CN113804929B - 双向伸缩探针 - Google Patents
双向伸缩探针 Download PDFInfo
- Publication number
- CN113804929B CN113804929B CN202111177521.0A CN202111177521A CN113804929B CN 113804929 B CN113804929 B CN 113804929B CN 202111177521 A CN202111177521 A CN 202111177521A CN 113804929 B CN113804929 B CN 113804929B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- section
- spring
- sleeve
- diameter
- stud
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
- G01R1/06716—Elastic
- G01R1/06722—Spring-loaded
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Abstract
本发明提供了一种双向伸缩探针,具有芯棒、弹簧、套管,芯棒由尾段、中段和尖段构成,中段外围套接有弹簧,中段与尖段的外围还套接有套管。套管为中空结构,靠近尾段一节的内径大于弹簧外径,靠近尖端一节的内径大于中段直径;尾段一节的内侧壁面具有内螺纹,与螺柱的外螺纹形成配合关系。本发明的套管螺接在螺柱上,使得套管、弹簧、螺母不会脱落遗失,延长了顶针的使用周期。
Description
技术领域
本发明涉及一种芯片测试行业使用的探针。
背景技术
探针是电测试的接触媒介,为高端精密型电子五金元器件。探针通常安装在探针卡上,将探针卡上的探针直接与芯片上的焊垫或凸块直接接触,引出芯片讯号,再配合周边测试仪器与软件控制达到自动化量测的目的。探针应用在IC尚未封装前,针对裸晶做功能测试,筛选出不良品、再进行之后的封装工程。
申请号为2013200801640的专利公开了一种半导体测试探针,用以导接一待测电路板及一测试装置中的检测电路板,其包含:一导电杆体,二端分别为连接端以及用以接触待测电路板的检测端。一柱状弹簧,一端连接导电杆体的连接端,另一端用以抵接检测电路板。一导线沿柱状弹簧设置,其中一端电性连接导电杆体,另一端用以导接检测电路板。这中探针的零部件是松散式连接,容易丢落零件。
发明内容
发明目的:
提供一种可以双向调节、调节程行范围大、可紧固的双向伸缩探针。
技术方案:
本发明的双向伸缩探针,具有芯棒、弹簧、套管,芯棒为由尾段、中段和尖段构成的整体结构,尾段是一段直径较大的具有外螺纹的螺柱,中段直径居中,中段与尖端为流线型过度,尖段直径逐渐缩小。
中段外围套接有内径大于中段直径的可以轴向伸缩的弹簧,中段与尖段的外围还套接有套管。
所述的套管具有相连两节的中空结构,靠近尾段一节的内径大于弹簧的外径,靠近尖端一节的内径大于中段的直径、小于弹簧的外径;而且靠近尖端的一节的末端为收口结构,保证中段与套管末端间隙较小,防止异物落进来。
靠近尾段一节的长度小于弹簧自由状态时的长度,大于弹簧被压紧时的长度。当套管在芯棒上前后运动时,靠近尖端一节能够压缩弹簧,靠近尾段一节包裹着弹簧。
靠近尾段一节的内侧壁面具有内螺纹,该内螺纹能够与螺柱的外螺纹形成配合关系。
螺柱的外螺纹上还具有可以前后转动的螺母,螺柱的最尾端可以有限位的固定螺头,并使得顶针能够自行竖立起来;或者有一段无螺纹的直径较小的圆柱插头(便于尾端插入探针卡或其它针座)。
螺柱的长度L大于靠近尾段一节的长度L1与螺母宽度L2之和减去压紧弹簧的长度L3(L>L1+L2-L3),使得套管沿着中段后退移动弹簧被压紧后,再做旋转运动时,套管的靠近尾段一节能够稳定螺接在螺柱上。或者反向旋转后,套管的靠近尾段一节能够稳定螺接从螺柱上脱落,然后可以沿着中段前进移动。
螺母的内螺纹直径与套管靠近尾段一节的内螺纹直径相同,均与螺柱外螺纹能够配合螺接,螺母的前后移动能够给予套管的前后移动增加或减小空间,弹簧的长度有所变化时,都能让套管对其伸张和压缩具有合适的行程距离。
顶针在工作时,套管前后移动,实现顶针与被测试芯片的接触与断开的测试过程。
当顶针不在工作时,套管可以后退一段距离后,被人工旋转,螺接到螺柱上,接着螺母的前移仅靠套管的尾端,使得套管被限位固定,而不会出现前后随意移动的情况,
有益效果:
本发明的结构设计精巧,零部件连接紧凑。套管螺接在螺柱上时,将芯棒的尖端裸露出来,便于擦拭和润滑。而且套管与芯棒之间固定连接后能够减小相互摩擦。
套管螺接在螺柱上,使得套管、弹簧、螺母不会脱落遗失,延长了顶针的使用周期。
螺母可以前后移动,使得套管与螺柱螺接部分的长度可以自如调节,并能够让套管限位紧固;或者,在套管与螺柱咬合过紧、螺母与螺柱咬合过紧时,可以分别反向转动螺母或套管,使得套管或螺母容易松开。
附图说明
图1是本发明的一种轴向剖面结构示意图。
图2是本发明的另一种轴向剖面结构示意图。
图中,芯棒(1-尾段;7-中段;8-尖端);2-螺母;3-外螺纹;4-弹簧;5-靠近尾段一节;6-靠近尖端一节。
具体实施方式
实施例一:
如图1所示的双向伸缩探针,具有芯棒、弹簧、套管,芯棒由尾段、中段和尖段构成,中段外围套接弹簧,中段与尖段的外围套接套管;尾段是一段直径较大的具有外螺纹的螺柱,中段直径居中,尖段直径逐渐缩小。
所述的套管具有相连两节的中空结构,靠近尾段一节的内径大于弹簧的外径,靠近尖端一节的内径大于中段的直径、小于弹簧的外径。
靠近尾段一节的内侧壁面具有内螺纹,该内螺纹能够与螺柱的外螺纹能够形成配合关系,尚未连接在一起,弹簧处于自由松散状态。
螺柱的外螺纹上还具有螺母,螺柱的尾段外侧具有限位的螺头。
实施例二:
如图2所示的双向伸缩探针,具有芯棒、弹簧、套管,芯棒由尾段、中段和尖段构成,中段外围套接弹簧,中段与尖段的外围套接套管;尾段是一段直径较大的具有外螺纹的螺柱,中段直径居中,尖段直径逐渐缩小。
所述的套管具有相连两节的中空结构,靠近尾段一节的内径大于弹簧的外径,靠近尖端一节的内径大于中段的直径、小于弹簧的外径。
靠近尾段一节的内侧壁面具有内螺纹,该内螺纹与螺柱的外螺纹螺接在一起。
螺柱的外螺纹上还具有螺母,螺柱的最尾端具有直径小于尾端的圆柱插头。
螺柱的长度大于靠近尾段一节的长度减去压紧弹簧的长度。
Claims (3)
1.一种双向伸缩探针,具有芯棒、弹簧、套管,芯棒由尾段、中段和尖段构成,中段外围套接弹簧,中段与尖段的外围套接套管;其特征在于:尾段是一段直径较大的具有外螺纹的螺柱,中段直径居中,尖段直径逐渐缩小;所述的套管具有相连两节的中空结构,由靠近尾段一节和靠近尖端一节构成,靠近尾段一节的内径大于弹簧的外径,靠近尖端一节的内径大于中段的直径、小于弹簧的外径;所述套管的靠近尾段一节的内侧壁面具有内螺纹,该内螺纹能够与螺柱的外螺纹形成配合关系;所述螺柱的外螺纹上还具有与其螺接的螺母,螺柱的最尾端有限位的螺头或者有一段直径较小的圆柱插头。
2.如权利要求1所述的双向伸缩探针,其特征在于:所述套管的靠近尾段一节的长度小于弹簧自由状态时的长度,大于弹簧被压紧时的长度。
3.如权利要求1或2所述的双向伸缩探针,其特征在于:所述的螺柱的长度大于所述套管的靠近尾段一节的长度与螺母宽度之和减去压紧弹簧的长度。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202111177521.0A CN113804929B (zh) | 2021-10-09 | 2021-10-09 | 双向伸缩探针 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202111177521.0A CN113804929B (zh) | 2021-10-09 | 2021-10-09 | 双向伸缩探针 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN113804929A CN113804929A (zh) | 2021-12-17 |
CN113804929B true CN113804929B (zh) | 2022-07-01 |
Family
ID=78897491
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202111177521.0A Active CN113804929B (zh) | 2021-10-09 | 2021-10-09 | 双向伸缩探针 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN113804929B (zh) |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20120098561A1 (en) * | 2010-10-21 | 2012-04-26 | Brymen Technology Corporation | Test probe with dual switching probe tip |
TWI426275B (zh) * | 2011-08-26 | 2014-02-11 | Pegatron Corp | 探針裝置 |
CN202614803U (zh) * | 2012-05-09 | 2012-12-19 | 中仪电子工业股份有限公司 | 可旋转移动式探针及具有该探针的探测棒 |
CN204903595U (zh) * | 2015-08-28 | 2015-12-23 | 东莞市天元通金属科技有限公司 | 电流探针 |
CN206331002U (zh) * | 2016-12-01 | 2017-07-14 | 平湖市日拓电子科技有限公司 | 一种内置弹簧双头单动探针 |
CN109030887A (zh) * | 2018-08-10 | 2018-12-18 | 浙江金连接科技有限公司 | 一种测试探针用铍青铜皇冠顶柱头 |
CN109746870B (zh) * | 2019-03-08 | 2023-04-28 | 中铁工程装备集团有限公司 | 双头螺柱旋拧器 |
CN210401481U (zh) * | 2019-04-28 | 2020-04-24 | 苏州卓技自动化科技有限公司 | 一种自动化测试探针 |
CN211603289U (zh) * | 2019-12-12 | 2020-09-29 | 苏州和林微纳科技股份有限公司 | 一种高稳定性的弹簧探针 |
CN212965131U (zh) * | 2020-08-27 | 2021-04-13 | 郴州聚兴科技有限公司 | 一种新型分容柜探针 |
CN213689714U (zh) * | 2020-09-27 | 2021-07-13 | 深圳新驱动力科技有限公司 | 一种新型半导体可靠性测试探针 |
CN213953591U (zh) * | 2020-12-01 | 2021-08-13 | 西安博恩昌仪器有限公司 | 一种取样器的取样口活塞控制装置 |
CN113447681A (zh) * | 2021-06-23 | 2021-09-28 | 苏州迪克微电子有限公司 | 一种单头弹簧测试探针 |
-
2021
- 2021-10-09 CN CN202111177521.0A patent/CN113804929B/zh active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN113804929A (zh) | 2021-12-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5591401B2 (ja) | プローブ(probe) | |
US7102369B2 (en) | Contact pin, connection device and method of testing | |
US8519727B2 (en) | Contact probe and socket | |
JP7231977B2 (ja) | 試験プローブ及び試験プローブ・チップ | |
US20070018666A1 (en) | Spring contact pin for an IC chip tester | |
US5801544A (en) | Spring probe and method for biasing | |
CN102520250B (zh) | 导电滑环动态接触电阻测量工装 | |
US20110050261A1 (en) | Test probe | |
KR20130014486A (ko) | 프로브 핀 | |
WO2004031783A1 (en) | Contact probe with off-centered back-drilled aperture | |
JP5624746B2 (ja) | コンタクトプローブ及びソケット | |
CN113804929B (zh) | 双向伸缩探针 | |
KR20010083033A (ko) | 검사용 탐침 및 그 검사용 탐침을 구비한 검사장치 | |
CN210294452U (zh) | 一种高压电缆终端特高频或超声波局放测试支架 | |
CN213210236U (zh) | 一种套管式防变形测试探针 | |
KR102473943B1 (ko) | 테스트 소켓용 핀 및 이를 포함하는 테스트 소켓 | |
TWI671529B (zh) | 具有壓縮性彈簧組件的接觸探針 | |
US5744977A (en) | High-force spring probe with improved axial alignment | |
CN206193056U (zh) | 一种大电流单头单动探针 | |
JP3878578B2 (ja) | コンタクトプローブ、これを用いた半導体及び電気検査装置 | |
CN210576586U (zh) | 一种电连接器动触头结构 | |
CN213210237U (zh) | 一种针管一体式测试探针 | |
KR101348206B1 (ko) | 복수의 스프링부재를 가지는 탐침장치 | |
CN201796054U (zh) | 探针可双头转换的测试棒 | |
CN209707561U (zh) | 一种超精密双头探针机构 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |