CN113835944B - 快速判断固态硬盘链路速率的测试方法、装置及计算机设备 - Google Patents

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Abstract

本申请涉及一种快速判断固态硬盘链路速率的测试方法、装置、计算机设备及存储介质，其中该方法包括：获取固态硬盘链路速率的测试请求；根据所述固态硬盘链路速率的测试请求读取待测固态硬盘链路能力寄存器中所支持的链路速度值；对所述待测固态硬盘进行掉电操作并保持一定时间的掉电状态，对所述待测固态硬盘进行上电操作并保持一定时间的上电状态；读取固态硬盘链路状态寄存器中固态硬盘当前的链路速率值；将固态硬盘当前的链路速率值与链路能力寄存器中所支持的链路速度值进行比较，判断待测固态硬盘是否出现链路掉速异常。本发明可以快速高效地判断SSD是否存在链路掉速的异常。

Description

快速判断固态硬盘链路速率的测试方法、装置及计算机设备
技术领域
本发明涉及固态硬盘测试技术领域，特别是涉及一种快速判断固态硬盘链路速率的测试方法、装置、计算机设备及存储介质。
背景技术
在固态硬盘出厂前，SSD厂商都会对SSD进行大量的内部测试，以检验其产品质量是否满足客户和设计需求。其中，SSD的性能通常是其最核心的指标之一，也是消费者最为关注的指标之一。为了让SSD发挥出最高的性能，最关键的一个前提就是必须保证SSD在上电初始化阶段，与主机协商在其支持的最高链路速度上，否则，若SSD与主机协商过程中出现链路掉速，则SSD不但无法发挥出最高的性能，而且很有可能因链路掉速而与主机协商失败，导致主机不认盘，即出现所谓“丢盘”的问题。
目前，在测试SSD链路速率是否出现掉速的方法中，通常采用的方法是对整机进行循环上下电测试，当主机将进入操作系统后，利用第三方的测试软件，如CrystalDiskInfo或HWINFO64等软件来观察SSD的链路速率是否正确。虽然这种测试方法简单，但是效率较低，无法快速测试SSD是否出现掉速的异常，这是因为这种测试方法每一个循环的整个过程为：主机上电初始化→主机进入操作系统→启动第三方软件去获取SSD链路速率→主机下电，而这一个循环所需的时间至少要15秒以上，若测试轮数较多，则整体测试时间较长，这不利于提前发现SSD是否存在链路掉速的问题，从而不利于保证整个SSD产品开发周期。
发明内容
基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种快速判断固态硬盘链路速率的测试方法、装置、计算机设备及存储介质。
一种快速判断固态硬盘链路速率的测试方法，所述方法包括：
获取固态硬盘链路速率的测试请求；
根据所述固态硬盘链路速率的测试请求读取待测固态硬盘链路能力寄存器中所支持的链路速度值；
对所述待测固态硬盘进行掉电操作并保持一定时间的掉电状态，对所述待测固态硬盘进行上电操作并保持一定时间的上电状态；
读取固态硬盘链路状态寄存器中固态硬盘当前的链路速率值；
将固态硬盘当前的链路速率值与链路能力寄存器中所支持的链路速度值进行比较，判断待测固态硬盘是否出现链路掉速异常。
在其中一个实施例中，所述将固态硬盘当前的链路速率值与链路能力寄存器中所支持的链路速度值进行比较，判断待测固态硬盘是否出现链路掉速异常的步骤还包括：
若固态硬盘当前的链路速率值与链路能力寄存器中所支持的链路速度值一致，则继续循环执行上下电操作直至满足测试要求。
在其中一个实施例中，所述将固态硬盘当前的链路速率值与链路能力寄存器中所支持的链路速度值进行比较，判断待测固态硬盘是否出现链路掉速异常的步骤还包括：
若固态硬盘当前的链路速率值与链路能力寄存器中所支持的链路速度值不一致，则表明固态硬盘已经出现链路掉速异常。
在其中一个实施例中，所述对所述待测固态硬盘进行掉电操作并保持一定时间的掉电状态，对所述待测固态硬盘进行上电操作并保持一定时间的上电状态的步骤包括：
对所述待测固态硬盘进行掉电操作，并保持一秒的掉电状态；
对所述待测固态硬盘进行上电操作，并保持一秒的上电状态。
一种快速判断固态硬盘链路速率的测试装置，所述装置包括：
获取模块，所述获取模块用于获取固态硬盘链路速率的测试请求；
第一读取模块，所述第一读取模块用于根据所述固态硬盘链路速率的测试请求读取待测固态硬盘链路能力寄存器中所支持的链路速度值；
上下电模块，所述上下电模块用于对所述待测固态硬盘进行掉电操作并保持一定时间的掉电状态，对所述待测固态硬盘进行上电操作并保持一定时间的上电状态；
第二读取模块，所述第二读取模块用于读取固态硬盘链路状态寄存器中固态硬盘当前的链路速率值；
判断模块，所述判断模块用于将固态硬盘当前的链路速率值与链路能力寄存器中所支持的链路速度值进行比较，判断待测固态硬盘是否出现链路掉速异常。
在其中一个实施例中，所述判断模块还用于：
若固态硬盘当前的链路速率值与链路能力寄存器中所支持的链路速度值一致，则继续循环执行上下电操作直至满足测试要求。
在其中一个实施例中，所述判断模块还用于：
若固态硬盘当前的链路速率值与链路能力寄存器中所支持的链路速度值不一致，则表明固态硬盘已经出现链路掉速异常。
在其中一个实施例中，所述上下电模块还用于：
对所述待测固态硬盘进行掉电操作，并保持一秒的掉电状态；
对所述待测固态硬盘进行上电操作，并保持一秒的上电状态。
一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述任意一项方法的步骤。
一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述任意一项方法的步骤。
上述快速判断固态硬盘链路速率的测试方法、装置、计算机设备及存储介质通过获取固态硬盘链路速率的测试请求；根据所述固态硬盘链路速率的测试请求读取待测固态硬盘链路能力寄存器中所支持的链路速度值；对所述待测固态硬盘进行掉电操作并保持一定时间的掉电状态，对所述待测固态硬盘进行上电操作并保持一定时间的上电状态；读取固态硬盘链路状态寄存器中固态硬盘当前的链路速率值；将固态硬盘当前的链路速率值与链路能力寄存器中所支持的链路速度值进行比较，判断待测固态硬盘是否出现链路掉速异常。本发明可以快速高效地判断SSD是否存在链路掉速的异常，每个循环所需的时间可不超过2s，若SSD存在异常则可及时发现并解决，既保证了SSD产品开发周期，同时也保证了SSD产品的质量。
附图说明
图1为一个实施例中快速判断固态硬盘链路速率的测试方法的流程示意图；
图2为另一个实施例中快速判断固态硬盘链路速率的测试方法的流程示意图；
图3为再一个实施例中快速判断固态硬盘链路速率的测试方法的流程示意图；
图4为一个实施例中快速判断固态硬盘链路速率的测试装置的结构框图；
图5为一个实施例中计算机设备的内部结构图。
具体实施方式
为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
目前，在测试SSD链路速率是否出现掉速的方法中，通常采用的方法是对整机进行循环上下电测试，当主机将进入操作系统后，利用第三方的测试软件，如CrystalDiskInfo或HWINFO64等软件来观察SSD的链路速率是否正确。虽然这种测试方法简单，但是效率较低，无法快速测试SSD是否出现掉速的异常，这是因为这种测试方法每一个循环的整个过程为：主机上电初始化→主机进入操作系统→启动第三方软件去获取SSD链路速率→主机下电，而这一个循环所需的时间至少要15秒以上，若测试轮数较多，则整体测试时间较长，这不利于提前发现SSD是否存在链路掉速的问题，从而不利于保证整个SSD产品开发周期。
基于以上方法测试效率低的缺点，本专利发明了一种方法，利用Ulink公司的DriveMaster软件来编写测试脚本，对SSD进行单独的快速上下电循环测试(上电后保持1s的上电状态，下电后保持1s的下电状态即可)，并在SSD上电后，通过读取SSD的PCIe链路状态寄存器(PCIe Link Status Register，PLSR)的值来获取SSD当前的链路速率，并判断SSD是否掉速。
