CN113671348A - 一种电路板的测试方法、装置、设备、系统及存储介质 - Google Patents

一种电路板的测试方法、装置、设备、系统及存储介质 Download PDF

Info

Publication number
CN113671348A
CN113671348A CN202110947801.9A CN202110947801A CN113671348A CN 113671348 A CN113671348 A CN 113671348A CN 202110947801 A CN202110947801 A CN 202110947801A CN 113671348 A CN113671348 A CN 113671348A
Authority
CN
China
Prior art keywords
test
circuit board
tested
instruction
chip microcomputer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN202110947801.9A
Other languages
English (en)
Inventor
冯消冰
吴成杰
姚冬东
张俊
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Beijing Bo Tsing Technology Co Ltd
Original Assignee
Beijing Bo Tsing Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Beijing Bo Tsing Technology Co Ltd filed Critical Beijing Bo Tsing Technology Co Ltd
Priority to CN202110947801.9A priority Critical patent/CN113671348A/zh
Publication of CN113671348A publication Critical patent/CN113671348A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2834Automated test systems [ATE]; using microprocessors or computers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2836Fault-finding or characterising
    • G01R31/2843In-circuit-testing
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2836Fault-finding or characterising
    • G01R31/2846Fault-finding or characterising using hard- or software simulation or using knowledge-based systems, e.g. expert systems, artificial intelligence or interactive algorithms
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/40Testing power supplies

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Artificial Intelligence (AREA)
  • Evolutionary Computation (AREA)
  • Medical Informatics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

本发明公开了一种电路板的测试方法、装置、设备、系统及存储介质,包括:接收用户针对待测电路板输入的测试指令,测试指令包括语音测试指令以及按键测试指令;根据测试指令确定与待测电路板对应的测试类型,测试类型包括电源测试以及功能测试;通过与测试类型匹配的至少一个单片机,与待测电路板进行数据交互,得到与待测电路板对应的测试结果,并将测试结果发送至显示屏,以使显示屏将测试结果展示给用户。本发明实施例的技术方案可以实现对电路板测试过程的自动化,降低测试人员对电路板的测试难度。

Description

一种电路板的测试方法、装置、设备、系统及存储介质
技术领域
本发明实施例涉及电子产品技术领域,尤其涉及一种电路板的测试方法、装置、设备、系统及存储介质。
背景技术
目前,在电子产品批量生产的过程中,有一个必要的环节是电路板测试环节。传统的测试方法中通常都是人工借助辅助测试工具(例如万用表、示波器以及电子负载仪等仪器仪表)对电路板进行测试。
为了提高对电路板的测试效率,很多厂家都对辅助测试工具进行了数字化地改进,由此简化测试工具的操作流程。但是,人工借助改进后的辅助测试工具对电路板测试时,仍然需要消耗较多的时间成本以及人力成本;其次,现有的测试方法中,测试人员根据辅助测试工具对电路板采集的数据判断电路板的性能时,需要具备专业的电子背景知识,测试难度较高。
发明内容
本发明实施例提供一种电路板的测试方法、装置、设备、系统及存储介质,可以实现对电路板测试过程的自动化,降低测试人员对电路板的测试难度。
第一方面,本发明实施例提供了一种电路板的测试方法,所述方法包括:
接收用户针对待测电路板输入的测试指令,所述测试指令包括语音测试指令以及按键测试指令;
根据所述测试指令确定与待测电路板对应的测试类型,所述测试类型包括电源测试以及功能测试;
通过与所述测试类型匹配的至少一个单片机,与所述待测电路板进行数据交互,得到与所述待测电路板对应的测试结果,并将所述测试结果发送至显示屏,以使所述显示屏将所述测试结果展示给用户。
第二方面,本发明实施例还提供了一种电路板的测试装置,该装置包括:
指令接收模块,用于接收用户针对待测电路板输入的测试指令,所述测试指令包括语音测试指令以及按键测试指令;
类型确定模块,用于根据所述测试指令确定与待测电路板对应的测试类型,所述测试类型包括电源测试以及功能测试;
测试结果展示模块,用于通过与所述测试类型匹配的至少一个单片机,与所述待测电路板进行数据交互,得到与所述待测电路板对应的测试结果,并将所述测试结果发送至显示屏,以使所述显示屏将所述测试结果展示给用户。
第三方面,本发明实施例还提供了一种计算机设备,该设备包括:
一个或多个处理器;
存储装置,用于存储一个或多个程序;
当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行,使得所述一个或多个处理器实现本发明任意实施例提供的一种电路板的测试方法。
第四方面,本发明实施例还提供了一种电路板的测试系统,包括本发明任意实施例提供的计算机设备,还包括:
第一单片机,所述第一单片机与所述计算机设备连接,用于对待测电路板进行电源测试;
第二单片机,所述第二单片机分别与所述第一单片机以及所述计算机设备连接,用于对待测电路板进行功能测试;
显示屏,用于将待测电路板对应的测试结果展示给用户;
语音播放设备,用于将待测电路板对应的测试结果进行播放。
第五方面,本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质,该存储介质上存储有计算机程序,该程序被处理器执行时实现本发明任意实施例提供的一种电路板的测试方法。
本发明实施例的技术方案通过接收用户针对待测电路板输入的测试指令,并根据所述测试指令确定与待测电路板对应的测试类型,然后通过与所述测试类型匹配的至少一个单片机,与所述待测电路板进行数据交互,得到与所述待测电路板对应的测试结果,并将所述测试结果发送至显示屏,以使所述显示屏将所述测试结果展示给用户的技术手段,可以实现对电路板测试过程的自动化,节省电路板测试过程所消耗的时间成本以及人力成本,降低测试人员对电路板的测试难度。
附图说明
图1是本发明实施例一中的一种电路板的测试方法的流程图;
图2是本发明实施例二中的一种电路板的测试方法的流程图;
图3是本发明实施例三中的一种电路板的测试装置的结构图;
图4是本发明实施例四中的一种计算机设备的结构示意图;
图5是本发明实施例五中的一种电路板的测试系统的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是,此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明,而非对本发明的限定。另外还需要说明的是,为了便于描述,附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。
实施例一
图1为本发明实施例一提供的一种电路板的测试方法的流程图,本实施例可适用于对电路板进行测试的情况,该方法可以由电路板的测试装置来执行,该装置可以由软件和/或硬件来实现,一般可以集成在具有数据处理功能的计算机设备中,例如,终端设备或者服务器中,具体包括如下步骤:
步骤110、接收用户针对待测电路板输入的测试指令,所述测试指令包括语音测试指令以及按键测试指令。
在本实施例中,待测电路板为等待测试的电路板,用户可以通过所述计算机设备提供的测试按键或者麦克风,输入针对所述待测电路板的测试指令。其中,如果检测到用户触发了所述测试按键,则接收到的测试指令为按键测试指令;如果检测到用户通过麦克风输入了针对待测电路板的测试类型的音频,则可以将所述音频作为语音测试指令。
在一个具体的实施例中,如果用户需要对所述待测电路板进行电源测试,则可以触发所述计算机设备上的电源测试按键,或者通过所述麦克风输入包括“电源测试”的音频;如果用户需要对所述待测电路板进行功能测试,则可以触发所述计算机设备上的功能测试按键,或者通过所述麦克风输入包括“功能测试”的音频。
其中,可选的,如果用户需要对所述待测电路板同时进行电源测试与功能测试,则可以触发所述计算机设备上的集成测试按键,所述计算机设备检测到所述集成测试按键被用户触发后,可以对所述待测电路板进行电源测试与功能测试;或者,用户还可以通过所述麦克风输入包括“电源测试和功能测试”的音频,所述计算机设备在接收到所述音频后,可以对所述待测电路板进行电源测试与功能测试。
步骤120、根据所述测试指令确定与待测电路板对应的测试类型,所述测试类型包括电源测试以及功能测试。
在此步骤中,接收到用户针对待测电路板输入的测试指令之后,如果所述测试指令为按键测试指令,则可以获取与该按键测试指令匹配的按键名称,并根据所述按键名称,确定与待测电路板对应的测试类型。
例如,假设用户通过触发电源测试按键输入了按键测试指令,则可以获取与该按键测试指令匹配的按键名称为“电源测试按键”,根据该按键名称确定的测试类型为电源测试;假设用户通过触发集成测试按键输入了按键测试指令,则可以获取与该按键测试指令匹配的按键名称为“集成测试按键”,根据该按键名称确定的测试类型为电源测试和功能测试。
在此步骤中,接收到用户针对待测电路板输入的测试指令之后,可选的,如果所述测试指令为用户输入的音频,则可以先将所述音频转换为数字信号,然后根据所述数字信号识别所述音频的语音特征,并根据所述语音特征确定与待测电路板对应的测试类型。
步骤130、通过与所述测试类型匹配的至少一个单片机,与所述待测电路板进行数据交互,得到与所述待测电路板对应的测试结果,并将所述测试结果发送至显示屏,以使所述显示屏将所述测试结果展示给用户。
在本实施例中,可选的,如果与待测电路板对应的测试类型为电源测试,则可以通过与电源测试匹配的单片机,与待测电路板进行数据交互,得到待测电路板的电源信号,并通过所述单片机将所述电源信号发送至显示屏,通过显示屏将所述电源信号展示给用户,以完成对待测电路板的电源测试。
在本实施例中,可选的,如果与待测电路板对应的测试类型为功能测试,则可以通过与功能测试匹配的单片机,与待测电路板进行数据交互,得到待测电路板在一个或多个功能操作指令下的执行结果,并通过所述单片机将所述执行结果发送至显示屏,通过显示屏将所述执行结果展示给用户,以完成对待测电路板的功能测试。
在本实施例的一个实施方式中,如果所述测试类型为电源测试,通过与所述测试类型匹配的至少一个单片机,与所述待测电路板进行数据交互,得到与所述待测电路板对应的测试结果,并将所述测试结果发送至显示屏,以使所述显示屏将所述测试结果展示给用户,具体包括:
步骤131、通过第一单片机采集所述待测电路板的电压数据,并根据所述电压数据判断与所述待测电路板对应的电源测试结果是否正常,若是,执行步骤132,若否,执行步骤133;
在本实施例中,如果所述测试类型为电源测试,则可以向第一单片机发送工作指令,第一单片机收到工作指令后可以判断工作状态是否为空闲,如果是,则采集所述待测电路板的电压数据,如果否,则可以向显示屏发送指示灯闪烁信号,显示屏根据所述指示灯闪烁信号控制指示灯进行闪烁,直至第一单片机的工作状态为空闲状态为止。
其中,第一单片机可以与待测电路板通过测试探针相连,用于采集待测电路板的电压数据。第一单片机采集到所述电压数据之后,可以判断所述电压数据是否在预设的电压区间之内,如果是,则可以确定待测电路板的电源测试结果正常;如果否,则可以确定待测电路板的电源测试结果不正常。
步骤132、通过所述第一单片机将所述电压数据,以及指示灯点亮信号发送至显示屏,以使所述显示屏将所述电压数据展示给用户,并将指示灯进行点亮;
在此步骤中,如果待测电路板的电源测试结果正常,第一单片机可以将所述电压数据发送至显示屏,通过显示屏将电压数据展示给用户;其次,第一单片机还可以将指示灯点亮信号发送至显示屏,显示屏接收到指示灯点亮信号后,对显示屏上的指示灯进行点亮。这样设置的好处在于,用户只需通过查看指示灯的点亮状态,即可了解待测电路板的电源测试结果是否正常,由此可以减少用户对电源测试结果的判断时间。
步骤133、通过所述第一单片机将与所述电源测试结果对应的错误状态码发送至显示屏。
在此步骤中,如果待测电路板的电源测试结果不正常,第一单片机将与所述电源测试结果对应的错误状态码发送至显示屏,显示屏将所述错误状态码展示给用户,以对用户进行故障提示。这样设置的好处在于,便于用户快速根据错误状态码,对待测电路板中发生的故障进行修复。
在本实施例的另一个实施方式中,如果所述测试类型为功能测试,通过与所述测试类型匹配的至少一个单片机,与所述待测电路板进行数据交互,得到与所述待测电路板对应的测试结果,并将所述测试结果发送至显示屏,以使所述显示屏将所述测试结果展示给用户,包括:
步骤134、通过第二单片机向所述待测电路板发送功能指令集,所述功能指令集中包括多个操作指令;
在此步骤中,可选的,功能指令集中的操作指令可以为计算指令以及运动指令等。其中,第二单片机可以向待测电路板发送多个计算指令,以使待测电路板根据各所述计算指令进行计算;第二单片机还可以向待测电路板发送多个运动指令,所述运动指令中可以包括姿态传感器数据以及预设的开关量(0或者1),以使待测电路板根据各所述运动指令中的开关量以及姿态传感器数据进行运动。
步骤135、通过所述第二单片机接收所述待测电路板针对所述功能指令集,反馈的操作结果数据,并根据所述操作结果数据判断与所述待测电路板对应的功能测试结果是否正常,若是,执行步骤136,若否,执行步骤137;
在此步骤中,第二单片机可以将待测电路板针对各计算指令反馈的计算结果,与各计算指令对应的标准计算结果进行对比,如果一致,则确定所述待测电路板对应的计算功能正常;第二单片机还可以将待测电路板针对各运动指令反馈的运动结果,与各运动指令中的姿态传感器数据进行对比,并将待测电路板针对各运动指令反馈的开关量,与各运动指令中包括的预设开关量进行对比,如果对比结果均一致,则确定所述待测电路板对应的运动功能正常。
步骤136、通过所述第二单片机将所述操作结果数据发送至所述第一单片机,并通过所述第一单片将所述操作结果数据,以及指示灯点亮信号发送至显示屏,以使所述显示屏将所述操作结果数据展示给用户,并将指示灯进行点亮;
在此步骤中,可选的,如果待测电路板对应的计算功能与运动功能均正常,第二单片机可以将待测电路板反馈的操作结果数据发送至所述第一单片机,由第一单片机将所述操作结果数据以及指示灯点亮信号发送至显示屏。
步骤137、通过所述第二单片机将与所述功能测试结果对应的错误状态码发送至第一单片机,并通过所述第一单片将所述错误状态码发送至显示屏。
在此步骤中,可选的,如果待测电路板对应的计算功能或者运动功能不正常,第二单片机可以将与计算功能或者运动功能对应的错误状态码发送至第一单片机,由第一单片机将所述错误状态码发送至显示屏。
在本实施例中,第二单片机根据所述操作结果数据判断与所述待测电路板对应的功能测试结果是否正常之后,可以向第一单片机发送工作状态获取指令,第一单片机收到该指令后,可以将对应的工作状态发送至第二单片机。
如果第一单片机的工作状态为空闲状态,第二单片机可以根据功能测试结果的正常与否,执行步骤136或者步骤137;如果第一单片机的工作状态不为空闲状态,第一单片机可以向显示屏发送指示灯闪烁信号,显示屏根据所述指示灯闪烁信号控制指示灯进行闪烁,直至第一单片机的工作状态为空闲状态为止。
本发明实施例的技术方案通过接收用户针对待测电路板输入的测试指令,并根据所述测试指令确定与待测电路板对应的测试类型,然后通过与所述测试类型匹配的至少一个单片机,与所述待测电路板进行数据交互,得到与所述待测电路板对应的测试结果,并将所述测试结果发送至显示屏,以使所述显示屏将所述测试结果展示给用户的技术手段,可以实现对电路板测试过程的自动化,节省电路板测试过程所消耗的时间成本以及人力成本,降低测试人员对电路板的测试难度。
实施例二
本实施例是对上述实施例的进一步细化,与上述实施例相同或相应的术语解释,本实施例不再赘述。图2为本实施例二提供的一种电路板的测试方法的流程图,在本实施例中,本实施例的技术方案可以与上述实施例的方案中的一种或者多种方法进行组合,如图2所示,本实施例提供的方法还可以包括:
步骤210、接收用户针对待测电路板输入的测试指令,所述测试指令包括语音测试指令以及按键测试指令。
步骤220、根据所述测试指令确定与待测电路板对应的测试类型,所述测试类型包括电源测试以及功能测试。
在本实施例的一个实施方式中,如果所述测试指令为语音测试指令,根据所述测试指令确定与待测电路板对应的测试类型,包括:将所述语音测试指令输入至语音识别模型中,获取所述语音识别模型输出的文本测试指令;根据所述文本测试指令确定与待测电路板对应的测试类型。其中,所述语音识别模型,使用多个标准语音测试指令作为训练样本训练得到。
在本实施例中,所述标准语音测试指令可以为规范的语音测试指令,例如包括“开启电源测试”,以及“开启功能测试”的音频。在使用多个标准语音测试指令作为训练样本训练得到语音识别模型之后,语音识别模型可以将用户输入的语音测试指令,转换为书面化的文本测试指令。例如,假设用户输入的语音测试指令为包括“采集电源信号”的音频,将该语音测试指令输入至语音识别模型中后,语音识别模型输出的文本测试指令可以为“电源测试”。
在本实施例中,通过将语音测试指令输入至语音识别模型中,可以快速地获取用户的测试需求,提高电路板的测试效率。
步骤230、通过与所述测试类型匹配的至少一个单片机,与所述待测电路板进行数据交互,得到与所述待测电路板对应的测试结果,并将所述测试结果发送至显示屏,以使所述显示屏将所述测试结果展示给用户。
步骤240、如果在预设时间间隔内接收到用户输入的结果播放指令,则通过所述第一单片机将与所述测试结果对应的音频代码发送至语音播放设备。
在本实施例中,用户可以通过所述计算机设备提供的播放按键或者麦克风,输入结果播放指令。在一个具体的实施例中,如果用户需要播报待测电路板的电源测试结果,则可以触发所述计算机设备上的电源测试结果播放按键,或者通过所述麦克风输入包括“播放电源测试结果”的音频;如果用户需要播报待测电路板的功能测试结果,则可以触发所述计算机设备上的功能测试结果播放按键,或者通过所述麦克风输入包括“播放功能测试结果”的音频。其中,可选的,如果用户需要同时播报电源测试结果与功能测试结果,则可以通过所述麦克风输入包括“播放电源测试结果和功能测试结果”的音频。
在此步骤中,如果结果播放指令是关于电源测试结果的播放指令,第一单片机可以根据电源测试结果的正常与否,将对应的音频代码发送至语音播放设备。例如,假设待测电路板的电源测试结果正常,语音播放设备根据所述音频代码播放包括“电源测试结果正常”的音频。
在此步骤中,如果结果播放指令是关于功能测试结果的播放指令,第二单片机可以将预设的开关量发送至第一单片机,第一单片机接收到所述开关量之后,根据功能测试结果的正常与否,将对应的音频代码发送至语音播放设备。
步骤250、通过所述语音播放设备根据所述音频代码,对所述测试结果进行播放。
在本实施例的一个实施方式中,在将所述语音测试指令输入至语音识别模型之后,还包括:如果所述语音识别模型在设定时长内没有输出文本测试指令,则向所述显示屏发送语音识别失败的提示信息;通过所述显示屏将所述语音识别失败的提示信息展示给用户,以使用户输入新的测试指令;如果根据所述新的测试指令确定出与待测电路板对应的测试类型,则使用所述测试指令,以及所述新的测试指令,对所述语音识别模型进行训练。
在本实施例中,当用户输入的语音测试指令不清楚,或者语音测试指令中不包括与电路板测试相关的词汇时,语音识别模型可能识别不到与所述语音测试指令对应的文本测试指令。在这种情况下,通过向显示屏发送语音识别失败的提示信息,可以使用户再次通过计算机设备提供的测试按键或者麦克风,输入新的测试指令。如果根据所述新的测试指令确定出与待测电路板对应的测试类型,则可以使用所述测试指令,以及所述新的测试指令,对所述语音识别模型进行训练,以完成对语音识别模型的更新。这样设置的好处在于,可以实现语音识别模型的自学习,保证语音识别结果正确性。
本发明实施例的技术方案通过接收用户针对待测电路板输入的测试指令,并根据所述测试指令确定与待测电路板对应的测试类型,然后通过与所述测试类型匹配的至少一个单片机,与所述待测电路板进行数据交互,得到与所述待测电路板对应的测试结果,并将所述测试结果发送至显示屏,以使所述显示屏将所述测试结果展示给用户,如果在预设时间间隔内接收到用户输入的结果播放指令,则通过所述第一单片机将与所述测试结果对应的音频代码发送至语音播放设备,通过所述语音播放设备根据所述音频代码,对所述测试结果进行播放的技术手段,可以实现对电路板测试过程的自动化,节省电路板测试过程所消耗的时间成本以及人力成本,降低测试人员对电路板的测试难度。
实施例三
图3为本发明实施例三提供的一种电路板的测试装置的结构图,该装置包括:指令接收模块310、类型确定模块320和测试结果展示模块330。
其中,指令接收模块310,用于接收用户针对待测电路板输入的测试指令,所述测试指令包括语音测试指令以及按键测试指令;
类型确定模块320,用于根据所述测试指令确定与待测电路板对应的测试类型,所述测试类型包括电源测试以及功能测试;
测试结果展示模块330,用于通过与所述测试类型匹配的至少一个单片机,与所述待测电路板进行数据交互,得到与所述待测电路板对应的测试结果,并将所述测试结果发送至显示屏,以使所述显示屏将所述测试结果展示给用户。
本发明实施例的技术方案通过接收用户针对待测电路板输入的测试指令,并根据所述测试指令确定与待测电路板对应的测试类型,然后通过与所述测试类型匹配的至少一个单片机,与所述待测电路板进行数据交互,得到与所述待测电路板对应的测试结果,并将所述测试结果发送至显示屏,以使所述显示屏将所述测试结果展示给用户的技术手段,可以实现对电路板测试过程的自动化,节省电路板测试过程所消耗的时间成本以及人力成本,降低测试人员对电路板的测试难度。
在上述各实施例的基础上,类型确定模块320,可以包括:
指令输入单元,用于将所述语音测试指令输入至语音识别模型中,获取所述语音识别模型输出的文本测试指令;
测试类型确定单元,用于根据所述文本测试指令确定与待测电路板对应的测试类型;
其中,所述语音识别模型,使用多个标准语音测试指令作为训练样本训练得到。
测试结果展示模块330,可以包括:
电压数据采集单元,用于通过第一单片机采集所述待测电路板的电压数据,并根据所述电压数据判断与所述待测电路板对应的电源测试结果是否正常;
电压数据发送单元,用于与所述待测电路板对应的电源测试结果正常时,通过所述第一单片机将所述电压数据,以及指示灯点亮信号发送至显示屏,以使所述显示屏将所述电压数据展示给用户,并将指示灯进行点亮;
第一状态码发送单元,用于与所述待测电路板对应的电源测试结果不正常时,通过所述第一单片机将与所述电源测试结果对应的错误状态码发送至显示屏;
功能指令集发送单元,用于通过第二单片机向所述待测电路板发送功能指令集,所述功能指令集中包括多个操作指令;
结果数据接收单元,用于通过所述第二单片机接收所述待测电路板针对所述功能指令集,反馈的操作结果数据,并根据所述操作结果数据判断与所述待测电路板对应的功能测试结果是否正常;
结果数据发送单元,用于与所述待测电路板对应的功能测试结果正常时,通过所述第二单片机将所述操作结果数据发送至所述第一单片机,并通过所述第一单片将所述操作结果数据,以及指示灯点亮信号发送至显示屏,以使所述显示屏将所述操作结果数据展示给用户,并将指示灯进行点亮;
第二状态码发送单元,用于与所述待测电路板对应的功能测试结果不正常时,通过所述第二单片机将与所述功能测试结果对应的错误状态码发送至第一单片机,并通过所述第一单片将所述错误状态码发送至显示屏;
音频代码发送单元,用于在将所述测试结果发送至显示屏,以使所述显示屏将所述测试结果展示给用户之后,如果在预设时间间隔内接收到用户输入的结果播放指令,则通过所述第一单片机将与所述测试结果对应的音频代码发送至语音播放设备;
测试结果播放单元,用于通过所述语音播放设备根据所述音频代码,对所述测试结果进行播放。
所述电路板的测试装置,还包括:
提示信息发送模块,用于指令输入单元在将所述语音测试指令输入至语音识别模型之后,如果所述语音识别模型在设定时长内没有输出文本测试指令,则向所述显示屏发送语音识别失败的提示信息;
提示信息展示模块,用于通过所述显示屏将所述语音识别失败的提示信息展示给用户,以使用户输入新的测试指令;
模型训练模块,用于如果根据所述新的测试指令确定出与待测电路板对应的测试类型,则使用所述测试指令,以及所述新的测试指令,对所述语音识别模型进行训练。
本发明实施例所提供的电路板的测试装置可执行本发明任意实施例所提供的电路板的测试方法,具备执行方法相应的功能模块和有益效果。
实施例四
图4为本发明实施例四提供的一种计算机设备的结构示意图,如图4所示,该计算机设备包括处理器410、存储器420、输入装置430和输出装置440;计算机设备中处理器410的数量可以是一个或多个,图4中以一个处理器410为例;计算机设备中的处理器410、存储器420、输入装置430和输出装置440可以通过总线或其他方式连接,图4中以通过总线连接为例。存储器420作为一种计算机可读存储介质,可用于存储软件程序、计算机可执行程序以及模块,如本发明任意实施例中的一种电路板的测试方法对应的程序指令/模块(例如,一种电路板的测试装置中的指令接收模块310、类型确定模块320和测试结果展示模块330)。处理器410通过运行存储在存储器420中的软件程序、指令以及模块,从而执行计算机设备的各种功能应用以及数据处理,即实现上述的一种电路板的测试方法。也即,该程序被处理器执行时实现:
接收用户针对待测电路板输入的测试指令,所述测试指令包括语音测试指令以及按键测试指令;
根据所述测试指令确定与待测电路板对应的测试类型,所述测试类型包括电源测试以及功能测试;
通过与所述测试类型匹配的至少一个单片机,与所述待测电路板进行数据交互,得到与所述待测电路板对应的测试结果,并将所述测试结果发送至显示屏,以使所述显示屏将所述测试结果展示给用户。
存储器420可主要包括存储程序区和存储数据区,其中,存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需的应用程序;存储数据区可存储根据终端的使用所创建的数据等。此外,存储器420可以包括高速随机存取存储器,还可以包括非易失性存储器,例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非易失性固态存储器件。在一些实例中,存储器420可进一步包括相对于处理器410远程设置的存储器,这些远程存储器可以通过网络连接至计算机设备。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。输入装置430可用于接收输入的数字或字符信息,以及产生与计算机设备的用户设置以及功能控制有关的键信号输入,可以包括键盘和鼠标等。输出装置440可包括显示屏等显示设备。
实施例五
本发明实施例五还提供一种电路板的测试系统,包括本发明任意实施例提供的计算机设备501、第一单片机502、第二单片机503、显示屏504和语音播放设备505。
其中,计算机设备501,用于接收用户针对待测电路板506输入的测试指令,所述测试指令包括语音测试指令以及按键测试指令,根据所述测试指令确定与待测电路板506对应的测试类型,通过第一单片机502对待测电路板506进行电源测试;通过第二单片机503对待测电路板506进行功能测试;
第一单片机502与所述计算机设备501连接,用于对待测电路板506进行电源测试;
第二单片机503分别与第一单片机502以及计算机设备501连接,用于对待测电路板506进行功能测试;
显示屏504,与第一单片机502连接,用于与将待测电路板506对应的测试结果展示给用户;
语音播放设备505,与第一单片机502连接,用于将待测电路板506对应的测试结果进行播放。
实施例六
本发明实施例六还提供一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,该程序被处理器执行时实现本发明任意实施例所述方法。当然,本发明实施例所提供的一种计算机可读存储介质,其可以执行本发明任意实施例所提供的一种电路板的测试方法中的相关操作。也即,该程序被处理器执行时实现:
接收用户针对待测电路板输入的测试指令,所述测试指令包括语音测试指令以及按键测试指令;
根据所述测试指令确定与待测电路板对应的测试类型,所述测试类型包括电源测试以及功能测试;
通过与所述测试类型匹配的至少一个单片机,与所述待测电路板进行数据交互,得到与所述待测电路板对应的测试结果,并将所述测试结果发送至显示屏,以使所述显示屏将所述测试结果展示给用户。
通过以上关于实施方式的描述,所属领域的技术人员可以清楚地了解到,本发明可借助软件及必需的通用硬件来实现,当然也可以通过硬件实现,但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解,本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品可以存储在计算机可读存储介质中,如计算机的软盘、只读存储器(Read-Only Memory,ROM)、随机存取存储器(RandomAccess Memory,RAM)、闪存(FLASH)、硬盘或光盘等,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机,服务器,或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。
值得注意的是,上述一种电路板的测试装置的实施例中,所包括的各个单元和模块只是按照功能逻辑进行划分的,但并不局限于上述的划分,只要能够实现相应的功能即可;另外,各功能单元的具体名称也只是为了便于相互区分,并不用于限制本发明的保护范围。
注意,上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解,本发明不限于这里所述的特定实施例,对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此,虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明,但是本发明不仅仅限于以上实施例,在不脱离本发明构思的情况下,还可以包括更多其他等效实施例,而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (10)

1.一种电路板的测试方法,其特征在于,包括:
接收用户针对待测电路板输入的测试指令,所述测试指令包括语音测试指令以及按键测试指令;
根据所述测试指令确定与待测电路板对应的测试类型,所述测试类型包括电源测试以及功能测试;
通过与所述测试类型匹配的至少一个单片机,与所述待测电路板进行数据交互,得到与所述待测电路板对应的测试结果,并将所述测试结果发送至显示屏,以使所述显示屏将所述测试结果展示给用户。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,如果所述测试类型为电源测试,通过与所述测试类型匹配的至少一个单片机,与所述待测电路板进行数据交互,得到与所述待测电路板对应的测试结果,并将所述测试结果发送至显示屏,以使所述显示屏将所述测试结果展示给用户,包括:
通过第一单片机采集所述待测电路板的电压数据,并根据所述电压数据判断与所述待测电路板对应的电源测试结果是否正常;
若是,通过所述第一单片机将所述电压数据,以及指示灯点亮信号发送至显示屏,以使所述显示屏将所述电压数据展示给用户,并将指示灯进行点亮;
若否,通过所述第一单片机将与所述电源测试结果对应的错误状态码发送至显示屏。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,如果所述测试类型为功能测试,通过与所述测试类型匹配的至少一个单片机,与所述待测电路板进行数据交互,得到与所述待测电路板对应的测试结果,并将所述测试结果发送至显示屏,以使所述显示屏将所述测试结果展示给用户,包括:
通过第二单片机向所述待测电路板发送功能指令集,所述功能指令集中包括多个操作指令;
通过所述第二单片机接收所述待测电路板针对所述功能指令集,反馈的操作结果数据,并根据所述操作结果数据判断与所述待测电路板对应的功能测试结果是否正常;
若是,通过所述第二单片机将所述操作结果数据发送至所述第一单片机,并通过所述第一单片将所述操作结果数据,以及指示灯点亮信号发送至显示屏,以使所述显示屏将所述操作结果数据展示给用户,并将指示灯进行点亮;
若否,通过所述第二单片机将与所述功能测试结果对应的错误状态码发送至第一单片机,并通过所述第一单片将所述错误状态码发送至显示屏。
4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,在将所述测试结果发送至显示屏,以使所述显示屏将所述测试结果展示给用户之后,还包括:
如果在预设时间间隔内接收到用户输入的结果播放指令,则通过所述第一单片机将与所述测试结果对应的音频代码发送至语音播放设备;
通过所述语音播放设备根据所述音频代码,对所述测试结果进行播放。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,如果所述测试指令为语音测试指令,根据所述测试指令确定与待测电路板对应的测试类型,包括:
将所述语音测试指令输入至语音识别模型中,获取所述语音识别模型输出的文本测试指令;
根据所述文本测试指令确定与待测电路板对应的测试类型;
其中,所述语音识别模型,使用多个标准语音测试指令作为训练样本训练得到。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,在将所述语音测试指令输入至语音识别模型之后,还包括:
如果所述语音识别模型在设定时长内没有输出文本测试指令,则向所述显示屏发送语音识别失败的提示信息;
通过所述显示屏将所述语音识别失败的提示信息展示给用户,以使用户输入新的测试指令;
如果根据所述新的测试指令确定出与待测电路板对应的测试类型,则使用所述测试指令,以及所述新的测试指令,对所述语音识别模型进行训练。
7.一种电路板的测试装置,其特征在于,包括:
指令接收模块,用于接收用户针对待测电路板输入的测试指令,所述测试指令包括语音测试指令以及按键测试指令;
类型确定模块,用于根据所述测试指令确定与待测电路板对应的测试类型,所述测试类型包括电源测试以及功能测试;
测试结果展示模块,用于通过与所述测试类型匹配的至少一个单片机,与所述待测电路板进行数据交互,得到与所述待测电路板对应的测试结果,并将所述测试结果发送至显示屏,以使所述显示屏将所述测试结果展示给用户。
8.一种计算机设备,包括:
一个或多个处理器;
存储装置,用于存储一个或多个程序;
当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行,使得所述一个或多个处理器执行所述程序时实现如权利要求1-6中任一所述的电路板的测试方法。
9.一种电路板的测试系统,包括如权利要求8所述的计算机设备,还包括:
第一单片机,所述第一单片机与所述计算机设备连接,用于对待测电路板进行电源测试;
第二单片机,所述第二单片机分别与所述第一单片机以及所述计算机设备连接,用于对待测电路板进行功能测试;
显示屏,用于将待测电路板对应的测试结果展示给用户;
语音播放设备,用于将待测电路板对应的测试结果进行播放。
10.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,该程序被处理器执行时实现如权利要求1-6中任一所述的电路板的测试方法。
CN202110947801.9A 2021-08-18 2021-08-18 一种电路板的测试方法、装置、设备、系统及存储介质 Pending CN113671348A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202110947801.9A CN113671348A (zh) 2021-08-18 2021-08-18 一种电路板的测试方法、装置、设备、系统及存储介质

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202110947801.9A CN113671348A (zh) 2021-08-18 2021-08-18 一种电路板的测试方法、装置、设备、系统及存储介质

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN113671348A true CN113671348A (zh) 2021-11-19

Family

ID=78543521

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202110947801.9A Pending CN113671348A (zh) 2021-08-18 2021-08-18 一种电路板的测试方法、装置、设备、系统及存储介质

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN113671348A (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN115078968A (zh) * 2022-06-15 2022-09-20 上海类比半导体技术有限公司 芯片测试电路、自测试芯片及芯片测试系统

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104777416A (zh) * 2015-04-30 2015-07-15 北京星河康帝思科技开发股份有限公司 用于电路板的测试方法和测试仪
CN106970318A (zh) * 2017-04-25 2017-07-21 金卡智能集团股份有限公司 计量仪表电路板智能测试系统及智能测试方法
CN108289218A (zh) * 2017-12-28 2018-07-17 深圳市九洲电器有限公司 一种音视频测试方法和系统及音视频测试设备
CN109309601A (zh) * 2018-10-18 2019-02-05 北京新能源汽车股份有限公司 一种网关测试系统及方法
CN110418358A (zh) * 2019-07-10 2019-11-05 珠海荣邦智能科技有限公司 电路板的蓝牙测试方法及装置
CN110581915A (zh) * 2019-08-30 2019-12-17 Oppo广东移动通信有限公司 稳定性测试方法、装置、存储介质及电子设备
CN110988528A (zh) * 2019-11-25 2020-04-10 深圳市共进电子股份有限公司 一种产品信号完整性的测试方法、装置及系统
US20200143151A1 (en) * 2018-11-01 2020-05-07 Boe Technology Group Co., Ltd. Interactive test method, device and system
CN113268416A (zh) * 2021-05-17 2021-08-17 深圳Tcl新技术有限公司 一种应用程序的测试方法、装置、存储介质及终端

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104777416A (zh) * 2015-04-30 2015-07-15 北京星河康帝思科技开发股份有限公司 用于电路板的测试方法和测试仪
CN106970318A (zh) * 2017-04-25 2017-07-21 金卡智能集团股份有限公司 计量仪表电路板智能测试系统及智能测试方法
CN108289218A (zh) * 2017-12-28 2018-07-17 深圳市九洲电器有限公司 一种音视频测试方法和系统及音视频测试设备
CN109309601A (zh) * 2018-10-18 2019-02-05 北京新能源汽车股份有限公司 一种网关测试系统及方法
US20200143151A1 (en) * 2018-11-01 2020-05-07 Boe Technology Group Co., Ltd. Interactive test method, device and system
CN110418358A (zh) * 2019-07-10 2019-11-05 珠海荣邦智能科技有限公司 电路板的蓝牙测试方法及装置
CN110581915A (zh) * 2019-08-30 2019-12-17 Oppo广东移动通信有限公司 稳定性测试方法、装置、存储介质及电子设备
CN110988528A (zh) * 2019-11-25 2020-04-10 深圳市共进电子股份有限公司 一种产品信号完整性的测试方法、装置及系统
CN113268416A (zh) * 2021-05-17 2021-08-17 深圳Tcl新技术有限公司 一种应用程序的测试方法、装置、存储介质及终端

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN115078968A (zh) * 2022-06-15 2022-09-20 上海类比半导体技术有限公司 芯片测试电路、自测试芯片及芯片测试系统

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN103869260B (zh) 一种电源测试系统及方法
CN106886003B (zh) 电动汽车电池监控模块自动测试系统及方法
CN217541952U (zh) 一种车辆仪表测试系统
CN105095083A (zh) 一种用于安卓系统中手机界面截图测试方法及装置
CN111459616B (zh) 一种测试方法、装置、设备及存储介质
CN113671348A (zh) 一种电路板的测试方法、装置、设备、系统及存储介质
CN103885097B (zh) 气象站综合测试系统
CN112180764A (zh) 一种多种故障诊断及显示功能的控制器
CN109254214B (zh) 阀基电子设备自动测试系统及方法
CN112441255B (zh) 一种飞参快取记录系统自动测试装置及方法
CN111537793B (zh) 一种移动终端的功耗测试方法及其系统
CN108319516B (zh) 一种测试系统及测试方法
CN112731030A (zh) 一种电子元器件的检测方法、装置、终端设备及存储介质
CN218788073U (zh) 电路设备测试装置
CN110988662A (zh) 一种基于fpga原型验证开发板的信号调试系统及方法
JP4893093B2 (ja) 作業指示システム、作業指示器、作業指示プログラム、および、作業指示方法
CN106771794B (zh) 多功能虚拟继电保护实验成套装置
CN107831427A (zh) 一种自动高压测试系统
CN110942618A (zh) 电子设备信号的监测系统、方法以及装置
CN112214403B (zh) 一种基于保护装置模型文件的自动测试方法、装置及系统
CN113701811B (zh) 一种设计自动测试方法、平台、存储介质和电子设备
CN216927595U (zh) 一种车载设备的自动化测试装置和系统
CN114168432B (zh) 应用程序的功耗检测方法、装置、电子设备及存储介质
CN115684891A (zh) 一种数字信号处理器验证系统和验证方法
CN114509718A (zh) 电表测试方法、装置、设备及计算机可读存储介质

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination