CN113884858A - 一种印刷电路板的测试方法及装置 - Google Patents
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Abstract
本申请涉及测试技术领域,揭露了一种印刷电路板的测试方法,所述方法包括:获取印刷电路板的测试对象,并采集测试对象的测试信号;解析测试信号的测试参数,根据测试参数,配置所述测试对象的测试逻辑和测试方式,得到测试对象的测试用例;将测试用例发布至印刷电路板的测试环境中进行测试,得到测试用例的测试结果。另外,本申请还提供一种印刷电路板的测试装置、电子设备以及计算机可读存储介质。本申请可以实现印刷电路板的自动化测试,提高印刷电路板的测试效率。
Description
技术领域
本申请涉及测试技术领域,尤其涉及一种印刷电路板的测试方法、装置、电子设备以及计算机可读存储介质。
背景技术
印刷电路板(Printed Circuit Board,简称PCB)是电子元器件电气相互连接的载体,其可以代替复杂的布线,实现电路中各元件之间的电气连接,不仅简化了电子产品的装配、焊接工作,减少传统方式下的接线工作量,而且缩小了整机体积,降低产品成本,提高电子设备的质量和可靠性,因此,如何实现印刷电路板的测试显得尤为重要。
目前,印刷电路板的测试通常在线测量法(如电压测量法、电流测量法以及电阻测量法等)实现,即通过在电路上测量电路板维修的各引脚电压值、电流值以及电阻值是否正常,来判断该电路板维修是否正常,但是,由于电路板中涉及的元器件数量十分庞大,而通过在线测量法需要对电路板中每个元器件的测试进行人为监控,这样容易耗费较多的人力时间,从而影响电路板的测试效率。
发明内容
为了解决上述技术问题或者至少部分地解决上述技术问题,本申请提供了一种印刷电路板的测试方法、装置、电子设备以及计算机可读存储介质,可以提高印刷电路板的测试效率。
第一方面,本申请提供了一种印刷电路板的测试方法,包括:
获取印刷电路板的测试对象,并采集所述测试对象的测试信号;
解析所述测试信号的测试参数,根据所述测试参数,配置所述测试对象的测试逻辑和测试方式,得到所述测试对象的测试用例;
将所述测试用例发布至所述印刷电路板的测试环境中进行测试,得到所述测试用例的测试结果。
可以看出,本申请实施例首先通过获取采集印刷电路板中测试对象的测试信号,可以确定所述测试对象的外部连接信号源,从而可以识别所述印刷电路板的电路信号,进而可以保障印刷电路板的测试前提;其次,本申请实施例通过解析所述测试信号的测试参数,识别所述测试信号的信号参数,从而确定所述测试信号对应测试对象的测试参数,保障所述测试对象的测试前提,并根据所述测试参数,配置所述测试对象的测试逻辑和测试方式,得到所述测试对象的测试用例,以实现测试对象的用例测试自动化配置,提高测试效率;进一步地,本申请实施例将所述测试用例发布至所述印刷电路板的测试环境中进行测试,得到所述测试用例的测试结果,可以避免印刷电路板测试的人为监控,实现印刷电路板的自动化测试,以进一步地提高印刷电路板的测试效率。
在第一方面的一种可能实现方式中,所述获取所述印刷电路板的测试对象包括:
接收所述印刷电路板的测试需求,从所述测试需求中识别所述印刷电路板的测试点;
根据所述测试点,确定所述印刷电路板的测试对象。
在第一方面的一种可能实现方式中,所述采集所述测试对象的测试信号,包括:
构建所述测试对象的元件信号源;
根据所述元件信号源,识别所述测试对象的元件信号字段;
根据所述元件信号字段,确定所述测试对象的测试信号。
在第一方面的一种可能实现方式中,所述解析所述测试信号的测试参数,包括:
对所述测试信号进行信号增强,得到增强测试信号;
对所述增强测试信号进行短时傅里叶变换,得到频域测试信号;
过滤所述频域测试信号中的干扰信号,得到目标测试信号;
利用参数识别工具识别所述目标测试信号的信号参数。
在第一方面的一种可能实现方式中,所述根据所述测试参数,配置所述测试对象的测试逻辑和测试方式,得到所述测试对象的测试用例,包括:
根据所述测试参数,获取所述测试对象的测试字段和测试节点,定义所述测试字段的测试逻辑及所述测试节点的测试方式;
根据定义的所述测试逻辑和所述测试方式,生成所述测试对象的测试字段用例;
配置所述测试字段用例的虚拟测试接口,生成所述测试对象的测试用例。
在第一方面的一种可能实现方式中,所述配置所述测试字段用例的虚拟测试接口,生成所述测试对象的测试用例包括:
将所述测试字段用例接入虚拟接口平台;
在所述虚拟接口平台的编译环境创建所述测试字段用例的响应对象,得到所述测试对象的测试用例。
在第一方面的一种可能实现方式中,所述将所述测试用例发布至所述印刷电路板的测试环境中进行测试,得到所述测试用例的测试结果,包括:
在预设的用例测试程序中创建对象接收脚本,利用所述对象接收脚本接收所述测试用例;
利用所述用例测试程序中的发布机器将所述测试用例发布至所述印刷电路板的测试环境;
在所述测试环境中执行所述测试用例的用例测试,得到所述测试用例的测试结果。
第二方面,本申请提供了一种印刷电路板的测试装置,所述装置包括:
测试信号采集模块,用于获取印刷电路板的测试对象,并采集所述测试对象的测试信号;
测试用例生成模块,用于解析所述测试信号的测试参数,根据所述测试参数,配置所述测试对象的测试逻辑和测试方式,得到所述测试对象的测试用例;
测试用例测试模块,用于将所述测试用例发布至所述印刷电路板的测试环境中进行测试,得到所述测试用例的测试结果。
第三方面,本申请提供一种电子设备,包括:
至少一个处理器;以及与所述至少一个处理器通信连接的存储器;
其中,所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序,以使所述至少一个处理器能够执行如上述第一方面中任意一项所述的印刷电路板的测试方法。
第四方面,本申请提供一种计算机可读存储介质,存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如上述第一方面中任意一项所述的印刷电路板的测试方法。
可以理解的是,上述第二方面至第四方面的有益效果可以参见上述第一方面中的相关描述,在此不再赘述。
附图说明
此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分,示出了符合本申请的实施例,并与说明书一起用于解释本申请的原理。
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,对于本领域普通技术人员而言,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本申请一实施例提供的印刷电路板的测试方法的应用环境示意图;
图2为本申请一实施例提供的一种印刷电路板的测试方法的详细流程示意图;
图3为本申请一实施例中图2提供的一种印刷电路板的测试方法的其中一个步骤流程示意图;
图4为为本申请一实施例中图2提供的一种印刷电路板的测试方法的另外一个步骤流程示意图;
图5为本申请一实施例提供的一种印刷电路板的测试装置的模块示意图;
图6为本申请一实施例提供的实现印刷电路板的测试方法的电子设备的内部结构示意图。
具体实施方式
为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本申请的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
参阅图1所示,是本申请一实施例提供的印刷电路板的测试方法的应用环境示意图。本申请实施例所述印刷电路板的测试方法可以应用于计算机端1、测试链路2以及印刷电路板端3的系统架构中。
本申请实施例中,所述计算机端1根据所述测试链路2从所述印刷电路板端3中遍历印刷电路板的测试信号,并对所述测试信号进行测试用例的配置,根据配置后的测试用例,执行所述印刷电路板端3的测试。
进一步地,本申请实施例中,所述计算机端1包括信号遍历组件4和测试驱动脚本5,所述印刷电路板4包括信号连接控件6和信号代理组件7。其中,所述信号遍历组件4用于根据所述测试链路2向所述信号代理组件7中遍历印刷电路板的测试信号,所述测试驱动脚本5用于对信号遍历组件4遍历的测试信号进行测试用例配置后执行测试,所述信号连接控件用于与外部信号源建立连接,生成印刷电路板的测试信号,所述信号代理组件7用于代理生成的测试信号,并向信号遍历组件4提供。
参阅图2所示的流程图描述了本申请一实施例提供的印刷电路板的测试方法。其中,图2中描述的印刷电路板的测试方法包括:
S1、获取印刷电路板的测试对象,并采集所述测试对象的测试信号。
本申请实施例中,所述印刷电路板(Printed Circuit Board,简称PCB)是电子元器件电气相互连接的载体,其可以代替复杂的布线,实现电路中各元件之间的电气连接,所述测试对象可以理解为所述印刷电路板中的电子元器件,如芯片、二极管以及电阻电容等,其用于表征所述印刷电路板在运行时的电路状态。
