CN113828529B - 一种基于串测数据拼接异常的处理方法及系统 - Google Patents

一种基于串测数据拼接异常的处理方法及系统 Download PDF

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Abstract

本发明提供一种基于串测数据拼接异常的处理方法及系统，包括：为分选机的每个测试工位设置数据序号，并为各个测试工位的数据序号赋予相同的初值；在每一计数周期内，将向测试机发送测试信号的测试工位的数据序号的值加一；对每一测试工位的数据序号进行与在当前测试工位前的所有测试工位的数据序号的范围核对，并对超出范围的测试工位的数据序号进行修正；范围根据当前测试工位的数据序号和与当前测试工位进行范围核对的测试工位的数据序号确定。用以解决现有技术中发生串测数据拼接异常造成测试数据不可用的缺陷，实现即使掉料后，测试数据仍能与实际测试芯片相对应，进而实现完全的自动的不需人工干预的测试，大幅提高测试效率。

Description

一种基于串测数据拼接异常的处理方法及系统
技术领域
本发明涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种基于串测数据拼接异常的处理方法及系统。
背景技术
随着射频芯片测试技术的不断提高，工厂对量产测试要求也越来越高，人们当然是希望测试效率能够不断提高，一方面是通过改良软件增加自动测试的效率，一方面就是针对各种问题的及时处理使其不影响整体的测试效率。
在射频芯片的测试中，目前主要是通过测试机与分选机配合工作，其中，分选机上设置多个用于芯片测试的测试工位，用于将芯片逐颗放置在测试工位上，以便于测试机对芯片的检测。如图1示出了分选机的工作原理示意图，其中，P是上料口，Q是下料口，1、2、3和4代表四个测试工位，其他测试工位省略未示出。分选机的每个对应工位上方都有相对应的操作杆，P处的操作杆下降吸取一颗芯片，然后抬起，逆时针旋转1格，下降将芯片压在该工位上进行测试，后面以此类推，直到测试完该批次的所有芯片。
然而，现有的连接机制并不能将分选机的实时状态传输给测试机，换句话说，就是分选机操纵芯片转动一格，测试机并不知道。只有当分选机转动完成之后，操作杆将芯片压在对应的工位上准备测试的时候，会发给测试机一个SOT（start of time）信号，测试机才会控制程序进行芯片测试，测试完成之后测试机会返回给分选机一个EOT（end of time）信号。所以在进行芯片测试数据记录和汇总的时候，是非常依赖测试工位的顺序以及数据序号的，但是，在实际的测试过程当中，分选机会出现各种各样的故障问题，比如：没有吸到料，中间测试的时候掉料了，等等，这些测试机都是不知道的，那么后面的芯片则全部错位，这样最后的测试数据就会全部乱掉，带来很大的影响。所以针对这种情况的处理显得尤为重要。
发明内容
本发明提供一种基于串测数据拼接异常的处理方法及系统，用以解决现有技术中在芯片测试过程中发生掉料后，芯片测试数据错位造成测试数据不可用的缺陷，实现即使芯片掉料后，测试数据仍能与实际测试芯片对应，进而实现完全的自动的不需人工干预的测试，大幅提高测试效率。
本发明提供一种基于串测数据拼接异常的处理方法，包括：
为分选机的每个测试工位设置数据序号，并为各个所述测试工位的数据序号赋予相同的初值；
在每一计数周期内，将向测试机发送测试信号的测试工位的数据序号的值加一；
对每一测试工位的数据序号进行与在当前测试工位前的所有测试工位的数据序号的范围核对，并对超出所述范围的测试工位的数据序号进行修正；
其中，所述分选机每转动一格记为一个计数周期；所述范围根据当前测试工位的数据序号和与当前测试工位进行范围核对的测试工位的数据序号确定。
根据本发明提供的基于串测数据拼接异常的处理方法，所述测试工位的数据序号的初值设为零。
根据本发明提供的基于串测数据拼接异常的处理方法，所述将向测试机发送测试信号的测试工位的数据序号的值加一后，还包括：
将所述测试工位的数据序号的值赋给所述测试工位上的芯片进行数据记录。
根据本发明提供的基于串测数据拼接异常的处理方法，所述范围根据当前测试工位的数据序号和与当前测试工位进行范围核对的测试工位的数据序号确定，具体包括：
