CN113722917A - 基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法及系统 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法、系统及设备，该方法通过获取垂直剖面上不同高度的N个样品，对N个样品进行分析、处理，得到符合需求的样品，通过符合需求每个样品的热史曲线生成待模拟地质最终的热史模拟结果，该热史模拟结果准确率高；该基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法在地质的热史模拟中不受地质类型的限制，使用广泛，解决了现有采用裂变径迹方法获取的数据得到的热史模拟应用在能源勘探中存在局限性且模拟数据不准确的技术问题。

Description

基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法及系统

技术领域

本发明涉及地质技术领域，尤其涉及一种基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法、系统及设备。

背景技术

近年来，低温热年代学方法在地质理论研究及能源勘探等方面都得到了广泛的应用。其中低温热年代学方法包含的裂变径迹方法是最常用的一种低温年代学方法。

传统的低温年代学热史模拟主要是通过裂变径迹方法为其提供了数据参数进行热史模拟的，而采用裂变径迹方法获取的数据得到的热史模拟在能源勘探中存在局限性且模拟数据不准确。

发明内容

本发明实施例提供了一种基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法、系统及设备，用于解决现有采用裂变径迹方法获取的数据得到的热史模拟，该热史模拟应用在能源勘探中存在局限性且模拟数据不准确的技术问题。

为了实现上述目的，本发明实施例提供如下技术方案：

一种基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法，包括以下步骤：

获取待模拟地质在垂直剖面上不同高度的N个样品以及N个所述样品的围限径迹长度分布；

基于时间与温度接受范围内对其中一个所述样品假设若干条热史曲线，并采用蒙特卡洛方法从假设若干条热史曲线中搜索得到第一假设热史曲线；在所述第一假设热史曲线的基础上上移、下移或变形得到与其它N-1个所述样品对应的假设热史曲线；

依据每个所述样品的所述假设热史曲线计算，得到对应所述样品的模拟长度分布；采用K-S检验技术对每个所述样品的模拟长度分布与围限径迹长度分布进行处理，得到对应所述样品的拟合优度；

对所有所述样品的拟合优度进行处理，得到N个所述样品的总体拟合优度；依据所述总体拟合优度对每个所述样品的热史曲线进行筛选，得到筛选后每个所述样品的热史曲线；

根据筛选后每个所述样品的热史曲线生成待模拟地质最终的热史模拟结果。

优选地，对所有所述样品的拟合优度进行处理，得到N个所述样品的总体拟合优度的步骤包括：

对每个所述样品的拟合优度进行标准误差倍数的转换，得到与所述样品对应的标准误差倍数；

对所有所述样品的标准误差倍数进行求取平均数，得到所有所述样品的平均标准误差倍数；

将所述平均标准误差倍数进行拟合优度转换，得到总体拟合优度。

优选地，对每个所述样品的拟合优度采用第一转换公式进行标准误差倍数的转换，得到与所述样品对应的标准误差倍数；所述第一转换公式为：

式中，GOF为样品的拟合优度，E为样品的标准误差倍数，V和σ分别为围限径迹长度分布的结果和误差，x为围限径迹长度分布中的围限径迹长度。

优选地，将所述平均标准误差倍数采用第二转换公式进行拟合优度转换，得到总体拟合优度；所述第二转换公式为：

式中，MGOF为样品的总体拟合优度，ME为平均标准误差倍数，V和σ分别为围限径迹长度分布的结果和误差，x为围限径迹长度分布中的围限径迹长度。

优选地，根据筛选后每个所述样品的热史曲线生成待模拟地质最终的热史模拟结果包括：在同一时间点上，对筛选后所有热史曲线上的每个数据求取平均，得到每个数据的平均值；按时间顺序将所有所述数据的平均值连接成曲线，该曲线作为待模拟地质最终的热史模拟结果。

优选地，该基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法包括：基于时间与温度接受范围内对其中一个所述样品假设至少10000条热史曲线。

本发明还提供一种基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟系统，包括样品获取模块、数据处理模块、拟合优度计算模块、筛选计算模块和输出结果模块；

