CN113670578A - 光性能测试线和多芯光纤阵列连接器光学测试装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了光性能测试线和多芯光纤阵列连接器光学测试装置，该光性能测试线包括主机线组件和标准线组件，主机线组件包括主机线本体，其中，主机线本体设有第一A端和第一B端，第一B端扇出N条分支尾缆，每一分支尾缆具有一路光芯；标准线组件包括标准线本体，标准线本体包括标准线主路，标准线主路设有第二A端，标准线主路以第二A端为端点拆分形成两标准线支路，每一标准线支路包含有标准线主路的N/2路光芯，两标准线支路中的一者设有第二B1端，另一者设有第二B2端，第一A端可连接第二A端，第二B1端和第二B2端可连接待测产品线；本发明能够有效解决工厂预制成端测试效率低的问题，且能够减少标准线修复及重制成本。
Description
技术领域
本发明涉及光性能测试技术领域，尤其涉及光性能测试线和多芯光纤阵列连接器光学测试装置。
背景技术
多芯光纤阵列连接器由预制高精度MT插芯和导针，弹簧等组成，广泛应用于数据中心SAN、企业/院校专网和电信中心机房设备内高光纤数超高密互联，可实现设备内部跳接和MTP面板法兰直连。多芯光纤连接，大大节省设备空间，具有柔性可拓展管理，提升光电子电路板的高稳定性安装和高耦合效率。100％工厂预制成端并使用高精度设备测试，确保即插即用的传输性能。
工厂预制成端过程中，高精度测试设备和标准线成本高，工厂往往只投入少量测试设备和标准线，甚至只有一台测试设备，如果标准线受损或者产品线型号变化，需更换测试环境下的标准线，每次切换都需要对设备和标准线进行大量繁琐的清洁工序和归零工序，因此测试效率较低。
发明内容
本发明的目的是提供光性能测试线和多芯光纤阵列连接器光学测试装置，能够有效解决工厂预制成端测试效率低的问题，且能够减少标准线修复及重制成本。
为了实现上有目的，本发明公开了一种光性能测试线，其包括主机线组件和标准线组件，所述主机线组件包括内设有N路光芯的主机线本体，其中，N为偶数，所述主机线本体沿轴向设有第一A端和第一B端，所述第一B端扇出N条分支尾缆，每一所述分支尾缆具有一路光芯；所述标准线组件包括标准线本体，所述标准线本体包括内设有N路光芯的标准线主路，所述标准线主路沿轴向设有第二A端，所述标准线主路以所述第二A端为端点沿轴向拆分形成两标准线支路，每一所述标准线支路包含有所述标准线主路的N/2路光芯，两所述标准线支路中的一者设有第二B1端，另一者设有第二B2端，所述第一A端可连接所述第二A端，所述第二B1端和第二B2端可连接待测产品线，当所述第一A端连接所述第二A端，及所述第二B1端/第二B2端连接所述待测产品线时，所述主机线本体、标准线主路、第二B1端/第二B2端所在标准线支路、待测产品线共同构成光路。
与现有技术相比，本发明的标准线主路以第二A端为端点沿轴向拆分形成两标准线支路，每一标准线支路包含有标准线主路的N/2路光芯，将两种标准线集成为一体，作为整体进行提前的加工处理，有效减少标准线修复及重制成本；另外，由于本发明具有两种标准线，能够适于同时对两个待测产品线进行测试，有效提升工厂预制成端测试效率，且当其中一个标准线支路损坏时，还能保证另一个标准线支路能够正常使用，便于维持检测。
较佳地，所述主机线组件还包括第一阵列连接器和N个连接端子，所述第一阵列连接器连接所述第一A端，每一所述分支尾缆连接一所述连接端子。
较佳地，所述标准线组件还包括第二阵列连接器、第三阵列连接器和第四阵列连接器，所述第二阵列连接器连接所述第二A端，所述第三阵列连接器连接所述第二B1端，所述第四阵列连接器连接所述第二B2端，所述第一阵列连接器和第二阵列连接器可插接以使所述第一A端连接所述第二A端。
较佳地，所述待测产品线沿轴向设有第三A端和第三B端，所述第三A端连接有第五阵列连接器，所述第三B端连接有第六阵列连接器，所述第五阵列连接器和第三阵列连接器/第四阵列连接器可插接以使所述第三A端连接所述第二B1端/第二B2端。
较佳地，所述第一阵列连接器和第二阵列连接器通过适配器进行插接，所述第五阵列连接器和第三阵列连接器/第四阵列连接器通过适配器进行插接，所述适配器具有辅助插接结构。
