CN113707451A - 基于范德瓦尔斯外延制备柔性铁磁性金属薄膜的方法 - Google Patents
基于范德瓦尔斯外延制备柔性铁磁性金属薄膜的方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN113707451A CN113707451A CN202110985312.2A CN202110985312A CN113707451A CN 113707451 A CN113707451 A CN 113707451A CN 202110985312 A CN202110985312 A CN 202110985312A CN 113707451 A CN113707451 A CN 113707451A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- fluorophlogopite
- substrate
- ferromagnetic metal
- van der
- der waals
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 72
- 239000002184 metal Substances 0.000 title claims abstract description 58
- 230000005294 ferromagnetic effect Effects 0.000 title claims abstract description 50
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 29
- 238000000407 epitaxy Methods 0.000 title claims abstract description 24
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 61
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims abstract description 34
- 238000001755 magnetron sputter deposition Methods 0.000 claims abstract description 24
- 238000003776 cleavage reaction Methods 0.000 claims abstract description 23
- 230000007017 scission Effects 0.000 claims abstract description 23
- 230000008021 deposition Effects 0.000 claims abstract description 18
- 239000010445 mica Substances 0.000 claims abstract description 18
- 229910052618 mica group Inorganic materials 0.000 claims abstract description 18
- 239000010408 film Substances 0.000 claims description 36
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims description 23
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 14
- 239000013077 target material Substances 0.000 claims description 8
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 6
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims description 3
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 3
- 230000003116 impacting effect Effects 0.000 claims 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 abstract description 21
- 230000003993 interaction Effects 0.000 abstract description 6
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 abstract description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 8
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 description 6
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 6
- 230000005291 magnetic effect Effects 0.000 description 5
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 5
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910001030 Iron–nickel alloy Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 3
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 3
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000013461 design Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 2
- 238000011160 research Methods 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 241000282414 Homo sapiens Species 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000005290 antiferromagnetic effect Effects 0.000 description 1
- 238000013473 artificial intelligence Methods 0.000 description 1
- 238000000861 blow drying Methods 0.000 description 1
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 1
- 238000007737 ion beam deposition Methods 0.000 description 1
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 description 1
- 239000008204 material by function Substances 0.000 description 1
- 230000015654 memory Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000000877 morphologic effect Effects 0.000 description 1
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01F—MAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
- H01F41/00—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or assembling magnets, inductances or transformers; Apparatus or processes specially adapted for manufacturing materials characterised by their magnetic properties
- H01F41/14—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or assembling magnets, inductances or transformers; Apparatus or processes specially adapted for manufacturing materials characterised by their magnetic properties for applying magnetic films to substrates
- H01F41/18—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or assembling magnets, inductances or transformers; Apparatus or processes specially adapted for manufacturing materials characterised by their magnetic properties for applying magnetic films to substrates by cathode sputtering
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B23/00—Single-crystal growth by condensing evaporated or sublimed materials
- C30B23/02—Epitaxial-layer growth
- C30B23/025—Epitaxial-layer growth characterised by the substrate
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B29/00—Single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure characterised by the material or by their shape
- C30B29/10—Inorganic compounds or compositions
- C30B29/52—Alloys
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01F—MAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
- H01F41/00—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or assembling magnets, inductances or transformers; Apparatus or processes specially adapted for manufacturing materials characterised by their magnetic properties
- H01F41/14—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or assembling magnets, inductances or transformers; Apparatus or processes specially adapted for manufacturing materials characterised by their magnetic properties for applying magnetic films to substrates
- H01F41/18—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or assembling magnets, inductances or transformers; Apparatus or processes specially adapted for manufacturing materials characterised by their magnetic properties for applying magnetic films to substrates by cathode sputtering
- H01F41/183—Sputtering targets therefor
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Thin Magnetic Films (AREA)
Abstract
本发明提供一种基于范德瓦尔斯外延制备柔性铁磁性金属薄膜的方法,包括:解理氟金云母,得到氟金云母衬底,其中,氟金云母衬底包括F‑Mica(001),氟金云母衬底的新鲜解理面用于外延生长;将氟金云母衬底置于磁控溅射仪的沉积室内;采用射频磁控溅射方式将金属元素沉积到新鲜解理面上,其中,射频磁控溅射时沉积室内温度为600~700℃。本发明操作方法简单,易于实现大面积生长制备;将柔性自支撑铁磁性金属薄膜外延生长在氟金云母衬底上,衬底与薄膜之间只存在弱的范德瓦尔斯相互作用,晶格失配对单晶薄膜质量的影响大大降低,能得到高质量的单晶铁磁性金属薄膜。
Description
技术领域
本发明涉及一种基于范德瓦尔斯外延制备柔性铁磁性金属薄膜的方法。
背景技术
由于人工智能、物联网和机器人等技术的出现,人类的生活方式正在发生改变,人们探索了各种材料,设计和制造了不同的电子元件,以满足物联网技术和机器人行业的发展需求。尤其是柔性功能材料在柔性可穿戴电子器件的制造和设计中起着至关重要的作用。人们对于柔性电子器件进行了大量的研究,包括柔性压电传感器、柔性磁传感器、柔性光电器件等。其中,金属磁性薄膜是磁存储、磁传感器和微波器件等的重要组成部分。铁磁性金属薄膜广泛应用于磁记录介质、传感器等领域。铁磁和反铁磁之间的界面交换耦合是自旋阀工作的关键因素,这种耦合与层界面的结构和形态特性密切相关。此外,铁磁性金属薄膜的结构基本上是多晶的,因此,无论是基础研究还是技术应用,制备高质量单晶低维铁磁性金属薄膜都是十分重要的。
对于制备铁磁性金属薄膜而言,高质量外延制备的主要限制来自于薄膜与衬底之间的晶格匹配关系。在目前相关技术中,外延制备铁磁性金属薄膜多生长在TiN、MgO等刚性衬底上,无法满足柔性电子器件的需求。因此,有必要制备柔性自支撑铁磁性金属薄膜。
发明内容
针对上述问题,对于制备铁磁性金属薄膜而言,高质量外延制备的主要限制来自于薄膜与衬底之间的晶格匹配关系。在范德瓦尔斯外延系统中,衬底与生长材料之间只存在弱的范德瓦尔斯相互作用,这使得衬底和生长材料之间的晶格常数和晶体结构差异对材料生长的影响变小,从而可以成功制备单晶薄膜。云母具有原子级光滑表面、高热稳定性、化学惰性、机械抗疲劳性等特点,是一种适合范德瓦尔斯外延的柔性衬底。氟金云母衬底耐高温可达1000℃,更是一种适合范德瓦尔斯外延的柔性衬底。
本发明提供一种制备柔性自支撑铁磁性金属薄膜的方法,基于范德瓦尔斯外延,在氟金云母衬底上外延制备柔性铁磁性金属薄膜。
本发明提供一种基于范德瓦尔斯外延制备柔性铁磁性金属薄膜的方法,包括:解理氟金云母,得到氟金云母衬底,其中,氟金云母衬底包括F-Mica(001),氟金云母衬底的新鲜解理面用于外延生长;将氟金云母衬底置于磁控溅射仪的沉积室内;采用射频磁控溅射方式将金属元素沉积到新鲜解理面上,其中,射频磁控溅射时沉积室内温度为600~700℃。
进一步地,本发明的基于范德瓦尔斯外延制备柔性铁磁性金属薄膜的方法,解理氟金云母采用机械剥离的方法,以保证外延生长的顺利进行。
进一步地,本发明的基于范德瓦尔斯外延制备柔性铁磁性金属薄膜的方法,采用射频磁控溅射方式将金属元素沉积到新鲜解理面上之前,还包括将氟金云母衬底加热至预设温度。
进一步地,本发明的基于范德瓦尔斯外延制备柔性铁磁性金属薄膜的方法,将金属元素沉积到新鲜解理面上包括:以铁磁性金属为靶材,在氟金云母衬底上沉积金属元素,得到铁磁性金属薄膜。
进一步地,本发明的基于范德瓦尔斯外延制备柔性铁磁性金属薄膜的方法,将金属元素沉积到新鲜解理面上包括:射频磁控溅射时在沉积室内通入氩气,氩气流量范围为0~100sccm。
进一步地,本发明的基于范德瓦尔斯外延制备柔性铁磁性金属薄膜的方法,将金属元素沉积到新鲜解理面上包括:使用高能粒子或高能脉冲辐射冲击金属靶材,以使靶材中的金属元素沉积在新鲜解理面上。
本发明具有如下有益效果:
(1)操作方法简单,易于实现大面积生长制备;
(2)将柔性自支撑铁磁性金属薄膜外延生长在氟金云母衬底上,衬底与薄膜之间只存在弱的范德瓦尔斯相互作用,晶格失配对单晶薄膜质量的影响大大降低,能得到高质量的单晶铁磁性金属薄膜。
附图说明
图1是本发明的基于范德瓦尔斯外延制备柔性铁磁性金属薄膜的方法流程示意图;
图2是本发明一个实施例的X射线衍射θ-2θ扫描谱;
图3是本发明一个实施例的X射线衍射Phi扫描谱。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白,以下结合具体实施例,并参照附图,对本发明进一步详细说明。
在范德瓦尔斯外延系统中,衬底与生长材料之间只存在弱的范德瓦尔斯相互作用,这使得衬底和生长材料之间的晶格常数和晶体结构差异对材料生长的影响变小,从而可以成功制备单晶薄膜。云母具有原子级光滑表面、高热稳定性、化学惰性、机械抗疲劳性等特点,是一种适合范德瓦尔斯外延的柔性衬底。氟金云母衬底耐高温可达1000℃,更是一种适合范德瓦尔斯外延的柔性衬底。而选用特定晶面指数的氟金云母衬底,并且在特定的温度下进行外延生长,可以克服衬底与外延生长的铁磁性金属薄膜间晶格失配的难题,完成铁磁性金属薄膜的制备。
图1是本发明的基于范德瓦尔斯外延制备柔性铁磁性金属薄膜的方法流程示意图。如图1所示,本发明的方法包括:
S101,解理氟金云母,得到氟金云母衬底,其中,氟金云母衬底包括F-Mica(001),氟金云母衬底的新鲜解理面用于外延生长;
S102,将氟金云母衬底置于磁控溅射仪的沉积室内;
S103,采用射频磁控溅射方式将金属元素沉积到新鲜解理面上,其中,射频磁控溅射时沉积室内温度为600~700℃。
在步骤S101,本发明使用的氟金云母衬底包括F-Mica(001),也即,选用的氟金云母衬底包括(001)晶面。选用包括(001)晶面的氟金云母衬底,在该晶面上进行外延生长时衬底与生长材料之间只存在弱的范德瓦尔斯相互作用,晶格失配对单晶薄膜质量的影响大大降低,能够得到高质量的单晶柔性自支撑铁磁性薄膜。
本发明的氟金云母衬底通过解理氟金云母,暴露氟金云母的新鲜解理面来获得。其中通过解理将(001)晶面暴露作为解理面用来外延生长。一些实施例在解理氟金云母时,采用机械剥离的方法解理氟金云母,以保证外延生长的顺利进行。云母表面容易吸附灰尘,刚解理的氟金云母片新鲜干净,有利于薄膜的外延生长。
更具体地,采用机械剥离的方法解理氟金云母时,使用无水乙醇依次清洁手术刀片、镊子,并用氮气枪吹干,然后用手术刀片插入氟金云母解理面中,同时用镊子夹住解理面的一角轻轻撕开,即可获得新鲜解理面。
在步骤S103,本发明以铁磁性金属为靶材,采用射频磁控溅射方式在氟金云母衬底上沉积金属元素,得到铁磁性金属薄膜。靶材可以自制,也可以通过市售获得。例如本发明的一些实施例中,将Ni粉末与Fe粉末按照一定的摩尔比例混合研磨后压制成NiFe合金靶材。
本发明的一些实施例采用射频磁控溅射的方式将靶材中的金属元素沉积在新鲜解理面上。此时在磁控溅射沉积室内通入氩气,通入氩气的流量范围是0~100sccm。本发明在新鲜解理面上沉积金属元素时,除了采用射频磁控溅射的方式,还可采用其他方式如高能粒子或高能脉冲辐射冲击靶材,以使靶材中的金属元素沉积在新鲜解理面上。
本发明还可采用离子束沉积、脉冲激光沉积的方式将靶材中的金属元素沉积在新鲜解理面上。
本发明的一些实施例中,在将靶材中的金属元素沉积到新鲜解理面上之前,会对氟金云母衬底进行加热,以利于金属元素在新鲜解理面上的沉积。加热有利于提高薄膜的均匀性和致密性。随着温度的升高,薄膜的(111)晶面择优取向度逐渐增大,薄膜的结晶度越来越高,当温度在600、700℃时,(111)晶面取向度达到最大。通常氟金云母衬底的加热温度范围为25~800℃,在本发明的一些实施例中选择为25℃、300℃、400℃、500℃、600℃、700℃、800℃,更优选为600℃、700℃。
下面以一个具体实施例来说明采用本发明的技术方案可以得到柔性自支撑铁磁性金属薄膜。本实施例采用氟金云母F-Mica(001)衬底,利用化学计量比为Ni80Fe20的NiFe合金靶材在衬底上沉积Ni、Fe金属元素,得到Ni80Fe20铁磁性薄膜。
本实施例操作步骤具体如下:
(1)取一块F-Mica(001),使用无水乙醇依次清洁手术刀片、镊子,并用氮气枪吹干,然后用手术刀片插入解理面中,同时用镊子夹住解理面的一角轻轻撕开,露出新鲜解理面,从而获得F-Mica(001)衬底。
(2)将F-Mica(001)衬底置于射频磁控溅射仪的沉积室中,以100sccm的流量在沉积室中通入氩气,利用衬底加热及控温系统将衬底温度升至700℃并保温。
(3)使用射频磁控溅射方式,以Ar+离子束作为离子源轰击NiFe合金靶材,将靶材中的Ni原子以及Fe原子沉积在F-Mica(001)衬底上。
(4)30分钟后,得到厚度约为60nm的柔性自支撑Ni80Fe20铁磁性薄膜。
下面验证经上述步骤后制备得到了柔性自支撑Ni80Fe20铁磁性金属薄膜。
图2示意性示出了本发明上述实施例的X射线衍射θ-2θ扫描谱。
从图2可以看出在X射线衍射谱中只观察到F-Mica(001)衬底衍射峰和Ni80Fe20(111)衍射峰。由此结果表明,Ni80Fe20薄膜按照Ni80Fe20(111)||F-Mica(001)方式外延生长,同时也验证了Ni80Fe20薄膜的单晶性。
图3示意性示出了本发明上述实施例的X射线衍射Phi扫描谱,验证了Ni80Fe20/F-Mica异质结构的外延性。通过Ni80Fe20(022)晶面的X射线衍射Phi扫描,结果显示了六个被60°均匀分割的高强度峰,这意味着Ni80Fe20薄膜具有六重对称性并在F-Mica衬底外延生长。
根据本发明的实施例,本发明在氟金云母衬底上外延制备得到了柔性自支撑铁磁性薄膜。本发明的方法步骤简单,易于在云母衬底上实现大面积生长制备。使用氟金云母片作为柔性衬底,将铁磁性金属薄膜外延生长在氟金云母衬底上,衬底与薄膜之间只存在弱的范德瓦尔斯相互作用,晶格失配对单晶薄膜质量的影响大大降低,能得到高质量的单晶铁磁性金属薄膜。
以上所述的具体实施例,对本发明的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明,所应理解的是,以上所述仅为本发明的具体实施例而已,并不用于限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内,所做的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (6)
1.一种基于范德瓦尔斯外延制备柔性铁磁性金属薄膜的方法,其特征在于,包括:
解理氟金云母,得到氟金云母衬底,其中,所述氟金云母衬底包括F-Mica(001),所述氟金云母衬底的新鲜解理面用于外延生长;
将所述氟金云母衬底置于磁控溅射仪的沉积室内;
采用射频磁控溅射方式将金属元素沉积到所述新鲜解理面上,其中,射频磁控溅射时所述沉积室内温度为600~700℃。
2.根据权利要求1所述的基于范德瓦尔斯外延制备柔性铁磁性金属薄膜的方法,其特征在于,所述解理氟金云母采用机械剥离的方法,以保证所述外延生长的顺利进行。
3.根据权利要求1所述的基于范德瓦尔斯外延制备柔性铁磁性金属薄膜的方法,其特征在于,所述采用射频磁控溅射方式将金属元素沉积到所述新鲜解理面上之前,还包括将所述氟金云母衬底加热至预设温度。
4.根据权利要求1所述的基于范德瓦尔斯外延制备柔性铁磁性金属薄膜的方法,其特征在于,所述将金属元素沉积到所述新鲜解理面上包括:
以铁磁性金属为靶材,在所述氟金云母衬底上沉积金属元素,得到铁磁性金属薄膜。
5.根据权利要求1所述的基于范德瓦尔斯外延制备柔性铁磁性金属薄膜的方法,其特征在于,所述将金属元素沉积到所述新鲜解理面上包括:
所述射频磁控溅射时在沉积室内通入氩气,所述氩气流量范围为0~100sccm。
6.根据权利要求1所述的基于范德瓦尔斯外延制备柔性铁磁性金属薄膜的方法,其特征在于,所述将金属元素沉积到所述新鲜解理面上包括:
使用高能粒子或高能脉冲辐射冲击金属靶材,以使靶材中的金属元素沉积在所述新鲜解理面上。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202110985312.2A CN113707451A (zh) | 2021-08-25 | 2021-08-25 | 基于范德瓦尔斯外延制备柔性铁磁性金属薄膜的方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202110985312.2A CN113707451A (zh) | 2021-08-25 | 2021-08-25 | 基于范德瓦尔斯外延制备柔性铁磁性金属薄膜的方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN113707451A true CN113707451A (zh) | 2021-11-26 |
Family
ID=78654895
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202110985312.2A Pending CN113707451A (zh) | 2021-08-25 | 2021-08-25 | 基于范德瓦尔斯外延制备柔性铁磁性金属薄膜的方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN113707451A (zh) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN114086134A (zh) * | 2021-10-27 | 2022-02-25 | 五邑大学 | 一种金属薄膜制备方法 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20070044832A1 (en) * | 2005-08-25 | 2007-03-01 | Fritzemeier Leslie G | Photovoltaic template |
CN108118303A (zh) * | 2017-12-13 | 2018-06-05 | 深圳大学 | 一种薄膜及其制备方法 |
CN110335809A (zh) * | 2019-07-03 | 2019-10-15 | 电子科技大学 | 一种在云母衬底上生长单晶γ相硒化铟薄膜的方法 |
CN111162147A (zh) * | 2020-02-03 | 2020-05-15 | 苏州大学 | 一种应用于石墨烯上的柔性GaN基MIS器件及其制备方法 |
CN111334856A (zh) * | 2020-02-18 | 2020-06-26 | 浙江大学 | 用等离子体辅助分子束外延以准范德华外延生长高质量ZnO单晶薄膜的方法 |
