CN113835020A - 一种数模混合信号集成电路测试仪器 - Google Patents
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 21
- 235000008429 bread Nutrition 0.000 claims abstract description 13
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 19
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 claims description 9
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 8
- 230000006835 compression Effects 0.000 claims description 5
- 238000007906 compression Methods 0.000 claims description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 2
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000013139 quantization Methods 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
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Abstract
本发明公开了一种数模混合信号集成电路测试仪器，包括箱体，所述箱体内设有工作腔，所述工作腔上侧壁固定设有模拟器，所述工作腔下侧壁固定设有两个电路箱，两个所述电路箱以所述模拟器为对称中心对称，所述电路箱设有开口向上的电路腔，所述电路腔内固定设有面包板，所述工作腔下侧壁滑动设有移动块，所述电路箱靠近所述移动块的一端固定设有连接块，本发明能够用于数模混合信号电路的实验或测试，通过模拟器，模拟不同的影响因素，如电源、地线噪声等，来观察数模转换器或模数转换器的转化情况，并且整个集成电路处于箱体内，最大程度防止其他变量的产生，关闭模拟器时，也可用于正常的电路板使用。
Description
技术领域
本发明涉及数模电路技术领域，具体为一种数模混合信号集成电路测试仪器。
背景技术
模拟信号通过模数转换器转化为数字信号后，才能用软件进行后续处理，在数模信号或模数信号转化的过程中，会受到外界的各种影响，其中包括量化噪声、采样频率等，这些都会造成各种转换误差，从而导致实际应用时产生各种问题，因此需要进行各种实验及测试。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种数模混合信号集成电路测试仪器，能够测试数模混合信号集成电路受各种因素影响程度。
本发明是通过以下技术方案来实现的。
本发明的一种数模混合信号集成电路测试仪器，包括箱体，所述箱体内设有工作腔，所述工作腔上侧壁固定设有模拟器，所述工作腔下侧壁固定设有两个电路箱，两个所述电路箱以所述模拟器为对称中心对称，所述电路箱设有开口向上的电路腔，所述电路腔内固定设有面包板，所述工作腔下侧壁滑动设有移动块，所述电路箱靠近所述移动块的一端固定设有连接块，所述连接块贯穿设有接口，一侧的所述连接块贯穿设有卡槽，所述卡槽与所述接口连通且呈垂直分布，所述移动块设有开口朝向所述卡槽的移动槽，所述移动槽滑动设有转换器，所述转换器内设有转换腔，所述转换腔远离所述移动块的侧壁贯穿设有第一引脚，所述移动槽远离所述的侧壁贯穿设有第二引脚。
作为优选的，所述移动块位于两个所述电路箱之间，所述模拟器位于所述移动块上侧。
作为优选的，所述第二引脚与所述移动块固定连接，所述第二引脚贯穿所述转换腔侧壁并与所述转换腔滑动连接，所述第二引脚一端位于所述转换腔内，所述第二引脚另一端位于所述工作腔内。
作为优选的，所述工作腔侧壁贯穿设有两个转动腔，两个所述转动腔以所述工作腔为对称中心对称，所述转动腔位于所述电路箱上侧，所述转动腔侧壁间转动设有转轴，所述转轴固定设有挡板，所述挡板与所述转动腔滑动连接。
作为优选的，所述面包板内设有通槽，所述面包板上端及下端分别连通设有凹槽，两个所述凹槽以所述通槽为对称中心上下对称，相邻的所述通槽之间连接设有连接线。
作为优选的，所述电路腔下侧壁固定设有伸缩杆，所述伸缩杆上端固定设有导电块，所述电路腔内设有固定块，所述固定块贯穿设有滑槽，所述导电块位于所述滑槽内并与所述滑槽滑动连接，所述固定块与所述伸缩杆之间连接设有复位弹簧。
作为优选的，所述工作腔下侧壁固定设有电机，所述电机动力连接有往复螺杆，所述往复螺杆贯穿所述移动块并与所述移动块螺纹连接。
作为优选的，所述往复螺杆固定设有动力齿轮，所述动力齿轮啮合设有传动齿条，所述传动齿条与所述工作腔侧壁滑动连接，所述传动齿条上端固定设有卡块，所述卡块位于所述卡槽下侧，所述卡块的直径远小于所述卡槽的直径。
作为优选的，所述转换腔靠近所述第二引脚的侧壁连通设有两个弹簧槽，两个所述弹簧槽以所述第二引脚为对称中心上下对称，所述转换腔内设有Y型夹，所述Y型夹一端位于所述弹簧槽内，所述Y型夹与所述弹簧槽之间连接设有压缩弹簧。
作为优选的，所述模拟器能够模拟不同环境下各种影响因素。
