CN113776441A - 一种纳米纤维膜膜厚测量装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种纳米纤维膜膜厚测量装置，包括工作台板，所述工作台板的顶部固定安装有两个位置相对的驱动座和限位座，所述限位座的顶部装配有限位板，所述限位板上开设有检测槽，且限位板的顶部固定安装有信息处理器，所述驱动座中套装有从动轴，所述从动轴的外壁上固定套装有套筒，且套筒上装配有两个位置相对的下激光计数器和上激光计数器，所述从动轴的顶端固定安装有原料桶，所述原料桶上装配有喷射装置，且喷射装置设置在限位板中检测槽的上方；该纳米纤维膜膜厚测量装置，通过喷射装置的设置，能够计算出纳米膜的密度和厚度，操作简单且效率高，解决了现有装置对于纳米膜检测速度较慢导致其效率低的问题。
Description
技术领域
本发明涉及纳米纤维膜技术领域，具体为一种纳米纤维膜膜厚测量装置。
背景技术
纳米纤维以其优越的力学、光学与电学等特性，在过滤、消音、传感器、防护服装、药物控释、生物支架、柔性电子以及新能源等诸多领域广泛应用，其产业化应用的关键是实现纳米纤维的批量化制造。目前，可大规模制造纳米纤维的批量电纺技术主要包括滚筒电纺、离心电纺等，其中捷克科研人员利用滚筒电纺技术开发出“纳米蜘蛛”设备并成功实现商业化。电纺纳米纤维膜的厚度均匀性是纳米纤维膜的一个重要指标，因此，纳米纤维膜厚度在线测量成为纤维膜电纺制造过程中的一个重要环节。
由于纤维直径(纳米级)一般比光波长小(亚微米级)，因此不能采用光学测量的方法进行检测，而采用电子显微镜(SEM)方法需要在很高真空度下检测，速度慢，不适用于纳米纤维批量生产制造过程中的在线检测,此外，电子显微镜方法投入相对较大，测量成本较高，不适于批量检测。
因此，我们提出了一种纳米纤维膜膜厚测量装置。
发明内容
(一)解决的技术问题
针对现有技术的不足，本发明提供了一种纳米纤维膜膜厚测量装置，解决了现有装置对于纳米膜检测速度较慢导致其效率低的问题。
(二)技术方案
为实现以上目的，本发明通过以下技术方案予以实现：一种纳米纤维膜膜厚测量装置，包括工作台板，所述工作台板的顶部固定安装有两个位置相对的驱动座和限位座，所述限位座的顶部装配有限位板，所述限位板上开设有检测槽，且限位板的顶部固定安装有信息处理器，所述驱动座中套装有从动轴，所述从动轴的外壁上固定套装有套筒，且套筒上装配有两个位置相对的下激光计数器和上激光计数器，所述从动轴的顶端固定安装有原料桶，所述原料桶上装配有喷射装置，且喷射装置设置在限位板中检测槽的上方。
优选的，所述限位座通过立柱固定连接有限位板，且立柱由套杆与杆筒套装而成。
优选的，所述套筒的顶部和底部均装配有支板，所述支板的外端分别固定安装有朝向相对的下激光计数器和上激光计数器，且下激光计数器和上激光计数器分布在检测槽上下两个相对的高度上。
优选的，所述原料桶的输出端固定连接有喷管，所述喷管的外端固定连接有喷射装置，所述喷射装置的输出端装配有相应喷板，且喷射装置的底部固定安装有位于喷板外侧的罩体。
优选的，所述原料桶的顶部固定安装有补料口及与其相适配的塞盖。
优选的，所述喷射装置与下激光计数器和上激光计数器之间夹角为90°。
优选的，所述驱动座的底部装配有位于工作台板底面上的套座，且驱动座通过套座固定套装在驱动电机的输出轴上。
(三)有益效果
本发明提供了一种纳米纤维膜膜厚测量装置。具备以下有益效果：
1、该纳米纤维膜膜厚测量装置，通过喷射装置的设置，能够将原料桶中的微小颗粒喷射在限位板上的纳米纤维膜上，然后再配合下激光计数器与上激光计数器对检测槽外侧纳米纤维膜顶面和底面的微小颗粒数量进行检测，并将该数据输送至信息处理器中进行整合，从而计算出纳米膜的密度和厚度，操作简单且效率高，解决了现有装置对于纳米膜检测速度较慢导致其效率低的问题。
2、该纳米纤维膜膜厚测量装置，结构相对简单且造价低，同时自动化程度较高，便于通过各组件之间的配合工作对检测槽上的纳米纤维膜进行厚度检测，操作简单且效率高，避免现有测量装置造价高同时不适于对纳米纤维膜进行批量检测的情况发生。