所述范围包括上限范围和下限范围；
所述上限范围的阈值为与当前测试工位进行范围核对的测试工位的数据序号的值；
所述下限范围的阈值根据与当前测试工位进行范围核对的测试工位的数据序号的值，以及当前测试工位和与当前测试工位进行范围核对的测试工位的工位号确定；
其中，所述工位号由1至n顺次标记，n为所述测试工位的总数。
根据本发明提供的基于串测数据拼接异常的处理方法，所述下限范围的阈值根据与当前测试工位进行范围核对的测试工位的数据序号的值，以及当前测试工位和与当前测试工位进行范围核对的测试工位的工位号确定，具体包括：
应用如下公式得到所述下限范围的阈值A：
Figure DEST_PATH_IMAGE002
；
Figure DEST_PATH_IMAGE004
为与当前测试工位进行范围核对的测试工位的数据序号的值；i为当前测试工位的工位号；j为与当前测试工位进行范围核对的测试工位的工位号；
其中，
Figure DEST_PATH_IMAGE006
；
Figure DEST_PATH_IMAGE008
。
根据本发明提供的基于串测数据拼接异常的处理方法，所述对超出所述范围的测试工位的数据序号进行修正，具体包括：
若当前测试工位的数据序号的值大于所述上限范围的阈值，则将当前测试工位的数据序号的值修正为所述上限范围的阈值；
若当前测试工位的数据序号的值小于所述下限范围的阈值，则将当前测试工位的数据序号的值修正为所述下限范围的阈值。
本发明还提供一种基于串测数据拼接异常的处理系统，包括：
初始设置模块，用于为分选机的每个测试工位设置数据序号，并为各个所述测试工位的数据序号赋予相同的初值；
监测计算模块，用于在每一计数周期内，将向测试机发送测试信号的测试工位的数据序号的值加一；
核对修正模块，用于对每一测试工位的数据序号进行与在当前测试工位前的所有测试工位的数据序号的范围核对，并对超出所述范围的测试工位的数据序号进行修正；
其中，所述分选机每转动一格记为一个计数周期；所述范围根据当前测试工位的数据序号和与当前测试工位进行范围核对的测试工位的数据序号确定。
本发明还提供一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现如上述任一种所述基于串测数据拼接异常的处理方法的步骤。
本发明还提供一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述任一种所述基于串测数据拼接异常的处理方法的步骤。
本发明还提供一种计算机程序产品，包括计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述任一种所述基于串测数据拼接异常的处理方法的步骤。
本发明提供的基于串测数据拼接异常的处理方法及系统，通过为分选机的每个测试工位设置初值相同的数据序号，然后在每一个计数周期内，即芯片每移动一个测试工位时，将存在芯片的测试工位的数据序号的值加一，最后通过测试工位的数据序号进行与在当前测试工位前的所有测试工位的数据序号的范围核对，实现测试工位的数据序号的修正，充分利用了分选机在操作杆所吸附的芯片掉落或者未吸附到芯片时，不会向测试机的测试工位发送SOT信号的特性，通过为测试工位设置随测试芯片数量而变动的数据序号，实现了对测试芯片的自动计数和编号记录，并通过范围核对，进一步实现了在掉料时，对数据序号的自动修正，保证了输出的测试结果和实际测试的芯片相互对应，也即保证了测试数据的可用性，提高了芯片测试效率。
附图说明
为了更清楚地说明本发明或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是现有的分选机的工作原理示意图；
图2是本发明提供的一种基于串测数据拼接异常的处理方法的流程示意图；
图3是本发明提供的一种基于串测数据拼接异常的处理系统的结构示意图；
图4是本发明提供的电子设备的结构示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明中的附图，对本发明中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
需要说明的是，目前测试机是没有办法很直接的判断分选机的实际转动状态的，也就是说，分选机转动了一格，测试机是没办法直接读取这个状态的，所以当分选机的操作杆发生掉料时也会正常转动，而测试机虽然不会对没有接收到芯片的测试工位展开测试，但由其他测试工位得到的芯片测试数据仍旧会顺次输出，而由于其中一颗芯片的掉料，如果此时继续进行后续芯片的测试，则会使得后续的测试数据发生错位，影响最终的测试数据集合，如果中断测试，对测试工位记录的编号数据进行修改，则会严重影响测试效率。
然而，当分选机转动完成且操作杆将芯片压在对应的测试工位上准备测试的时候，会发给测试机一个SOT（start of time）信号，表示当前工位已经准备就绪，可以进行测试，测试机才会控制程序测试，获取测试结果，并在测试完成后向分选机发送EOT（end oftime）信息，表明测试完成，只有当所有芯片测试完成，都收到EOT信息后，分选机才会转动。
基于此，本发明提供了一种基于串测数据拼接异常的处理方法，以实现在分选机发生掉料时，既不停止测试过程，又能保证输出的芯片测试结果与实际测试的芯片相对应的效果。
值得说明的是，不同批次的芯片在测试数据拼接的处理上会有差别，所以本发明提供的方法基于所测试的芯片属于同一批次。
下面结合图2描述本发明的基于串测数据拼接异常的处理方法，该方法包括：
201、为分选机的每个测试工位设置数据序号，并为各个所述测试工位的数据序号赋予相同的初值。
具体地，为测试工位设置的数据序号均为整数，同时，各个测试工位的数据序号的初值相同。
202、在每一计数周期内，将向测试机发送测试信号的测试工位的数据序号的值加一。
需要说明的是，分选机每转动一格则使得芯片顺次移动一个测试工位，而仅在芯片需要通过操作杆的带动发生移动时，才会出现掉料的现象，所以将分选机每转动一格即为一个计数周期，并在每个计数周期内，根据由分选机接收到的测试信号使测试工位的数据序号加一，即通过对能够实现芯片测试的测试工位的数据序号加一，实现对测试芯片进行计数。
进一步地，在一个批次的芯片开始测试时，为各个测试工位的数据序号赋予相同的初值后，使得从第一颗芯片由第一个测试工位开始测试时，随后续芯片逐个进入测试工位，各个测试工位的数据序号以一个共同的初值开始随测试芯片数量的增加而变化，即便于实际测试的芯片的测试数据和各个测试工位的数据序号相对应。
具体地，以四站串测的测试模式为例，在四站串测的场景中，测试工位的总数量n为4，为四个测试位分别设置数据序号
Figure DEST_PATH_IMAGE010
，并为各个测试位的数据序号均赋予初值1，即
Figure DEST_PATH_IMAGE012
。当第一颗芯片进入到测试工位1时，测试工位1的数据序号加1，即
Figure DEST_PATH_IMAGE014
，测试完毕后，第1颗芯片顺时针转移到测试工位2，测试工位2的数据序号加1，此时
Figure DEST_PATH_IMAGE016
，表明这仍然是测的第1颗芯片，此时测试工位1上上来了第2颗芯片，测试工位1的数据序号仍然加2，那么此时
Figure DEST_PATH_IMAGE018
，表示测试工位1上此时正在测试第2颗芯片，两颗芯片都测试完成之后，分选机继续转动，此时第1颗芯片进入到第三工位3，第2颗芯片进入到测试工位2，第3颗芯片进入到测试工位1，逻辑一样，每个测试工位只要进来一颗芯片准备测试，那么每个测试工位的数据序号就会加1，后面的以此类推。
所以，当没有发生掉料时，各个测试工位的数据序号会随测试芯片数量的增加，而逐渐增大，并使各个数据序号与初值的差值和得到的芯片的测试数据相对应。
203、对每一测试工位的数据序号进行与在当前测试工位前的所有测试工位的数据序号的范围核对，并对超出所述范围的测试工位的数据序号进行修正。
需要说明的是，当某个测试工位发生掉料时，该测试工位的数据序号将会因为没有分选机没有发送SOT信息而保持不变，而其他测试工位因未发生掉料，则数据序号的值会加一，此时，发生掉料的测试工位的数据序号将不能与其他测试工位的数据序号间保持差距为1的规律。基于此，可以根据当前测试工位的数据序号和与当前测试工位进行范围核对的测试工位的数据序号确定一个控制范围，然后通过对每一测试工位的数据序号进行与在当前测试工位前的所有测试工位的数据序号的范围核对，实现当前测试工位是否发生掉料的判断，并在发生掉料时，对当前测试工位的数据序号进行修正，以使得测试工位的数据序号始终与实际测试的芯片的测试数据相对应，进而在不停机的情况下，实现测试结果的准确可用，有效提高了测试效率。
在本发明的一个实施例中，将所述测试工位的数据序号的初值设为零。
需要说明的是，当初值为0时，数据序号的值可以直接与芯片的编号相对应，进而方便测试数据的拼接。
具体地，仍以四站串测的测试模式为例，当为各个测试位的数据序号赋予的初值均为0时，则
Figure DEST_PATH_IMAGE020
。当第一颗芯片进入到测试工位1时，测试工位1的数据序号加1，即
Figure DEST_PATH_IMAGE022
，测试完毕后，第1颗芯片顺时针转移到测试工位2，测试工位2的数据序号加1，此时
Figure DEST_PATH_IMAGE024
，表明这仍然是测的第1颗芯片，此时测试工位1上上来了第2颗芯片，测试工位1的数据序号仍然加1，那么此时
Figure 226511DEST_PATH_IMAGE014
，表示测试工位1上此时正在测试第2颗芯片，两颗芯片都测试完成之后，分选机继续转动，此时第1颗芯片进入到第三工位3，第2颗芯片进入到测试工位2，第3颗芯片进入到测试工位1，则
Figure DEST_PATH_IMAGE026
，后面的以此类推，可见，各个测试位的数据序号在不发生掉料的时候，始终与测试的芯片的编号相对应。
可以理解的是，同一批次的芯片的总的测试数据需要将该批次的所有实际经过测试的芯片的测试数据进行拼接处理得到，也就是说各个测试数据需要与实际测试的芯片相对应。
基于此，在本发明的另一个实施例中，在将向测试机发送测试信号的测试工位的数据序号的值加一后，还将所述测试工位的数据序号的值赋给所述测试工位上的芯片进行数据记录。
需要说明的是，每一个测试工位均会记录数据序号，同时赋给所述测试工位上的芯片进行数据记录，进一步保证了数据序号和芯片测试数据的对应性，便于测试数据的查看和拼接处理。
在本发明的另一个实施例中，具体说明了所述范围的确定方法，即具体包括：
所述范围包括上限范围和下限范围；
所述上限范围的阈值为与当前测试工位进行范围核对的测试工位的数据序号的值；
所述下限范围的阈值根据与当前测试工位进行范围核对的测试工位的数据序号的值，以及当前测试工位和与当前测试工位进行范围核对的测试工位的工位号确定；
其中，所述工位号由1至n顺次标记，n为所述测试工位的总数。
需要说明的是，在未发生掉料，即各个芯片均按照正常的顺序顺次进行测试时，位于前面的测试工位比后面的测试工位测试的芯片的数量一定是多的，所以当前测试工位的数据序号的值一定是小于在当前测试工位前面的测试工位的数据序号的值的，所以，将所述范围的上限范围的阈值设置为与当前测试工位进行范围核对的测试工位的数据序号的值；而对于当前测试工位的数据序号的值的下限范围的阈值则会不仅与与当前测试工位进行范围核对的测试工位的数据序号的值有关，还会与与当前测试工位进行范围核对的测试工位与当前测试工位的位置有关，因而设置所述下限范围的阈值根据与当前测试工位进行范围核对的测试工位的数据序号的值，以及当前测试工位和与当前测试工位进行范围核对的测试工位的工位号确定。
在本发明的另一个实施例中，具体说明了所述下限范围的阈值的确定方法，即通过公式
Figure 594038DEST_PATH_IMAGE002
计算得到。
需要说明的是，其中
Figure 491456DEST_PATH_IMAGE004
为与当前测试工位进行范围核对的测试工位的数据序号的值；i为当前测试工位的工位号；j为与当前测试工位进行范围核对的测试工位的工位号；而当前测试工位始终是与在当前测试工位前的测试工位的数据序号进行比较，所以
Figure 297738DEST_PATH_IMAGE006
；
Figure 206788DEST_PATH_IMAGE008
。
在本发明的另一个实施例中，具体说明了依据所述范围对测试工位的数据序号进行修正的方法，即包括：
若当前测试工位的数据序号的值大于所述上限范围的阈值，则将当前测试工位的数据序号的值修正为所述上限范围的阈值；
若当前测试工位的数据序号的值小于所述下限范围的阈值，则将当前测试工位的数据序号的值修正为所述下限范围的阈值。
需要说明的是，依据前述实施例，当前测试工位的数据序号与在当前测试工位前的所有测试工位的数据序号的范围核对应该依据下述公式：
Figure DEST_PATH_IMAGE028
公式1；
则针对本实施例的修正方法则应有：
若
Figure DEST_PATH_IMAGE030
，则
Figure DEST_PATH_IMAGE032
；
若
Figure DEST_PATH_IMAGE034
，则
Figure DEST_PATH_IMAGE036
。
下面仍以四站串测的测试模式为例验证本发明所述方法的可行性。
具体地，以非第一测试工位掉料为例：假如此时四个测试工位已经测好了数据序号为25，26，27和28的芯片，分选机转动一格，正常情况下，每个测试工位的数据序号都应该加1，但是分选机转好之后，位于测试工位3上方的操纵杆吸取的芯片掉了，那么该颗芯片的数据序号不会加1，并且也不会进行数据序号的判断，此时的情况就如下表1所示：
表1 测试工位3上掉料后数据序号的对应关系
数据序号 数据序号加一 测试状态
测试工位4 25 26 正常测试
测试工位3 26 26 没有芯片，不测试
测试工位2 27 28 正常测试
测试工位1 28 29 正常测试
由表1可见，
Figure DEST_PATH_IMAGE038
，
Figure DEST_PATH_IMAGE040
，
Figure DEST_PATH_IMAGE042
，
Figure DEST_PATH_IMAGE044
。则对于测试工位2，由公式1可得
Figure DEST_PATH_IMAGE046
，即
Figure DEST_PATH_IMAGE048
成立，对于测试工位4，
Figure DEST_PATH_IMAGE050
，即
Figure DEST_PATH_IMAGE052
成立，
Figure DEST_PATH_IMAGE054
，即
Figure DEST_PATH_IMAGE056
成立，
Figure DEST_PATH_IMAGE058
，即
Figure DEST_PATH_IMAGE060
成立，因而不需要对数据序号进行修正。
当该轮测试完成之后，分选机转动一格，由于原来测试工位3的操纵杆是没有芯片的，转到测试工位4后也没有芯片，所以它的数据序号是不需要加1的，则现在的数据序号如表2所示：
表2 修正前测试工位3上掉料后下一计数周期数据序号的对应关系
数据序号 数据序号加一 测试状态
测试工位4 26 26 没有芯片，不测试
测试工位3 26 27 正常测试
测试工位2 28 29 正常测试
测试工位1 29 30 正常测试
由表2可见，
Figure DEST_PATH_IMAGE062
，
Figure DEST_PATH_IMAGE064
，
Figure DEST_PATH_IMAGE066
，
Figure 341622DEST_PATH_IMAGE044
。其中，测试工位4没有芯片，不用进行数据序号判断，测试工位2和3需要判断。对于测试工位2，
Figure DEST_PATH_IMAGE068
，即
Figure DEST_PATH_IMAGE070
成立，对于测试工位3，
Figure DEST_PATH_IMAGE072
，即
Figure DEST_PATH_IMAGE074
不成立，测试工位3基于测试工位2判断的结果也一样，即
Figure DEST_PATH_IMAGE076
，即
Figure DEST_PATH_IMAGE078
不成立，所以此时应对测试工位3的数据序号进行修正，即将测试工位3的数据序号修正为
Figure DEST_PATH_IMAGE080
或
Figure DEST_PATH_IMAGE082
，即28。则修正后的数据序号如表3所示：
表3 修正后测试工位3上掉料后下一计数周期数据序号的对应关系
数据序号 数据序号加一 测试状态
测试工位4 26 26 没有芯片，不测试
测试工位3 26 28 正常测试
测试工位2 28 29 正常测试
测试工位1 29 30 正常测试
由表3可见，应用公式1的判断机制，能够在测试工位掉料后，准确的对数据序号进行修正，进而保证得到的测试结果和实际测试的芯片始终对应。
同时，基于对上述实例分析，本发明的基于串测数据拼接异常的处理方法并不局限于非第一测试工位的掉料情形，对于其他掉料场景也同样有效，例如：四个测试工位同时掉料、跳站测试、首站掉料，等等，在此不做赘述。
通过本发明所述的基于串测数据拼接异常的处理方法使得芯片掉料之后能够自动处理，不需要停下来干预，射频芯片测试效率高，同时适用性高，多种测试模式可以满足各种不同的实际的测试要求，实现完全的自动的不需人工干预的测试。
下面结合图3对本发明提供的一种基于串测数据拼接异常的处理系统进行描述，下文描述的一种基于串测数据拼接异常的处理系统与上文描述的一种基于串测数据拼接异常的处理方法可相互对应参照。
如图3所示，本发明提供的一种基于串测数据拼接异常的处理系统，包括：初始设置模块310、监测计算模块320和核对修正模块330；其中，
初始设置模块310用于为分选机的每个测试工位设置数据序号，并为各个所述测试工位的数据序号赋予相同的初值；
监测计算模块320用于在每一计数周期内，将向测试机发送测试信号的测试工位的数据序号的值加一；
核对修正模块330用于对每一测试工位的数据序号进行与在当前测试工位前的所有测试工位的数据序号的范围核对，并对超出所述范围的测试工位的数据序号进行修正；
其中，所述分选机每转动一格记为一个计数周期；所述范围根据当前测试工位的数据序号和与当前测试工位进行范围核对的测试工位的数据序号确定。
需要说明的是，本发明所述的一种基于串测数据拼接异常的处理系统，通过为分选机的每个测试工位设置初值相同的数据序号，然后在每一个计数周期内，即芯片每移动一个测试工位时，将存在芯片的测试工位的数据序号的值加一，最后通过测试工位的数据序号进行与在当前测试工位前的所有测试工位的数据序号的范围核对，实现测试工位的数据序号的修正，充分利用了分选机在操作杆吸附的芯片掉落或者未吸附到芯片时，不会向测试机发送SOT信号的特性，通过为测试工位设置随测试芯片数量而变动的数据序号，实现了对测试芯片的自动计数和编号记录，并通过范围核对，进一步实现了在掉料时，对数据序号的自动修正，保证了输出的测试结果和实际测试的芯片相互对应，也即保证了测试数据的可用性，提高了芯片测试效率。
在一个优选方案中，初始设置模块310更具体用于设置将所述测试工位的数据序号的初值设为零。
在另一个优选方案中，所述一种基于串测数据拼接异常的处理系统中，还包括赋值模块，所述赋值模块用于将所述测试工位的数据序号的值赋给所述测试工位上的芯片进行数据记录。
在另一个优选方案中，所述范围包括上限范围和下限范围；
所述上限范围的阈值为与当前测试工位进行范围核对的测试工位的数据序号的值；
所述下限范围的阈值根据与当前测试工位进行范围核对的测试工位的数据序号的值，以及当前测试工位和与当前测试工位进行范围核对的测试工位的工位号确定；
其中，所述工位号由1至n顺次标记，n为所述测试工位的总数。
在另一个优选方案中，所述核对修正模块330具体用于应用如下公式得到所述下限范围的阈值A：
Figure 742647DEST_PATH_IMAGE002
；
其中，
Figure 352620DEST_PATH_IMAGE004
为与当前测试工位进行范围核对的测试工位的数据序号的值；i为当前测试工位的工位号；j为与当前测试工位进行范围核对的测试工位的工位号；
其中，
Figure 257122DEST_PATH_IMAGE006
；
Figure 559928DEST_PATH_IMAGE008
。
在另一个优选方案中，所述核对修正模块330具体用于若当前测试工位的数据序号的值大于所述上限范围的阈值，则将当前测试工位的数据序号的值修正为所述上限范围的阈值；
若当前测试工位的数据序号的值小于所述下限范围的阈值，则将当前测试工位的数据序号的值修正为所述下限范围的阈值。
图4示例了一种电子设备的实体结构示意图，如图4所示，该电子设备可以包括：处理器(processor)410、通信接口(Communications Interface)420、存储器(memory)430和通信总线440，其中，处理器410，通信接口420，存储器430通过通信总线440完成相互间的通信。处理器410可以调用存储器430中的逻辑指令，以执行基于串测数据拼接异常的处理方法，该方法包括：为分选机的每个测试工位设置数据序号，并为各个所述测试工位的数据序号赋予相同的初值；在每一计数周期内，将向测试机发送测试信号的测试工位的数据序号的值加一；对每一测试工位的数据序号进行与在当前测试工位前的所有测试工位的数据序号的范围核对，并对超出所述范围的测试工位的数据序号进行修正；其中，所述分选机每转动一格记为一个计数周期；所述范围根据当前测试工位的数据序号和与当前测试工位进行范围核对的测试工位的数据序号确定。
此外，上述的存储器430中的逻辑指令可以通过软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备（可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等）执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器（ROM，Read-Only Memory）、随机存取存储器（RAM，Random Access Memory）、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
另一方面，本发明还提供一种计算机程序产品，所述计算机程序产品包括计算机程序，计算机程序可存储在非暂态计算机可读存储介质上，所述计算机程序被处理器执行时，计算机能够执行上述各方法所提供的基于串测数据拼接异常的处理方法，该方法包括：为分选机的每个测试工位设置数据序号，并为各个所述测试工位的数据序号赋予相同的初值；在每一计数周期内，将向测试机发送测试信号的测试工位的数据序号的值加一；对每一测试工位的数据序号进行与在当前测试工位前的所有测试工位的数据序号的范围核对，并对超出所述范围的测试工位的数据序号进行修正；其中，所述分选机每转动一格记为一个计数周期；所述范围根据当前测试工位的数据序号和与当前测试工位进行范围核对的测试工位的数据序号确定。
又一方面，本发明还提供一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现以执行上述各方法提供的基于串测数据拼接异常的处理方法，该方法包括：为分选机的每个测试工位设置数据序号，并为各个所述测试工位的数据序号赋予相同的初值；在每一计数周期内，将向测试机发送测试信号的测试工位的数据序号的值加一；对每一测试工位的数据序号进行与在当前测试工位前的所有测试工位的数据序号的范围核对，并对超出所述范围的测试工位的数据序号进行修正；其中，所述分选机每转动一格记为一个计数周期；所述范围根据当前测试工位的数据序号和与当前测试工位进行范围核对的测试工位的数据序号确定。
以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性的劳动的情况下，即可以理解并实施。
通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到各实施方式可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件。基于这样的理解，上述技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品可以存储在计算机可读存储介质中，如ROM/RAM、磁碟、光盘等，包括若干指令用以使得一台计算机设备（可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等）执行各个实施例或者实施例的某些部分所述的方法。
最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (8)

1.一种基于串测数据拼接异常的处理方法，其特征在于，包括：