-
2021
- 2021-08-25 CN CN202110985312.2A patent/CN113707451A/zh active Pending
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20070044832A1 (en) * | 2005-08-25 | 2007-03-01 | Fritzemeier Leslie G | Photovoltaic template |
CN108118303A (zh) * | 2017-12-13 | 2018-06-05 | 深圳大学 | 一种薄膜及其制备方法 |
CN110335809A (zh) * | 2019-07-03 | 2019-10-15 | 电子科技大学 | 一种在云母衬底上生长单晶γ相硒化铟薄膜的方法 |
CN111162147A (zh) * | 2020-02-03 | 2020-05-15 | 苏州大学 | 一种应用于石墨烯上的柔性GaN基MIS器件及其制备方法 |
CN111334856A (zh) * | 2020-02-18 | 2020-06-26 | 浙江大学 | 用等离子体辅助分子束外延以准范德华外延生长高质量ZnO单晶薄膜的方法 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN114086134A (zh) * | 2021-10-27 | 2022-02-25 | 五邑大学 | 一种金属薄膜制备方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0669412A1 (en) | Aluminim nitride thin film substrate and process for producing same | |
Oliveira et al. | High textured AlN thin films grown by RF magnetron sputtering; composition, structure, morphology and hardness | |
García-Gancedo et al. | Room-temperature remote-plasma sputtering of c-axis oriented zinc oxide thin films | |
Nistor et al. | Growth and characterization of a-axis textured ZnO thin films | |
CN109811307A (zh) | 一种二维材料纳米带或微米带的制备方法 | |
CN111809154B (zh) | 一种制备高质量硅基氮化铝模板的方法 | |
CN113707451A (zh) | 基于范德瓦尔斯外延制备柔性铁磁性金属薄膜的方法 | |
CN112921297A (zh) | 一种铁磁二维材料Fe3GeTe2的CVD制备方法 | |
Oh et al. | Innovative Infrared-pulsed laser assisted RF sputtered β-Ga2O3 thin film at low temperature process | |
Moulzolf et al. | Properties of ZrO 2 films on sapphire prepared by electron cyclotron resonance oxygen-plasma-assisted deposition | |
JP3198691B2 (ja) | 酸化亜鉛圧電結晶膜 | |
Wessler et al. | Textured ZnO thin films on (0001) sapphire produced by chemical solution deposition | |
WO2012026599A1 (ja) | ZnO膜の製造方法、透明導電膜の製造方法、ZnO膜、及び透明導電膜 | |
JPH0280562A (ja) | 鉄ガーネット層の製造方法、光導波路およびインテグレーテッドオプトエレクトロニクス素子 | |
JPH09256139A (ja) | 酸化亜鉛膜の製造方法 | |
JPH02129361A (ja) | 二酸化クロム薄膜の形成方法 | |
JP4055939B2 (ja) | LiNbO3薄膜形成方法 | |
Cardenas-Valencia et al. | Single-crystalline AlN growth on sapphire using physical vapor deposition | |
CN114086134A (zh) | 一种金属薄膜制备方法 | |
JP7556197B2 (ja) | 積層膜及びその製造方法 | |
JP7569527B2 (ja) | 積層体、単結晶ダイヤモンド基板及びその製造方法 | |
CN117568926B (zh) | 金刚石衬底及其生长方法、金刚石外延层的生长方法 | |
CN114775043B (zh) | 提高薄膜厚度均匀性的制备方法 | |
CN108085742A (zh) | 形成过渡金属二硫属化物(tmdc)材料层的方法 | |
JP3215674B2 (ja) | イオンビームを用いた酸化物基板の表面前処理方法及びそれを利用した窒化物薄膜形成方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination |