进一步地,所述锂电池盖帽硬度压痕深度测试次数为三次,以平均值作为锂电池盖帽硬度压痕深度。
进一步地,所述将锂电池盖帽镀镍层厚度与锂电池盖帽硬度压痕深度进行比较,确定锂电池盖帽镀镍层硬度,具体为:
若锂电池盖帽硬度压痕深度与锂电池盖帽镀镍层厚度的比值<50%,则由该锂电池盖帽硬度压痕深度对应的硬度值即为锂电池盖帽镀镍层的硬度值。
另一方面,本发明还提供了一种锂电池盖帽镀镍层硬度的检测装置,包括光谱仪、维氏硬度计、轮廓仪和上述的检测方法。
与现有技术相比,本发明实施例所提供的一种锂电池盖帽镀镍层硬度的检测方法所达到的有益效果包括:
1)可实现纯镀镍层的硬度检测,排除了铁基体硬度的干扰;
2)测试成本低,即利用实验室常规检测设备:光谱仪、维氏硬度计、轮廓仪等即可方便快捷的检测硬度,无需采购专用设备或委外检测费用;
3)硬度检测方便精准,即依据维氏硬度计的压痕深度与镀镍层厚度之间的关系,确定最终镀镍层的硬度。
附图说明
图1是本发明实施例提供的锂电池盖帽镀镍层硬度的检测方法流程图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明作进一步描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本发明的技术方案,而不能以此来限制本发明的保护范围。
实施例一:
如图1所示,本实施例提供了一种锂电池盖帽镀镍层硬度的检测方法,包括:
将锂电池盖帽放置于光谱仪中,测试并记录锂电池盖帽镀镍层厚度;
将锂电池盖帽放置于维氏硬度计中,根据测试的镀镍层厚度,选择相应的测试压力档位对锂电池盖帽进行硬度检测,并记录测试数据;
将锂电池盖帽放置于轮廓仪中,测试并记录锂电池盖帽硬度压痕深度;
将锂电池盖帽镀镍层厚度与锂电池盖帽硬度压痕深度进行比较,确定锂电池盖帽镀镍层硬度。
本实施例提供的检测方法排除了铁基体硬度的干扰,可实现纯镀镍层的硬度检测。
实施例二:
本实施例提供了一种锂电池盖帽镀镍层硬度的检测方法,包括:
将锂电池盖帽放置于光谱仪中,来测试并记录锂电池盖帽镀镍层厚度;
具体的,本实施例中,采用三次测试锂电池盖帽镀镍层厚度,且保证锂电池盖帽镀镍层厚度测试产生的三条压痕需在一条直线上,并取平均值作为锂电池盖帽镀镍层厚度的数值。
这可以更精准的得到锂电池盖帽镀镍层厚度的数据,该数值更具参考性。
将锂电池盖帽放置于维氏硬度计中,根据测试的镀镍层厚度,选择相应的测试压力档位对锂电池盖帽进行硬度检测,并记录测试数据;
具体的,本实施例中,所述相应的测试压力档位分别为:
若镀镍层厚度≤6μm,则测试压力档位选择≤HV1;
若镀镍层厚度6~9μm,则测试压力档位选择HV2;
若镀镍层厚度≥9μm,则测试压力档位选择≥HV3。
将锂电池盖帽放置于轮廓仪中,测试并记录锂电池盖帽硬度压痕深度;
具体的,本实施例中,采用三次测试锂电池盖帽硬度压痕深度,并取平均值作为锂电池盖帽硬度压痕深度的数值
这可以更精准的得到锂电池盖帽硬度压痕深度的数据,该数值更具参考性。
将锂电池盖帽镀镍层厚度与锂电池盖帽硬度压痕深度进行比较,确定锂电池盖帽镀镍层硬度。
具体的,本实施例中,若锂电池盖帽硬度压痕深度与锂电池盖帽镀镍层厚度的比值<50%,则由该锂电池盖帽硬度压痕深度对应的硬度值即为锂电池盖帽镀镍层的硬度值。
举例来说:
例子一:光谱仪测试锂电池盖帽镀镍层厚度为5.06μm,维氏硬度计测试压力档位选择HV0.5,锂电池盖帽硬度测试结果为173.4,轮廓仪测试锂电池盖帽硬度压痕深度为0.0023mm,锂电池盖帽硬度压痕深度与锂电池盖帽镀镍层厚度的比值<50%,那么纯镍层的硬度为173.4HV;
例子二:光谱仪测试锂电池盖帽镀镍层厚度为7.52μm,维氏硬度计测试压力档位选择HV2,锂电池盖帽硬度测试结果为178.1,轮廓仪测试锂电池盖帽硬度压痕深度为0.0035mm,锂电池盖帽硬度压痕深度与锂电池盖帽镀镍层厚度的比值<50%,那么纯镍层的硬度为178.1HV;
例子三:光谱仪测试锂电池盖帽镀镍层厚度为9.10μm,维氏硬度计测试压力档位选择HV3,锂电池盖帽硬度测试结果为170.5,轮廓仪测试锂电池盖帽硬度压痕深度为0.0036mm,锂电池盖帽硬度压痕深度与锂电池盖帽镀镍层厚度的比值<50%,那么纯镍层的硬度为170.5HV;
本实施例依据维氏硬度计的压痕深度与镀镍层厚度之间的关系,确定最终镀镍层的硬度,这使得锂电池盖帽镀镍层硬度的检测方便精准。
实施例三:
本实施例提供了一种锂电池盖帽镀镍层硬度的检测装置,包括光谱仪、维氏硬度计、轮廓仪,本实施例利用实验室常规检测设备来对锂电池盖帽镀镍层硬度进行检测,不需要采购专用设备,或者是委托机构进行检测,不仅可以方便快捷的进行检测,还大大节省了检测费用。
本领域内的技术人员应明白,本申请的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此,本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且,本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
本申请是参照根据本申请实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器,使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中,使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品,该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上,使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理,从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
以上所述仅是本发明的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明技术原理的前提下,还可以做出若干改进和变形,这些改进和变形也应视为本发明的保护范围。

Claims (7)

1.一种锂电池盖帽镀镍层硬度的检测方法,其特征在于,包括:
将锂电池盖帽放置于光谱仪中,测试并记录锂电池盖帽镀镍层厚度;
将锂电池盖帽放置于维氏硬度计中,根据测试的镀镍层厚度,选择相应的测试压力档位对锂电池盖帽进行硬度检测,并记录测试数据;
将锂电池盖帽放置于轮廓仪中,测试并记录锂电池盖帽硬度压痕深度;
将锂电池盖帽镀镍层厚度与锂电池盖帽硬度压痕深度进行比较,确定锂电池盖帽镀镍层硬度。
2.根据权利要求1所述的锂电池盖帽镀镍层硬度的检测方法,其特征在于,所述锂电池盖帽镀镍层厚度测试次数为三次,以平均值作为锂电池盖帽镀镍层厚度。
3.根据权利要求2所述的锂电池盖帽镀镍层硬度的检测方法,其特征在于,所述锂电池盖帽镀镍层厚度测试产生的三条压痕在一条直线上。
4.根据权利要求1所述的锂电池盖帽镀镍层硬度的检测方法,其特征在于,所述根据测试的镀镍层厚度,选择相应的测试压力档位对锂电池盖帽进行硬度检测,具体为:
若镀镍层厚度≤6μm,则测试压力档位选择≤HV1;
若镀镍层厚度6~9μm,则测试压力档位选择HV2;
若镀镍层厚度≥9μm,则测试压力档位选择≥HV3。
5.根据权利要求1所述的锂电池盖帽镀镍层硬度的检测方法,其特征在于,所述锂电池盖帽硬度压痕深度测试次数为三次,以平均值作为锂电池盖帽硬度压痕深度。
6.根据权利要求1所述的锂电池盖帽镀镍层硬度的检测方法,其特征在于,所述将锂电池盖帽镀镍层厚度与锂电池盖帽硬度压痕深度进行比较,确定锂电池盖帽镀镍层硬度,具体为:
若锂电池盖帽硬度压痕深度与锂电池盖帽镀镍层厚度的比值<50%,则由该锂电池盖帽硬度压痕深度对应的硬度值即为锂电池盖帽镀镍层的硬度值。
7.一种锂电池盖帽镀镍层硬度的检测装置,包括光谱仪、维氏硬度计、轮廓仪,其特征在于,采用如权利要求1-6中任一项所述的检测方法。
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