所述样品获取模块，用于获取待模拟地质在垂直剖面上不同高度的N个样品以及N个所述样品的围限径迹长度分布；

所述数据处理模块，用于基于时间与温度接受范围内对其中一个所述样品假设若干条热史曲线，并采用蒙特卡洛方法从假设若干条热史曲线中搜索得到第一假设热史曲线；在所述第一假设热史曲线的基础上上移、下移或变形得到与其它N-1个所述样品对应的假设热史曲线；

所述拟合优度计算模块，用于依据每个所述样品的所述假设热史曲线计算，得到对应所述样品的模拟长度分布；采用K-S检验技术对每个所述样品的模拟长度分布与围限径迹长度分布进行处理，得到对应所述样品的拟合优度；

所述筛选计算模块，用于对所有所述样品的拟合优度进行处理，得到N个所述样品的总体拟合优度；依据所述总体拟合优度对每个所述样品的热史曲线进行筛选，得到筛选后每个所述样品的热史曲线；

所述输出结果模块，用于根据筛选后每个所述样品的热史曲线生成待模拟地质最终的热史模拟结果。

优选地，所述筛选计算模块包括第一转换子模块、计算子模块和第二转换子模块；

所述第一转换子模块，用于对每个所述样品的拟合优度进行标准误差倍数的转换，得到与所述样品对应的标准误差倍数；

所述计算子模块，用于对所有所述样品的标准误差倍数进行求取平均数，得到所有所述样品的平均标准误差倍数；

所述第二转换子模块，用于将所述平均标准误差倍数进行拟合优度转换，得到总体拟合优度。

优选地，所述第一转换子模块用于对每个所述样品的拟合优度采用第一转换公式进行标准误差倍数的转换，得到与所述样品对应的标准误差倍数；所述第一转换公式为：

式中，GOF为样品的拟合优度，E为样品的标准误差倍数，V和σ分别为围限径迹长度分布的结果和误差，x为围限径迹长度分布中的围限径迹长度；

所述第二转换子模块用于将所述平均标准误差倍数采用第二转换公式进行拟合优度转换，得到总体拟合优度；所述第二转换公式为：

式中，MGOF为样品的总体拟合优度，ME为平均标准误差倍数，V和σ分别为围限径迹长度分布的结果和误差，x为围限径迹长度分布中的围限径迹长度。

本发明还提供一种基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟设备，包括处理器以及存储器；

所述存储器，用于存储程序代码，并将所述程序代码传输给所述处理器；

所述处理器，用于根据所述程序代码中的指令执行上述所述的基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法。

从以上技术方案可以看出，本发明实施例具有以下优点：该基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法、系统及设备，该方法包括获取待模拟地质在垂直剖面上不同高度的N个样品以及N个样品的围限径迹长度分布；基于时间与温度接受范围内对其中一个样品假设若干条热史曲线，并采用蒙特卡洛方法从假设若干条热史曲线中搜索得到第一假设热史曲线；在第一假设热史曲线的基础上上移、下移或变形得到与其它N-1个样品对应的假设热史曲线；依据每个样品的假设热史曲线计算，得到对应样品的模拟长度分布；采用K-S检验技术对每个样品的模拟长度分布与围限径迹长度分布进行处理，得到对应样品的拟合优度；对所有样品的拟合优度进行处理，得到N个样品的总体拟合优度；依据总体拟合优度对每个样品的热史曲线进行筛选，得到筛选后每个样品的热史曲线；根据筛选后每个样品的热史曲线生成待模拟地质最终的热史模拟结果。该基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法通过获取垂直剖面上不同高度的N个样品，对N个样品进行分析、处理，得到符合需求的样品，通过符合需求每个样品的热史曲线生成待模拟地质最终的热史模拟结果，该热史模拟结果准确率高；该基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法在地质的热史模拟中不受地质类型的限制，使用广泛，解决了现有采用裂变径迹方法获取的数据得到的热史模拟，该热史模拟应用在能源勘探中存在局限性且模拟数据不准确的技术问题。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

图1为本发明实施例所述的基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法的步骤流程图；

图2A为本发明实施例所述的基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法采集第一个样品的围限径迹长度分布图；

图2B为本发明实施例所述的基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法采集第二个样品的围限径迹长度分布图；

图2C为本发明实施例所述的基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法采集第三个样品的围限径迹长度分布图；

图2D为本发明实施例所述的基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法采集第四个样品的围限径迹长度分布图；

图2E为本发明实施例所述的基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法采集第五个样品的围限径迹长度分布图；

图3A为本发明实施例所述的基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法获得热史模拟结果对应模拟围限径迹长度分布曲线与第一个样品的采集围限径迹长度分布的对比图；

图3B为本发明实施例所述的基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法获得热史模拟结果对应模拟围限径迹长度分布曲线与第二个样品的采集围限径迹长度分布的对比图；

图3C为本发明实施例所述的基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法获得热史模拟结果对应模拟围限径迹长度分布曲线与第三个样品的采集围限径迹长度分布的对比图；

图3D为本发明实施例所述的基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法获得热史模拟结果对应模拟围限径迹长度分布曲线与第四个样品的采集围限径迹长度分布的对比图；

图3E为本发明实施例所述的基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法获得热史模拟结果对应模拟围限径迹长度分布曲线与第五个样品的采集围限径迹长度分布的对比图；

图4为本发明实施例所述的基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法的热史模拟结果图；

图5为本发明实施例所述的基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟系统的框架图。

具体实施方式

为使得本发明的发明目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，下面所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而非全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。

本申请实施例提供了一种基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法、系统及设备，用于解决了现有采用裂变径迹方法获取的数据得到的热史模拟，该热史模拟应用在能源勘探中存在局限性且模拟数据不准确的技术问题。

实施例一：

图1为本发明实施例所述的基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法的步骤流程图。

如图1所示，本发明实施例提供了一种基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法，包括以下步骤：

S1.获取待模拟地质在垂直剖面上不同高度的N个样品以及N个样品的围限径迹长度分布。

需要说明的是，主要是获取待模拟地质的样品以及样品的围限径迹长度分布。在本实施例中，以岩石作为待模拟地质进行举例说明，从垂直剖面上的不同高度位置采集N个岩石样品，从岩石样品中获取成百上千个磷灰石矿物颗粒，并通过制靶、抛光、蚀刻及显微镜观测等方式能够得到每一个岩石样品的围限径迹长度分布数据。其中，N为5。通过制靶、抛光、蚀刻及显微镜观测等方式得到样品的围限径迹长度分布是本领域比较成熟的技术，在此实施例中不再阐述。

S2.基于时间与温度接受范围内对其中一个样品假设若干条热史曲线，并采用蒙特卡洛方法从假设若干条热史曲线中搜索得到第一假设热史曲线；在第一假设热史曲线的基础上上移、下移或变形得到与其它N-1个样品对应的假设热史曲线。

需要说明的是，主要是获取N个样品的假设热史曲线。在本实施例中，基于时间与温度接受范围内选取其中一个样品假设有至少10000条热史曲线，并采用蒙特卡洛方法从10000条条热史曲线中搜索得到第一假设热史曲线；在第一假设热史曲线的基础上上移、下移或变形得到与其它4个样品对应的假设热史曲线。其中，选取N个样品的某一个样品(例如顶部样品)，在可接受时间-温度范围内假设若干条热史曲线(至少10000条)，其它高度上N-1个样品的热历史曲线在第一假设热史曲线基础上，与第一假设热史曲线保持等温度间距或者一定温度间隔函数，这样便形成N-1个样品的假设热史曲线。也可以理解为：只要假设一个样品的第一假设热史曲线，其它样品的假设热史曲线都可以在此基础上上移、下移或稍作变形得到对应的假设热史曲线。温度间隔＝古地温梯度*高度间隔，温度间隔函数＝古地温梯度函数*高度间隔。

S3.依据每个样品的假设热史曲线计算，得到对应样品的模拟长度分布；采用K-S检验技术对每个所述样品的模拟长度分布与围限径迹长度分布进行处理，得到对应所述样品的拟合优度。

需要说明的是，主要是获得每个样品的拟合优度。在本实施例中，每一次假设样品的热史曲线时，都计算每条热史曲线的对应的径迹长度模拟分布，同理可以得到每个样品对应假设热史曲线的模拟长度分布。将模拟长度分布与实测围限径迹长度分布进行K-S检验技术处理，得到衡量模拟长度分布与实测围限径迹长度分布相互吻合程度的拟合优度GOF。在本实施例中，依据每个样品的假设热史曲线，采用温度-时间-径迹长度三者之间的关系，在假设温度-时间(即假设热史曲线)的基础上通过径迹长度计算公式计算得到径迹长度，并得到对应样品的模拟长度分布。其中径迹长度计算公式为现有技术，此处不做详述。

在本发明实施例中，采用K-S检验技术计算模拟长度分布与围限径迹长度分布相互吻合程度的拟合优是现有的检验技术，K-S检验技术主要指的是柯尔莫可洛夫-斯米洛夫检验(Kolmogorov–Smirnov test，K-S test，即是K-S检验)方法能够利用样本数据推断样本来自的总体是否服从某一理论分布，是一种拟合优度的检验方法。

S4.对所有样品的拟合优度进行处理，得到N个样品的总体拟合优度；依据总体拟合优度对每个样品的热史曲线进行筛选，得到筛选后每个样品的热史曲线。

需要说明的是，主要是获得待模拟地质的总体拟合优度，之后从N个样品中筛选出大于总体拟合优度的热史曲线，得到筛选后每个样品的热史曲线。在本实施例中，采用总体拟合优度是评价待模拟地质整个垂直剖面热历史演化的关键，确保后续得到的热史模拟的结果准确性。

S5.根据筛选后每个样品的热史曲线生成待模拟地质最终的热史模拟结果。

需要说明的是，主要是将筛选后每个样品的热史曲线生成待模拟地质最终的热史模拟结果。在本实施例中，在同一时间点上，对筛选后所有热史曲线上的每个数据求取平均，得到每个数据的平均值；按时间顺序将所有数据的平均值连接成曲线，该曲线作为待模拟地质最终的热史模拟结果。

本发明提供的一种基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法，包括获取待模拟地质在垂直剖面上不同高度的N个样品以及N个样品的围限径迹长度分布；基于时间与温度接受范围内对其中一个样品假设若干条热史曲线，并采用蒙特卡洛方法从假设若干条热史曲线中搜索得到第一假设热史曲线；在第一假设热史曲线的基础上上移、下移或变形得到与其它N-1个样品对应的假设热史曲线；依据每个样品的假设热史曲线计算，得到对应样品的模拟长度分布；采用K-S检验技术对每个样品的模拟长度分布与实测围限径迹长度分布进行处理，得到对应样品的拟合优度；对所有样品的拟合优度进行处理，得到N个样品的总体拟合优度；依据总体拟合优度对每个样品的热史曲线进行筛选，得到筛选后每个样品的热史曲线；根据筛选后每个样品的热史曲线生成待模拟地质最终的热史模拟结果。该基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法通过获取垂直剖面上不同高度的N个样品，对N个样品进行分析、处理，得到符合需求的样品，通过符合需求每个样品的热史曲线生成待模拟地质最终的热史模拟结果，该热史模拟结果准确率高；该基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法在地质的热史模拟中不受地质类型的限制，使用广泛，解决了现有采用裂变径迹方法获取的数据得到的热史模拟应用在能源勘探中存在局限性且模拟数据不准确的技术问题。

在本发明的一个实施例中，在步骤S4中，对所有样品的拟合优度进行处理，得到N个样品的总体拟合优度的步骤包括：

对每个样品的拟合优度进行标准误差倍数的转换，得到与样品对应的标准误差倍数；

对所有样品的标准误差倍数进行求取平均数，得到所有样品的平均标准误差倍数；

将平均标准误差倍数进行拟合优度转换，得到总体拟合优度。

在本发明实施例中，对每个样品的拟合优度采用第一转换公式进行标准误差倍数的转换，得到与样品对应的标准误差倍数；第一转换公式为：

式中，GOF为样品的拟合优度，E为样品的标准误差倍数，V和σ分别为围限径迹长度分布的结果和误差，x为围限径迹长度分布中的围限径迹长度。将平均标准误差倍数采用第二转换公式进行拟合优度转换，得到总体拟合优度；第二转换公式为：

式中，MGOF为样品的总体拟合优度，ME为平均标准误差倍数，V和σ分别为围限径迹长度分布的结果和误差，x为围限径迹长度分布中的围限径迹长度。

需要说明的是，该基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法是先计算假设热史曲线对应于每个样品的拟合优度GOF，然后将各个样品的拟合优度GOF都转化成对应样品的标准误差倍数，然后将得到所有样品的标准误差倍数求算术平均值得到平均标准误差倍数，之后再将得到平均标准误差倍数进行转换得到总体拟合优度MGOF。

图2A为本发明实施例所述的基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法采集第一个样品的围限径迹长度分布图，图2B为本发明实施例所述的基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法采集第二个样品的围限径迹长度分布图，图2C为本发明实施例所述的基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法采集第三个样品的围限径迹长度分布图，图2D为本发明实施例所述的基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法采集第四个样品的围限径迹长度分布图，图2E为本发明实施例所述的基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法采集第五个样品的围限径迹长度分布图，图3A为本发明实施例所述的基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法获得热史模拟结果对应模拟围限径迹长度分布曲线与第一个样品的采集围限径迹长度分布的对比图，图3B为本发明实施例所述的基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法获得热史模拟结果对应模拟围限径迹长度分布曲线与第二个样品的采集围限径迹长度分布的对比图，图3C为本发明实施例所述的基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法获得热史模拟结果对应模拟围限径迹长度分布曲线与第三个样品的采集围限径迹长度分布的对比图，图3D为本发明实施例所述的基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法获得热史模拟结果对应模拟围限径迹长度分布曲线与第四个样品的采集围限径迹长度分布的对比图，图3E为本发明实施例所述的基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法获得热史模拟结果对应模拟围限径迹长度分布曲线与第五个样品的采集围限径迹长度分布的对比图，图4为本发明实施例所述的基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法的热史模拟结果图。

在本发明的实施例中，该基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法以某钻井垂直剖面上采集5个样品为案例，通过步骤S1测量5个样品的围限径迹长度分布，其长度分布如图2A、图2B、图2C、图2D和图2E所示；通过步骤S2至步骤S5得到每个样品的热史模拟平均曲线，其对应的模拟围限径迹长度分布曲线如图3A、图3B、图3C、图3D和图3E所示，并筛选出每个样品的热史曲线生成热史模拟结果，如图4所示，图4中虚线代表顶部样品的热史曲线上下限，点划线代表底部样品的热史曲线上下限，上下限为所有筛选所得热史曲线的最大波动范围，中间的5条热史曲线为所有这些筛选所得曲线的平均热史曲线，即作为最终的热史模拟结果。

实施例二：

图5为本发明实施例的基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟系统的框架图。

如图5所示，本发明实施例还提供一种基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟系统，包括样品获取模块10、数据处理模块20、拟合优度计算模块30、筛选计算模块40和输出结果模块50；

样品获取模块10，用于获取待模拟地质在垂直剖面上不同高度的N个样品以及N个所述样品的围限径迹长度分布；

数据处理模块20，用于基于时间与温度接受范围内对其中一个所述样品假设若干条热史曲线，并采用蒙特卡洛方法从假设若干条热史曲线中搜索得到第一假设热史曲线；在所述第一假设热史曲线的基础上上移、下移或变形得到与其它N-1个所述样品对应的假设热史曲线；

拟合优度计算模块30，用于依据每个所述样品的所述假设热史曲线计算，得到对应所述样品的模拟长度分布；采用K-S检验技术对每个所述样品的模拟长度分布与围限径迹长度分布进行处理，得到对应所述样品的拟合优度；

筛选计算模块40，用于对所有所述样品的拟合优度进行处理，得到N个所述样品的总体拟合优度；依据所述总体拟合优度对每个所述样品的热史曲线进行筛选，得到筛选后每个所述样品的热史曲线；

输出结果模块50，用于根据筛选后每个所述样品的热史曲线生成待模拟地质最终的热史模拟结果。

在本发明实施例中，筛选计算模块40包括第一转换子模块、计算子模块和第二转换子模块；

所述第一转换子模块，用于对每个所述样品的拟合优度进行标准误差倍数的转换，得到与所述样品对应的标准误差倍数；

所述计算子模块，用于对所有所述样品的标准误差倍数进行求取平均数，得到所有所述样品的平均标准误差倍数；

所述第二转换子模块，用于将所述平均标准误差倍数进行拟合优度转换，得到总体拟合优度。

在本发明实施例中，所述第一转换子模块用于对每个所述样品的拟合优度采用第一转换公式进行标准误差倍数的转换，得到与所述样品对应的标准误差倍数；所述第一转换公式为：

式中，GOF为样品的拟合优度，E为样品的标准误差倍数，V和σ分别为围限径迹长度分布的结果和误差，x为围限径迹长度分布中的围限径迹长度；

所述第二转换子模块用于将所述平均标准误差倍数采用第二转换公式进行拟合优度转换，得到总体拟合优度；所述第二转换公式为：

式中，MGOF为样品的总体拟合优度，ME为平均标准误差倍数，V和σ分别为围限径迹长度分布的结果和误差，x为围限径迹长度分布中的围限径迹长度。

需要说明的是，实施例二系统中的模块对应于实施例一方法中的步骤，实施例一方法的步骤内容已在实施例一中详细阐述了，在此实施例二中不再对模块的内容进行详细阐述。

实施例三：

本发明实施例提供了一种基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟设备，包括处理器以及存储器；

存储器，用于存储程序代码，并将程序代码传输给处理器；

处理器，用于根据程序代码中的指令执行上述的基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法。

需要说明的是，处理器用于根据所程序代码中的指令执行上述的一种基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法实施例中的步骤。或者，处理器执行计算机程序时实现上述各系统/装置实施例中各模块/单元的功能。

示例性的，计算机程序可以被分割成一个或多个模块/单元，一个或者多个模块/单元被存储在存储器中，并由处理器执行，以完成本申请。一个或多个模块/单元可以是能够完成特定功能的一系列计算机程序指令段，该指令段用于描述计算机程序在终端设备中的执行过程。

终端设备可以是桌上型计算机、笔记本、掌上电脑及云端服务器等计算设备。终端设备可包括，但不仅限于，处理器、存储器。本领域技术人员可以理解，并不构成对终端设备的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件，例如终端设备还可以包括输入输出设备、网络接入设备、总线等。

所称处理器可以是中央处理单元(Central Processing Unit，CPU)，还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor，DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、现成可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。

存储器可以是终端设备的内部存储单元，例如终端设备的硬盘或内存。存储器也可以是终端设备的外部存储设备，例如终端设备上配备的插接式硬盘，智能存储卡(SmartMedia Card，SMC)，安全数字(Secure Digital，SD)卡，闪存卡(Flash Card)等。进一步地，存储器还可以既包括终端设备的内部存储单元也包括外部存储设备。存储器用于存储计算机程序以及终端设备所需的其他程序和数据。存储器还可以用于暂时地存储已经输出或者将要输出的数据。

所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的系统，装置和单元的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的系统，装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。

所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。

所述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM，Read-OnlyMemory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

以上所述，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (10)

1.一种基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法，其特征在于，包括以下步骤：

获取待模拟地质在垂直剖面上不同高度的N个样品以及N个所述样品的围限径迹长度分布；

基于时间与温度接受范围内对其中一个所述样品假设若干条热史曲线，并采用蒙特卡洛方法从假设若干条热史曲线中搜索得到第一假设热史曲线；在所述第一假设热史曲线的基础上上移、下移或变形得到与其它N-1个所述样品对应的假设热史曲线；

依据每个所述样品的所述假设热史曲线计算，得到对应所述样品的模拟长度分布；采用K-S检验技术对每个所述样品的模拟长度分布与围限径迹长度分布进行处理，得到对应所述样品的拟合优度；

对所有所述样品的拟合优度进行处理，得到N个所述样品的总体拟合优度；依据所述总体拟合优度对每个所述样品的热史曲线进行筛选，得到筛选后每个所述样品的热史曲线；

根据筛选后每个所述样品的热史曲线生成待模拟地质最终的热史模拟结果。

2.根据权利要求1所述的基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法，其特征在于，对所有所述样品的拟合优度进行处理，得到N个所述样品的总体拟合优度的步骤包括：

对每个所述样品的拟合优度进行标准误差倍数的转换，得到与所述样品对应的标准误差倍数；

对所有所述样品的标准误差倍数进行求取平均数，得到所有所述样品的平均标准误差倍数；

将所述平均标准误差倍数进行拟合优度转换，得到总体拟合优度。

3.根据权利要求2所述的基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法，其特征在于，对每个所述样品的拟合优度采用第一转换公式进行标准误差倍数的转换，得到与所述样品对应的标准误差倍数；所述第一转换公式为：

式中，GOF为样品的拟合优度，E为样品的标准误差倍数，V和σ分别为围限径迹长度分布的结果和误差，x为围限径迹长度分布中的围限径迹长度。

4.根据权利要求2所述的基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法，其特征在于，将所述平均标准误差倍数采用第二转换公式进行拟合优度转换，得到总体拟合优度；所述第二转换公式为：

式中，MGOF为样品的总体拟合优度，ME为平均标准误差倍数，V和σ分别为围限径迹长度分布的结果和误差，x为围限径迹长度分布中的围限径迹长度。

5.根据权利要求1所述的基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法，其特征在于，根据筛选后每个所述样品的热史曲线生成待模拟地质最终的热史模拟结果包括：在同一时间点上，对筛选后所有热史曲线上的每个数据求取平均，得到每个数据的平均值；按时间顺序将所有所述数据的平均值连接成曲线，该曲线作为待模拟地质最终的热史模拟结果。

6.根据权利要求1所述的基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法，其特征在于，包括：基于时间与温度接受范围内对其中一个所述样品假设至少10000条热史曲线。

7.一种基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟系统，其特征在于，包括样品获取模块、数据处理模块、拟合优度计算模块、筛选计算模块和输出结果模块；

所述样品获取模块，用于获取待模拟地质在垂直剖面上不同高度的N个样品以及N个所述样品的围限径迹长度分布；

所述数据处理模块，用于基于时间与温度接受范围内对其中一个所述样品假设若干条热史曲线，并采用蒙特卡洛方法从假设若干条热史曲线中搜索得到第一假设热史曲线；在所述第一假设热史曲线的基础上上移、下移或变形得到与其它N-1个所述样品对应的假设热史曲线；

所述拟合优度计算模块，用于依据每个所述样品的所述假设热史曲线计算，得到对应所述样品的模拟长度分布；采用K-S检验技术对每个所述样品的模拟长度分布与围限径迹长度分布进行处理，得到对应所述样品的拟合优度；

所述筛选计算模块，用于对所有所述样品的拟合优度进行处理，得到N个所述样品的总体拟合优度；依据所述总体拟合优度对每个所述样品的热史曲线进行筛选，得到筛选后每个所述样品的热史曲线；

所述输出结果模块，用于根据筛选后每个所述样品的热史曲线生成待模拟地质最终的热史模拟结果。

8.根据权利要求7所述的基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟系统，其特征在于，所述筛选计算模块包括第一转换子模块、计算子模块和第二转换子模块；

所述第一转换子模块，用于对每个所述样品的拟合优度进行标准误差倍数的转换，得到与所述样品对应的标准误差倍数；

所述计算子模块，用于对所有所述样品的标准误差倍数进行求取平均数，得到所有所述样品的平均标准误差倍数；

所述第二转换子模块，用于将所述平均标准误差倍数进行拟合优度转换，得到总体拟合优度。

9.根据权利要求8所述的基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟系统，其特征在于，所述第一转换子模块用于对每个所述样品的拟合优度采用第一转换公式进行标准误差倍数的转换，得到与所述样品对应的标准误差倍数；所述第一转换公式为：

式中，GOF为样品的拟合优度，E为样品的标准误差倍数，V和σ分别为围限径迹长度分布的结果和误差，x为围限径迹长度分布中的围限径迹长度；

所述第二转换子模块用于将所述平均标准误差倍数采用第二转换公式进行拟合优度转换，得到总体拟合优度；所述第二转换公式为：

式中，MGOF为样品的总体拟合优度，ME为平均标准误差倍数，V和σ分别为围限径迹长度分布的结果和误差，x为围限径迹长度分布中的围限径迹长度。

10.一种基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟设备，其特征在于，包括处理器以及存储器；

所述存储器，用于存储程序代码，并将所述程序代码传输给所述处理器；

所述处理器，用于根据所述程序代码中的指令执行如权利要求1-6任意一项所述的基于垂直剖面上裂变径迹长度分布的热史模拟方法。

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