为分选机的每个测试工位设置数据序号，并为各个所述测试工位的数据序号赋予相同的初值；
在每一计数周期内，将向测试机发送测试信号的测试工位的数据序号的值加一；
对每一测试工位的数据序号进行与在当前测试工位前的所有测试工位的数据序号的范围核对，并对超出所述范围的测试工位的数据序号进行修正；
其中，所述分选机每转动一格记为一个计数周期；
所述范围包括上限范围和下限范围；
所述上限范围的阈值为与当前测试工位进行范围核对的测试工位的数据序号的值；
所述下限范围的阈值根据与当前测试工位进行范围核对的测试工位的数据序号的值，以及当前测试工位和与当前测试工位进行范围核对的测试工位的工位号确定；
其中，所述工位号由1至n顺次标记，n为所述测试工位的总数；
另外，应用如下公式得到所述下限范围的阈值A：
Figure DEST_PATH_IMAGE001
；
其中，
Figure 185386DEST_PATH_IMAGE002
为与当前测试工位进行范围核对的测试工位的数据序号的值；i为当前测试工 位的工位号；j为与当前测试工位进行范围核对的测试工位的工位号；
其中，
Figure DEST_PATH_IMAGE003
；
Figure 539007DEST_PATH_IMAGE004
。
2.根据权利要求1所述的基于串测数据拼接异常的处理方法，其特征在于，所述测试工位的数据序号的初值设为零。
3.根据权利要求2所述的基于串测数据拼接异常的处理方法，其特征在于，所述将向测试机发送测试信号的测试工位的数据序号的值加一后，还包括：
将所述测试工位的数据序号的值赋给所述测试工位上的芯片进行数据记录。
4.根据权利要求1所述的基于串测数据拼接异常的处理方法，其特征在于，所述对超出所述范围的测试工位的数据序号进行修正，具体包括：
若当前测试工位的数据序号的值大于所述上限范围的阈值，则将当前测试工位的数据序号的值修正为所述上限范围的阈值；
若当前测试工位的数据序号的值小于所述下限范围的阈值，则将当前测试工位的数据序号的值修正为所述下限范围的阈值。
5.一种基于串测数据拼接异常的处理系统，其特征在于，包括：
初始设置模块，用于为分选机的每个测试工位设置数据序号，并为各个所述测试工位的数据序号赋予相同的初值；
监测计算模块，用于在每一计数周期内，将向测试机发送测试信号的测试工位的数据序号的值加一；
核对修正模块，用于对每一测试工位的数据序号进行与在当前测试工位前的所有测试工位的数据序号的范围核对，并对超出所述范围的测试工位的数据序号进行修正；
其中，所述分选机每转动一格记为一个计数周期；
所述范围包括上限范围和下限范围；
所述上限范围的阈值为与当前测试工位进行范围核对的测试工位的数据序号的值；
所述下限范围的阈值根据与当前测试工位进行范围核对的测试工位的数据序号的值，以及当前测试工位和与当前测试工位进行范围核对的测试工位的工位号确定；
其中，所述工位号由1至n顺次标记，n为所述测试工位的总数；
另外，应用如下公式得到所述下限范围的阈值A：
Figure 212565DEST_PATH_IMAGE001
；
其中，
Figure 145886DEST_PATH_IMAGE002
为与当前测试工位进行范围核对的测试工位的数据序号的值；i为当前测试工 位的工位号；j为与当前测试工位进行范围核对的测试工位的工位号；
其中，
Figure 611502DEST_PATH_IMAGE003
；
Figure 339287DEST_PATH_IMAGE004
。
6.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1至4任一项所述基于串测数据拼接异常的处理方法的步骤。
7.一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至4任一项所述基于串测数据拼接异常的处理方法的步骤。
8.一种计算机程序产品，包括计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至4任一项所述基于串测数据拼接异常的处理方法的步骤。
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