较佳地，所述第一阵列连接器和第二阵列连接器为具有N路光芯的阵列连接器，所述第三阵列连接器、第四阵列连接器、第五阵列连接器和第六阵列连接器为具有N/2路光芯的阵列连接器。
较佳地，所述主机线本体和标准线主路分别具有24路光芯，所述标准线支路具有12路光芯。
较佳地，所述第一阵列连接器具有长导针结构，所述第二阵列连接器具有导针架结构；所述第三阵列连接器和第四阵列连接器中的一者具有长导针结构，另一者具有导针架结构。
较佳地，所述标准线组件的光芯为扁形光芯，所述标准线组件的外表面包覆有扁形的低烟无卤型光缆护套。
相应地，本发明还公开了一种多芯光纤阵列连接器光学测试装置，其包括测试仪和如上所述的光性能测试线，所述测试仪设有光损耗计输入端口、光功率器输出端口、光开关输入端口和N个与分支尾缆一一对应的光开关输出端口，所述待测产品线接入所述光损耗计输入端口，所述光功率器输出端口和光开关输入端口通过单芯线缆连接，所述分支尾缆接入对应的光开关输出端口，所述主机线本体、标准线主路、第二B1端/第二B2端所在标准线支路、待测产品线和测试仪共同构成光回路，所述测试仪从所述光功率器输出端口发出光束并传输至所述光开关输入端口后分发至各个所述光功率器输出端口，所述测试仪检测所述光束在所述光回路的强度以获得所述待测产品线的插入损耗和回波损耗。
附图说明
图1是本发明的多芯光纤阵列连接器光学测试装置的结构图。
具体实施方式
为详细说明本发明的技术内容、构造特征、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图详予说明。
请参阅图1所示，本实施例的光性能测试线包括主机线组件10和标准线组件，主机线组件10包括内设有24路光芯的主机线本体11。主机线本体11沿轴向设有第一A端111和第一B端112，第一B端112扇出24条分支尾缆113，每一分支尾缆113具有一路光芯。具体地，第一A端111和第一B端112分别设在主机线本体11沿轴向的两端，分支尾缆113的线径为0.9mm，以降低分支尾缆113后续插接的占用空间。优选地，为了便于后续进行通道的使用区分，将24条分支尾缆113采用颜色进行区分，具体地，采用12色标准色和12色标准色带相间色环对所有分支尾缆113进行通道区分，以便于后续分线插接。
标准线组件包括标准线本体21，标准线本体21包括内设有24路光芯的标准线主路211，标准线主路211沿轴向设有第二A端2111，标准线主路211以第二A端2111为端点沿轴向拆分形成两标准线支路212，每一标准线支路212包含有标准线主路211的12路光芯，两标准线支路212中的一者设有第二B1端2121，另一者设有第二B2端2122。具体地，第二B1端2121和第二B2端2122分别设在对应标准线支路212的自由端。
可以理解的是，上述设计的目的在于将两种标准线集成为一体，作为整体进行提前的加工处理，有效减少标准线修复及重制成本；另外，由于本实施例具有两种标准线，能够适于同时对两个待测产品线1进行测试，有效提升工厂预制成端测试效率，且当其中一个标准线支路212损坏时，还能保证另一个标准线支路212能够正常使用，便于维持检测。值得注意的是，本实施例的两标准线支路212可以为同类型的标准线，也可以为不同类型的标准线，以满足多种的使用需求。
第一A端111可连接第二A端2111，第二B1端2121和第二B2端2122可连接待测产品线1，当第一A端111连接第二A端2111，及第二B1端2121/第二B2端2122连接待测产品线1时，主机线本体11、标准线主路211、第二B1端2121/第二B2端2122所在标准线支路212、待测产品线1共同构成光路，此时，光束能够沿所有分支尾缆113汇入主机线本体11，并进入标准线主路211后分流至两标准线支路212，最后进入对应的待测产品线1。
主机线组件10还包括第一阵列连接器12和24个连接端子13，第一阵列连接器12连接第一A端111，每一分支尾缆113连接一连接端子13。
标准线组件还包括第二阵列连接器22、第三阵列连接器23和第四阵列连接器24，第二阵列连接器22连接第二A端2111，第三阵列连接器23连接第二B1端2121，第四阵列连接器24连接第二B2端2122，第一阵列连接器12和第二阵列连接器22可通过具有辅助插接结构的适配器30进行插接，以使第一A端111连接第二A端2111。
优选地，标准线组件的光芯为扁形光芯，标准线组件的外表面包覆有扁形的低烟无卤型光缆护套，扁形的光芯和光缆护套与对应的阵列式连接器光纤孔位结构一致，方便加工，且不会像因在传统圆形护套里面放置散纤结构，而导致阵列式连接器和标准线组件之间产生光纤束打扭、光纤过度弯曲等现象，从而有效提高标准线组件质量。
待测产品线1沿轴向设有第三A端101和第三B端102，第三A端101连接有第五阵列连接器2，第三B端102连接有第六阵列连接器3，第五阵列连接器2和第三阵列连接器23/第四阵列连接器24可通过具有辅助插接结构的适配器30进行插接，以使第三A端101连接第二B1端2121/第二B2端2122。
为了配合主机线组件10和标准线组件的光路传输要求，本实施例的第一阵列连接器12和第二阵列连接器22为具有24路光芯的阵列连接器，第三阵列连接器23、第四阵列连接器24、第五阵列连接器2和第六阵列连接器3为具有12路光芯的阵列连接器。
需要说明的是，本实施例的主机线本体11和标准线主路211分别具有24路光芯，标准线支路212具有12路光芯，在其他实施方式，主机线本体11和标准线主路211分别具有偶数路光芯，以满足不同的测试要求，此时，第一阵列连接器12、第二阵列连接器22、第三阵列连接器23、第四阵列连接器24、第五阵列连接器2和第六阵列连接器3需要调整为具有对应路光芯数量的阵列连接器。另外，通过控制光束进入指定的光芯，能够实现指定标准线支路212对应的待测产品线1的测量。
较佳地，第一阵列连接器12具有长导针结构，第二阵列连接器22具有导针架结构，这里的长导针结构和导针架结构为插接配合结构；第三阵列连接器23和第四阵列连接器24中的一者具有长导针结构，另一者具有导针架结构，第五阵列连接器2和第六阵列连接器3的至少一者具有长导针结构或导针架结构，以使待测产品线1能够至少可接入一个标准线支路212。
更进一步地，上述所有阵列连接器的端面以研抛工艺指标进行优化，提高对接寿命，以满足阵列连接器的对接500次损耗值小于或等于0.35dB的标准。
相应地，本发明还公开了一种多芯光纤阵列连接器光学测试装置，其包括测试仪200和如上的光性能测试线，测试仪200设有光损耗计输入端口201、光功率器输出端口202、光开关输入端口203和24个与分支尾缆113一一对应的光开关输出端口204，待测产品线1接入光损耗计输入端口201，光功率器输出端口202和光开关输入端口203通过单芯线缆205连接，分支尾缆113接入对应的光开关输出端口204，主机线本体11、标准线主路211、第二B1端2121/第二B2端2122所在标准线支路212、待测产品线1和测试仪200共同构成光回路，测试仪200从光功率器输出端口202发出光束并传输至光开关输入端口203后分发至各个光功率器输出端口202，测试仪200检测光束在光回路的强度以获得待测产品线1的插入损耗和回波损耗。
下面对本实施例的标准线组件的测试制造流程进行说明：
1、将扁形标准线组件各个端开剥38mm长度护套，露出光芯，穿入对应的阵列式连接器内；
2、光芯量取8mm长度开剥涂敷层和包层，露出裸光纤，用无尘纸和无水酒精清洁残留杂质，并检查是否有损伤；
3、将阵列式连接器的高精度MT插芯进行预点胶润滑光纤槽口；
4、利用硅胶尾套对光芯进行约束，利用光纤槽口导向将裸光纤穿入MT插芯中，并从插芯端面的阵列式光纤孔露出3-5mm，对插芯腔体内进行胶水填充；
5、将阵列连接器放置在固化炉中加热固化，第一段60±5℃20min，第二段95±5℃50min。
6、固化后的阵列连接器室温冷却5min，用红宝石光纤切割笔对胶包外的露出光纤进行切割；
7、对阵列连接器端面进行精密研抛，使用3D干涉仪对端面微观几何结构进行测量，研抛后端面几何参数范围控制如下：微量共平面性，要求：≤0.4um，X轴断面研磨角度，要求：-0.15°±0.15°，Y轴断面研磨角度(PC型)，要求：-0.2°±0.2°，Y轴断面研磨角度(APC型)，要求：7.8°-8.2°，光纤高度，要求：1-3.5um，相邻光纤高度差，要求：≤0.3um，X轴曲率半径，要求：≥2000mm(凸弧)，|-10000|(凹弧)，Y轴曲率半径，要求：≥5mm。
8、对3D测量后的阵列连接器通过端面检验，极性测试和光学测试，以获得合格的标准线。
结合图1，本发明的标准线主路211以第二A端2111为端点沿轴向拆分形成两标准线支路212，每一标准线支路212包含有标准线主路211的N/2路光芯，将两种标准线集成为一体，作为整体进行提前的加工处理，有效减少标准线修复及重制成本；另外，由于本发明具有两种标准线，能够适于同时对两个待测产品线1进行测试，有效提升工厂预制成端测试效率，且当其中一个标准线支路212损坏时，还能保证另一个标准线支路212能够正常使用，便于维持检测。
以上所揭露的仅为本发明的优选实施例而已，当然不能以此来限定本发明之权利范围，因此依本发明申请专利范围所作的等同变化，仍属本发明所涵盖的范围。
Claims (10)
1.一种光性能测试线，其特征在于：包括主机线组件和标准线组件，所述主机线组件包括内设有N路光芯的主机线本体，其中，N为偶数，所述主机线本体沿轴向设有第一A端和第一B端，所述第一B端扇出N条分支尾缆，每一所述分支尾缆具有一路光芯；所述标准线组件包括标准线本体，所述标准线本体包括内设有N路光芯的标准线主路，所述标准线主路沿轴向设有第二A端，所述标准线主路以所述第二A端为端点沿轴向拆分形成两标准线支路，每一所述标准线支路包含有所述标准线主路的N/2路光芯，两所述标准线支路中的一者设有第二B1端，另一者设有第二B2端，所述第一A端可连接所述第二A端，所述第二B1端和第二B2端可连接待测产品线，当所述第一A端连接所述第二A端，及所述第二B1端/第二B2端连接所述待测产品线时，所述主机线本体、标准线主路、第二B1端/第二B2端所在标准线支路、待测产品线共同构成光路。
2.如权利要求1所述的光性能测试线，其特征在于：所述主机线组件还包括第一阵列连接器和N个连接端子，所述第一阵列连接器连接所述第一A端，每一所述分支尾缆连接一所述连接端子。
3.如权利要求2所述的光性能测试线，其特征在于：所述标准线组件还包括第二阵列连接器、第三阵列连接器和第四阵列连接器，所述第二阵列连接器连接所述第二A端，所述第三阵列连接器连接所述第二B1端，所述第四阵列连接器连接所述第二B2端，所述第一阵列连接器和第二阵列连接器可插接以使所述第一A端连接所述第二A端。
4.如权利要求3所述的光性能测试线，其特征在于：所述待测产品线沿轴向设有第三A端和第三B端，所述第三A端连接有第五阵列连接器，所述第三B端连接有第六阵列连接器，所述第五阵列连接器和第三阵列连接器/第四阵列连接器可插接以使所述第三A端连接所述第二B1端/第二B2端。
5.如权利要求4所述的光性能测试线，其特征在于：所述第一阵列连接器和第二阵列连接器通过适配器进行插接，所述第五阵列连接器和第三阵列连接器/第四阵列连接器通过适配器进行插接，所述适配器具有辅助插接结构。
6.如权利要求4所述的光性能测试线，其特征在于：所述第一阵列连接器和第二阵列连接器为具有N路光芯的阵列连接器，所述第三阵列连接器、第四阵列连接器、第五阵列连接器和第六阵列连接器为具有N/2路光芯的阵列连接器。
7.如权利要求1所述的光性能测试线，其特征在于：所述主机线本体和标准线主路分别具有24路光芯，所述标准线支路具有12路光芯。
8.如权利要求3所述的光性能测试线，其特征在于：所述第一阵列连接器具有长导针结构，所述第二阵列连接器具有导针架结构；所述第三阵列连接器和第四阵列连接器中的一者具有长导针结构，另一者具有导针架结构。
9.如权利要求1所述的光性能测试线，其特征在于：所述标准线组件的光芯为扁形光芯，所述标准线组件的外表面包覆有扁形的低烟无卤型光缆护套。
10.一种多芯光纤阵列连接器光学测试装置，其特征在于：包括测试仪和如权利要求1-9中任一项所述的光性能测试线，所述测试仪设有光损耗计输入端口、光功率器输出端口、光开关输入端口和N个与分支尾缆一一对应的光开关输出端口，所述待测产品线接入所述光损耗计输入端口，所述光功率器输出端口和光开关输入端口通过单芯线缆连接，所述分支尾缆接入对应的光开关输出端口，所述主机线本体、标准线主路、第二B1端/第二B2端所在标准线支路、待测产品线和测试仪共同构成光回路，所述测试仪从所述光功率器输出端口发出光束并传输至所述光开关输入端口后分发至各个所述光功率器输出端口，所述测试仪检测所述光束在所述光回路的强度以获得所述待测产品线的插入损耗和回波损耗。
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