作为本申请的一个实施例,所述获取所述印刷电路板的测试对象包括:接收所述印刷电路板的测试需求,从所述测试需求中识别所述印刷电路板的测试点,根据所述测试点,确定所述印刷电路板的测试对象。其中,所述测试需求基于不同用户需求产生,如用户A的测试需求为:测试所述印刷电路板的电流是否正常,用户B的测试需求为:测试所述印刷电路板的信号连接是否正常;所述测试点是指所述测试需求中的测试起始位置,若所述测试需求为信号连接,则对应的测试起始位置为信号连接起始位置,进一步可以确定该信号连接起始位置的测试对象为信号连接器。
应该了解,在所述印刷电路板中存在信号层, 用于放置所述测试对象,因此,本申请实施例通过采集所述测试对象的测试信号,以确定所述测试对象的外部连接信号源,从而可以识别所述印刷电路板的电路信号,进而可以保障印刷电路板的测试前提。
作为本申请的一个实施例,参阅图3所示,所述采集所述测试对象的测试信号,包括:
S301、构建所述测试对象的元件信号源;
S302、根据所述元件信号源,识别所述测试对象的元件信号字段;
S303、根据所述元件信号字段,确定所述测试对象的测试信号。
其中,所述元件信号源基于所述测试对象的对象类型实现,如所述测试对象为信号连接器,则该信号连接器的对象类型为信号连接,于是,可以通过信号输出工具(如MATLAB工具)构建所述信号连接器的元件信号源,所述元件信号字段是指在所述测试对象中构建的元件信号源所产出的信号信息,如时间变化字段。
进一步地,本申请又一可选实施例中,所述根据所述元件信号字段,确定所述测试对象的测试信号,包括:根据所述元件信号字段,识别所述测试对象的元件报文,对所述元件报文进行信号解析,得到所述测试对象的测试信号。
其中,所述元件报文是指将所述元件信号字段转换成计算机程序可以识别的格式文件,所述测试信号是指所述测试对象通过元件信号源所产生的模拟信号,用于判断后续所述印刷电路板中测试对象是否可以正常运行。
S2、解析所述测试信号的测试参数,根据所述测试参数,配置所述测试对象的测试逻辑和测试方式,得到所述测试对象的测试用例。
应该了解,在所述测试信号中存在大量的信号参数,如幅度、频率以及时间等,因此,本申请实施例通过解析所述测试信号的测试参数,以识别所述测试信号的信号参数,从而确定所述测试信号对应测试对象的测试参数,保障所述测试对象的测试前提。
作为本申请的一个实施例,所述解析所述测试信号的测试参数,包括:对所述测试信号进行信号增强,得到增强测试信号;对所述增强测试信号进行短时傅里叶变换,得到频域测试信号;过滤所述频域测试信号中的干扰信号,得到目标测试信号;利用参数识别工具识别所述目标测试信号的信号参数。
本申请的一可选实施例中,利用下述公式对所述测试信号进行信号增强:
其中, S(n)表示增强测试信号, S(n-1)表示增强测试信号的上一帧测试信号,k表示信号预增强系数,范围为[0, 1),N是每一帧测试信号的长度。
进一步地,本申请实施例中,将增强测试信号进行短时傅里叶变换,以将所述增强测试信号的时域信号转换为频域信号,分析所述增强测试信号的信号变化,从而提取出对应的特征信号,实现信号参数提取,可选的,利用下述公式对所述增强测试信号进行短时傅里叶变换:
其中,F(ω)表示频域测试信号,f(t)表示增强测试信号,e表示无线不循环小数。
进一步地,本申请一可选实施例中,利用下述公式过滤所述频域测试信号中的干扰信号:
Y(n)=αX(n) + (1-α)Y(n-1)
其中,Y(n)表示干扰信号滤波输出值,α表示滤波系数,X(n)表示频域测试信号的本次干扰信号过滤采样值,Y(n-1)表示上次频域测试信号的干扰信号滤波输出值。
进一步地,本申请一可选实施例中,所述参数识别工具通过JavaScript脚本语言编译,以自动提取所述目标测试信号的测试参数。
进一步地,本申请实施例根据所述测试参数,配置所述测试对象的测试逻辑和测试方式,以确定所述测试参数对应测试对象的测试用例,从而实现该测试对象的用例测试自动化配置,提高测试效率。其中,所述测试逻辑是指所述测试对象在测试过程中所要遵循的测试规则,如信号波动范围是否处于预设范围,所述测试方式是指所述测试对象在测试过程中所采用的方法,如遇见测试错误立即停止或遇见测试错误不停止,直至测试结束在停止。
作为本申请的一个实施例,参阅图4所示,所述根据所述测试参数,配置所述测试对象的测试逻辑和测试方式,得到所述测试对象的测试用例,包括:
S401、根据所述测试参数,获取所述测试对象的测试字段和测试节点,定义所述测试字段的测试逻辑及所述测试节点的测试方式;
S402、根据定义的所述测试逻辑和所述测试方式,生成所述测试对象的测试字段用例;
S403、配置所述测试字段用例的虚拟测试接口,生成所述测试对象的测试用例。
本申请的一可选实施中,所述虚拟测试接口通过Mock工具配置,所述Mock通常是指在测试一个对象时,构造一些假的对象来模拟与其交互,而这些Mock对象的行为是事先设定且符合预期,用于确保当访问该Mock的某个方法时总是能够获得一个没有任何逻辑的直接就返回的预期结果。在本申请实施例中,所述Mock可以理解为,构建响应于测试字段用例的对象,以确保在第三方平台调用测试字段用例时,总是可以获得测试字段用例对应的响应结果,因此,本申请实施例通过构建测试字段用例的虚拟测试接口,以实现后续第三方平台调用报文测试用例的测试前提。
进一步地,本申请又一可选实施中,所述配置所述测试字段用例的虚拟测试接口,生成所述测试对象的测试用例包括:将所述测试字段用例接入虚拟接口平台,在所述虚拟接口平台的编译环境创建所述测试字段用例的响应对象,得到所述测试对象的测试用例。
其中,所述虚拟接口平台包括:Doclever、Rap2以及Easy-Mock,所述编译环境包括:myeclipse,所述响应对象指的是后续测试所述测试字段用例的反馈结果,其根据用户需求,通过Java语言进行编译。
S3、将所述测试用例发布至所述印刷电路板的测试环境中进行测试,得到所述测试用例的测试结果。
本申请实施例中,所述将所述测试用例发布至所述印刷电路板的测试环境中进行测试,得到所述测试用例的测试结果,包括:在预设的用例测试程序中创建对象接收脚本,利用所述对象接收脚本接收所述测试用例;利用所述用例测试程序中的发布机器将所述测试用例发布至所述印刷电路板的测试环境;在所述测试环境中执行所述测试用例的用例测试,得到所述测试用例的测试结果。
其中,所述预设的测试程序通过Java语言编译,所述对象接收脚本通过JavaScript脚本语言进行创建,所述发布机器可以为tomcat机器,所述印刷电路板的测试环境用于实现将半编译的测试用例发布至目标机器上运行,如Java测试环境。
本申请实施例首先通过获取采集印刷电路板中测试对象的测试信号,可以确定所述测试对象的外部连接信号源,从而可以识别所述印刷电路板的电路信号,进而可以保障印刷电路板的测试前提;其次,本申请实施例通过解析所述测试信号的测试参数,识别所述测试信号的信号参数,从而确定所述测试信号对应测试对象的测试参数,保障所述测试对象的测试前提,并根据所述测试参数,配置所述测试对象的测试逻辑和测试方式,得到所述测试对象的测试用例,以实现测试对象的用例测试自动化配置,提高测试效率;进一步地,本申请实施例将所述测试用例发布至所述印刷电路板的测试环境中进行测试,得到所述测试用例的测试结果,可以避免印刷电路板测试的人为监控,实现印刷电路板的自动化测试,以进一步地提高印刷电路板的测试效率。
如图5所示,是本申请印刷电路板的测试装置的功能模块图。
本申请所述印刷电路板的测试装置500可以安装于电子设备中。根据实现的功能,所述印刷电路板的测试装置可以包括测试信号采集模块501、测试用例生成模块502以及测试用例测试模块503。本发所述模块也可以称之为单元,是指一种能够被电子设备处理器所执行,并且能够完成固定功能的一系列计算机程序段,其存储在电子设备的存储器中。
在本实施例中,关于各模块/单元的功能如下:
所述测试信号采集模块501,用于获取印刷电路板的测试对象,并采集所述测试对象的测试信号。
本申请实施例中,所述印刷电路板(Printed Circuit Board,简称PCB)是电子元器件电气相互连接的载体,其可以代替复杂的布线,实现电路中各元件之间的电气连接,所述测试对象可以理解为所述印刷电路板中的电子元器件,如芯片、二极管以及电阻电容等,其用于表征所述印刷电路板在运行时的电路状态。
作为本申请的一个实施例,所述获取所述印刷电路板的测试对象,所述测试信号所述采集模块501采用下述方式执行:接收所述印刷电路板的测试需求,从所述测试需求中识别所述印刷电路板的测试点,根据所述测试点,确定所述印刷电路板的测试对象。其中,所述测试需求基于不同用户需求产生,如用户A的测试需求为:测试所述印刷电路板的电流是否正常,用户B的测试需求为:测试所述印刷电路板的信号连接是否正常;所述测试点是指所述测试需求中的测试起始位置,若所述测试需求为信号连接,则对应的测试起始位置为信号连接起始位置,进一步可以确定该信号连接起始位置的测试对象为信号连接器。
应该了解,在所述印刷电路板中存在信号层, 用于放置所述测试对象,因此,本申请实施例通过采集所述测试对象的测试信号,以确定所述测试对象的外部连接信号源,从而可以识别所述印刷电路板的电路信号,进而可以保障印刷电路板的测试前提。
作为本申请的一个实施例,所述采集所述测试对象的测试信号,所述采集模块501采用下述方式执行:构建所述测试对象的元件信号源;根据所述元件信号源,识别所述测试对象的元件信号字段;根据所述元件信号字段,确定所述测试对象的测试信号。
其中,所述元件信号源基于所述测试对象的对象类型实现,如所述测试对象为信号连接器,则该信号连接器的对象类型为信号连接,于是,可以通过信号输出工具(如MATLAB工具)构建所述信号连接器的元件信号源,所述元件信号字段是指在所述测试对象中构建的元件信号源所产出的信号信息,如时间变化字段。
进一步地,本申请又一可选实施例中,所述根据所述元件信号字段,确定所述测试对象的测试信号,所述采集模块501采用下述方式执行:根据所述元件信号字段,识别所述测试对象的元件报文,对所述元件报文进行信号解析,得到所述测试对象的测试信号。
其中,所述元件报文是指将所述元件信号字段转换成计算机程序可以识别的格式文件,所述测试信号是指所述测试对象通过元件信号源所产生的模拟信号,用于判断后续所述印刷电路板中测试对象是否可以正常运行。
所述测试用例生成模块502,用于解析所述测试信号的测试参数,根据所述测试参数,配置所述测试对象的测试逻辑和测试方式,得到所述测试对象的测试用例。
应该了解,在所述测试信号中存在大量的信号参数,如幅度、频率以及时间等,因此,本申请实施例通过解析所述测试信号的测试参数,以识别所述测试信号的信号参数,从而确定所述测试信号对应测试对象的测试参数,保障所述测试对象的测试前提。
作为本申请的一个实施例,所述解析所述测试信号的测试参数,所述测试用例生成模块502采用下述方式执行:对所述测试信号进行信号增强,得到增强测试信号;对所述增强测试信号进行短时傅里叶变换,得到频域测试信号;过滤所述频域测试信号中的干扰信号,得到目标测试信号;利用参数识别工具识别所述目标测试信号的信号参数。
本申请的一可选实施例中,所述测试用例生成模块502利用下述公式对所述测试信号进行信号增强:
其中, S(n)表示增强测试信号, S(n-1)表示增强测试信号的上一帧测试信号,k表示信号预增强系数,范围为[0, 1),N是每一帧测试信号的长度。
进一步地,本申请实施例中,将增强测试信号进行短时傅里叶变换,以将所述增强测试信号的时域信号转换为频域信号,分析所述增强测试信号的信号变化,从而提取出对应的特征信号,实现信号参数提取,可选的,所述测试用例生成模块502利用下述公式对所述增强测试信号进行短时傅里叶变换:
其中,F(ω)表示频域测试信号,f(t)表示增强测试信号,e表示无线不循环小数。
进一步地,本申请一可选实施例中,所述测试用例生成模块502利用下述公式过滤所述频域测试信号中的干扰信号:
Y(n)=αX(n) + (1-α)Y(n-1)
其中,Y(n)表示干扰信号滤波输出值,α表示滤波系数,X(n)表示频域测试信号的本次干扰信号过滤采样值,Y(n-1)表示上次频域测试信号的干扰信号滤波输出值。
进一步地,本申请一可选实施例中,所述参数识别工具通过JavaScript脚本语言编译,以自动提取所述目标测试信号的测试参数。
进一步地,本申请实施例根据所述测试参数,配置所述测试对象的测试逻辑和测试方式,以确定所述测试参数对应测试对象的测试用例,从而实现该测试对象的用例测试自动化配置,提高测试效率。其中,所述测试逻辑是指所述测试对象在测试过程中所要遵循的测试规则,如信号波动范围是否处于预设范围,所述测试方式是指所述测试对象在测试过程中所采用的方法,如遇见测试错误立即停止或遇见测试错误不停止,直至测试结束在停止。
作为本申请的一个实施例,所述根据所述测试参数,配置所述测试对象的测试逻辑和测试方式,得到所述测试对象的测试用例,所述测试用例生成模块502采用下述方式执行:根据所述测试参数,获取所述测试对象的测试字段和测试节点,定义所述测试字段的测试逻辑及所述测试节点的测试方式;根据定义的所述测试逻辑和所述测试方式,生成所述测试对象的测试字段用例;配置所述测试字段用例的虚拟测试接口,生成所述测试对象的测试用例。
本申请的一可选实施中,所述虚拟测试接口通过Mock工具配置,所述Mock通常是指在测试一个对象时,构造一些假的对象来模拟与其交互,而这些Mock对象的行为是事先设定且符合预期,用于确保当访问该Mock的某个方法时总是能够获得一个没有任何逻辑的直接就返回的预期结果。在本申请实施例中,所述Mock可以理解为,构建响应于测试字段用例的对象,以确保在第三方平台调用测试字段用例时,总是可以获得测试字段用例对应的响应结果,因此,本申请实施例通过构建测试字段用例的虚拟测试接口,以实现后续第三方平台调用报文测试用例的测试前提。
进一步地,本申请又一可选实施中,所述配置所述测试字段用例的虚拟测试接口,生成所述测试对象的测试用例,所述测试用例生成模块502采用下述方式执行:将所述测试字段用例接入虚拟接口平台,在所述虚拟接口平台的编译环境创建所述测试字段用例的响应对象,得到所述测试对象的测试用例。
其中,所述虚拟接口平台包括:Doclever、Rap2以及Easy-Mock,所述编译环境包括:myeclipse,所述响应对象指的是后续测试所述测试字段用例的反馈结果,其根据用户需求,通过Java语言进行编译。
所述测试用例测试模块503,用于将所述测试用例发布至所述印刷电路板的测试环境中进行测试,得到所述测试用例的测试结果。
本申请实施例中,所述将所述测试用例发布至所述印刷电路板的测试环境中进行测试,得到所述测试用例的测试结果,所述测试用例测试模块503采用下述方式执行:在预设的用例测试程序中创建对象接收脚本,利用所述对象接收脚本接收所述测试用例;利用所述用例测试程序中的发布机器将所述测试用例发布至所述印刷电路板的测试环境;在所述测试环境中执行所述测试用例的用例测试,得到所述测试用例的测试结果。
其中,所述预设的测试程序通过Java语言编译,所述对象接收脚本通过JavaScript脚本语言进行创建,所述发布机器可以为tomcat机器,所述印刷电路板的测试环境用于实现将半编译的测试用例发布至目标机器上运行,如Java测试环境。
本申请实施例首先通过获取采集印刷电路板中测试对象的测试信号,可以确定所述测试对象的外部连接信号源,从而可以识别所述印刷电路板的电路信号,进而可以保障印刷电路板的测试前提;其次,本申请实施例通过解析所述测试信号的测试参数,识别所述测试信号的信号参数,从而确定所述测试信号对应测试对象的测试参数,保障所述测试对象的测试前提,并根据所述测试参数,配置所述测试对象的测试逻辑和测试方式,得到所述测试对象的测试用例,以实现测试对象的用例测试自动化配置,提高测试效率;进一步地,本申请实施例将所述测试用例发布至所述印刷电路板的测试环境中进行测试,得到所述测试用例的测试结果,可以避免印刷电路板测试的人为监控,实现印刷电路板的自动化测试,以进一步地提高印刷电路板的测试效率。
如图6所示,是本申请实现印刷电路板的测试方法的电子设备的结构示意图。
所述电子设备可以包括处理器60、存储器61、通信总线62以及通信接口63,还可以包括存储在所述存储器61中并可在所述处理器60上运行的计算机程序,如印刷电路板的测试程序。
其中,所述处理器60在一些实施例中可以由集成电路组成,例如可以由单个封装的集成电路所组成,也可以是由多个相同功能或不同功能封装的集成电路所组成,包括一个或者多个中央处理器(Central Processing unit,CPU)、微处理器、数字处理芯片、图形处理器及各种控制芯片的组合等。所述处理器60是所述电子设备的控制核心(ControlUnit),利用各种接口和线路连接整个电子设备的各个部件,通过运行或执行存储在所述存储器61内的程序或者模块(例如执行印刷电路板的测试程序等),以及调用存储在所述存储器61内的数据,以执行电子设备的各种功能和处理数据。
所述存储器61至少包括一种类型的可读存储介质,所述可读存储介质包括闪存、移动硬盘、多媒体卡、卡型存储器(例如:SD或DX存储器等)、磁性存储器、磁盘、光盘等。所述存储器61在一些实施例中可以是电子设备的内部存储单元,例如该电子设备的移动硬盘。所述存储器61在另一些实施例中也可以是电子设备的外部存储设备,例如电子设备上配备的插接式移动硬盘、智能存储卡(Smart Media Card, SMC)、安全数字(Secure Digital,SD)卡、闪存卡(Flash Card)等。进一步地,所述存储器61还可以既包括电子设备的内部存储单元也包括外部存储设备。所述存储器61不仅可以用于存储安装于电子设备的应用软件及各类数据,例如印刷电路板的测试程序的代码等,还可以用于暂时地存储已经输出或者将要输出的数据。
所述通信总线62可以是外设部件互连标准(peripheral componentinterconnect,简称PCI)总线或扩展工业标准结构(extended industry standardarchitecture,简称EISA)总线等。该总线可以分为地址总线、数据总线、控制总线等。所述总线被设置为实现所述存储器61以及至少一个处理器60等之间的连接通信。
所述通信接口63用于上述电子设备与其他设备之间的通信,包括网络接口和用户接口。可选地,所述网络接口可以包括有线接口和/或无线接口(如WI-FI接口、蓝牙接口等),通常用于在该电子设备与其他电子设备之间建立通信连接。所述用户接口可以是显示器(Display)、输入单元(比如键盘(Keyboard)),可选地,所述用户接口还可以是标准的有线接口、无线接口。可选地,在一些实施例中,显示器可以是LED显示器、液晶显示器、触控式液晶显示器以及OLED(Organic Light-Emitting Diode,有机发光二极管)触摸器等。其中,显示器也可以适当的称为显示屏或显示单元,用于显示在电子设备中处理的信息以及用于显示可视化的用户界面。
图6仅示出了具有部件的电子设备,本领域技术人员可以理解的是,图6示出的结构并不构成对所述电子设备的限定,可以包括比图示更少或者更多的部件,或者组合某些部件,或者不同的部件布置。
例如,尽管未示出,所述电子设备还可以包括给各个部件供电的电源(比如电池),优选地,电源可以通过电源管理装置与所述至少一个处理器60逻辑相连,从而通过电源管理装置实现充电管理、放电管理、以及功耗管理等功能。电源还可以包括一个或一个以上的直流或交流电源、再充电装置、电源故障检测电路、电源转换器或者逆变器、电源状态指示器等任意组件。所述电子设备还可以包括多种传感器、蓝牙模块、Wi-Fi模块等,在此不再赘述。
应该了解,所述实施例仅为说明之用,在专利申请范围上并不受此结构的限制。
所述电子设备中的所述存储器61存储的印刷电路板的测试程序是多个计算机程序的组合,在所述处理器60中运行时,可以实现:
获取印刷电路板的测试对象,并采集所述测试对象的测试信号;
解析所述测试信号的测试参数,根据所述测试参数,配置所述测试对象的测试逻辑和测试方式,得到所述测试对象的测试用例;
将所述测试用例发布至所述印刷电路板的测试环境中进行测试,得到所述测试用例的测试结果。
具体地,所述处理器60对上述计算机程序的具体实现方法可参考图2对应实施例中相关步骤的描述,在此不赘述。
进一步地,所述电子设备集成的模块/单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,可以存储在一个非易失性计算机可读取存储介质中。所述计算机可读存储介质可以是易失性的,也可以是非易失性的。例如,所述计算机可读介质可以包括:能够携带所述计算机程序代码的任何实体或装置、记录介质、U盘、移动硬盘、磁碟、光盘、计算机存储器、只读存储器(ROM,Read-Only Memory)。
本申请还提供一种计算机可读存储介质,所述可读存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序在被电子设备的处理器所执行时,可以实现:
获取印刷电路板的测试对象,并采集所述测试对象的测试信号;
解析所述测试信号的测试参数,根据所述测试参数,配置所述测试对象的测试逻辑和测试方式,得到所述测试对象的测试用例;
将所述测试用例发布至所述印刷电路板的测试环境中进行测试,得到所述测试用例的测试结果。
在本申请所提供的几个实施例中,应该理解到,所揭露的设备,装置和方法,可以通过其它的方式实现。例如,以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的,例如,所述模块的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式。
所述作为分离部件说明的模块可以是或者也可以不是物理上分开的,作为模块显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。
另外,在本申请各个实施例中的各功能模块可以集成在一个处理单元中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现,也可以采用硬件加软件功能模块的形式实现。
对于本领域技术人员而言,显然本申请不限于上述示范性实施例的细节,而且在不背离本申请的精神或基本特征的情况下,能够以其他的具体形式实现本申请。
因此,无论从哪一点来看,均应将实施例看作是示范性的,而且是非限制性的,本申请的范围由所附权利要求而不是上述说明限定,因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化涵括在本申请内。不应将权利要求中的任何附关联图标记视为限制所涉及的权利要求。
需要说明的是,在本文中,诸如“第一”和“第二”等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
以上所述仅是本申请的具体实施方式,使本领域技术人员能够理解或实现本申请。对这些实施例的多种修改对本领域的技术人员来说将是显而易见的,本文中所定义的一般原理可以在不脱离本申请的精神或范围的情况下,在其它实施例中实现。因此,本申请将不会被限制于本文所示的这些实施例,而是要符合与本文所申请的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。
Claims (10)
1.一种印刷电路板的测试方法,其特征在于,所述方法包括:
获取印刷电路板的测试对象,并采集所述测试对象的测试信号;
解析所述测试信号的测试参数,根据所述测试参数,配置所述测试对象的测试逻辑和测试方式,得到所述测试对象的测试用例;
将所述测试用例发布至所述印刷电路板的测试环境中进行测试,得到所述测试用例的测试结果。
2.如权利要求1所述的印刷电路板的测试方法,其特征在于,所述获取所述印刷电路板的测试对象包括:
接收所述印刷电路板的测试需求,从所述测试需求中识别所述印刷电路板的测试点;
根据所述测试点,确定所述印刷电路板的测试对象。
3.如权利要求1所述的印刷电路板的测试方法,其特征在于,所述采集所述测试对象的测试信号,包括:
构建所述测试对象的元件信号源;
根据所述元件信号源,识别所述测试对象的元件信号字段;
根据所述元件信号字段,确定所述测试对象的测试信号。
4.如权利要求1所述的印刷电路板的测试方法,其特征在于,所述解析所述测试信号的测试参数,包括:
对所述测试信号进行信号增强,得到增强测试信号;
对所述增强测试信号进行短时傅里叶变换,得到频域测试信号;
过滤所述频域测试信号中的干扰信号,得到目标测试信号;
利用参数识别工具识别所述目标测试信号的信号参数。
5.如权利要求1所述的印刷电路板的测试方法,其特征在于,所述根据所述测试参数,配置所述测试对象的测试逻辑和测试方式,得到所述测试对象的测试用例,包括:
根据所述测试参数,获取所述测试对象的测试字段和测试节点,定义所述测试字段的测试逻辑及所述测试节点的测试方式;
根据定义的所述测试逻辑和所述测试方式,生成所述测试对象的测试字段用例;
配置所述测试字段用例的虚拟测试接口,生成所述测试对象的测试用例。
6.如权利要求1所述的印刷电路板的测试方法,其特征在于,所述配置所述测试字段用例的虚拟测试接口,生成所述测试对象的测试用例包括:
将所述测试字段用例接入虚拟接口平台;
在所述虚拟接口平台的编译环境创建所述测试字段用例的响应对象,得到所述测试对象的测试用例。
7.如权利要求1至6中任意一项所述的印刷电路板的测试方法,其特征在于,所述将所述测试用例发布至所述印刷电路板的测试环境中进行测试,得到所述测试用例的测试结果,包括:
在预设的用例测试程序中创建对象接收脚本,利用所述对象接收脚本接收所述测试用例;
利用所述用例测试程序中的发布机器将所述测试用例发布至所述印刷电路板的测试环境;
在所述测试环境中执行所述测试用例的用例测试,得到所述测试用例的测试结果。
8.一种印刷电路板的测试装置,其特征在于,所述装置包括:
测试信号采集模块,用于获取印刷电路板的测试对象,并采集所述测试对象的测试信号;
测试用例生成模块,用于解析所述测试信号的测试参数,根据所述测试参数,配置所述测试对象的测试逻辑和测试方式,得到所述测试对象的测试用例;
测试用例测试模块,用于将所述测试用例发布至所述印刷电路板的测试环境中进行测试,得到所述测试用例的测试结果。
9.一种电子设备,其特征在于,所述电子设备包括:
至少一个处理器;以及,
与所述至少一个处理器通信连接的存储器;其中,
所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序,所述计算机程序被所述至少一个处理器执行,以使所述至少一个处理器能够执行如权利要求1至7中任意一项所述的印刷电路板的测试方法。
10.一种计算机可读存储介质,存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7中任意一项所述的印刷电路板的测试方法。
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