本发明的有益效果：本发明能够用于数模混合信号电路的实验或测试，通过模拟器，模拟不同的影响因素，如电源、地线噪声等，来观察数模转换器或模数转换器的转化情况，并且整个集成电路处于箱体内，最大程度防止其他变量的产生，关闭模拟器时，也可用于正常的电路板使用。
附图说明
为了更清楚地说明发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例的结构示意图；
图2是本发明实施例图1中A-A的结构示意图；
图3是本发明实施例图1中B处放大示意图；
图4是本发明进行测试时的工作状态图。
具体实施方式
下面结合图1-4对本发明进行详细说明，其中，为叙述方便，现对下文所说的方位规定如下：下文所说的上下左右前后方向与图1本身投影关系的上下左右前后方向一致。
结合附图1-4所述的一种数模混合信号集成电路测试仪器，包括箱体11，所述箱体11内设有工作腔12，所述工作腔12上侧壁固定设有模拟器13，所述工作腔12下侧壁固定设有两个电路箱36，两个所述电路箱36以所述模拟器13为对称中心对称，所述电路箱36设有开口向上的电路腔35，所述电路腔35内固定设有面包板26，所述工作腔12下侧壁滑动设有移动块30，所述电路箱36靠近所述移动块30的一端固定设有连接块37，所述连接块37贯穿设有接口38，一侧的所述连接块37贯穿设有卡槽39，所述卡槽39与所述接口38连通且呈垂直分布，所述移动块30设有开口朝向所述卡槽39的移动槽41，所述移动槽41滑动设有转换器40，所述转换器40内设有转换腔45，所述转换腔45远离所述移动块30的侧壁贯穿设有第一引脚31，所述移动槽41远离所述卡槽39的侧壁贯穿设有第二引脚14。
有益地，所述移动块30位于两个所述电路箱36之间，所述模拟器13位于所述移动块30上侧。
有益地，所述第二引脚14与所述移动块30固定连接，所述第二引脚14贯穿所述转换腔45侧壁并与所述转换腔45滑动连接，所述第二引脚14一端位于所述转换腔45内，所述第二引脚14另一端位于所述工作腔12内。
有益地，所述工作腔12侧壁贯穿设有两个转动腔17，两个所述转动腔17以所述工作腔12为对称中心对称，所述转动腔17位于所述电路箱36上侧，所述转动腔17侧壁间转动设有转轴16，所述转轴16固定设有挡板15，所述挡板15与所述转动腔17滑动连接。
有益地，所述面包板26内设有通槽19，所述面包板26上端及下端分别连通设有凹槽20，两个所述凹槽20以所述通槽19为对称中心上下对称，相邻的所述通槽19之间连接设有连接线27。
有益地，所述电路腔35下侧壁固定设有伸缩杆22，所述伸缩杆22上端固定设有导电块24，所述电路腔35内设有固定块21，所述固定块21贯穿设有滑槽25，所述导电块24位于所述滑槽25内并与所述滑槽25滑动连接，所述固定块21与所述伸缩杆22之间连接设有复位弹簧23。
有益地，所述工作腔12下侧壁固定设有电机28，所述电机28动力连接有往复螺杆29，所述往复螺杆29贯穿所述移动块30并与所述移动块30螺纹连接。
有益地，所述往复螺杆29固定设有动力齿轮32，所述动力齿轮32啮合设有传动齿条33，所述传动齿条33与所述工作腔12侧壁滑动连接，所述传动齿条33上端固定设有卡块34，所述卡块34位于所述卡槽39下侧，所述卡块34的直径远小于所述卡槽39的直径。
有益地，所述转换腔45靠近所述第二引脚14的侧壁连通设有两个弹簧槽42，两个所述弹簧槽42以所述第二引脚14为对称中心上下对称，所述转换腔45内设有Y型夹44，所述Y型夹44一端位于所述弹簧槽42内，所述Y型夹44与所述弹簧槽42之间连接设有压缩弹簧43。
有益地，所述模拟器13能够模拟不同环境下各种影响因素。
初始状态下，挡板15位于转动腔17内，卡块34位于卡槽39下侧，导电块24及固定块21位于凹槽20下侧，Y型夹44与第二引脚14抵触，压缩弹簧43处于压缩状态；
使用时，打开挡板15，通过转动腔17将需要的电子器件插入凹槽20及通槽19，关闭挡板15，根据电路图启动相应伸缩杆22的动力源，伸缩杆22带动导电块24移动并通过复位弹簧23带动固定块21移动，固定块21移动到凹槽20内静止，伸缩杆22持续带动导电块24上移到通槽19内，复位弹簧23压缩，导电块24与连接线27连通，停止伸缩杆22的动力源，即数模信号电路连通，启动电机28，驱动往复螺杆29转动，往复螺杆29带动移动块30先朝向卡槽39移动，第一引脚31移动至接口38内，同时往复螺杆29带动动力齿轮32转动，从而带动传动齿条33及卡块34上移，卡块34贯穿卡槽39及46，卡块34及传动齿条33移动至最上侧时在动力齿轮32转动作用下保持上移位置，往复螺杆29持续转动带动移动块30远离卡槽39移动，第一引脚31及转换器40在卡块34的作用下保持静止，第一引脚31与面包板26连接，第二引脚14随移动块30移动至另一侧的接口38内并与另一侧的面包板26连接，电机28停止，启动模拟器13，开始进行测试；
使用结束时，启动电机28驱动往复螺杆29反转，从而带动移动块30朝向卡块34移动，第二引脚14离开接口38，动力齿轮32转动，卡块34离开卡槽39及46，转换器40在移动槽41内相对滑动，移动块30移动到最靠近卡块34的一侧时，开始反向移动，并带动转换器40一起移动，第一引脚31离开接口38，断开连接，启动伸缩杆22的动力源，带动伸缩杆22缩短并带动导电块24下移，固定块21在复位弹簧23的作用下复位，打开挡板15通过转动腔17取出电子器件，关闭挡板15，设备恢复初始状态。
上述实施例只为说明本发明的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此领域技术的人士能够了解本发明内容并加以实施，并不能以此限制本发明的保护范围。凡根据本发明精神实质所作的等效变化或修饰，都应涵盖在本发明的保护范围内。
Claims (10)
1.一种数模混合信号集成电路测试仪器，包括箱体，其特征在于：所述箱体内设有工作腔，所述工作腔上侧壁固定设有模拟器，所述工作腔下侧壁固定设有两个电路箱，两个所述电路箱以所述模拟器为对称中心对称，所述电路箱设有开口向上的电路腔，所述电路腔内固定设有面包板，所述工作腔下侧壁滑动设有移动块，所述电路箱靠近所述移动块的一端固定设有连接块，所述连接块贯穿设有接口，一侧的所述连接块贯穿设有卡槽，所述卡槽与所述接口连通且呈垂直分布，所述移动块设有开口朝向所述卡槽的移动槽，所述移动槽滑动设有转换器，所述转换器内设有转换腔，所述转换腔远离所述移动块的侧壁贯穿设有第一引脚，所述移动槽远离所述的侧壁贯穿设有第二引脚。
2.根据权利要求1所述的一种数模混合信号集成电路测试仪器，其特征在于：所述移动块位于两个所述电路箱之间，所述模拟器位于所述移动块上侧。
3.根据权利要求1所述的一种数模混合信号集成电路测试仪器，其特征在于：所述第二引脚与所述移动块固定连接，所述第二引脚贯穿所述转换腔侧壁并与所述转换腔滑动连接，所述第二引脚一端位于所述转换腔内，所述第二引脚另一端位于所述工作腔内。
4.根据权利要求1所述的一种数模混合信号集成电路测试仪器，其特征在于：所述工作腔侧壁贯穿设有两个转动腔，两个所述转动腔以所述工作腔为对称中心对称，所述转动腔位于所述电路箱上侧，所述转动腔侧壁间转动设有转轴，所述转轴固定设有挡板，所述挡板与所述转动腔滑动连接。
5.根据权利要求1所述的一种数模混合信号集成电路测试仪器，其特征在于：所述面包板内设有通槽，所述面包板上端及下端分别连通设有凹槽，两个所述凹槽以所述通槽为对称中心上下对称，相邻的所述通槽之间连接设有连接线。
6.根据权利要求1所述的一种数模混合信号集成电路测试仪器，其特征在于：所述电路腔下侧壁固定设有伸缩杆，所述伸缩杆上端固定设有导电块，所述电路腔内设有固定块，所述固定块贯穿设有滑槽，所述导电块位于所述滑槽内并与所述滑槽滑动连接，所述固定块与所述伸缩杆之间连接设有复位弹簧。
7.根据权利要求1所述的一种数模混合信号集成电路测试仪器，其特征在于：所述工作腔下侧壁固定设有电机，所述电机动力连接有往复螺杆，所述往复螺杆贯穿所述移动块并与所述移动块螺纹连接。
8.根据权利要求7所述的一种数模混合信号集成电路测试仪器，其特征在于：所述往复螺杆固定设有动力齿轮，所述动力齿轮啮合设有传动齿条，所述传动齿条与所述工作腔侧壁滑动连接，所述传动齿条上端固定设有卡块，所述卡块位于所述卡槽下侧。
9.根据权利要求3所述的一种数模混合信号集成电路测试仪器，其特征在于：所述转换腔靠近所述第二引脚的侧壁连通设有两个弹簧槽，两个所述弹簧槽以所述第二引脚为对称中心上下对称，所述转换腔内设有Y型夹，所述Y型夹一端位于所述弹簧槽内，所述Y型夹与所述弹簧槽之间连接设有压缩弹簧。
10.根据权利要求1所述的一种数模混合信号集成电路测试仪器，其特征在于：所述模拟器能够模拟不同环境下各种影响因素。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202111114342.2A CN113835020A (zh) | 2021-09-23 | 2021-09-23 | 一种数模混合信号集成电路测试仪器 |
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|---|---|---|---|
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|---|---|
| CN113835020A true CN113835020A (zh) | 2021-12-24 |
Family
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Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202111114342.2A Pending CN113835020A (zh) | 2021-09-23 | 2021-09-23 | 一种数模混合信号集成电路测试仪器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN113835020A (zh) |
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|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
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| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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