附图说明
图1为本发明的结构示意图；
图2为本发明外视的结构示意图；
图3为本发明驱动轴上各组件的结构示意图；
图4为本发明俯视的结构示意图。
图中：1、工作台板；2、驱动座；3、从动轴；4、套筒；5、原料桶；6、喷管；7、喷射装置；8、限位座；9、立柱；10、限位板；11、信息处理器；12、检测槽；13、支板；14、下激光计数器；15、上激光计数器；16、补料口；17、罩体。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
请参阅图1-4，本发明实施例提供一种技术方案：一种纳米纤维膜膜厚测量装置，包括工作台板1，工作台板1的顶部固定安装有两个位置相对的驱动座2和限位座8，限位座8的顶部装配有限位板10，限位板10上开设有检测槽12，且限位板10的顶部固定安装有信息处理器11，驱动座2中套装有从动轴3，从动轴3的外壁上固定套装有套筒4，且套筒4上装配有两个位置相对的下激光计数器14和上激光计数器15，从动轴3的顶端固定安装有原料桶5，原料桶5上装配有喷射装置7，且喷射装置7设置在限位板10中检测槽12的上方；
其中，在本实施例中，需要补充说明的是，该纳米纤维膜膜厚测量装置，通过喷射装置7的设置，能够将原料桶5中的微小颗粒喷射在限位板10上的纳米纤维膜上，然后再配合下激光计数器14与上激光计数器15对检测槽12外侧纳米纤维膜顶面和底面的微小颗粒数量进行检测，并将该数据输送至信息处理器11中进行整合，从而计算出纳米膜的密度和厚度，操作简单且效率高，解决了现有装置对于纳米膜检测速度较慢导致其效率低的问题；
此外，该纳米纤维膜膜厚测量装置，结构相对简单且造价低，同时自动化程度较高，便于通过各组件之间的配合工作对检测槽12上的纳米纤维膜进行厚度检测，操作简单且效率高，避免现有测量装置造价高同时不适于对纳米纤维膜进行批量检测的情况发生。
在本实施例中，需要补充说明的是，限位座8通过立柱9固定连接有限位板10，且立柱9由套杆与杆筒套装而成；
其中，立柱9的设置能够灵活对限位板10的高度进行调节，便于对该机器进行相应校准。
在本实施例中，需要补充说明的是，套筒4的顶部和底部均装配有支板13，支板13的外端分别固定安装有朝向相对的下激光计数器14和上激光计数器15，且下激光计数器14和上激光计数器15分布在检测槽12上下两个相对的高度上；
其中，下激光计数器14与上激光计数器15的设置能够对检测槽12上纳米纤维膜上下两面进行微小粒子数量的检测，从而便于通过该检测数据计算出其密度，进一步地，达到检测其厚度的效果。
在本实施例中，需要补充说明的是，原料桶5的输出端固定连接有喷管6，喷管6的外端固定连接有喷射装置7，喷射装置7的输出端装配有相应喷板，且喷射装置7的底部固定安装有位于喷板外侧的罩体17；
其中，喷射装置7上喷板的设置便于将微小粒子均匀喷射在纳米纤维膜上，而罩体17的设置便于对微小粒子进行位置限定，避免部分微小粒子未落在检测槽12上方而导致测量结果不准确的情况出现。
在本实施例中，需要补充说明的是，原料桶5的顶部固定安装有补料口16及与其相适配的塞盖；
其中，补料口16的设置便于及时向原料桶5中进行微小粒子的补充。
在本实施例中，需要补充说明的是，喷射装置7与下激光计数器14和上激光计数器15之间夹角为90°；
其中，其夹角90°的设置便于驱动机构带动从动轴3进行往复旋动，进而便于喷射装置7与下激光计数器14和上激光计数器15进行分布工作，从而能够达到自动对纳米纤维膜进行厚度检测的效果，自动化程度较高，适于对纳米纤维膜的厚度进行批量检测。
在本实施例中，需要补充说明的是，驱动座2的底部装配有位于工作台板1底面上的套座，且驱动座2通过套座固定套装在驱动电机的输出轴上。
本发明的工作原理及使用流程：当需要对纳米纤维膜进行厚度检测时，先利用驱动座2与驱动机构进行套装，然后将待检测纳米纤维膜放置在限位板10上，此时纳米纤维膜完全覆盖住检测槽12，然后调整喷射装置7的位置使其位于检测槽12的正上方，打开喷射装置7使其喷射相应微小粒子在检测槽12上的纳米纤维膜上，然后打开驱动机构使从动轴3旋动90°，此时下激光计数器14与上激光计数器15位于检测槽12的下方和上方，并由其对纳米纤维膜的顶面和地面上的微小粒子数量进行检测，并将该数据输送至信息处理器11中，再由信息处理器11计算出该纳米纤维膜的密度和厚度，即可达到自动对其厚度进行高效测量的效果。
以上显示和描述了本发明的基本原理和主要特征和本发明的优点,对于本领域技术人员而言，显然本发明不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本发明的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本发明。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本发明的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本发明内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。
此外，应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施例中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。
Claims (7)
1.一种纳米纤维膜膜厚测量装置，其特征在于：包括工作台板(1)，所述工作台板(1)的顶部固定安装有两个位置相对的驱动座(2)和限位座(8)，所述限位座(8)的顶部装配有限位板(10)，所述限位板(10)上开设有检测槽(12)，且限位板(10)的顶部固定安装有信息处理器(11)，所述驱动座(2)中套装有从动轴(3)，所述从动轴(3)的外壁上固定套装有套筒(4)，且套筒(4)上装配有两个位置相对的下激光计数器(14)和上激光计数器(15)，所述从动轴(3)的顶端固定安装有原料桶(5)，所述原料桶(5)上装配有喷射装置(7)，且喷射装置(7)设置在限位板(10)中检测槽(12)的上方。
2.根据权利要求1所述的一种纳米纤维膜膜厚测量装置，其特征在于：所述限位座(8)通过立柱(9)固定连接有限位板(10)，且立柱(9)由套杆与杆筒套装而成。
3.根据权利要求1所述的一种纳米纤维膜膜厚测量装置，其特征在于：所述套筒(4)的顶部和底部均装配有支板(13)，所述支板(13)的外端分别固定安装有朝向相对的下激光计数器(14)和上激光计数器(15)，且下激光计数器(14)和上激光计数器(15)分布在检测槽(12)上下两个相对的高度上。
4.根据权利要求1所述的一种纳米纤维膜膜厚测量装置，其特征在于：所述原料桶(5)的输出端固定连接有喷管(6)，所述喷管(6)的外端固定连接有喷射装置(7)，所述喷射装置(7)的输出端装配有相应喷板，且喷射装置(7)的底部固定安装有位于喷板外侧的罩体(17)。
5.根据权利要求1所述的一种纳米纤维膜膜厚测量装置，其特征在于：所述原料桶(5)的顶部固定安装有补料口(16)及与其相适配的塞盖。
6.根据权利要求1所述的一种纳米纤维膜膜厚测量装置，其特征在于：所述喷射装置(7)与下激光计数器(14)和上激光计数器(15)之间夹角为90°。
7.根据权利要求1所述的一种纳米纤维膜膜厚测量装置，其特征在于：所述驱动座(2)的底部装配有位于工作台板(1)底面上的套座，且驱动座(2)通过套座固定套装在驱动电机的输出轴上。
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2021
- 2021-09-01 CN CN202111022034.7A patent/CN113776441A/zh active Pending
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