在一个实施例中，如图1所示，提供了一种快速判断固态硬盘链路速率的测试方法，该方法包括：
步骤102，获取固态硬盘链路速率的测试请求；
步骤104，根据固态硬盘链路速率的测试请求读取待测固态硬盘链路能力寄存器中所支持的链路速度值；
步骤106，对待测固态硬盘进行掉电操作并保持一定时间的掉电状态，对待测固态硬盘进行上电操作并保持一定时间的上电状态；
步骤108，读取固态硬盘链路状态寄存器中固态硬盘当前的链路速率值；
步骤110，将固态硬盘当前的链路速率值与链路能力寄存器中所支持的链路速度值进行比较，判断待测固态硬盘是否出现链路掉速异常。
在本实施例中，提供了一种快速判断固态硬盘链路速率的测试方法，该测试方法可以利用Ulink公司的DriveMaster软件来编写测试脚本来实现全自动化测试，具体脚本的测试流程如下：
首先，获取固态硬盘链路速率的测试请求，并根据固态硬盘链路速率的测试请求读取待测固态硬盘链路能力寄存器(PCIe Link Capabilities Register，以下简称PLCR)中所支持的链路速度值。
接着，对待测固态硬盘进行掉电操作并保持一定时间的掉电状态，对待测固态硬盘进行上电操作并保持一定时间的上电状态。具体地，这里的掉电状态维持的时间和上电状态维持的时间可以根据实际情况而定，一般来说建议设置为一秒已足够。
在一个实施例中，对待测固态硬盘进行掉电操作并保持一定时间的掉电状态，对待测固态硬盘进行上电操作并保持一定时间的上电状态的步骤包括：对待测固态硬盘进行掉电操作，并保持一秒的掉电状态；对待测固态硬盘进行上电操作，并保持一秒的上电状态。
然后，读取固态硬盘链路状态寄存器中固态硬盘当前的链路速率值，并将固态硬盘当前的链路速率值与链路能力寄存器中所支持的链路速度值进行比较，判断待测固态硬盘是否出现链路掉速异常。若一致，则表示在当前状态下未发生链路掉速异常；若不一致，则表示待测固态硬盘已经出现链路掉速异常，测试结束。
在本实施例中，通过获取固态硬盘链路速率的测试请求；根据所述固态硬盘链路速率的测试请求读取待测固态硬盘链路能力寄存器中所支持的链路速度值；对所述待测固态硬盘进行掉电操作并保持一定时间的掉电状态，对所述待测固态硬盘进行上电操作并保持一定时间的上电状态；读取固态硬盘链路状态寄存器中固态硬盘当前的链路速率值；将固态硬盘当前的链路速率值与链路能力寄存器中所支持的链路速度值进行比较，判断待测固态硬盘是否出现链路掉速异常。本方案可以快速高效地判断SSD是否存在链路掉速的异常，每个循环所需的时间可不超过2s，若SSD存在异常则可及时发现并解决，既保证了SSD产品开发周期，同时也保证了SSD产品的质量。
在一个实施例中，如图2所示，提供了一种快速判断固态硬盘链路速率的测试方法，该方法中将固态硬盘当前的链路速率值与链路能力寄存器中所支持的链路速度值进行比较，判断待测固态硬盘是否出现链路掉速异常的步骤还包括：
步骤202，若固态硬盘当前的链路速率值与链路能力寄存器中所支持的链路速度值一致，则继续循环执行上下电操作直至满足测试要求；
步骤204，若固态硬盘当前的链路速率值与链路能力寄存器中所支持的链路速度值不一致，则表明固态硬盘已经出现链路掉速异常。
参考图3所示，在本实施例中，提供了完整地实现快速判断固态硬盘链路速率的测试方法，该方法的硬件需求包括待测主机：联想M8600T台式机，对于待测计算机，本实施例所述方法对此并没有强制性要求，在本实施例优选联想M8600T台式机作为待测计算机。待测SSD：待测SSD需支持PCIe协议的SSD。软件需求包括操作系统：Windows 10系统。测试软件：ULink公司的DriveMaster 2015软件。测试脚本：DriveMaster 2015软件自编写的测试脚本。
该方法具体的执行步骤如下：
步骤1、读取SSD链路能力寄存器(PCIe Link Capabilities Register，以下简称PLCR)中SSD所支持的链路速度值。
步骤2、对SSD进行掉电操作。
步骤3、保持掉电状态A秒，A的值可根据实际情况而定，建议设置为1s已足够。
步骤4、对SSD进行上电操作。
步骤5、保持上电状态B秒，B的值可根据实际情况而定，建议设置为1s已足够。
步骤6、读取SSD PLSR中SSD当前的链路速率值，并与PLCR所对应的链路速度值进行比较，若一致，则继续循环测试步骤2～步骤6N轮，N的值可根据实际情况而定，若不一致，则表明SSD已经出现链路掉速异常，测试结束。
应该理解的是，虽然图1-3的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，图1-3中的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段，这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些子步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
在一个实施例中，如图4所示，提供了一种快速判断固态硬盘链路速率的测试装置400，该装置包括：
获取模块401，所述获取模块用于获取固态硬盘链路速率的测试请求；
第一读取模块402，所述第一读取模块用于根据所述固态硬盘链路速率的测试请求读取待测固态硬盘链路能力寄存器中所支持的链路速度值；
上下电模块403，所述上下电模块用于对所述待测固态硬盘进行掉电操作并保持一定时间的掉电状态，对所述待测固态硬盘进行上电操作并保持一定时间的上电状态；
第二读取模块404，所述第二读取模块用于读取固态硬盘链路状态寄存器中固态硬盘当前的链路速率值；
判断模块405，所述判断模块用于将固态硬盘当前的链路速率值与链路能力寄存器中所支持的链路速度值进行比较，判断待测固态硬盘是否出现链路掉速异常。
在一个实施例中，判断模块405还用于：
若固态硬盘当前的链路速率值与链路能力寄存器中所支持的链路速度值一致，则继续循环执行上下电操作直至满足测试要求。
在一个实施例中，判断模块405还用于：
若固态硬盘当前的链路速率值与链路能力寄存器中所支持的链路速度值不一致，则表明固态硬盘已经出现链路掉速异常。
在一个实施例中，上下电模块403还用于：
对所述待测固态硬盘进行掉电操作，并保持一秒的掉电状态；
对所述待测固态硬盘进行上电操作，并保持一秒的上电状态。
关于快速判断固态硬盘链路速率的测试装置的具体限定可以参见上文中对于快速判断固态硬盘链路速率的测试方法的限定，在此不再赘述。
在一个实施例中，提供了一种计算机设备，其内部结构图可以如图5所示。该计算机设备包括通过装置总线连接的处理器、存储器以及网络接口。其中，该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作装置、计算机程序和数据库。该内存储器为非易失性存储介质中的操作装置和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的网络接口用于与外部的终端通过网络连接通信。该计算机程序被处理器执行时以实现一种快速判断固态硬盘链路速率的测试方法。
本领域技术人员可以理解，图5中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定，具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。
在一个实施例中，提供了一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行计算机程序时实现以上各个方法实施例中的步骤。
在一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现以上各个方法实施例中的步骤。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM以多种形式可得，诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。
以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种快速判断固态硬盘链路速率的测试方法，其特征在于，所述方法包括：
获取固态硬盘链路速率的测试请求；
根据所述固态硬盘链路速率的测试请求读取待测固态硬盘链路能力寄存器中所支持的链路速度值；
对所述待测固态硬盘进行掉电操作并保持一定时间的掉电状态，对所述待测固态硬盘进行上电操作并保持一定时间的上电状态；
读取固态硬盘链路状态寄存器中固态硬盘当前的链路速率值；
将固态硬盘当前的链路速率值与链路能力寄存器中所支持的链路速度值进行比较，判断待测固态硬盘是否出现链路掉速异常。
2.根据权利要求1所述的快速判断固态硬盘链路速率的测试方法，其特征在于，所述将固态硬盘当前的链路速率值与链路能力寄存器中所支持的链路速度值进行比较，判断待测固态硬盘是否出现链路掉速异常的步骤还包括：
若固态硬盘当前的链路速率值与链路能力寄存器中所支持的链路速度值一致，则继续循环执行上下电操作直至满足测试要求。
3.根据权利要求2所述的快速判断固态硬盘链路速率的测试方法，其特征在于，所述将固态硬盘当前的链路速率值与链路能力寄存器中所支持的链路速度值进行比较，判断待测固态硬盘是否出现链路掉速异常的步骤还包括：
若固态硬盘当前的链路速率值与链路能力寄存器中所支持的链路速度值不一致，则表明固态硬盘已经出现链路掉速异常。
4.根据权利要求1-3中任一项所述的快速判断固态硬盘链路速率的测试方法，其特征在于，所述对所述待测固态硬盘进行掉电操作并保持一定时间的掉电状态，对所述待测固态硬盘进行上电操作并保持一定时间的上电状态的步骤包括：
对所述待测固态硬盘进行掉电操作，并保持一秒的掉电状态；
对所述待测固态硬盘进行上电操作，并保持一秒的上电状态。
5.一种快速判断固态硬盘链路速率的测试装置，其特征在于，所述装置包括：
获取模块，所述获取模块用于获取固态硬盘链路速率的测试请求；
第一读取模块，所述第一读取模块用于根据所述固态硬盘链路速率的测试请求读取待测固态硬盘链路能力寄存器中所支持的链路速度值；
上下电模块，所述上下电模块用于对所述待测固态硬盘进行掉电操作并保持一定时间的掉电状态，对所述待测固态硬盘进行上电操作并保持一定时间的上电状态；
第二读取模块，所述第二读取模块用于读取固态硬盘链路状态寄存器中固态硬盘当前的链路速率值；
判断模块，所述判断模块用于将固态硬盘当前的链路速率值与链路能力寄存器中所支持的链路速度值进行比较，判断待测固态硬盘是否出现链路掉速异常。
6.根据权利要求5所述的快速判断固态硬盘链路速率的测试装置，其特征在于，所述判断模块还用于：
若固态硬盘当前的链路速率值与链路能力寄存器中所支持的链路速度值一致，则继续循环执行上下电操作直至满足测试要求。
7.根据权利要求6所述的快速判断固态硬盘链路速率的测试装置，其特征在于，所述判断模块还用于：
若固态硬盘当前的链路速率值与链路能力寄存器中所支持的链路速度值不一致，则表明固态硬盘已经出现链路掉速异常。
8.根据权利要求5-7中任一项所述的快速判断固态硬盘链路速率的测试装置，其特征在于，所述上下电模块还用于：
对所述待测固态硬盘进行掉电操作，并保持一秒的掉电状态；
对所述待测固态硬盘进行上电操作，并保持一秒的上电状态。
9.一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至4中任一项所述方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至4中任一项所述的方法的步骤。
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